JPH0714753U - 画像読み取り装置 - Google Patents
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- JPH0714753U JPH0714753U JP4723293U JP4723293U JPH0714753U JP H0714753 U JPH0714753 U JP H0714753U JP 4723293 U JP4723293 U JP 4723293U JP 4723293 U JP4723293 U JP 4723293U JP H0714753 U JPH0714753 U JP H0714753U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ラインセンサを必要としなくとも、走査光の
被走査面での反射光を確実に受光する事の出来る画像読
み取り装置を提供する事である。 【構成】 この考案に係わる画像読み取り装置は、レー
ザビームを出力するレーザ出力手段と、このレーザ出力
手段から出力されたレーザビームで被走査面上を走査さ
せる照明光学系と、前記被走査面からの反射光を受け
て、その反射光の強弱を検出する為の検出手段とを具備
し、前記検出手段は、蛍光体が混入された光透過性を有
するプラスチックから形成され、所定の導波路を規定す
る光ガイド部材と、この光ガイド部材の導波路の端面に
対向して配設された受光素子とを備え、前記光ガイド部
材は、前記導波路の側面から前記反射光を受ける様に配
設される事を特徴としている。
被走査面での反射光を確実に受光する事の出来る画像読
み取り装置を提供する事である。 【構成】 この考案に係わる画像読み取り装置は、レー
ザビームを出力するレーザ出力手段と、このレーザ出力
手段から出力されたレーザビームで被走査面上を走査さ
せる照明光学系と、前記被走査面からの反射光を受け
て、その反射光の強弱を検出する為の検出手段とを具備
し、前記検出手段は、蛍光体が混入された光透過性を有
するプラスチックから形成され、所定の導波路を規定す
る光ガイド部材と、この光ガイド部材の導波路の端面に
対向して配設された受光素子とを備え、前記光ガイド部
材は、前記導波路の側面から前記反射光を受ける様に配
設される事を特徴としている。
Description
【0001】
この考案は、レーザビームを用いて被走査面を走査して、この被走査面上に位 置する原稿等の画像を読み取る為の画像読み取り装置に関する。
【0002】
従来より、レーザビームを用いて被走査面を走査して、この被走査面上の画像 を読み取る為の画像読み取り装置として種々開発されており、実用に供されてい る。これら従来の画像読み取り装置においては、被走査面からの反射光を直接に 、または、所定の検出光学系を経て受光素子で受光し、この受光素子からの検出 出力に応じて、画像を読み取る様に構成されている。
【0003】
ここで、被走査面は、走査方向に沿って所定の長さを有する様に構成されてい る。この為、被走査面からの反射光も、この走査方向に沿って長く配設する必要 があり、即ち、ラインセンサとして構成する必要があり、この為、この受光素子 の配設スペースや配設コストの点で問題がある。更に、このラインセンサの分解 能が画像読み取り精度を決定するファクタとなり、この画像読み取り精度を良く しようとすると、ラインセンサの分解能を高めなければならず、この為、コスト が上昇する問題点も指摘されている。
【0004】 この考案は、上述した事情に鑑みてなされたもので、この考案の目的は、ライ ンセンサを必要としなくとも、走査光の被走査面での反射光を確実に受光する事 の出来る画像読み取り装置を提供する事である。 また、この考案の目的は、画像読み取り精度をセンサの配設密度とは無関係に 設定する事の出来る画像読み取り装置を提供する事である。
【0005】
