JPH07152912A - パターンマッチング方法 - Google Patents
パターンマッチング方法Info
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- JPH07152912A JPH07152912A JP5301564A JP30156493A JPH07152912A JP H07152912 A JPH07152912 A JP H07152912A JP 5301564 A JP5301564 A JP 5301564A JP 30156493 A JP30156493 A JP 30156493A JP H07152912 A JPH07152912 A JP H07152912A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 パターンマッチングの処理時間を短縮する。
【構成】 被検査パターンを含むカメラ画像を標準画像
として画像メモリに格納するステップと、画像メモリの
標準画像を縮小した縮小画像を縮小画像メモリに格納す
るステップと、縮小画像と同一の縮小率で標準リファレ
ンスパターンを縮小した縮小リファレンスパターンと、
縮小画像メモリの縮小画像とによりパターンマッチング
を行い、マッチング率が高いエリアとその周囲をサーチ
エリアに設定するステップと、設定されたサーチエリア
内において、標準リファレンスパターンと標準画像とに
よりパターンマッチングを行い、被検査パターンの位置
を特定するステップを有する。
として画像メモリに格納するステップと、画像メモリの
標準画像を縮小した縮小画像を縮小画像メモリに格納す
るステップと、縮小画像と同一の縮小率で標準リファレ
ンスパターンを縮小した縮小リファレンスパターンと、
縮小画像メモリの縮小画像とによりパターンマッチング
を行い、マッチング率が高いエリアとその周囲をサーチ
エリアに設定するステップと、設定されたサーチエリア
内において、標準リファレンスパターンと標準画像とに
よりパターンマッチングを行い、被検査パターンの位置
を特定するステップを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、処理時間を短縮できる
ようにしたパターンマッチング方法に関するものであ
る。
ようにしたパターンマッチング方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】電子部品を製造したり、電子部品を基板
に実装する分野において、電子部品のリードや基板の位
置決めマークなど様々な検査対象のパターン（被検査パ
ターン）について、パターンマッチングを用いて位置の
認識処理が施されている。
に実装する分野において、電子部品のリードや基板の位
置決めマークなど様々な検査対象のパターン（被検査パ
ターン）について、パターンマッチングを用いて位置の
認識処理が施されている。
【０００３】図１１は、従来の認識装置のブロック図で
あり、１は基板、２は基板１に付された検査対象として
の位置決めマーク、３は基板１を観察するカメラ、４は
基板１に光を照射する光源、５はカメラ３が出力するア
ナログ画像信号をデジタル化するＡ／Ｄ変換器、６はＡ
／Ｄ変換器５が出力する画像（標準画像）を記憶する画
像メモリ、７は標準リファレンスパターンが格納されて
いるリファレンスパターンメモリ、８はパターンマッチ
ング等の処理を行う演算部であり、ＣＰＵ，ＲＯＭ，Ｒ
ＡＭなどからなる。
あり、１は基板、２は基板１に付された検査対象として
の位置決めマーク、３は基板１を観察するカメラ、４は
基板１に光を照射する光源、５はカメラ３が出力するア
ナログ画像信号をデジタル化するＡ／Ｄ変換器、６はＡ
／Ｄ変換器５が出力する画像（標準画像）を記憶する画
像メモリ、７は標準リファレンスパターンが格納されて
いるリファレンスパターンメモリ、８はパターンマッチ
ング等の処理を行う演算部であり、ＣＰＵ，ＲＯＭ，Ｒ
ＡＭなどからなる。
【０００４】図１２は、従来のパターンマッチング方法
の概要を示す説明図であり、９は画像メモリ６内の標準
画像であり、１０は位置決めマーク２の像（被検査パタ
ーン）、１１はリファレンスパターンメモリ７内の標準
リファレンスパターンである。さて従来のパターンマッ
チング方法では、標準画像９のほとんどを含むサーチエ
リア１２が設定され、このサーチエリア１２内におい
て、標準リファレンスパターン１１と同一サイズ、同一
情報量の照合エリア１３を、矢印Ｎ１で示すように、標
準画像９における１画素おきにずらしながら移動させ、
各移動位置における照合エリア１３と標準リファレンス
パターン１１とのマッチング率を求めてゆき、このマッ
チング率が最も高くなる位置を求め、この位置に基い
て、被検査パターンの位置を特定するものであった。
の概要を示す説明図であり、９は画像メモリ６内の標準
画像であり、１０は位置決めマーク２の像（被検査パタ
ーン）、１１はリファレンスパターンメモリ７内の標準
リファレンスパターンである。さて従来のパターンマッ
チング方法では、標準画像９のほとんどを含むサーチエ
リア１２が設定され、このサーチエリア１２内におい
て、標準リファレンスパターン１１と同一サイズ、同一
情報量の照合エリア１３を、矢印Ｎ１で示すように、標
準画像９における１画素おきにずらしながら移動させ、
各移動位置における照合エリア１３と標準リファレンス
パターン１１とのマッチング率を求めてゆき、このマッ
チング率が最も高くなる位置を求め、この位置に基い
て、被検査パターンの位置を特定するものであった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、広いサーチエリアの全画素数分についてマ
ッチング率を計算してゆく必要があり、膨大な演算を要
し、処理時間がかかりすぎるという問題点があった。
来技術では、広いサーチエリアの全画素数分についてマ
ッチング率を計算してゆく必要があり、膨大な演算を要
し、処理時間がかかりすぎるという問題点があった。
【０００６】そこで本発明は、サーチエリアをできるだ
け狭くして、処理時間を短縮できるパターンマッチング
方法を提供することを目的とする。
け狭くして、処理時間を短縮できるパターンマッチング
方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は第１の構成として、被検査パターンを含む
カメラ画像を標準画像として画像メモリに格納するステ
ップと、画像メモリの標準画像を縮小した縮小画像を縮
小画像メモリに格納するステップと、縮小画像と同一の
縮小率で標準リファレンスパターンを縮小した縮小リフ
ァレンスパターンと、縮小画像メモリの縮小画像とによ
りパターンマッチングを行い、マッチング率が高いエリ
アとその周囲をサーチエリアに設定するステップと、設
定されたサーチエリア内において、標準リファレンスパ
ターンと標準画像とによりパターンマッチングを行い、
被検査パターンの位置を特定するステップを有する。
め、本発明は第１の構成として、被検査パターンを含む
カメラ画像を標準画像として画像メモリに格納するステ
ップと、画像メモリの標準画像を縮小した縮小画像を縮
小画像メモリに格納するステップと、縮小画像と同一の
縮小率で標準リファレンスパターンを縮小した縮小リフ
ァレンスパターンと、縮小画像メモリの縮小画像とによ
りパターンマッチングを行い、マッチング率が高いエリ
アとその周囲をサーチエリアに設定するステップと、設
定されたサーチエリア内において、標準リファレンスパ
ターンと標準画像とによりパターンマッチングを行い、
被検査パターンの位置を特定するステップを有する。
【０００８】また第２の構成として、被検査パターンを
含むカメラ画像を標準画像として画像メモリに格納する
ステップと、画像メモリの標準画像を直交２方向に投影
した投影データを生成するステップと、この投影データ
と、標準リファレンスパターンを直交２方向に投影した
投影リファレンスデータとをパターンマッチングして、
マッチング率が高いエリアとその周囲のサーチエリアを
設定するステップと、設定されたサーチエリア内におい
て、標準リファレンスパターンと標準画像とによりパタ
ーンマッチングを行い、被検査パターンの位置を特定す
るステップを有する。
含むカメラ画像を標準画像として画像メモリに格納する
ステップと、画像メモリの標準画像を直交２方向に投影
した投影データを生成するステップと、この投影データ
と、標準リファレンスパターンを直交２方向に投影した
投影リファレンスデータとをパターンマッチングして、
マッチング率が高いエリアとその周囲のサーチエリアを
設定するステップと、設定されたサーチエリア内におい
て、標準リファレンスパターンと標準画像とによりパタ
ーンマッチングを行い、被検査パターンの位置を特定す
るステップを有する。
【０００９】
【作用】上記第１の構成により、標準画像、標準リファ
レンスパターンを、それぞれ同一の縮小率で縮小した縮
小画像、縮小リファレンスパターンとによりパターンマ
ッチングが行われ、このパターンマッチング率が高いエ
リアとその周囲がサーチエリアとされる。また第２の構
成により、投影データと投影リファレンスデータとによ
りパターンマッチングが行われ、このパターンマッチン
グ率が高いエリアとその周囲がサーチエリアとされる。
レンスパターンを、それぞれ同一の縮小率で縮小した縮
小画像、縮小リファレンスパターンとによりパターンマ
ッチングが行われ、このパターンマッチング率が高いエ
リアとその周囲がサーチエリアとされる。また第２の構
成により、投影データと投影リファレンスデータとによ
りパターンマッチングが行われ、このパターンマッチン
グ率が高いエリアとその周囲がサーチエリアとされる。
【００１０】したがって、第１、第２のいずれの構成に
よっても、本発明により設定されるサーチエリアは、従
来のサーチエリアよりも格段に狭く、このサーチエリア
内の演算量を激減させることができ、処理時間を短縮す
ることができる。なお、本発明のサーチエリア設定に際
し、第１の構成においては縮小画像、縮小リファレンス
パターンによるパターンマッチングが行われ、第２の構
成においては、投影データと投影リファレンスデータに
よるパターンマッチングが行われるものであるが、これ
らのマッチング処理は、従来の１画素ごとのマッチング
処理と比べ、処理対象の情報量が圧倒的に少ないので、
これらのマッチング処理に要する時間を含めても、従来
手段よりも処理時間を大幅に短縮できる。
よっても、本発明により設定されるサーチエリアは、従
来のサーチエリアよりも格段に狭く、このサーチエリア
内の演算量を激減させることができ、処理時間を短縮す
ることができる。なお、本発明のサーチエリア設定に際
し、第１の構成においては縮小画像、縮小リファレンス
パターンによるパターンマッチングが行われ、第２の構
成においては、投影データと投影リファレンスデータに
よるパターンマッチングが行われるものであるが、これ
らのマッチング処理は、従来の１画素ごとのマッチング
処理と比べ、処理対象の情報量が圧倒的に少ないので、
これらのマッチング処理に要する時間を含めても、従来
手段よりも処理時間を大幅に短縮できる。
【００１１】
【実施例】次に図面を参照しながら、本発明の実施例を
説明する。なお、従来手段を示す図１１、図１２におけ
る構成要素と同様の構成要素については、同一符号を付
すことにより説明を省略する。
説明する。なお、従来手段を示す図１１、図１２におけ
る構成要素と同様の構成要素については、同一符号を付
すことにより説明を省略する。
【００１２】さて図１は、本発明の第１実施例に係る認
識装置のブロック図、図２は同パターンマッチング方法
のフローチャート、図３、図４、図５は同パターンマッ
チング方法の工程説明図である。図１において、１４は
図２のフローチャートに沿ったプログラムが格納されて
いるＲＯＭ（リードオンリーメモリ）、１５はこのプロ
グラムを実行する上で必要なワークエリアなどが設けら
れているＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、１６はＲ
ＯＭ１４内のプログラムを実行するＣＰＵ（中央処理装
置）、１７は画像メモリ６内の標準画像９を所定縮小率
で縮小した縮小画像が格納される縮小画像メモリ、１８
はリファレンスパターンメモリ７に格納されている標準
リファレンスパターン１１を、パターンマッチングを始
めるに先立ち上記所定縮小率で縮小した縮小リファレン
スパターンが格納されている縮小リファレンスパターン
メモリである。
識装置のブロック図、図２は同パターンマッチング方法
のフローチャート、図３、図４、図５は同パターンマッ
チング方法の工程説明図である。図１において、１４は
図２のフローチャートに沿ったプログラムが格納されて
いるＲＯＭ（リードオンリーメモリ）、１５はこのプロ
グラムを実行する上で必要なワークエリアなどが設けら
れているＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、１６はＲ
ＯＭ１４内のプログラムを実行するＣＰＵ（中央処理装
置）、１７は画像メモリ６内の標準画像９を所定縮小率
で縮小した縮小画像が格納される縮小画像メモリ、１８
はリファレンスパターンメモリ７に格納されている標準
リファレンスパターン１１を、パターンマッチングを始
めるに先立ち上記所定縮小率で縮小した縮小リファレン
スパターンが格納されている縮小リファレンスパターン
メモリである。
【００１３】次に図２のフローチャートに沿って、第１
実施例のパターンマッチング方法を説明する。まずステ
ップ１にて、ＣＰＵ１６はカメラ３で得られたアナログ
画像をＡ／Ｄ変換器５でデジタル化して標準画像９とし
て画像メモリ６に書き込む。次に、ＣＰＵ１６は画像メ
モリ６の標準画像９を所定縮小率で縮小して縮小画像メ
モリ１７に書き込む。この縮小プロセスを、図３を参照
しながら説明する。ここで第１実施例ではデータ量を９
分の１に圧縮するものであるが、例えば１６分の１や２
５分の１にするなど種々変更しても差し支えない。
実施例のパターンマッチング方法を説明する。まずステ
ップ１にて、ＣＰＵ１６はカメラ３で得られたアナログ
画像をＡ／Ｄ変換器５でデジタル化して標準画像９とし
て画像メモリ６に書き込む。次に、ＣＰＵ１６は画像メ
モリ６の標準画像９を所定縮小率で縮小して縮小画像メ
モリ１７に書き込む。この縮小プロセスを、図３を参照
しながら説明する。ここで第１実施例ではデータ量を９
分の１に圧縮するものであるが、例えば１６分の１や２
５分の１にするなど種々変更しても差し支えない。
【００１４】さて図３（ａ）は標準画像９を示すもので
あり、ｉは横軸、ｊは縦軸であり、これらの横軸ｉ，縦
軸ｊは互いに直交する。そして、標準画像９は、横軸ｉ
方向にｍ列、縦軸ｊ方向にｎ行のｍ×ｎ個の画素Ｇの集
まりからなる。そして、図３（ｂ）は第１実施例の縮小
にあたり抽出する画素（斜線部）を示すものである。即
ち、ｍ×ｎ個の画素Ｇを、３行３列のセルＢ１１，Ｂ２
１，…，Ｂ１２，Ｂ２２，…，に分割し、各セルＢ１
１，…の中央の画素Ｃ１１，Ｃ２１，…，Ｃ１２，Ｃ２
２，…，の輝度値のみを代表値として抽出し、図３
（ｃ）に示すようなｎ／３行ｍ／３列の画素Ｃ１１，…
からなる縮小画像を得るものである。ここで、図３
（ｃ）に示す縮小画像は、横軸ｉ方向にｍ／３個、縦軸
ｊ方向にｎ／３個の画素を有するので、標準画像９の画
素数ｍ×ｎ個に対し、９分の１の画像しかないことにな
る。なお、上述したように、２５分の１に縮小するに
は、図３（ｂ）に示したセルを５行５列とし、このセル
の中央の画像を抽出すれば良い（ステップ２）。このよ
うに本実施例では、セルの中央の画素をそのまま代表値
として抽出するようにしたが必ずしもセルの中央の画素
の輝度値を代表値とする必要はなく、セルの他の位置の
１画素の輝度値を代表値としても良い。また処理時間に
余裕があれば、セルの全画素の輝度値について平均値を
求めてこれを代表値としてもよい。
あり、ｉは横軸、ｊは縦軸であり、これらの横軸ｉ，縦
軸ｊは互いに直交する。そして、標準画像９は、横軸ｉ
方向にｍ列、縦軸ｊ方向にｎ行のｍ×ｎ個の画素Ｇの集
まりからなる。そして、図３（ｂ）は第１実施例の縮小
にあたり抽出する画素（斜線部）を示すものである。即
ち、ｍ×ｎ個の画素Ｇを、３行３列のセルＢ１１，Ｂ２
１，…，Ｂ１２，Ｂ２２，…，に分割し、各セルＢ１
１，…の中央の画素Ｃ１１，Ｃ２１，…，Ｃ１２，Ｃ２
２，…，の輝度値のみを代表値として抽出し、図３
（ｃ）に示すようなｎ／３行ｍ／３列の画素Ｃ１１，…
からなる縮小画像を得るものである。ここで、図３
（ｃ）に示す縮小画像は、横軸ｉ方向にｍ／３個、縦軸
ｊ方向にｎ／３個の画素を有するので、標準画像９の画
素数ｍ×ｎ個に対し、９分の１の画像しかないことにな
る。なお、上述したように、２５分の１に縮小するに
は、図３（ｂ）に示したセルを５行５列とし、このセル
の中央の画像を抽出すれば良い（ステップ２）。このよ
うに本実施例では、セルの中央の画素をそのまま代表値
として抽出するようにしたが必ずしもセルの中央の画素
の輝度値を代表値とする必要はなく、セルの他の位置の
１画素の輝度値を代表値としても良い。また処理時間に
余裕があれば、セルの全画素の輝度値について平均値を
求めてこれを代表値としてもよい。
【００１５】次にステップ３にて、縮小画像メモリ１７
中の縮小画像と、縮小リファレンスパターンメモリ１８
の縮小リファレンスパターンによりパターンマッチング
を行う。このパターンマッチング自体は周知手段と同様
であるので、説明を省略するが、上述のように縮小画像
及び縮小リファレンスパターンは、標準画像及び標準リ
ファレンスパターン１１に比べ、データ量が９分の１と
なっているので、このパターンマッチングは短時間で終
了できる。図４はこのパターンマッチングにおいて最も
高いマッチング率が得られた状態を示し、１９は縮小画
像、２０は照合エリア（縮小リファレンスパターンと同
一サイズ）である。このとき照合エリア２０の左上角点
の座標Ｐ（Ｈ１，Ｖ１）が得られ、座標ＰはＲＡＭ１５
のワークエリアに書き込まれる。
中の縮小画像と、縮小リファレンスパターンメモリ１８
の縮小リファレンスパターンによりパターンマッチング
を行う。このパターンマッチング自体は周知手段と同様
であるので、説明を省略するが、上述のように縮小画像
及び縮小リファレンスパターンは、標準画像及び標準リ
