JPH07114032B2 - 光学記録媒体 - Google Patents
光学記録媒体Info
- Publication number
- JPH07114032B2 JPH07114032B2 JP61005726A JP572686A JPH07114032B2 JP H07114032 B2 JPH07114032 B2 JP H07114032B2 JP 61005726 A JP61005726 A JP 61005726A JP 572686 A JP572686 A JP 572686A JP H07114032 B2 JPH07114032 B2 JP H07114032B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical recording
- recording film
- optical
- film
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- Prior art date
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、加熱によって追記を行う光学記録媒体に関す
るものである。
るものである。
本発明は、上記の様な光学記録媒体において、柔軟性を
有している第１の保護部材に支持層と光学記録膜とを積
層し、この第１の保護部材を一対の第２の保護部材の間
に固着し、支持層の軟化温度を第１及び第２の保護部材
の軟化温度よりも高くすることによって、情報の正確且
つ安定な再生が可能であると共に低コストでの製造が可
能である様にしたものである。
有している第１の保護部材に支持層と光学記録膜とを積
層し、この第１の保護部材を一対の第２の保護部材の間
に固着し、支持層の軟化温度を第１及び第２の保護部材
の軟化温度よりも高くすることによって、情報の正確且
つ安定な再生が可能であると共に低コストでの製造が可
能である様にしたものである。
第５図は、光カードに適用されている本発明の第１従来
例を示している。この光カード10では、ポリカーボネー
トやPMMA等から成りハードコート11を付されている透明
基盤12に、Sb2Se3膜13aとBi2Te3膜13bとから成る光学記
録膜13が積層されており、更にこの光学記録膜13に保護
層14が積層されている。
例を示している。この光カード10では、ポリカーボネー
トやPMMA等から成りハードコート11を付されている透明
基盤12に、Sb2Se3膜13aとBi2Te3膜13bとから成る光学記
録膜13が積層されており、更にこの光学記録膜13に保護
層14が積層されている。
なおSb2Se3膜13aとBi2Te3膜13bとの夫々の厚さは、透明
基板12側から再生用のビームを入射させた場合にその波
長で反射率が極小になる様に設定されている。
基板12側から再生用のビームを入射させた場合にその波
長で反射率が極小になる様に設定されている。
この様な光カード10の光学記録膜13に、第５図Ｂに示す
様に透明基板12側から記録用のレーザビーム15が照射さ
れると、照射された部分のみが加熱されてこの部分の温
度が上昇する。すると、この温度上昇によってSb2Se3膜
13aとBi2Te3膜13bとが合金化して反射率が高くなり、こ
の反射率が高くなったドット状の部分が情報記録部分16
となる。
様に透明基板12側から記録用のレーザビーム15が照射さ
れると、照射された部分のみが加熱されてこの部分の温
度が上昇する。すると、この温度上昇によってSb2Se3膜
13aとBi2Te3膜13bとが合金化して反射率が高くなり、こ
の反射率が高くなったドット状の部分が情報記録部分16
となる。
情報記録部分16は第６図に示す様に直線状の１つの情報
記録列17内に多数形成され、図示されていないがこの様
な情報記録列17が光学記録膜13の面内で互いに平行に多
数形成される。
記録列17内に多数形成され、図示されていないがこの様
な情報記録列17が光学記録膜13の面内で互いに平行に多
数形成される。
光カード10から記録情報を再生する場合は、第６図に示
す様に少なくとも１つの情報記録列７の全体に再生用の
ビーム21を照射し、反射されたビーム21を結像光学系22
を介してラインセンサ23上に集光させる。
す様に少なくとも１つの情報記録列７の全体に再生用の
ビーム21を照射し、反射されたビーム21を結像光学系22
を介してラインセンサ23上に集光させる。
すると、反射率の高い情報記録部分16に対応してライン
センサ23上に光強度の強いドット状の像24が結像され
る。つまり、情報記録列17上における反射率の変化がラ
インセンサ23上における光強度の変化となり、この光強
度の変化が電気信号に変換されることによって、１つの
情報記録列17中の記録情報が再生される。そして、多数
の情報記録列17から順次に記録情報を再生することによ
って、総ての記録情報が再生される。
センサ23上に光強度の強いドット状の像24が結像され
る。つまり、情報記録列17上における反射率の変化がラ
インセンサ23上における光強度の変化となり、この光強
度の変化が電気信号に変換されることによって、１つの
情報記録列17中の記録情報が再生される。そして、多数
の情報記録列17から順次に記録情報を再生することによ
って、総ての記録情報が再生される。
第７図は、特開昭55−108995号公報に記載されており光
カードにも適用され得る本発明の第２従来例を示してい
る。
カードにも適用され得る本発明の第２従来例を示してい
る。
この光学記録媒体30では、基板31にゼラチン層32と光沢
を有する銀層33と透明保護層34とがこの順序で積層され
ており、更に透明保護層34にハードコート35が付されて
いる。
を有する銀層33と透明保護層34とがこの順序で積層され
ており、更に透明保護層34にハードコート35が付されて
いる。
また図示されてはいないが、本発明の第３従来例とし
て、レーザビームの照射による加熱によって光学記録膜
を溶融させる様にした光学記録媒体が知られている。
て、レーザビームの照射による加熱によって光学記録膜
を溶融させる様にした光学記録媒体が知られている。
ところが上述の第１従来例の光カード10では、Sb2Se3膜
13aとBi2Te3膜13bとを合金化させて情報を記録する際の
加熱によって、第５図Ｂに示す様に透明基板12や保護層
14が熱変形して、凹凸のレリーフが形成される。
13aとBi2Te3膜13bとを合金化させて情報を記録する際の
加熱によって、第５図Ｂに示す様に透明基板12や保護層
14が熱変形して、凹凸のレリーフが形成される。
このレリーフの形成は、情報記録後に光カード10から保
護層14と光学記録膜13とを剥離し、220倍の顕微鏡写真
をとると、透明基板12に凹凸が認められることからも確
認される。
護層14と光学記録膜13とを剥離し、220倍の顕微鏡写真
をとると、透明基板12に凹凸が認められることからも確
認される。
この結果、ラインセンサ23上には、光学記録膜13の反射
率変化に基づくコントラストのみではなく、光学記録膜
13に形成されたレリーフによって発生する位相差に基づ
くコントラストも現れる。
率変化に基づくコントラストのみではなく、光学記録膜
13に形成されたレリーフによって発生する位相差に基づ
くコントラストも現れる。
このため、ラインセンサ23上の光量分布は情報記録列17
に正確には対応せず、従って像24も情報記録部分16に正
確には対応しない。この結果、光カード10からは記録情
報が正確には再生されない。
に正確には対応せず、従って像24も情報記録部分16に正
確には対応しない。この結果、光カード10からは記録情
報が正確には再生されない。
しかも位相差に基づくコントラストは、光学系の収差、
デフォーカス、指紋等の汚れ等の位相的外乱に対して敏
感に反応する。このために、僅かなデフォーカスや汚れ
で再生波形が変化し、読取エラーが増加してしまう。
デフォーカス、指紋等の汚れ等の位相的外乱に対して敏
感に反応する。このために、僅かなデフォーカスや汚れ
で再生波形が変化し、読取エラーが増加してしまう。
また上述の第２従来例の光学記録場位置30では、出力が
20mW力の半導体レーザを用いて20cm/秒の速さで直径が
５μｍ程度の情報記録部分16を形成する場合は、反射率
変化は殆ど生じず、第７図Ｂに示す様なゼラチン層32の
陥没による凹凸のみでコントラストが得られる。つま
り、光学記録媒体30の変調原理は位相性が非常に強い。
20mW力の半導体レーザを用いて20cm/秒の速さで直径が
５μｍ程度の情報記録部分16を形成する場合は、反射率
変化は殆ど生じず、第７図Ｂに示す様なゼラチン層32の
陥没による凹凸のみでコントラストが得られる。つま
り、光学記録媒体30の変調原理は位相性が非常に強い。
このために光学記録媒体30では、デフォーカスや汚れ等
によって再生波形が著しい影響を受け、Sb2Se3系の光学
記録膜13を有している光カード10に比べて情報を安定的
に再生することができない。
によって再生波形が著しい影響を受け、Sb2Se3系の光学
記録膜13を有している光カード10に比べて情報を安定的
に再生することができない。
また上述の第３従来例の光学記録媒体では、必然的に基
板を変形させるが、積層構造にすると記録感度が低下
し、また元来明瞭な再生波形が得られない。しかも、情
報の記録によって反射率が低くなる極性であるために、
光学記録膜中のピンホールが情報記録部分と誤認識され
る。従って、第３従来例の光学記録媒体で情報が正確且
つ安定的には再生されない。
板を変形させるが、積層構造にすると記録感度が低下
し、また元来明瞭な再生波形が得られない。しかも、情
報の記録によって反射率が低くなる極性であるために、
光学記録膜中のピンホールが情報記録部分と誤認識され
る。従って、第３従来例の光学記録媒体で情報が正確且
つ安定的には再生されない。
本発明による光学記録媒体50では、柔軟性を有している
第１の保護部材51に支持層41と光学記録膜13とが積層さ
れており、前記支持層41と前記光学記録膜13とが積層さ
れている前記第１の保護部材51が一対の第２の保護部材
12、14の間に固着されており、前記支持層41の軟化温度
が前記第１及び第２の保護部材51、12、14の軟化温度よ
りも高く、前記光学記録膜13のうちで加熱された部分の
反射率が加熱されていない部分の反射率よりも高くなり
前記加熱によって前記光学記録膜13に情報が記録され
る。
第１の保護部材51に支持層41と光学記録膜13とが積層さ
れており、前記支持層41と前記光学記録膜13とが積層さ
れている前記第１の保護部材51が一対の第２の保護部材
12、14の間に固着されており、前記支持層41の軟化温度
が前記第１及び第２の保護部材51、12、14の軟化温度よ
りも高く、前記光学記録膜13のうちで加熱された部分の
反射率が加熱されていない部分の反射率よりも高くなり
前記加熱によって前記光学記録膜13に情報が記録され
る。
本発明による光学記録媒体50では、保護部材12、14、51
よりも軟化温度が高い支持層41によって光学記録膜13が
支持されているので、情報の記録のために光学記録膜13
が加熱されても、光学記録膜13の両面側に配されている
保護部材12、14、51が熱変形することはない。
よりも軟化温度が高い支持層41によって光学記録膜13が
支持されているので、情報の記録のために光学記録膜13
が加熱されても、光学記録膜13の両面側に配されている
保護部材12、14、51が熱変形することはない。
しかも、第１の保護部材51が柔軟性を有しているので、
この第１の保護部材51に支持層41や光学記録膜13を積層
させつつ筒状に巻回したりすることによって、支持層41
と光学記録膜13とが積層された第１の保護部材51を連続
的に生産することができる。
この第１の保護部材51に支持層41や光学記録膜13を積層
させつつ筒状に巻回したりすることによって、支持層41
と光学記録膜13とが積層された第１の保護部材51を連続
的に生産することができる。
以下、光カードに適用した本発明の参考例及び一実施例
を第１図〜第４図を参照しながら説明する。
を第１図〜第４図を参照しながら説明する。
第１図が、参考例と記録装置とを示している。この参考
例の光カード40は、透明基板12と光学記録膜13との間に
5000Å〜２μｍ程度の厚さのアンダコート層41が配され
ていることを除いて、既述の第１従来例の光カード10と
実質的に同様の構成であってよい。
例の光カード40は、透明基板12と光学記録膜13との間に
5000Å〜２μｍ程度の厚さのアンダコート層41が配され
ていることを除いて、既述の第１従来例の光カード10と
実質的に同様の構成であってよい。
アンダコート層41の材料としては、SiOやSiO2、アクリ
ル系の紫外線硬化樹脂、例えばエポキシアクリレートと
ウレタンアクリレートとの組合せや他官能アクリレート
とウレタンアクリレートとの組合せ、加熱硬化型の樹
脂、例えばアルコキシシラン化合物の加水分解・縮合物
やメラミンアルキード系樹脂、その他、シリコーン系、
エポキシ系の紫外線硬化樹脂等であってよい。
ル系の紫外線硬化樹脂、例えばエポキシアクリレートと
ウレタンアクリレートとの組合せや他官能アクリレート
とウレタンアクリレートとの組合せ、加熱硬化型の樹
脂、例えばアルコキシシラン化合物の加水分解・縮合物
やメラミンアルキード系樹脂、その他、シリコーン系、
エポキシ系の紫外線硬化樹脂等であってよい。
これらの材料は、透明基板12の材料よりも軟化温度が高
い。またこれらの材料は、鉛筆硬度におけるＨ以上の硬
度を有していることが好ましい。
い。またこれらの材料は、鉛筆硬度におけるＨ以上の硬
度を有していることが好ましい。
なおアンダーコート層41は、その材料がSiOやSiO2等の
場合は真空蒸着やスパッタリング等によって形成されて
おり、その材料が既述の樹脂等の場合はスピンコートや
ディップコート等によって形成されている。
場合は真空蒸着やスパッタリング等によって形成されて
おり、その材料が既述の樹脂等の場合はスピンコートや
ディップコート等によって形成されている。
この様な光カード40では、レーザ42から射出されコリメ
ータレンズ43、ガルバノミラー44及び対物レンズ45を介
して５〜８μｍ程度のスポット径に集光されたレーザビ
ーム46が光学記録膜13に照射されると、このレーザビー
ム46のエネルギーが主にBi2Te3膜13bによって吸収さ
れ、光学記録膜13の温度が上昇して、Bi2Te3膜13bとSb2
Se3膜13aとが合金化される。
ータレンズ43、ガルバノミラー44及び対物レンズ45を介
して５〜８μｍ程度のスポット径に集光されたレーザビ
ーム46が光学記録膜13に照射されると、このレーザビー
ム46のエネルギーが主にBi2Te3膜13bによって吸収さ
れ、光学記録膜13の温度が上昇して、Bi2Te3膜13bとSb2
Se3膜13aとが合金化される。
そして、ガルバノミラー44が支点44aを中心として揺動
し、レーザビーム46のスポットが光カード40上を10〜数
10cm/秒の速さで直線状に移動することによって、光カ
ード40には反射率が高くなったドット状の情報記録部分
16が直線状に形成される。
し、レーザビーム46のスポットが光カード40上を10〜数
10cm/秒の速さで直線状に移動することによって、光カ
ード40には反射率が高くなったドット状の情報記録部分
16が直線状に形成される。
ところがこの参考例の光カード40では、透明基板12より
も軟化温度の高いアンダコート層41が設けられているの
で、レーザビーム46による加熱によって透明基板12や保
護層14が熱変形することはなく、凹凸のレリーフが形成
されることはない。
も軟化温度の高いアンダコート層41が設けられているの
で、レーザビーム46による加熱によって透明基板12や保
護層14が熱変形することはなく、凹凸のレリーフが形成
されることはない。
このことは、第１従来例の場合と同様に情報記録後に光
カード40から保護層14、光学記録膜13及びアンダコート
層41を剥離し、220倍の顕微鏡写真をとっても、透明基
板12には凹凸が認められないことからも確認される。
カード40から保護層14、光学記録膜13及びアンダコート
層41を剥離し、220倍の顕微鏡写真をとっても、透明基
板12には凹凸が認められないことからも確認される。
つまりこの参考例の光カード40では、アンダコート層41
が光学記録膜13を支持している支持層となっており、透
明基板12と保護層14とが光学記録膜13を保護している保
護部材となっている。
が光学記録膜13を支持している支持層となっており、透
明基板12と保護層14とが光学記録膜13を保護している保
護部材となっている。
従ってこの参考例の光カード40では、位相的外乱による
影響が少なく、情報の正確且つ安定な再生が可能であ
る。
影響が少なく、情報の正確且つ安定な再生が可能であ
る。
ところで透明基板12は、製造コストを低減させるために
通常は押出し成形等で作成されるが、その時にロール等
による傷が付き易い。この傷は、220倍の顕微鏡写真に
よって認められる。
通常は押出し成形等で作成されるが、その時にロール等
による傷が付き易い。この傷は、220倍の顕微鏡写真に
よって認められる。
そして、傷を付けられた透明基板12上に直接に光学記録
膜13が形成されると、この光学記録膜13の平坦性が損わ
れ、再生時のエラーやS/Nの劣化等の原因にもなる。
膜13が形成されると、この光学記録膜13の平坦性が損わ
れ、再生時のエラーやS/Nの劣化等の原因にもなる。
しかしこの参考例の光カード40の製造時に、透明基板12
上にアンダコート層41を形成し、更にその上に光学記録
膜13を形成する様にすれば、透明基板12の傷はアンダコ
ート層41によって埋められる。
上にアンダコート層41を形成し、更にその上に光学記録
膜13を形成する様にすれば、透明基板12の傷はアンダコ
ート層41によって埋められる。
この様に透明基板12の傷が埋められてこの透明基板12の
表面が平滑になることは、220倍の顕微鏡写真によって
確認される。従って、この場合は、光学記録膜13の平坦
性が損なわれることはなく、上述の様な問題点が発生す
ることもない。
表面が平滑になることは、220倍の顕微鏡写真によって
確認される。従って、この場合は、光学記録膜13の平坦
性が損なわれることはなく、上述の様な問題点が発生す
ることもない。
また透明基板12の材料がPMAAの場合は、この透明基板12
と光学記録膜13との接着がアンダコート層41によって強
固になるので、光カード40の曲げや捩れ等に対する信頼
性が大きい。
と光学記録膜13との接着がアンダコート層41によって強
固になるので、光カード40の曲げや捩れ等に対する信頼
性が大きい。
しかし、ポリカーボネートやPMMA等から成っている透明
基板12は柔軟性を有していないので、この透明基板12に
アンダコート層41や光学記録膜13を積層させつつ筒状に
巻回したりすることができない。このため、アンダコー
ト層41と光学記録膜13とが積層された透明基板12を連続
的に生産することができず、以上の参考例では低コスト
での製造が困難であった。
基板12は柔軟性を有していないので、この透明基板12に
アンダコート層41や光学記録膜13を積層させつつ筒状に
巻回したりすることができない。このため、アンダコー
ト層41と光学記録膜13とが積層された透明基板12を連続
的に生産することができず、以上の参考例では低コスト
での製造が困難であった。
第２図は、第一実施例を示している。この第一実施例の
光カード50は、ポリエステル等から成り厚さが15〜50μ
ｍ程度であるベースシート51にアンダコート層41と光学
記録膜13とが積層されており、このベースシート51が透
明基板12と保護層14との間に固着されていることを除い
て、既述の第１実施例と実質的に同様の構成であってよ
い。
光カード50は、ポリエステル等から成り厚さが15〜50μ
ｍ程度であるベースシート51にアンダコート層41と光学
記録膜13とが積層されており、このベースシート51が透
明基板12と保護層14との間に固着されていることを除い
て、既述の第１実施例と実質的に同様の構成であってよ
い。
アンダコート層41及び光学記録膜13の積層されたベース
シート51は、スプレーコートやグラビアコーティング等
によってアンダコート層41が予め積層されているベース
シート51に第３図に示す様に真空装置52中で蒸着源53か
ら光学記録膜13を積層させたり、アンダコート層41の材
料がSiO2等の無機物の場合は第４図に示す様に蒸着源54
及び53からアンダコート層41と光学記録膜13との両方を
積層させて、これを適当な長さと巾とに切断することに
よって得られる。
シート51は、スプレーコートやグラビアコーティング等
によってアンダコート層41が予め積層されているベース
シート51に第３図に示す様に真空装置52中で蒸着源53か
ら光学記録膜13を積層させたり、アンダコート層41の材
料がSiO2等の無機物の場合は第４図に示す様に蒸着源54
及び53からアンダコート層41と光学記録膜13との両方を
積層させて、これを適当な長さと巾とに切断することに
よって得られる。
アンダコート層41及び光学記録膜13が積層されたベース
シート51は第３図及び第４図から明らかな様に連続生産
が可能であるので、第一実施例の光カード50の製造コス
トを参考例の光カード40の製造コストよりも低減させる
ことができる。
シート51は第３図及び第４図から明らかな様に連続生産
が可能であるので、第一実施例の光カード50の製造コス
トを参考例の光カード40の製造コストよりも低減させる
ことができる。
また、アンダコート層41はポリエステル等から成ってい
るベースシート51よりも硬いので、レーザビーム46によ
るベースシート51の損傷を軽減することができるのみな
らず、第３図や第４図に示した装置のローラやガイド系
等によるベースシート51の表面の損傷をも防止すること
ができる。
るベースシート51よりも硬いので、レーザビーム46によ
るベースシート51の損傷を軽減することができるのみな
らず、第３図や第４図に示した装置のローラやガイド系
等によるベースシート51の表面の損傷をも防止すること
ができる。
また、アンダコート層41によって光学記録膜13がベース
シート51に強固に接着されるので、ローラの半径を小さ
くしても光学記録膜13にひび割れ等が生じにくい。従っ
て、装置を小型化することができると共に、巻回されて
いるロールの取扱いも便利である。
シート51に強固に接着されるので、ローラの半径を小さ
くしても光学記録膜13にひび割れ等が生じにくい。従っ
て、装置を小型化することができると共に、巻回されて
いるロールの取扱いも便利である。
なお、以上の第一実施例は本発明を光カードに適用した
ものであるが、本発明は光カード以外の光学記録媒体に
も適用することができる。
ものであるが、本発明は光カード以外の光学記録媒体に
も適用することができる。
本発明による光学記録媒体では、情報の記録のために光
学記録膜が加熱されても、光学記録膜の両面側に配され
ている保護部材が熱変形しないので、位相的外乱による
影響が少なく、情報の正確且つ安定な再生が可能であ
る。
学記録膜が加熱されても、光学記録膜の両面側に配され
ている保護部材が熱変形しないので、位相的外乱による
影響が少なく、情報の正確且つ安定な再生が可能であ
る。
しかも、支持層と光学記録膜とが積層された第１の保護
部材を連続的に生産することができるので、低コストで
の製造が可能である。
部材を連続的に生産することができるので、低コストで
の製造が可能である。
第１図は本発明の参考例と記録装置とを示す断面図、第
２図は第一実施例を示す断面図、第３図及び第４図は第
一実施例の製造装置を示す平面図である。 第５図及び第７図は本発明の夫々第１及び第２従来例を
示す断面図、第６図は光カードの情報の再生方法を示す
断面図である。 なお、図面に用いた符号において、 12……透明基板 13……光学記録膜 14……保護層 40,50……光カード 41……アンダコート層 51……ベースシート である。
２図は第一実施例を示す断面図、第３図及び第４図は第
一実施例の製造装置を示す平面図である。 第５図及び第７図は本発明の夫々第１及び第２従来例を
示す断面図、第６図は光カードの情報の再生方法を示す
断面図である。 なお、図面に用いた符号において、 12……透明基板 13……光学記録膜 14……保護層 40,50……光カード 41……アンダコート層 51……ベースシート である。
Claims (1)
- 【請求項１】柔軟性を有している第１の保護部材に支持
層と光学記録膜とが積層されており、 前記支持層と前記光学記録膜とが積層されている前記第
１の保護部材が一対の第２の保護部材の間に固着されて
おり、 前記支持層の軟化温度が前記第１及び第２の保護部材の
軟化温度よりも高く、 前記光学記録膜のうちで加熱された部分の反射率が加熱
されていない部分の反射率よりも高くなり前記加熱によ
って前記光学記録膜に情報が記録される光学記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61005726A JPH07114032B2 (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 光学記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61005726A JPH07114032B2 (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 光学記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62164238A JPS62164238A (ja) | 1987-07-20 |
| JPH07114032B2 true JPH07114032B2 (ja) | 1995-12-06 |
Family
ID=11619126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61005726A Expired - Lifetime JPH07114032B2 (ja) | 1986-01-14 | 1986-01-14 | 光学記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07114032B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2545253B2 (ja) * | 1987-12-19 | 1996-10-16 | 藤森工業株式会社 | 光カードの光記録層保護用積層体 |
| US5200948A (en) * | 1988-02-05 | 1993-04-06 | Tandy Corporation | Recording method and apparatus |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0675302B2 (ja) * | 1983-08-10 | 1994-09-21 | 松下電器産業株式会社 | 光ディスク |
| JPH0724115B2 (ja) * | 1983-11-25 | 1995-03-15 | 株式会社日立製作所 | 保護膜を有する光学記録部材 |
-
1986
- 1986-01-14 JP JP61005726A patent/JPH07114032B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62164238A (ja) | 1987-07-20 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |