JPH0712935A - Range finder - Google Patents

Range finder

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JPH0712935A
JPH0712935A JP5156592A JP15659293A JPH0712935A JP H0712935 A JPH0712935 A JP H0712935A JP 5156592 A JP5156592 A JP 5156592A JP 15659293 A JP15659293 A JP 15659293A JP H0712935 A JPH0712935 A JP H0712935A
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JP
Japan
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signal
light
clamp
key code
pulse
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Yoshinori Nasu
美則 那須
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Rhythm Watch Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide an inexpensive hiqh-performance range finder which can measure long distanbes by using a low-output optical pulse. CONSTITUTION:A range finder obtains the optimum time data fetching timing and calculates the distance to an object to be measured based on the time data obtained at the optimum timing by adding a preset key code to the pulsed light OPL1 emitted from a semiconductor laser 201 and scanning the presence/ absence of the key code in the reflected light of the pulsed light OPL1 by means of a clamp circuit 210 and key code discriminating section 216 by switching the outputting timing of a clamp pulse signal CLP and gate signal GT at every measurement based on a control signal CTL2 from a control section 212 at a clamp pulse delay switching section 214.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、対象物体に対して光を
発射し、その反射光を検出して対象物体までの距離を測
定する測距装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring device for emitting light to a target object and detecting the reflected light to measure the distance to the target object.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、この種の測距装置は、パルス状
の光を、たとえば自動車などの被測定対象物体に向かっ
て発射し、この発射レーザ光が、被測定対象物体2によ
り反射された光を光検出器で検出し、レーザ光発射から
反射光検出までの時間Δtを計測し、下記式に基づいて
距離を算出して被測定対象物体2までの距離を測定する
ように構成される。 R=(C・Δt)/2 …(1) ただし、Cは光速を示している。
2. Description of the Related Art Generally, a distance measuring device of this type emits pulsed light toward an object to be measured, such as an automobile, and the emitted laser light is reflected by the object to be measured 2. It is configured to detect light with a photodetector, measure a time Δt from emission of laser light to detection of reflected light, calculate a distance based on the following equation, and measure a distance to the object to be measured 2. . R = (C · Δt) / 2 (1) where C indicates the speed of light.

【0003】図3は、従来の測距装置の具体的な構成例
を示すブロック図である。図3において、101はパル
ス光発生手段としての半導体レーザ、102はハーフミ
ラー、103,106レンズ、104は第1の光検出
器、105,108は増幅器、107は第2の光検出
器、109はカウンタ、110は発振器、111は信号
処理部、112は制御部をそれぞれ示している。
FIG. 3 is a block diagram showing a concrete example of the configuration of a conventional distance measuring device. In FIG. 3, 101 is a semiconductor laser as a pulsed light generating means, 102 is a half mirror, 103 and 106 lenses, 104 is a first photodetector, 105 and 108 are amplifiers, 107 is a second photodetector, and 109. Is a counter, 110 is an oscillator, 111 is a signal processing unit, and 112 is a control unit.

【0004】このような構成において、制御部112の
制御信号に応じて半導体レーザ101が所定の波長で発
振し、パルス状のレーザ光OPLが出射される。半導体
レーザ101の出射光OPLは、ハーフミラー102に
入射され、一部はハーフミラー102を透過し、レンズ
103を介しある広がりをもって本装置から被測定対象
物体2に向かって発射される。発射された光は、所定時
間(Δt/2)後に図示しない被測定対象物体に到達
し、たとえばそこに取り付けられた反射体で反射され
る。
In such a structure, the semiconductor laser 101 oscillates at a predetermined wavelength in response to a control signal from the controller 112, and a pulsed laser beam OPL is emitted. The emitted light OPL of the semiconductor laser 101 is incident on the half mirror 102, part of which passes through the half mirror 102, and is emitted from the device toward the object 2 to be measured with a certain spread through the lens 103. The emitted light reaches an object to be measured (not shown) after a predetermined time (Δt / 2) and is reflected by, for example, a reflector attached thereto.

【0005】また、半導体レーザ101の出射光の一部
はハーフミラー102で反射されて第1の光検出器10
4で受光される。第1の光検出器104では、受けた光
が受光レベルに応じた電気信号dt1に変換される。こ
の電気信号dt1は増幅器105で所定の増副作用を受
けた後、カウンタ109に入力される。カウンタ109
では、ある一定レベル以上の電気信号の最初の入力によ
りカウント動作が開始される。すなわち、初期状態にお
いて半導体レーザ101から最初のパルスレーザ光が出
射され、それに応じた電気信号の入力に伴い、カウンタ
109ではカウント動作が開始される。
Further, a part of the emitted light of the semiconductor laser 101 is reflected by the half mirror 102 and is reflected by the first photodetector 10.
Light is received at 4. In the first photodetector 104, the received light is converted into an electric signal dt1 according to the light receiving level. This electric signal dt1 is input to the counter 109 after being subjected to a predetermined side effect by the amplifier 105. Counter 109
Then, the counting operation is started by the first input of an electric signal having a certain level or higher. That is, in the initial state, the semiconductor laser 101 emits the first pulsed laser light, and the count operation is started in the counter 109 in accordance with the input of the electric signal corresponding thereto.

