JPH07122583A - Manufacture of semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus - Google Patents

Manufacture of semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus

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JPH07122583A
JPH07122583A JP26707893A JP26707893A JPH07122583A JP H07122583 A JPH07122583 A JP H07122583A JP 26707893 A JP26707893 A JP 26707893A JP 26707893 A JP26707893 A JP 26707893A JP H07122583 A JPH07122583 A JP H07122583A
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JP
Japan
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semiconductor
adhesive member
tape
semiconductor wafer
wafer
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JP26707893A
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Japanese (ja)
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Toshiaki Suzuki
利秋 鈴木
Yoichi Edo
陽一 江戸
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To expand a piece of tape, to which a semiconductor wafer is bonded, smoothly and securely between chips with regard to the manufacturing method of a semiconductor device including a step for supplying the chip obtained by dicing from the semiconductor wafer in the manufacture of a semiconductor. CONSTITUTION:A piece of tape 13, which is held with a wafer ring 12, is supported and fixed with a ring holder 24a and a clamper 25. The tape 13 is pushed to a bearing roller 32 of an expanding pawl 23 and elongated in this constitution.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造における半
導体ウエハよりダイシングしたチップを供給する工程を
含む半導体装置の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor device including a step of supplying chips diced from a semiconductor wafer in semiconductor manufacturing.

【0002】近年、半導体チップの高集積化、微小化に
より一枚の半導体ウエハに形成される半導体チップが増
加する傾向にある。この半導体チップをダイスボンディ
ングするにあたり、半導体ウエハより一チップをピック
アップする場合に隣接する半導体チップにダメージを与
えることを防止する必要がある。
In recent years, the number of semiconductor chips formed on one semiconductor wafer tends to increase due to the high integration and miniaturization of semiconductor chips. In dicing this semiconductor chip, it is necessary to prevent damage to adjacent semiconductor chips when picking up one chip from a semiconductor wafer.

【0003】[0003]

【従来の技術】図4に、半導体ウエハの説明図を示す。
図4(A)において、半導体ウエハ11を保持するため
のウエハリング12にポリイミドやアクリル系のテープ
13がその円周でウエハリング12に接着固定される。
そして、ウエハリング12内のテープ13上に所定の処
理が施された半導体ウエハ11が接着固定される。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is an explanatory view of a semiconductor wafer.
In FIG. 4A, a polyimide or acrylic tape 13 is bonded and fixed to the wafer ring 12 around the circumference of the wafer ring 12 for holding the semiconductor wafer 11.
Then, the semiconductor wafer 11 which has been subjected to a predetermined process is adhered and fixed onto the tape 13 in the wafer ring 12.

【0004】この半導体ウエハ11はダイシング装置で
スクライブラインに沿って切断される。切断はいわゆる
フルカット方式であり、半導体ウエハ11を完全に切断
し、テープ13を途中まで切断して個々の半導体チップ
11aに分離する。そして、この状態でダイスボンディ
ング装置に供給される。
This semiconductor wafer 11 is cut along a scribe line by a dicing device. The cutting is a so-called full-cut method, in which the semiconductor wafer 11 is completely cut and the tape 13 is cut halfway to be separated into individual semiconductor chips 11a. Then, in this state, it is supplied to the die bonding apparatus.

【0005】ダイスボンディング装置では、テープ13
上の半導体チップ11aを個々にピックアップし、例え
ばリードフレームのステージ上にダイス付けする。この
場合のピックアップする際に、隣接する半導体チップへ
のダメージを保護する目的から、図4(B)に示すよう
にテープ13を引き延ばし、半導体チップ11a間の距
離を確保する。
In the die bonding apparatus, the tape 13
The upper semiconductor chips 11a are individually picked up and die-attached, for example, on a stage of a lead frame. At the time of picking up in this case, the tape 13 is extended as shown in FIG. 4B to secure the distance between the semiconductor chips 11a in order to protect the adjacent semiconductor chips from damage.

【0006】ここで、図5に、従来のテープ拡張方法の
説明図を示す。図5(A)において、基台14上に円筒
状の拡張爪15が設けられ、拡張爪15の上方に枠状の
上下動自在な押圧部16が配置される。
FIG. 5 shows an explanatory view of a conventional tape expansion method. In FIG. 5A, a cylindrical expansion claw 15 is provided on the base 14, and a frame-shaped vertically movable pressing portion 16 is arranged above the expansion claw 15.

