KR100769799B1 - Flash memory device - Google Patents

Flash memory device Download PDF

Info

Publication number
KR100769799B1
KR100769799B1 KR1020010081941A KR20010081941A KR100769799B1 KR 100769799 B1 KR100769799 B1 KR 100769799B1 KR 1020010081941 A KR1020010081941 A KR 1020010081941A KR 20010081941 A KR20010081941 A KR 20010081941A KR 100769799 B1 KR100769799 B1 KR 100769799B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cell
data
address
flash memory
memory device
Prior art date
Application number
KR1020010081941A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20030051043A (en
Inventor
박인선
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020010081941A priority Critical patent/KR100769799B1/en
Publication of KR20030051043A publication Critical patent/KR20030051043A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100769799B1 publication Critical patent/KR100769799B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/08Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1015Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
    • G11C7/1018Serial bit line access mode, e.g. using bit line address shift registers, bit line address counters, bit line burst counters
    • G11C7/1021Page serial bit line access mode, i.e. using an enabled row address stroke pulse with its associated word line address and a sequence of enabled column address stroke pulses each with its associated bit line address

Abstract

본 발명은 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 플래쉬 메모리 장치에 관한 것으로, 다수의 메모리 셀의 독출 데이터 또는 프로그램 데이터를 상기 셀마다 각각 저장하기 위한 다수의 페이지 버퍼 각각에 하나의 어드레스에 대한 입출력 단자가 접속되도록 구성하고, 상기 셀의 데이터를 독출하는 경우 상기 셀의 데이터를 상기 다수의 페이지 버퍼에 나누어 저장하고 상기 페이지 버퍼에 저장된 데이터는 다른 어드레스에 따른 같은 입출력 단자를 통해 출력하고, 상기 셀에 데이터를 프로그램하는 경우 어드레스에 따른 다른 입출력 단자를 이용하여 상기 다수의 페이지 버퍼에 데이터를 저장한 후 해당 셀에 프로그램함으로써 독출 속도 및 프로그램 속도를 향상시킬 수 있는 플래쉬 메모리 장치가 제시된다.
The present invention relates to a flash memory device for implementing a multi-level cell, wherein an input / output terminal for one address is connected to each of a plurality of page buffers for storing read data or program data of a plurality of memory cells for each cell. When the data of the cell is read, the data of the cell is divided and stored in the plurality of page buffers, and the data stored in the page buffers are output through the same input / output terminals according to different addresses, and the data to the cells. In the case of programming, a flash memory device capable of improving a read speed and a program speed by storing data in the plurality of page buffers using different input / output terminals according to an address and then programming the data in a corresponding cell is provided.

플래쉬 메모리 장치, 멀티 레벨 셀, 프로그램, 독출Flash memory device, multi-level cell, program, read

Description

플래쉬 메모리 장치{Flash memory device} Flash memory device             

도 1은 싱글 레벨 셀의 상태도.1 is a state diagram of a single level cell.

도 2는 멀티 레벨 셀의 상태도.2 is a state diagram of a multi-level cell.

도 3은 종래의 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 NAND형 플래쉬 메모리 장치의 개략도.3 is a schematic diagram of a NAND type flash memory device for implementing a conventional multi-level cell.

도 4는 본 발명에 따른 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 NAND형 플래쉬 메모리 장치의 개략도.
4 is a schematic diagram of a NAND type flash memory device for implementing a multi-level cell in accordance with the present invention.

본 발명은 플래쉬 메모리 장치에 관한 것으로, 특히 다수의 메모리 셀의 독출 데이터 또는 프로그램 데이터를 상기 셀마다 각각 저장하기 위한 다수의 페이지 버퍼 각각에 하나의 어드레스에 대한 입출력 단자가 접속되도록 구성하여 프로그램 및 독출 속도를 향상시킬 수 있는 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 플래쉬 메모리 장 치에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flash memory device. In particular, an input / output terminal for one address is connected to each of a plurality of page buffers for storing read data or program data of a plurality of memory cells for each cell. The present invention relates to a flash memory device for implementing multi-level cells that can improve speed.

