JPH07107191B2 - Film forming equipment - Google Patents

Film forming equipment

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JPH07107191B2
JPH07107191B2 JP60078776A JP7877685A JPH07107191B2 JP H07107191 B2 JPH07107191 B2 JP H07107191B2 JP 60078776 A JP60078776 A JP 60078776A JP 7877685 A JP7877685 A JP 7877685A JP H07107191 B2 JPH07107191 B2 JP H07107191B2
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electrode
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靖朋 藤山
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  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、基体上に堆積膜、とりわけ機能性膜、殊に半
導体デバイス、電子写真用の感光デバイス、画像入力用
のライセンサー、撮像デバイス、光起電力素子に利用さ
れる半導体膜等を形成する成膜装置の改良に関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a deposited film on a substrate, particularly a functional film, particularly a semiconductor device, a photosensitive device for electrophotography, a licensor for image input, and an imaging device. The present invention relates to improvement of a film forming apparatus for forming a semiconductor film or the like used for a photovoltaic element.

〔従来技術〕[Prior art]

従来、成膜装置の一つ、例えば電子写真用感光体ドラム
を効率良く生産することができる成膜装置として次のよ
うなものが知られている。
Conventionally, the following is known as a film forming apparatus capable of efficiently producing one of the film forming apparatuses, for example, an electrophotographic photosensitive drum.

すなわち、第1図に示すように、20はシールドボックス
であって、絶縁物21Aおよび21Bを介して、その内側に有
底の円筒構造を有する保持電極22が設けられている。シ
ールドボックス20はアースされ、保持電極22はこのシー
ルドボックス20と絶縁されている。しかもこのシールド
ボックス20によって、後述するように保持電極22に供給
された高周波が外に漏れることを防止する。
That is, as shown in FIG. 1, 20 is a shield box, and a holding electrode 22 having a bottomed cylindrical structure is provided inside thereof via insulators 21A and 21B. The shield box 20 is grounded, and the holding electrode 22 is insulated from the shield box 20. Moreover, the shield box 20 prevents the high frequency supplied to the holding electrode 22 from leaking to the outside as described later.

23はロッドであって、保持電極22の軸心上に位置するよ
うに、シールドボックス20の底壁および保持電極22の底
壁を貫通している。ロッド23はシールドボックス20内の
底部上に配置され、しかも保持電極22の底部を貫通する
ように設けられた環状の絶縁物24によって、保持電極22
から絶縁されている。25はシール機構であって、シール
ドボックス20の底壁の外側に配置され、これによってロ
ッド23とシールドボックス20との間を気密にシールす
る。
Reference numeral 23 denotes a rod, which penetrates the bottom wall of the shield box 20 and the bottom wall of the holding electrode 22 so as to be located on the axis of the holding electrode 22. The rod 23 is arranged on the bottom of the shield box 20, and the holding electrode 22 is provided by an annular insulator 24 provided so as to penetrate the bottom of the holding electrode 22.
Insulated from. Reference numeral 25 denotes a sealing mechanism, which is arranged outside the bottom wall of the shield box 20 and thereby hermetically seals between the rod 23 and the shield box 20.

26はゲートバルブであって、シールドボックス20の上端
に配置され、シールドボックス20の上端開孔を気密に開
閉する。27はゲートバルブ26と絶縁物21Aとの間に、ゲ
ートバルブ26と保持電極22との間を気密にシールするよ
うに設けられた環状の絶縁物である。かくして、保持電
極22(シールドボックス20)は密閉構造を形成する。
Reference numeral 26 denotes a gate valve, which is arranged at the upper end of the shield box 20 and airtightly opens and closes the upper end opening of the shield box 20. Reference numeral 27 is an annular insulator provided between the gate valve 26 and the insulator 21A so as to hermetically seal between the gate valve 26 and the holding electrode 22. Thus, the holding electrode 22 (shield box 20) forms a closed structure.

28はヒータであって、シールドボックス20の内側周壁に
設けられている。29は絶縁物31を介してシールドボック
ス20を貫通した導電部材であって、一端が保持電極22に
接続され、他端がRF電源30に接続されている。この導電
部材29を介して保持電極22にはRF電源30からの高周波電
力が供給される。
28 is a heater, which is provided on the inner peripheral wall of the shield box 20. Reference numeral 29 denotes a conductive member that penetrates the shield box 20 via an insulator 31, one end of which is connected to the holding electrode 22 and the other end of which is connected to the RF power source 30. High frequency power from the RF power source 30 is supplied to the holding electrode 22 via the conductive member 29.

保持電極22の上端部内周壁および下端部内周壁にはテー
パ面22Aおよび22Bが各々形成されている。
Tapered surfaces 22A and 22B are formed on the inner peripheral wall of the upper end portion and the inner peripheral wall of the lower end portion of the holding electrode 22, respectively.

このテーパ面22Aおよび22Bにはガスを排気するための排
気口22Cおよび22Dが貫通して設けられている。
Exhaust ports 22C and 22D for exhausting gas are provided through the tapered surfaces 22A and 22B.

32Aおよび32Bはガス排気管であって、シールドボックス
20の上端部および下端部に各々一端が固定され、しか
も、カセット40の上端部および下端部に形成された環状
の溝41Bおよび42Bに絶縁物21Aおよび21Bを介して各々連
通している。これらガス排気管32Aおよび32Bの他端は吸
気手段に接続されている。
32A and 32B are gas exhaust pipes and shield boxes
One end is fixed to the upper end portion and the lower end portion of 20, respectively, and furthermore, they communicate with annular grooves 41B and 42B formed in the upper end portion and the lower end portion of the cassette 40 via insulators 21A and 21B, respectively. The other ends of these gas exhaust pipes 32A and 32B are connected to the intake means.

保持電極22の周壁は、二重壁構造、すなわち、外側周壁
22Eと、内側周壁22Fとから成る。この外側周壁22Eとの
内側周壁22Fとの間にはガス室となる環状の空間33が形
成され、内側周壁22Fには、軸方向に複数個形成された
ガス放出孔34の列が周方向に複数列、等間隔で形成され
ていることにより、反応ガスの放出分布を均一にするこ
とができる。
The peripheral wall of the holding electrode 22 has a double wall structure, that is, the outer peripheral wall.
22E and inner peripheral wall 22F. An annular space 33 serving as a gas chamber is formed between the outer peripheral wall 22E and the inner peripheral wall 22F, and a row of a plurality of gas discharge holes 34 formed in the axial direction is circumferentially formed in the inner peripheral wall 22F. By forming a plurality of rows at equal intervals, the reaction gas discharge distribution can be made uniform.

37はガス供給管であって、その一端がシールドボックス
20に固定され、さらに保持電極22の外側周壁22Eに固定
された連結管36および絶縁物35を介して環状の空間33に
連通している。このガス供給管37の他端は図示しないガ
ス供給源に接続されており、従って、ガス供給源からの
反応ガスが、ガス供給管37,絶縁物35,連結管36を介して
環状の空間33内に供給される。
37 is a gas supply pipe, one end of which is a shield box
It is connected to the annular space 33 via a connecting pipe 36 fixed to the outer peripheral wall 22E of the holding electrode 22 and an insulator 35. The other end of the gas supply pipe 37 is connected to a gas supply source (not shown), so that the reaction gas from the gas supply source is annular space 33 through the gas supply pipe 37, the insulator 35, and the connecting pipe 36. Supplied within.

ロッド23は減速機構38を介してモータ39に結合され、こ
のモータ39の駆動によって回転する。また、モータ39は
図示しない昇降手段に固定されており、この昇降手段に
よって、ロッド23は保持電極22の軸線上を昇降する。
The rod 23 is coupled to a motor 39 via a speed reduction mechanism 38, and is rotated by driving the motor 39. The motor 39 is fixed to an elevating means (not shown), and the elevating means moves the rod 23 up and down on the axis of the holding electrode 22.

カセット40はアルミニウム、ステンレス等の導電性を有
する材料から成る有底の円筒構造を有し、その上端部お
よび下端部に、ガスの排気部分41および42を各々有す
る。この排気部分41および42は、保持電極22の上端部お
よび下端部の内周面上に全周にわたって密着するような
サイズを持つテーパを形成しており、その周方向複数個
所に等間隔で貫通孔41Aおよび42Aを各々形成している。
The cassette 40 has a bottomed cylindrical structure made of a conductive material such as aluminum or stainless steel, and has gas exhaust portions 41 and 42 at its upper and lower ends, respectively. The exhaust portions 41 and 42 are formed into a taper having a size such that they are in close contact with each other on the inner peripheral surfaces of the upper end portion and the lower end portion of the holding electrode 22, and penetrate at a plurality of positions in the circumferential direction at equal intervals. The holes 41A and 42A are formed, respectively.

カセット40の排気部分41および42を除いた部分には軸方
向に複数個形成したガス噴出孔43の列が周方向に複数列
等間隔で形成されている。また、カセット40は、保持電
極22の内周径とほぼ同一な外径を有し、ガス噴出孔43
は、後述するようにして、カセット40を保持電極22内に
密着収納した時に、保持電極22の内側周壁22Fに形成し
たガス放出孔34の位置に合致するように位置決めされて
カセット40に形成されている。なおカセット40は導電性
を有する材料、例えばアルミニウムから成る。
In the portion of the cassette 40 excluding the exhaust portions 41 and 42, a plurality of rows of gas ejection holes 43 formed in the axial direction are formed at equal intervals in the circumferential direction. Further, the cassette 40 has an outer diameter substantially the same as the inner diameter of the holding electrode 22, and the gas ejection holes 43
As will be described later, when the cassette 40 is tightly accommodated in the holding electrode 22, the cassette 40 is formed so as to be positioned so as to match the position of the gas release hole 34 formed in the inner peripheral wall 22F of the holding electrode 22. ing. The cassette 40 is made of a conductive material such as aluminum.

円筒状支持台45はその本体45Aの内側上端部分に、支持
板46を有し、その本体45Aの外側に電子写真用感光体ド
ラムを形成するための円筒状支持体47を取り外し可能に
嵌合固定してある。円筒状支持体47は、本体45Aの下端
部分の段部にその下端が当接し、その上端が本体45Aの
上端部外側に嵌合固定した環状の押え48に当接し、かく
して本体45Aの外側に嵌合固定されている。押え48を本
体45Aから取り外すことによって円筒状支持体47を本体4
5Aから外すことができる。
The cylindrical support base 45 has a support plate 46 at the inner upper end portion of its body 45A, and a cylindrical support 47 for forming an electrophotographic photosensitive drum is detachably fitted on the outside of the body 45A. It is fixed. The cylindrical support 47 has its lower end abutted on the stepped portion of the lower end portion of the main body 45A, and its upper end abutted on an annular presser 48 fitted and fixed to the outside of the upper end of the main body 45A, and thus on the outside of the main body 45A. Fitted and fixed. By removing the presser foot 48 from the main body 45A, the cylindrical support 47 is
Can be removed from 5A.

蓋44は排気部分41に被せて、カセット40の上端開口を塞
ぐ。蓋44の中央部分には、筒状構造からなる突起44Aが
形成されている。またカセット本体40の下端の底壁の中
央部分にも同様の突起49が形成されている。突起44Aお
よび49は、テーパ部とこのテーパ部に連続する直管部と
から成る。蓋44は周知の製缶法によってカセット40の上
端に結合される。
The lid 44 covers the exhaust portion 41 to close the upper end opening of the cassette 40. A protrusion 44A having a cylindrical structure is formed in the central portion of the lid 44. A similar projection 49 is also formed on the central portion of the bottom wall of the lower end of the cassette body 40. The protrusions 44A and 49 are composed of a tapered portion and a straight pipe portion continuous with the tapered portion. The lid 44 is connected to the upper end of the cassette 40 by a well-known can making method.

以上のようにして、円筒状基体45をその中に収納したカ
セット40を、次のようにして、保持電極22内に収納す
る。
The cassette 40 having the cylindrical substrate 45 housed therein as described above is housed in the holding electrode 22 as follows.

カセット40は図示していない真空にしうる搬送チャンバ
ー内に収納して搬送される。
The cassette 40 is stored in a transfer chamber (not shown) that can be evacuated and transferred.

次いで、このようにしてカセット40を収納した搬送チャ
ンバを、あらかじめその中を排気して真空にしたシール
ドボックス20の直上に位置させ、シールドボックス20の
上端のゲートバルブ26上に搬送チャンバの下端に取付け
た図示してないゲートバルブを搬送チャンバの中心軸が
シールドボックス20の中心軸と合致するように載置す
る。
Then, the transfer chamber accommodating the cassette 40 in this manner is positioned immediately above the shield box 20 in which the inside thereof has been evacuated and evacuated, and on the gate valve 26 at the upper end of the shield box 20 and at the lower end of the transfer chamber. The mounted gate valve (not shown) is placed so that the central axis of the transfer chamber coincides with the central axis of the shield box 20.

次いで、2つのゲートバルブの間を、図示しない適当な
排気手段によって排気して真空し、その後、2つのゲー
トバルブを開ける。
Then, a space between the two gate valves is evacuated by a suitable exhaust means (not shown) to make a vacuum, and then the two gate valves are opened.

次いで搬送チャンバに附帯した図示してない懸吊ロッド
を下降して、カセット40を保持電極22内に挿入する。な
お、この際、ロッド23は保持電極22内の適当な位置まで
下降させておく。
Then, a suspension rod (not shown) attached to the transfer chamber is lowered to insert the cassette 40 into the holding electrode 22. At this time, the rod 23 is lowered to an appropriate position inside the holding electrode 22.

そして、カセット40の底面が、保持電極22の底面上に接
するまでカセット40を下降させる。この状態において、
カセット40は、保持電極22の内側に全体にわたって密に
接触する。すなわち、カセット40の上下端のテーパは、
保持電極22の上下端部のテーパ面22Aおよび22Bに各々全
周にわたって密に接触し、且つ、カセット40の上下端を
除いた部分は保持電極22の上下端部を除いた内側周壁に
密に全周にわたって接触し、さらに、カセット40に形成
されたガス噴出孔43が保持電極22に形成されたガス放出
孔34に連通する。したがって、反応ガスは、ガス供給管
37、絶縁物35および連通管36を介して環状空間33内に供
給され、さらに、そこから、ガス放出孔34およびガス噴
出孔43を介してカセット40内に供給される。また、カセ
ット40内のガスは、その上下端部の排気部分41A,42Aお
よび環状の溝41B,42Bを介して保持電極22の上下端部の
排気口22Cおよび22D内に排出され、そこから、ガス排気
管32Aおよび32Bを介して吸気手段に吸気される。
Then, the cassette 40 is lowered until the bottom surface of the cassette 40 contacts the bottom surface of the holding electrode 22. In this state,
The cassette 40 is in intimate contact with the inside of the holding electrode 22. That is, the taper of the upper and lower ends of the cassette 40 is
The upper and lower end portions of the holding electrode 22 are in close contact with the tapered surfaces 22A and 22B over the entire circumference, and the portion excluding the upper and lower end portions of the cassette 40 is closely attached to the inner peripheral wall excluding the upper and lower end portions of the holding electrode 22. The gas ejection holes 43 formed in the cassette 40 communicate with the gas emission holes 34 formed in the holding electrode 22. Therefore, the reaction gas is
It is supplied into the annular space 33 through the 37, the insulator 35, and the communication pipe 36, and further, from there, is supplied into the cassette 40 through the gas discharge hole 34 and the gas ejection hole 43. Further, the gas in the cassette 40 is discharged into the exhaust ports 22C and 22D at the upper and lower ends of the holding electrode 22 via the exhaust portions 41A and 42A at the upper and lower ends thereof and the annular grooves 41B and 42B, and from there, The gas is taken into the intake means via the gas exhaust pipes 32A and 32B.

次いで懸吊ロッドの先端のチャック(不図示)を円筒状
基体45の支持板46の孔46Aから外して、懸吊ロッドを上
昇させて搬送チャンバ内に収納し、一方、ロッド23を上
昇させて、その先端のヘッド23Aを円筒状基体45の支持
板46に当接させ、さらに、ロッド23を上昇させて、円筒
状基体45をカセット40の底から持ち上げ、カセット40内
にこれと絶縁して支持する。
Next, the chuck (not shown) at the tip of the suspension rod is removed from the hole 46A of the support plate 46 of the cylindrical substrate 45, and the suspension rod is raised to be housed in the transfer chamber, while the rod 23 is raised. , The head 23A at its tip is brought into contact with the support plate 46 of the cylindrical substrate 45, and the rod 23 is further raised to lift the cylindrical substrate 45 from the bottom of the cassette 40 and insulate it from the inside of the cassette 40. To support.

次いで、シールドボックス20の上端のゲートバルブ26を
閉じ、搬送チャンバ(不図示)をシールドボックス20の
上から他の所定箇所に移送する。このようにして、カセ
ット40は、保持電極22と電気的に接触してカソード電極
を構成し、一方、カセット40内に絶縁支持された円筒状
基体45はロッド23を介してアースされる。
Next, the gate valve 26 at the upper end of the shield box 20 is closed, and the transfer chamber (not shown) is transferred from above the shield box 20 to another predetermined location. In this way, the cassette 40 makes electrical contact with the holding electrode 22 to form the cathode electrode, while the cylindrical substrate 45, which is insulated and supported in the cassette 40, is grounded via the rod 23.

以上のようにして、円筒状基体45は、保持電極22内に収
められる。そして、円筒状基体45を、ロッド23によっ
て、必要に応じて回転させ、真空に保持されたカセット
40内に、ガス供給管37,絶縁部35,連通管36,環状空間33,
ガス放出孔34およびガス噴出孔43を介して反応ガスを供
給し、ヒータ28によってカセット40内を保温し、保持電
極22およびカセット40に高周波電力を供給することによ
って、円筒状基体45の外周面上に、例えばアモルファス
・シリコンの膜を堆積する。
As described above, the cylindrical substrate 45 is housed in the holding electrode 22. Then, the cylindrical substrate 45 is rotated by the rod 23 as needed, and the cassette is held in vacuum.
In 40, the gas supply pipe 37, the insulating portion 35, the communication pipe 36, the annular space 33,
A reaction gas is supplied through the gas discharge holes 34 and the gas ejection holes 43, the inside of the cassette 40 is kept warm by the heater 28, and high-frequency power is supplied to the holding electrode 22 and the cassette 40, whereby the outer peripheral surface of the cylindrical substrate 45. A film of, for example, amorphous silicon is deposited on top.

成膜が終った円筒状基体45はカセット40とともに上記搬
入操作と逆の工程にて搬出され、反応炉外でカセット40
から取り出される。
The cylindrical substrate 45 on which film formation has been completed is carried out together with the cassette 40 in the reverse process of the carrying-in operation described above, and the cassette 40 is placed outside the reaction furnace.
Taken from.

カセット40は円筒状基体45を取り出した後、分解、洗浄
され、再度組立てられて成膜に使用される。
After taking out the cylindrical substrate 45, the cassette 40 is disassembled, washed, and reassembled to be used for film formation.

しかしながら、このような従来の成膜装置においては、
次のような問題点がある。
However, in such a conventional film forming apparatus,
There are the following problems.

すなわち、保持電極22の周壁がガス室を形成すべく二重
構造となっており、構造が複雑であり、なおかつガス室
となる環状の空間33内の清掃が非常に困難である。
That is, the peripheral wall of the holding electrode 22 has a double structure so as to form a gas chamber, the structure is complicated, and it is very difficult to clean the annular space 33 serving as the gas chamber.

また、保持電極22内にカセット40を挿入する際、原料ガ
スをカセット40内に均一に放出するためのガス噴出孔43
を、保持電極22の内側周壁22Fに形成したガス放出孔34
に対応する位置に精度良く合致するようにカセット40を
位置決めしなければならず、高精度の作業が要求され
る。万一この位置がズレた場合にはガス放出分布が崩れ
て形成されるアモルファス−シリコン膜の膜厚分布が不
均一となり良好な電子写真感光体が得られない。
Further, when the cassette 40 is inserted into the holding electrode 22, a gas ejection hole 43 for uniformly discharging the source gas into the cassette 40.
Is formed on the inner peripheral wall 22F of the holding electrode 22.
The cassette 40 must be positioned so as to accurately match the position corresponding to, and high-precision work is required. If this position is deviated, the gas emission distribution will collapse and the amorphous-silicon film formed will have a non-uniform film thickness distribution, making it impossible to obtain a good electrophotographic photoreceptor.

また、ガス噴出孔43から噴出された反応ガスを密封し、
ガス放出孔34からカセット40内に反応ガスを放出するた
めに設けられている保持電極22の上・下端のテーパー22
Aおよび22Bは、カセット40の上・下端のテーパーに各々
全周にわたって密に接触することでその機能を満たす。
Further, the reaction gas ejected from the gas ejection hole 43 is sealed,
The taper 22 at the upper and lower ends of the holding electrode 22 provided for discharging the reaction gas into the cassette 40 from the gas discharge hole 34
A and 22B fulfill the function by closely contacting the taper of the upper and lower ends of the cassette 40 over the entire circumference.

しかしながら、加熱により保持電極22およびカセット40
が各々中心軸方向に熱膨張した場合、下部のテーパーは
接触していても、上部のテーパーは接触できず、反応ガ
スはカセット40内に放出されることなく、上端のテーパ
ー22Aから排気孔22Cへ漏れて排気されてしまい、反応に
必要な反応ガスが供給されないことになってしまう。
However, heating causes the holding electrode 22 and the cassette 40 to
When each of them expands in the direction of the central axis, even if the lower taper is in contact, the upper taper cannot be in contact, the reaction gas is not discharged into the cassette 40, and the taper 22A from the upper end to the exhaust hole 22C. Will leak out and be exhausted, and the reaction gas necessary for the reaction will not be supplied.

さらにまた、反応を生起させるための高周波電力もこの
テーパー部の電気接触によってカセット40に供給される
が、上端テーパー22Aの接触の有無によって、その伝達
経路が変化し、カセット40の材質の電気抵抗による電位
降下のため放電強度分布が変化してしまい、そのため、
カセットを交換する毎に反応ガスと高周波電力の供給状
態が変化してしまい、形成される膜特性の再現性が悪く
なるという問題もあった。
Further, high frequency power for causing a reaction is also supplied to the cassette 40 by the electrical contact of the taper portion, but the transmission path changes depending on the presence or absence of the contact of the upper taper 22A, and the electrical resistance of the material of the cassette 40. The discharge intensity distribution changes due to the potential drop due to
There is also a problem that the supply state of the reaction gas and the high-frequency power changes each time the cassette is replaced, and the reproducibility of the formed film characteristics deteriorates.

〔発明の目的〕[Object of the Invention]

従って、本発明の目的は、以上のような問題を解消し、
単純な構造でなおかつ確実に反応ガスと高周波電力をカ
セット内に供給し、安定に、歩留り良く基体上に成膜を
行なうことのできる成膜装置を提供することにある。
Therefore, the object of the present invention is to solve the above problems,
It is an object of the present invention to provide a film forming apparatus having a simple structure and capable of reliably supplying a reaction gas and high-frequency power into a cassette and stably forming a film on a substrate with a high yield.

〔開示の概要〕[Outline of disclosure]

本発明の成膜装置は、基体載置部、該基体載置部の周囲
に第1の空間を開けて設けられた多数のガス噴出口を有
するカソード電極、該空間内を排気するための排気口を
有し、内部に設けられた基体載置部に成膜用の基体を載
置して該基体を収納し得るカセット、を収容する領域を
有し、前記領域の少なくとも一部を構成し、収容される
前記カセットの周囲に形成された電源に接続された保持
電極、前記多数のガス噴出口から前記カソード電極と前
記保持電極との間で形成される第2の空間を介して前記
第1の空間内に供給される原料ガスを導入するためのガ
ス供給管、前記排気口を介して前記第1の空間内を排気
するためのガス排気管、前記カソード電極と接触可能に
配され前記保持電極とを電気的に接続可能とする導電性
ガスケットを有することを特徴とする。
The film forming apparatus of the present invention includes a substrate mounting portion, a cathode electrode having a large number of gas ejection ports provided around the substrate mounting portion with a first space opened, and an exhaust gas for exhausting the space. And an area for accommodating a cassette for accommodating a substrate for film formation on a substrate mounting portion provided therein and accommodating the substrate, and forming at least a part of the area. A holding electrode connected to a power source formed around the cassette to be housed; and a second space formed between the cathode electrode and the holding electrode from the plurality of gas ejection ports A gas supply pipe for introducing a raw material gas to be supplied into the first space; a gas exhaust pipe for exhausting the first space through the exhaust port; and a gas exhaust pipe arranged to be in contact with the cathode electrode. Has a conductive gasket that can be electrically connected to the holding electrode It is characterized in.

〔実施例〕〔Example〕

第2図は本発明に係る成膜装置の一実施例における反応
ガス・シールおよび高周波電力供給部の断面を示す。
FIG. 2 shows a cross section of a reaction gas seal and a high frequency power supply unit in an embodiment of the film forming apparatus according to the present invention.

第2図において50Aは上部導電性ガスケットであり、保
持電極22の上部内側周壁に形成された溝に保持されてい
る。
In FIG. 2, 50A is an upper conductive gasket, which is held in a groove formed in the upper inner peripheral wall of the holding electrode 22.

50Bは下部導電性ガスケットであり、同じく保持電極60
の下部内側周壁に形成された溝に保持されている。
50B is a lower conductive gasket, which is also the holding electrode 60
Is held in a groove formed in the lower inner peripheral wall of the.

40Aはカセット40の上部外側周壁に設けたフランジで、
カセット40を保持電極60内に挿入する際、上部導電性ガ
スケット50Aによるカセット40の締め付けを容易にする
ため一部テーパー状にしてある。また、下部導電性ガス
ケット50Bはカセット40の下部テーパーによりカセット4
0の下部外側周壁を容易に締め付けることができる。な
お、カセット40の上部フランジ40Aはカセット40および
保持電極60の熱膨張による伸縮を考慮してシール部領域
の長さを長めに形成してある。
40A is a flange provided on the upper outer peripheral wall of the cassette 40,
When the cassette 40 is inserted into the holding electrode 60, it is partially tapered in order to facilitate tightening of the cassette 40 with the upper conductive gasket 50A. Further, the lower conductive gasket 50B is attached to the cassette 4 by the lower taper of the cassette 40.
The lower outer peripheral wall of 0 can be easily tightened. The upper flange 40A of the cassette 40 is formed so that the length of the seal portion region is long in consideration of expansion and contraction of the cassette 40 and the holding electrode 60 due to thermal expansion.

60は保持電極であるが、従来例とは異なり内側周壁22F
はなく、カセット40が挿入されていない状態では、第1
図のようなガス室となる環状の空間33は形成されておら
ずカセット40を挿入することによって、同時にガス室と
なる環状の空間51を形成することができる。したがっ
て、本発明の装置に於いては、ガスを均一な分布状態で
放出させる機能を損なうことなしにカセット40が挿入さ
れていない状態で清掃等のメンテナンスを極めて容易に
行なうことができる構造となっている。
60 is a holding electrode, but unlike the conventional example, the inner peripheral wall 22F
If the cassette 40 is not inserted, the first
The annular space 33 serving as the gas chamber as shown in the drawing is not formed, and the annular space 51 serving as the gas chamber can be simultaneously formed by inserting the cassette 40. Therefore, the device of the present invention has a structure that allows maintenance such as cleaning to be extremely easily performed without impairing the function of releasing gas in a uniform distribution state without the cassette 40 being inserted. ing.

また、上部導電性ガスケット50Aの内径は、下部導電性
ガスケット50Bの内径よりも大きくしてあり、カセット4
0の保持電極60内への挿入を容易にしてある。
Further, the inner diameter of the upper conductive gasket 50A is larger than that of the lower conductive gasket 50B.
The insertion of the zero electrode into the holding electrode 60 is facilitated.

第2図ではカセット40が保持電極60内にすでに収納され
た状態を示すが、その搬入方法は第1図で説明した、従
来例同様、反応炉外で組み立てられたカセット40を図示
してない搬送チャンバー内に収納して真空搬送し、保持
電極60の上部に取付けらたゲートバルブ26を開け、すで
に真空にしてある保持電極60内にカセット40を挿入す
る。
FIG. 2 shows a state in which the cassette 40 is already housed in the holding electrode 60, but the carrying-in method is not shown in the same manner as the conventional example described in FIG. 1 but the cassette 40 assembled outside the reaction furnace. The cassette 40 is stored in the transfer chamber and vacuum-transferred, the gate valve 26 attached to the upper part of the holding electrode 60 is opened, and the cassette 40 is inserted into the holding electrode 60 that has already been evacuated.

カセット40は挿入される際、その上部のフランジ部40A
のテーパーと下部テーパーが各々導電性ガスケット50A
と50Bと接触し、さらにカセット40が下降することによ
って該ガスケット50Aと50Bを圧縮し、カセット40の底部
が保持電極60の底部に達した位置で反応ガスをシールす
るのに必要な所望の締付力が得られる。
When the cassette 40 is inserted, the upper flange 40A
50A taper and lower taper are conductive gaskets
And 50B and further lowering the cassette 40 to compress the gaskets 50A and 50B, and the desired clamping required to seal the reaction gas at the position where the bottom of the cassette 40 reaches the bottom of the holding electrode 60. A force can be obtained.

ただし、この締付力は真空を保持する程のシール性をも
つ必要はなく、真空中にて反応ガスが排気孔22Cおよび2
2Dから漏れなければ充分である。
However, this tightening force does not need to have a sealing property enough to maintain a vacuum, and the reaction gas in the vacuum will not exhaust the exhaust holes 22C and 2C.
It is enough if it does not leak from 2D.

カセット40が上記位置に達すると、上・下の導電性ガス
・ケット50A,50B、および保持電極60、カセット40によ
りガス室となる環状の空間51が形成される。
When the cassette 40 reaches the above position, the upper and lower conductive gas packets 50A and 50B, the holding electrode 60, and the cassette 40 form an annular space 51 serving as a gas chamber.

このようにしてカセット40を保持電極60内に収納した
後、従来例と同じく懸吊ロッド23を上げ、円筒状電極45
をカセット40から電気的に分離する。
After accommodating the cassette 40 in the holding electrode 60 in this manner, the suspension rod 23 is raised as in the conventional example, and the cylindrical electrode 45
Is electrically separated from the cassette 40.

次いで、ゲートバルブ26を閉じ、従来例同様反応ガスを
図示してないガス供給系からガス供給管37,絶縁物35お
よび連通管36を介して環状空間51内に供給し、さらに、
そこから、ガス噴出口43を介してカセット40内に反応ガ
スを供給する。また、カセット40内のガスは、その上下
端部の排気部分41Aおよび42Aを介して保持電極60の上下
端部の環状の溝22Cおよび22D内に排出され、そこから、
ガス排気管32Aおよび32Bを介して吸気手段に吸気され
る。
Then, the gate valve 26 is closed, and the reaction gas is supplied into the annular space 51 from the gas supply system (not shown) through the gas supply pipe 37, the insulator 35, and the communication pipe 36 as in the conventional example, and further,
From there, the reaction gas is supplied into the cassette 40 through the gas ejection port 43. Further, the gas in the cassette 40 is discharged into the annular grooves 22C and 22D at the upper and lower ends of the holding electrode 60 via the exhaust portions 41A and 42A at the upper and lower ends thereof, and from there,
The gas is taken into the intake means via the gas exhaust pipes 32A and 32B.

次いで、高周波電源30から保持電極60および上下の導電
性ガス・シール50Aおよび50Bを介して、カセット40に高
周波電力を供給することによって放電を生起し、成膜を
行なう。
Next, high-frequency power is supplied from the high-frequency power source 30 to the cassette 40 via the holding electrode 60 and the upper and lower conductive gas seals 50A and 50B to cause discharge and film formation.

成膜の終了したカセットは、従来例と同様の手順によっ
て反応炉外に搬出される。
The cassette after the film formation is carried out of the reaction furnace by the same procedure as the conventional example.

本発明に於いて、導電性ガスケットとしては電気伝導
率、および弾性回復力に優れたもの、例えば「ヘリコ・
フレックス」(商品名・CEFILAC社製(フランス))等
の金属製Oリングが使用されるが、その他に導電性ゴム
製のOリング,シリコンゴム製等の電気絶縁性Oリング
の表面を、Al,Ag,Auなどの導電性材料で被覆したものを
使用することもできる。
In the present invention, as the conductive gasket, one having excellent electric conductivity and elastic recovery force, for example, "helico.
Metal O-rings such as "Flex" (trade name, manufactured by CEFILAC (France)) are used. In addition, the surface of conductive rubber O-rings and electrically insulating O-rings such as silicon rubber is coated with Al. It is also possible to use those coated with a conductive material such as Ag, Au, or the like.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上詳細に説明したように、本発明の成膜装置によれ
ば、保持電極22の構造が単純化でき、装置自体のメンテ
ナンスが容易になる。更に、カセット搬入時の位置ズレ
および成膜中の加熱によるカセットの寸法変形に伴なう
ガス・シールおよび高周波電力供給の不安定性を排除す
ることができるので、同一形状のカセットを使用すれ
ば、常に同一の成膜状況を作り出すことができ、良好な
特性の堆積膜を、再現性よく、しかも高効率で量産する
ことができる。
As described in detail above, according to the film forming apparatus of the present invention, the structure of the holding electrode 22 can be simplified and the maintenance of the apparatus itself can be facilitated. Furthermore, since the gas seal and the instability of the high frequency power supply due to the dimensional deformation of the cassette due to the positional deviation at the time of carrying in the cassette and the heating during the film formation can be eliminated, if the cassette having the same shape is used, It is possible to always create the same film formation situation, and it is possible to mass-produce a deposited film having good characteristics with good reproducibility and high efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は従来の成膜装置の断面図である。 第2図は本発明に係る成膜装置の断面図である。 20……シールドボックス 30……高周波電源 40……カセット 40A……フランジ 45……円筒状支持体 50A,50B……導電性ガス・ケット 51……環状の空間 60……保持電極 FIG. 1 is a sectional view of a conventional film forming apparatus. FIG. 2 is a sectional view of the film forming apparatus according to the present invention. 20 …… Shield box 30 …… High frequency power supply 40 …… Cassette 40A …… Flange 45 …… Cylindrical support 50A, 50B …… Conductive gas packet 51 …… Annular space 60 …… Holding electrode

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基体載置部、該基体載置部の周囲に第1の
空間を開けて設けられた多数のガス噴出口を有するカソ
ード電極、該空間内を排気するための排気口を有し、内
部に設けられた基体載置部に成膜用の基体を載置して該
基体を収納し得るカセット、を収容する領域を有し、前
記領域の少なくとも一部を構成し、収容される前記カセ
ットの周囲に形成された電源に接続された保持電極、前
記多数のガス噴出口から前記カソード電極と前記保持電
極との間で形成される第2の空間を介して前記第1の空
間内に供給される原料ガスを導入するためのガス供給
管、前記排気口を介して前記第1の空間内を排気するた
めのガス排気管、前記カソード電極と接触可能に配され
前記保持電極とを電気的に接続可能とする導電性ガスケ
ットを有することを特徴とする成膜装置。
1. A substrate mounting portion, a cathode electrode having a large number of gas ejection openings provided around the substrate mounting portion with a first space provided, and an exhaust port for exhausting the space. And has a region for accommodating a cassette capable of accommodating a substrate for film formation on the substrate mounting portion provided therein, and accommodating at least a part of the region. A holding electrode connected to a power source formed around the cassette, the first space through a second space formed between the cathode electrode and the holding electrode from the plurality of gas ejection ports. A gas supply pipe for introducing a source gas to be supplied therein, a gas exhaust pipe for exhausting the inside of the first space through the exhaust port, the holding electrode arranged so as to be in contact with the cathode electrode, and Having a conductive gasket that enables electrical connection Film forming apparatus for the butterflies.
【請求項2】前記導電性ガスケットは前記カセットの前
記カソード電極と接触可能に配されている特許請求の範
囲第1項に記載の成膜装置。
2. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the conductive gasket is arranged so as to be in contact with the cathode electrode of the cassette.
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