【課題を解決する為の手段】 上述した課題を解決し、目的を達成する為、この考案に係わる画像読み取り装 置は、請求項1の記載に従えば、レーザビームを出力するレーザ出力手段と、こ のレーザ出力手段から出力されたレーザビームで被走査面上を走査させる照明光 学系と、前記被走査面からの反射光を受けて、その反射光の強弱を検出する為の 検出手段とを具備し、前記検出手段は、蛍光体が混入された光透過性を有するプ ラスチックから形成され、所定の導波路を規定する光ガイド部材と、この光ガイ ド部材の導波路の端面に対向して配設された受光素子とを備え、前記光ガイド部 材は、前記導波路の側面から前記反射光を受ける様に配設される事を特徴として いる。
【0006】
以下に、この考案に係わる画像読み取り装置の一実施例の構成を、レーザ式画 像読み取り装置に適用した場合につき、添付図面を参照して詳細に説明する。 この一実施例のレーザ式画像読み取り装置は、被走査面X上に描かれた画像を 読み取る様に構成されている。
【0007】 即ち、図1及び図2に示す様に、このレーザ式画像読み取り装置10は、内部 が中空状になされたハウジング12を備えている。このハウジング12の下面に は、一方向に沿って(即ち、図中左右方向に沿って)延出する開口14が厚さ方 向に貫通した状態で形成されており、この開口14の両端の夫々外方に位置する ハウジング12の下面部分には、図中下方に向けて延出するステイ16が夫々一 体的に取り付けられている。両ステイ16の下端には、支持台18が取り付けら れている。
【0008】 また、このハウジング12内には、ハウジング12の内側面上に取り付けられ た状態で、レーザ照明光学系Lが配設されている。このレーザ照明光学系Lは、 図3に取り出して示す様に、レーザ光を出力する半導体レーザ20と、この半導 体レーザ20から出力されたレーザ光を平行ビームに変換する為のコリメータレ ンズ22と、このコリメータレンズ22から出力されたレーザビームを所定のビ ーム径に整形する為のスリット板24と、このスリット板24のスリット24a を透過したレーザビームの楕円形状の光束を走査面上で円形状の光束に直すと共 に、非点収差を補正する為のアナモフィカルレンズ(シリンダレンズ)26と、 このアナモフィカルレンズ26から出力されたレーザビームを等角速度で偏向さ せる為の偏向手段としてのポリゴンミラー(回転多面鏡)28と、このポリゴン ミラー28で偏向されたレーザビームを、像面としての被走査面Xにおいて等速 の線速度で走査させると共に、レーザ光学系Lの光軸にレーザビームの主光線が 平行となる様に変換する為の為の結像レンズとしての走査レンズ系30とを基本 的に備えている。
【0009】 尚、レーザビームの被走査面Xに対する入射角度θは、図2に示す様に、所定 の鋭角を有する様に、即ち、レーザビームは被走査面Xに対して斜め入射する様 に設定されている。ここで、レーザビームの主光線がレーザ光学系Lの光軸に平 行となされる事により、図4に示す様に、このレーザビームは、被走査面Xに対 して、このレーザビームが入射される被走査面X上の反射点を通る走査方向に沿 う延出軸線に対して、この延出軸線に直交する面内においては垂直になるように 、入射される事になる。
【0010】 ここで、上述した半導体レーザ20は、この一実施例においては、5mWの光出 力(定格)で、例えば、780nmのレーザ波長のレーザ光を放射する様に構成さ れている。また、上述したポリゴンミラー28は図示しない駆動モータにより、 約6,500rpm の回転数で一定回転される様に設定されている。
【0011】 また、上述した走査レンズ系30は、この一実施例においては、第1乃至第3 のレンズ30a〜30cから構成されており、第1及び第2のレンズ30a,3 0bは、ポリゴンミラー28で偏向されたレーザビームを、走査面X′(図1に 一点鎖線で示す。)において等速の線速度で走査させる様にfθレンズ群から形 成され、第3のレンズ30cは、第2のfθレンズ30bから出力されたレーザ ビームを、テレセントリックに、即ち、走査レンズ系30の光軸がレーザビーム の主光線と平行になった状態で、被走査面X上で結像する様にテレセントリック レンズから形成されている。尚、この一実施例においては、この走査レンズ系3 0を構成する第1及び第2のfθレンズ群30a,30bは、ガラスから形成さ れ、第3のテレセントリックレンズはプラスチックから形成されている。
【0012】 また、この第3のテレセントリックレンズ30cは、この一実施例においては 、入射側及び射出側の面が共に非球面となる様に形成されている。このように非 球面となる射出面を備える事により、テレセントリック性を達成する為に必要と なるレンズ枚数が少なくて済み、この一実施例の様に、1枚のレンズのみでテレ セントリック性を達成する事が可能となる。ここで、この第3のテレセントリッ クレンズ30cは、その機能上、被走査面Xの走査範囲の全幅に渡り延出する状 態で形成されなければならない為、テレセントリック性を達成する為に多数枚の レンズ構成が必要となると、その費用が高いものにつくが、上述した様にこの一 実施例では非球面を採用する事により少ない枚数でテレセントリック性を達成す る事が出来るので、コストの低廉化を達成することが出来ると共に、配設スペー スが少なくて済み、装置全体の小型化を達成することが出来る事になる。
【0013】 ここで、このように走査レンズ系30を備える事により、図2に示す様に、被 走査面Xに斜めに入射したレーザビームは、この被走査面Xで反射され、検出光 学系Rにもたらされる。この検出光学系Rは、この一実施例においては、被走査 面Xからの反射光(散乱光)を集光するシリンドリカルレンズ32を備えている 。このシリンドリカルレンズ32で集光される位置には、被走査面Xからの反射 光を受けて、その反射光の強弱を検出する為の検出機構34の一方の構成要件を 規定する光ガイド部材36が配設されている。また、この光ガイド部材36の一 方の端面に対向した状態で、検出機構34の他方の構成要件を規定する第1の受 光素子38が配設されている。
【0014】 この第1の受光素子38は、被走査面Xで反射されたレーザビームを受けて、 その受光強度に応じた電気信号を出力する様に構成されている。換言すれば、こ の第1の受光素子38からの出力信号は、被走査面Xの表面情報としての、例え ば画像情報を含んでいるものである。この第1の受光素子38は、後に図5を参 照して説明する第1の電気回路Aに組み込まれ、この第1の電気回路Aを介して 、出力信号が外部に取り出される様に設定されている。
【0015】 一方、上述したスリット板24とアナモフィカルレンズ26との間の光路中に は、ビームスプリッタ40が介設されている。このビームスプリッタ40は、底 面が直角二等辺三角形を呈する三角柱形状の2つのプリズムガラス40a,40 bを、斜辺に対応する面を間にハーフミラー40cを介設した状態で互いに合わ せ、立方体形状となる様にして形成されている。このビームスプリッタ40は、 ハーフミラー40cが光路に対して45度で傾斜する状態で光路中に配設されて いる。このようにビームスプリッタ40を備える事により、半導体レーザ20か ら出力されたレーザビームは、このビームスプリッタ40のハーフミラー40c により部分的に反射され、半導体レーザ20とポリゴンミラー28とを結ぶ光路 から分離されることになる。換言すれば、その反射分離光路は元の光路から90 度だけ、図中斜め上方に向けて折れ曲がった状態で設定される事になる。
【0016】 この出力分離光路中には、ハーフミラー40cで分離された出力レーザビーム を受光する為の第2の受光素子42が配設されている。この第2の受光素子42 は、半導体レーザ20から出力されたレーザビームを受けて、その受光強度に応 じた電気信号を出力する様に構成されている。換言すれば、この第2の受光素子 42からの出力信号は、半導体レーザ20の出力状態の変化情報を含んでいるも のである。この第2の受光素子42は、後に図7を参照して説明する第3の電気 回路Cに組み込まれており、この第3の電気回路Cは、半導体レーザ20の光出 力を一定となる様に制御する自動出力制御回路として機能する様に構成されてい る。この第3の電気回路Cの出力は、半導体レーザ20に接続されている。
【0017】 このように、この一実施例においては、第2の受光素子42を備え、これから の出力信号に基づき自動出力制御回路Cを駆動して、半導体レーザ20のレーザ 光の出力を制御する事により、半導体レーザ20の光出力を所定の値に正確に一 定に保持することが出来る事になる。このように半導体レーザ20の光出力を一 定に保持する事により、例えば、このレーザ光学系を用いて、被走査面X上に描 かれた画像を読み取る際において、詳細は後述するが、第1の受光素子38で受 光した反射レーザビームを画像情報として読み込む事が可能となる。
【0018】 尚、上述した光ガイド部材36は、この一実施例では可撓性を有する蛍光ファ イバから構成されている。この蛍光ファイバは、蛍光体が混入された光透過性を 有するプラスチックから形成され、所定の導波路を規定する様に細長いロッド状 (断面円形状)に成形されている。そして、この光ガイド部材36は、その延出 方向を上述した走査方向に沿う様に設定され、且つ、上述したシリンドリカルレ ンズ32で集光された反射光が側面から導波路に取り込まれる様に、その配設位 置を規定されている。また、上述した第1の受光素子38は、この光ガイド部材 36の導波路の端面に対向して配設されている。
【0019】 即ち、被走査面Xで反射された反射光は、シリンドリカルレンズ32で集光さ れた状態で、光ガイド部材36の側面(外周部)から導波路に取り込まれ、この 導波路内に取り込まれた反射光は、導波路に沿って進み、光ガイド部材36の端 面で外部に放射される事になる。そして、この光ガイド部材36の端面に対向し た位置に第1の受光素子38は配設されているので、この第1の受光素子38は 、結果として、被走査面Xでの反射光が入射(受光)される事になる。
【0020】 ここで、以上の説明から明らかな様に、この第1の受光素子38には、1本の 入射レーザビームに対応した反射光が入射される事になるので、唯1つの受光素 子が用いられ得る事になる。換言すれば、この考案においては、多数の受光素子 が直線状に配列されたラインセンサを用いることなく、被走査面Xを所定の幅( 即ち、走査幅)で読み取る事が出来る事になる。
【0021】 また、図3に示す様に、走査レンズ系30の第2及び第3のfθレンズ群30 b,30cの間には、第1及び第2のfθレンズ群30a,30bで走査の線速 度を等速となる様になされたレーザビームの中で、ポリゴンミラー28における 偏向範囲内であって、被走査面Xでの走査範囲外の一方側に外れたレーザビーム を反射する為の反射ミラー44が、ハウジング12の内側面上に固定されている 。一方、この走査範囲外の他方側に位置した状態で、反射ミラー44で反射され たレーザビームを受ける為の第3の受光素子46が、ハウジング12の内側面上 に固定されている。この第3の受光素子46は、この一実施例においては、これ へのレーザビームの入射に対応して、レーザビームの被走査面X上における一走 査での水平同期信号を出力する為のビームデテクターとして機能する様に設定さ れている。
【0022】 換言すれば、この第3の受光素子46へのレーザビームの入射に伴い、被走査 面Xの一走査毎における夫々の走査開始位置が規定され、従って、この第3の受 光素子46からの水平同期信号(HSYNC)の出力を基準として、各々の走査 におけるレーザビームの照射位置が正確に検出される事になる。尚、この第3の 受光素子46は、後に図6を参照して説明する第2の電気回路Bに組み込まれ、 この第2の電気回路Bを介して、水平同期信号(HSYNC)が外部に取り出さ れる様に設定されている。
【0023】 ここで、この一実施例においては、第1の受光素子38として唯1つのフォト ダイオードを備え、上述した第1の電気回路Aは、図5に示す様に、このフォト ダイオード34へのレーザビームの入射に伴いオン動作する第1のトランジスタ TR1と、この第1のトランジスタTR1のエミッタ端子に接続され、ここから の電流を増幅する為の第1のオペアンプOP1とを主として備え、このほかに、 種々の抵抗とコンデンサを備えて構成されている。そして、この第1の電気回路 Aにおいては、上述した第1のオペアンプOP1の出力端が、被走査面Xの表面 状態の読取情報を有する信号が出力される出力端として機能する様に設定されて おり、この第1の電気回路Aの出力端と上述した第2の電気回路Bの出力端とを 図示しない画像処理装置に接続する事により、この画像処理装置において、後述 する被走査面Xの表面状態の一態様である画像を読み取る事が出来る事になる。 また、これら第1及び第2の電気回路A,Bの出力端を図示しない画像処理装置 に接続する事により、この画像処理装置において、被走査面Xの画像を読み取る ことが出来る事になる。
【0024】 また、図6に示す様に、水平同期信号を出力する為のビームデテクターとして 機能する第3の受光素子46は、1つのフォトダイオードから構成され、上述し た第2の電気回路Bは、このフォトダイオード46へのレーザビームの入射に伴 いオン動作する第2のトランジスタTR2と、この第2のトランジスタTR2の エミッタ端子に接続され、ここからの電流を増幅する為の第2のオペアンプOP 2とを主として備え、このほかに、種々の抵抗とコンデンサを備えて構成されて いる。そして、この第2の電気回路Bにおいては、上述した第2のオペアンプO P2の出力端が、水平同期信号(HSYNC)が出力される出力端として機能す る様に設定されており、上述した様にして、画像処理装置に、第1の電気回路A の出力端と共に接続されている。
【0025】 更に、図7に示す様に、半導体レーザ20から射出されたレーザビームを受け る為の第2の受光素子42は、1つのフォトダイオードから構成され、半導体レ ーザ20の光出力を一定となる様に制御する為の自動出力制御回路として機能す る第3の電気回路Cは、半導体レーザ20に動作電流を出力する為の集積回路I Cと、フォトダイオード42から出力された電流のピーク値をホールドする為の APC用ピークホールドブロック50と、フォトダイオード40を保護する為の 保護ブロック52と、半導体レーザ20を所定の周波数で変調する為の変調ブロ ック54とを主として備えている。尚、この第3の電気回路Cは周知の構成であ る為、図7にその具体構成を示すのみで、詳細な説明を省略する。
【0026】 次に、以上の様に構成されたレーザ式画像読み取り装置10を用いて被走査面 X上の画像を読み取る為の読取方法について、以下に説明する。
【0027】 先ず、半導体レーザ20から所定の光出力でレーザ光が射出されると、この射 出されたレーザ光は、コリメータレンズ22で平行光束に変換され、スリット板 24のスリット24aを透過する事により所定径のレーザビームに整形される事 になる。そして、このスリット板24を通り抜けたレーザビームは、ビームスプ リッタ40に入射し、このビームスプリッタ40のハーフミラー40cで部分的 に反射され、ここに入射したレーザビームの一部を出力分離光路に向けて分離さ れることになる。ここで、この出力分離光路に分離されたレーザビームの一部は 、第2の受光素子42に入射し、この入射に応じて第2の受光素子42から出力 される電気信号は、第3の電気回路Cを介して、半導体レーザ20の光出力を所 定の一定値に保持する為に利用される事になる。
【0028】 一方、ビームスプリッタ40のハーフミラー40cをそのまま透過したレーザ ビームの残りの部分は、アナモフィカルレンズ26を透過する事により、レーザ ビームの楕円形状の光束を走査面上で円形状の光束に直されると共に、非点収差 を補正される事になる。そして、このアナモフィカルレンズ26を射出したレー ザビームは、回転中のポリゴンミラー28の一つの反射面で反射され、この反射 面が回転する事に応じて、所定の偏向角度で等角速度で偏向される事になる。こ の様にポリゴンミラー28で偏向されたレーザビームは、走査レンズ系30に入 射し、走査レンズ系30の中の第1及び第2のfθレンズ群30a,30bを透 過する事により、被走査面Xにおいて等速の線速度で走査する様に変換され、ま た、第3のテレセントリックレンズ30cを透過する事により、テレセントリッ クに、即ち、レーザビームの主光線が、光軸に平行となる様に変換される事にな る。
【0029】 この様にして、走査レンズ系30を射出したレーザビームは、光軸に対して所 定角度θだけ傾斜した状態に置かれた被走査面Xに向けて入射する事になる。従 って、この被走査面Xで反射されたレーザビームは、検出光学系Rにもたらされ る。即ち、被走査面Xで反射された反射光は、シリンドリカルレンズ32で集光 された状態で、光ガイド部材36の側面から導波路に取り込まれ、この導波路内 に取り込まれた反射光は、導波路に沿って進み、光ガイド部材36の端面で外部 に放射される事になる。そして、この光ガイド部材36の端面に対向した位置に 第1の受光素子38は配設されているので、この第1の受光素子38は、結果と して、被走査面Xでの反射光が入射(受光)される事になる。この第1の受光素 子38への反射光の入射に応じて、第1の受光素子38から出力される電気信号 は、第1の電気回路Aを介して、被走査面Xの画像の読取動作に利用される事に なる。
【0030】 尚、この一実施例においては、被走査面X上に読み取ろうとする画像が表面に 形成された原稿を、走査方向とは直交する方向に沿って移動(即ち、副走査)さ せる事により、画像を読み取ることが出来る事になる。この際、この様な副走査 方向の位置を検出する為に、ステイ16の底面に、被走査面Xに転接して、レー ザ式画像読み取り装置10の副走査方向の移動に応じて滑ることなく転動する検 出ローラを設け、この検出ローラにこれと一体回転するロータリーエンコーダを 取り付ける事により、このレーザ式画像読み取り装置10の副走査方向の位置を 正確に検出することが出来る事になる。また、この場合の検査範囲は、レーザ式 画像読み取り装置10における走査幅を一方の長さとし、レーザ式画像読み取り 装置10の副走査方向に沿う移動距離を他方の長さとする矩形状(帯状)を呈す るものであり、この検査範囲を順次隣接する検査領域を移動させる事により、実 質的にいかなる面積の被走査面Xをも検査する事が可能となる。
【0031】 ここで、画像の副走査方向に沿う移動態様は、これに限定されることなく、例 えば、原稿上をこのレーザ式画像読み取り装置10自身を副走査方向に沿って移 動させる様にしても、同様に、原稿上の画像を読み取ることが出来る事になる。
【0032】 以上詳述した様に、この一実施例においては、レーザ光学系として、ポリゴン ミラー28で偏向され、第1及び第2のfθレンズ群30a,30bで走査され たレーザビームをテレセントリックレンズ30cを介して被走査面Xに斜めに入 射させる事により、反射光は、光ガイド部材36を介して第1の受光素子38で 受光される事により、被走査面Xの画像を確実に読み取る事が可能となる。特に 、この読取動作に際して、被走査面X上を走査されるレーザビームの反射光を1 個のフォトダイオードからなる第1の受光素子38を利用しているので、この画 像の読み取り精度は、ラインセンサを用いる場合と比較して、ラインセンサにお ける多数のセンサの配設密度とは無関係となるので、照明光学系で決定される事 となり、この結果、被走査面Xの画像を高速・高精度に読み取ることが出来る事 になる。
【0033】 また、この光ガイド部材36は、可撓性を有しているので、被走査面Xからの 反射光を受ける範囲では、厳密に走査方向に沿う様に延出する必要があるが、こ の受光範囲から外れる範囲では、自由に撓ませる事が出来、従って、第1の受光 素子38の配設位置及び配設角度を自由に設定することが出来、設計上の自由度 が飛躍的に向上すると共に、検出光学系Rに反射ミラー等の光学素子を用いる必 要がなくなるので、構成が簡略化され得る事になる。
【0034】 また、上述した光ガイド部材36では、これの伝達効率が、この導波路の端部 近傍で有効に働く為、この端部に対向して設けられた第1の受光素子38に対し て所謂シェーディング補正の効果が発揮される事になる。
【0035】 この考案は、上述した一実施例の構成に限定されることなく、この考案の要旨 を逸脱しない範囲で種々変形可能である事は言うまでも無い。
【0036】 例えば、上述した一実施例においては、偏向手段としてレーザビームを等角速 度で偏向するポリゴンミラ28を備え、走査レンズ系30としてfθレンズ群3 0a,30bを備える様に説明したが、この考案は、このような構成に限定され ることなく、要は、レーザビームを所定の偏向角で偏向出来るものであれば何で も良く、例えば、偏向手段として等角速度運動をしない共振型のガルバノミラー を用いる事も出来る。この場合、偏向光束を等速運動の走査点像に変換する為の 走査レンズとして、アークサインレンズが用いられることになる。
【0037】 また、上述した一実施例においては、ビームデテクタとしての第3の受光素子 46には、反射ミラー44で反射されたレーザビームが入射される様に説明した が、この考案は、このような構成に限定されることなく、この反射ミラー44が 配設された位置に第3の受光素子46を配設し、この第3の受光素子46に第1 及び第2のfθレンズ群30a,30bを射出して等速移動する様に走査された レーザビームが直接に入射される様にしても良い。
【0038】 また、上述した一実施例においては、第1及び第2のfθレンズ群30a,3 0bはガラスから、また、第3のテレセントリックレンズ30cはプラスチック から夫々形成される様に説明したが、この考案は、この様な構成に限定されるこ となく、第1及び第2のfθレンズ群30a,30bをプラスチックから、また 、第3のトレセントリックレンズ30cをガラスから形成する様に構成しても良 いし、また、全てをガラスから形成しても良いし、更に、全てをプラスチックか ら形成する様にしても良い事は言うまでも無い。
【0039】 また、上述した一実施例においては、第2の受光素子42や第3の受光素子4 6は、被走査面Xと共役な関係の位置に配設される様に説明したが、この考案は 、この様な構成に限定されることなく、要は、共役な位置に配設すれば、受光位 置におけるレーザビーム径が、被走査面Xでの反射位置におけるレーザビーム径 と同一になり最適であるというだけで、夫々の受光素子42,46の受光位置を 、別段、共役な関係に無い位置に配設しても、受光位置におけるビーム径が反射 位置と比較して単に広がったり狭くなるだけで、反射レーザビームを受光する事 を何ら妨げるものではない。
【0040】 また、上述した一実施例においては、テレセントリックレンズ30cは、1枚 のレンズから構成される様に説明したが、この考案は、このような構成に限定さ れることなく、例えば、複数枚のレンズ群から構成される様にしても良い。また 、このテレセントリックレンズ30cは、上述した一実施例においては、その入 射面及び射出面を共に非球面から形成される様に説明したが、この考案は、この ような構成に限定されることなく、入射面及び射出面の少なくとも一方が非球面 に形成される様にしても良いものである。
【0041】 また、上述した一実施例においては、被走査面Xとして平面状のものを読み取 る様に説明したが、上述したテレセントリック性の説明から明らかな様に、レー ザビームの被走査面Xへの入射は、走査方向に対して垂直となる面内において、 厳密な意味における垂直に入射する状態としなければなならい訳では無く、この レーザビームは、被走査面Xに対して、このレーザビームが入射される被走査面 X上の反射点を通る走査方向に沿う延出軸線に対して、走査方向に対して垂直と なる面内において垂直になるように、入射されれば良いものであり、この条件が 満たされれば、曲面状のものを読み取ることが出来る事になる。
【0042】 また、上述した一実施例においては、走査レンズ系30が第1及び第2のfθ レンズ30a,30bと、テレセントリックレンズ30cとから構成されている ので、被走査面Xからの反射光をシリンドリカルレンズ32を介して光ガイド部 材36で集光する様にしたが、この考案はこのような構成に限定されることなく 、例えば、走査レンズ系30がテレセントリックレンズを備えない所謂非テレセ ントリックな場合には、シリンドリカルレンズ32の代わりにアナモフィックレ ンズが用いられる事になるし、また、このアナモフィックレンズの代わりにアナ モフィックミラーを用いることが出来る事は言うまでも無い。
【0043】
以上詳述した様に、この考案によれば、ラインセンサを必要としなくとも、走 査光の被走査面での反射光を確実に受光する事の出来る画像読み取り装置が提供 される事になる。 また、この考案によれば、画像読み取り精度をセンサの配設密度とは無関係に 設定する事の出来る画像読み取り装置が提供される事になる。
【図1】この考案に係わる画像読み取り装置の一実施例
が適用されるレーザ式画像読み取り装置の構成を示す正
面断面図である。
が適用されるレーザ式画像読み取り装置の構成を示す正
面断面図である。
【図2】図1に示すレーザ式画像読み取り装置の内部構
成を示す側断面図である。
成を示す側断面図である。
【図3】図1に示すレーザ式画像読み取り装置のレーザ
照明光学系の構成を取り出して示す正面図である。
照明光学系の構成を取り出して示す正面図である。
【図4】図2に示すレーザ式画像読み取り装置の反射光
学系の反射状態を示す図である。
学系の反射状態を示す図である。
【図5】第1の電気回路の構成を示す回路図である。
【図6】第2の電気回路の構成を示す回路図である。
【図7】第3の電気回路の構成を示す回路図である。
A 第1の電気回路 B 第2の電気回路 C 第3の出来回路 L レーザ照明光学系 R 検出光学系 X 被走査面 10 レーザ式画像読み取り装置 12 ハウジング 14 開口 16 ステイ 18 支持台 20 半導体レーザ 22 コリメータレンズ 24 スリット板 24a スリット 26 アナモフィカルレンズ 28 ポリゴンミラー 30 走査レンズ系 32 シリンドリカルレンズ 34 検出機構 36 光ガイド部材 38 第1の受光素子 40 ビームスプリッタ 40a;40b プリズムガラス 40c ハーフミラー 42 第2の受光素子 44 反射ミラー 46 第3の受光素子 50 APC用ピークホールドブロック 52 保護ブロック 54 変調ブロック
Claims (2)
- 【請求項1】レーザビームを出力するレーザ出力手段
と、 このレーザ出力手段から出力されたレーザビームで被走
査面上を走査させる照明光学系と、 前記被走査面からの反射光を受けて、その反射光の強弱
を検出する為の検出手段とを具備し、 前記検出手段は、蛍光体が混入された光透過性を有する
プラスチックから形成され、所定の導波路を規定する光
ガイド部材と、この光ガイド部材の導波路の端面に対向
して配設された受光素子とを備え、 前記光ガイド部材は、前記導波路の側面から前記反射光
を受ける様に配設される事を特徴とする画像読み取り装
置。 - 【請求項2】前記照明光学系は、 前記レーザ出力手段から出力されたレーザビームを偏向
させる為の偏向手段と、 この偏向手段で偏向されたレーザビームの主光線を、光
軸に平行にすると共に、被走査面上で等速で走査させる
為の走査光学系とを備える事を特徴とする請求項1に記
載の画像読み取り装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4723293U JPH0714753U (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | 画像読み取り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4723293U JPH0714753U (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | 画像読み取り装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0714753U true JPH0714753U (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=12769474
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4723293U Pending JPH0714753U (ja) | 1993-08-06 | 1993-08-06 | 画像読み取り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0714753U (ja) |
-
1993
- 1993-08-06 JP JP4723293U patent/JPH0714753U/ja active Pending
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