【0007】そして、拡張爪15上に、図4(A)に示
すウエハリング12が位置され、押圧部16が下降して
ウエハリング12を押下させると、図5(B)に示すよ
うにテープ13が拡張爪15により引き延ばされて図4
(B)に示すように半導体チップ11a間に間隙が形成
されるものである。
Then, when the wafer ring 12 shown in FIG. 4A is positioned on the expansion claw 15 and the pressing portion 16 descends to press the wafer ring 12, the tape as shown in FIG. 5B is obtained. 13 is extended by the extension claw 15 and is shown in FIG.
As shown in (B), a gap is formed between the semiconductor chips 11a.

【0008】この場合、拡張爪15の先端外周部分を曲
面形状(曲率R)に形成すると共に、この部分を摩擦を
小さくするために滑面処理することにより、テープ13
上への局部的なストレスを緩和させている。
In this case, the tape 13 is formed by forming the outer peripheral portion of the tip of the expansion claw 15 into a curved shape (curvature R) and subjecting this portion to a smooth surface treatment to reduce friction.
It relieves the local stress on the top.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかし、一般にテープ
13の接着強度は半導体ウエハ11に対応して決定され
るもので、図5に示すような拡張方法では、ウエハリン
グ12とテープ13との接着強度が不十分または不安定
の場合、ウエハリング12よりテープ13が剥がれると
いう問題がある。
However, the adhesive strength of the tape 13 is generally determined corresponding to the semiconductor wafer 11, and in the expansion method shown in FIG. 5, the adhesive strength between the wafer ring 12 and the tape 13 is determined. When the strength is insufficient or unstable, there is a problem that the tape 13 is peeled off from the wafer ring 12.

【0010】また、拡張爪15の先端を曲面形状として
いるが、テープ13の材質によっては亀裂が生じたり、
円滑な拡張を行うことができないという問題がある。
Further, although the tip of the expansion claw 15 has a curved shape, cracks may occur depending on the material of the tape 13,
There is a problem that smooth expansion cannot be performed.

【0011】さらに、テープ13は拡張爪15の部分で
最も引き延ばされることとなり、拡張爪15との摩擦抵
抗により拡張爪15とウエハリング12間のテープ13
の延び率が増大してウエハリング12よりテープ13が
剥がれ易くなるという問題がある。
Further, the tape 13 is stretched most at the portion of the expansion claw 15, and the tape 13 between the expansion claw 15 and the wafer ring 12 due to the frictional resistance with the expansion claw 15.
There is a problem that the tape 13 is easily peeled off from the wafer ring 12 due to an increase in the elongation rate of the tape.

【0012】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされた
もので、半導体ウエハが接着されるテープを円滑かつ確
実にチップ間拡張させる半導体装置の製造方法を提供す
ることを目的とする。
Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a method of manufacturing a semiconductor device in which a tape to which a semiconductor wafer is bonded is smoothly and surely expanded between chips.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、保持部に保持された接着部材に接着固定された半導
体ウエハをダイシングし、それぞれの半導体チップをダ
イス付けのために供給する工程を含む半導体装置の製造
方法において、前記接着部材の前記保持部での保持部分
を押圧部に支持固定させる工程と、該接着部材の前記半
導体ウエハの外側部分に対応して配置され、該接着部材
の当接部分に回転部材が設けられた拡張部に、該押圧部
により該回転部材を回転させながら該接着部材を押圧し
て前記半導体チップ間に間隙を形成させる。
In order to solve the above problems, a step of dicing a semiconductor wafer adhered and fixed to an adhesive member held by a holder and supplying each semiconductor chip for dicing In a method of manufacturing a semiconductor device including: a step of supporting and fixing a holding portion of the adhesive member in the holding portion to a pressing portion, and a step of arranging the adhesive member corresponding to an outer portion of the semiconductor wafer of the adhesive member. A gap is formed between the semiconductor chips by pressing the adhesive member while the rotating member is being rotated by the pressing portion against the expansion portion provided with the rotating member at the contact portion.

【0014】また、この製造方法を実装する半導体装置
は、押圧部と、前記接着部材の前記保持部での保持部分
を該押圧部に支持固定させる支持部と、該押圧部により
該接着部材を引延させるものであって、該接着部材の前
記半導体ウエハの外側部分に対応して配置され、該接着
部材の当接部分に回転部材が設けられた拡張部とにより
構成される。
Further, in a semiconductor device in which this manufacturing method is mounted, a pressing portion, a support portion for supporting and fixing the holding portion of the adhesive member in the holding portion to the pressing portion, and the adhesive member by the pressing portion. It is made to be stretched, and it is arranged corresponding to the outer portion of the semiconductor wafer of the adhesive member, and is constituted by an expansion portion provided with a rotating member at the contact portion of the adhesive member.

【0015】[0015]

【作用】上述のように、保持部に保持された接着部材を
支持部により押圧部に支持固定され、該接着部材が拡張
部に押圧されることにより引き延ばされて半導体チップ
間に間隙が形成される。すなわち、接着部材を支持部で
支持固定していることから、接着強度に拘らず保持部か
らの剥がれを防止することが可能となる。
As described above, the adhesive member held by the holding unit is supported and fixed to the pressing unit by the supporting unit, and the adhesive member is extended by being pressed by the expansion unit to form a gap between the semiconductor chips. It is formed. That is, since the adhesive member is supported and fixed by the supporting portion, it is possible to prevent the adhesive member from peeling off from the holding portion regardless of the adhesive strength.

【0016】また、拡張部における接着部材の当接部分
に回転部材が設けられていることから、該接着部材の引
き延ばし時にかかる応力が拡散し、全体的にむらなく広
げることが可能となる。
Further, since the rotating member is provided at the contacting portion of the adhesive member in the expanded portion, the stress applied when the adhesive member is stretched is diffused, and it is possible to spread it evenly.

【0017】このように、半導体ウエハが接着される接
着部材を円滑かつ確実にチップ間を拡張させることが可
能となるものである。
As described above, it is possible to smoothly and surely expand the space between the chips to which the semiconductor wafer is bonded.

【0018】[0018]

【実施例】図1に、本発明の一実施例の構成図を示す。
図1は、半導体製造における半導体製造装置としてのテ
ープ引延ばし装置を示したものである。なお、図中、半
導体ウエハ部分については図4(A)と同一であり、同
一符号を付す。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a block diagram of an embodiment of the present invention.
FIG. 1 shows a tape stretching device as a semiconductor manufacturing device in semiconductor manufacturing. In addition, in the figure, the semiconductor wafer portion is the same as that in FIG.

【0019】すなわち、図1において、ドーナツ状の保
持部であるウエハリング12内に接着保持されたポリイ
ミドやアクリル系等の接着部材であるテープ13に半導
体ウエハ11が接着固定されており、これがダイシング
装置により所定数の半導体チップ11aにダイシング
(フルカット方式)されたものである。
That is, in FIG. 1, a semiconductor wafer 11 is adhesively fixed to a tape 13 which is an adhesive member made of polyimide or acrylic and is adhesively held in a wafer ring 12 which is a donut-shaped holding portion. The device is diced into a predetermined number of semiconductor chips 11a (full-cut method).

【0020】そして、図1において、テープ引延ばし装
置21は、基台22上に拡張部である拡張爪23(図2
において説明する)が設けられる。この拡張爪23はテ
ープ13の半導体ウエハ11の外側部分に当接するよう
に配置される。拡張爪23の上方には、エアシリンダ等
により上下動自在な枠状の押圧部であるリングホルダ2
4が配置される。そして、リングホルダ24の下方に支
持部であるクランパ25が設けられる。
In FIG. 1, the tape stretching device 21 has an expansion claw 23 (FIG. 2) which is an expansion part on a base 22.
Will be described). The expansion claw 23 is arranged so as to abut the outer portion of the tape 13 on the semiconductor wafer 11. Above the expansion claw 23, the ring holder 2 that is a frame-shaped pressing portion that can be moved up and down by an air cylinder or the like.
4 are arranged. A clamper 25, which is a support portion, is provided below the ring holder 24.

【0021】ここで、図2に、本発明の拡張爪の説明図
を示す。図2(A),(B)にそれぞれ別態様の拡張爪
が示される。図2(A)において、拡張爪23A は、円
筒部材31の先端に回転部材であるベアリングローラ3
2が略環状に所定数連設されたものである。このベアリ
ングローラ32は、その外形が図5の拡張爪先端と同様
に曲率Rの曲面状であり、円筒部材31の環状内外方向
に回転自在に設けられる。
Here, FIG. 2 shows an explanatory view of the expansion claw of the present invention. 2 (A) and 2 (B) show different types of expansion claws. In FIG. 2 (A), the expansion claw 23 A is provided at the tip of the cylindrical member 31 with the bearing roller 3 which is a rotating member.
Reference numeral 2 is a substantially annularly-arranged unit. The outer shape of the bearing roller 32 is a curved surface having a curvature R like the tip of the expansion claw in FIG. 5, and is rotatably provided in the annular inner and outer directions of the cylindrical member 31.

