JPH07107545B2 - 交流電圧試験装置 - Google Patents
交流電圧試験装置Info
- Publication number
- JPH07107545B2 JPH07107545B2 JP62205206A JP20520687A JPH07107545B2 JP H07107545 B2 JPH07107545 B2 JP H07107545B2 JP 62205206 A JP62205206 A JP 62205206A JP 20520687 A JP20520687 A JP 20520687A JP H07107545 B2 JPH07107545 B2 JP H07107545B2
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- tank
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は電気機器・設備の交流耐電圧試験あるいは破壊
試験を行なうための交流電圧試験装置に関する。
試験を行なうための交流電圧試験装置に関する。
（従来の技術） 交流電圧試験装置では、供試物が絶縁破壊した時に発生
するサージ電圧から試験用変圧器を保護するために、前
記試験用変圧器の負荷側に保護抵抗が直列に接続され
る。
するサージ電圧から試験用変圧器を保護するために、前
記試験用変圧器の負荷側に保護抵抗が直列に接続され
る。
この種の保護抵抗にはいろいろな性能が要求されるが、
電気的には、常時の交流電圧に対する対地絶縁、サージ
電圧に対する対地および極間（抵抗の両端間）の絶縁、
更には交流電流、サージ電流に対する吸収エネルギーの
問題が挙げられる。
電気的には、常時の交流電圧に対する対地絶縁、サージ
電圧に対する対地および極間（抵抗の両端間）の絶縁、
更には交流電流、サージ電流に対する吸収エネルギーの
問題が挙げられる。
試験用変圧器が気中ブッシングを有し、かつ供試物も同
じように気中ブッシングを有する構成の場合は、保護抵
抗はこれら２つのブッシング間に接続され、長さはかな
り自由に選ぶことができる。また、地上高さも必要な絶
縁距離に応じて決めることができる。このため、このよ
うな気中タイプの交流電圧試験装置では、試験用変圧器
あるいはブッシングといった機器固有の絶縁以外はほと
んど問題とならなかった。すなわち、保護抵抗や高圧線
路の絶縁が問題となることはなかった。
じように気中ブッシングを有する構成の場合は、保護抵
抗はこれら２つのブッシング間に接続され、長さはかな
り自由に選ぶことができる。また、地上高さも必要な絶
縁距離に応じて決めることができる。このため、このよ
うな気中タイプの交流電圧試験装置では、試験用変圧器
あるいはブッシングといった機器固有の絶縁以外はほと
んど問題とならなかった。すなわち、保護抵抗や高圧線
路の絶縁が問題となることはなかった。
しかしながら近年、ガス絶縁開閉装置（GIS）が急速に
普及し、その定格電圧は、国内でも500KVに達してい
る。このようなGISの発展とあいまって、交流電圧試験
装置も従来の気中タイプに代わってガス絶縁タイプのも
のが多用されるようになってきた。この種の試験装置で
はブッシングを介することなく試験用変圧器とGISを直
結できるため、組立てが簡単となる。感度の高いコロナ
試験ができる、充電露出部がないため安全性が増すな
ど、数多くの利点がある。
普及し、その定格電圧は、国内でも500KVに達してい
る。このようなGISの発展とあいまって、交流電圧試験
装置も従来の気中タイプに代わってガス絶縁タイプのも
のが多用されるようになってきた。この種の試験装置で
はブッシングを介することなく試験用変圧器とGISを直
結できるため、組立てが簡単となる。感度の高いコロナ
試験ができる、充電露出部がないため安全性が増すな
ど、数多くの利点がある。
更に、GISの交流試験のみならず、他の機器の試験、例
えばケーブルヘッドを介することによりケーブルを容易
に接続することができるため、ケーブルの交流試験にも
使用することができる。
えばケーブルヘッドを介することによりケーブルを容易
に接続することができるため、ケーブルの交流試験にも
使用することができる。
（発明が解決しようとする問題点） ところで、上述の様な試験用変圧器と供試物を絶縁ガス
を封入したガス管路で接続するガス絶縁タイプの交流電