NAND형 플래쉬 메모리 소자에서 멀티 레벨 셀 방식은 1개의 셀에 2비트의 데이터 정보를 저장하여 칩의 데이터 저장 능력을 2배로 증가시키는 획기적인 방법이다. 즉, 512M의 플래쉬 메모리 소자가 1G의 데이터 저장 능력을 갖도록 하는 것이다. 도 1은 싱글 레벨 셀의 상태를 나타낸 것이고, 도 2는 멀티 레벨 셀의 상태를 나타낸 것이다. 1 바이트의 정보를 저장하기 위해 싱글 레벨 셀은 8개의 셀을 필요로하지만, 도 2의 멀티 레벨 셀은 4개의 셀을 필요로 한다. 이와 같이 멀티 레벨 셀을 구현하기 위해서는 1개의 셀에 2비트의 데이터를 저장해야 하고, 이를 위해서 셀은 4개의 문턱 전압을 가져야 한다.
In NAND flash memory devices, the multi-level cell method is a breakthrough method that doubles the data storage capability of a chip by storing two bits of data information in one cell. That is, the 512M flash memory device has a data storage capacity of 1G. 1 illustrates a state of a single level cell, and FIG. 2 illustrates a state of a multi level cell. A single level cell requires eight cells to store one byte of information, while the multi-level cell of FIG. 2 requires four cells. As described above, in order to implement a multi-level cell, two bits of data must be stored in one cell, and for this purpose, the cell must have four threshold voltages.

도 3은 종래의 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 NAND형 플래쉬 메모리 장치의 개략도이다. 도시된 바와 같이 하나의 비트라인(BL0 및 BL1)에 다수의 메모리 셀(M100 내지 M115)이 접속되고, 제 1 선택 신호(DSL) 및 제 2 선택 신호(SSL)에 따라 구동되는 제 1 및 제 2 NMOS 트랜지스터(N11 및 N12)에 의해 비트라인이 선택된다. 비트라인(BL0 및 BL1)은 제 1 및 제 2 페이지 버퍼(11 및 12)에 접속되며, 제 1 및 제 2 페이지 버퍼(11 및 12)는 제 1 및 제 2 입출력 단자(IO0 및 IO1)와 각각 연결된다.3 is a schematic diagram of a NAND-type flash memory device for implementing a conventional multi-level cell. As illustrated, a plurality of memory cells M100 to M115 are connected to one bit line BL0 and BL1 and are driven according to the first selection signal DSL and the second selection signal SSL. The bit line is selected by two NMOS transistors N11 and N12. The bit lines BL0 and BL1 are connected to the first and second page buffers 11 and 12, and the first and second page buffers 11 and 12 are connected to the first and second input / output terminals IO0 and IO1. Each is connected.

상기와 같이 구성되는 종래의 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 NAND형 플래쉬 메모리 장치는 1개 셀의 데이터를 처리하는 과정이 동일한 어드레스에 대하여 서로 다른 입출력 단자로 동시에 처리된다. 예를들어 제 1 비트라인(BL0)의 제 1 셀(M100)을 독출하는 경우 제 1 셀(M100)의 2비트 정보를 센싱한 후 그 정보를 제 1 및 제 2 페이지 버퍼(11 및 12)에 각각 저장한다. 제 1 페이지 버퍼(11)에 저장된 정보는 제 1 입출력 단자(I/O0)를 통해 출력되고, 제 2 페이지 버퍼(12)에 저장된 정보는 제 2 입출력 단자(I/O1)를 통해 출력된다. 이와 같은 원리로 바이트 모드 소자는 4개의 셀로 1 바이트의 데이터를 독출할 수 있다. 즉, 하나의 어드레스를 이용하여 4개의 셀만으로 1바이트의 정보를 출력할 수 있다.In a conventional NAND flash memory device configured to implement a multi-level cell configured as described above, a process of processing data of one cell is simultaneously processed by different input / output terminals for the same address. For example, when reading the first cell M100 of the first bit line BL0, after sensing 2-bit information of the first cell M100, the information is stored in the first and second page buffers 11 and 12. Each). Information stored in the first page buffer 11 is output through the first input / output terminal I / O0, and information stored in the second page buffer 12 is output through the second input / output terminal I / O1. In this manner, the byte mode device can read one byte of data into four cells. That is, one byte of information can be output to only four cells using one address.

한편, 제 1 셀(M100)에 데이터를 쓰고자 하는 경우는 독출과 반대 경로로 실시하면 된다. 먼저, 입출력 단자로 입력된 정보가 페이지 버퍼에 저장되는데, 제 1 입출력 단자(I/O0)를 통해 입력된 정보는 제 1 페이지 버퍼(11)에 저장되며, 제 2 입출력 단자(I/O1)를 통해 입력된 정보는 제 2 페이지 버퍼(12)에 저장된다. 이와 같이 제 1 내지 제 8 입출력 단자(I/O<0:7>)를 통해 입력된 정보는 제 1 내지 제 7 페이지 버퍼에 각각 저장된다. 제 1 및 제 2 페이지 버퍼(11 및 12)에 저장된 2비트 정보는 제 1 셀(M100)에 해당되는 4개 상태중 어느 하나를 갖도록 프로그램된다. 결국 셀 4개에 1바이트가 모두 저장된다.
On the other hand, when writing data to the first cell (M100) may be performed in the opposite path to the read. First, information input to the input / output terminal is stored in the page buffer. Information input through the first input / output terminal I / O0 is stored in the first page buffer 11 and the second input / output terminal I / O1. Information input through the second page buffer 12 is stored. As such, the information input through the first to eighth input / output terminals I / O <0: 7> is stored in the first to seventh page buffers, respectively. The 2-bit information stored in the first and second page buffers 11 and 12 is programmed to have any one of four states corresponding to the first cell M100. As a result, all one byte is stored in four cells.

상기와 같이 종래의 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 NAND형 플래쉬 메모리 장치는 1개 셀의 데이터를 처리하는 과정이 동일한 어드레스에 대하여 서로 다른 입출력 단자로 동시에 처리되기 때문에 싱글 레벨 셀에 비하여 데이터 저장 시간이 많이 소요되고, 데이터 독출 속도도 그만큼 느려지게 된다. 멀티 레벨 셀이 적용된 소자가 원가 측면에서 많은 장점을 가지고 있음에도 위와 같은 프로그램 및 독출 시간이 길어지는 단점으로 인하여 양산에 어려움이 따르고 있다.
As described above, in the NAND-type flash memory device for implementing a multi-level cell, a data storage time is longer than that of a single-level cell because a process of processing data of one cell is simultaneously processed by different input / output terminals for the same address. It takes a lot of data, and the data reading speed is also slowed down. Although the device with the multi-level cell has many advantages in terms of cost, it is difficult to mass-produce due to the disadvantage of the longer program and read time.

본 발명의 목적은 프로그램 속도 및 독출 속도를 향상시킬 수 있는 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 플래쉬 메모리 장치를 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a flash memory device for implementing a multi-level cell that can improve the program speed and the read speed.

본 발명의 다른 목적은 2비트의 정보를 어드레스에 따라서 2번으로 나누어 처리함으로써 프로그램 속도 및 독출 속도를 향상시킬 수 있는 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 플래쉬 메모리 장치를 제공하는데 있다.
Another object of the present invention is to provide a flash memory device for implementing a multi-level cell that can improve program speed and read speed by dividing and processing two bits of information twice according to an address.

본 발명에 따른 플래쉬 메모리 장치는 다수의 메모리 셀의 독출 데이터 또는 프로그램 데이터를 상기 셀마다 각각 저장하기 위한 다수의 페이지 버퍼 각각에 하나의 어드레스에 대한 입출력 단자가 접속되도록 구성하고, 상기 셀의 데이터를 독출하는 경우 상기 셀의 데이터를 상기 다수의 페이지 버퍼에 나누어 저장하고 상기 페이지 버퍼에 저장된 데이터는 다른 어드레스에 따른 같은 입출력 단자를 통해 출력하고, 상기 셀에 데이터를 프로그램하는 경우 어드레스에 따른 다른 입출력 단자를 이용하여 상기 다수의 페이지 버퍼에 데이터를 저장한 후 해당 셀에 프로그램하는 것을 특징으로 한다.
The flash memory device according to the present invention is configured such that an input / output terminal for one address is connected to each of a plurality of page buffers for storing read data or program data of a plurality of memory cells for each cell. When reading, data of the cell is divided and stored in the plurality of page buffers, and the data stored in the page buffer is output through the same input / output terminal according to a different address, and when inputting data to the cell, other input / output according to an address The data may be stored in the plurality of page buffers using a terminal and then programmed in a corresponding cell.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 NAND형 플래쉬 메모리 장치의 개략도이다. 도시된 바와 같이 하나의 비트라인(BL0 및 BL1)에 다수의 메모리 셀(M200 내지 M215)이 접속되고, 제 1 선택 신호(DSL) 및 제 2 선택 신호(SSL)에 따라 구동되는 제 1 및 제 2 NMOS 트랜지스터(N21 및 N22)에 의해 비트라인이 선택된다. 비트라인(BL0 및 BL1)은 제 1 및 제 2 페이지 버퍼(21 및 22)에 접속되며, 제 1 및 제 2 페이지 버퍼(21 및 22)는 제 1 및 제 2 어드레스의 제 1 입출력 단자와 각각 연결된다. 상기와 같이 구성된 본 발명에서는 종래의 멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 방식에서 동일한 어드레스에서 4개 셀로 1바이트를 처리하는 것을 2개 어드레스로 8개 셀을 사용하여 프로그램 속도와 독출 속도를 향상시킨다.4 is a schematic diagram of a NAND type flash memory device for implementing a multi-level cell according to the present invention. As illustrated, a plurality of memory cells M200 to M215 are connected to one bit line BL0 and BL1 and are driven according to the first selection signal DSL and the second selection signal SSL. The bit line is selected by two NMOS transistors N21 and N22. The bit lines BL0 and BL1 are connected to the first and second page buffers 21 and 22, and the first and second page buffers 21 and 22 are respectively connected to the first input / output terminals of the first and second addresses. Connected. In the present invention configured as described above, in the conventional method for implementing a multi-level cell, the processing speed of the program and the reading speed are improved by using eight cells with two addresses for processing one byte with four cells at the same address.

제 1 어드레스(add0)에 의해 제 1 비트라인(BL0)의 제 1 셀(M200)을 독출하는 경우 제 1 셀(M200)의 2비트 정보는 제 1 페이지 버퍼(21)와 제 2 페이지 버퍼(22)에 저장된다. 제 1 페이지 버퍼(21)는 제 1 어드레스의 제 1 입출력 단자(add0의 I/O0)에 연결되며, 제 2 페이지 버퍼(22)는 제 2 어드레스의 제 1 입출력 단자(add1의 I/O0)에 연결된다. 즉, 독출하고자 하는 제 1 어드레스(add0)의 8개 입출력 단자(I/0<0:7>)는 8개의 페이지 버퍼와 연결되고, 8개의 페이지 버퍼는 8개의 셀과 연결되어 1바이트의 데이터를 출력한다. 그러나, 다음 어드레스인 제 2 어드레스의 1바이트의 데이터는 이미 제 1 어드레스에서 독출된 8개 셀의 각각의 상위 비트 데이터가 독출 센싱 과정없이 출력된다. 이는 종래의 멀티 레벨 셀 방식과 같은 셀 개수를 가지고 같은 양의 데이터를 처리하면서 독출 시간은 50%가 줄어 드는 효과를 가져온다.When the first cell M200 of the first bit line BL0 is read by the first address add0, 2-bit information of the first cell M200 may be stored in the first page buffer 21 and the second page buffer. Stored at 22. The first page buffer 21 is connected to the first input / output terminal (I / O0 of add0) of the first address, and the second page buffer 22 is the first input / output terminal (I / O0 of add1) of the second address. Is connected to. That is, the eight input / output terminals I / 0 <0: 7> of the first address add0 to be read are connected to eight page buffers, and the eight page buffers are connected to eight cells, thereby providing one byte of data. Outputs However, one byte of data of the second address, which is the next address, is output without the read sensing process of the upper bit data of each of the eight cells already read at the first address. This results in a 50% reduction in read time while processing the same amount of data with the same number of cells as the conventional multi-level cell method.

제 1 셀(M200)에 데이터를 프로그램하는 과정은 어드레스에 따라서 다른 프로그램 루프를 갖는다. 먼저 어드레스에 따른 프로그램 순서는 16개 로우(row)에서 낮은 어드레스부터 진행한다. 즉, 제 1 셀(M200)로부터 제 16 셀(M215)로 로우 어드레스가 증가하는 경우 제 1 셀(M200)에서 제 16 셀(M215)의 순서로 프로그램을 실시한다. 이와는 반대로 제 16 셀(M215)이 낮은 로우 어드레스를 갖는 구조일 경우 제 16 셀(M215)로부터 제 1 셀(M200)로 프로그램을 실시한다. 제 1 셀(M200)로부터 제 16 셀(M215)로 프로그램을 실시하는 구조에서 제 1 어드레스, 즉 제 1 로우(row0)의 제 1 셀(M200)을 프로그램하는 경우 제 1 페이지 버퍼(21)의 프로그램 데이터를 가지고 제 1 셀(M200)을 프로그램한다. 이는 종래의 멀티 레벨 셀 방식에서 최악의 경우 00 상태에서 11 상태까지 3개 단계를 거쳐서 프로그램을 실시하는 구조에 비하여 획기적으로 프로그램 시간을 줄일 수 있다. 다음으로 제 2 어드레스(add1)에 의해 1바이트를 프로그램하고자 한다면 제 1 어드레스(add0)의 1바이트 8개 셀이 다시 선택되며 이미 프로그램이 끝난 셀들에 대한 검증이 먼저 실시된다. 제 1 입출력 단자(I/O0)만을 예로들면 제 2 어드레스(add1)의 제 2 페이지 버퍼(22)에 저장된 프로그램 데이터에 따라서 제 1 셀(M200)이 프로그램된다. 만일 제 2 페이지 버퍼(22)에 저장된 데이터가 프로그램 데이터이고 제 1 어드레스(add0)의 제 1 셀(M200)을 검증한 결과 00 상태일 경우 이 셀을 10 상태까지 프로그램을 실시한다. 검증 결과 01 상태라면 11 상태까지 프로그램을 실시한다. 이와 같은 어드레스를 분할한 멀티 레벨 셀 방식을 이용하면 종래의 멀티 레벨 셀 방식에서 3단계로 프로그램이 실시되면서 중간 단계마다 검증을 실시하는 등의 상당한 프로그램 시간이 소요되는 것을 획기적으로 줄일 수 있다. 이후 다음 어드레스들에 대한 독출 및 프로그램은 위와 같은 과정을 반복하여 실시한다.
The process of programming data in the first cell M200 has a different program loop according to the address. First, the program order according to the address proceeds from the low address in 16 rows. That is, when the row address increases from the first cell M200 to the sixteenth cell M215, the program is executed in the order from the first cell M200 to the sixteenth cell M215. In contrast, when the sixteenth cell M215 has a low row address, the program is executed from the sixteenth cell M215 to the first cell M200. In the structure of programming the first cell M200 from the first cell M200 to the sixteenth cell M215, the first page buffer 21 of the first page buffer 21 is programmed. The first cell M200 is programmed with the program data. In the conventional multi-level cell method, the program time can be drastically reduced as compared to the structure in which the program is executed in three stages from the 00 state to the 11 state in the worst case. Next, if one byte is to be programmed by the second address add1, eight one-byte cells of the first address add0 are selected again, and verification of cells already programmed is performed first. Taking only the first input / output terminal I / O0 as an example, the first cell M200 is programmed according to the program data stored in the second page buffer 22 of the second address add1. If the data stored in the second page buffer 22 is program data and the first cell M200 at the first address add0 is verified, the cell is programmed up to 10 states. If the verification result is 01, the program is executed up to 11. By using such a multilevel cell method by dividing the address, it is possible to drastically reduce the time required for a significant program time such as verifying every intermediate step while the program is executed in three steps in the conventional multilevel cell method. After that, the reading and the program for the following addresses are repeated as above.

상술한 바와 같이 본 발명에 의하면 종래의 멀티 레벨 셀 방식에서 동일 어드레스에서 다른 입출력 단자로 동시에 처리하는 방식을 바꿔 어드레스로 나누어 처리함으로써 데이터 독출 시간과 프로그램 시간을 획기적으로 줄일 수 있다.As described above, according to the present invention, the data read time and the program time can be drastically reduced by changing the method of simultaneously processing from the same address to different input / output terminals in the conventional multi-level cell method.

Claims (1)

멀티 레벨 셀을 구현하기 위한 플래쉬 메모리 장치에 있어서,A flash memory device for implementing a multi-level cell, 다수의 메모리 셀의 독출 데이터 또는 프로그램 데이터를 상기 셀마다 각각 저장하기 위한 다수의 페이지 버퍼 각각에 하나의 어드레스에 대한 입출력 단자가 접속되도록 구성하고, 상기 셀의 데이터를 독출하는 경우 상기 셀의 데이터를 상기 다수의 페이지 버퍼에 나누어 저장하고 상기 페이지 버퍼에 저장된 데이터는 다른 어드레스에 따른 같은 입출력 단자를 통해 출력하고, 상기 셀에 데이터를 프로그램하는 경우 어드레스에 따른 다른 입출력 단자를 이용하여 상기 다수의 페이지 버퍼에 데이터를 저장한 후 해당 셀에 프로그램하는 것을 특징으로 하는 플래쉬 메모리 장치.An input / output terminal for one address is connected to each of a plurality of page buffers for storing read data or program data of a plurality of memory cells for each cell, and when reading data of the cell, data of the cell Is stored in the plurality of page buffers and the data stored in the page buffer is output through the same input / output terminal according to a different address, and when the data is programmed into the cell, the plurality of pages using different input / output terminals according to the address Flash memory device, characterized in that the data stored in the buffer and then programmed in the cell.
KR1020010081941A 2001-12-20 2001-12-20 Flash memory device KR100769799B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010081941A KR100769799B1 (en) 2001-12-20 2001-12-20 Flash memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020010081941A KR100769799B1 (en) 2001-12-20 2001-12-20 Flash memory device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030051043A KR20030051043A (en) 2003-06-25
KR100769799B1 true KR100769799B1 (en) 2007-10-23

Family

ID=29576910

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020010081941A KR100769799B1 (en) 2001-12-20 2001-12-20 Flash memory device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100769799B1 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100680486B1 (en) * 2005-03-30 2007-02-08 주식회사 하이닉스반도체 Page buffer circuit of flash memory device with improved operation performance and control methods for read and program operations of the same
KR100713983B1 (en) 2005-09-22 2007-05-04 주식회사 하이닉스반도체 Page buffer of flash memory device and programming method using the same
KR100888823B1 (en) 2007-06-27 2009-03-17 삼성전자주식회사 Non-volatile memory system, and method of non-volatile memory system
KR101379820B1 (en) 2007-10-17 2014-04-01 삼성전자주식회사 Apparatus for multi-bit programming and memory data detection apparatus
KR101436505B1 (en) 2008-01-03 2014-09-02 삼성전자주식회사 Memory device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07153283A (en) * 1993-11-25 1995-06-16 Sanyo Electric Co Ltd Control circuit for non-volatile memory
JPH11110985A (en) * 1997-10-07 1999-04-23 Sharp Corp Non-volatile semiconductor memory and its writing method
JP2001325796A (en) * 2000-03-08 2001-11-22 Toshiba Corp Non-volatile semiconductor memory
KR20010106622A (en) * 2000-05-22 2001-12-07 윤종용 Semiconductor memory device with write masking function

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07153283A (en) * 1993-11-25 1995-06-16 Sanyo Electric Co Ltd Control circuit for non-volatile memory
JPH11110985A (en) * 1997-10-07 1999-04-23 Sharp Corp Non-volatile semiconductor memory and its writing method
JP2001325796A (en) * 2000-03-08 2001-11-22 Toshiba Corp Non-volatile semiconductor memory
KR20010106622A (en) * 2000-05-22 2001-12-07 윤종용 Semiconductor memory device with write masking function

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030051043A (en) 2003-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102087878B (en) Flash memory device and method of programming same
JP3703951B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device
KR101829208B1 (en) Method of operating a semiconductor memory device
US5060198A (en) Device for the structural testing of an integrated circuit
US20120008396A1 (en) Semiconductor memory device and method of erasing the same
US7227778B2 (en) Semiconductor device and writing method
US7609548B2 (en) Method of programming a multi level cell
CN101295542A (en) Control circuit of flash memory device and method of operating the flash memory device
US6826081B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device, nonvolatile semiconductor memory device-integrated system, and defective block detecting method
US6424569B1 (en) User selectable cell programming
US7158417B2 (en) Semiconductor device and method for writing data into the semiconductor device
CN109217876A (en) Serializer and storage device including the serializer
US8094495B2 (en) Nonvolatile memory device
KR20080029749A (en) Method of programming a multi level cell
KR100713983B1 (en) Page buffer of flash memory device and programming method using the same
EP1073065A1 (en) Nonvolatile semiconductor memory device
US7791939B2 (en) Non-volatile memory device
KR100769799B1 (en) Flash memory device
US8407406B2 (en) Semiconductor memory device and method of testing the same
US20120254518A1 (en) Memory system
US6515905B2 (en) Nonvolatile semiconductor memory device having testing capabilities
KR101098431B1 (en) Method of operation a semiconductor memory device
JP2007035163A (en) Nonvolatile semiconductor storage device and signal processing system
US20080094894A1 (en) Nonvolatile semiconductor memory and memory system
US10714190B2 (en) Page buffer circuit and nonvolatile storage device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100920

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee