JPH0712180B2 - 適合性試験装置のデバッグ試験用模擬実装 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＯＳＩ（Open Systems
Interconnection）標準に基づいて製造された（Ｎ）層
実装を試験する適合性試験装置に対して、適合性試験装
置自身の正しさを試験するために適合性試験装置の模擬
試験対象実装として使用する適合性試験装置のデバッグ
試験用模擬実装に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図４は、適合性試験装置の構成例を示す
ブロック図である。

【０００３】ＯＳＩプロトコル仕様およびサービス定義
に関するＯＳＩ国際標準１０に準拠して作られたＯＳＩ
参照モデルの（Ｎ）層を実装した情報通信端末の相互接
続性の確保のため、各情報通信端末のＯＳＩ参照モデル
の（Ｎ）層実装が、準拠した国際標準に正しく適合して
いるか否かの判定を行うための試験として適合性試験が
ある。（ＩＳＯ／ＩＥＣ ９６４６）

【０００４】（Ｎ）層すなわち（Ｎ）エンティティを実
現したものを実装といい、適合性試験装置４０の対象と
なる実装を試験対象実装ＩＵＴ（Implementation Under
Test ）５０という。

【０００５】適合性試験装置４０は、試験実行制御部４
１、下位テスタ４２、上位テスタ４３および試験結果判
定出力部４４からなる。ＩＵＴ５０と適合性試験装置の
下位テスタ４２は、ＯＳＩの下位レイヤサービスすなわ
ち（Ｎ−１）サービス（以下下位レイヤという）６０を
利用して（Ｎ−１）コネクション６１を張って通信す
る。実行型試験ケース３０に基づいて試験実行制御部４
１は上位テスタ４３と下位テスタ４２を制御し、両者の
動作を調和させながらＩＵＴ５０にアクションを加え、
その反応のイベントを観測してＩＵＴ５０の動作を試験
する。なお、一般に上位テスタ４３とＩＵＴ５０とは同
一の装置に組み込まれることが多く、被試験システムＳ
ＵＴ（System Under Test ）７０となる。

【０００６】適合性試験の試験ケースは、抽象試験ケー
ス２０として例えば、ＴＴＣＮ．ＧＲ（Tree and Tabul
ar Combined Notation Graphical Form ，ISO/IEC 9646
-3）という試験仕様記述言語を用いて人間に読みやすい
形で記述される。この抽象試験ケース２０に基づいて適
合性試験装置４０が実行できる形式の実行型試験ケース
３０が生成される。これを用いて適合性試験装置４０が
試験を実行しＩＵＴ５０の上位と下位のサービスアクセ
ス点を制御、観測してその結果から試験結果の判定を出
す。試験対象実装の上位と下位のサービスアクセス点を
制御、観測した結果と国際標準の規定に基づいて試験ケ
ースに記述された判定との比較により、試験対象実装に
対して試験ケース毎に合格（pass）、失敗（fail）、不
確定（inconclusive ）の試験結果の判定が行われる。
なお試験ケースには、正しい動作を試験するもの、正し
くない動作を試験するもの、動作自身は正しいがタイミ
ングの悪い動作を試験するものがある。

【０００７】従来の適合性試験装置のデバッグは、初め
にプログラムモジュール毎にその動作を計算機上でデバ
ッグし、次に実際の適合性試験装置にプログラムモジュ
ールをロードして装置を構成し、その適合性試験装置を
用い、ＯＳＩ参照モデルの（Ｎ）層の国際標準を正しく
実現した実装（以下参照実装）に対する試験を実行し、
正しく判定を出すか否かで行っていた。なお、パラメー
タが値の範囲で規定されているものについては適当なあ
る一つの値を設定していたので、参照実装とは言っても
ごく限定された特性を示すに過ぎないものであった。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】そのため、参照実装を
使ったデバッグ試験で行えるものは、もし適合性試験装
置が正しければ試験結果の判定が合格（pass）となるべ
き試験ケースの試験経路のみとなり、正しくない動作を
する試験対象実装を試験した場合に失敗あるいは不確定
の判定を正しく出すかどうかを試験する試験経路につい
ては試験を実行することができないという問題があっ
た。

【０００９】また参照実装はＳＵＴに組み込んで使用す
るため、適合性試験装置のデバッグのための試験項目に
応じて、ＯＳＩ標準に規定されている（Ｎ）層のプロト
コルのクラス、オプション、パラメータを規定されてい
る範囲の中でＳＵＴに組み込んだまま設定を変更するこ
とは困難であり、必要の都度設定を変更し直したプログ
ラムモジュールをＳＵＴに再度組み込むという大きな手
間がかかっていた。

【００１０】また従来の参照実装はＳＵＴに組み込んで
使用するために、適合性試験装置の上位テスタおよび下
位テスタとのサービスプリミティブやプロトコルデータ
単位（以下ＰＤＵという）の遣り取りの状況をＳＵＴで
観測、外部に表示することは困難であり、試験操作者が
ＳＵＴの動作と上位テスタおよび下位テスタの動作を直
接的に比較することはできなかった。そのため適合性試
験装置のデバッグ作業を困難なものとしていた。

【００１１】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
で、適合性試験装置のデバッグ試験の信頼性向上と試験
時間の短縮を可能とする適合性試験装置のデバッグ試験
用模擬実装を提供することを目的とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、ＯＳＩ参照モデルの（Ｎ）層の実装に対す
る適合性試験装置の性能を評価・判定するためのデバッ
グ試験に用いるための適合性試験装置のデバッグ試験用
模擬実装において、ＯＳＩ標準に規定されている（Ｎ）
層のプロトコルのクラス、オプション、パラメータを規
定されている範囲の中で設定可変とする手段と、受信あ
るいは送信するＰＤＵに対して意図的にあらかじめ設定
した種類のＰＤＵを廃棄する（廃棄）、あるいは、あら
かじめ設定した他の種類のＰＤＵへ置き換える（置
換）、あるいは、あらかじめ設定した種類のＰＤＵを破
壊する（データ破壊）という操作を行えるようにする手
段と、受信ＰＤＵに対して設定可変とした遅延時間を持
たせてから（Ｎ）サービスプリミティブとして（Ｎ）サ
ービスアクセス点に送出し、送信（Ｎ）ＰＤＵに対して
設定可変とした遅延時間を持たせてから（Ｎ−１）サー
ビスプリミティブとして（Ｎ−１）サービスアクセス点
に送出するようにする手段とを具備したことを特徴とす
るものである。

【００１３】又、上記適合性試験装置のデバッグ試験用
模擬実装において、適合性試験装置の上位テスタとの間
で遣り取りした（Ｎ）サービスプリミティブの種類、送
受信方向、その時刻および適合性試験装置の下位テスタ
との間の通信のために下位レイヤとの間で遣り取りした
（Ｎ−１）サービスプリミティブの種類、送受信方向、
その時刻および適合性試験装置の下位テスタとの間で遣
り取りした（Ｎ）ＰＤＵの種類、送受信方向、その時刻
および受信あるいは送信するプロトコルデータ単位に対
して意図的にあらかじめ設定した種類のプロトコルデー
タ単位を廃棄する、あるいは、あらかじめ設定した他の
種類のプロトコルデータ単位へ置き換える、あるいは、
あらかじめ設定した種類のプロトコルデータ単位を破壊
するという操作を行った情報をファイルに記録するとと
もに同一の表示画面に表示するようにしたことを特徴と
するものである。

【００１４】

【作用】本発明は、適合性試験装置が設計した通りに正
確に適合性試験が行えるかどうかを判定するために、適
合性試験装置の模擬被試験実装として使用し、ＯＳＩ参
照モデルの（Ｎ）層の標準で規定されているクラス、パ
ラメータ、オプションを可変とし、意図的に正しくない
プロトコル誤りの動作を行えるようにし、サービスプリ
ミティブやＰＤＵの送受信の遅延時間を可変とし、又、
適合性試験装置とのサービスプリミティブおよびＰＤＵ
の遣り取りをファイルに記録するとともに同一の画面に
表示するようにすることにより、適合性試験装置のデバ
ッグ試験の信頼性向上と試験時間の短縮を可能とするも
のである。

【００１５】

【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に
説明する。図１は、本発明の一実施例に係わる試験用模
擬実装のブロック図である。

【００１６】図において、試験用模擬実装８０は（Ｎ）
エンティティ部８１、モニタリング部８２、クラス／オ
プション／パラメータ操作部８３、ユーザインタフェー
ス部８４、ＣＲＴ表示部８５、ＰＤＵ操作部８６、
（Ｎ）サービスプリミティブ遅延操作部８７、（Ｎ−
１）サービスプリミティブ遅延操作部８８、上位層イン
タフェース部８９、下位層インタフェース部９０からな
る。

【００１７】ＯＳＩ参照モデルの（Ｎ）層の実体すなわ
ち（Ｎ）エンティティはＯＳＩ標準（サービス定義およ
びプロトコル仕様）により仕様が記述されている。従
来、適合性試験装置のデバッグ用に使用する（Ｎ）エン
ティティを正しく実現したものすなわち参照実装は、上
位層インタフェース部８９と下位層インタフェース部９
０および（Ｎ）エンティティ部８１から構成されてい
る。この実装のクラス、オプション、パラメータはＯＳ
Ｉ標準に規定されている範囲内から使用目的に応じて値
を選択して一意に決定したものを設定している。適合性
試験装置は本来クラス、オプション、パラメータの異な
る種々の実装を試験対象として試験を行うのでデバッグ
試験もこれらの値を種々に設定した参照実装を使い行う
必要がある。しかし、従来の参照実装は被試験システム
に組み込んでしまうとこれらの値を操作することは困難
であった。

【００１８】本発明では、クラス／オプション／パラメ
ータ操作部８３により適合性試験の試験ケースの試験目
的に応じて（Ｎ）エンティティ部８１のクラス、オプシ
ョン、パラメータを設定する。

【００１９】試験対象のＰＤＵの送受信が正しくないた
めに適合性試験装置の試験判定が失敗あるいは不確定と
して正確に出されるかどうかをみる場合には、試験操作
者９１がユーザインタフェース部８４を介してＰＤＵ操
作部８６を操作して（Ｎ）エンティティ部８１で符号化
／復号化するＰＤＵに対して、ＰＤＵの廃棄あるいは置
換あるいはデータ破壊の操作を加える。

【００２０】試験対象のＰＤＵ送受信の遅延により適合
性試験装置の試験判定が失敗あるいは不確定として正確
に出されるかどうかをみる場合には、（Ｎ−１）サービ
スプリミティブ遅延操作部８８、あるいは（Ｎ）サービ
スプリミティブ遅延操作部８７を操作して遅延時間を設
定し、送信（Ｎ）ＰＤＵに基づいた（Ｎ−１）サービス
プリミティブを下位層に送出する遅延時間あるいは受信
（Ｎ）ＰＤＵに基づいた（Ｎ）サービスプリミティブを
上位層に送出する遅延時間を制御する。

【００２１】試験用模擬実装８０と上位テスタ４３との
（Ｎ）サービスプリミティブの遣り取りおよび試験用模
擬実装８０と下位レイヤ６０との（Ｎ−１）サービスプ
リミティブの遣り取りおよび試験用模擬実装８０と下位
テスタ４２との（Ｎ）ＰＤＵの遣り取りは、モニタリン
グ部８２が（Ｎ）エンティティ部８１の（Ｎ）サービス
プリミティブの生成／分解、（Ｎ）ＰＤＵの符号化／復
号化、（Ｎ−１）サービスプリミティブの生成／分解の
内容および（Ｎ）サービスプリミティブ遅延操作部８７
の設定内容および（Ｎ−１）サービスプリミティブ遅延
操作部８８の設定内容およびＰＤＵ操作部８６の設定内
容をモニタリングしてＰＤＵあるいはサービスプリミテ
ィブの種類および送受信方向および時刻を検出し、検出
結果をＣＲＴ表示部に送る。ＣＲＴ表示部はこれらの情
報をファイルに記録するとともにＰＤＵあるいはサービ
スプリミティブの種類および送受信方向とその時刻を画
面レイアウトに従って同一の表示画面に表示する。図２
は、本発明の一実施例に係わる試験用模擬実装と適合性
試験装置との接続構成を示すブロック図である。

【００２２】図において、試験用模擬実装８０は、適合
性試験装置４０の上位テスタ４３と接続し、下位テスタ
４２とは下位レイヤ６０の（Ｎ−１）コネクション６１
を介して接続する。適合性試験装置のデバッグ試験は、
試験用模擬実装を試験対象として通常の操作方法で適合
性試験装置を動作させて、試験結果判定出力部４４に試
験結果の判定を出させ、この判定結果が試験用模擬実装
のクラス／オプション／パラメータ操作部８３およびＰ
ＤＵ操作部８６および（Ｎ）サービスプリミティブ遅延
操作部８７および（Ｎ−１）サービスプリミティブ遅延
操作部８８の各設定内容からなる設定操作情報４５およ
び（Ｎ）層のＯＳＩ国際標準１０および抽象試験ケース
２０および実行型試験ケース３０から予測できる試験結
果の判定予測値４６と合致するかどうかの比較により行
う。

【００２３】この判定は人間が行ってもよいし、例えば
比較判定装置４７により試験結果判定出力部４４の試験
結果の判定と試験結果の判定予測値４６とを比較してデ
バッグ試験結果として出力４８してもよい。またこの
際、画面表示情報４９を参考にしてもよい。図３は、本
発明の一実施例に係わる試験用模擬実装の操作画面例で
ある。

【００２４】図において、１００は試験用模擬実装の操
作画面、１０１は上位テスタに関する情報を記述する欄
であることを示すヘッダ表示、１０２は試験用模擬実装
ＩＵＴに関する情報を記述する欄であることを示すヘッ
ダ表示、１０３は下位テスタまたは下位レイヤに関する
情報を記述する欄であることを示すヘッダ表示、１０４
は時刻に関する情報を記述する欄であることを示すヘッ
ダ表示、１０５は表示領域区分線、１０６は上位テスタ
が試験用模擬実装ＩＵＴに送信した（Ｎ）サービスプリ
ミティブの種類を記述する欄、１０７は上位テスタと試
験用模擬実装ＩＵＴとの（Ｎ）サービスプリミティブの
送受信方向を例えば矢印で記述する欄、１０８は試験用
模擬実装ＩＵＴが上位テスタに送信した（Ｎ）サービス
プリミティブの種類または試験用模擬実装ＩＵＴが下位
レイヤに送信した（Ｎ−１）サービスプリミティブの種
類または試験用模擬実装ＩＵＴが下位テスタに送信した
（Ｎ）ＰＤＵの種類を記述する欄、１０９は下位レイヤ
と試験用模擬実装ＩＵＴとの（Ｎ−１）サービスプリミ
ティブの送受信方向または下位テスタと試験用模擬実装
ＩＵＴとの（Ｎ）ＰＤＵの送受信方向を例えば矢印で記
述する欄、１１０は下位レイヤが試験用模擬実装ＩＵＴ
に送信した（Ｎ−１）サービスプリミティブの種類また
は下位テスタが試験用模擬実装ＩＵＴに送信した（Ｎ）
ＰＤＵの種類を記述する欄、１１１は各サービスプリミ
ティブまたは（Ｎ）ＰＤＵの送受信時刻を記述する欄で
ある。

【００２５】モニタリング部が（Ｎ）エンティティ部の
（Ｎ）サービスプリミティブの生成／分解、（Ｎ）ＰＤ
Ｕの符号化／復号化、（Ｎ−１）サービスプリミティブ
の生成／分解の内容および（Ｎ）サービスプリミティブ
遅延操作部８７および（Ｎ−１）サービスプリミティブ
遅延操作部８８およびＰＤＵ操作部８６の設定内容をモ
ニタリングしてＰＤＵあるいはサービスプリミティブの
種類および送受信方向および時刻を検出し、検出結果を
次々とＣＲＴ表示部に送る。ＣＲＴ表示部はＰＤＵある
いはサービスプリミティブの種類および送受信方向とそ
の時刻を上記で説明した画面レイアウトに従って時間の
順序により次々と同一の表示画面１００に表示する。

【００２６】この画面表示により試験用模擬実装が適合
性試験装置の上位テスタおよび下位テスタおよび下位レ
イヤと遣り取りしたサービスプリミティブおよびＰＤＵ
の種類、順序、時刻とが時間順序に従って次々と同一の
画面に表示されるので適合性試験装置が設計仕様どおり
に上位テスタと下位テスタによって試験対象サービスプ
リミティブおよびＰＤＵを送受信したかどうかを確認で
きる。

【００２７】

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、適合
性試験装置のデバッキング試験において本発明を試験用
模擬実装として使用することにより、適合性試験装置が
その装置設計どおりに、正しい試験対象実装に対しても
正しくない試験対象実装に対しても正しく試験結果の判
定をするかどうかを試験、検証することが可能となり、
適合性試験装置に対するデバッキング試験の信頼性向上
と試験時間の短縮がはかれるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係わる試験用模擬実装を示
すブロック図である。

【図２】本発明の一実施例に係わる試験用模擬実装と適
合性試験装置との接続構成を示すブロック図である。

【図３】本発明の一実施例に係わる試験用模擬実装の操
作画面例を示す説明図である。

【図４】適合性試験装置の構成例を示すブロック図であ
る。

【符号の説明】

１０…ＯＳＩ国際標準、２０…抽象試験ケース、３０…
実行型試験ケース、４０…適合性試験装置、４１…試験
実行制御部、４２…下位テスタ、４３…上位テスタ、４
４…試験結果判定出力部、４５…設定操作情報、４６…
試験結果の判定予測値、４７…比較判定装置、４８…デ
バッグ試験結果の出力、４９…画面表示情報、５０…試
験対象実装ＩＵＴ、６０…下位レイヤ、６１…（Ｎ−
１）コネクション、７０…被試験システムＳＵＴ、８０
…試験用模擬実装、８１…（Ｎ）エンティティ部、８２
…モニタリング部、８３…クラス／オプション／パラメ
ータ操作部、８４…ユーザインタフェース部、８５…Ｃ
ＲＴ表示部、８６…ＰＤＵ操作部、８７…（Ｎ）サービ
スプリミティブ遅延操作部、８８…（Ｎ−１）サービス
プリミティブ遅延操作部、８９…上位層インタフェース
部、９０…下位層インタフェース部、９１…試験操作
者、１００…試験用模擬実装の操作画面、１０１…上位
テスタに関する情報を記述する欄であることを示すヘッ
ダ表示、１０２…試験用模擬実装ＩＵＴに関する情報を
記述する欄であることを示すヘッダ表示、１０３…下位
テスタまたは下位レイヤに関する情報を記述する欄であ
ることを示すヘッダ表示、１０４…時刻に関する情報を
記述する欄であることを示すヘッダ表示、１０５…表示
領域区分線、１０６…上位テスタが試験用模擬実装ＩＵ
Ｔに送信した（Ｎ）サービスプリミティブの種類を記述
する欄、１０７…上位テスタと試験用模擬実装ＩＵＴと
の（Ｎ）サービスプリミティブの送受信方向を例えば矢
印で記述する欄、１０８…試験用模擬実装ＩＵＴが上位
テスタに送信した（Ｎ）サービスプリミティブの種類ま
たは試験用模擬実装ＩＵＴが下位レイヤに送信した（Ｎ
−１）サービスプリミティブの種類または試験用模擬実
装ＩＵＴが下位テスタに送信した（Ｎ）ＰＤＵの種類を
記述する欄、１０９…下位レイヤと試験用模擬実装ＩＵ
Ｔとの（Ｎ−１）サービスプリミティブの送受信方向ま
たは下位テスタと試験用模擬実装ＩＵＴとの（Ｎ）ＰＤ
Ｕの送受信方向を例えば矢印で記述する欄、１１０…下
位レイヤが試験用模擬実装ＩＵＴに送信した（Ｎ−１）
サービスプリミティブの種類または下位テスタが試験用
模擬実装ＩＵＴに送信した（Ｎ）ＰＤＵの種類を記述す
る欄、１１１…各サービスプリミティブまたは（Ｎ）Ｐ
ＤＵの送受信時刻を記述する欄。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＯＳＩ参照モデルの（Ｎ）層の実装に対
   する適合性試験装置の性能を評価・判定するためのデバ
   ッグに用いるための適合性試験装置のデバッグ試験用模
   擬実装において、 ＯＳＩ標準に規定されている（Ｎ）層のプロトコルのク
   ラス、オプション、パラメータを規定されている範囲の
   中で設定可変とする手段と、 受信あるいは送信するプロトコルデータ単位に対して意
   図的にあらかじめ設定した種類のプロトコルデータ単位
   を廃棄する、あるいは、あらかじめ設定した他の種類の
   プロトコルデータ単位へ置き換える、あるいは、あらか
   じめ設定した種類のプロトコルデータ単位を破壊すると
   いう操作を行えるようにする手段と、 受信プロトコルデータ単位に対して設定可変とした遅延
   時間を持たせてから（Ｎ）サービスプリミティブとして
   （Ｎ）サービスアクセス点に送出し、送信（Ｎ）プロト
   コルデータ単位に対して設定可変とした遅延時間を持た
   せてから（Ｎ−１）サービスプリミティブとして（Ｎ−
   １）サービスアクセス点に送出するようにする手段とを
   具備したことを特徴とする適合性試験装置のデバッグ試
   験用模擬実装。
2. 【請求項２】 適合性試験装置の上位テスタとの間で遣
   り取りした（Ｎ）サービスプリミティブの種類、送受信
   方向、その時刻および適合性試験装置の下位テスタとの
   間の通信のために下位レイヤとの間で遣り取りした（Ｎ
   −１）サービスプリミティブの種類、送受信方向、その
   時刻および適合性試験装置の下位テスタとの間で遣り取
   りした（Ｎ）プロトコルデータ単位の種類、送受信方
   向、その時刻および受信あるいは送信するプロトコルデ
   ータ単位に対して意図的にあらかじめ設定した種類のプ
   ロトコルデータ単位を廃棄する、あるいは、あらかじめ
   設定した他の種類のプロトコルデータ単位へ置き換え
   る、あるいは、あらかじめ設定した種類のプロトコルデ
   ータ単位を破壊するという操作を行った情報をファイル
   に記録するとともに同一の表示画面に表示するようにし
   たことを特徴とする請求項１記載の適合性試験装置のデ
   バッグ試験用模擬実装。