圧試験装置に用いられる保護抵抗を等価回路で表わす
と、第４図のようになる。第４図において、R1〜Rnは全
体をｎ分割した保護抵抗、C1〜Cnは上記R1〜Rnの並列静
電容量、Co1〜Con+1は、抵抗と接地電位であるタンク間
の静電容量である。なお、端子Ａは供試物側の接続端
子、端子Ｂは、試験用変圧器に接続される端子である。
を封入したガス管路で接続するガス絶縁タイプの交流電
圧試験装置に用いられる保護抵抗を等価回路で表わす
と、第４図のようになる。第４図において、R1〜Rnは全
体をｎ分割した保護抵抗、C1〜Cnは上記R1〜Rnの並列静
電容量、Co1〜Con+1は、抵抗と接地電位であるタンク間
の静電容量である。なお、端子Ａは供試物側の接続端
子、端子Ｂは、試験用変圧器に接続される端子である。
第４図において、供試物の絶縁破壊により生じたサージ
電圧は、図示していないガス管路を伝搬し、やがてＡ点
に到達する。この種のサージ電圧に対する抵抗R1〜Rnの
電位分布は、静電容量C1〜CnとCo1〜Con+1の関係によっ
て決まってしまい、ガス絶縁タイプの試験装置に用いら
れる保護抵抗では、静電容量Co1〜Con+1の値が気中タイ
プの保護抵抗に比べて著しく大きくなるための、第５図
に示すように分担電圧はかなり不均一となってしまう。
すなわち、供試物側の抵抗体R1に過大な電圧が加わるこ
とになる。このため、供試物の絶縁破壊に続いて低抗体
も破壊してしまい、ついには試験用変圧器の絶縁破壊と
いう重大な事故を引き起こす恐れがあった。
電圧は、図示していないガス管路を伝搬し、やがてＡ点
に到達する。この種のサージ電圧に対する抵抗R1〜Rnの
電位分布は、静電容量C1〜CnとCo1〜Con+1の関係によっ
て決まってしまい、ガス絶縁タイプの試験装置に用いら
れる保護抵抗では、静電容量Co1〜Con+1の値が気中タイ
プの保護抵抗に比べて著しく大きくなるための、第５図
に示すように分担電圧はかなり不均一となってしまう。
すなわち、供試物側の抵抗体R1に過大な電圧が加わるこ
とになる。このため、供試物の絶縁破壊に続いて低抗体
も破壊してしまい、ついには試験用変圧器の絶縁破壊と
いう重大な事故を引き起こす恐れがあった。
この対策として、抵抗R1〜Rnに、より長いものを使用す
るあるいは静電容量C1〜Cnの値を大きくする等が提案さ
れているが、保護抵抗が大形になってしまいガス管路タ
イプとして利点がなくなる。あるいは高価になるなどの
問題点があった。
るあるいは静電容量C1〜Cnの値を大きくする等が提案さ
れているが、保護抵抗が大形になってしまいガス管路タ
イプとして利点がなくなる。あるいは高価になるなどの
問題点があった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
は、耐サージ性能の秀れた保護抵抗を有するガス絶縁形
の交流電圧試験装置を提供することにある。
は、耐サージ性能の秀れた保護抵抗を有するガス絶縁形
の交流電圧試験装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段） 本発明は上記目的を達成するために、ガス管路内に配置
した電界緩和シールドを有する保護抵抗装置において、
前記シールドのうち最も供試物側のシールドとタンクと
の間で放電ギャップが形成されるように構成したもので
ある。
した電界緩和シールドを有する保護抵抗装置において、
前記シールドのうち最も供試物側のシールドとタンクと
の間で放電ギャップが形成されるように構成したもので
ある。
（作 用） 放電ギャップが保護抵抗の極く近傍に設置されているた
め、その効果は大きく、保護抵抗に加わるサージ電圧を
著しく低減できる。
め、その効果は大きく、保護抵抗に加わるサージ電圧を
著しく低減できる。
（実施例） 本発明の一実施例を図面を参照して説明する。第２図
は、本発明による交流電圧試験装置の外形平面図であ
る。すなわち、タンクＡは試験用変圧器であり、この出
力電圧は保護抵抗装置が収められているタンクＢを経
て、タンクＣに導かれる。更に、タンクＥにおいて、高
圧線路は２ルートに分かれ、一方はタンクＦに、他方は
タンクＧに導かれる。図示していないが、タンクF,G内
には夫々ケーブルヘッドが挿入されており、このケーブ
ルヘッドを介して供試物であるケーブルH,Iが接続され
ている。タンクＤは、エンド部である。
は、本発明による交流電圧試験装置の外形平面図であ
る。すなわち、タンクＡは試験用変圧器であり、この出
力電圧は保護抵抗装置が収められているタンクＢを経
て、タンクＣに導かれる。更に、タンクＥにおいて、高
圧線路は２ルートに分かれ、一方はタンクＦに、他方は
タンクＧに導かれる。図示していないが、タンクF,G内
には夫々ケーブルヘッドが挿入されており、このケーブ
ルヘッドを介して供試物であるケーブルH,Iが接続され
ている。タンクＤは、エンド部である。
なお、タンクＢ〜Ｇ内には絶縁性能のすぐれたガス、例
えばSF6ガスが所定の圧力で充てんされている。
えばSF6ガスが所定の圧力で充てんされている。
次に、第１図はタンクＢの内部断面図である。
第１図において、タンクＢの一方の端部は円板状の絶縁
スペーサ１を介してタンクＣに接続されている。タンク
Ｂの他端は、図示していない試験用変圧器のブッシング
２のフランジに接続されている。これら絶縁スペーサ１
およびブッシング２の間には、抵抗R1〜R3が直列に挿入
されている。その固定は、前記抵抗R1に固着されたフラ
ンジ３を、絶縁スペーサ１に取り付けられた導体４にア
ダプター５を介して固着することによりなされている。
一方、抵抗R3の一端に取り付けられたフランジ６は、同
様にしてブッシング２に取り付けられた導体７およびア
ダプター８を介してブッシング２に固着されている。更
に、抵抗R1,R2,R3間の接続は、夫々の抵抗の端部に設け
られたフランジ9,10,11,12を相互に固着することにより
実現されている。
スペーサ１を介してタンクＣに接続されている。タンク
Ｂの他端は、図示していない試験用変圧器のブッシング
２のフランジに接続されている。これら絶縁スペーサ１
およびブッシング２の間には、抵抗R1〜R3が直列に挿入
されている。その固定は、前記抵抗R1に固着されたフラ
ンジ３を、絶縁スペーサ１に取り付けられた導体４にア
ダプター５を介して固着することによりなされている。
一方、抵抗R3の一端に取り付けられたフランジ６は、同
様にしてブッシング２に取り付けられた導体７およびア
ダプター８を介してブッシング２に固着されている。更
に、抵抗R1,R2,R3間の接続は、夫々の抵抗の端部に設け
られたフランジ9,10,11,12を相互に固着することにより
実現されている。
そして、抵抗R1,R2,R3の外部には、これらと大略同軸状
をなすように絶縁筒13,14,15が取り付けられている。更
に、絶縁筒13,14,15の外周上には所定のインダクタンス
を形成するようにコイルL1,L2,L3が巻き付けられてい
る。また、フランジ3,6,9〜12およびアダプター5,8には
電界緩和用のシールドリング16〜23が取り付けられてい
る。シールドリング16〜23のうち、シールドリング17,2
2は他のシールドリングに比べて大きく、前記低抗体R1
〜R3およびコイルL1〜L3の電位分布を均一にする役目も
兼ねている。
をなすように絶縁筒13,14,15が取り付けられている。更
に、絶縁筒13,14,15の外周上には所定のインダクタンス
を形成するようにコイルL1,L2,L3が巻き付けられてい
る。また、フランジ3,6,9〜12およびアダプター5,8には
電界緩和用のシールドリング16〜23が取り付けられてい
る。シールドリング16〜23のうち、シールドリング17,2
2は他のシールドリングに比べて大きく、前記低抗体R1
〜R3およびコイルL1〜L3の電位分布を均一にする役目も
兼ねている。
更に、タンクＢの内面上にはフランジ３に取り付けられ
たシールドリング17との間に放電ギャップを形成するよ
うにリング電極24が固定されている。
たシールドリング17との間に放電ギャップを形成するよ
うにリング電極24が固定されている。
なお、タンクＢ内には絶縁性能のすぐれたガス、例えば
SF6ガスが所定の圧力で充てんされている。
SF6ガスが所定の圧力で充てんされている。
このように構成された交流電圧試験装置においては、第
２図において供試物であるケーブルH,Iの絶縁破壊によ
り生じたサージが保護抵抗に加わると、第１図に示した
シールドリング17とリング電極24間で構成される放電ギ
ャップが放電し、前記低抗体R1〜R3およびコイルL1〜L3
に加わる電圧を抑制することができる。また、抵抗体R1
〜R3とコイルL2〜L3の並列構成となっているため、供試
物がケーブルの如く商用周波の充電々流がかなり大きな
場合でも、これらの電流の大部分はコイルL2〜L3を流れ
るため、低抗体R1〜R3の熱容量は著しく軽減される。
２図において供試物であるケーブルH,Iの絶縁破壊によ
り生じたサージが保護抵抗に加わると、第１図に示した
シールドリング17とリング電極24間で構成される放電ギ
ャップが放電し、前記低抗体R1〜R3およびコイルL1〜L3
に加わる電圧を抑制することができる。また、抵抗体R1
〜R3とコイルL2〜L3の並列構成となっているため、供試
物がケーブルの如く商用周波の充電々流がかなり大きな
場合でも、これらの電流の大部分はコイルL2〜L3を流れ
るため、低抗体R1〜R3の熱容量は著しく軽減される。
第１図に示したシールドリング17とリング電極24間の放
電ギャップの効果について第３図を用いて説明する。第
３図は、第２図に示した，，点に、この種の放電
ギャップを設置した場合の効果を比較したものである。
これにより、保護抵抗に加わる電圧は、の点すなわち
保護抵抗装置が収納されているタンクＢ内に設置した場
合に最も小さくなることがわかる。さらに、その供試物
側に設置した場合に最も効果を期待する事ができる。
電ギャップの効果について第３図を用いて説明する。第
３図は、第２図に示した，，点に、この種の放電
ギャップを設置した場合の効果を比較したものである。
これにより、保護抵抗に加わる電圧は、の点すなわち
保護抵抗装置が収納されているタンクＢ内に設置した場
合に最も小さくなることがわかる。さらに、その供試物
側に設置した場合に最も効果を期待する事ができる。
即ち、第５図から明らかなように、供試物に絶縁破壊が
生じた場合には、最も供試物側に位置する低抗体に過大
な電圧が加わる。このため、放電ギャップを最も供試物
側に設置することが効果的なわけである。
生じた場合には、最も供試物側に位置する低抗体に過大
な電圧が加わる。このため、放電ギャップを最も供試物
側に設置することが効果的なわけである。
更に、電界緩和用シールドリング17を利用して、放電ギ
ャップを形成しているため、別途タンクを設け放電ギャ
ップを設置する必要がなく、小形で安価な保護抵抗とす
ることができる。更に、放電ギャップはリング状となっ
ているため、放電電圧のばらつきが比較的小さく、かつ
ｖ−ｔ特性も比較的平坦とすることができるため、安定
で大きな保護効果が得られる。
ャップを形成しているため、別途タンクを設け放電ギャ
ップを設置する必要がなく、小形で安価な保護抵抗とす
ることができる。更に、放電ギャップはリング状となっ
ているため、放電電圧のばらつきが比較的小さく、かつ
ｖ−ｔ特性も比較的平坦とすることができるため、安定
で大きな保護効果が得られる。
本実施例を示した第１図において、保護抵抗と試験用変
圧器はブッシングを介して接続されているが、試験用変
圧器として、ガス絶縁変圧器を用いることにより、ブッ
シングを省略することができる。
圧器はブッシングを介して接続されているが、試験用変
圧器として、ガス絶縁変圧器を用いることにより、ブッ
シングを省略することができる。
以上説明したように、本発明では保護抵抗の最も供試物
側のシールドリングを利用して放電ギャップを形成して
いるため、保護効果が大きく信頼性の高い、かつ小形で
安価なガス絶縁タイプの交流電圧試験装置を提供するこ
とができる。
側のシールドリングを利用して放電ギャップを形成して
いるため、保護効果が大きく信頼性の高い、かつ小形で
安価なガス絶縁タイプの交流電圧試験装置を提供するこ
とができる。
第１図は本発明の一実施例を示す交流電圧試験装置の保
護抵抗装置の概略断面図、第２図は第１図に示す保護抵
抗装置を組込んだ交流電圧試験装置の外形図、第３図は
本発明の一実施例による効果を示す図、第４図は従来の
交流電圧試験装置の等価回路図、第５図は保護抵抗を分
割した場合の分担電圧特性を示す図である。 １……絶縁スペーサ、２……ブッシング 3,6,9,10,11,12……フランジ、4,7……導体 5,8……アダプター、13,14,15……絶縁筒 16〜23……シールドリング、24……リング電極
護抵抗装置の概略断面図、第２図は第１図に示す保護抵
抗装置を組込んだ交流電圧試験装置の外形図、第３図は
本発明の一実施例による効果を示す図、第４図は従来の
交流電圧試験装置の等価回路図、第５図は保護抵抗を分
割した場合の分担電圧特性を示す図である。 １……絶縁スペーサ、２……ブッシング 3,6,9,10,11,12……フランジ、4,7……導体 5,8……アダプター、13,14,15……絶縁筒 16〜23……シールドリング、24……リング電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０２Ｂ 13/065
Claims (2)
- 【請求項１】試験用変圧器と供試物との間が、絶縁ガス
を封入したタンクおよびその内部を貫通する中心導体か
らなるガス管路で接続され、かつ前記ガス管路の一部に
直列に電界緩和用シールドリングを有する保護抵抗装置
が挿入されている交流試験装置において、前記保護抵抗
装置のシールドリングのうち、最も供試物側のシールド
リングと前記タンクとの間に放電ギャップを構成したこ
とを特徴とする交流電圧試験装置。 - 【請求項２】保護抵抗装置が抵抗とコイルの並列回路で
構成されている特許請求の範囲第１項記載の交流電圧試
験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62205206A JPH07107545B2 (ja) | 1987-08-20 | 1987-08-20 | 交流電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62205206A JPH07107545B2 (ja) | 1987-08-20 | 1987-08-20 | 交流電圧試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6449983A JPS6449983A (en) | 1989-02-27 |
| JPH07107545B2 true JPH07107545B2 (ja) | 1995-11-15 |
Family
ID=16503157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62205206A Expired - Fee Related JPH07107545B2 (ja) | 1987-08-20 | 1987-08-20 | 交流電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07107545B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8786992B2 (en) | 2009-09-09 | 2014-07-22 | Denso Wave Incorporated | Electrical apparatus with higher durability against surges |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3988146B2 (ja) | 2004-07-27 | 2007-10-10 | 日本電気株式会社 | マルチノードシステム、ノード間クロスバスイッチ、ノード、スイッチプログラム及びノードプログラム |
| JP4546413B2 (ja) | 2006-03-17 | 2010-09-15 | 富士通株式会社 | 並列計算機のリダクション処理方法及び並列計算機 |
| CN112505495B (zh) * | 2020-11-03 | 2024-01-26 | 温州威斯康工业有限公司 | 电容芯子耐电压强度测试仪 |
-
1987
- 1987-08-20 JP JP62205206A patent/JPH07107545B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8786992B2 (en) | 2009-09-09 | 2014-07-22 | Denso Wave Incorporated | Electrical apparatus with higher durability against surges |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6449983A (en) | 1989-02-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |