JPH07111791B2 - Method for manufacturing magneto-optical recording medium - Google Patents

Method for manufacturing magneto-optical recording medium

Info

Publication number
JPH07111791B2
JPH07111791B2 JP61126802A JP12680286A JPH07111791B2 JP H07111791 B2 JPH07111791 B2 JP H07111791B2 JP 61126802 A JP61126802 A JP 61126802A JP 12680286 A JP12680286 A JP 12680286A JP H07111791 B2 JPH07111791 B2 JP H07111791B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
recording medium
optical recording
film
target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP61126802A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS62283434A (en
Inventor
修一 野川
真一 高野
康治 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP61126802A priority Critical patent/JPH07111791B2/en
Publication of JPS62283434A publication Critical patent/JPS62283434A/en
Publication of JPH07111791B2 publication Critical patent/JPH07111791B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は光磁気記録媒体の製造方法に関する。The present invention relates to a method for manufacturing a magneto-optical recording medium.

(従来の技術) 近年、高密度大容量記録方式として、レーザー光による
熱磁気記録を行う光磁気記録方式が注目されつつある。
この記録方式に使用する記録媒体としては、希土類−遷
移金属よりなる非晶質磁性薄膜が有望視されている。こ
れは大面積の作製が容易であるとともに、読み出しノイ
ズが少ないことに基づく。そしてこの種の代表的な材料
としては、TbFe,GdCoなどの合金薄膜が挙げられる。
(Prior Art) In recent years, as a high-density and large-capacity recording method, a magneto-optical recording method that performs thermomagnetic recording by laser light is drawing attention.
As a recording medium used in this recording method, an amorphous magnetic thin film made of a rare earth-transition metal is considered promising. This is because it is easy to manufacture a large area and read noise is small. An alloy thin film of TbFe, GdCo or the like is given as a typical material of this type.

ところでこの種磁性薄膜の作製のための一つの方法に、
高周波スパッタリング法がある。これは10-3〜10-1Torr
程度のアルゴンガス雰囲気中で、材料となる金属ターゲ
ットに負の高周波電圧を加えて、膜の作製を行う方法で
ある。
By the way, one method for producing this kind of magnetic thin film,
There is a high frequency sputtering method. This is 10 -3 to 10 -1 Torr
In this method, a negative high-frequency voltage is applied to a metal target as a material in an argon gas atmosphere to produce a film.

ところがこの方法によるとスパッタ時の動作ガス圧が高
いので、磁性膜中にアルゴンガス、残留不純物ガス(窒
素、酸素等)が多量に混入してしまうことがある。また
基板近傍の電界の不均一性によって、基板の径方向に沿
う組成に差が生じ、磁気特性の一様性が問題視されてい
る。
However, according to this method, since the operating gas pressure during sputtering is high, a large amount of argon gas and residual impurity gas (nitrogen, oxygen, etc.) may be mixed in the magnetic film. Further, due to the nonuniformity of the electric field in the vicinity of the substrate, a difference occurs in the composition along the radial direction of the substrate, and the uniformity of magnetic characteristics is regarded as a problem.

前記薄膜の作製のための他の方法にバイアススパッタリ
ング法がある。この方法は基板に負(場合により正)の
直流電圧または高周波電圧のバイアスを印加しつつ、高
周波スパッタリングを行うものである。
Another method for producing the thin film is a bias sputtering method. In this method, high frequency sputtering is performed while applying a bias of negative (or positive in some cases) DC voltage or high frequency voltage to the substrate.

この方法では成膜中に基板の磁性膜のスパッタクリーニ
ングを行い、これによって膜組成の均一性および残留不
純物ガスの低減を図っている。しかしこの方法はアルゴ
ンガスの混入量においてなんら改善されるものではな
く、また基板(通常はガラス、プラスチックなどの透明
材料)に導電性を付与する前処理が必要である。
In this method, the magnetic film on the substrate is sputter-cleaned during film formation, whereby uniformity of film composition and reduction of residual impurity gas are achieved. However, this method does not improve the amount of argon gas mixed in at all, and requires a pretreatment for imparting conductivity to the substrate (usually a transparent material such as glass or plastic).

(発明が解決しようとする問題点) この発明は磁性薄膜の特性にすぐれ、かつ膜の均一性、
再現性の良好な光磁気記録媒体を得ることを目的とす
る。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention has excellent characteristics of a magnetic thin film, and film uniformity,
It is an object to obtain a magneto-optical recording medium having good reproducibility.

(問題点を解決するための手段) この発明はTbFeCo合金の金属をターゲットとし、これを
アルゴンガス圧10-5〜10-4Torrの雰囲気中でイオンビー
ムスパッタして、基板上に膜面と垂直な方向に磁化容易
軸を有するTbFeCo三元非晶質合金薄膜を形成することを
特徴とする。
(Means for Solving Problems) The present invention targets a metal of a TbFeCo alloy, and ion-beam sputters this in an atmosphere having an argon gas pressure of 10 −5 to 10 −4 Torr to form a film surface on a substrate. It is characterized by forming a TbFeCo ternary amorphous alloy thin film having an easy axis of magnetization in the perpendicular direction.

イオンビームスパッタリング法は、通常イオン源よりAr
+イオンをターゲット面上に照射し、スパッタされた粒
子を基板に堆積させて薄膜を作成する手法で、10-5〜10
-4Torrのアルゴン雰囲気中で行われる。この手法を用い
れば前記のようなスパッタ法による場合よりも、1桁以
上の低ガス圧の下で膜形成を行うので、膜内へのアルゴ
ンガス、不純物ガスなどの混入量は大幅に減少するよう
になる。
The ion beam sputtering method usually uses Ar
+ Ions were irradiated on the target surface, the sputtered particles in a manner that a thin film is deposited on the substrate, 10-5
-4 Torr Argon atmosphere. By using this method, the film is formed under a gas pressure of one digit or more lower than in the case of the sputtering method as described above, so that the amount of argon gas, impurity gas, etc. mixed into the film is significantly reduced. Like

更にAr+イオンの生成はイオン源によって行うため、タ
ーゲットと基板との間でプラズマが生じたり、電位差が
生じたりすることはなく、ターゲット面はほぼ均一にス
パッタされるので、膜組成の均一性は良好となる。この
ため基板バイアスは不用であり、基板に導電性を付与す
る前処理を省略することができる。
Furthermore, since Ar + ions are generated by the ion source, there is no plasma or potential difference between the target and substrate, and the target surface is sputtered almost uniformly, so the film composition is uniform. Will be good. Therefore, the substrate bias is unnecessary, and the pretreatment for imparting conductivity to the substrate can be omitted.

なおここに使用する金属にCoがあるが、これは薄膜のカ
ー回転角の向上とキューリー点の上昇、耐食性の向上を
図るために、Feの代りに若干添加したものである。
The metal used here is Co, which is slightly added instead of Fe in order to improve the Kerr rotation angle of the thin film, raise the Curie point, and improve the corrosion resistance.

(実施例) この発明の実施例方法を図によって説明する。第1図に
示す装置において1は真空チャンバー、2はAr+イオン
を発生するイオン源、3はターゲット、4は基板ホルダ
ー、5はこの基板ホルダー4に支持されてあるガラスな
どからなる基板である。ターゲット3はその表面がイオ
ン源2からのビームに対し、45゜に傾斜して配置されて
あり、前記イオンによってスパッタされたターゲットの
微粒子を基板5上に堆積させて、薄膜を作成するもので
ある。
(Embodiment) An embodiment method of the present invention will be described with reference to the drawings. In the apparatus shown in FIG. 1, 1 is a vacuum chamber, 2 is an ion source for generating Ar + ions, 3 is a target, 4 is a substrate holder, and 5 is a substrate made of glass or the like supported by the substrate holder 4. . The surface of the target 3 is arranged at an angle of 45 ° with respect to the beam from the ion source 2, and the fine particles of the target sputtered by the ions are deposited on the substrate 5 to form a thin film. is there.

ターゲット3の構成の一例を示したのが第2図、第3図
で、これはFe:Co=95:5(atom%)の組成からなるター
ゲット面6に、一辺を8mmとする凹部7を複数(図の例
では25個)設け、これにTb小片8として、一辺をそれぞ
れ7mm、5mm、3mmのものを適当な数だけはめこんで、Fe,
CoとTbとを所望の面積比として構成した。
An example of the structure of the target 3 is shown in FIG. 2 and FIG. 3, in which a target surface 6 made of a composition of Fe: Co = 95: 5 (atom%) has a concave portion 7 having a side of 8 mm. Provide a plurality of (25 in the example in the figure), and set Tb small pieces 8 on each side of 7 mm, 5 mm, and 3 mm with an appropriate number of Fe, Fe,
Co and Tb were constructed as the desired area ratio.

上記の装置およびターゲット3を用い、真空チャンバー
1内のArガスの圧力を、6.0×10-5Torr、Ar+イオンビー
ム量(ターゲット面上)を、50〜70mA、ビームエネルギ
ーを、200〜1000eV、プリスパッタ時間を2時間、本ス
パッタ時間を20〜60分とする条件によって薄膜作成を実
施した。作成した試料17種の各特性を示したのが次表で
ある。またTb面積比(%)に対する保持力をグラフにし
て示したのが第4図である。
Using the above apparatus and the target 3, the pressure of Ar gas in the vacuum chamber 1 is 6.0 × 10 −5 Torr, the amount of Ar + ion beam (on the target surface) is 50 to 70 mA, the beam energy is 200 to 1000 eV. A thin film was formed under the conditions that the pre-sputtering time was 2 hours and the main sputtering time was 20 to 60 minutes. The following table shows the characteristics of the 17 samples prepared. Further, FIG. 4 is a graph showing the holding power with respect to the Tb area ratio (%).

上記の各試料において、極カー効果測定器により、膜の
垂直方向の磁気特性を調査した結果、試料番号4及び12
を除く15種の試料について、垂直磁化膜が形成されてい
て、Tbの面積比が31%以上40%以下で、かつビームエネ
ルギー400eV以上であると確実に垂直磁化膜が形成され
ることが確認できた。
In each of the above samples, the magnetic properties in the perpendicular direction of the film were investigated by the polar Kerr effect measuring device, and it was found that
It was confirmed that the perpendicular magnetization film was formed reliably for 15 types of samples except for, if the area ratio of Tb is 31% or more and 40% or less and the beam energy is 400 eV or more. did it.

なお垂直磁気異方性を示す磁性膜のうちでも、実用的な
光磁気記録媒体とするためには、保磁力は1KOe以上であ
ることが望ましい。このような場合は前記した実験結果
より、Tb小片の面積比は、ビームエネルギーが400eV以
上でターゲット面の34%以上を必要とする。
Among the magnetic films exhibiting perpendicular magnetic anisotropy, the coercive force is preferably 1 KOe or more in order to make a practical magneto-optical recording medium. In such a case, the area ratio of the Tb pieces needs to be 34% or more of the target surface when the beam energy is 400 eV or more, based on the above-mentioned experimental results.

また前記した実験では複合ターゲットを用いて行なった
が、これが合金ターゲットの場合でも同様に考えられる
ことから、希土類としてTbを用いた非晶質磁性薄膜をイ
オンビームスパッタ法で作成する場合、ビームエネルギ
ーが400eVでターゲット表面Tb占有面積あるいは組成比
を34%以上とする。
In the experiment described above, the composite target was used, but since it can be considered similarly in the case of an alloy target, when the amorphous magnetic thin film using Tb as a rare earth is formed by the ion beam sputtering method, the beam energy is Is 400 eV and the target surface Tb occupying area or composition ratio is 34% or more.

なおビームエネルギーが400eVより低いと成膜速度が遅
くなって、生産効率が低下する。成膜速度を早めるため
にはビーム電流を増せばよいが、ビームエネルギーが40
0eVより低い場合、ビーム電流を増すのが困難となる。
If the beam energy is lower than 400 eV, the film formation rate will be slow and the production efficiency will be reduced. The beam current should be increased to increase the deposition rate, but the beam energy should be 40%.
Below 0 eV, it becomes difficult to increase the beam current.

(発明の効果) 以上詳述したようにこの発明によれば、薄膜内に混入す
るアルゴンガス、その他の不純物ガスは大幅に減少する
し、ターゲット、基板間にプラズマが生じたり、電位差
が生じたりすることはないし、ターゲット面はほぼ均一
にスパッタされるので、膜組成の均一性は良好となり、
したがって基板のバイアススパッタは不用となり、基板
に導電性を付与する前処理も省略できるといった効果を
奏する。
(Effects of the Invention) As described in detail above, according to the present invention, the amount of argon gas and other impurity gases mixed in the thin film is significantly reduced, plasma is generated between the target and the substrate, and a potential difference is generated. Since the target surface is almost uniformly sputtered, the uniformity of the film composition becomes good,
Therefore, the bias sputtering of the substrate is unnecessary, and the pretreatment for imparting conductivity to the substrate can be omitted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の実施例方法を実施するのに使用する
装置の断面図、第2図はターゲットの正面図、第3図は
同一部の拡大斜視図、第4図は保持力を示す特性図であ
る。 1……真空チャンバー、2……イオン源、3……ターゲ
ット、5……基板、
FIG. 1 is a sectional view of an apparatus used to carry out a method of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front view of a target, FIG. 3 is an enlarged perspective view of the same portion, and FIG. 4 shows holding force. It is a characteristic diagram. 1 ... Vacuum chamber, 2 ... Ion source, 3 ... Target, 5 ... Substrate,

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】Tbの面積比を34%以上40%以下とするTbFe
Co合金の金属をターゲットとし、これをアルゴンガス圧
10-5〜10-4Torrの雰囲気中で、かつビームエネルギー40
0eV以上で、イオンビームスパッタして、基板上に、膜
面と垂直な方向に磁化容易軸を有するTbFeCo三元非晶質
合金薄膜を形成することを特徴とする光磁気記録媒体の
製造方法。
1. TbFe with an area ratio of Tb of 34% or more and 40% or less
Target the Co alloy metal and set the argon gas pressure to this.
Beam energy of 40 in an atmosphere of 10 -5 to 10 -4 Torr
A method of manufacturing a magneto-optical recording medium, which comprises ion-beam sputtering at 0 eV or more to form a TbFeCo ternary amorphous alloy thin film having an easy axis of magnetization in a direction perpendicular to a film surface.
JP61126802A 1986-05-31 1986-05-31 Method for manufacturing magneto-optical recording medium Expired - Fee Related JPH07111791B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61126802A JPH07111791B2 (en) 1986-05-31 1986-05-31 Method for manufacturing magneto-optical recording medium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61126802A JPH07111791B2 (en) 1986-05-31 1986-05-31 Method for manufacturing magneto-optical recording medium

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62283434A JPS62283434A (en) 1987-12-09
JPH07111791B2 true JPH07111791B2 (en) 1995-11-29

Family

ID=14944320

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61126802A Expired - Fee Related JPH07111791B2 (en) 1986-05-31 1986-05-31 Method for manufacturing magneto-optical recording medium

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07111791B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01263959A (en) * 1988-04-14 1989-10-20 Hitachi Maxell Ltd Production of magneto-optical recording medium
EP0606498B1 (en) * 1992-07-29 2000-01-26 Seiko Epson Corporation Magneto-optic recording medium and method of its manufacture

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6181616A (en) * 1984-09-28 1986-04-25 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Forming method of thin film of magnetic substance

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62283434A (en) 1987-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0670858B2 (en) Magneto-optical recording medium and its manufacturing method
US4002546A (en) Method for producing a magnetic recording medium
JP2673807B2 (en) Method for manufacturing magneto-optical recording medium
JPH07111791B2 (en) Method for manufacturing magneto-optical recording medium
JPS6029956A (en) Production of photomagnetic recording medium
JPH031810B2 (en)
JPS6367328B2 (en)
JP2702483B2 (en) Method for manufacturing magneto-optical recording medium
JPS60101742A (en) Photomagnetic recording medium
JPH0610347B2 (en) Tripolar spatling source
JPS62285253A (en) Manufacture of photomagnetic recording medium
JPS6246449A (en) Production of photomagnetic recording medium
JPS60125933A (en) Production of magnetic medium
JPS61153856A (en) Information recording medium
JPS61253654A (en) Production of photothermomagnetic recording medium
JPS60173745A (en) Photoelectromagnetic recording medium
JPS60101743A (en) Photomagnetic recording medium
JPS58215013A (en) Manufacture of vertical magnetization film
JPS60243841A (en) Production of photomagnetic recording medium
JPS6113456A (en) Manufacture of photomagnetic recording medium
JPS62188776A (en) Opposed target type sputtering device
JPS61270369A (en) Tripolar sputtering source
JPS62277646A (en) Production of magneto-optical disk
JPS63452A (en) Manufacture of magnetic thin film
JPS61115317A (en) Manufacture of thin film material for magnetooptics recording and reproducing

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees