JPH07130831A - 半導体ウエハの収納・搬送装置 - Google Patents

半導体ウエハの収納・搬送装置

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JPH07130831A
JPH07130831A JP29475193A JP29475193A JPH07130831A JP H07130831 A JPH07130831 A JP H07130831A JP 29475193 A JP29475193 A JP 29475193A JP 29475193 A JP29475193 A JP 29475193A JP H07130831 A JPH07130831 A JP H07130831A
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JP
Japan
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wafer
semiconductor wafer
semiconductor
load lock
lock chamber
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Withdrawn
Application number
JP29475193A
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English (en)
Inventor
Yoshihiro Ito
嘉広 伊藤
Atsushi Takubi
篤 田首
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ウエハ表面の汚染することなく、容易に半導
体装置間に於てウエハの搬送保管ができる半導体ウエハ
収納・搬送装置を得る。 【構成】 半導体処理装置への接続部を備えた半導体ウ
エハの出し入れ口と、この出し入れ口に設けられた内部
を気密にするためのバルブとを備えた半導体ウエハの収
納・搬送容器に於て、前記半導体ウエハの出し入れ口を
清浄にする清浄手段を具備する。また、ウエハの収納・
搬送容器の半導体ウエハの出し入れ口との接続部を備え
内部が真空または不活性ガス雰囲気になされるロードロ
ックチャンバ、前記半導体ウエハの出し入れ口を清浄に
する清浄手段を具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体ウエハの収納
・搬送装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体ウエハの収納・搬送装置に
ついては、例えば特開平3−214645号公報に記載
されているが、その半導体ウエハの収納・搬送装置を図
6及び図7を用いて説明する。
【0003】図6は従来の半導体ウエハの収納・搬送容
器をロードロックチャンバに装着する状態を表した外観
図で、図に於て、21は半導体装置の処理チャンバ、2
2は半導体装置のロードロックチャンバ、23はウエハ
収納・搬送容器、24はウエハ、25はウエハ収納・搬
送容器23の蓋、26はウエハ収納・搬送容器23の蓋
25を開閉させるための治具、27は真空ポンプ、28
はN2等の不活性ガス供給バルブ、29はウエハ24の
出し入れ口である。
【0004】図7は図6に示すウエハ収納・搬送容器2
3の外観図である。図7に於て、30はウエハ収納・搬
送容器23をロードロックチャンバ22に連通する際に
気密性を保持させるためのOリング、31は蓋25とウ
エハ収納・搬送容器23本体との気密性を保持させるた
めのOリングである。
【0005】次に図7の動作について説明する。予め真
空状態でウエハ24を収納しているウエハ収納・搬送容
器23をロードロックチャンバ22にはめ込み、例えば
ウエハ収納・搬送容器23側のマグネットで固定する。
ウエハ収納・搬送容器23をロードロックチャンバ22
にセットした後、真空ポンプ27でロードロックチャン
バ22内を所定の真空度まで真空引きする。この後、治
具26を用いて、ウエハ収納・搬送容器23の蓋25を
外す。この状態でウエハ収納・搬送容器23からウエハ
24を取り出し、処理チャンバ21に搬送する。処理チ
ャンバ21内でのウエハ24の処理が完了した後、ウエ
ハ24は再びウエハ収納・搬送容器23に戻され、治具
26によって蓋25が閉められる。その後、この状態で
ロードロックチャンバ22の真空を破壊する。蓋25は
圧力差によって吸着され、ウエハ収納・搬送容器23内
の真空を保持する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な従来のウエハ収納・搬送容器は、搬送する間にウエハ
収納・搬送容器の蓋部にダストが蓄積する。そのため、
次工程の半導体処理装置とウエハ収納・搬送容器とが連
通され、かつウエハ収納・容器内のウエハを取り出す際
に、ウエハ収納・搬送容器の蓋部に蓄積したダストによ
りウエハ表面を汚染する問題がある。
【0007】このような従来技術の問題点に鑑み、本発
明の主な目的は、半導体ウエハの表面を汚染することな
く、容易に半導体処理装置の各装置間にてウエハを搬送
・保管し得る半導体ウエハ収納・搬送装置を提供するこ
とにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的は、本発
明によれば、半導体処理装置への接続部を備えた半導体
ウエハの出し入れ口と、当該半導体ウエハの出し入れ口
に設けられかつ内部を気密にするためのバルブとを備え
た半導体ウエハの収納・搬送装置に、前記半導体ウエハ
の出し入れ口を清浄にする清浄手段を設けたことを特徴
とする半導体ウエハの収納・搬送装置を提供することに
より達成される。特に、前記清浄手段が、少なくとも前
記接続部を前記半導体処理装置に接続する前に不活性ガ
スを前記出し入れ口に噴射する不活性ガス噴射手段を具
備すると良い。あるいは、半導体ウエハの収納・搬送容
器の半導体ウエハの出し入れ口との接続部を備えかつ内
部が真空または不活性ガス雰囲気になされるロードロッ
クチャンバに、前記半導体ウエハの出し入れ口を清浄に
する清浄手段を設けたことを特徴とする半導体ウエハの
収納・搬送装置を提供することにより達成される。特
に、前記清浄手段が、少なくとも前記半導体ウエハの収
納・搬送容器の前記半導体ウエハの出し入れ口を前記半
導体処理装置に連通させる前または取り付ける前に不活
性ガスを前記半導体ウエハの出し入れ口に噴射する手段
を具備すると良い。
【0009】
【作用】このようにすれば、ウエハ収納・搬送容器の蓋
部を清浄にする手段を具備することによって、ウエハを
搬送する間にウエハ収納・搬送容器の蓋部に蓄積するダ
ストを蓋部から取り除くことができるため、ウエハ収納
・搬送容器からウエハを出し入れするときにウエハ表面
を汚染することなく、次工程の半導体処理を行うことが
可能となる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の一実施例であるウエハの収納
・搬送装置を図1を用いて説明する。
【0011】図1は、本発明の一実施例を示す半導体ウ
エハの収納・搬送容器をロードロックチャンバにゲート
バルブを介して装着した状態を表した外観斜視図であ
る。図1に於て、1は半導体装置の処理チャンバ、2は
半導体装置に連設され半導体ウエハの収納・搬送装置の
一部をなすロードロックチャンバ、3はウエハ収納・搬
送容器、4はロードロックチャンバ用N2等の不活性ガ
ス供給バルブ、5はロードロックチャンバ用真空バル
ブ、6はウエハ収納・搬送容器用真空バルブ、7はウエ
ハ収納・搬送容器用N2等の不活性ガス供給バルブ、8
はウエハ収納・搬送容器側のロードロックチャンバの
蓋、9はウエハ収納・搬送容器3の蓋10を清浄にする
用N2等の不活性ガス供給バルブである。蓋8はロード
ロックチャンバ2内に複数枚のウエハが格納されている
ウエハキャリアをウエハ収納・搬送容器3に搬送または
ウエハ収納・搬送容器3をロードロックチャンバから切
り離す時に使用する。このロードロックチャンバ2とウ
エハ収納・搬送容器3との間には、両者間を接続する手
段としての接続部16が設けられている。
【0012】図2は図1に示すウエハ収納・搬送容器3
の拡大部分断面図である。図2に於て、10はウエハ収
納・搬送容器の蓋、11は蓋10の回転軸である。蓋8
も蓋10と同様に回転軸15を具備する。
【0013】蓋10は、図3に示すように略半分が扇形
に開口している孔10aを有するように形成された円盤
体である。蓋10は、回転軸11が180°回転するこ
とで、ウエハ収納・搬送容器3の上壁の一部に開設され
た開口部3aの開閉を行う。ロードロックチャンバ2の
蓋8に於ても、蓋10と同様に、略半分が扇形に開口し
ている孔10aを有するように形成された円盤体であ
り、回転軸15を用いて、ロードロックチャンバ2の底
壁の一部に開設された開口部2aの開閉を行う。
【0014】図4は、ロードロックチャンバ2内にある
ウエハキャリア14をウエハ収納・搬送容器3に搬送す
る状態を示す縦断面図である。図4に於て、12はロー
ドロックチャンバ2内でウエハキャリア14を保持する
ためのウエハキャリア保持具、13はロードロックチャ
ンバ内にあるウエハキャリア14をウエハ収納・搬送容
器3内へ搬送する手段であるウエハキャリア移送装置、
14は複数のウエハWを格納するウエハキャリア、15
はロードロックチャンバ2の蓋8の回転軸、16はロー
ドロックチャンバ2とウエハ収納・搬送容器3間の接続
部である。この接続部16は、ロードロックチャンバ2
とウエハ収納・搬送容器3との間を密閉する手段を具備
する。ウエハキャリア保持具13は、ロードロックチャ
ンバ2内を上下・左右に移動する手段と、少なくとも1
つのウエハキャリア14を保持する手段とを具備してい
る。
【0015】ウエハ収納・搬送容器3内にて、処理チャ
ンバ1で処理された複数枚のウエハWが格納されたウエ
ハキャリア14を図示されない次工程の半導体処理装置
へ搬送する場合は、以下の手段に従って行う。
【0016】処理チャンバ1で処理されたウエハWをロ
ードロックチャンバ2のウエハキャリア14に格納す
る。この処理されたウエハWをロードロックチャンバ2
内のウエハキャリア14に格納する間は蓋8、10は閉
められている。処理されたウエハWをロードロックチャ
ンバ2内のウエハキャリア14に格納後、ロードロック
チャンバ2内のウエハキャリア14をウエハキャリア保
持具12によって、ロードロックチャンバ内に確保す
る。蓋10は閉じたままにして蓋8を開き、ロードロッ
クチャンバ2とウエハ収納・搬送容器3との間の接続部
16をロードロックチャンバ2側の真空ポンプ5によっ
て真空引きを行う。更に、ウエハ収納・搬送容器3内を
真空ポンプ6によって真空引きを行い、ロードロックチ
ャンバ2内と同じ真空状態にする。
【0017】その後、ウエハ収納・搬送容器3の蓋10
を開き、ウエハ収納・搬送容器3のウエハキャリア移送
装置13によってウエハキャリア14をウエハ収納・搬
送容器3へ搬送する。ウエハキャリア移送装置13がウ
エハキャリア14を保持した後、ロードロックチャンバ
2のウエハキャリア保持具12から切り離されるように
なっている。ウエハ収納・搬送容器3内にウエハキャリ
ア14を格納後、ウエハ収納・搬送容器3の蓋10を回
転して開口部10aを閉め、かつロードロックチャンバ
2内と接続部16とにN2ガスを不活性ガス供給バルブ
4を介して噴出して真空状態を破壊する。ロードロック
チャンバ2と接続部16とが大気状態になったら、ロー
ドロックチャンバ2の蓋8を閉める。
【0018】その後、ロードロックチャンバ2に連通さ
れていたウエハ収納・搬送容器3を接続部16で切り離
す。接続部16から切り離されたウエハ収納・搬送容器
3を図示されないウエハ搬送車によって図示されない次
工程の半導体処理装置へ搬送する。その次工程の半導体
処理装置のロードロックチャンバに接続する前に数分
間、不活性供給バルブ9を介してN2等の不活性ガスを
ウエハ収納・搬送容器3の蓋10部に噴射し、蓋10部
に蓄積されたダストを取り除く。ウエハ収納・搬送容器
3を上記次工程の半導体処理装置のロードロックチャン
バに、その次工程の半導体処理装置側にある接続部によ
って接続する。
【0019】図5は、本発明に係わる第2の実施例を示
す図であり、ロードロックチャンバ側から不活性ガスを
ウエハ収納・搬送装置に噴射して蓋部を清浄にしている
状態を表した縦断面図である。
【0020】前記第1の実施例のウエハ収納・搬送装置
の不活性供給バルブ9はウエハ収納・搬送容器に設置し
てあるが、本発明の第2の実施例のウエハ収納・搬送装
置の不活性供給バルブ9はロードロックチャンバ側に設
置されている。
【0021】図5に於て、本発明の第2の実施例につい
て説明をする。図示されないロードロックチャンバと図
示されないウエハ収納・搬送容器との間の接続部から切
り離されたウエハ収納・搬送容器3は、図示されないウ
エハ搬送車によって図示されない次工程の半導体処理装
置へ搬送される。次工程の半導体処理装置のロードロッ
クチャンバ2に接続する前に数分間、ロードロックチャ
ンバ2側にある不活性供給バルブ9を介して、N2等の
不活性ガスをウエハ収納・搬送容器3の蓋10部に噴射
し、蓋10部に蓄積されたダストを取り除く。そして、
ウエハ収納・搬送容器3を次工程の半導体処理装置のロ
ードロックチャンバ2に接続部16を介して接続する。
【0022】従来は、ウエハ収納・搬送容器を搬送する
際にはウエハ収納・搬送容器の蓋部にダストが付着し、
次工程の半導体処理を行う際に蓋部のダストによりウエ
ハ表面が汚染されるという問題があったが、本発明によ
れば、上記各実施例に示したように、ウエハ収納・搬送
容器の蓋部を清浄にする手段を具備することによって、
ウエハ表面が汚染されることなく次工程の半導体処理を
行うことが可能となる。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、簡
単な構造によりかつ容易に、ウエハを搬送する際に於け
るウエハ表面の汚染を最小限に抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す半導体ウエハ収納
・搬送容器をロードロックチャンバに連通した状態を表
した外観斜視図である。
【図2】図1で示したウエハ収納・搬送容器の拡大部分
断面図である。
【図3】図2で示したウエハ収納・搬送容器の蓋の平面
図である。
【図4】本発明の第1の実施例を示す半導体ウエハ収納
・搬送容器をロードロックチャンバに連通した状態を表
した縦断面図である。
【図5】本発明に係わる第2の実施例のロードロックチ
ャンバ側から供給された不活性ガスをウエハ収納・搬送
容器の蓋部に噴射して蓋部を清浄にしている状態を示す
縦断面図である。
【図6】従来の半導体ウエハ収納・搬送容器をロードロ
ックチャンバに装着する状態を表した外観図である。
【図7】図6に示したウエハ収納・搬送容器の外観図で
ある。
【符号の説明】
1 処理チャンバ 2 ロードロックチャンバ 2a 開口部 3 ウエハ収納・搬送容器 3a 開口部 4 不活性ガス供給バルブ 5 ロードロックチャンバ用真空ポンプ 6 ウエハ収納・搬送容器用真空ポンプ 7 不活性ガス供給バルブ 8 蓋 8a 孔 9 不活性ガス供給バルブ 10 蓋 10a 孔 11 回転軸 12 ウエハキャリア保持具 13 ウエハキャリア移送装置 14 ウエハキャリア 15 回転軸 16 接続部 21 処理チャンバ 22 ロードロックチャンバ 23 ウエハ収納・搬送容器 24 ウエハ 25 蓋 26 治具 27 真空ポンプ 28 不活性ガス供給バルブ 29 出し入れ口 30・31 Oリング W ウエハ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体処理装置への接続部を備えた半導
    体ウエハの出し入れ口と、当該半導体ウエハの出し入れ
    口に設けられかつ内部を気密にするためのバルブとを備
    えた半導体ウエハの収納・搬送装置に、前記半導体ウエ
    ハの出し入れ口を清浄にする清浄手段を設けたことを特
    徴とする半導体ウエハの収納・搬送装置。
  2. 【請求項2】 前記清浄手段が、少なくとも前記接続部
    を前記半導体処理装置に接続する前に不活性ガスを前記
    出し入れ口に噴射する不活性ガス噴射手段を具備するこ
    とを特徴とする半導体ウエハの収納・搬送装置。
  3. 【請求項3】 半導体ウエハの収納・搬送容器の半導体
    ウエハの出し入れ口との接続部を備えかつ内部が真空ま
    たは不活性ガス雰囲気になされるロードロックチャンバ
    に、前記半導体ウエハの出し入れ口を清浄にする清浄手
    段を設けたことを特徴とする半導体ウエハの収納・搬送
    装置。
  4. 【請求項4】 前記清浄手段が、少なくとも前記半導体
    ウエハの収納・搬送容器の前記半導体ウエハの出し入れ
    口を前記半導体処理装置に連通させる前または取り付け
    る前に不活性ガスを前記半導体ウエハの出し入れ口に噴
    射する手段を具備することを特徴とする請求項3に記載
    の半導体ウエハの収納・搬送装置。
JP29475193A 1993-10-28 1993-10-28 半導体ウエハの収納・搬送装置 Withdrawn JPH07130831A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004039760A (ja) * 2002-07-01 2004-02-05 Advanced Display Inc 搬送車、製造装置及び搬送システム
JP2010016199A (ja) * 2008-07-03 2010-01-21 Murata Mach Ltd パージ装置
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WO2019049518A1 (ja) * 2017-09-08 2019-03-14 村田機械株式会社 保管システムと保管システムでのパージ方法

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