ファレンスパターン１１に比べ、データ量が９分の１と
なっているので、このパターンマッチングは短時間で終
了できる。図４はこのパターンマッチングにおいて最も
高いマッチング率が得られた状態を示し、１９は縮小画
像、２０は照合エリア（縮小リファレンスパターンと同
一サイズ）である。このとき照合エリア２０の左上角点
の座標Ｐ（Ｈ１，Ｖ１）が得られ、座標ＰはＲＡＭ１５
のワークエリアに書き込まれる。
【００１６】次にステップ４にて、座標Ｐに基いてサー
チエリアが設定される。図５はこのときの標準画像２１
などを示し、２２は標準リファレンスパターンと同一サ
イズの照合エリアである。さて、図５において図４に示
した座標Ｐに相当する照合エリア２２の左上角点座標Ｑ
（Ｈ２，Ｖ２）は、ＣＰＵ１６がＨ２＝２＋３（Ｈ１−
１），Ｖ２＝２＋３（Ｖ１−１）により求める。そし
て、座標Ｑに左上角点が位置する照合エリア２２の周囲
に横軸ｉ方向に長さａ、縦軸ｊ方向に長さｂだけ拡げた
鎖線で示す領域をサーチエリア２３とする。ここで、長
さａは照合エリア２２の横軸ｉ方向の長さの半分、長さ
ｂは同縦軸ｊ方向の長さの半分とすればよい。このサー
チエリア２３は、従来手段を示す図１２におけるサーチ
エリア１２と比較すれば明らかなように、従来手段より
も格段に狭くなっている。
チエリアが設定される。図５はこのときの標準画像２１
などを示し、２２は標準リファレンスパターンと同一サ
イズの照合エリアである。さて、図５において図４に示
した座標Ｐに相当する照合エリア２２の左上角点座標Ｑ
（Ｈ２，Ｖ２）は、ＣＰＵ１６がＨ２＝２＋３（Ｈ１−
１），Ｖ２＝２＋３（Ｖ１−１）により求める。そし
て、座標Ｑに左上角点が位置する照合エリア２２の周囲
に横軸ｉ方向に長さａ、縦軸ｊ方向に長さｂだけ拡げた
鎖線で示す領域をサーチエリア２３とする。ここで、長
さａは照合エリア２２の横軸ｉ方向の長さの半分、長さ
ｂは同縦軸ｊ方向の長さの半分とすればよい。このサー
チエリア２３は、従来手段を示す図１２におけるサーチ
エリア１２と比較すれば明らかなように、従来手段より
も格段に狭くなっている。
【００１７】そして、上述のように狭いサーチエリア２
３内のみで標準画像２１とリファレンスパターンメモリ
１８内の標準リファレンスパターン１１とにより精密な
パターンマッチングを行うものである（ステップ５）。
このサーチエリア２３は、ステップ３における最も高い
マッチング率を示すエリアに対応するエリアを含み、し
かもサーチエリアが狭く計算量が少ないため、精度が良
好でしかも処理を短縮することができる。
３内のみで標準画像２１とリファレンスパターンメモリ
１８内の標準リファレンスパターン１１とにより精密な
パターンマッチングを行うものである（ステップ５）。
このサーチエリア２３は、ステップ３における最も高い
マッチング率を示すエリアに対応するエリアを含み、し
かもサーチエリアが狭く計算量が少ないため、精度が良
好でしかも処理を短縮することができる。
【００１８】次に図６〜図１０を参照しながら、本発明
の第２実施例を説明する。図６は第２実施例に係る認識
装置のブロック図であり、図６中、２４は画像メモリ６
内の標準画像を横軸ｉに投影した水平投影データＳＨが
格納される水平投影データＳＨメモリ、２５は同様に縦
軸ｊに投影した垂直投影データＳＶが格納される垂直投
影データＳＶメモリ、２６はパターンマッチングに先立
ちリファレンスパターンメモリ７内の標準リファレンス
パターン１１を横軸ｉに投影した水平投影リファレンス
データＲＨが格納されている水平投影リファレンスデー
タＲＨメモリ、２７は同様に縦軸ｊに投影した垂直投影
リファレンスデータＲＶが格納されている垂直投影リフ
ァレンスデータＲＶメモリである。
の第２実施例を説明する。図６は第２実施例に係る認識
装置のブロック図であり、図６中、２４は画像メモリ６
内の標準画像を横軸ｉに投影した水平投影データＳＨが
格納される水平投影データＳＨメモリ、２５は同様に縦
軸ｊに投影した垂直投影データＳＶが格納される垂直投
影データＳＶメモリ、２６はパターンマッチングに先立
ちリファレンスパターンメモリ７内の標準リファレンス
パターン１１を横軸ｉに投影した水平投影リファレンス
データＲＨが格納されている水平投影リファレンスデー
タＲＨメモリ、２７は同様に縦軸ｊに投影した垂直投影
リファレンスデータＲＶが格納されている垂直投影リフ
ァレンスデータＲＶメモリである。
【００１９】図７は第２実施例のパターンマッチング方
法の流れを示すフローチャートである。まずステップ１
１にて上記第１実施例と同様に画像メモリ６内に標準画
