JPH07104312B2 - 攪拌電極装置 - Google Patents
攪拌電極装置Info
- Publication number
- JPH07104312B2 JPH07104312B2 JP61064710A JP6471086A JPH07104312B2 JP H07104312 B2 JPH07104312 B2 JP H07104312B2 JP 61064710 A JP61064710 A JP 61064710A JP 6471086 A JP6471086 A JP 6471086A JP H07104312 B2 JPH07104312 B2 JP H07104312B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solution
- stirring
- electrode device
- electrode
- acted
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、一般の電気化学的計測をはじめとしてメッ
キ，腐食，エッチング等の分野で使用される電極装置に
係わり、特に溶液を撹拌して用いる電極装置に関する。
キ，腐食，エッチング等の分野で使用される電極装置に
係わり、特に溶液を撹拌して用いる電極装置に関する。
金属材料からなる製品や構造物を電気化学的に計測した
り、あるいは電気化学的手段を用いてメンテナンスをは
かるといった要請が実用上しばしば生じる。例えば、各
種配管，化学，火力・原子力等の各種プラント，石油タ
ンク・海洋構造物等さまざまな設備の腐食状況をとらえ
て適確に対応していくための腐食モンタリングや、補修
等の目的で製品や構造物を局部的にメッキしたり、電界
研磨・化学的エッチングを行なう等、さまざまな要請が
ある。このような場合、従来は第４図の模擬断面図に示
した構成の電極装置を用いていた。第４図で31は金属材
料からなる製品や構造物,32はその被作用面であり、こ
れを作用極として測定やメッキ，エッチング等を行な
う。33は飽和カロメル電極等の参照電極,34は対極,35は
目的に応じた溶液である。このような電極装置におい
て、溶液の撹拌が安定して行なわれれば電気化学的測定
の際の情報がふえ、また均一なメッキやエッチングが行
なえるというメリットがある。しか 従来のこのような
電極装置は溶液撹拌機構を備えておらず、またガスによ
るバブリングや磁性回転子等による従来の撹拌手段で
は、その撹拌にともなって小さな乱れが発生して、検出
情報やメッキ・エッチング等の室を低下させる原因とな
っていた。
り、あるいは電気化学的手段を用いてメンテナンスをは
かるといった要請が実用上しばしば生じる。例えば、各
種配管，化学，火力・原子力等の各種プラント，石油タ
ンク・海洋構造物等さまざまな設備の腐食状況をとらえ
て適確に対応していくための腐食モンタリングや、補修
等の目的で製品や構造物を局部的にメッキしたり、電界
研磨・化学的エッチングを行なう等、さまざまな要請が
ある。このような場合、従来は第４図の模擬断面図に示
した構成の電極装置を用いていた。第４図で31は金属材
料からなる製品や構造物,32はその被作用面であり、こ
れを作用極として測定やメッキ，エッチング等を行な
う。33は飽和カロメル電極等の参照電極,34は対極,35は
目的に応じた溶液である。このような電極装置におい
て、溶液の撹拌が安定して行なわれれば電気化学的測定
の際の情報がふえ、また均一なメッキやエッチングが行
なえるというメリットがある。しか 従来のこのような
電極装置は溶液撹拌機構を備えておらず、またガスによ
るバブリングや磁性回転子等による従来の撹拌手段で
は、その撹拌にともなって小さな乱れが発生して、検出
情報やメッキ・エッチング等の室を低下させる原因とな
っていた。
本発明は上記のような事情に鑑みなされたもので、被作
用面における溶液を安定に撹拌する機構を有した、電極
装置を提供することを目的とする。
用面における溶液を安定に撹拌する機構を有した、電極
装置を提供することを目的とする。
すなわち本発明の撹拌電極装置は、 対象物の被作用面と内部に貯えた溶液とが接触する接触
部位を有する液槽と、 前記接触部位に設置された対象物の被作用面近傍に噴出
口を有する溶液導出路と、 前記溶液導出路へ前記溶液の一部を流入させる回転撹拌
手段と、 前記溶液中に浸漬される参照電極または対極の少なくと
も一方とを備えたことを特徴としている。
部位を有する液槽と、 前記接触部位に設置された対象物の被作用面近傍に噴出
口を有する溶液導出路と、 前記溶液導出路へ前記溶液の一部を流入させる回転撹拌
手段と、 前記溶液中に浸漬される参照電極または対極の少なくと
も一方とを備えたことを特徴としている。
この回転撹拌手段を構成する回転子は、例えば第２図
（ａ）の模擬図に示したような貫通孔を有した構造をし
ており、これが回転装置により回転して第２図（ｂ）に
示したような溶液の流れを生じる。即ち、溶液が回転子
の貫通孔に吸い込まれその後矢印で示した方向に吐出す
る構造を有している。本発明の回転手段は、このような
溶液の流れを生じるものであれば、必ずしも第２図
（ａ）に示した構造のものに限らず、例えば第２図
（ｃ）（ｄ）（ｅ）に示したようなものも用いることが
できる。
（ａ）の模擬図に示したような貫通孔を有した構造をし
ており、これが回転装置により回転して第２図（ｂ）に
示したような溶液の流れを生じる。即ち、溶液が回転子
の貫通孔に吸い込まれその後矢印で示した方向に吐出す
る構造を有している。本発明の回転手段は、このような
溶液の流れを生じるものであれば、必ずしも第２図
（ａ）に示した構造のものに限らず、例えば第２図
（ｃ）（ｄ）（ｅ）に示したようなものも用いることが
できる。
以下実施例を用いて本発明を具体的に説明する。
第１図の模擬断面図に示したのは、ニッケル板上への局
部的定電流電析をするのに用いた撹拌電極装置である。
本実施例では対象物の被作用面と電析用の溶液とを接触
させる接触部位として、開口部を有している。
部的定電流電析をするのに用いた撹拌電極装置である。
本実施例では対象物の被作用面と電析用の溶液とを接触
させる接触部位として、開口部を有している。
第１図において、測定用の溶液15を貯える液槽10は、対
象物11の被作用面と溶液とを接触させるための開口部12
を備えており、参照電極13及び対極14が、その溶液中に
浸漬されている。また磁気を利用した回転装置17により
回転される第２図（ａ）で示した構造を有した回転子16
が液槽内部の壁面に設けられた突起部上に回転自在に装
着されている。さらに回転子の回転により周面の貫通孔
から吐出された溶液の一部が、溶液導出路である噴出管
18を通じて開口部に面した対象物の被作用面近傍へ噴出
して被作用面に当たり、その結果溶液が効率よく循環し
て安定した撹拌が行なわれる。
象物11の被作用面と溶液とを接触させるための開口部12
を備えており、参照電極13及び対極14が、その溶液中に
浸漬されている。また磁気を利用した回転装置17により
回転される第２図（ａ）で示した構造を有した回転子16
が液槽内部の壁面に設けられた突起部上に回転自在に装
着されている。さらに回転子の回転により周面の貫通孔
から吐出された溶液の一部が、溶液導出路である噴出管
18を通じて開口部に面した対象物の被作用面近傍へ噴出
して被作用面に当たり、その結果溶液が効率よく循環し
て安定した撹拌が行なわれる。
この第１図に示した撹拌電極装置を用いて測定した電位
−時間曲線の例を第３図（ａ）に示す。撹拌開始と同時
に電位の急激な変化がおこりその後ほぼ定常値に至る
が、電位−時間曲線は非常にスムーズであり、撹拌が効
果的かつ安定して行なわれていることを示す。
−時間曲線の例を第３図（ａ）に示す。撹拌開始と同時
に電位の急激な変化がおこりその後ほぼ定常値に至る
が、電位−時間曲線は非常にスムーズであり、撹拌が効
果的かつ安定して行なわれていることを示す。
一方、第３図（ｂ），（ｃ）は比較のために撹拌方法以
外は全て第３図（ａ）と同一条件にして測定した電位−
時間曲線を示す。（ｂ）は溶液の噴出管を用いないで単
に磁性回転子のみで撹拌した場合、（ｃ）はアルゴンガ
ス吹き込みにより撹拌した場合で、共に電位−時間曲線
は溶液の流動に伴い小さなノイズ状の乱れを示してい
る。
外は全て第３図（ａ）と同一条件にして測定した電位−
時間曲線を示す。（ｂ）は溶液の噴出管を用いないで単
に磁性回転子のみで撹拌した場合、（ｃ）はアルゴンガ
ス吹き込みにより撹拌した場合で、共に電位−時間曲線
は溶液の流動に伴い小さなノイズ状の乱れを示してい
る。
以上述べたように本発明によれば、撹拌時に検出される
電位が乱流等による影響を受けずに非常に安定するた
め、対象物の電気化学的測定を、安定した溶液撹拌条件
下で実施することが可能となる。よって電気化学測定以
外にメッキやエッチングを行なう際にも均一でピンホー
ル等の発生を防止することができる。
電位が乱流等による影響を受けずに非常に安定するた
め、対象物の電気化学的測定を、安定した溶液撹拌条件
下で実施することが可能となる。よって電気化学測定以
外にメッキやエッチングを行なう際にも均一でピンホー
ル等の発生を防止することができる。
第１図は本発明に係る撹拌電極装置の一例を示す概略断
面図，第２図（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）（ｅ）は本発明
で用いられる磁性回転子の一例を示した模擬図第３図
（ａ）は本発明に係る撹拌電極装置により測定した結果
を示す特性図第３図（ｂ）及び第３図（ｃ）は従来の撹
拌手段を用いた場合の特性図，第４図は従来の電極装置
の一例を示した概略断面図である。 11,31……対象物,12……開口部， 13,33……参照電極,14,34……対極， 15,35……溶液,16……回転子， 17……回転装置,18……噴出管， 32……被作用面。
面図，第２図（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）（ｅ）は本発明
で用いられる磁性回転子の一例を示した模擬図第３図
（ａ）は本発明に係る撹拌電極装置により測定した結果
を示す特性図第３図（ｂ）及び第３図（ｃ）は従来の撹
拌手段を用いた場合の特性図，第４図は従来の電極装置
の一例を示した概略断面図である。 11,31……対象物,12……開口部， 13,33……参照電極,14,34……対極， 15,35……溶液,16……回転子， 17……回転装置,18……噴出管， 32……被作用面。
Claims (1)
- 【請求項１】対象物の被作用面と内部に貯えた溶液とが
接触する接触部位を有する液槽と、 前記接触部位に設置された対象物の被作用面近傍に噴出
口を有する溶液導出路と、 前記溶液導出路へ前記溶液の一部を流入させ、前記溶液
を撹拌するための前記液槽の側面に設けられた回転撹拌
手段と、 前記溶液中に浸漬される参照電極または対極の少なくと
も一方とを備えたことを特徴とする撹拌電極装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61064710A JPH07104312B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 攪拌電極装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61064710A JPH07104312B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 攪拌電極装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62222156A JPS62222156A (ja) | 1987-09-30 |
| JPH07104312B2 true JPH07104312B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=13265976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61064710A Expired - Lifetime JPH07104312B2 (ja) | 1986-03-25 | 1986-03-25 | 攪拌電極装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07104312B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8927985B2 (en) | 2012-09-20 | 2015-01-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US8937307B2 (en) | 2012-08-10 | 2015-01-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US8981372B2 (en) | 2012-09-13 | 2015-03-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and electronic appliance |
| US9018624B2 (en) | 2012-09-13 | 2015-04-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and electronic appliance |
| US9202827B2 (en) | 2008-12-24 | 2015-12-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Driver circuit and semiconductor device |
| US9246047B2 (en) | 2012-08-10 | 2016-01-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2725843B2 (ja) * | 1989-06-26 | 1998-03-11 | 日新製鋼株式会社 | 微小領域における界面インピーダンス分布測定方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS603545A (ja) * | 1983-06-21 | 1985-01-09 | Hideaki Takahashi | 分極曲線計測用電解セル |
-
1986
- 1986-03-25 JP JP61064710A patent/JPH07104312B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9202827B2 (en) | 2008-12-24 | 2015-12-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Driver circuit and semiconductor device |
| US8937307B2 (en) | 2012-08-10 | 2015-01-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US9246047B2 (en) | 2012-08-10 | 2016-01-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US8981372B2 (en) | 2012-09-13 | 2015-03-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and electronic appliance |
| US9018624B2 (en) | 2012-09-13 | 2015-04-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and electronic appliance |
| US8927985B2 (en) | 2012-09-20 | 2015-01-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62222156A (ja) | 1987-09-30 |
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