JPH07130678A - 孤立した光学ゾーンを有する改良式放射加熱源 - Google Patents

孤立した光学ゾーンを有する改良式放射加熱源

Info

Publication number
JPH07130678A
JPH07130678A JP6057654A JP5765494A JPH07130678A JP H07130678 A JPH07130678 A JP H07130678A JP 6057654 A JP6057654 A JP 6057654A JP 5765494 A JP5765494 A JP 5765494A JP H07130678 A JPH07130678 A JP H07130678A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
baffle
wafer
lamp heater
semiconductor wafer
heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6057654A
Other languages
English (en)
Inventor
Habib N Najm
エヌ.ナジム ハビブ
Show-Wu Huang Steve
ショウ − ウ ファング スチーブ
Cecil J Davis
ジェイ.デイビス セシル
Robert T Matthews
ティー.マシューズ ロバート
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Texas Instruments Inc filed Critical Texas Instruments Inc
Publication of JPH07130678A publication Critical patent/JPH07130678A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67115Apparatus for thermal treatment mainly by radiation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Control Of Resistance Heating (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体ウエハ表面の均一加熱を可能にする安
価なバッフルを有する半導体ウエハランプ加熱器を提供
する。 【構成】 放射ランプ加熱器における薄い反射円筒状バ
ッフル20は、中心部分並びに中間リング及び外側リン
グの周囲に配置された複数の加熱用ガラス球2,4,6
の下方で、かつ石英窓12の上方の空間に設けられてい
る。このバッフル20の直径は、バッフル20が中間リ
ングのガラス球4及び外側リングのガラス球6の間の環
状空間内に取り付けられるように設定されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【従来技術】高速熱処理(RTP:Rapid Thermal Proc
essing) 装置におけるシリコンウエハの直接的放射ラン
プ加熱の使用は、広く普及している。ランプ加熱器が許
容温度ランプ時間及びウエハ上の制御可能なプロセス均
一性を達成するときの臨界的因子であることを、実験的
観察は示唆している。高速スループット及び短いプロセ
ス時間に帰着する良好な温度ランプ性能をもたらすべ
く、38kWランプモジュールが示されてきた。しかし
ながら、高圧処理(例えば、650torr)に対する
この装置の現在の均一性性能は、許容できるものではな
い。何故なら、一般に、処理を受けるウエハの中心がウ
エハの縁部に比して高い温度に加熱されるからである。
半導体ウエハの光学的ゾーン加熱のための従来のランプ
加熱器の平面図および側断面図をそれぞれ示す図1
(a)及び図1(b)を参照して、この問題をさらに詳
細に説明する。37個のランプを備えた光源は、中央の
2kW光ガラス球2,12個の1kW光ガラス球4の中
間リング及び24個の1kW光ガラス球6の外側リング
を含む軸対称3ゾーン構成に配置されている。ガラス球
2は、中央ゾーンのランプと称することとする。ガラス
球4の中間リングは、中間ゾーンのランプと称すること
とし、また、外側リング6は、外側ゾーンのランプと称
することとする。これらのガラス球は、ランプ・アセン
ブリ3中に取り付けられている。ガラス球から出射され
る放射電力は、金メッキ8によって集中化されて処理室
9に導かれ、石英窓12を通してシリコンウエハ10
(例えば、15.24cm(6インチ)直径のウエハ)上
に加えられる。石英窓12は、例えば、直径が25.4
