JPH07153283A - Control circuit for non-volatile memory - Google Patents

Control circuit for non-volatile memory

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JPH07153283A
JPH07153283A JP29572893A JP29572893A JPH07153283A JP H07153283 A JPH07153283 A JP H07153283A JP 29572893 A JP29572893 A JP 29572893A JP 29572893 A JP29572893 A JP 29572893A JP H07153283 A JPH07153283 A JP H07153283A
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JP
Japan
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address data
microcomputer
divided
analog voltage
reference voltage
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Application number
JP29572893A
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Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Hodaka
和夫 保高
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To obtain a control circuit for a non-volatile memory which can input address data in parallel even if an EPROM having large storage capacity is incorporated in a microcomputer having less terminal pins. CONSTITUTION:Address data AO-A9 of an EPROM 28 is divided with a unit of two bits, analog voltage corresponding to divided address data is generated, and this circuit is constituted so that the divided address data can be restored by taking analog voltage in a microcomputer 24 through one terminal 23. Therefore, address data can be inputted in parallel even if an EPROM having large storage capacity is incorporated in a microcomputer having less terminal pins.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、EPROM(不揮発性
メモリ)内蔵マイクロコンピュータの端子ピンを削減す
るのに好適な不揮発性メモリの制御回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a non-volatile memory control circuit suitable for reducing the number of terminal pins of an EPROM (non-volatile memory) built-in microcomputer.

【0002】[0002]

【従来の技術】通常、量産用のマスクROM内蔵マイク
ロコンピュータは、前記マスクROMが記憶しているプ
ログラムデータを解読した情報に従って動作する様にな
っている。ところで、前記マスクROMはプログラムデ
ータの「0」「1」に対応するメモリセルをチップ上に
焼き付けて成る為、前記プログラムデータを2度と修正
できなくなっている。その為、前記プログラムデータに
誤りが無い様に事前チェックを入れておく必要がある。
そこで、量産用のマイクロコンピュータと略同じ機能を
有する、プログラムデータの書き込み読み出しが可能な
EPROM内蔵マイクロコンピュータを使用し、前記E
PROMに前記プログラムデータを書き込んだ後に読み
出して各種機能を実行し、前記プログラムデータの誤り
を正す様にしている。
2. Description of the Related Art Generally, a mask ROM built-in microcomputer for mass production operates according to information obtained by decoding the program data stored in the mask ROM. By the way, since the mask ROM has memory cells corresponding to "0" and "1" of program data burned on the chip, the program data cannot be modified again. Therefore, it is necessary to check in advance so that there is no error in the program data.
Therefore, an EPROM built-in microcomputer capable of writing and reading program data, which has substantially the same function as a mass-production microcomputer, is used.
After writing the program data in the PROM, the program data is read and various functions are executed to correct errors in the program data.

【0003】さて、EPROM内蔵マイクロコンピュー
タは、アドレスデータ及びプログラムデータをパラレル
転送することにより、プログラムデータのチェックを実
現している。ところが、マイクロコンピュータのチップ
面積の都合上、EPROMの記憶容量に見合う十分な端
子ピン数を確保できない事もある。例えば、端子ピン数
を18本しか配設できないマイクロコンピュータに、ア
ドレス及びプログラムデータを各々10及び8ビットに
設定した1Kバイトの記憶容量を有するEPROMを内
蔵してパラレル転送を実現しようとする場合、アドレス
データ、プログラムデータ、制御信号(チップイネーブ
ル信号、アウトプットイネーブル信号、EPROMモー
ド信号)、及び、電源(Vdd、Vss)を取り扱う為に、
合計23本の端子ピン数を必要とし、従って、前記マイ
クロコンピュータではアドレスデータをパラレル入力で
きない問題があった。その為、前記マイクロコンピュー
タに前記EPROMを内蔵する場合、アドレスデータを
シリアル入力し、プログラムデータを校正する様にして
いた。
Now, the EPROM built-in microcomputer realizes the check of the program data by transferring the address data and the program data in parallel. However, due to the chip area of the microcomputer, it may not be possible to secure a sufficient number of terminal pins corresponding to the storage capacity of the EPROM. For example, when an EPROM having a storage capacity of 1 Kbyte in which address and program data are set to 10 bits and 8 bits is built in a microcomputer capable of arranging only 18 terminal pins and parallel transfer is realized, To handle address data, program data, control signals (chip enable signal, output enable signal, EPROM mode signal), and power supply (Vdd, Vss),
Since a total of 23 terminal pins are required, there is a problem that the microcomputer cannot input address data in parallel. Therefore, when the EPROM is built in the microcomputer, the address data is serially input and the program data is calibrated.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、アドレ
スデータをシリアル入力した後、該アドレスデータをパ
ラレル変換する手段が必要となり、マイクロコンピュー
タ内部のEPROMの周辺回路を複雑にしてしまう問題
があった。又、EPROMの書き込み読み出し時間が長
くなり、プログラムデータの校正に多くの時間を要する
問題があった。又、アドレスデータをパラレル入力する
汎用のPROMライタが使用できず、該アドレスデータ
をシリアル入力する専用のPROMライタが必要とな
り、プログラムデータの校正に多くの金額を要する問題
があった。
However, there is a problem in that the peripheral circuit of the EPROM in the microcomputer is complicated because a means for converting the address data into parallel after inputting the address data serially is required. Further, there is a problem that the writing and reading time of the EPROM becomes long, and it takes a lot of time to calibrate the program data. Further, a general-purpose PROM writer for parallel input of address data cannot be used, and a dedicated PROM writer for serially input of the address data is required, which requires a large amount of money to calibrate the program data.

【0005】そこで、本発明は、端子ピン数が少ないマ
イクロコンピュータに記憶容量が多いEPROMを内蔵
する時であっても、アドレスデータをパラレル入力でき
る不揮発性メモリの制御回路を提供することを目的とす
る。
Therefore, an object of the present invention is to provide a non-volatile memory control circuit capable of parallel input of address data even when an EPROM having a large storage capacity is built in a microcomputer having a small number of terminal pins. To do.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、前記問題点を
解決する為に成されたものであり、その特徴とするとこ
ろは、プログラムデータの書き込み読み出しを可能とす
る不揮発性メモリを内蔵したマイクロコンピュータにお
いて、前記不揮発性メモリのアドレスデータを少なくと
も2ビット単位に分割し、該分割アドレスデータを解読
する解読手段と、前記解読手段の出力に従って、前記分
割アドレスデータに対応するアナログ電圧を発生するア
ナログ電圧発生手段と、第1基準電圧を発生する第1基
準電圧発生手段と、前記アナログ電圧及び前記第1基準
電圧を比較し、前記分割アドレスデータの最上位ビット
を出力する第1比較手段と、前記第1比較手段の出力に
従って変化する第2基準電圧を発生する第2基準電圧発
生手段と、前記アナログ電圧及び前記第2基準電圧を比
較し、前記分割アドレスデータの最上位ビットの直後の
下位ビットを出力する第2比較手段と、を備えた点であ
る。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and is characterized in that it has a built-in non-volatile memory capable of writing and reading program data. In the microcomputer, the address data of the non-volatile memory is divided into units of at least 2 bits, and decoding means for decoding the divided address data and an analog voltage corresponding to the divided address data are generated according to the output of the decoding means. Analog voltage generating means, first reference voltage generating means for generating a first reference voltage, and first comparing means for comparing the analog voltage and the first reference voltage and outputting the most significant bit of the divided address data. A second reference voltage generating means for generating a second reference voltage that changes according to the output of the first comparing means; Comparing the log voltage and the second reference voltage, a second comparing means for outputting the lower bits immediately after the most significant bit of the divided address data, in that with a.

【0007】[0007]

【作用】本発明によれば、不揮発性メモリのアドレスデ
ータを少なくとも2ビット単位に分割し、該分割アドレ
スデータに対応するアナログ電圧を発生し、該アナログ
電圧を1個の端子を介してマイクロコンピュータ内部に
取り込むことにより、前記分割アドレスデータを復元で
きる仕組みになっている。従って、端子ピン数が少ない
マイクロコンピュータに記憶容量が多い不揮発性メモリ
を内蔵する時であっても、アドレスデータをパラレル入
力できる。
According to the present invention, the address data of the non-volatile memory is divided into at least two bit units, an analog voltage corresponding to the divided address data is generated, and the analog voltage is supplied to the microcomputer via one terminal. It is structured such that the divided address data can be restored by being taken in. Therefore, even when a non-volatile memory having a large storage capacity is built in a microcomputer having a small number of terminal pins, address data can be input in parallel.

【0008】[0008]

【実施例】本発明の詳細を図面に従って具体的に説明す
る。図1は本発明の不揮発性メモリの制御回路を示して
いる。尚、前記不揮発性メモリは、アドレス及びプログ
ラムデータを各々10及び8ビットに設定した1Kバイ
トの記憶容量を有するEPROMであり、マイクロコン
ピュータ内部に集積化されるものとする。
The details of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a control circuit of the nonvolatile memory of the present invention. The nonvolatile memory is an EPROM having a storage capacity of 1 Kbyte in which address and program data are set to 10 bits and 8 bits, respectively, and is integrated in the microcomputer.

【0009】図1において、(1)(2)(3)は抵抗
であり、電源Vcc(5V)及び接地の間に直列接続され
ている。(4)はアナログ電圧発生回路であり、前記E
PROMのアドレスデータA0〜A9を2ビット分割し
た分割アドレスデータA9A8、A7A6、A5A4、
A3A2、A1A0に対応するアナログ電圧を発生する
ものである。該アナログ電圧発生回路(4)内部におい
て、(5)(6)(7)(8)はNANDゲート(解読
手段)であり、前記分割アドレスデータA9A8、A7
A6、A5A4、A3A2、A1A0が各々成り得る4
種類の値に応じて、NANDゲート(5)(6)(7)
(8)の何れか1個の出力がローレベルとなる様に配線
されている。従って、前記分割アドレスデータの値が各
々「11」、「10」、「01」、「00」に変化する
時、NANDゲート(5)(6)(7)(8)の出力が
順次ローレベルになる。(9)(10)(11)(1
2)はトランスミッションゲートであり、一端が抵抗
(1)(2)(3)の各接続点と接続されると共に他端
が共通接続され、NANDゲート(5)(6)(7)
(8)の出力に応じて開閉するものである。即ち、トラ
ンスミッションゲート(9)(10)(11)(12)
は、NANDゲート(5)(6)(7)(8)の出力に
応じて何れか1個だけ開き、該トランスミッションゲー
トに対応する抵抗(1)(2)(3)の接続点電圧を導
出するものである。尚、トランスミッションゲート
(9)(10)(11)(12)が各々5V、3.12
5V、1.875V、0Vを導出できる様に、抵抗
(1)(2)(3)の値を設定している。
In FIG. 1, (1), (2) and (3) are resistors, which are connected in series between a power source Vcc (5V) and ground. (4) is an analog voltage generating circuit,
Divided address data A9A8, A7A6, A5A4 obtained by dividing the address data A0 to A9 of the PROM into 2 bits,
The analog voltage corresponding to A3A2 and A1A0 is generated. Inside the analog voltage generation circuit (4), (5), (6), (7) and (8) are NAND gates (decoding means), and the divided address data A9A8, A7.
A6, A5A4, A3A2, A1A0 can each be 4
NAND gates (5) (6) (7) depending on the type value
It is wired so that any one output of (8) becomes a low level. Therefore, when the values of the divided address data change to "11", "10", "01", and "00", respectively, the outputs of the NAND gates (5), (6), (7), and (8) sequentially become low level. become. (9) (10) (11) (1
2) is a transmission gate, one end of which is connected to each connection point of the resistors (1), (2) and (3) and the other end of which is commonly connected, and NAND gates (5) (6) (7)
It opens and closes according to the output of (8). That is, the transmission gates (9) (10) (11) (12)
Opens only one of the NAND gates (5), (6), (7) and (8) according to the output, and derives the connection point voltage of the resistors (1) (2) (3) corresponding to the transmission gate. To do. The transmission gates (9), (10), (11) and (12) are 5V and 3.12, respectively.
The values of the resistors (1), (2) and (3) are set so that 5V, 1.875V and 0V can be derived.

【0010】(13)(14)は抵抗(第1基準電圧発
生手段)であり、電源Vcc及び接地の間に直列接続され
ている。尚、抵抗(13)(14)の接続点に現れる第
1基準電圧がVcc/2(2.5V)となる様に、抵抗
(13)(14)の値を等しくしている。(15)はア
ドレスデータ復元回路であり、アナログ電圧に対応する
分割アドレスデータを復元するものである。該アドレス
データ復元回路(15)内部において、(16)はP型
コンパレータ(第1比較手段)であり、+(非反転入
力)端子はトランスミッションゲート(9)(10)
(11)(12)の他端と共通接続され、−(反転入
力)端子は抵抗(13)(14)の接続点と接続されて
いる。即ち、P型コンパレータ(16)は、アナログ電
圧及び第1基準電圧を比較し、アナログ電圧が第1基準
電圧より高い時に「1」(5V)、アナログ電圧が第1
基準電圧より低い時に「0」(0V)となる分割アドレ
スデータの上位ビットA9、A7、A5、A3、A1を
出力する。(17)(18)(19)は抵抗(第2基準
電圧発生手段)であり、抵抗(17)(18)は電源V
cc及び接地の間に直列接続され、抵抗(19)はP型コ
ンパレータ(16)の出力端子及び抵抗(17)(1
8)の接続点の間に接続されている。即ち、P型コンパ
レ−タ(16)の出力が5Vの時、抵抗(17)(1
9)が並列接続され、P型コンパレータ(16)の出力
が0Vの時、抵抗(18)(19)が並列接続される。
尚、P型コンパレータ(16)の出力が5Vの時、抵抗
(17)(18)(19)の接続点に現れる第2基準電
圧がトランスミッションゲート(9)(10)が導出す
る5V及び3.125Vの間の電圧(例えば3.75
V)となる様に、且つ、P型コンパレータ(16)の出
力が0Vの時、抵抗(17)(18)(19)の接続点
に現れる第2基準電圧がトランスミッションゲート(1
1)(12)が導出する1.875V及び0Vの間の電
圧(例えば1.25V)となる様に、抵抗(17)(1
8)(19)の値を設定している。(36)(37)は
N型MOSFETであり、抵抗(18)(14)及び接
地の間に接続されている。即ち、N型MOSFET(3
6)(37)は、前記EPROMを書き込み読み出し状
態にする制御信号EPMが「1」の時だけ、抵抗(1
3)(14)(17)(18)(19)に電流を供給
し、消費電流の低減を図るものである。(20)はP型
コンパレータ(第2比較手段)であり、+端子はトラン
スミッションゲート(9)(10)(11)(12)の
他端と共通接続され、−端子は抵抗(17)(18)
(19)の接続点と接続されている。即ち、P型コンパ
レータ(20)は、アナログ電圧及び第2基準電圧を比
較し、アナログ電圧が第2基準電圧より高い時に
「1」、且つ、アナログ電圧が第2基準電圧より低い時
に「0」となる分割アドレスデータの下位ビットA8、
A6、A4、A2、A0を出力する。尚、P型コンパレ
ータ(16)(20)は、P型MOSFETを用いて差
動対及び電流源を構成する為、電源Vcc〜(Vcc−α)
の範囲のアナログ電圧を比較できない所謂不感帯を有し
ている。αは1.5V程度である。そこで、P型コンパ
レータ(16)(20)は、電源Vccを昇圧した電源
(Vcc+α)を用い、不感帯を解消している。(21)
(22)はN型MOSFETであり、P型コンパレータ
(16)(20)の電源(Vcc+α)及び接地の間に接
続されている。即ち、N型MOSFET(21)(2
2)は、前記EPROMを書き込み読み出し状態にする
制御信号EPMが「1」の時にオンし、P型コンパレー
タ(16)(20)を動作状態にする。尚、1個の端子
(23)を境に、アナログ電圧発生回路(4)はマイク
ロコンピュータ外部に設けられ、アドレスデータ復元回
路(15)はマイクロコンピュータ内部に集積化されて
いる。
(13) and (14) are resistors (first reference voltage generating means), which are connected in series between the power source Vcc and the ground. The values of the resistors (13) and (14) are made equal so that the first reference voltage appearing at the connection point of the resistors (13) and (14) becomes Vcc / 2 (2.5V). (15) is an address data restoring circuit, which restores the divided address data corresponding to the analog voltage. Inside the address data restoring circuit (15), (16) is a P-type comparator (first comparing means), and the + (non-inverting input) terminal is a transmission gate (9) (10).
Commonly connected to the other ends of (11) and (12), and the- (inverting input) terminal is connected to the connection point of the resistors (13) and (14). That is, the P-type comparator (16) compares the analog voltage and the first reference voltage, and when the analog voltage is higher than the first reference voltage, “1” (5V), and the analog voltage is the first voltage.
The higher bits A9, A7, A5, A3, A1 of the divided address data which become "0" (0V) when lower than the reference voltage are output. (17), (18) and (19) are resistors (second reference voltage generating means), and the resistors (17) and (18) are power sources V.
Connected in series between cc and ground, the resistor (19) is the output terminal of the P-type comparator (16) and the resistor (17) (1
It is connected between the connection points of 8). That is, when the output of the P-type comparator (16) is 5V, the resistance (17) (1
9) are connected in parallel, and when the output of the P-type comparator (16) is 0V, the resistors (18) and (19) are connected in parallel.
When the output of the P-type comparator (16) is 5V, the second reference voltage appearing at the connection point of the resistors (17), (18) and (19) is 5V derived from the transmission gates (9) and (10) and 3. Voltage between 125V (eg 3.75
V) and when the output of the P-type comparator (16) is 0V, the second reference voltage appearing at the connection point of the resistors (17), (18) and (19) is the transmission gate (1).
1) The resistance (17) (1) is set so that the voltage (for example, 1.25V) between 1.875V and 0V derived from (12) is obtained.
8) The value of (19) is set. (36) and (37) are N-type MOSFETs, which are connected between the resistors (18) and (14) and the ground. That is, the N-type MOSFET (3
6) In (37), the resistance (1) is set only when the control signal EPM for setting the EPROM to the write / read state is "1".
3) Current is supplied to (14), (17), (18) and (19) to reduce current consumption. (20) is a P-type comparator (second comparing means), the + terminal is commonly connected to the other ends of the transmission gates (9), (10), (11) and (12), and the-terminal is a resistor (17) (18). )
It is connected to the connection point of (19). That is, the P-type comparator (20) compares the analog voltage and the second reference voltage, and "1" when the analog voltage is higher than the second reference voltage and "0" when the analog voltage is lower than the second reference voltage. Lower order bit A8 of the divided address data,
It outputs A6, A4, A2 and A0. Since the P-type comparators (16) and (20) form a differential pair and a current source using P-type MOSFETs, the power supplies Vcc to (Vcc-α).
There is a so-called dead zone in which analog voltages in the range can not be compared. α is about 1.5V. Therefore, the P-type comparators (16) and (20) use a power source (Vcc + α) obtained by boosting the power source Vcc to eliminate the dead zone. (21)
Reference numeral (22) is an N-type MOSFET, which is connected between the power supply (Vcc + α) of the P-type comparators (16) and (20) and the ground. That is, the N-type MOSFET (21) (2
2) is turned on when the control signal EPM for setting the EPROM to the write / read state is "1" to put the P-type comparators (16) and (20) in the operating state. The analog voltage generating circuit (4) is provided outside the microcomputer and the address data restoring circuit (15) is integrated inside the microcomputer with one terminal (23) as a boundary.

【0011】以下、図1の動作を説明する。先ず、前記
EPROMを書き込み読み出し状態にする命令を実行す
ると、制御信号EPMが「1」になる為、N型MOSF
ET(21)(22)がオンしてP型コンパレータ(1
6)(20)は比較動作を実行できる状態になる。例え
ば、分割アドレスデータA1A0について、特に、該分
割アドレスデータが「10」の場合について説明する。
この場合、NANDゲート(6)の出力が「0」になる
為、トランスミッションゲート(10)が開いて3.1
25Vを導出する。マイクロコンピュータ内部におい
て、先ず、P型コンパレータ(16)は、アナログ電圧
3.125Vが第1基準電圧2.5Vより高い為、5V
を出力する。従って、分割アドレスデータの上位ビット
A1は「1」、第2基準電圧は3.75Vになる。次
に、P型コンパレータ(20)は、アナログ電圧3.1
25Vが第2基準電圧3.75Vより低い為、0Vを出
力する。従って、分割アドレスデータの下位ビットA0
は「0」になる。以上より、1個の端子(23)を設け
るだけで、2ビットの分割アドレスデータをアナログ電
圧に変換した後に復元できることになる。
The operation of FIG. 1 will be described below. First, when a command to put the EPROM into a write / read state is executed, the control signal EPM becomes "1", so the N-type MOSF
ET (21) (22) is turned on and the P-type comparator (1
6) In (20), the comparison operation can be executed. For example, the divided address data A1A0 will be described, particularly when the divided address data is “10”.
In this case, since the output of the NAND gate (6) becomes "0", the transmission gate (10) opens to 3.1.
Derive 25V. Inside the microcomputer, first, the P-type comparator (16) outputs 5V because the analog voltage 3.125V is higher than the first reference voltage 2.5V.
Is output. Therefore, the upper bit A1 of the divided address data is "1" and the second reference voltage is 3.75V. Next, the P-type comparator (20) outputs the analog voltage 3.1.
Since 25V is lower than the second reference voltage 3.75V, 0V is output. Therefore, the lower bit A0 of the divided address data
Becomes "0". From the above, by providing only one terminal (23), it is possible to restore the 2-bit divided address data after converting it to an analog voltage.

【0012】図2は本発明の不揮発性メモリの制御回路
を用いた応用回路を示している。尚、図1及び図2にお
いて、同じ構成は同じ番号で示し、その説明は省略する
ものとする。図2において、(24)はマイクロコンピ
ュータであり、チップ面積の大きさに従って18本の端
子ピンしか配設できないものとする。(25)は昇圧回
路であり、後述するEPROMを書き込み読み出し状態
とする命令を実行した時、電源Vccを(Vcc+α)まで
昇圧するものである。該昇圧回路(25)は、マイクロ
コンピュータ(24)に外部接続されている。(26)
は高電圧検出回路であり、昇圧電源(Vcc+α)のレベ
ルを検出した時、制御信号EPMを「1」にするもので
ある。該高電圧検出回路(26)は、マイクロコンピュ
ータ(24)に集積化される。昇圧回路(25)及び高
電圧検出回路(26)は端子(27)を介して接続され
ている。尚、アドレスデータ復元回路(15)は、昇圧
電源(Vcc+α)及び「1」の制御信号EPMが印加さ
れて初めて動作を開始する。(28)は1Kバイトの記
憶容量を有するEPROMであり、アドレスデータA0
〜A9の指定番地に対してプログラムデータの書き込み
読み出しを行うものである。該EPROM(28)はマ
イクロコンピュータ(24)に集積化される。該EPR
OM(28)は、電源Vcc及びVssを印加する端子(2
9)(30)、チップイネーブル信号*CEを印加する
端子(31)、高電圧Vpp又はアウトプットイネーブル
信号*OEを印加する端子(32)、プログラムデータ
D0〜D7を入出力する8個の端子(33)と接続され
ている。即ち、該EPROM(28)は、チップイネー
ブル信号*CEが「0」且つ高電圧Vppが「1」(12
V)の時、NORゲート(34)の出力が「0」になる
為にトランスミッションゲート(35)が閉じ、アドレ
スデータA0〜A9の指定番地にプログラムデータD0
〜D7を書き込む事ができる状態になる。又、該EPR
OM(28)は、チップイネーブル信号*CEが「0」
且つアウトプットイネーブル信号*OEが「0」の時、
NORゲート(34)の出力が「1」になる為にトラン
スミッションゲート(35)が開き、アドレスデータA
0〜A9の指定番地からプログラムデータD0〜D7を
読み出す事ができる状態になる。
FIG. 2 shows an application circuit using the control circuit of the nonvolatile memory of the present invention. 1 and 2, the same components are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In FIG. 2, reference numeral (24) is a microcomputer, and only 18 terminal pins can be arranged according to the size of the chip area. Reference numeral (25) is a booster circuit, which boosts the power supply Vcc to (Vcc + α) when an instruction to put the EPROM into a write / read state, which will be described later, is executed. The booster circuit (25) is externally connected to the microcomputer (24). (26)
Is a high voltage detecting circuit, which sets the control signal EPM to "1" when the level of the boosted power source (Vcc + α) is detected. The high voltage detection circuit (26) is integrated in the microcomputer (24). The booster circuit (25) and the high voltage detection circuit (26) are connected via a terminal (27). The address data restoration circuit (15) starts its operation only after the boosted power supply (Vcc + α) and the control signal EPM of "1" are applied. Reference numeral (28) is an EPROM having a storage capacity of 1 Kbyte and having address data A0.
The program data is written to and read from designated addresses A to A9. The EPROM (28) is integrated in the microcomputer (24). The EPR
The OM (28) has terminals (2) for applying the power supplies Vcc and Vss.
9) (30), a terminal (31) for applying a chip enable signal * CE, a terminal (32) for applying a high voltage Vpp or an output enable signal * OE, and eight terminals for inputting / outputting program data D0 to D7 (33) is connected. That is, in the EPROM (28), the chip enable signal * CE is "0" and the high voltage Vpp is "1" (12
At the time of V), the output of the NOR gate (34) becomes "0", so that the transmission gate (35) is closed and the program data D0 is assigned to the designated addresses of the address data A0 to A9.
~ D7 is ready for writing. Also, the EPR
The chip enable signal * CE of the OM (28) is "0".
And when the output enable signal * OE is "0",
Since the output of the NOR gate (34) becomes "1", the transmission gate (35) opens and the address data A
The program data D0 to D7 can be read from the designated addresses 0 to A9.

【0013】ところで、アドレスデータA0〜A9は、
A9A8、A7A6、A5A4、A3A2、A1A0の
様に、5分割される。従って、5個のアナログ電圧発生
回路(4)及びアドレスデータ復元回路(15)が必要
になる。この5個のアナログ電圧発生回路(4)及びア
ドレスデータ復元回路(15)は、5個の端子(23)
を介して接続されている。よって、マイクロコンピュー
タ(24)の端子ピンを18本しか配設できない場合で
あっても、アドレスデータA0〜A9をパラレル入力で
きる。
By the way, the address data A0 to A9 are
It is divided into 5 parts like A9A8, A7A6, A5A4, A3A2 and A1A0. Therefore, five analog voltage generation circuits (4) and address data restoration circuits (15) are required. The five analog voltage generating circuits (4) and the address data restoring circuit (15) have five terminals (23).
Connected through. Therefore, even when only 18 terminal pins of the microcomputer (24) can be arranged, the address data A0 to A9 can be input in parallel.

【0014】以上より、EPROM(28)のアドレス
データA0〜A9を2ビット単位に分割し、該分割アド
レスデータA9A8、A7A6、A5A4、A3A2、
A1A0に対応するアナログ電圧を発生し、該アナログ
電圧を5個の端子(23)を介してマイクロコンピュー
タ(24)内部に取り込むことにより、前記分割アドレ
スデータA9A8、A7A6、A5A4、A3A2、A
1A0を復元する様にしている。従って、端子ピン数が
少ないマイクロコンピュータに記憶容量が多いEPRO
Mを内蔵する時であっても、アドレスデータをパラレル
入力できる。
From the above, the address data A0 to A9 of the EPROM (28) is divided into 2-bit units, and the divided address data A9A8, A7A6, A5A4, A3A2,
The divided address data A9A8, A7A6, A5A4, A3A2, A3 are generated by generating an analog voltage corresponding to A1A0 and taking the analog voltage into the microcomputer (24) through the five terminals (23).
I am trying to restore 1A0. Therefore, an EPRO with a large storage capacity can be used in a microcomputer with a small number of terminal pins.
Address data can be input in parallel even when M is incorporated.

【0015】[0015]

【発明の効果】本発明によれば、不揮発性メモリのアド
レスデータを少なくとも2ビット単位に分割し、該分割
アドレスデータに対応するアナログ電圧を発生し、該ア
ナログ電圧を1個の端子を介してマイクロコンピュータ
内部に取り込むことにより、前記分割アドレスデータを
復元できる様にした。従って、端子ピン数が少ないマイ
クロコンピュータに記憶容量が多い不揮発性メモリを内
蔵する時であっても、アドレスデータをパラレル入力で
きる。それ故に、不揮発性メモリの周辺回路が複雑にな
るのを防止でき、又、不揮発性メモリのプログラムデー
タを短時間で校正でき、又、汎用のPROMライタを使
用できる等の利点が得られる。
According to the present invention, the address data of the non-volatile memory is divided into units of at least 2 bits, an analog voltage corresponding to the divided address data is generated, and the analog voltage is passed through one terminal. The divided address data can be restored by importing it into the microcomputer. Therefore, even when a non-volatile memory having a large storage capacity is built in a microcomputer having a small number of terminal pins, address data can be input in parallel. Therefore, the peripheral circuit of the nonvolatile memory can be prevented from becoming complicated, the program data of the nonvolatile memory can be calibrated in a short time, and a general-purpose PROM writer can be used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の不揮発性メモリの制御回路を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing a control circuit of a nonvolatile memory of the present invention.

【図2】本発明の不揮発性メモリの制御回路を用いた応
用回路を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an application circuit using a control circuit of the nonvolatile memory of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

(4) アナログ電圧発生回路 (5)(6)(7)(8) NANDゲート (13)(14)(17)(18)(19) 抵抗 (16)(20) P型コンパレータ (23) 端子 (24) マイクロコンピュータ (28) EPROM (4) Analog voltage generator (5) (6) (7) (8) NAND gate (13) (14) (17) (18) (19) Resistor (16) (20) P-type comparator (23) Terminal (24) Microcomputer (28) EPROM

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プログラムデータの書き込み読み出しを
可能とする不揮発性メモリを内蔵したマイクロコンピュ
ータにおいて、 前記不揮発性メモリのアドレスデータを少なくとも2ビ
ット単位に分割し、該分割アドレスデータを解読する解
読手段と、 前記解読手段の出力に従って、前記分割アドレスデータ
に対応するアナログ電圧を発生するアナログ電圧発生手
段と、 第1基準電圧を発生する第1基準電圧発生手段と、 前記アナログ電圧及び前記第1基準電圧を比較し、前記
分割アドレスデータの最上位ビットを出力する第1比較
手段と、 前記第1比較手段の出力に従って変化する第2基準電圧
を発生する第2基準電圧発生手段と、 前記アナログ電圧及び前記第2基準電圧を比較し、前記
分割アドレスデータの最上位ビットの直後の下位ビット
を出力する第2比較手段と、 を、備えたことを特徴とする不揮発性メモリの制御回
路。
1. A microcomputer having a built-in non-volatile memory capable of writing and reading program data, wherein the address data of the non-volatile memory is divided into at least 2 bit units, and a decoding means for decoding the divided address data. An analog voltage generating means for generating an analog voltage corresponding to the divided address data according to an output of the decoding means; a first reference voltage generating means for generating a first reference voltage; the analog voltage and the first reference voltage; And a second reference voltage generating means for generating a second reference voltage that changes according to the output of the first comparing means, the analog voltage, The second reference voltage is compared, and the lower bit immediately after the most significant bit of the divided address data is compared. And a second comparison means for outputting the output of the non-volatile memory.
【請求項2】 少なくとも前記第1及び第2比較手段を
マイクロコンピュータ内部に集積化し、前記アナログ電
圧発生手段の出力と前記第1及び第2比較手段の入力と
を1個の端子を介して接続することを特徴とする請求項
1記載の不揮発性メモリの制御回路。
2. At least the first and second comparing means are integrated in a microcomputer, and the output of the analog voltage generating means and the input of the first and second comparing means are connected via one terminal. The control circuit for a non-volatile memory according to claim 1, wherein:
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100769799B1 (en) * 2001-12-20 2007-10-23 주식회사 하이닉스반도체 Flash memory device

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