JPH07103826A - マルチアングル反射測光計 - Google Patents
マルチアングル反射測光計Info
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- JPH07103826A JPH07103826A JP5248196A JP24819693A JPH07103826A JP H07103826 A JPH07103826 A JP H07103826A JP 5248196 A JP5248196 A JP 5248196A JP 24819693 A JP24819693 A JP 24819693A JP H07103826 A JPH07103826 A JP H07103826A
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
彩計、あるいは同分光計と同程度の角度分解能を有す
る。 【構成】 光源11からの光束12は、フィルタ15
x,15y,15zの1つを通過し、レンズ14によっ
て集束されて、試料面2を照明する。試料面2でさまざ
まな方向に反射された光束は、レンズ51を透過し、平
行光束となって、スリット52aを通過し、レンズ53
によって測定域制限板54の開口部54aに集束する。
試料面2からの反射光の中で、例えば光束60(n)
は、スリット52a上の位置52(n)を通過する。更
にこの光束は、レンズ53,55,56によって、フォ
トダイオード57(n)に到達する。フォトダイオード
57(1)〜57(18)は、各々を所定間隔で配設す
ることにより、例えば5°間隔で18方向の反射光がそ
れぞれ入射するように構成することができる。
Description
カ塗装等が施された表面のように、観察する方向によっ
て色が異なる試料面の色彩を計測するためのマルチアン
グル反射測光計に関するものである。
メタリック塗装やマイカ塗装等が普及している。これら
の塗装が施された試料面は、観察する方向によって色彩
が異なってくる。従来、このような試料面の色彩を計測
する場合には、ゴニオ色彩計、あるいは同分光計やマル
チアングル色彩計、あるいは同分光計等が用いられてき
た。
である。照明光学系10は、試料面2の測定域3の中心
をその中心とする円弧状のガイド1に摺動可能に取り付
けられ、測定域3に対する照明方向が変更可能になって
いる。図8では、試料面2の法線2aに対して45°の
方向から照明している。光源11からの光束12は、照
明域を制限するしぼり13を通り、レンズ14によって
集束されて、試料面2上の測定域3に到達する。
取り付けられた支持部材21に固定されている。そし
て、支持部材21をガイド1に沿って摺動させることに
より、測定域3の中心を中心として照明光学系10にご
く近い位置Aから、照明光の正反射方向4を観察する位
置Bまで移動可能になっている。このように、受光光学
系20は、照明光と略平行となる方向から正反射方向4
までの任意の角度で測定域3を観察することができるよ
うになっている。
20が配置された方向成分の光束22は、レンズ23に
よって集束され、光ファイバ24に入射する。この光フ
ァイバ24の入射端の大きさにより、測定域3が決定さ
れる。光ファイバ24は分岐して、射出端24x,24
y,24zを有し、射出端24x,24y,24zから
出た光は、検知部25x,25y,25zに入射し、出
力信号26x,26y,26zに変換される。
は、光源11の分光強度との組合せで得られる分光特性
がCIEの標準光源及びCIEの標準観察者の等色関数
から得られる分光特性に相当するように、その分光感度
が設定されており、出力信号26x,26y,26z
は、三刺激値X,Y,Zに相当するものである。この出
力信号26x,26y,26zは、図示しない電気回路
や演算手段によって、CIEのLab等の色彩値に変換
される。なお、ゴニオ分光計の場合は、分岐しない光フ
ァイバ24の射出端が分光手段に接続されている。
計によって、試料面の色彩あるいは分光反射率の角度依
存性を正確に捉えることができる。図9はメタリック塗
装における刺激値Yの出力例を示す図である。横軸は、
正反射方向4からの偏角で、正の角度は照明光学系10
側、負の角度はその反対側を表しており、+90°は照
明方向に一致している。
ように、塗膜5内のアルミフレーク6が塗装面にほぼ平
行に、所定の分布で散在されている。そのため、反射光
も図9に示すように、正反射方向を中心として所定の拡
がりを有している。メタリック塗装の見え方は、アルミ
フレーク6の分布によって決まるが、この分布は、反射
光の拡がり具合から知ることができる。このように、ゴ
ニオ色彩計、あるいは同分光計は、メタリック塗装やマ
イカ塗装等のような、角度依存性のある塗装面の解析に
有効な装置である。
載されている従来のマルチアングル色彩計の一例につい
て図11に基づき説明する。照明光学系10は、図8と
同一構成で、試料面2の法線に対して45°の方向に固
定されている。受光光学系20,30,40は、図8の
受光光学系20と同一構成で、異なる観察方向、すなわ
ち図11では、正反射方向からの角度が10°,45
°,70°の位置に固定されている。
3からの反射光は、受光光学系20,30,40によっ
て3方向から同時に測定され、受光光学系20から三刺
激値に対応する出力信号26x,26y,26zが出力
され、受光光学系30,40からも、同様に三刺激値に
対応する出力信号が出力される。なお、マルチアングル
分光計の場合には、分岐しない各光ファイバ24,3
4,44の射出端がそれぞれ分光手段に接続されてい
る。
に照明光学系を配設し、照明光学系10の位置に受光光
学系を配設して、各照明光学系の光源を順次点灯させ
て、各反射光を1つの受光光学系で観察するような、米
国特許4917495号に記載されている方式でも、同
様の結果が得られる。
は同分光計によれば、照明及び観察方向は固定されてお
り、その角度を変える必要がないので、瞬時、あるいは
ごく短時間で測定が可能である。また、装置に可動部分
がない分、操作性で有利となっている。
来のゴニオ色彩計、あるいは同分光計では、例えば90
°の範囲を5°毎に測定する場合には、およそ18回の
角度変更を行って、測定しなければならず、長時間を要
するとともに、正確な角度設定に熟練を要する。しか
も、装置が大型となるため、製造現場で用いる場合、ス
ペース的に好ましいとは言えない。
記載の従来のマルチアングル色彩計、あるいは同分光計
では、図9に示すY10,Y45,Y70の3つの角度
の測定データしか得ることができないため、アルミフレ
ークの分布による反射光の傾向、特に、急峻に立ち上が
っている正反射方向近辺の傾向を把握するのには不十分
である。また、方向によって色相が変化するマイカ塗装
の場合には、反射光は更に複雑な分布を示すので、より
多くの方向から観察することが必要である。
アングル色彩計、あるいは同分光計では、スペース的な
制限からそれほど観察方向を増加させることができな
い。一方、観察方向を増加させると米国特許第4917
495号に記載されている方式のものと同様、装置の構
造が複雑なものとなってしまう。
動部のない簡易な構造で、しかもゴニオ色彩計、あるい
は同分光計と同程度の角度分解能を有するマルチアング
ル色彩計、あるいは同分光計を実現することのできるマ
ルチアングル反射測光計を提供することを目的とする。
に、本発明は、試料面に一方向から照明光を投光する照
明手段と、上記試料面からの反射光を受光する受光光学
系とを有する反射測光計において、上記受光光学系は、
上記試料面に向けて配設され、該試料面からの拡散反射
光を結像する第1結像光学系と、この第1結像光学系と
一致する光軸を有し、上記第1結像光学系による結像位
置近傍に配設された第2結像光学系と、この第2結像光
学系による結像面であって、上記照明手段及び上記第1
結像光学系の両光軸を含む面上に複数の光電変換素子が
一列に配設されてなる受光部とを備えたものである。
投光されると、その照明光は試料面からさまざまな方向
に拡散反射される。この拡散反射光が第1,第2結像光
学系により結像される。そして、この結像面に配設され
た受光部により受光され、電気信号に変換される。この
とき、異なる方向に反射された反射光は、それぞれ異な
る光電変換素子で受光される。従って、各光電変換素子
から出力される電気信号を測定することにより、各方向
の反射光の強度が測定されることとなる。
計の第1実施例の構成を示す説明図である。照明光学系
10は、光源11、照明域を制限する絞り13、フィル
タが取り付けられたチョッパ円板15及び光束を集束し
て平行光にするレンズ14等から構成され、試料面2の
法線に対して45°の方向から照明可能な姿勢で配設さ
れている。
ように配設され、フィルタ15x,15y,15zが同
径上に等間隔で取り付けられており(但し、フィルタ1
5zは図1に表れていない)、モータ16によって各フ
ィルタが光路上に位置するまで回転するようになってい
る。このように、チョッパ円板15を照明光学系10に
配置しておくことにより、干渉フィルタの波長シフトを
招く原因となる斜め入射光を低減することができる。ま
た、フィルタ15x,15y,15zのサイズは、絞り
13より多少大きい程度でよい。
ィルタ15x,15y,15zを光源10の分光強度と
後述するフォトダイオードアレイ57の分光感度と組み
合わせたときの分光特性が、CIEの標準光源の分光強
度とCIEの標準観測者の等色関数X,Y,Zを組み合
わせた分光特性に相当するように、それぞれの分光透過
率が設定されている。従って、フィルタ15x,15
y,15zを透過して得られるフォトダイオードアレイ
57の出力信号は、三刺激値X,Y,Zに相当するよう
になっている。
13を通過した後、フィルタ15x,15y,15zの
1つを通過し、レンズ14によって平行光線にされて、
試料面2を照明する。
5,56、スリット板52、測定域制限板54、フォト
ダイオードアレイ57等から構成されており、照明され
た試料面2からの反射光を受光するものである。また、
受光光学系50は、光軸L50上に配設されるととも
に、照明光学系10の光軸L10の正反射方向の光束4
が受光可能になっている。
束して平行光にするもので、その焦点が照明光学系10
の光軸L10と試料面2との交点に一致する位置に配設
されている。スリット板52は、図2に示すように、所
定長のスリット52aを有し、レンズ51を透過した光
束を制限して平面状に抽出するものである。スリット5
2aは、照明光学系10の光軸L10と上記光束4とを
含む面と平行となるようにされている。レンズ53は、
スリット52aを通過した光束を集束するもので、例え
ばレンズ51と同一物が用いられている。
は、図2に示すような関係にあり、レンズ53は、この
スリット52aを通過した光束以外は利用していないの
で、図3に示すような形状としてもよい。
きさの開口部54aを有し、レンズ53の焦点を含む面
に配設され、測定域3外からのノイズ光を遮断するもの
である。開口部54aは、光軸L50を中心として配設
され、この開口部54aのレンズ51,53による試料
面2上への投影が測定域3となっている。
束は、レンズ51を透過し、平行光束にされ、更にスリ
ット52aを通過して平面状の光束にされた後、レンズ
53によって測定域制限板54の開口部54aに結像さ
れる。
対向して配設され、レンズ53,56とともに、スリッ
ト板52のスリット52aの縮小像をフォトダイオード
アレイ57上に形成するものである。レンズ56は、焦
点が開口部54aの中心に位置するように配設されてい
る。そして、開口部54aを通過した光束は、レンズ5
5を透過した後、レンズ56によって再び平行光束とな
って、フォトダイオードアレイ57に入射する。
0,L50を含む面に平行にフォトダイオード57
(1)〜57(18)が一列に配設されて構成されてい
る。各フォトダイオード57(1)〜57(18)は、
試料面2からの反射光を受光するもので、それぞれ入射
光強度に応じた電気信号を出力するものである。
反射光の中で、例えば光束60(n)は、スリット板5
2のスリット52a上の位置52(n)を通過した後、
レンズ53,55,56によって、フォトダイオードア
レイ57のフォトダイオード57(n)に入射すること
となる。
(n)は、フォトダイオード57(n)の投影とも言え
る。また、スリット52aは、フォトダイオード57
(1)〜57(18)に対応して、a−b方向に18分
割されているとも考えられる。
どの位置を通過するかは、試料面2での反射方向に対応
している。従って、フォトダイオードアレイ57のフォ
トダイオード57(1)〜57(18)は、各々を所定
間隔で配設することにより、例えば5°間隔で18方向
の反射光がそれぞれ入射するように構成することができ
る。
(18)に対して色彩値を算出するための信号処理回路
を接続すれば、マルチアングル色彩計を構成することが
できる。例えば、フォトダイオード57(1)〜57
(18)の出力信号をチョッパ円板15上のフィルタ1
5x,15y,15zの各々について順次取り込む。こ
れらの出力信号をマルチプレクサを介してA/D変換回
路に入力し、ディジタル値に変換して、演算処理部に取
り込むようにする。そして、演算処理部において、例え
ばCIEのL*a*b*空間の色彩値を各反射方向毎に
算出することができる。
代えて、チョッパ円板15上に例えば400〜700n
mの範囲で20nm毎に透過波長を有する16種のバン
ドパスフィルタを取り付け、モータ16によって各バン
ドパスフィルタが光路上に位置するまで回転させ、各波
長毎の出力信号を順次取り込むように構成すれば、分光
反射率を測定するマルチアングル分光計を構成すること
ができる。この場合、演算処理部には、18方向×16
波長=288種のデータが取り込まれることとなる。
測定域制限板54の近傍や、フォトダイオードアレイ5
7の前方に配置してもよい。
フォトダイオード57(n)のみに入射するはずであ
る。しかしながら、本実施例では、図8、図11に示す
ような従来例と異なり、さまざまな方向への反射光を1
つの受光光学系で受光しているために、実際には各レン
ズ表面の反射等のいわゆるフレアにより、図4に示すよ
うに、反射光が他のフォトダイオードにも入射してしま
う虞れがある。そこで、次に、このようなフレアによる
影響の解消について説明する。
と、実際にフォトダイオードアレイ57のフォトダイオ
ード57(1)〜57(18)で観察される出力Pj
(j=1〜18)は、
光に対するj番目のフォトダイオードの出力、すなわち
図4の出力曲線を表わしている。
れるので、
ーションの手法によって、実際の各方向への反射光の強
度、
面鏡を配設し、これを光軸L10と試料面2との交点を
通って紙面に垂直な軸の回りに回転させると、特定の方
向のみの反射光を形成することができる。この方法によ
り各方向の反射光60(1)〜60(18)を形成し、
各々の反射光について各フォトダイオード57(1)〜
57(18)の出力を取り込むことによって、
ることができる。
光計の第2実施例について、図5〜図7に基づき説明す
る。図5は同マルチアングル反射測光計の第2実施例の
構成を示す説明図である。図6は図5の受光光学系50
1の光軸L501に沿って紙面に垂直な断面から見たc
−d断面図である。なお、第1実施例と同一機能を果た
すものは同一符号を付す。
は、レンズ51,53に代えて、凹面鏡59、平面鏡5
8から構成されている。凹面鏡59は、その中心59a
が試料面2上に一致する位置に配設され、試料面2から
の反射光を反射して、測定域3の等倍の実像を形成する
ものである。また、凹面鏡59は、その軸59bが試料
面2に垂直な面、すなわち図5の紙面から、微小角度θ
だけ傾斜して配設されている。平面鏡58は、凹面鏡5
9で反射された光を測定域制限板54に向けて反射する
ものである。
に、測定域3からの光束60aは、凹面鏡59によって
反射されると2θだけ向きを変えて光束60bとなり、
平面鏡58によって反射されて、測定域制限板54上に
測定域3の実像を形成する。
の開口部54aを通過し、レンズ55,56で集束され
て、図6の紙面と垂直な方向に各フォトダイオードが一
列に配設されてなるフォトダイオードアレイ57に入射
する。
うに、凹面鏡59の直径にほぼ等しいフォトダイオード
アレイ57の像57aを凹面鏡59の近傍に形成するよ
うに、その定数が設定されている。
ダイオードアレイ57の受光領域の像により、仮想的な
スリットが形成されていることになる。測定域3からの
反射光は、このフォトダイオードアレイ57の像57a
によって、反射方向毎に受光されるとも言える。
フォトダイオードを用いて説明したが、フォトトランジ
スタ等の他の光電変換素子を用いるものでもよい。
れた試料面からの拡散する反射光を集光し、異なる角度
の反射光は異なる光電変換素子で受光するようにしたの
で、可動部のない簡易な構造で、しかもゴニオ色彩計、
あるいは同分光計と同程度の角度分解能を有するマルチ
アングル色彩計、あるいは同分光計を実現することが可
能になる。
実施例の構成を示す説明図である。
示す図である。
る。
ドの相対的な入射強度を示す図である。
実施例の構成を示す説明図である。
断面から見たc−d断面図である。
イオードアレイ57の像57aを示す図である。
る。
す図である。
ある。
Claims (1)
- 【請求項1】 試料面に一方向から照明光を投光する照
明手段と、上記試料面からの反射光を受光する受光光学
系とを有する反射測光計において、上記受光光学系は、
上記試料面に向けて配設され、該試料面からの拡散反射
光を結像する第1結像光学系と、この第1結像光学系と
一致する光軸を有し、上記第1結像光学系による結像位
置近傍に配設された第2結像光学系と、この第2結像光
学系による結像面であって、上記照明手段及び上記第1
結像光学系の両光軸を含む面上に複数の光電変換素子が
一列に配設されてなる受光部とを備えたものであること
を特徴とするマルチアングル反射測光計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5248196A JPH07103826A (ja) | 1993-10-04 | 1993-10-04 | マルチアングル反射測光計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5248196A JPH07103826A (ja) | 1993-10-04 | 1993-10-04 | マルチアングル反射測光計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07103826A true JPH07103826A (ja) | 1995-04-21 |
Family
ID=17174632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5248196A Pending JPH07103826A (ja) | 1993-10-04 | 1993-10-04 | マルチアングル反射測光計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07103826A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007139466A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Tokyo Institute Of Technology | 近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置 |
JP2016011874A (ja) * | 2014-06-27 | 2016-01-21 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置およびその方法 |
-
1993
- 1993-10-04 JP JP5248196A patent/JPH07103826A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007139466A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Tokyo Institute Of Technology | 近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置 |
JP2016011874A (ja) * | 2014-06-27 | 2016-01-21 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置およびその方法 |
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