cm(10インチ)で厚さが1.27cm(1/2インチ)
とすることができる。放射電力は、ウエハ10に向けら
れることとなる。加熱の均一性は、ランプの各ゾーンに
供給される電力を操作することによって試みられる。こ
うして、ウエハ10の外側縁部11の選択的加熱は、他
のゾーンのランプからの放射電力よりも大きな外側ゾー
ンのランプからの放射電力を発生することによって、ウ
エハ10の中央部分13と相対的に意図される。しかし
ながら、このランプ加熱器によって、ウエハ10上へ入
射する放射電力の面から、3つのゾーンのランプの間に
は重要な光学的オーバーラップがもたらされる。このオ
ーバーラップは、温度のプロファイル及びプロセス均一
性制御における問題の源となっている。何故なら、ウエ
ハ10の中央部分13は、ウエハ10の残りの部分特に
周囲の縁部11よりも加熱器によって一層加熱されるか
らである。外側ゾーンのランプをオンに切り換え、残り
のゾーンのランプをオフに切り換えて、この不均一な加
熱を防止しようとしても、やはり、ウエハ10の中央部
分13が縁部11に比して一層加熱されるということは
起こる。周囲縁部11の差分加熱は、ウエハ10の中央
部分13の加熱に関するこの問題と比較したとき、比較
的一般性が低い。処理室9内での縁部11の冷却及び高
圧でのガス流入ダイナミックスの追加の影響を仮定すれ
ば、中央部分13の加熱に関するこの問題は、極めて望
ましくないものである。これらの影響を克服するととも
に均一なプロセス結果を得るべく、ウエハ縁部11を選
択的に加熱することは、臨界的である。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】例えばG−スクエアド
(商標名:G−Squared)ランプ等の他のランプ
加熱器は、個々の光ガラス球からウエハ上に放射される
光の間で全くオーバーラップがない水冷式金属ケーシン
グ中にガラス球を埋め込むことによって、問題を解決し
ている。この種のランプ加熱器は、主に、ランプ・ハー
ドウエアの製造が困難であることから、多くの場合、ひ
どくコスト高である。
【0003】従って、前述した問題を解決するためのコ
スト的に有利な手段を開発することが必要である。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明は、光源とバッ
フルとを備えた半導体ウエハランプ加熱器を提供するも
のである。光源の所定部分から平面のある部分に向けら
れた光はバッフルによって阻止され、一方、光源の残り
の部分からの光はバッフルによって平面のこの部分から
阻止されることはない。この発明によって実質的に平面
にあるウエハの均一な加熱をもたらすことができる。
【0005】この発明は、ランプと石英窓との間の空間
に薄い反射円筒バッフルを設けることによって、前述し
た問題を解決している。このバッフルの直径は、中間リ
ングのガラス球と外側リングのガラス球との間の環状空
間にこのバッフルが置かれるようになっている。このバ
ッフルは、外側リングのガラス球から出射される多量の
光がウエハの中央部に到達するのを防止すると共に、殆
んどの光をウエハ縁部に向ける。
【0006】
【実施例】図2は、円筒状バッフル20を有する本発明
のランプ加熱器の断面図である。随意に、バッフル20
は、気体または好ましくは冷却剤(例えば、水)で冷却
される液体であってよい。環状通路22が、バッフル2
0の内部に設けられており、冷却剤がその中を流れるこ
とができるようになっている。パイプ24は、冷却剤が
バッフル20中の環状通路22を流れるための入口経路
及び出口経路をもたらす。アセンブリ3もまた、冷却剤
通路26を流れる冷却剤によって冷却される。幾つかの
この種の通路があり、また、冷却剤は水、気体、または
フレオンから成ることができる。支持体28は、石英窓
12と接触をなして、真空圧によって石英窓12を正し
く保持するOリング29を収容している。冷却剤通路2
7が支持体28の上を直接通っていることに留意された
い。アセンブリ3中の通路27を流れる冷却剤は、アセ
ンブリ3上の金メッキ8とともに、支持体28中のOリ
ング29を冷却し、該Oリング29から熱をそらすのを
助ける。
【0007】図3(a)及び図3(b)はそれぞれ、図
2に示したバッフル20の平面図及び側面図である。支
持ワッシャ23は、パイプ24をアセンブリ3上に支持
している。図3(a)及び(b)には、バッフル20及
びパイプ24の寸法が示されている。例えば、支持ワッ
シャ23は、1.27cm(0.5インチ)の外径を有
し、その厚さは0.16cm(0.063インチ)であ
り、各パイプ24は、0.64cm(0.25インチ)の
外径を有している。また、図示のバッフルの高さは6.
