JPH07118744B2 - 電話交換システムを試験するための試験装置 - Google Patents

電話交換システムを試験するための試験装置

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JPH07118744B2
JPH07118744B2 JP56501942A JP50194281A JPH07118744B2 JP H07118744 B2 JPH07118744 B2 JP H07118744B2 JP 56501942 A JP56501942 A JP 56501942A JP 50194281 A JP50194281 A JP 50194281A JP H07118744 B2 JPH07118744 B2 JP H07118744B2
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    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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    • H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H04M3/32—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for lines between exchanges
    • H04M3/323—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for lines between exchanges for the arrangements providing the connection (test connection, test call, call simulation)

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、トラヒック負荷を模擬することによって電話
交換システムの性能を評価する装置に係り、特に、待期
時間、ランダム呼、同時呼及びダイヤル数字の組合せを
含む種々の呼状態を得て実際の電話トラヒック負荷を厳
密に近似するように全てマイクロプロセッサ制御の下で
電話交換システムの非常に多数ライン又はポートに対し
て個々の電話発信呼を作り出すと共に着信に選択的に応
答するような装置に係る。
本発明は、集信装置及び呼分配器をもつもの及びもたな
いものを含むPABX,COライン回線又はループ信号トラン
クのような全ての型式の電話交換システムを試験するよ
うに多数の呼を作り出す呼形成装置即ち負荷ボックスを
作るのに用いるのに特に適している。又、本発明は、電
話交換システムの性能を比較するように電話交換システ
ムからの呼の着信も果たす。
実際のトラヒック負荷を近似して電話交換システムの性
能を評価するには、電話交換システムをうまく開発する
と共に、電話交換システムを例えばPABXのような構内交
換システムの１部分のようなもの或いは回線網へとうま
く切換えることを必要とする。多数のラインを試験し、
そして発信又は着信ラインによってダイヤルされた被呼
ラインを終端することが必要である。非常に多数の呼
（例えば32個の呼）を作り出すことのできる適度な物理
的サイズの試験装置において種々の呼状態を近似するこ
とは達成されていない。又、多くの使用目的では、交換
システムの性能を評価するのに有用な故障報告を自動的
に作り出せることも必要である。これまでに入手できる
試験装置は物理的サイズが非常に大きいか、或いは試験
能力に限界があって実際のトラヒック負荷を厳密に近似
したり発呼が首尾よく完了したか否かを報告したりする
ことが完全に実現化されていない。
そこで、実際のトラヒック負荷を近似するという状態の
下で性能に関する情報を得るために試験電話交換システ
ムと同等の複雑さ及びサイズを有する別の交換システム
を使用する必要なしに、電話交換システムを試験するこ
とのできる装置が要望されている。
また、電話交換システムの実際のトラヒック負荷を近似
するように発信呼を作り出すと共に着信呼を受け入れる
ことのできる電話交換システムの改良された試験装置も
また要望されている。
さらにまた、電話交換システムの性能を評価する助けと
なるように成功裡な完了呼や、正しい被呼ライン以外の
ラインへの着信（番号違い）を含む不完了呼を測定する
ことのできる電話交換システムの改良された試験装置も
また要望されている。
また、多数の発信呼（例えば32まで）及び多数の着信呼
（例えば32まで）を同時に、或いはランダムであること
を含む別のシーケンスで、送受することのできる電話交
換システムの改良された試験装置も要望されている。
さらにまた、供試電話交換システムの実際の作動中に生
じる数字ダイヤル時間、オフフック遅れ、リング保持、
呼保持及びその他の時間のような待期時間、並びに通話
ルートの変更を容易にするようにマイクロプロセッサ制
御の下で作動される電話交換システムの改良された試験
装置もまた要望されている。
また、同時呼からランダム呼までのいかなるシーケンス
でも呼を送受して供試電話交換システムを最悪の作動状
態で働かせるように試験装置の全てのポートが独立して
いるような電話交換システムの改良された試験装置もま
た要望されている。
また、呼を作り出すようにDTMF信号及びトーンを発生す
ることができ且つ又ダイヤルトーンを検出することもで
きるような電話交換システムの改良された試験装置もま
た要望されている。
また、発信ライン又はそのポートと着信ライン又はその
ポートとの間で１方向又は両方向に電話交換システムと
通して信号伝達性を試験することのできる電話交換シス
テムの改良された試験装置も要望されている。
また、電話交換システムを介して接続がなされる発信ラ
インと着信ラインのチップ及びリング接続部におけるル
ープ極性並びに電話交換システムを介しての導通性の不
良を検出することのできる電話交換システムの改良され
た試験装置も要望されている。
そこで、本発明の目的は、前述したような要望に応える
ため、電話交換システムを試験するための試験装置を提
供することである。
簡単に説明すれば、本発明の試験装置は、トラヒック負
荷を模擬することによって電話交換システムを試験する
ように呼を作り出す手段を備えており、この手段は、同
時的な発呼によるシーケンスで複数個の呼を個々に作り
出すことができる。本装置は呼を着信する手段を備えて
いる。供試電話交換システムのライン又はポートが接続
されるラインインターフェイス装置には発信手段及び着
信手段の両方が設けられる。マイクロプロセッサ制御手
段はラインインターフェイス装置に指令を発生する。こ
れらの指令はラインインターフェイス装置のレジスタに
記憶され、これには供試ラインの状態を表わす出力も記
憶される。端末装置のような表示手段はマイクロプロセ
ッサの制御下で作動され、どのラインで呼を送受すべき
であるかということや呼が首尾よく完了したかどうかと
いうことを指示する。数字のダイヤルする時間、呼を受
ける待期時間、例えばオフフック遅れ、リング保持及び
呼保持もマイクロプロセッサの制御の下で指示される。
本発明の上記目的、特徴及び効果、並びにその好ましい
実施例は添付図面に関連した以下の説明を読むことによ
って更に明らかとなろう。
第１図は電話交換システムを試験する本発明による装置
のブロック図であり、 第２図は第１図に示された試験装置の作動を示す機能ブ
ロック図であり、 第３図は第１図の試験装置の構造を詳細に示したブロッ
ク図であり、 第４図は第３図に示された試験装置のレジスタのメモリ
マップを示す図であり、 第5a図、第5b図及び第5c図は第１図ないし第４図に示さ
れたシステムに使用されるダイヤル作動（アウトパル
ス）及びリング検出回路の回路図である。
先ず初めに第１図を参照すれば、試験装置10は供試電話
交換システム12へ接続される。この電話交換システム12
はいかなる型式のものでもよい。これは分配器及び集信
装置を含んでもよい。これはPABXであってもよい。これ
はTDM又はクロスバーシステムであってもよい。試験さ
れる電話交換システムは、例えば1979年５月29日に出願
された“時分割デジタル通信システム”と題するKlaus
Gueldenpfennig及びCharles J.Breidenstein氏の米国特
許第4,228,536に開示されたものである。
複数個の呼形成回路ユニット14によって呼が発信された
り着信されたりする。これらのユニットは、供試交換シ
ステム12のライン又はポートに接続されるという点でラ
インインターフェイスユニットとも称する。これらユニ
ット14の各々はこの例では16個のライン又はポートを取
り扱うことができる。ここに示すシステムはこのような
ユニット14を４個まで有してもよく、この場合は64個の
ライン又はポートが取り扱われる。各ユニット14ごとに
16の増分で64本の発信ラインのみが設けられてもよい
し、或いは８対の増分で32本の発信及び着信ライン対が
設けられてもよい。発信ラインは供試システム12の発信
側への発呼ラインであり、そして着信ラインは供試シス
テムの着信側からの被呼ラインである。
各々の呼形成ユニット14は同じものであり、各ユニット
は制御・データバスによってマイクロプロセッサ制御ユ
ニット16へアクセスする。マイクロプロセッサ16からの
指令は各ユニット14の回路へ向けられ、そして呼が首尾
よく完了したかどうかを表わすユニット14の回路からの
出力はバスを経てマイクロプロセッサへ送られる。マイ
クロプロセッサにはメモリユニット18が組合わされる。
入出力インターフェイス装置20によって制御・データバ
スに接続されているのは、キーボードを有する端末装置
22のような表示ユニットである。端末装置22は例えばテ
レプリンタである。インターフェイス装置20はマイクロ
プロセッサ16によってアドレスされ、ラインインターフ
ェイスユニット14によって発信及び着信されるべき発呼
及び被呼ライン（即ちルート）に関する命令が端末装置
22からマイクロプロセッサ16に送られる。マイクロプロ
セッサは、これらの命令に基づいて電話交換システム12
の選択されたラインに呼を送出したり受けたりするよう
にラインインターフェイスユニット14に指令する。
呼が首尾よく完了したかどうかを表わす出力はインター
フェイス装置20を経て端末装置22へ送られる。マイクロ
プロセッサ16は、システムにおいて作用するタイミング
信号を端末装置22およびインターフェイス20へ与える。
このようなタイミングはリング保持時間、呼保持時間、
呼と呼との間の時間、ダイヤル時間（ラインプッシュダ
イヤルの場合はダイヤルメーク及びブレークを含む）並
びに数字間ダイヤル時間である。ラインインターフェイ
スユニット14に送られる指令はタイミングを合わせて発
生するようにされ、その持続時間はそのタイミングを指
令する命令によって確立されたものである。呼形成ユニ
ット14から呼が発信される発呼ライン並びに呼が着信さ
れる被呼ラインは３数字コードで表される。０から３ま
での最初の数字は、どの呼形成ユニットを使用するかを
表している。０から３までの第２の数字は、８対の発信
／着信ラインのどれを使用するかを表している。０又は
１である最後の数字は、ラインを発信発呼ラインとして
使用するか、着信被呼ラインとして使用するかを表して
いる。
呼形成回路はラインパルス付与及びリング検出を果た
す。各ユニット14の呼形成回路に任意選択的に組合わさ
れているのは、DTMF発信・トーン検出回路24である。こ
れらの回路は互いに同じものであり、電話交換システム
12の同じ組のラインを取り扱うラインインターフェイス
ユニット14が配置されたボードに各々組合わされた別個
のボードに付属部品として取り付けられる。試験装置
は、所望される試験機能に基づいてこのDTMF発信・トー
ン検出回路24を備えていてもよいし備えていなくてもよ
い。ループ極性及び導通試験回路を含む伝達試験回路26
も任意選択的に試験装置に設けられる。これら回路26は
ユニット14によってフックアップされる発呼ラインと被
呼ラインとの間の信号トーンの伝達性に関して交換シス
テム12の性能を試験する。この伝達性の試験は両方向
に、即ち発呼ラインから被呼ラインへ及び被呼ラインか
ら発呼ラインへ行われ、試験される或るデジタル電話交
換システムに使用されるデジタル交換器のような４線交
換器によって許される二重作動が完全に試験される。伝
達性・ループ極性試験回路26並びにDTMF発信・トーン検
出回路24は指令を受け、そして試験が合格か否かを表わ
す出力を制御・データバスを経てマイクロプロセッサ16
へ送ると共にインターフェイス20を経て端末装置22へ送
る。
伝達性・ループ極性・導通性試験回路26はアクセスバス
を経て発呼及び被呼ラインへ選択的に接続される。それ
故、これら回路26の１つは全てのユニット14、並びにこ
れに接続された32対の発信及び着信ライン全部に作用す
る。
第２図の機能ブロック図は、ラインインターフェイスユ
ニット14の１つを示すと共に、ダイヤルパルス付与・リ
ング検出・応答回路も示している。供試交換システムの
発信側はインターフェイス14のダイヤルパルス付与回路
に接続される。８本の発呼ラインの各々は、ラインイン
ターフェイスへのチップ（Ｔ）及びリング（Ｒ）接続部
を有したループである。８対のチップ及びリング接続部
のうちの最初と最後だけが示されている。同様に、被呼
ラインはそれらのチップ及びリング接続部対を経てライ
ンインターフェイス14のリング検出・応答回路へ接続さ
れる。ラインインターフェイスは、制御データ信号が記
憶されるレジスタも含んでいる。これらの制御データ信
号はマイクロプロセッサによって発せられた指令である
か、又はマイクロプロセッサによって受け取られる出力
である。マイクロプロセッサ16は第２図に示された制御
データ信号プロセッサ32およびアドレスシーケンス・タ
イミング制御器60として働く。
DTMF回路24は８本の発呼ラインの各々に対するトーン発
生回路を備え、これらはそのチップ及びリング接続部に
接続される。供試交換システム12で発生されるダイヤル
トーンの存在を検出するために、トーン検出回路が発呼
ラインに接続される。又、任意選択的に、このトーン検
出回路は被呼ラインに接続されてもよい。もし、トーン
検出回路が発呼ラインに接続されるならば、システム
は、64個のライン又はポート全部に呼を発信する呼形成
装置としてのみ用いられ、この場合はラインがオフフッ
クになった時にダイヤルトーンの有無により故障の有無
が検出される。又、DTMF回路24は、試験結果として得た
出力や指令を受けるレジスタも備えている。
伝達性試験・導通性・極性試験回路26はレジスタを有す
るインターフェイス回路34を備えており、上記のレジス
タは制御・データバスへ接続され、ひいては制御データ
信号プロセッサ32へ接続されそしてこれを介してI/Oイ
ンターフェイス装置20及び端末装置22へ接続される。ア
クセスバスは、供試交換システムの発信及び着信側で各
々の被呼及び発呼ライン（64ラインまで）のチップ及び
リング接続部に接続される。各ラインはアクセスバスに
接続され、そして発信側のTACO−０ないしTACO−７及び
着信側のTACT−０ないしTACT−７で示されたリレー接点
によって試験回路26へ接続される。添付図面に示された
リレーの常開接点は“×”で示され、常開接点は垂直の
棒で示されている。TACO接点の作動巻線、TACO RW36及
びTACT RW38は、被呼及び発呼ラインが接続された後に
伝達性・極性試験回路26のインターフェイス回路34によ
って作動される。これは制御データ信号プロセッサ32に
よって順次に行われる。
ラインインターフェイス14によって或る選択された被呼
ラインと発呼ラインとの間で呼が完了した後に、そのラ
インに組合わされたTACO及びTACTリレーが作動される。
次いで、被呼ライン及び発呼ラインが回路26に接続され
たままでラインインターフェイスが切断される。次い
で、例えばブリッジ回路である導通性・極性検出器40及
び42が、電話交換システム12の発信側及び着信側の両方
で電話交換システム12を通じてループが導通しているか
否かに応答すると共に、チップ及びリング電圧の極性に
も応答する。導通性及び／又は極性検出器の使用は任意
選択的であり、導通性及び／又は極性検出機能が所望さ
れる時に試験回路26に設けられる。
変成器のようなカプラー44が特定の当該発信ライン即ち
発呼ラインに接続される。別のカプラー46が当該被呼ラ
イン即ち着信ラインに接続される。トーン発生器48はリ
レー50がインターフェイス装置34によって作動された時
に順方向にトーン信号を出力する。トーン検出器52は別
のリレー54の接点を経、カプラー46を経て被呼ラインに
接続される。供試交換システム12を介してのトーン信号
の伝達はトーン検出器52によって検出され、適当な伝達
レベルが存在するか否かを表わす出力がインターフェイ
ス装置34を経て出力される。
逆方向の信号伝達をチェックするために、別の１対のリ
レー56及び58が交互に作動される。同じ呼を取り扱う１
対の被呼及び発呼ラインが試験された後に、他のTACO及
びTACTリレーを作動することにより、伝達試験・ループ
極性・導通性試験回路26は呼が完了した別のライン対へ
と切換えられる。このようにして、伝達レベルに対しそ
して所望ならば導通性及びループ極性に対して全てのラ
インをチェックすることができる。
制御データ信号プロセッサ32はアドレスシーケンス・タ
イミング制御器60によって順次に作動される。全てのユ
ニット、即ちインターフェイス装置14、DTMF回路24、試
験回路26及びI/Oインターフェイス装置20に対するアド
レスはプロセッサ32によって発生され、プロセッサ32で
のアドレスの発生とタイミングを合わせたシーケンスで
指令が発生される。装置の作動中にアドレスに基づいて
インターフェイス装置14、DTMF回路24及び伝達性試験回
路26のインターフェイス装置34からの出力も受け取られ
る。
ラインインターフェイスユニット14に対するマイクロプ
ロセッサ命令はダイヤルパルス付与回路のオン／オフフ
ック指令（TR）である。これらの指令は、制御・データ
バスを経て送られるアドレス信号に基づき、制御・デー
タバスを経て色々なラインインターフェイス回路並びに
その個々のダイヤルパルス付与回路へ送られる。従って
特定の時間に特定の回路はそのTR指令が伝達された際に
オフフックとなる。この指令は、所定のタイミングで繰
返しオン及びオフになって発呼ラインにダイヤルパルス
を送出するように与えられる。
被呼ラインのリング検出・応答回路は、供試電話交換シ
ステムを通して実際の接続がなされた場合にリンギング
を検出するように作動可能にされる。従って、各々の着
信ラインごとに着信オン／オフフック指令（TS）があ
る。発呼ラインによって呼ばれそしてオフフックになる
ようにダイヤルされた番号によって表された着信ライン
がこの指令によって状態定めされる。TS指令をパルス上
に付与することにより、或る番号が着信ラインにダイヤ
ルされ、着信ラインの全部又は若干が発呼ラインとして
用いられて、供試電話交換システムが呼形成モードで完
全に働くようにされる。
インターフェイスレジスタ68に１ビットとして記憶され
たリンギング検出出力（RD）は着進ラインにリンギング
が検出されたことを指示し、そしてこのリンギング検出
出力はこのビットがプロセッサ16によってアドレスされ
た時に制御・データバスを経てプロセッサ16へ送られ
る。
第４図に示されるように、装置にDTMF回路が設けられて
いることを指示する指令（DE）がレジスタ70に含まれて
おり、装置にインターフェイス回路が設けられているこ
とを指示する指令（LE）がレジスタ68に含まれている。
試験装置は１つ以上（４つまで）のランインターフェイ
ス回路14及びDTMF回路24を有しているためにこれら指令
（LE,DE）が使用される。又、試験装置には伝達性試験
回路26が設けられてもよいし、設けられなくてもよい。
試験装置にDTMF回路24が設けられた時には、出力（DE）
（第３図には示されていないが第４図には示されてい
る）がプロセッサ32に与えられる。又、プロセッサ32
は、DTMF回路24が設けられたラインインターフェイス回
路14の各ラインごとに、各発呼ラインのアドレス時間に
ダイヤルトーン検出（DTD）出力を受け取る。多周波数
トーンフォーマットでダイヤル数字を表わすDTMF出力パ
ルス指令（DTTR）は、DTMF回路に接続された各発呼ライ
ンごとにDTMF回路に与えられる。DTTR指令はDTMF回路24
のレジスタに多ビットコードとして記憶される。各々の
発呼及び被呼ライン対はこれらレジスタにそれ自身の専
用位置群を有している。これらレジスタはDTD出力を記
憶する。これらレジスタは第３図及び第４図に関連して
詳細に説明する。
コードにより各発呼ラインに対する個々のトーン発生回
路が作動され、各数字に対する多周波数トーンがライン
に順次に伝送される。番号がこれら数字に対応するよう
な被呼ラインはラインインターフェイス装置14のリング
検出・応答回路によって終端される。リンギングが検出
されると、RD出力が発呼及び被呼ライン対に対するライ
ンインターフェイスレジスタの１群の位置に与えられ
る。ラインインターフェイス装置はTS指令によって作動
され、被呼ラインをオフフック状態に至らしめる。
伝達性試験回路26のインターフェイス装置34はアクセス
伝達性／極性試験指令（ATP）を受け取る。４個のライ
ンインターフェイスユニット14全部に対して伝達性試験
回路26が１個しかないので、伝達性試験回路26はカット
スルー指令（被呼及び発呼ラインからラインインターフ
ェイス装置を切断すると共に伝達性試験回路をそれら被
呼及び発呼ラインに接続するための指令）に基づいて各
々の被呼及び発呼ラインに接続される。これらの指令
は、伝達性及び導通性或いは極性の試験を行なうべき時
にアクセスバスを経てラインのチップ及びリング接続部
へ接続されるべき各被呼及び発呼ラインに対する位置に
記憶される。発信カットスルー指令（CO）及び着信カッ
トスルー指令（CT）はTACO及びTACTリレーを制御し、こ
れらリレーはラインインターフェイスユニットを遮断す
ると共に、ラインを導通性／極性検出器40及び42並びに
カプラー44及び46に接続する。COはTACOリレーを制御し
そしてCTはTACTリレーを制御する。
順方向或いは逆方向の伝達性の試験にはFWD及びBAC指令
が用いられる。導通性／極性検出器40及び42からの出
力、各々（TCP）及び（RCP）はインターフェイス装置34
によってプロセッサ32へ与えられる。トーン検出器52か
らの伝達レベル出力はインターフェイス装置34によりそ
の（TTD）出力として与えられる。FWD指令及びTTD出力
の存在は順方向の伝達レベル試験の結果を指示する。BA
C指令及びTTD出力は逆方向の伝達レベル試験の結果を表
している。
さて第３図を参照すれば、マイクロプロセッサ16及びこ
れに組合わされたメモリ18が示されている。又、ライン
インターフェイスユニット14の１つも示されているが、
このユニットは更に３個設けることができる。第３図に
示された装置にはDTMF回路即ち付属部品24の１つが設け
られている。この例示装置には更に３個のDTMF回路が含
まれてもよい。第３図に示された装置には１つの伝達性
・導通性・ループ極性試験回路26も設けられている。
メモリ18とマイクロプロセッサ16との間の制御・データ
バスは、16本のアドレスラインを含むアドレスバス（AD
BUS）と８ラインデータバスとによって与えられる。
マイクロプロセッサユニット16とメモリ18との間の制御
・データバスはφ２およびR/W指令を含む。φ２はデー
タバスのデータが有効である時に現れる。R/Wは通常は
メモリRAMからの読取を可能にするレベルである。メモ
リのAD BUSバッファレジスタ・デコーダ62のアドレス
信号は、これらデコーダの出力においてバッファアドレ
ス即ちBA BUSに現れる。BA BUS及びデータバス並びに
Ｂφ２及びBR/Wラインは、メモリ18と、I/Oインターフ
ェイス装置20及びラインインターフェイス装置14と、DT
MF回路24と、伝達性試験回路26との間の制御・データバ
スを構成する。
マイクロプロセッサ（MPU）16は、Arizona,PhoenixのMo
torola Semiconductor Companyにより製造された型式68
03のような市販のマイクロプロセッサチップである。非
同期通信アダプタにより制御・データバうがI/Oインタ
ーフェイス装置20へ独立して接続され、制御及びデータ
信号はインターフェイス装置20に直列に与えられ、イン
ターフェイス装置20は直列型インターフェイス装置をな
すことができる。
メモリ18は、数千個のアドレスのリードオンメモリ及び
約2,000のアドレスのランダムアクセスメモリを有する
主記憶ユニットより成る。メモリもシステム内の他の装
置もアドレスされない場合には、これらは接続されたバ
スにおいて３状態に保たれ、即ち高インピーダンス状態
に保たれる。換言すれば、メモリチップのようなチップ
が作動可能にされない場合には、このチップが自動的に
３状態をとる。それ故、バスはシステムのレジスタ及び
論理ユニットをなす多数のチップを働かすことができ
る。
主記憶装置64は、アドレスバスにおいてこの主記憶装置
に指定されたアドレスのみを選択するデコーダ66を経て
そのアドレスを受け取る。ラインインターフェイス装置
14、DTMF回路24及び伝達性試験回路26のレジスタ各々6
8、70および72には別のアドレスが指定される。バッフ
ァレジスタ・デコーダ62には、アドレスがインターフェ
イス装置14にも回路24および26にも意図されたものでな
い限りレジスタ68、70及び72がこのようなアドレスに応
答するのを防止する作動可能化出力を与える。
ラインインターフェイス装置及びDTMF回路の印刷配線ボ
ードが受け入れられた主フレームの後面から位置識別
（ID）ライン（３ビット）を読み取るボード位置比較器
74を介してMPUにより４個のラインインターフェイス装
置14及びDTMF回路24の１つが指定される。IDラインから
のビットと、AD BUSに沿って比較器74へ送られたアド
レスからのビットとの比較により、各ラインインターフ
ェイス装置14をアドレスすることができる。
MPUはレジスタを走査し、供試電話交換システムの各ラ
インごとに各レジスタの位置にアクセスする。位置識別
ラインがあるので、ラインインターフェイス装置及びDT
MF回路のボードを主フレームの特定位置に配置する必要
がないという点で装置に融通性がある。ラインインター
フェイス装置の指定は始動（電源オン）の際にMPUによ
って行われる。
レジスタ68、70及び72はそれらの各ユニット内の回路を
作動させる指令を含む。又、これらレジスタはこれら回
路により送られる情報、即ち供試電話交換システムに対
する試験結果として発生された出力、も含む。ラインイ
ンターフェイス装置14のレジスタ68は結合回路及びバッ
ファ（図示せず）を経てインターフェイス装置14のライ
ンパルス付与・リング検出回路76へ接続される。同様
に、DTMF発生・トーン検出回路78並びにDTMF回路はその
レジスタ70に接続される。トーン検出回路及びトーン発
生回路を当該ラインに接続するようにTACO及びTACTリレ
ーを作動する伝達アクセス回路（図示せず）もインター
フェイス装置14に含まれる。伝達アクセス制御／極性ト
ーン検出回路80はレジスタ72に接続される。レジスタ72
は伝達性試験回路26のインターフェイス装置34の１部分
である。
第４図を参照すれば、同様のレジスタ68、70及び72のメ
モリマップが示されている。１対の発信（発呼）及び着
信（被呼）ラインに対する１群の位置が示されている。
扇状の広がりは、このような対が各ラインインターフェ
イス装置14に８個ありそして４個のラインインターフェ
イス装置に対して全部で32対のラインが試験されること
を示している。同様の数の連続した位置群がある。然し
乍ら、レジスタのアドレス作動及び走査を簡単化するよ
うに、その全部が使用されるのではない。レジスタ自体
はフリップ−フロップ配列体で形成される。この配列体
は巾が８ビット（１データバイト）でありそして長さが
32バイトである。アドレスバスの16アドレスビットによ
って識別される連続位置は８本の発信即ち発呼ライン及
び８本の着信即ち被呼ラインに組合わされる。簡単化の
ため、発呼ラインに組合わされた最初の４つの位置即ち
アドレス０−３のみが示されている。又、被呼ラインに
組合わされた最初の４つのアドレス即ち連続位置４−７
のみが第４図に示されている。他の指令を表わすビット
の位置は上記した指令に対する術語によって指示され
る。第４図の表は更にビットを識別する。６ビットより
成るDTMFコードは各発呼ライン位置の第２バイトに配置
される。このコードは、発呼ラインを経てダイヤルトー
ンを送信するDTMFトーン発生器を制御する論理装置を作
動する。DTMFコードのデコーダは、DTMF発生器78の１部
である。レジスタ68、70及び72は全て同じものであり、
その位置は連続しているから、連続的なアドレスを用い
て、データバスにより指令をレジスタに読み込んだりそ
こから出力を書き取ったりすることができる。これらの
出力はデータバスを経てI/Oインターフェイス装置20へ
送られ、そして端末装置22（第１図）に印字するが如き
によって表示される情報に変換される。
第５図を参照すれば、各々の発呼ラインにダイヤルパル
スを送出する回路が示されている。発呼ラインのチップ
及びリング接続部TOS及びROSは、リレー接点（TR）間に
接続される。接点は一般にそうであるようにキャパシタ
及び抵抗回路網82によって橋絡されそして抵抗84によっ
てリング端子へ接続される。TRリレーの作動巻線RWTR
は、駆動回路を保護するために自由輪ダイオードLEDに
よって橋絡される。この作動巻線は光学カプラー（OC
O）から作動電流を受け取る。このカプラーは、TRレベ
ルが低い時にTR指令が生じた際に作動電流を送るように
作動可能にされる。
OCOは、第5b図に示されたように発光ダイオード68と、
ホトトランジスタ88と、電流増巾器90とを含む回路であ
る。ダイヤル数字の時間巾及び数字と数字との間の時間
は、MPU16により送られる指令のタイミングによって制
御される。一連のデジタルパルスは、チップ及びリング
接続部を経て発呼ラインへ送られる。
第5b図の回路は、TSリレーの作動回路である。この回路
は、リレーの作動巻線RWTSへ作動電流を送る。TS指令
は、光学カプラーOCOの発光ダイオード86を作動するこ
とにより作動電流を生じさせる。TSレベルが低い時は、
被呼ラインがオフフックである。TSレベルが高い時は、
被呼ラインがオンフックであり、TS指令をパルス状に付
与してダイヤルパルスを発生させる。発呼ラインがオフ
フックである時には、RWTRリレー（第5a図）に組合わさ
れた発呼ダイオード（図示せず）が該リレーの接点によ
り作動される。被呼ラインがオフフックである時は、RW
TSリレーに組合わされた発光ダイオード（図示せず）が
該リレーの接点によって作動される。これらラインの各
々のチップ及びリング接続部が利用できるので、送受器
を選択されたラインのチップ及びリング接続部に接続す
ることによりダイヤルトーン及びトーンの伝達に対する
手動試験を行なうことができる。伝達試験回路26が設け
られている時にはこのような手動のトーン伝達チェック
は不要である。存在しない装置のアドレスは作動中に飛
び越されるので試験装置の作動速度が増大される。
第5c図を参照すれば、光学カプラーOCOは、リンギング
電流によって作動されて光パルスを発生する発光ダイオ
ード94を有している。この光パルスはホトトランジスタ
96によって検出され、このホトトランジスタ96に接続さ
れた回路98で増巾及び半波整流され、そしてキャパシタ
100及び増巾器102を有する積分回路によって積分され
る。ホトトランジスタ96によって取り上げられた光パル
スは電流パルスに変換され、これら電流パルスは積分さ
れ、リンギングが検出された時のRD出力レベルを生じさ
せる。キャパシタ104はリンギング電流を発光ダイオー
ド94へ結合する。このダイオード94を介してリング接続
部RTSへと戻る回路は抵抗106及び108によって完成され
る。発光ダイオード94を橋絡するダイオード110は、発
光ダイオードを逆方向の過電圧から保護する。RD出力
は、レジスタ68へ送られ、リンギングが検出された被呼
ラインに指定された適切な位置に与えられる。TS及びTR
指令はレジスタ68から第5a図及び第5b図に示されたライ
ンパルス付与回路及びオフフック回路へ送られる。同様
に、DTMF発生・トーン検出回路78はこれに対して指定さ
れたレジスタ70の位置（フリップ−フロップ）に接続さ
れる。伝達試験回路26のレジスタ72及び回路80について
も同じことが言える。
以上の説明より、電話交換システムを試験する改良され
た装置が提供されたことが明らかであろう。32対までの
発呼及び被呼ラインを試験することのできる試験装置の
好ましい実施例について説明した。マイクロプロセッサ
制御器を使用したことにより試験装置を小型のユニット
として実施することができる。又、マイクロプロセッサ
制御器は、試験装置の他の作動機能を与えるようにも寄
与する。試験装置は、もちろん拡張することができる。
本発明の範囲内でその他の変更及び修正が当然当業者に
示唆されよう。従って、以上の説明は、本発明を例示す
るものに過ぎず、本発明をこれに限定するものではな
い。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 バ−ブ・チヤ−ルス・ザ・サ−ド アメリカ合衆国ニユ−ヨ−ク州14621ロチ エスタ−・コリングウツド・ドライブ128 (56)参考文献 特開 昭53−59314（ＪＰ，Ａ)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】電話交換システム上のトラヒック負荷を模
    擬することによって電話交換システムを試験するための
    試験装置において、前記電話交換システムの１群のライ
    ンのうちの異なる発呼ラインおよび異なる被呼ラインの
    間に接続しうる複数個のラインインターフェイス装置
    と、マイクロプロセッサ制御手段と、端末装置とを備え
    ており、前記ラインインターフェイス装置は、ダイヤル
    信号発生回路、リング検出応答回路およびラインインタ
    ーフェイスレジスタを含んでおり、前記ダイヤル信号発
    生回路は、それぞれ、前記電話交換システムの前記発呼
    ラインに接続され、前記マイクロプロセッサ制御手段に
    よる制御に応じて、前記インターフェイスレジスタに記
    憶された指令に基づいて、種々なダイヤル信号を送出す
    ることにより、同時的シーケンスおよび番号で呼を前記
    電話交換システムの前記異なる発呼ラインの各々に発信
    しうるようにされており、前記リング検出応答回路は、
    前記電話交換システムの前記被呼ラインに接続され、前
    記マイクロプロセッサ制御手段による制御に応じて、前
    記インターフェイスレジスタに記憶された指令に基づい
    て、前記ダイヤル信号発生回路からの前記呼に応答する
    前記電話交換システムの前記異なる被呼ラインのリンギ
    ングの有無をそれぞれ表す出力を与えて、これら出力を
    前記インターフェイスレジスタに記憶させるようにされ
    ており、前記端末装置には、前記マイクロプロセッサ制
    御手段によって制御されて、前記インターフェイスレジ
    スタに記憶された前記出力を表示するための表示手段が
    含まれていることを特徴とする試験装置。
JP56501942A 1980-08-13 1981-05-01 電話交換システムを試験するための試験装置 Expired - Lifetime JPH07118744B2 (ja)

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US06/177,659 US4314110A (en) 1980-08-13 1980-08-13 System for the testing of telephone switching systems
US177659 1980-08-13
PCT/US1981/000581 WO1982000743A1 (en) 1980-08-13 1981-05-01 System for the testing of telephone switching systems

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JPS57501504A JPS57501504A (ja) 1982-08-19
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WO (1) WO1982000743A1 (ja)

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EP0057682A1 (en) 1982-08-18
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WO1982000743A1 (en) 1982-03-04
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