像が格納される。次にＣＰＵ１６は、この標準画像から
水平投影データＳＨ（ステップ１２）、垂直投影データ
ＳＶ（ステップ１３）を生成し、それぞれ水平投影デー
タＳＨメモリ２４、垂直投影データＳＶメモリ２５に格
納する。
法の流れを示すフローチャートである。まずステップ１
１にて上記第１実施例と同様に画像メモリ６内に標準画
像が格納される。次にＣＰＵ１６は、この標準画像から
水平投影データＳＨ（ステップ１２）、垂直投影データ
ＳＶ（ステップ１３）を生成し、それぞれ水平投影デー
タＳＨメモリ２４、垂直投影データＳＶメモリ２５に格
納する。
【００２０】図８（ａ）〜（ｃ）は、上記両投影データ
ＳＨ，ＳＶを生成する過程を示す。図８（ａ）は、三角
形をなす被検査パターン１０を含む標準画像２１を示
し、これを縦方向の１画素列Ｓについて輝度の累積値又
は平均値を各画素列毎に求めると、図８（ｂ）のような
水平投影データＳＨが得られる。また同様に横方向の１
画素列Ｔについて輝度の累積値又は平均値を各画素列毎
に求めると図８（ｃ）のような垂直投影データＳＶが得
られる。さらに図８（ｄ）は標準リファレンスパターン
１１の水平投影リファレンスデータＲＨであり、Ｐはそ
の中心線、図８（ｅ）は標準リファレンスパターン１１
の垂直投影リファレンスデータＲＶ，Ｑはその中心線で
ある。
ＳＨ，ＳＶを生成する過程を示す。図８（ａ）は、三角
形をなす被検査パターン１０を含む標準画像２１を示
し、これを縦方向の１画素列Ｓについて輝度の累積値又
は平均値を各画素列毎に求めると、図８（ｂ）のような
水平投影データＳＨが得られる。また同様に横方向の１
画素列Ｔについて輝度の累積値又は平均値を各画素列毎
に求めると図８（ｃ）のような垂直投影データＳＶが得
られる。さらに図８（ｄ）は標準リファレンスパターン
１１の水平投影リファレンスデータＲＨであり、Ｐはそ
の中心線、図８（ｅ）は標準リファレンスパターン１１
の垂直投影リファレンスデータＲＶ，Ｑはその中心線で
ある。
【００２１】次に図９（ａ）に示すように、水平投影デ
ータＳＨに水平投影リファレンスデータＲＨを重ね、矢
印Ｎ１で示すようにわずかにずらしながらマッチング率
を求めてゆく（ステップ１４）。このパターンマッチン
グにより、位置Ｐ２で最も高いマッチング率が得られた
ならば、そのときの横軸ｉの座標ＬをＲＡＭ１５のワー
クエリアに記憶させる。縦軸ｊについても、垂直投影デ
ータＳＶと垂直投影リファレンスデータＲＨとでパター
ンマッチングを行い（ステップ１５）、最も高いマッチ
ング率が得られた位置Ｑ２における縦軸ｊの座標ＭをＲ
ＡＭ１５のワークエリアに記憶させる。ここで、これら
投影されたデータ同士のパターンマッチングは、広いエ
リアにおける２次元画像同士のパターンマッチングに比
べ、はるかに計算量が少なく短い処理時間しか要しな
い。
ータＳＨに水平投影リファレンスデータＲＨを重ね、矢
印Ｎ１で示すようにわずかにずらしながらマッチング率
を求めてゆく（ステップ１４）。このパターンマッチン
グにより、位置Ｐ２で最も高いマッチング率が得られた
ならば、そのときの横軸ｉの座標ＬをＲＡＭ１５のワー
クエリアに記憶させる。縦軸ｊについても、垂直投影デ
ータＳＶと垂直投影リファレンスデータＲＨとでパター
ンマッチングを行い（ステップ１５）、最も高いマッチ
ング率が得られた位置Ｑ２における縦軸ｊの座標ＭをＲ
ＡＭ１５のワークエリアに記憶させる。ここで、これら
投影されたデータ同士のパターンマッチングは、広いエ
リアにおける２次元画像同士のパターンマッチングに比
べ、はるかに計算量が少なく短い処理時間しか要しな
い。
【００２２】そして上述ｉ座標Ｌ及びｊ座標Ｍが得られ
たならば、図１０において点（Ｌ，Ｍ）に標準リファレ
ンスパターン１１と同サイズの照合エリア２２の中心を
合わせ、以下この照合エリア２２の周囲に図５（第１実
施例）と同様に所定長さａ，ｂだけ拡げた領域をサーチ
エリア２３とする（ステップ１６）。以後は第１実施例
を示す図２のステップ５と同様の処理を行う（ステップ
１７）。
たならば、図１０において点（Ｌ，Ｍ）に標準リファレ
ンスパターン１１と同サイズの照合エリア２２の中心を
合わせ、以下この照合エリア２２の周囲に図５（第１実
施例）と同様に所定長さａ，ｂだけ拡げた領域をサーチ
エリア２３とする（ステップ１６）。以後は第１実施例
を示す図２のステップ５と同様の処理を行う（ステップ
１７）。
【００２３】第２実施例は、第１実施例に対し、サーチ
エリア２３を設定するまでのプロセスが相違するが、計
算量が少ない投影データ同士のパターンマッチングによ
り、第１実施例と同じように処理時間を短縮できる。
エリア２３を設定するまでのプロセスが相違するが、計
算量が少ない投影データ同士のパターンマッチングによ
り、第１実施例と同じように処理時間を短縮できる。
【００２４】
【発明の効果】本発明は、上述のように狭いサーチエリ
アを少ない演算により定め、この狭いサーチエリア内に
おいてのみ、精密なマッチングを行うようにしているの
で、従来手段に比べ格段に処理時間を短縮できる。
アを少ない演算により定め、この狭いサーチエリア内に
おいてのみ、精密なマッチングを行うようにしているの
で、従来手段に比べ格段に処理時間を短縮できる。
【図１】本発明の第１実施例に係る認識装置のブロック
図
図
【図２】本発明の第１実施例に係るパターンマッチング
方法のフローチャート
方法のフローチャート
【図３】（ａ）本発明の第１実施例に係るパターンマッ
チング方法の工程説明図 （ｂ）本発明の第１実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｃ）本発明の第１実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図
チング方法の工程説明図 （ｂ）本発明の第１実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｃ）本発明の第１実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図
【図４】本発明の第１実施例に係るパターンマッチング
方法の工程説明図
方法の工程説明図
【図５】本発明の第１実施例に係るパターンマッチング
方法の工程説明図
方法の工程説明図
【図６】本発明の第２実施例に係る認識装置のブロック
図
図
【図７】本発明の第２実施例に係るパターンマッチング
方法のフローチャート
方法のフローチャート
【図８】（ａ）本発明の第２実施例に係るパターンマッ
チング方法の工程説明図 （ｂ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｃ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｄ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｅ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図
チング方法の工程説明図 （ｂ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｃ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｄ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図 （ｅ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図
【図９】（ａ）本発明の第２実施例に係るパターンマッ
チング方法の工程説明図 （ｂ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図
チング方法の工程説明図 （ｂ）本発明の第２実施例に係るパターンマッチング方
法の工程説明図
【図１０】本発明の第２実施例に係るパターンマッチン
グ方法の工程説明図
グ方法の工程説明図
【図１１】従来の認識装置のブロック図
【図１２】従来のパターンマッチング方法の説明図
３ カメラ ６ 画像メモリ ７ リファレンスパターンメモリ １１ 標準リファレンスパターン １７ 縮小画像メモリ １８ 縮小リファレンスパターンメモリ １９ 縮小画像 ２１ 標準画像 ２２ 照合エリア ２３ サーチエリア ２４ 水平投影データＳＨメモリ ２５ 垂直投影データＳＶメモリ ２６ 水平投影リファレンスデータＲＨメモリ ２７ 垂直投影リファレンスデータＲＶメモリ
Claims (2)
- 【請求項１】被検査パターンを含むカメラ画像を標準画
像として画像メモリに格納するステップと、 前記画像メモリの標準画像を縮小した縮小画像を縮小画
像メモリに格納するステップと、 前記縮小画像と同一の縮小率で標準リファレンスパター
ンを縮小した縮小リファレンスパターンと、前記縮小画
像メモリの前記縮小画像とによりパターンマッチングを
行い、マッチング率が高いエリアとその周囲をサーチエ
リアに設定するステップと、 設定されたサーチエリア内において、標準リファレンス
パターンと標準画像とによりパターンマッチングを行
い、被検査パターンの位置を特定するステップを有する