350cm(2.500インチ)で、その内径は15.2
4cm(6.000インチ)である。冷却剤は、符号
「a」が付されたパイプ24から各通路22に供給さ
れ、各通路から符号「b」が付されたパイプ24を通し
て導出される。通路22内のバリア30は、通路22内
の指定された経路に沿って冷却剤が流れるようにするの
を助ける。
【0008】本発明のバッフルは、該バッフルがさらさ
れる激しい熱に耐え得る必要がある。従って、バッフル
を構成することができる材料は、石英、ステンレス鋼及
びモリブデンを含む。随意に、バッフル20は、図示の
ように該バッフル20の内側及び外側の円筒状表面に設
けられた反射コーティング36を含む。この種のコーテ
ィングは、例えば、金またはクロムコーティングであっ
て良い。
【0009】本発明の加熱器の幾つかは、実験の一部と
して、実際の反応装置の中で実施に供された。このバッ
フル材料は、金のコーティングを施した厚さ0.16cm
(1/16インチ)のステンレス鋼であった。バッフル
直径が15.24cm(6インチ)で、高さがそれぞれ
2.54cm(1インチ)、5.08cm(2インチ)及び
7.62cm(3インチ)の3つのバッフルが造られた。
2つの反応装置は装着したこれらのバッフルについての
(寸法的に図3(a)及び(b)に示したものと類似の
セットアップを使用した)試験は、5.08cm(2イン
チ)及び7.62cm(3インチ)の場合において重要な
ウエハ処理の改良を示したが、2.54cm(1インチ)
の場合においてはそれ程の効果は示さなかった。特に、
7.62cm(3インチ)の場合は、最良の選択加熱性能
を示した。7.62cm(3インチ)の高さのバッフルを
使用して、外側リングのガラス球のみをオンとしたと
き、ウエハ縁部と中心との間の温度差は、30ないし1
00℃の範囲で測定された。これは、バッフル無しの加
熱器の性能に比して相当良好である。また、他の2つの
ゾーンをオンに切り換えた状態において、高圧(650
torr)処理に関連した一般に困難な条件の下で、1
5.24cm(6インチ)ウエハに対して優れた温度均一
性(±0.5℃)が容易に達成された。制御実験の一部
として、この圧力でのバッフルの無いランプ性能は、せ
いぜい±15℃であり、処理室内のガス流及び粗悪な選
択的縁部加熱性能による重要な縁部冷却に起因されるも
のであった。これらの試験はまた、厳しい加熱条件下
で、冷却されないバッフル上の金のコーティングの不適
当さを示した。コーティングは、使用に際して直ちに劣
化して消失してしまうことが観察され、バッフルが一層
強い放射及びオーバーヒートを吸収してしまうこととな
り、この結果、バッフルのそり及び非均一なウエハ加熱
が生じてしまう。本発明による水冷式のバッフルは、コ
ーティングの劣化に関する問題を解消した。被冷却バッ
フルのバッフル材料は、冷却剤を使用しないバッフルに
比して必然的に厚くなければならない。しかしながら、
このより厚いバッフルは、激しい加熱に一層耐え得るも
のである。
【0010】以上、本発明を、その好ましい実施例及び
或る一定の代替について詳細に説明してきたが、この説
明は例示的なものであり、限定的に解釈すべきものでは
ないことを思量すべきである。本発明の実施例の詳細に
おける多数の変更及び本発明の付加的実施例は、この説
明を参照した当業者にとって明瞭であろうとともになし
得るものであることを了知すべきである。この種の変更
及び付加的実施例は、権利主張される本発明の真の範囲
及び精神にもとるものではないことが思量される。
【0011】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 (1) 光源とバッフルとを具備し、前記光源の所定部
分から平面の所定部分に向けられる光が前記バッフルに
よって阻止されるとともに、前記バッフルによって阻止
されない前記光源からの光が前記平面の前記所定部分に
向けられるように、前記バッフルが形成されているとと
もに前記光源に対して位置決めされていることを特徴と
する半導体ウエハランプ加熱器。 (2) 第1項記載の半導体ウエハランプ加熱器におい
て、前記バッフルは、該バッフルを冷却できる媒体を運
ぶことができる少なくとも1つの通路を備えていること
を特徴とする前記半導体ウエハランプ加熱器。
【0012】(3) 第2項記載の半導体ウエハランプ
加熱器において、前記媒体は、水,気体またはフレオン
から成る部類中から選択されたものであることを特徴と
する前記半導体ウエハランプ加熱器。 (4) 第2項記載の半導体ウエハランプ加熱器におい
て、前記バッフルは、その選択された部分が光反射材料
で被覆されていることを特徴とする前記半導体ウエハラ
ンプ加熱器。
【0013】(5) 第4項記載の半導体ウエハランプ
加熱器において、前記反射材料は、金またはクロムから
成る部類中から選択されたものであることを特徴とする
前記半導体ウエハ加熱器。 (6) 第1項記載の半導体ウエハランプ加熱器におい
て、前記バッフルは、石英、ステンレス鋼、モリブデン
またはその組合せから成る部類中から選択された材料を
備えていることを特徴とする前記半導体ウエハランプ加
熱器。
【0014】(7) 実質的に同心状の第1及び第2の
円筒中にあってこれらを形成するように位置決めされた
複数の光ガラス球を含んだ光源と、前記第1及び第2の
円筒と実質的に同心状の第3の円筒内にあってこれを形
成する円筒状バッフルであって、前記第3の円筒が前記
第1の円筒に比して小さくかつ前記第2の円筒に比して
大きい半径を有してなる前記円筒状バッフルと、を具備
したことを特徴とする半導体ウエハランプ加熱器。 (8) 第7項記載の半導体ウエハランプ加熱器におい
て、前記複数のガラス球が、その少なくとも一部が光反
射材料で被覆されているアセンブリ中に実装されている
ことを特徴とする前記半導体ウエハランプ加熱器。
【0015】(9) 第8項記載の半導体ウエハランプ
加熱器において、前記光反射材料は、金またはクロムか
ら成る部類中から選択されたものであることを特徴とす
る前記半導体ウエハランプ加熱器。 (10) 第8項記載の半導体ウエハランプ加熱器にお
いて、前記アセンブリは、該アセンブリを冷却できる媒
体を運ぶことができる通路を含んでいることを特徴とす
る前記半導体ウエハランプ加熱器。
【0016】(11) 第10項記載の半導体ウエハラ
ンプ加熱器において、前記媒体は、水,気体またはフレ
オンから成る部類中から選択されたものであることを特
徴とする前記半導体ウエハランプ加熱器。 (12) 第7項記載の半導体ウエハランプ加熱器にお
いて、前記バッフルは、該バッフルを冷却できる媒体を
運ぶことができる少なくとも1つの通路を含んでいるこ
とを特徴とする前記半導体ウエハランプ加熱器。
【0017】(13) 第12項記載の半導体ウエハラ
ンプ加熱器において、前記バッフルに接続された少なく
とも1つのパイプをさらに含み、該少なくとも1つのパ
イプは、冷却媒体を前記バッフルに輸送することができ
ることを特徴とする前記半導体ウエハランプ加熱器。 (14) 第12項記載の半導体ウエハランプ加熱器に
おいて、前記バッフルは、その選択された部分が光反射
材料で被覆されていることを特徴とする前記半導体ウエ
ハランプ加熱器。
【0018】(15) 第14項記載の半導体ウエハラ
ンプ加熱器において、前記反射材料は、金またはクロム
から成る部類中から選択されたものであることを特徴と
する前記半導体ウエハランプ加熱器。 (16) 第7項記載の半導体ウエハランプ加熱器にお
いて、前記バッフルは、石英、ステンレス鋼、モリブデ
ンまたはこれらの組合せから成る部類中から選択された
材料を備えていることを特徴とする前記半導体ウエハラ
ンプ加熱器。
【0019】(17) 放射ランプ加熱器における薄い
反射円筒状バッフル(20)は、複数の加熱用ガラス球
(2,4,6)(中心部分並びに中間リング及び外側リ
ングの周囲に配置されている)の下方でかつ石英窓(1
2)の上方の空間に設けられている。該バッフルの直径
は、中間リングのガラス球(4)及び外側リングのガラ
ス球(6)の間の環状空間内に取り付けられるように設
定されている。このバッフル(20)は、放射ランプ加
熱器によって加熱されるウエハに対して、ウエハ温度プ
ロファイルの改良された可制御性をもたらすことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体ウエハの光学的ゾーン加熱用の従来技術
のランプ加熱器を示す図であり、(a)はその平面図、
(b)はその側断面図である。
【図2】円筒状反射バッフルを有する本発明のランプ加
熱器の断面図である。
【図3】図2に示したバッフルを示す図であり、(a)
はその平面図、(b)はその側面図である。
【符号の説明】
2,4,6 加熱用ガラス球 3 アセンブリ 12 石英窓 20 バッフル 22 環状通路 23 支持ワッシャ 24 パイプ 26,27 冷却剤通路 28 支持体 29 Oリング 30 バリア 36 反射コーティング
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年10月17日
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 セシル ジェイ.デイビス アメリカ合衆国テキサス州グリーンビル, ボックス 113シー,ルート 4 (72)発明者 ロバート ティー.マシューズ アメリカ合衆国テキサス州プラノ,パーク ヘブン ドライブ 2417

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源とバッフルとを具備し、 前記光源の所定部分から平面の所定部分に向けられる光
    が前記バッフルによって阻止されるとともに、前記バッ
    フルによって阻止されない前記光源からの光が前記平面
    の前記所定部分に向けられるように、前記バッフルが形
    成されているとともに前記光源に対して位置決めされて
    いることを特徴とする半導体ウエハランプ加熱器。
JP6057654A 1993-03-29 1994-03-28 孤立した光学ゾーンを有する改良式放射加熱源 Pending JPH07130678A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/039,720 US5345534A (en) 1993-03-29 1993-03-29 Semiconductor wafer heater with infrared lamp module with light blocking means
US039720 1993-03-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07130678A true JPH07130678A (ja) 1995-05-19

Family

ID=21907024

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6057654A Pending JPH07130678A (ja) 1993-03-29 1994-03-28 孤立した光学ゾーンを有する改良式放射加熱源

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5345534A (ja)
EP (1) EP0641016B1 (ja)
JP (1) JPH07130678A (ja)
KR (1) KR940023316A (ja)
DE (1) DE69422673T2 (ja)
TW (1) TW267250B (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09330886A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板の枚葉式熱処理装置
JP2002184712A (ja) * 2000-12-12 2002-06-28 Denso Corp 炭化珪素半導体製造装置およびそれを用いた炭化珪素半導体製造方法
JP2002246327A (ja) * 2001-02-21 2002-08-30 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 熱処理装置並びに半導体装置の作製方法
JP2002529911A (ja) * 1998-10-30 2002-09-10 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 二表面反射体
JP2004503099A (ja) * 2000-07-03 2004-01-29 クラーク,アンドリュー デュアル脱気/冷却装填ロッククラスタツール

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6450641B2 (en) 1992-06-02 2002-09-17 Lasersight Technologies, Inc. Method of corneal analysis using a checkered placido apparatus
US6716210B2 (en) 1992-12-03 2004-04-06 Lasersight Technologies, Inc. Refractive surgical laser apparatus and method
USRE37504E1 (en) 1992-12-03 2002-01-08 Lasersight Technologies, Inc. Ophthalmic surgery method using non-contact scanning laser
TW315493B (en) * 1996-02-28 1997-09-11 Tokyo Electron Co Ltd Heating apparatus and heat treatment apparatus
US6072160A (en) * 1996-06-03 2000-06-06 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for enhancing the efficiency of radiant energy sources used in rapid thermal processing of substrates by energy reflection
US5997529A (en) * 1996-10-28 1999-12-07 Lasersight Technologies, Inc. Compound astigmatic myopia or hyperopia correction by laser ablation
US6210169B1 (en) 1997-01-31 2001-04-03 Lasersight Technologies, Inc. Device and method for simulating ophthalmic surgery
FI101138B (fi) * 1997-02-06 1998-04-30 Softeco Oy Sovitelma tuulilasin välikalvon muotoilulaitteistossa
US5960158A (en) 1997-07-11 1999-09-28 Ag Associates Apparatus and method for filtering light in a thermal processing chamber
US6007202A (en) * 1997-10-23 1999-12-28 Lasersight Technologies, Inc. Eye illumination system and method
US6132424A (en) * 1998-03-13 2000-10-17 Lasersight Technologies Inc. Smooth and uniform laser ablation apparatus and method
US6409718B1 (en) 1998-02-03 2002-06-25 Lasersight Technologies, Inc. Device and method for correcting astigmatism by laser ablation
US5970214A (en) 1998-05-14 1999-10-19 Ag Associates Heating device for semiconductor wafers
US5930456A (en) 1998-05-14 1999-07-27 Ag Associates Heating device for semiconductor wafers
US6127658A (en) * 1998-08-04 2000-10-03 Steag C.V.D. Systems, Ltd. Wafer heating apparatus and method with radiation absorptive peripheral barrier blocking stray radiation
US6210484B1 (en) 1998-09-09 2001-04-03 Steag Rtp Systems, Inc. Heating device containing a multi-lamp cone for heating semiconductor wafers
US6771895B2 (en) * 1999-01-06 2004-08-03 Mattson Technology, Inc. Heating device for heating semiconductor wafers in thermal processing chambers
US6122440A (en) * 1999-01-27 2000-09-19 Regents Of The University Of Minnesota Optical heating device for rapid thermal processing (RTP) system
US6497701B2 (en) 1999-04-30 2002-12-24 Visx, Incorporated Method and system for ablating surfaces with partially overlapping craters having consistent curvature
TW546679B (en) 1999-05-21 2003-08-11 Toshiba Corp Heating method
US6666924B1 (en) 2000-03-28 2003-12-23 Asm America Reaction chamber with decreased wall deposition
US6376804B1 (en) * 2000-06-16 2002-04-23 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing system with lamp cooling
US6476362B1 (en) 2000-09-12 2002-11-05 Applied Materials, Inc. Lamp array for thermal processing chamber
US6970644B2 (en) * 2000-12-21 2005-11-29 Mattson Technology, Inc. Heating configuration for use in thermal processing chambers
US7015422B2 (en) * 2000-12-21 2006-03-21 Mattson Technology, Inc. System and process for heating semiconductor wafers by optimizing absorption of electromagnetic energy
US6744017B2 (en) * 2002-05-29 2004-06-01 Ibis Technology Corporation Wafer heating devices for use in ion implantation systems
KR100377011B1 (ko) * 2002-11-01 2003-03-19 코닉 시스템 주식회사 급속 열처리 장치의 히터 모듈
US6947665B2 (en) * 2003-02-10 2005-09-20 Axcelis Technologies, Inc. Radiant heating source with reflective cavity spanning at least two heating elements
US7279068B2 (en) * 2003-12-15 2007-10-09 Texas Instruments Incorporated Temperature control assembly for use in etching processes
US20070138134A1 (en) * 2005-12-19 2007-06-21 Chuan-Han Hsieh Etching apparatus and etching method
CN100428404C (zh) * 2006-03-17 2008-10-22 中国电子科技集团公司第四十八研究所 半导体晶片的封闭式红外线加热装置
US7822324B2 (en) * 2006-08-14 2010-10-26 Applied Materials, Inc. Load lock chamber with heater in tube
US20080083611A1 (en) * 2006-10-06 2008-04-10 Tegal Corporation High-adhesive backside metallization
JP4870604B2 (ja) * 2007-03-29 2012-02-08 株式会社ニューフレアテクノロジー 気相成長装置
KR20090057729A (ko) * 2007-12-03 2009-06-08 에이피시스템 주식회사 급속열처리장치의 히터블록
US20090246385A1 (en) * 2008-03-25 2009-10-01 Tegal Corporation Control of crystal orientation and stress in sputter deposited thin films
US8808513B2 (en) * 2008-03-25 2014-08-19 Oem Group, Inc Stress adjustment in reactive sputtering
TWI464292B (zh) * 2008-03-26 2014-12-11 Gtat Corp 塗覆金之多晶矽反應器系統和方法
US8482375B2 (en) * 2009-05-24 2013-07-09 Oem Group, Inc. Sputter deposition of cermet resistor films with low temperature coefficient of resistance
US10405375B2 (en) * 2013-03-11 2019-09-03 Applied Materials, Inc. Lamphead PCB with flexible standoffs
US11015244B2 (en) 2013-12-30 2021-05-25 Advanced Material Solutions, Llc Radiation shielding for a CVD reactor
CN105448768B (zh) * 2014-06-19 2019-10-11 北京北方华创微电子装备有限公司 半导体加工设备
KR102054222B1 (ko) * 2017-09-29 2019-12-11 세메스 주식회사 기판 가열 유닛
KR102037908B1 (ko) * 2017-09-29 2019-10-29 세메스 주식회사 기판 가열 유닛 및 이를 갖는 기판 처리 장치
CN116705669B (zh) * 2023-08-04 2023-10-20 盛吉盛半导体科技(北京)有限公司 一种冷却效果均匀的半导体设备用加热灯盘及冷却方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5938584A (ja) * 1982-08-30 1984-03-02 ウシオ電機株式会社 照射加熱炉の運転方法
JPS63227014A (ja) * 1987-03-17 1988-09-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd ランプ加熱装置
JPH01146280A (ja) * 1987-12-03 1989-06-08 Shinku Riko Kk 高精度赤外線加熱装置
JPH02133394A (ja) * 1988-11-14 1990-05-22 Nec Corp ランプ加熱型エピタキシャル成長装置
JP2725081B2 (ja) * 1990-07-05 1998-03-09 富士通株式会社 半導体装置製造用熱処理装置
JPH04288820A (ja) * 1991-03-06 1992-10-13 Mitsubishi Electric Corp ランプ加熱装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09330886A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板の枚葉式熱処理装置
JP2002529911A (ja) * 1998-10-30 2002-09-10 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 二表面反射体
JP2004503099A (ja) * 2000-07-03 2004-01-29 クラーク,アンドリュー デュアル脱気/冷却装填ロッククラスタツール
JP2002184712A (ja) * 2000-12-12 2002-06-28 Denso Corp 炭化珪素半導体製造装置およびそれを用いた炭化珪素半導体製造方法
JP4581238B2 (ja) * 2000-12-12 2010-11-17 株式会社デンソー 炭化珪素半導体製造装置およびそれを用いた炭化珪素半導体製造方法
JP2002246327A (ja) * 2001-02-21 2002-08-30 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 熱処理装置並びに半導体装置の作製方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0641016A1 (en) 1995-03-01
EP0641016B1 (en) 2000-01-19
DE69422673T2 (de) 2000-08-10
TW267250B (ja) 1996-01-01
US5345534A (en) 1994-09-06
DE69422673D1 (de) 2000-02-24
KR940023316A (ko) 1994-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH07130678A (ja) 孤立した光学ゾーンを有する改良式放射加熱源
US5781693A (en) Gas introduction showerhead for an RTP chamber with upper and lower transparent plates and gas flow therebetween
US5059770A (en) Multi-zone planar heater assembly and method of operation
US5418885A (en) Three-zone rapid thermal processing system utilizing wafer edge heating means
US6090210A (en) Multi-zone gas flow control in a process chamber
KR100217486B1 (ko) 반도체 공정에서 기판을 가열하기 위한 장치 및 방법
EP0811709B1 (en) Method and apparatus for enhancing the efficiency of radiant energy sources used in rapid thermal processing of substrates by energy reflection
US6869485B2 (en) Compact process chamber for improved process uniformity
US5332442A (en) Surface processing apparatus
US6617247B2 (en) Method of processing a semiconductor wafer in a reaction chamber with a rotating component
JP5511115B2 (ja) 半導体ウェハを熱処理するための方法及び装置
US5930456A (en) Heating device for semiconductor wafers
KR100509085B1 (ko) 열 처리 시스템
KR910007109B1 (ko) 화학증기증착 반응기용 반사장치
US6122440A (en) Optical heating device for rapid thermal processing (RTP) system
US6007633A (en) Single-substrate-processing apparatus in semiconductor processing system
JP4911819B2 (ja) 二表面反射体
US9842753B2 (en) Absorbing lamphead face
US10519547B2 (en) Susceptor design to eliminate deposition valleys in the wafer
US6228174B1 (en) Heat treatment system using ring-shaped radiation heater elements
WO2010123741A2 (en) Quartz window having gas feed and processing equipment incorporating same
JPH0845863A (ja) 半導体基板の枚葉式熱処理装置
EP1097470B1 (en) Infra-red transparent thermal reactor cover member
US5253324A (en) Conical rapid thermal processing apparatus
US6879777B2 (en) Localized heating of substrates using optics

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20031209

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20040309

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20040312

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040609

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050303

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060428