【0022】この場合、各ベアリングローラ32間の隙
間は、当該ベアリングローラ32の径より小さい間隔で
配置される。
In this case, the gap between the bearing rollers 32 is smaller than the diameter of the bearing roller 32.

【0023】例えば、6インチの半導体ウエハ11が対
象の場合は、円筒部材31は内径約200mmφの大きさ
で拡張爪23A が形成される。図1ではこの拡張爪23
A を採用した場合を示している。
For example, when the target is a 6-inch semiconductor wafer 11, the expansion claw 23 A is formed on the cylindrical member 31 with an inner diameter of about 200 mmφ. In FIG. 1, this expansion claw 23
The case where A is adopted is shown.

【0024】また、図2(B)に示す拡張爪23B は、
四角筒部材33上の各辺に軸方向長形のベアリングロー
ラ34を略環状にそれぞれ配置したものである。このベ
アリングローラ34の外形は、上述と同様に曲率Rの曲
面状であり、環状内外方向に回転自在に設けられる。こ
の場合、四隅部分は不要であり、削除した形状としてい
る。
Further, the expansion claw 23 B shown in FIG.
Along the square tube member 33, axially long bearing rollers 34 are arranged in a substantially annular shape. The outer shape of the bearing roller 34 is a curved surface having a curvature R as described above, and is rotatably provided in the annular inner and outer directions. In this case, the four corners are unnecessary and have a deleted shape.

【0025】なお、図2(A),(B)は略円形状、四
角形状にベアリングローラを配置しているが、多角形状
に配置してもよいことはもちろんである。
Although the bearing rollers are arranged in a substantially circular shape or a quadrangular shape in FIGS. 2A and 2B, it goes without saying that they may be arranged in a polygonal shape.

【0026】そこで、図3に、図1の動作説明図を示
す。図3(A)において、まずリングホルダ24にウエ
ハリング12が保持され、クランパ25によりウエハリ
ング12とテープ13の保持部分がリングホルダ24に
支持固定される。
Therefore, FIG. 3 shows an operation explanatory diagram of FIG. In FIG. 3A, first, the wafer ring 12 is held by the ring holder 24, and the holding portion of the wafer ring 12 and the tape 13 is supported and fixed to the ring holder 24 by the clamper 25.

【0027】そこで、リングホルダ24を下降させる
と、図3(B)に示すように、テープ13の半導体ウエ
ハ11の外側部分に拡張爪23(23A )上のベアリン
グローラ32に当接され、更なる押下によってテープ1
3が放射状に引き延ばされる。これによって、半導体ウ
エハ11の半導体チップ11a間に間隙が形成されるも
のである(図4(B)参照)。
Then, when the ring holder 24 is lowered, it is brought into contact with the bearing roller 32 on the extended claw 23 (23 A ) on the outer side portion of the tape 13 on the semiconductor wafer 11, as shown in FIG. 3B. Tape 1 by further pressing
3 is stretched radially. As a result, a gap is formed between the semiconductor chips 11a of the semiconductor wafer 11 (see FIG. 4B).

【0028】このように、テープ13をウエハリング1
2にクランパ25によりクランプしていることから、テ
ーパ13の接着強度に拘らず確実に支持固定され、ウエ
ハリング12からのテープ13の剥がれを防止すること
ができる。
In this way, the tape 13 is attached to the wafer ring 1
Since the taper 13 is clamped by the clamper 25, the taper 13 is reliably supported and fixed regardless of the adhesive strength of the taper 13, and the tape 13 can be prevented from peeling off from the wafer ring 12.

【0029】また、引き延ばし時にベアリングローラ3
2が回転することから、テープ13に加わる応力が拡散
して、全体的にむらなく放射状にテープ13を引き延ば
すことができると共に、ウエハリング12のテープ13
の接合部分への応力集中が軽減してテープ13の剥がれ
を防止することができる。すなわち、テープ13を円滑
かつ確実にチップ間拡張させることができるものであ
る。
In addition, the bearing roller 3 is stretched.
Since the tape 2 rotates, the stress applied to the tape 13 is diffused, and the tape 13 can be stretched radially in a uniform manner.
Concentration of stress on the joining portion of is reduced and peeling of the tape 13 can be prevented. That is, the tape 13 can be smoothly and surely expanded between chips.

【0030】そして、このような状態の半導体ウエハ1
1がダイスボンディング装置に移送され、テープ13上
の半導体チップ11aを個々にピックアップして例えば
リードフレームのステージ上にダイス付けされる。この
場合の所定の半導体チップ11aのピックアップ時に隣
接する半導体チップ11aへのダメージを与えることを
防止することができるものである。
Then, the semiconductor wafer 1 in such a state
1 is transferred to a die bonding apparatus, and the semiconductor chips 11a on the tape 13 are individually picked up and, for example, diced onto a stage of a lead frame. In this case, it is possible to prevent the adjacent semiconductor chip 11a from being damaged when the predetermined semiconductor chip 11a is picked up.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、保持部に
保持された接着部材を支持部により押圧部に支持固定さ
れ、該接着部材が拡張部上の回転部材に押圧されること
により引き延ばされて半導体チップ間に間隙が形成され
ることにより、半導体ウエハが接着される接着部材を円
滑かつ確実にチップ間拡張させることができるものであ
る。
As described above, according to the present invention, the adhesive member held by the holding unit is supported and fixed to the pressing unit by the supporting unit, and the adhesive member is pressed by the rotating member on the expansion unit. By stretching and forming a gap between the semiconductor chips, the adhesive member to which the semiconductor wafer is bonded can be smoothly and surely expanded between the chips.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の拡張爪の説明図である。FIG. 2 is an explanatory view of the expansion claw of the present invention.

【図3】図1の動作説明図である。FIG. 3 is an operation explanatory diagram of FIG. 1.

【図4】半導体ウエハの説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a semiconductor wafer.

【図5】従来のテープ拡張方法の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a conventional tape expansion method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 半導体ウエハ 11a 半導体チップ 12 ウエハリング 13 テープ 21 テープ引延し装置 22 基台 23,23A ,23B 拡張爪 24 リングホルダ 25 クランパ 31 円筒部材 32,34 ベアリングローラ 33 四角筒部材11 Semiconductor Wafer 11a Semiconductor Chip 12 Wafer Ring 13 Tape 21 Tape Extending Device 22 Base 23, 23 A , 23 B Expansion Claw 24 Ring Holder 25 Clamper 31 Cylindrical Member 32, 34 Bearing Roller 33 Square Tube Member

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 保持部(12)に保持された接着部材
(13)に接着固定された半導体ウエハ(11)をダイ
シングし、それぞれの半導体チップ(11a)をダイス
付けのために供給する工程を含む半導体装置の製造方法
において、 前記接着部材(13)の前記保持部(12)での保持部
分を押圧部(24)に支持固定させる工程と、 該接着部材(13)の前記半導体ウエハ(11)の外側
部分に対応して配置され、該接着部材(13)の当接部
分に回転部材(32,34)が設けられた拡張部(2
3,23A ,23B )に、該押圧部(24)により該回
転部材(32,34)を回転させながら該接着部材(1
3)を押圧して前記半導体チップ(11a)間に間隙を
形成させる工程と、 を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
1. A step of dicing a semiconductor wafer (11) adhered and fixed to an adhesive member (13) held by a holder (12) and supplying each semiconductor chip (11a) for dicing. A method of manufacturing a semiconductor device including: a step of supporting and fixing a holding portion of the holding member (12) of the adhesive member (13) to a pressing portion (24); and the semiconductor wafer (11) of the adhesive member (13). ), Which is arranged corresponding to the outer part of the adhesive member (13), and the rotary member (32, 34) is provided at the contact portion of the adhesive member (13).
3, 23 A , 23 B ), while rotating the rotating member (32, 34) by the pressing portion (24), the adhesive member (1
3) Pressing to form a gap between the semiconductor chips (11a), the method for manufacturing a semiconductor device.
【請求項2】 保持部(12)に保持された接着部材
(13)に接着固定された半導体ウエハ(11)をダイ
シングし、それぞれの半導体チップ(11a)をダイス
付けのために供給する際に、該接着部材(13)を引延
ばして該半導体チップ(11a)間に間隙を形成させる
半導体製造装置において、 押圧部(24)と、 該接着部材(13)の前記保持部(12)での保持部分
を該押圧部(24)に支持固定させる支持部(25)
と、 該押圧部(24)により該接着部材(13)を引延させ
るものであって、該接着部材(13)の前記半導体ウエ
ハ(11)の外側部分に対応して配置され、該接着部材
(13)の当接部分に回転部材(32,34)が設けら
れた拡張部(23,23A ,23B )と、 を有することを特徴とする半導体製造装置。
2. When dicing a semiconductor wafer (11) adhered and fixed to an adhesive member (13) held by a holding portion (12) and supplying each semiconductor chip (11a) for dicing. In a semiconductor manufacturing apparatus in which the adhesive member (13) is stretched to form a gap between the semiconductor chips (11a), a pressing portion (24) and a holding portion (12) of the adhesive member (13) are provided. Supporting part (25) for supporting and fixing the holding part to the pressing part (24)
And a pressure member (24) for extending the adhesive member (13), the adhesive member (13) being disposed corresponding to an outer portion of the semiconductor wafer (11). An expansion part (23, 23 A , 23 B ) provided with a rotating member (32, 34) at an abutting part of (13), and a semiconductor manufacturing apparatus characterized by the following.
【請求項3】 前記拡張部(23,23A ,23B )の
前記回転部材(32,34)は、該拡張部(23,23
A ,23B )の先端部分で所定数略環状に配置され、該
環状内外方向に回転自在な所定数のローラ(32,3
4)で構成されることを特徴とする請求項2記載の半導
体製造装置。
3. The rotating member (32, 34) of the extension portion (23, 23 A , 23 B ) is provided with the extension portion (23, 23).
A predetermined number of rollers (32, 3) arranged in an annular shape at a tip portion of A , 23 B ) and rotatable in the annular inner and outer directions.
4. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 2, which is constituted by 4).
JP26707893A 1993-10-26 1993-10-26 Manufacture of semiconductor device and semiconductor manufacturing apparatus Withdrawn JPH07122583A (en)

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002334852A (en) * 2001-05-10 2002-11-22 Disco Abrasive Syst Ltd Method of dividing work and apparatus for expanding space between chips used for the same
JP2007123658A (en) * 2005-10-31 2007-05-17 Disco Abrasive Syst Ltd Expansion apparatus of adhesive tape
EP1884981A1 (en) * 2006-08-03 2008-02-06 STMicroelectronics Ltd (Malta) Removable wafer expander for die bonding equipment.
JP2016111229A (en) * 2014-12-08 2016-06-20 リンテック株式会社 Separation device and separation method
CN106206384A (en) * 2016-09-18 2016-12-07 桂林电子科技大学 A kind of device and method preparing extending electronics
JP2017188559A (en) * 2016-04-05 2017-10-12 太陽誘電株式会社 Extension device and method of manufacturing electronic component
JP2017188498A (en) * 2016-04-01 2017-10-12 株式会社ディスコ Expansion device
WO2023157555A1 (en) * 2022-02-15 2023-08-24 株式会社アポロ技研 Elastic sheet for holding workpiece, sheet retaining ring, workpiece holding device, workpiece holding method, and workpiece delivery method

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002334852A (en) * 2001-05-10 2002-11-22 Disco Abrasive Syst Ltd Method of dividing work and apparatus for expanding space between chips used for the same
JP4647830B2 (en) * 2001-05-10 2011-03-09 株式会社ディスコ Workpiece division processing method and chip interval expansion apparatus used in the division processing method
JP2007123658A (en) * 2005-10-31 2007-05-17 Disco Abrasive Syst Ltd Expansion apparatus of adhesive tape
EP1884981A1 (en) * 2006-08-03 2008-02-06 STMicroelectronics Ltd (Malta) Removable wafer expander for die bonding equipment.
US7675170B2 (en) 2006-08-03 2010-03-09 Stmicroelectronics Ltd Removable wafer expander for die bonding equipment
JP2016111229A (en) * 2014-12-08 2016-06-20 リンテック株式会社 Separation device and separation method
JP2017188498A (en) * 2016-04-01 2017-10-12 株式会社ディスコ Expansion device
JP2017188559A (en) * 2016-04-05 2017-10-12 太陽誘電株式会社 Extension device and method of manufacturing electronic component
CN106206384A (en) * 2016-09-18 2016-12-07 桂林电子科技大学 A kind of device and method preparing extending electronics
WO2023157555A1 (en) * 2022-02-15 2023-08-24 株式会社アポロ技研 Elastic sheet for holding workpiece, sheet retaining ring, workpiece holding device, workpiece holding method, and workpiece delivery method

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