KR20240064063A - Performance tester that can test various performance of smartphone with one device - Google Patents

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KR20240064063A
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Abstract

본 발명은 하나의 기기로 스마트폰의 다양한 성능을 테스트할 수 있는 성능검사기에 관한 것이다.The present invention relates to a performance tester that can test various performances of a smartphone with one device.

Description

하나의 기기로 스마트폰의 다양한 성능을 테스트할 수 있는 성능검사기{PERFORMANCE TESTER THAT CAN TEST VARIOUS PERFORMANCE OF SMARTPHONE WITH ONE DEVICE}Performance tester that can test various performances of a smartphone with one device {PERFORMANCE TESTER THAT CAN TEST VARIOUS PERFORMANCE OF SMARTPHONE WITH ONE DEVICE}

본 발명은 하나의 기기로 스마트폰의 다양한 성능을 테스트할 수 있는 성능검사기에 관한 것이다.The present invention relates to a performance tester that can test various performances of a smartphone with one device.

최근 초연결성에 기초하는 이른바 제4차 산업혁명은 기존의 제조업과 ICT 기술이 융합된 지능혁명으로 정의하고 있는데, 이러한 혁명적인 기술 트렌드에서는 각종의 장비들이 전자 모듈화가 진행되고 있다.Recently, the so-called 4th industrial revolution based on hyper-connectivity is defined as an intelligent revolution that combines existing manufacturing and ICT technologies. In this revolutionary technological trend, various types of equipment are becoming electronic modular.

이에 따라, 스마트폰은 IoT 즉, 단말 상호간의 네트워킹 송수신을 위하여, 상호간의 통신의 안정성이 대두되고 있으며, 이에 더하여 스마트폰을 이루는 모듈 상호간에는 전기 및 전자적 안정성이 전제되어야 하는 이슈가 부각되고 있다.Accordingly, the stability of mutual communication is emerging in smartphones for IoT, that is, networking transmission and reception between terminals, and in addition, the issue that electrical and electronic stability is a prerequisite between modules that make up smartphones is emerging.

이러한 기술 트렌드의 쓰나미에 힘입어, 스마트폰의 각 전자 제품, 전자 부품, 전자 모듈들의 전기 안전 검사나 성능의 검사, 그리고 부품의 결선의 검사는 물론, 통신 기능의 안정성 등에 대한 검사 장비의 시장이 크게 성장할 것으로 전망하고 있다.Thanks to this tsunami of technological trends, the market for inspection equipment for electrical safety inspection and performance inspection of each electronic product, electronic component, and electronic module of smartphones, as well as inspection of component wiring as well as the stability of communication functions, etc. It is expected to grow significantly.

이에 따라, 스마트폰의 성능 검사를 위한 기술적인 성숙도는 요구되고 있는데, 이러한 성능 검사 장비는 단발적이면서도 동시에 개별적인 시도들만 진행되고 있다.Accordingly, technical maturity for performance testing of smartphones is required, but such performance testing equipment is only being used in one-off and individual attempts.

즉, 기존의 선행기술의 경우, 종래의 개별 성능 검사에 대한 기술적인 틀을 벗어나지 못하는 문제점들이 있다.In other words, in the case of existing prior art, there are problems that cannot escape the technical framework of conventional individual performance testing.

구체적으로는, 통신 기능을 검사하기 위한 기능만을 구비하고 있다거나, 접지 저항만을 체크할 수 있는 기능만을 구비하고 있다거나, 소비전력이 정격화되어 있는지 여부만을 체크할 수 있다거나 하는 문제점이 있어, 성능검사를 하는 기업의 입장에서는 해당 장비는 특정 1 기능만을 구비하고 있으며, 해당 장비의 구비를 통해 수행할 수 있는 전자 장비의 성능 검사는 매우 제한적이었기 때문에, 시간에 따라 빠르게 급변하는 IoT(Internet of Things), ICT(Information & Communication Technology) 모듈, 부품들에 대한 적응력이 매우 떨어지는 문제점이 있었다.Specifically, there are problems such as that it only has a function to check the communication function, that it only has a function that can check ground resistance, or that it can only check whether the power consumption is rated. From the perspective of a company conducting performance tests, the equipment in question only has one specific function, and the performance tests of electronic equipment that can be performed through the equipment are very limited. As a result, the Internet of Things (IoT) changes rapidly over time. There was a problem of very poor adaptability to things (Things), ICT (Information & Communication Technology) modules, and parts.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 하나의 기기로 스마트폰의 다양한 성능을 테스트할 수 있는 성능검사기를 제공하는 것이다.The problem that the present invention aims to solve is to provide a performance tester that can test various performances of a smartphone with one device.

본 발명이 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present invention are not limited to the problems mentioned above, and other problems not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 성능검사기는 복수 개의 스마트폰의 성능을 검사하기 위한 시스템에 있어서, 상기 스마트폰들에 전력을 인가하여, 상기 스마트폰들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛; 상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit); 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛; 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비, 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛; 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛; 상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛; 상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하되, 상기 안전 검사 유닛의 상기 누설 전류 검사는, 상기 검사 대상 모듈에 접속되는 EMI(Electromagnetic Interference) Filter가 인가되는 경우, 상기 EMI Filter를 통해 측정되는 누설 전류는 0.5mA이하로 설정하며, 상기 EMI Filter를 인가하지 않는 경우, 측정되는 누설 전류는 0.75mA 이하로 설정하는 것을 특징으로 할 수 있다.The performance tester of the present invention to solve the above-described problem is a system for testing the performance of a plurality of smartphones, and applies power to the smartphones to prepare modules to be inspected in the smartphones to a test preparation stage. a power application unit for setting; a queuing unit that recognizes a temporal sequence set to an inspection preparation stage among the modules to be inspected and orders the inspection progress order of the modules to be inspected according to the temporal sequence; According to the order of inspection ordered by the queuing unit, 1) leakage current inspection, 2) ground bonding inspection, 3) insulation resistance inspection, or 4) withstand voltage of the modules to be inspected. (withstanding voltage) A safety inspection unit that simultaneously performs a plurality of inspections during inspection; Depending on the order of test progress ordered by the queuing unit, multiple tests of the test target modules: 1) starting current test, 2) total consumption, power test, 3) functional power consumption test, or 4) RF leakage test are performed simultaneously. a performance inspection unit; a wiring inspection unit that simultaneously performs a missing wiring test or a non-operational test of the modules to be inspected according to the test progress order ordered by the queuing unit; a communication inspection unit that selectively performs a communication operation inspection or a sensor operation inspection of the modules to be inspected according to the inspection progress order ordered by the queuing unit; Receiving test results from the safety test unit, the performance test unit, the wiring test unit, or the communication test unit, comparing the test results with a pre-stored default setting value, and then determining the result to recognize whether the test result is normal or not. unit; A storage unit that receives and stores information about whether the test result is normal or not from the result determination unit, wherein the leakage current test of the safety test unit includes an EMI (Electromagnetic Interference) Filter connected to the test target module. When applied, the leakage current measured through the EMI Filter is set to 0.5 mA or less, and when the EMI Filter is not applied, the leakage current measured can be set to 0.75 mA or less.

이상과 같은 구성의 본 발명의 성능검사기는 아래와 같은 효과를 가진다.The performance tester of the present invention configured as described above has the following effects.

첫째, 하나의 검사 대상 모듈에 대해 여러 검사가 필요한 경우에도 하나의 시스템을 통해 동시에 수행하도록 하는 효과를 제공한다.First, it provides the effect of allowing multiple inspections to be performed simultaneously through one system even when multiple inspections are required for one inspection target module.

둘째, 검사 대상 모듈에 여러 검사를 수행하도록 하는바, 해당 시스템의 도입을 통해 검사 대상 모듈이 변동되어 검사하고자 하는 기능이 변화하는 경우에도 시스템의 변경이 필요 없이 활용할 수 있도록 하게 된다.Second, by performing multiple tests on the module to be inspected, the introduction of the system allows the system to be used without the need for system changes even when the module to be inspected changes and the function to be inspected changes.

본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the description below.

도 1은 본 발명의 성능검사기의 각 구성들을 도시한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 성능검사기를 실행한 메인 화면이다.
도 3은 본 발명의 성능검사기를 실행한 매뉴얼 제어화면이다.
도 4는 본 발명의 성능검사기를 실행한 검사 공정 초기화면이다.
도 5는 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 누설 전류 검사를 위한 회로도이다.
도 6은 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 접지 저항 검사를 위한 회로도이다.
도 7은 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 절연 저항 검사를 위한 회로도이다.
도 8은 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 내 전압 시험을 위한 회로도이다.
도 9는 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 안전 검사 유닛의 바람직한 개념도이다.
도 10과 도 9의 전기 안전 검사 계측기의 바람직한 일 실시예에 따른 회로 구성도이다.
도 11은 도 9의 전기 안전 검사 계측기 전원 셀렉터(selector)의 바람직한 회로 구성도이다.
도 12는 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 실행 예시 화면이다.
도 13은 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 개념도이다.
도 14는 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 바람직한 회로도이다.
도 15는 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 모델 셋팅 GUI이다.
도 16은 도 15의 세부항목에 대한 설명을 위한 도면이다.
도 17은 도 15의 최신 검사 그래프와 이에 저장된 검사 데이트를 이용하여 검사 스펙(specification)을 자동 설정하는 것을 도시한 그래프이다.
도 18은 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 결선 검사 유닛의 GUI이다
도 19는 본 발명의 성능검사기의 일 구성요소인 성능 검사 유닛의 예시 화면이다.
Figure 1 is a block diagram showing each configuration of the performance tester of the present invention.
Figure 2 is the main screen for executing the performance checker of the present invention.
Figure 3 is a manual control screen for executing the performance checker of the present invention.
Figure 4 is the initial screen of the inspection process running the performance tester of the present invention.
Figure 5 is a circuit diagram for testing leakage current of a safety inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 6 is a circuit diagram for a ground resistance test of a safety test unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 7 is a circuit diagram for an insulation resistance test of a safety test unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 8 is a circuit diagram for a withstand voltage test of a safety inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 9 is a preferred conceptual diagram of a safety inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
10 and 9 are circuit diagrams according to a preferred embodiment of the electrical safety inspection instrument.
FIG. 11 is a preferred circuit diagram of the power selector of the electrical safety inspection instrument of FIG. 9.
Figure 12 is an example screen of the execution of the wiring inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 13 is a preferred conceptual diagram of a wiring inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 14 is a preferred circuit diagram of a wiring inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 15 is a model setting GUI of a wiring inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
FIG. 16 is a diagram for explaining the detailed items of FIG. 15.
FIG. 17 is a graph showing automatic setting of inspection specifications using the latest inspection graph of FIG. 15 and the inspection data stored therein.
18 is a GUI of a wiring inspection unit, which is a component of the performance tester of the present invention.
Figure 19 is an example screen of a performance test unit, which is a component of the performance tester of the present invention.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.The advantages and features of the present invention and methods for achieving them will become clear by referring to the embodiments described in detail below along with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below and may be implemented in various different forms. The present embodiments are merely provided to ensure that the disclosure of the present invention is complete and to provide a general understanding of the technical field to which the present invention pertains. It is provided to fully inform the skilled person of the scope of the present invention, and the present invention is only defined by the scope of the claims.

본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.The terminology used herein is for describing embodiments and is not intended to limit the invention. As used herein, singular forms also include plural forms, unless specifically stated otherwise in the context. As used in the specification, “comprises” and/or “comprising” does not exclude the presence or addition of one or more other elements in addition to the mentioned elements. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification, and “and/or” includes each and every combination of one or more of the referenced elements. Although “first”, “second”, etc. are used to describe various components, these components are of course not limited by these terms. These terms are merely used to distinguish one component from another. Therefore, it goes without saying that the first component mentioned below may also be a second component within the technical spirit of the present invention.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in this specification may be used with meanings commonly understood by those skilled in the art to which the present invention pertains. Additionally, terms defined in commonly used dictionaries are not to be interpreted ideally or excessively unless clearly specifically defined.

도 2에 따른 바람직한 실시예에 따른 메인 화면의 경우, 구간별 정보 예컨대, 상태(대기, 검사 중, 합격, 불합격, 통과)에 관한 정보를 제시하며, 현재 모델(바코드, 모델명, 전원 사양)에 관한 정보도 제시할 수 있다.In the case of the main screen according to the preferred embodiment according to FIG. 2, information on each section, such as status (waiting, inspecting, pass, fail, pass) is presented, and information on the current model (barcode, model name, power specifications) is presented. Information can also be presented.

아울러 도 2의 화면에서는 시스템의 상태인 통신 상태나 동작의 상태 등에 대한 정상/비정상에 대한 정보를 제시하기도 한다.In addition, the screen in FIG. 2 presents information about normal/abnormal status of the system, such as communication status or operation status.

또한 도 2의 화면에서는 최근의 에러 메시지나, 검시 시스템의 시작/정지의 상태 제어 화면, 그리고 시스템의 진행 시간과 현재 프로그램의 버전, 그리고 최근 프로그램의 실행 일시에 대한 정보도 제시할 수 있다.Additionally, the screen in FIG. 2 can display the latest error message, a status control screen for starting/stopping the autopsy system, and information on the system's progress time, the version of the current program, and the execution date and time of the most recent program.

도 3의 경우, 상술한 바와 같이, 메뉴얼 제어화면인데, 이러한 화면에서는 I/O리스트, 각 계측기의 초기 설정 상태, 각 셀 별/제품별 옵셋(offset) 설정에 대한 정보는 물론 인풋 릴레이(Input Relay) 수동 제어 등에 대한 안내 정보까지 포함할 수 있다.In the case of Figure 3, as described above, it is a manual control screen. In this screen, the I/O list, the initial setting status of each instrument, information on offset settings for each cell/product, as well as input relay (Input Relay) can also include guidance information on manual control, etc.

이를 위하여, 본 발명의 성능검사기는 도 2에 도시된 바와 같이, 전원 인가 유닛(110), 큐잉 유닛(queueing unit, 120), 안전 검사 유닛(130), 성능 검사 유닛(150), 결선 검사 유닛(160), 통신 검사 유닛(170), 결과 판정 유닛(180) 및 저장 유닛(190)을 포함할 수 있다.To this end, as shown in FIG. 2, the performance tester of the present invention includes a power supply unit 110, a queuing unit 120, a safety test unit 130, a performance test unit 150, and a wiring test unit. 160, it may include a communication test unit 170, a result determination unit 180, and a storage unit 190.

도 1에 도시된 바와 같이, 이들 안전 검사 유닛(130), 성능 검사 유닛(150), 결선 검사 유닛(160), 통신 검사유닛(170) 등의 선택적으로, 그리고 동시에 선택되어 실행될 수 있음은 물론이다.As shown in FIG. 1, the safety inspection unit 130, performance inspection unit 150, wiring inspection unit 160, communication inspection unit 170, etc. can be selected and executed selectively and simultaneously. am.

그리고 판정 결과 유닛(180)에 따른 결과를 큐잉 유닛(120)에 피드백(Feedback)하여, 큐잉 유닛(120)의 오더링에 재반영하고, 이에 따라 우선적으로 다시 검사해야하는 기능을 먼저 수행하도록 할 수 있게 된다.In addition, the results according to the determination result unit 180 are fed back to the queuing unit 120, so that they are reflected again in the ordering of the queuing unit 120, so that functions that need to be re-examined first can be performed first. do.

먼저, 전원 인가 유닛(110)은 스마트폰들(검사 대상 모듈)에 전력을 인가하도록 하는 구성이다.First, the power application unit 110 is configured to apply power to smartphones (modules to be inspected).

전원 인가 유닛(110)은 검사 대상 모듈들에 전원을 인가한 후, 안전, 성능, 결선, 통신 검사 등을 위한 준비 단계로 진입하게 된다.After applying power to the modules to be inspected, the power application unit 110 enters a preparation stage for safety, performance, wiring, and communication inspection.

본 발명에 따른 성능검사기의 큐잉 유닛(queuing unit, 120)의 경우, 전원이 인가된 이들 검사 대상 모듈들이 준비 단계로 설정되는 시간적인 순서를 차례로 인식하게 되며, 이들의 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하게 된다.In the case of the queuing unit (120) of the performance tester according to the present invention, the temporal order in which these test target modules to which power is applied is set to the preparation stage is sequentially recognized, and the test progress order of these test target modules is ordered.

큐잉 유닛(120)은 시간적으로 준비 단계에 진입한 검사 대상 모듈들을 시간에 따라 순차적으로 검사 준비가 된 순서에 따라 자동적으로 오더링할 수도 있으며, 관리자의 임의의 조절에 의하여 그 순서를 변경할 수 있다.The queuing unit 120 may automatically order modules to be inspected that have entered the preparation phase in chronological order according to the order in which they are ready for inspection, and the order may be changed at the discretion of the administrator.

본 발명에 따른 성능검사기의 안전 검사 유닛(130)은 누설 전류 검사를 수행할 수 있는데, 도 5에 도시된 바와 같이, 검사 대상 모듈에 접속되는 EMI(Electromagnetic Interference) Filter가 인가되는 경우, EMI Filter를 통해 측정되는 누설 전류는 0.5mA이하로 설정하며, EMI Filter를 인가하지 않는 경우, 측정되는 누설 전류는 0.75mA 이하로 설정할 수 있다.The safety test unit 130 of the performance tester according to the present invention can perform a leakage current test. As shown in FIG. 5, when an EMI (Electromagnetic Interference) Filter connected to the module to be tested is applied, the EMI Filter The leakage current measured through can be set to 0.5mA or less. If the EMI Filter is not applied, the measured leakage current can be set to 0.75mA or less.

안전 검사 유닛(130)이 검사하는 누설 전류의 경우, Earth, Enclosure, Patient, Patient Auxiliary 등일 수 있다.In the case of leakage current tested by the safety inspection unit 130, it may be Earth, Enclosure, Patient, Patient Auxiliary, etc.

누설 전류 검사는 절연체 등에 흐르는 Steady-state 상태의 전류를 측정하여 검사할 수 있으며, 제품에 실제로 전원이 인가되어 동작 중일 때에 제품 외부에 노출된 도체 부분을 사용자가 만졌을 당시에 인체를 통해 흐르는 누설 전류(Human body RC network참조)가 안전한 것인지 여부를 중점적으로 검사하게 되는 것이다.Leakage current can be tested by measuring the steady-state current flowing through insulators, etc., and the leakage current flowing through the human body when the user touches the conductor part exposed to the outside of the product when the product is actually powered and operating. Human body RC network (refer to human body RC network) is mainly inspected to determine whether it is safe.

본 발명에 따른 성능검사기의 안전 검사 유닛(130)은 도 6에 도시된 바와 같이, 접지 저항 검사를 수행할 수도 있다.The safety test unit 130 of the performance tester according to the present invention may perform a ground resistance test, as shown in FIG. 6.

안전 검사 유닛(130)의 접지 저항 검사는 검사 대상 모듈의 접지 전극에 25A 이상의 고전류 소스(High Current Souce)를 인가하고, 접지 전극에 캘빈 센서(Kelvin Sensor)를 인가하여, 검사 대상 모듈의 접지 저항이 100m Ω 보다 작은지 여부를 측정하여 검사할 수 있다.The ground resistance test of the safety inspection unit 130 applies a high current source of 25A or more to the ground electrode of the module to be inspected, and applies a Kelvin sensor to the ground electrode to determine the ground resistance of the module to be inspected. This can be checked by measuring whether it is smaller than 100m Ω.

아울러 본 발명에 따른 성능검사기의 안전 검사 유닛(130)은 도 8에 도시된 바와 같이, 절연 저항 검사를 수행할 수 있다.In addition, the safety test unit 130 of the performance tester according to the present invention can perform an insulation resistance test, as shown in FIG. 8.

안전 검사 유닛(130)의 절연 저항 검사의 경우, 검사 대상 모듈에 DC 전원을 인가한 후, 검사 대상 모듈에 발생하는 전류를 측정한 후, 검사 대상 모듈의 절연 저항값을 산출한 후, 절연 저항값이 10M Ω 보다 큰지 여부를 측정하게 된다.In the case of the insulation resistance test of the safety inspection unit 130, after applying DC power to the module to be inspected, measuring the current generated in the module to be inspected, calculating the insulation resistance value of the module to be inspected, It is measured whether the value is greater than 10M Ω.

본 발명에 따른 성능검사기의 안전 검사 유닛(130)은 도 8과 같이, 내전압 검사도 수행할 수 있다.The safety test unit 130 of the performance tester according to the present invention can also perform a withstand voltage test, as shown in FIG. 8.

안전 검사 유닛(130)의 내전압 검사의 경우, 검사 대상 모듈에 AC 전원을 인가한 후, 검사 대상 모듈에 발생하는 전류가 10mA이하인지 여부를 측정하게 된다.In the case of a withstand voltage test of the safety inspection unit 130, after applying AC power to the module to be inspected, it is measured whether the current generated in the module to be inspected is 10 mA or less.

도 8에서의 내전압 시험의 경우, 검사 대상 모듈(Appliance 참조)이 AC 제품인 경우, 규격 1500Vac에 초당 10mA 이하가 흘러야 하며, DC 제품인 경우, 규격 2500Vac에 초당 10mA이하가 흘러야 한다.In the case of the withstand voltage test in Figure 8, if the module to be tested (see Appliance) is an AC product, less than 10 mA per second must flow at the standard 1500 Vac, and if it is a DC product, less than 10 mA per second must flow at the standard 2500 Vac.

도 9를 참조하면, 안전 검사의 항목과 방식을 개념적으로 도시하고 있다.Referring to Figure 9, it conceptually illustrates the items and methods of safety inspection.

좌측의 로드와 멀티 콘센트의 영역은 Input의 영역이며, 중앙은 전기 안전 검사 계측기 부분의 영역이며, 우측의 경우 Output의 영역이다.The area of the load and multi-outlet on the left is the input area, the center is the area of the electrical safety inspection measuring instrument, and the area on the right is the output area.

안전 검사 계측기의 경우, 2열 Line 구성에 따른 1PC일 수 있으며, 2 구간 순차 제어 사양으로 구성될 수 있다. PC 1대의 경우, 일상 교정 점검을 위한 JIG 내장형일 수 있다.In the case of a safety inspection measuring instrument, it can be 1 PC according to a 2-row line configuration and can be configured with a 2-section sequential control specification. In the case of one PC, it may have a built-in JIG for daily calibration inspection.

접지봉 교체 편의를 위해 단자 연결로 구성하며 측정 부위에 자석을 이용하여 부착할 수 있다.For the convenience of replacing the ground rod, it is configured with a terminal connection and can be attached to the measurement area using a magnet.

전기 안전 검사 계측기의 서킷(circuit) 구성도는 도 10에 도시된 바와 같이 구성될 수 있으며, 전기 안전 검사 계측기 전원의 셀렉터 서킷(circuit) 구성도는 도 11과 같이 구성될 수 있다.The circuit diagram of the electrical safety inspection measuring instrument may be configured as shown in FIG. 10, and the selector circuit diagram of the power source of the electrical safety inspection measuring instrument may be configured as shown in FIG. 11.

본 발명에 따른 성능검사기의 성능 검사 유닛(150)의 경우, 전원이 인가된 상기 검사 대상 모듈에 DMM(Digital Multi Meter)을 인가하여, 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.5~1.0초 간격으로 측정하여, 측정된 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 스펙에 부합하는지 여부를 측정하게 된다.In the case of the performance test unit 150 of the performance tester according to the present invention, a DMM (Digital Multi Meter) is applied to the module to be tested to which power is applied, and the power consumption of the module to be tested is measured at intervals of 0.5 to 1.0 seconds. , it is measured whether the measured power consumption meets preset specifications over time.

큐잉 유닛(120)이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행할 수 있다.Depending on the test progress order ordered by the queuing unit 120, multiple tests can be performed simultaneously among the following: 1) starting current test, 2) total power consumption test, 3) functional power consumption test, or 4) RF leakage test of the modules to be tested. You can.

성능 검사 유닛(150)은 완성 제품의 상태를 검사하여, 품질을 보증하기 위해 검사를 시행하는 것인데, 제품의 기능과 동작 상태, 그리고 운전 상태 등을 소비 전력으로 판정하게 된다.The performance inspection unit 150 inspects the state of the finished product and performs inspection to ensure quality, and determines the product's function, operating state, and driving state based on power consumption.

성능 검사 유닛(150)의 검사 원리는 제품에 전원을 인가하여 파워 메타를 이용하여 동작되는 소비전력 및 운전전류를 측정하여 기능별 상태를 기록하여 판정하게 된다.The test principle of the performance test unit 150 is to apply power to the product, measure the power consumption and operating current using a power meter, record the status of each function, and make a decision.

성능 검사 유닛(150)의 경우, 전장 부품의 동작 사양을 검사할 수 있는데, 예컨대 스마트폰을 10 내지 20초 동안 직접 동작시켜 측정할 수도 있다. 이때 데이터 측정 간격은 0.5~1.0초로 설정한다.In the case of the performance test unit 150, the operational specifications of electrical components can be tested, for example, by directly operating the smartphone for 10 to 20 seconds. At this time, the data measurement interval is set to 0.5 to 1.0 seconds.

이후, 이들 0.5~1.0초 간격으로 데이터를 기록하여 소비전력 판정 기준과 비교하여 합치 혹은 불합치 판정을 하게 된다.Afterwards, data is recorded at intervals of 0.5 to 1.0 seconds and compared with the power consumption judgment standard to determine whether it matches or does not match.

판정 기준 및 판정 시간 설정은 모델 관리 프로그램에서 설정하거나 추가가능하다.Judgment criteria and judgment time settings can be set or added in the model management program.

본 발명에 따른 성능검사기의 결선 검사 유닛(160)의 경우, 큐잉 유닛(120)이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하게 된다.In the case of the wiring inspection unit 160 of the performance tester according to the present invention, a missing wiring test or a non-operational test is simultaneously performed on modules to be tested according to the test progress order ordered by the queuing unit 120.

본 발명에 따른 성능검사기의 결선 검사 유닛(160)은 전원이 인가된 검사 대상 모듈에 전기전자계측기(Oscilloscope)를 제공한 후, 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.02~0.03초 간격으로 측정하여, 측정된 소비 전력을 최대, 최소 및 평균치를 산출한 후, 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 디폴트 값에 부합하는지 여부를 측정하게 된다.The wiring inspection unit 160 of the performance tester according to the present invention provides an electrical and electronic measuring instrument (oscilloscope) to the module to be inspected to which power is applied, and then measures the power consumption of the module to be inspected at intervals of 0.02 to 0.03 seconds. After calculating the maximum, minimum, and average values of the consumed power, it is measured whether the consumed power meets the preset default value over time.

보다 자세하게 설명하면, 도 12 및 13에 도시된 바와 같이, 결선 검사 유닛(160)의 경우, 전원이 인가된 검사 대상 모듈에 전기전자계측기(Oscilloscope)를 제공한 후, 검사 대상 모듈의 소비 전력을 0.02~0.03초 간격으로 측정하여, 측정된 소비 전력을 최대, 최소 및 평균치를 산출한 후, 소비 전력이 시간의 추이에 따라 미리 설정된 디폴트 값에 부합하는지 여부를 측정하게 된다.In more detail, as shown in FIGS. 12 and 13, in the case of the wiring inspection unit 160, after providing an electrical and electronic measuring instrument (oscilloscope) to the module to be inspected to which power is applied, the power consumption of the module to be inspected is measured. Measurements are made at intervals of 0.02 to 0.03 seconds, the maximum, minimum, and average values of the measured power consumption are calculated, and then it is measured whether the power consumption meets the preset default value over time.

부품 결선 검사를 위한 성능검사기의 써킷(Circuit)은 도 14에 도시된 바와 같이 구현될 수 있다.The circuit of the performance tester for component wiring inspection can be implemented as shown in FIG. 14.

도 15에 도시된 바와 같이, (1)의 영역의 경우, 모델 등록 리스트이며, 이러한 모델 등록 리스트의 경우 등록된 모델 리스트를 표시하게 된다.As shown in FIG. 15, the area (1) is a model registration list, and this model registration list displays a list of registered models.

도 15의 (2)의 영역의 경우, 모델 정보를 제시하는데, 모델명과 모델 코드를 제시한다.In the case of area (2) in FIG. 15, model information is presented, including model name and model code.

도 15의 (3)의 영역의 경우, 측정을 설정하는 것인데, 검사 시작 신호 그래프 전류나 전원 사양을 설정하게 된다.In the case of the area in (3) of Figure 15, the measurement is set, and the inspection start signal graph current or power specifications are set.

도 15의 (4)의 영역의 경우, 검사 설정 그래프이다. 측정 그래프와 검사 별 측정 범위는 물론 위치, 시간을 표시하게 된다.In the case of the area (4) in FIG. 15, it is an inspection settings graph. It displays the measurement graph, measurement range for each inspection, as well as location and time.

도 15의 (5)의 영역의 경우, 검사 목록이다. (5)에서는 전체 검사 항목을 표시하게 된다.In the case of area (5) in Figure 15, it is a checklist. In (5), all inspection items are displayed.

도 15의 (6)의 경우, 검사 설정 항목인데, 검사 방식/범위/측정 시간을 설정하게 된다.In the case of (6) in Figure 15, it is an inspection setting item, and the inspection method/range/measurement time is set.

도 15의 (7)의 경우, 수동 검사 제어이다. (7)에서는 수동 검사 진행하여 그래프를 갱신할 수 있다.In the case of (7) in FIG. 15, it is manual inspection control. In (7), the graph can be updated by performing a manual inspection.

도 15의 (8)은 선택 구간 표시이다. (6) 항목 중에서 선택되어진 사양을 표시하게 된다.(8) in Figure 15 is a selection section display. (6) The specifications selected from the items are displayed.

도 15의 (9)의 경우, 그래프 불러오기이다. 가장 최근의 검사 데이트 그래프를 불러온다.In the case of (9) in Figure 15, it is a graph loading. Loads the most recent inspection date graph.

도 15의 (10)의 경우, 검사 순서를 변경하는 것인데, (6) 항목의 검사 순서를 변경하거나 삭제할 수 있다.In the case of (10) in Figure 15, the inspection order is changed, and the inspection order of item (6) can be changed or deleted.

도 16에서는 성능 검사 계측기의 모델 세팅 GUI이다.Figure 16 shows the model setting GUI of the performance inspection instrument.

모드별 설명과 시간 대비 그래프는 물론, 테스트 모드에서의 맥스 스펙과 미니멈 스펙, 그리고 스타팅 타임, 엔딩 타임은 물론 스킵(skip) 여부까지 체크할 수 있다.In addition to explanations and time comparison graphs for each mode, you can check the max specifications, minimum specifications, starting time, ending time, and even whether to skip in test mode.

이러한 결과는 도 17에 도시된 바와 같은 최근 검사 그래프(상)나, 저장된 검사 데이터를 이용하여 검사 스펙을 자동 설정하는 그래프(하)로 제시될 수 있다.These results can be presented as a recent inspection graph (top) as shown in FIG. 17 or a graph (bottom) that automatically sets inspection specifications using stored inspection data.

개략적으로, 부품 결선 검사기의 검사 GUI를 나타내면, 도 18과 같이 구현될 수 있는데, 제품 전원인가 전 AVR 전원이 모델 전원 사양과 맞는지 확인 후 제품에 전원 입력하고 제품을 보호할 수도 있다.Roughly speaking, the inspection GUI of the component wiring inspector can be implemented as shown in Figure 18. Before powering on the product, it is possible to check whether the AVR power supply meets the model power specifications and then power on the product to protect the product.

본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 통신 검사 유닛(170)은 큐잉 유닛(120)이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하게 된다.The communication test unit 170 of the integrated performance test system for electronic devices according to the present invention selectively performs a communication operation test or a sensor operation test of modules to be tested according to the test progress order ordered by the queuing unit 120. do.

본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 결과 판정 유닛(180)은 안전 검사 유닛(130), 성능 검사 유닛(150), 결선 검사 유닛(160) 또는 통신 검사 유닛(170)으로부터 검사 결과들을 수신한다.The result determination unit 180 of the integrated performance test system for electronic devices according to the present invention receives test results from the safety test unit 130, performance test unit 150, wiring test unit 160, or communication test unit 170. receive them.

본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 결과 판정 유닛(180)은 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 검사 결과의 정상 유무를 인식하게 된다.The result determination unit 180 of the integrated performance test system for electronic devices according to the present invention compares the test results with pre-stored default settings and recognizes whether the test results are normal.

아울러, 본 발명에 따른 전자기기를 위한 통합 성능검사 시스템의 저장 유닛(190)의 경우, 결과 판정 유닛(180)으로부터 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하게 된다.In addition, in the case of the storage unit 190 of the integrated performance test system for electronic devices according to the present invention, information on whether the test result is normal or not is received and stored from the result determination unit 180.

이상, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Above, embodiments of the present invention have been described with reference to the attached drawings, but those skilled in the art will understand that the present invention can be implemented in other specific forms without changing its technical idea or essential features. You will be able to understand it. Therefore, the embodiments described above should be understood in all respects as illustrative and not restrictive.

Claims (1)

복수 개의 전자기기들의 성능을 검사하기 위한 시스템에 있어서,
상기 전자기기들에 전력을 인가하여, 상기 전자기기들 내 검사 대상 모듈들을 검사 준비 단계로 설정시키는 전원 인가 유닛;
상기 검사 대상 모듈들 중 검사 준비 단계로 설정되는 시간적 순서를 인식하고, 상기 시간적 순서에 따라 상기 검사 대상 모듈들의 검사 진행 순서를 오더링(ordering)하는 큐잉 유닛(queuing unit);
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 누설 전류(leakage current) 검사, 2) 접지 저항(ground bonding) 검사, 3) 절연 저항(insulation resistance) 검사 또는 4) 내전압(withstanding voltage) 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 안전 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 1) 기동 전류 검사, 2) 전체 소비, 전력 검사, 3) 기능 소비 전력 검사 또는 4) RF 누설 검사 중 복수 개의 검사를 동시에 실행하는 성능 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 결선 누락 검사 또는 동작 불능 검사를 동시에 실행하는 결선 검사 유닛;
상기 큐잉 유닛이 오더링한 검사 진행 순서에 따라, 상기 검사 대상 모듈들의 통신 동작 검사 또는 센서 동작 검사를 선택적으로 실행하는 통신 검사 유닛;
상기 안전 검사 유닛, 상기 성능 검사 유닛, 상기 결선 검사 유닛 또는 상기 통신 검사 유닛으로부터 검사 결과들을 수신하고, 상기 검사 결과들을 미리 저장된 디폴트 설정치와 비교한 후, 상기 검사 결과의 정상 유무를 인식하는 결과 판정 유닛; 및
상기 결과 판정 유닛으로부터 상기 검사 결과의 정상 유무에 대한 정보를 수신하고 저장하는 저장 유닛을 포함하되,
상기 안전 검사 유닛의 상기 누설 전류 검사는 상기 검사 대상 모듈에 접속되는 EMI(Electromagnetic Interference) Filter가 인가되는 경우, 상기 EMI Filter를 통해 측정되는 누설 전류는 0.5mA이하로 설정하는 것을 특징으로 하는 성능검사기.
In a system for testing the performance of a plurality of electronic devices,
a power application unit that applies power to the electronic devices to set test target modules in the electronic devices to a test preparation stage;
a queuing unit that recognizes a temporal sequence set to an inspection preparation stage among the modules to be inspected and orders the inspection progress order of the modules to be inspected according to the temporal sequence;
According to the order of inspection ordered by the queuing unit, 1) leakage current inspection, 2) ground bonding inspection, 3) insulation resistance inspection, or 4) withstand voltage of the modules to be inspected. (withstanding voltage) A safety inspection unit that simultaneously performs a plurality of inspections during inspection;
Depending on the order of test progress ordered by the queuing unit, multiple tests of the test target modules: 1) starting current test, 2) total consumption, power test, 3) functional power consumption test, or 4) RF leakage test are performed simultaneously. a performance inspection unit;
a wiring inspection unit that simultaneously performs a missing wiring test or a non-operational test of the modules to be inspected according to the test progress order ordered by the queuing unit;
a communication inspection unit that selectively performs a communication operation inspection or a sensor operation inspection of the modules to be inspected according to the inspection progress order ordered by the queuing unit;
Receiving test results from the safety test unit, the performance test unit, the wiring test unit, or the communication test unit, comparing the test results with a pre-stored default setting value, and then determining whether the test result is normal or not. unit; and
A storage unit that receives and stores information about whether the test result is normal or not from the result determination unit,
The leakage current test of the safety inspection unit is a performance tester characterized in that when an EMI (Electromagnetic Interference) Filter connected to the module to be inspected is applied, the leakage current measured through the EMI Filter is set to 0.5 mA or less. .
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