ことを特徴とするパターンマッチング方法。 - 【請求項２】被検査パターンを含むカメラ画像を標準画
像として画像メモリに格納するステップと、 前記画像メモリの標準画像を直交２方向に投影した投影
データを生成するステップと、 投影データと、標準リファレンスパターンを直交２方向
に投影した投影リファレンスデータとをパターンマッチ
ングして、マッチング率が高いエリアとその周囲をサー
チエリアに設定するステップと、 設定されたサーチエリア内において、標準リファレンス
パターンと標準画像とによりパターンマッチングを行
い、被検査パターンの位置を特定するステップを有する
ことを特徴とするパターンマッチング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5301564A JPH07152912A (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | パターンマッチング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5301564A JPH07152912A (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | パターンマッチング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07152912A true JPH07152912A (ja) | 1995-06-16 |
Family
ID=17898460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5301564A Pending JPH07152912A (ja) | 1993-12-01 | 1993-12-01 | パターンマッチング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07152912A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002067198A1 (fr) * | 2001-02-20 | 2002-08-29 | Advantest Corporation | Procede d'appariement d'images, appareil d'appariement d'images et dispositif de traitement de tranches |
| JP2003098424A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Fujitsu Ten Ltd | 画像処理測距装置 |
| US6859552B2 (en) | 2000-11-07 | 2005-02-22 | Minolta Co., Ltd. | Image retrieving apparatus |
| JP2015179412A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 日本電気株式会社 | 画像位置探索装置及び画像位置探索方法 |
-
1993
- 1993-12-01 JP JP5301564A patent/JPH07152912A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6859552B2 (en) | 2000-11-07 | 2005-02-22 | Minolta Co., Ltd. | Image retrieving apparatus |
| WO2002067198A1 (fr) * | 2001-02-20 | 2002-08-29 | Advantest Corporation | Procede d'appariement d'images, appareil d'appariement d'images et dispositif de traitement de tranches |
| JP2003098424A (ja) * | 2001-09-25 | 2003-04-03 | Fujitsu Ten Ltd | 画像処理測距装置 |
| JP2015179412A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 日本電気株式会社 | 画像位置探索装置及び画像位置探索方法 |
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