【0006】被測定対象物体に取り付けられた反射体に
より反射されたレーザ光は、反射されてから所定時間
(Δt/2)後に帰還し、レンズ106で集光されて第
2の光検出器107で受光される。第2の光検出器10
7では、受けた光が受光レベルに応じた電気信号dt2
に変換される。この電気信号は増幅器108で所定の増
副作用を受けた後、カウンタ109に入力される。カウ
ンタ109では、増幅器108の出力信号の入力に伴い
カウント動作が停される。これにより、カウンタ109
では、レーザ光発射から反射光が帰還するまでの時間Δ
tが計測されたことになる。カウンタ109の計測値
は、信号処理部111に入力される。
The laser light reflected by the reflector attached to the object to be measured returns after a predetermined time (Δt / 2) from the reflection, is condensed by the lens 106, and is then collected by the second photodetector 107. Is received by. Second photodetector 10
7, the received light is an electric signal dt2 corresponding to the received light level.
Is converted to. This electric signal is input to the counter 109 after being subjected to a predetermined side effect by the amplifier 108. In the counter 109, the counting operation is stopped when the output signal of the amplifier 108 is input. As a result, the counter 109
Then, the time from the emission of laser light to the return of reflected light Δ
This means that t has been measured. The measurement value of the counter 109 is input to the signal processing unit 111.

【0007】信号処理部111では、上記(1)式に基
づいて被測定対象物体2までの距離が算出され、距離デ
ータとして出力される。
The signal processing unit 111 calculates the distance to the object to be measured 2 based on the above equation (1) and outputs it as distance data.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した測
距装置では、図4(a) に示すように、反射体による反射
光の受光レベルが、第2の光検出器107や増幅器10
8により発生するノイズに対して十分高い場合には正確
に距離を算出できるものの、たとえば図4(b) に示すよ
うに、反射光レベルがノイズに対して十分に高いレベル
にない場合には、ノイズを反射光と誤認して検出するこ
とがあり、正確な距離の算出を行うことができない。第
2の光検出器107や増幅器108により発生するノイ
ズレベルより十分高い反射光レベルを得るには測定距離
に制約を受け、また、測定距離を延ばすには出力パワー
の大きい半導体レーザなどのパルス光発生手段を用いる
必要があり、コスト高になるなどの問題がある。
By the way, in the above-described distance measuring device, as shown in FIG. 4 (a), the light receiving level of the light reflected by the reflector is the second photodetector 107 or the amplifier 10.
Although it is possible to calculate the distance accurately when the noise generated by 8 is sufficiently high, but as shown in Fig. 4 (b), for example, when the reflected light level is not sufficiently high with respect to the noise, Noise may be erroneously detected as reflected light and detected, and accurate distance calculation cannot be performed. In order to obtain a reflected light level sufficiently higher than the noise level generated by the second photodetector 107 or the amplifier 108, the measurement distance is restricted, and in order to extend the measurement distance, pulsed light from a semiconductor laser or the like having a large output power is used. Since it is necessary to use a generating means, there is a problem that the cost becomes high.

【0009】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、低出力の光パルスで測定距離の
長距離化を図れ、安価で高性能な測距装置を提供するこ
とにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an inexpensive and high-performance distance measuring device capable of extending the measuring distance with a low-power optical pulse. is there.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、反射物体に対してパルス光を発射し、
その反射パルス光を検出して反射物体までの距離を測定
する測距装置であって、あらかじめ設定されたキーコー
ドに応じたパルス光を出射するパルス光発生手段と、上
記パルス光発生手段のパルス光出射開始からの時間を計
測する時間計測手段と、上記パルス光発生手段によるパ
ルス光のうち反射物体による反射パルス光を検出する光
検出手段と、上記パルス光出射毎に、クランプパルス信
号と当該クランプパルス信号の出力期間を示すゲート信
号の出力タイミングを切り替えて出力するクランプパル
ス遅延切替手段と、上記クランプパルス信号に基づい
て、上記光検出手段による検出信号に対するクランプ処
理を行うクランプ手段と、上記クランプ手段の出力信号
とあらかじめ設定したキーコード信号とを比較し、両者
が一致した場合にキーコード検知信号を出力するキーコ
ード信号識別手段と、上記クランプパルス遅延切替手段
によるゲート信号の入力期間に、上記キーコード信号識
別手段によるキーコード検知信号の入力があると、その
ゲート期間における上記時間計測手段の時間データに基
づいて距離の算出処理を行う信号処理手段とを有する。
In order to achieve the above object, in the present invention, pulsed light is emitted to a reflecting object,
A distance measuring device for measuring the distance to a reflecting object by detecting the reflected pulsed light, the pulsed light generating means for emitting pulsed light according to a preset key code, and the pulse of the pulsed light generating means. A time measuring means for measuring the time from the start of light emission, a light detecting means for detecting reflected pulsed light by a reflecting object among the pulsed light by the pulsed light generating means, and a clamp pulse signal for each pulsed light emission. Clamp pulse delay switching means for switching and outputting the output timing of the gate signal indicating the output period of the clamp pulse signal; clamp means for performing clamp processing on the detection signal by the photodetecting means based on the clamp pulse signal; The output signal of the clamp means is compared with the preset key code signal, and if both match, the key is When the key code signal identification means for outputting the code detection signal and the gate signal input period by the clamp pulse delay switching means have a key code detection signal input by the key code signal identification means, the time in the gate period And signal processing means for performing distance calculation processing based on time data of the measuring means.

【0011】[0011]

【作用】本発明によれば、パルス光発生手段が所定波長
で発振し、あらかじめ設定されたキーコードに対応する
パルス状の光が出射される。パルス光発生手段の出射光
は、たとえば所定時間(Δt/2)後に、たとえば被測
定対象物体に取り付けられた反射体に到達し、ここで反
射される。また、パルス光発生手段のパルス光出射開始
からの時間が時間計測手段により計測される。また、こ
のときクランプパルス遅延切替手段では、パルス光の出
射から所定時間経過後に、クランプパルス信号がクラン
プ手段に出力されるとともに、クランプパルス信号を出
力している期間のみゲート信号がキーコード信号識別手
段および信号処理手段に出力される。
According to the present invention, the pulsed light generating means oscillates at a predetermined wavelength, and the pulsed light corresponding to the preset key code is emitted. The light emitted from the pulsed light generation means reaches, for example, after a predetermined time (Δt / 2), a reflector attached to the object to be measured, and is reflected here. Further, the time from the start of pulsed light emission of the pulsed light generation means is measured by the time measurement means. Further, at this time, the clamp pulse delay switching means outputs the clamp pulse signal to the clamp means after a predetermined time has elapsed from the emission of the pulsed light, and the gate signal identifies the key code signal only while the clamp pulse signal is being output. And the signal processing means.

【0012】被測定対象物体で反射された光は、光検出
手段に到達し、ここで検出される。光検出手段では、受
光レベルに応じた信号が生成されてクランプ手段に出力
される。クランプ手段では、クランプパルス遅延切替手
段によるクランプパルス信号の入力に伴い、検出信号に
対するクランプ処理が行われ、クランプ処理された信号
はキーコード信号識別手段に出力される。キーコード信
号識別手段では、クランプパルス遅延切替手段によるゲ
ート信号の入力期間にクランプ手段によるクランプ信号
の入力があると、あらかじめ設定してあるキーコードと
クランプ信号との比較が行われ、両者が一致した場合に
はキーコード検知信号が生成されて信号処理手段に出力
される。信号処理手段では、ゲート信号の入力期間中に
キーコード信号識別手段によるキーコード検知信号が入
力されると、そのゲート期間中の時間計測手段による時
間データに基づいて、被測定対象物体までの距離が算出
される。
The light reflected by the object to be measured reaches the light detecting means and is detected there. The light detection means generates a signal corresponding to the light reception level and outputs it to the clamp means. In the clamp means, the clamp pulse signal is clamped by the clamp pulse delay switching means, and the clamped signal is output to the key code signal identifying means. In the key code signal identification means, when the clamp signal is input by the clamp means during the gate signal input period by the clamp pulse delay switching means, the preset key code and the clamp signal are compared, and the two match. In this case, the key code detection signal is generated and output to the signal processing means. In the signal processing means, when the key code detection signal by the key code signal identifying means is input during the input period of the gate signal, the distance to the object to be measured based on the time data by the time measuring means during the gate period. Is calculated.

【0013】[0013]

【実施例】図1は、本発明に係る測距装置の一実施例を
示すブロック構成図である。図1において、201はパ
ルス光発生手段としての半導体レーザ、202はハーフ
ミラー、203,207はレンズ、204は第1の光検
出器、205,209は増幅器、206はカウンタ、2
08は第2の光検出器、210はクランプ回路、211
は発振器、212は制御部、213は駆動信号発生部、
214はクランプパルス遅延切替部、215はデータ記
憶部、216はキーコード信号識別部、217は信号処
理部をそれぞれ示している。
1 is a block diagram showing an embodiment of a distance measuring device according to the present invention. In FIG. 1, 201 is a semiconductor laser as a pulsed light generating means, 202 is a half mirror, 203 and 207 are lenses, 204 is a first photodetector, 205 and 209 are amplifiers, 206 is a counter, 2
Reference numeral 08 is a second photodetector, 210 is a clamp circuit, 211
Is an oscillator, 212 is a controller, 213 is a drive signal generator,
Reference numeral 214 is a clamp pulse delay switching unit, 215 is a data storage unit, 216 is a key code signal identifying unit, and 217 is a signal processing unit.

【0014】半導体レーザ201は、所定の波長で発振
し、駆動信号発生部213による駆動信号DRに基づい
て所定のキーコード、たとえばディジタルの「110」
を示すパルス状の光OPL1 を出射する。ハーフミラー
202は、半導体レーザ201の出射光OPL1 が入射
され、出射光OPL1 の一部を透過させてレンズ203
に入射させ、一部を反射して第1の光検出器204の受
光部に入射させる。レンズ203は、ハーフミラー20
2を透過したレーザパルス光OPL1 に対して所定の広
がりを持たせて当該装置から図示しない被測定対象物体
に向かって発射させる。
The semiconductor laser 201 oscillates at a predetermined wavelength, and based on the drive signal DR from the drive signal generator 213, a predetermined key code, for example, digital "110".
The pulsed light OPL1 indicating The half mirror 202 receives the emitted light OPL1 of the semiconductor laser 201, transmits a part of the emitted light OPL1, and transmits the light to the lens 203.
To a light receiving portion of the first photodetector 204. The lens 203 is the half mirror 20.
The laser pulse light OPL1 that has passed through 2 is emitted toward the object to be measured (not shown) from the device with a predetermined spread.

【0015】第1の光検出器204は、ハーフミラー2
02で反射された半導体レーザ201によるレーザ光O
PL1 を受光し、その受光量に応じたレベルの電気信号
DT1 に変換し増幅器205に出力する。増幅器205
は、第1の光検出器204の出力信号DT1 を所定の利
得をもって増幅しカウンタ206に出力する。カウンタ
206は、増幅器205を介した第1の光検出器204
の出力信号DT1 を受けてカウント動作、すなわちパル
ス光OPL1 の出射開始からの時間計測を開始し、発振
器211による基準信号CLKに基づいてカウントアッ
プし、計測時間を示すカウント値をデータ記憶部215
に出力する。また、カウンタ206は、制御部212に
よるリセット信号RSTによりリセットされる。
The first photodetector 204 is a half mirror 2
Laser light O from the semiconductor laser 201 reflected by 02
PL1 is received, converted into an electric signal DT1 having a level corresponding to the amount of received light, and output to the amplifier 205. Amplifier 205
Outputs the output signal DT1 of the first photodetector 204 to the counter 206 after amplifying it with a predetermined gain. The counter 206 includes the first photodetector 204 via the amplifier 205.
Receiving the output signal DT1 of the pulse light OPL1, the time measurement from the start of the emission of the pulsed light OPL1 is started, the counter 211 counts up based on the reference signal CLK from the oscillator 211, and the count value indicating the measurement time is stored in the data storage unit 215.
Output to. The counter 206 is reset by the reset signal RST from the control unit 212.

【0016】レンズ207は、半導体レーザ201の出
射光OPL1 のうち図示しない被測定対象物体や障害物
で反射されて帰還した光を集光し、第2の光検出器20
8の受光部に入射させる。第2の光検出器208は、レ
ンズ207で集光された光を受光し、その受光量に応じ
たレベルの電気信号DT2 に変換し増幅器209に出力
する。増幅器209は、第2の光検出器208の出力信
号DT2 を所定の利得をもって増幅しクランプ回路21
0に出力する。
The lens 207 collects the light, which is reflected by an object to be measured or an obstacle (not shown) and returned from the emitted light OPL1 of the semiconductor laser 201, and collects the second light detector 20.
The light is incident on the light receiving unit of No. The second photodetector 208 receives the light condensed by the lens 207, converts it into an electric signal DT2 of a level corresponding to the amount of received light, and outputs it to the amplifier 209. The amplifier 209 amplifies the output signal DT2 of the second photodetector 208 with a predetermined gain and clamps the clamp circuit 21.
Output to 0.

【0017】クランプ回路210は、たとえばキャパシ
タC、スイッチング素子SWおよび定電圧源VB からな
り、クランプパルス遅延切替部214によるクランプパ
ルス信号CLPの入力に伴い、増幅器209を介した第
2の光検出器208の出力信号DT2 をクランプし、ク
ランプ信号CLとしてデータ記憶部215およびキーコ
ード信号識別部216に出力する。
The clamp circuit 210 is composed of, for example, a capacitor C, a switching element SW and a constant voltage source VB, and when the clamp pulse signal CLP is input by the clamp pulse delay switching section 214, a second photodetector via an amplifier 209 is provided. The output signal DT2 of 208 is clamped and output as a clamp signal CL to the data storage section 215 and the key code signal identifying section 216.

【0018】発振器211は、所定周波数の基準クロッ
ク信号CLKをカウンタ206、駆動信号発生部21
3、データ記憶部215およびキーコード信号識別部2
16に出力する。
The oscillator 211 uses a reference clock signal CLK having a predetermined frequency as a counter 206 and a drive signal generator 21.
3, data storage unit 215 and key code signal identification unit 2
Output to 16.

【0019】制御部212は、信号CTL1 を駆動信号
発生部213に出力して駆動信号DRの出力制御を行う
とともに、信号CTL2 をクランプパルス遅延切替部2
14に出力してクランプパルス信号CLPの出力遅延タ
イミング(たとえば100ns)を与え、また、リセッ
ト信号RSTをカウンタ206に出力してカウンタリセ
ット制御を行い、スタート信号SRTを信号処理部21
7に出力して信号処理開始制御を行う。
The control unit 212 outputs the signal CTL1 to the drive signal generation unit 213 to control the output of the drive signal DR and outputs the signal CTL2 to the clamp pulse delay switching unit 2 as well.
14 to give an output delay timing (for example, 100 ns) of the clamp pulse signal CLP, and also to output a reset signal RST to the counter 206 to perform counter reset control, and to output a start signal SRT to the signal processing unit 21.
7 to control the start of signal processing.

【0020】駆動信号発生部213は、制御部212に
よる制御信号CTL1 を受けて「110」を示すパルス
信号を発振するように駆動信号DRを半導体レーザ20
1に出力するとともに、駆動信号DRを出力したことを
クランプパルス遅延切替部214に信号S213 により知
らせる。
The drive signal generator 213 receives the control signal CTL1 from the controller 212 and outputs the drive signal DR to the semiconductor laser 20 so as to oscillate a pulse signal indicating "110".
In addition to the output to 1, the clamp pulse delay switching unit 214 is notified by the signal S213 that the drive signal DR has been output.

【0021】クランプパルス遅延切替部214は、信号
S213 の入力してから制御信号CTL2 で指示された遅
延時間分だけ遅延させて、すなわちパルス信号OPL1
の出力から、たとえば100ns後に3つのパルスから
なるクランプパルス信号CLPをクランプ回路210に
出力するとともに、クランプパルス信号CLPを出力し
ている期間のみゲート信号GTをデータ記憶部215、
キーコード信号識別部216および信号処理部217に
出力する。
The clamp pulse delay switching section 214 delays the input of the signal S213 by the delay time indicated by the control signal CTL2, that is, the pulse signal OPL1.
From the output of the clamp pulse signal CLP consisting of three pulses after 100 ns to the clamp circuit 210, and the gate signal GT is output to the data storage unit 215 only during the period when the clamp pulse signal CLP is being output.
It is output to the key code signal identifying unit 216 and the signal processing unit 217.

【0022】データ記憶部215は、クランプパルス遅
延切替部214によるゲート信号GTの入力期間にクラ
ンプ回路210によるクランプ信号CLの入力がある
と、カウンタ206のカウント値、すなわち計測時間を
取り込んで記憶する。
When the clamp circuit 210 inputs the clamp signal CL during the input period of the gate signal GT by the clamp pulse delay switching unit 214, the data storage unit 215 captures and stores the count value of the counter 206, that is, the measurement time. .

【0023】キーコード信号識別部216は、クランプ
パルス遅延切替部214によるゲート信号GTの入力期
間にクランプ回路210によるクランプ信号CLの入力
があると、あらかじめ設定してあるキー信号「110」
とクランプ信号CLとを比較し、入力クランプ信号がデ
ィジタルで「110」を示す場合には、キーコード検知
信号KDを信号処理部217に出力する。
When the clamp circuit 210 inputs the clamp signal CL during the input period of the gate signal GT by the clamp pulse delay switching unit 214, the key code signal identifying unit 216 sets a preset key signal "110".
And the clamp signal CL are compared, and when the input clamp signal digitally indicates “110”, the key code detection signal KD is output to the signal processing unit 217.

【0024】信号処理部217は、スタート信号SRT
の入力により処理を開始し、ゲート信号GTの入力期間
中にキーコード信号識別部216によるキーコード検知
信号KDを入力すると、そのゲート期間中にデータ記憶
部215に記憶されたカウンタ206による計測時間デ
ータΔtを読み出し、述した(1)式{R=(C・Δ
t)/2}に基づいて被測定対象物体までの距離を算出
し、距離データとして出力する。
The signal processing unit 217 has a start signal SRT.
When the key code detection signal KD by the key code signal identifying unit 216 is input during the input period of the gate signal GT, the measurement time by the counter 206 stored in the data storage unit 215 during the gate period is started. The data Δt is read and the above-mentioned expression (1) {R = (C · Δ
The distance to the object to be measured is calculated based on t) / 2} and is output as distance data.

【0025】次に、上記構成による動作を、図2を用い
て説明する。制御部212の制御に基づく駆動信号発生
部213の出力駆動信号DRに応じて半導体レーザ20
1が所定波長で発振し、キーコード「110」に対応す
るパルス状のレーザ光OPL1 が出射される。半導体レ
ーザ201の出射光OPL1 は、ハーフミラー202に
入射され、一部はハーフミラー202を透過し、レンズ
203を介しある広がりをもって本装置から図示しない
被測定対象物体に向かって発射される。発射された光O
PL1 は、たとえば所定時間(Δt/2)後に、たとえ
ば被測定対象物体に取り付けられた反射体に到達し、こ
こで反射される。
Next, the operation of the above configuration will be described with reference to FIG. According to the output drive signal DR of the drive signal generation unit 213 based on the control of the control unit 212, the semiconductor laser 20
1 oscillates at a predetermined wavelength, and a pulsed laser beam OPL1 corresponding to the key code "110" is emitted. The emitted light OPL1 from the semiconductor laser 201 is incident on the half mirror 202, part of which is transmitted through the half mirror 202, and is emitted from the present apparatus toward an object to be measured (not shown) through the lens 203 with a certain spread. Light O that was fired
PL1 reaches, for example, after a predetermined time (Δt / 2), a reflector attached to the object to be measured and is reflected here.

【0026】また、半導体レーザ201の出射光OPL
1 の一部はハーフミラー202で反射されて第1の光検
出器204で受光される。第1の光検出器204では、
受けた光が受光レベルに応じた電気信号DT1に変換さ
れる。この電気信号DT1は増幅器205で所定の増副
作用を受けた後、カウンタ206に入力される。カウン
タ206では、ある一定レベル以上の電気信号の最初の
入力によりカウント動作が開始される。すなわち、初期
状態において半導体レーザ201から最初のパルスレー
ザ光が出射され、それに応じた電気信号の入力に伴い、
カウンタ206ではカウント動作、すなわちパルスレー
ザ光OPL1 の出射開始からの時間の計測が開始され
る。
Further, the emitted light OPL of the semiconductor laser 201
Part of 1 is reflected by the half mirror 202 and received by the first photodetector 204. In the first photodetector 204,
The received light is converted into an electric signal DT1 according to the received light level. The electric signal DT1 is input to the counter 206 after being subjected to a predetermined side effect by the amplifier 205. In the counter 206, the counting operation is started by the first input of an electric signal having a certain level or higher. That is, in the initial state, the semiconductor laser 201 emits the first pulsed laser light, and with the input of an electric signal corresponding thereto,
The counter 206 starts counting operation, that is, measurement of time from the start of emission of the pulsed laser light OPL1.

【0027】また、このとき駆動信号発生部213より
信号S213 がクランプパルス遅延切替部214に出力さ
れると同時に、制御部212からパルス光OPL1 の出
射から所定時間( たとえば100ns)だけ遅延させた
時間にクランプパルスCLPを出力するように指示する
制御信号CTL2 がクランプパルス遅延切替部214に
出力される。
At this time, the signal S213 is output from the drive signal generating section 213 to the clamp pulse delay switching section 214, and at the same time, the control section 212 delays a predetermined time (for example, 100 ns) from the emission of the pulsed light OPL1. A control signal CTL2 instructing to output the clamp pulse CLP is output to the clamp pulse delay switching unit 214.

【0028】クランプパルス遅延切替部214では、信
号S213 を入力してから制御信号CTL2 で指示された
遅延時間分だけ遅延させて、すなわちパルス信号OPL
1 の出力から、たとえば100ns後に、図2(b) に示
すような3つのパルスからなるクランプパルス信号CL
Pがクランプ回路210に出力されるとともに、クラン
プパルス信号CLPを出力している期間のみゲート信号
GTがデータ記憶部215、キーコード信号識別部21
6および信号処理部217に出力される。
In the clamp pulse delay switching unit 214, the signal S213 is inputted and then delayed by the delay time designated by the control signal CTL2, that is, the pulse signal OPL.
For example, 100 ns after the output of 1, the clamp pulse signal CL consisting of three pulses as shown in FIG.
The gate signal GT is output to the data storage unit 215 and the key code signal identifying unit 21 only while P is output to the clamp circuit 210 and the clamp pulse signal CLP is output.
6 and the signal processing unit 217.

【0029】被測定対象物体で反射された光は、反射さ
れてから所定時間(Δt/2)後にレンズ207に到達
し、レンズ207で集光されて第2の光検出器208で
受光される。第2の光検出器208では、受けた光が受
光レベルに応じた電気信号DT2 に変換される。この電
気信号は増幅器209で所定の増副作用を受けた後、図
2中(a) に示すようなレベルをもってクランプ回路21
0に入力される。
The light reflected by the object to be measured reaches the lens 207 a predetermined time (Δt / 2) after being reflected, is condensed by the lens 207, and is received by the second photodetector 208. . The second photodetector 208 converts the received light into an electric signal DT2 according to the light receiving level. This electric signal is subjected to a predetermined increase side effect by the amplifier 209, and then, the clamp circuit 21 has a level as shown in (a) of FIG.
Input to 0.

【0030】クランプ回路210では、クランプパルス
遅延切替部214によるクランプパルス信号CLPの入
力に伴い、増幅器209を介した第2の光検出器208
の出力信号DT2 に対するクランプ処理が行われ、図2
(b) に示すようなクランプ信号CLとしてデータ記憶部
215およびキーコード信号識別部216に出力され
る。
In the clamp circuit 210, when the clamp pulse delay switching unit 214 inputs the clamp pulse signal CLP, the second photodetector 208 via the amplifier 209 is input.
Clamp processing is performed on the output signal DT2 of FIG.
The clamp signal CL as shown in (b) is output to the data storage unit 215 and the key code signal identification unit 216.

【0031】データ記憶部215は、クランプパルス遅
延切替部214によるゲート信号GTの入力期間にクラ
ンプ回路210によるクランプ信号CLの入力がある
と、カウンタ206のカウント値、すなわち計測時間が
取り込まれて記憶される。
The data storage unit 215 stores the count value of the counter 206, that is, the measurement time, when the clamp signal 210 is input by the clamp circuit 210 during the input period of the gate signal GT by the clamp pulse delay switching unit 214. To be done.

【0032】また、キーコード信号識別部216では、
クランプパルス遅延切替部214によるゲート信号GT
の入力期間にクランプ回路210によるクランプ信号C
Lの入力があると、あらかじめ設定してあるキー信号
「110」とクランプ信号CLとの比較が行われ、入力
クランプ信号がディジタルで「110」を示す場合に
は、キーコード検知信号KDが生成されて信号処理部2
17に出力される。
Further, in the key code signal identifying section 216,
Gate signal GT by clamp pulse delay switching unit 214
Of the clamp signal C by the clamp circuit 210 during the input period of
When L is input, the preset key signal “110” is compared with the clamp signal CL, and when the input clamp signal digitally indicates “110”, the key code detection signal KD is generated. Signal processing unit 2
It is output to 17.

【0033】信号処理部217では、制御部212によ
るスタート信号SRTの入力により処理が開始され、ゲ
ート信号GTの入力期間中にキーコード信号識別部21
6によるキーコード検知信号KDが入力されると、その
ゲート期間中にデータ記憶部215に記憶されたカウン
タ206による計測時間データΔtが読み出され、
(1)式に基づいて被測定対象物体までの距離が算出さ
れ、距離データが出力される。
In the signal processing unit 217, the processing is started by the input of the start signal SRT from the control unit 212, and the key code signal identifying unit 21 is input during the input period of the gate signal GT.
When the key code detection signal KD by 6 is input, the measurement time data Δt by the counter 206 stored in the data storage unit 215 during the gate period is read,
The distance to the object to be measured is calculated based on the equation (1), and the distance data is output.

【0034】なお、クランプパルス遅延切替部214で
は、制御部212の制御信号CTL2 に基づいて、1回
の測定毎にクランプパルス信号CLPとゲート信号GT
の出力タイミングが切り替えられる。これにより、クラ
ンプ回路210およびキーコード信号識別部216にお
いて反射パルス光のおけるキーコードの有無が走査さ
れ、距離の算出が行われる。
In the clamp pulse delay switching unit 214, the clamp pulse signal CLP and the gate signal GT are measured for each measurement based on the control signal CTL2 from the control unit 212.
Output timing is switched. As a result, the clamp circuit 210 and the key code signal identifying section 216 scan for the presence or absence of a key code in the reflected pulse light, and the distance is calculated.

【0035】以上説明したように、本実施例によれば、
半導体レーザ201から出射するパルス光OPL1 にあ
らかじめ設定したキーコードを付与し、クランプパルス
遅延切替部214で、制御部212の制御信号CTL2
に基づいて、1回の測定毎にクランプパルス信号CLP
とゲート信号GTとの出力タイミングを切り替えて、ク
ランプ回路210およびキーコード信号識別部216に
おいて反射パルス光におけるキーコードの有無を走査す
ることにより、時間データ取り込みの最適なタイミング
を得、このタイミングで得た時間データに基づいて距離
の算出を行うように構成したので、第2の光検出器20
8や増幅器209に基づくノイズの影響を防止でき、ひ
いては、低出力の光パルスで測定距離の長距離化を図
れ、安価で高性能な測距装置を実現できる。
As described above, according to this embodiment,
A preset key code is added to the pulsed light OPL1 emitted from the semiconductor laser 201, and the clamp pulse delay switching unit 214 controls the control signal CTL2 of the control unit 212.
Clamp pulse signal CLP for each measurement based on
The output timings of the gate signal GT and the gate signal GT are switched, and the clamp circuit 210 and the key code signal identifying unit 216 scan for the presence or absence of a key code in the reflected pulse light to obtain the optimum timing for capturing the time data. Since the distance is calculated based on the obtained time data, the second photodetector 20
8 and the amplifier 209 can prevent the influence of noise, and can extend the measurement distance with a low-output optical pulse, and realize an inexpensive and high-performance distance measuring device.

【0036】なお、本実施例においては、パルス光発生
手段として半導体レーザを用いた例を説明したが、これ
に限定されるものではなく、たとえば発光ダイオードな
どでも、ある程度の出力パワーを有するものであれば適
用可能であり、上述したと同様の効果を得ることができ
る。また、本実施例では、キーコードとして「110」
を例に説明したが、種々の態様が可能であることは勿論
である。
In the present embodiment, an example in which a semiconductor laser is used as the pulsed light generating means has been described, but the present invention is not limited to this, and for example, a light emitting diode or the like has a certain output power. If it is applicable, it is possible to obtain the same effect as described above. Further, in this embodiment, the key code is "110".
However, it is needless to say that various modes are possible.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
低出力の光パルスで測定距離の長距離化を図れ、安価で
高性能な測距装置を実現できる。
As described above, according to the present invention,
A low output optical pulse can be used to extend the measurement distance, and an inexpensive and high-performance distance measuring device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る測距装置の一実施例を示すブロッ
ク構成図である。
FIG. 1 is a block configuration diagram showing an embodiment of a distance measuring device according to the present invention.

【図2】本発明に係る動作を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining an operation according to the present invention.

【図3】従来の測距装置のブロック構成図である。FIG. 3 is a block configuration diagram of a conventional distance measuring device.

【図4】従来装置の課題を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining a problem of the conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

201…半導体レーザ 202…ハーフミラー 203,207…レンズ 204…第1の光検出器 205,209…増幅器 206…カウンタ 208…第2の光検出器 210…クランプ回路 211…発振器 212…制御部 213…駆動信号発生部 214…クランプパルス遅延切替部 215…データ記憶部 21…キーコード信号識別部 217…信号処理部 201 ... Semiconductor laser 202 ... Half mirror 203,207 ... Lens 204 ... First photodetector 205,209 ... Amplifier 206 ... Counter 208 ... Second photodetector 210 ... Clamp circuit 211 ... Oscillator 212 ... Control section 213 ... Drive signal generation unit 214 ... Clamp pulse delay switching unit 215 ... Data storage unit 21 ... Key code signal identification unit 217 ... Signal processing unit

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 反射物体に対してパルス光を発射し、そ
の反射パルス光を検出して反射物体までの距離を測定す
る測距装置であって、 あらかじめ設定されたキーコードに応じたパルス光を出
射するパルス光発生手段と、 上記パルス光発生手段のパルス光出射開始からの時間を
計測する時間計測手段と、 上記パルス光発生手段によるパルス光のうち反射物体に
よる反射パルス光を検出する光検出手段と、 上記パルス光出射毎に、クランプパルス信号と当該クラ
ンプパルス信号の出力期間を示すゲート信号の出力タイ
ミングを切り替えて出力するクランプパルス遅延切替手
段と、 上記クランプパルス信号に基づいて、上記光検出手段に
よる検出信号に対するクランプ処理を行うクランプ手段
と、 上記クランプ手段の出力信号とあらかじめ設定したキー
コード信号とを比較し、両者が一致した場合にキーコー
ド検知信号を出力するキーコード信号識別手段と、 上記クランプパルス遅延切替手段によるゲート信号の入
力期間に、上記キーコード信号識別手段によるキーコー
ド検知信号の入力があると、そのゲート期間における上
記時間計測手段の時間データに基づいて距離の算出処理
を行う信号処理手段とを有することを特徴とする測距装
置。
1. A distance measuring device that emits pulsed light to a reflective object, detects the reflected pulsed light, and measures the distance to the reflective object, the pulsed light corresponding to a preset key code. Pulse light generating means for emitting the pulse light, time measuring means for measuring the time from the pulse light emitting start of the pulse light generating means, and light for detecting the pulse light reflected by the reflecting object in the pulse light by the pulse light generating means. Detection means, clamp pulse delay switching means for switching and outputting the output timing of the clamp pulse signal and the gate signal indicating the output period of the clamp pulse signal for each pulsed light emission, and based on the clamp pulse signal, Clamping means for performing clamp processing on the detection signal by the light detecting means, and the output signal of the above-mentioned clamping means are set in advance. And a key code signal identifying means for outputting a key code detection signal when both match, and the key code signal identifying means for inputting a gate signal by the clamp pulse delay switching means. A distance measuring device comprising: a signal processing means for calculating a distance based on time data of the time measuring means in the gate period when a key code detection signal is input.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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