JPH07101498B2 - 磁気記録材料およびその製造方法 - Google Patents

磁気記録材料およびその製造方法

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JPH07101498B2 JP60254059A JP25405985A JPH07101498B2 JP H07101498 B2 JPH07101498 B2 JP H07101498B2 JP 60254059 A JP60254059 A JP 60254059A JP 25405985 A JP25405985 A JP 25405985A JP H07101498 B2 JPH07101498 B2 JP H07101498B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、耐腐食性に優れしかも磁気特性に優れたFe系
磁気記録材料およびその製造方法に関する。
〔発明の技術的背景ならびにその問題点〕
近年、高密度磁気記録に対する要求が高まりつつあり、
これに対応して、非磁性基材上に強磁性金属からなる薄
膜をスパッタリング、イオンプレーティングなどの方法
により被着させてなる薄膜型の磁気記録材料が開発され
ている。このうち、Co系磁性材料を斜方蒸着法により基
材上に薄膜として被着させてなる磁気記録材料は、その
磁気特性が優れているため、たとえばマイクロカセット
テープなどに利用されている。
しかしながらCo系磁気記録材料は、その材料コストが高
く、しかも斜方蒸着法により記録材料を作成しておりそ
の蒸着効率が低くなるため、磁気記録材料としては価格
が高くなりすぎるという欠点があり、他の安価な磁性材
料の利用が望まれていた。
一方、Fe系磁性材料を用いて形成されたFe系磁気記録材
料は、その材料コストが低いため価格的に大幅な低下が
図れる可能性はあるが、耐腐食性が不充分であるととも
に、高い保磁力が得られないという問題点があり、従来
種々の試みがなされているにもかかわらず、実用化には
至っていないのが実情である。
本発明者らは、上記のようなFe系磁気記録材料に伴なう
問題点を解決すべく鋭意研究した結果、以下のような事
実を見出した。
(a) Fe系金属を被蒸着基材に真空蒸着する際に、
N2,NH3などの含窒素ガスイオンからなるイオンビームを
該基材に同時に照射することにより、基材上にFexN(式
中xは2〜8である)で示される窒化鉄を含むFe系薄膜
を形成することができること。
(b) 上記の窒化鉄を含有するFe系薄膜は、従来の真
空蒸着等によって形成されたCo系あるいは窒化鉄を含ま
ないFe系薄膜に比べて、耐腐食性においてすぐれている
こと。
(c) 被蒸着基材面に対して斜め方向から蒸着源粒子
を蒸着させることにより、蒸着膜の保磁力(Hc)が増加
すること。
(d) 上記(a)において、イオンビームを形成する
含有窒素ガスイオンの基材に対する加速電圧が1000Vを
超えると、基材表面におけるスパッタリング効果によ
り、成膜速度が著しく低下すること。
(e) Fe系薄膜の成膜速度を一定にし、窒素イオンが
基材に到達することによりもたらされる基材上でのイオ
ン電流密度を増加すると、得られるFe系薄膜の組成が変
化し、それに応じて磁気特性が著しく変化すること。
〔発明の概要〕 本発明は、上記のような知見に基いて完成されたもので
あって、Fe系薄膜でありながら、優れた耐腐食性を有す
るとともに優れた磁気特性をも有するFe系磁気記録材料
およびその製造方法を提供することを目的とする。
このような目的を達成するため、本発明に係るFe系磁気
記録材料は、基材と、この基材上に形成されたFe薄膜と
からなる磁気記録材料において、前記Fe系薄膜が、
(イ)FexN(式中xは2〜8である)で示される窒化鉄
を20%以上含み、(ロ)Fe2〜3Nで示される窒化鉄の
量が70%以下であり、かつ、(ハ)静磁気特性における
角形比が0.5以上であることを特徴としている。
また、本発明に係る磁気記録材料およびその製造方法
は、チャンバー内で、FeまたはFe系合金からなるFe系物
質を蒸着源として、以下の条件(a)〜(e)下で基材
上に、(イ)FexN(式中xは2〜8である)で示される
窒化鉄を20%以上含み、(ロ)Fe2〜3Nで示される窒
化鉄の量が70%以下であり、かつ、(ハ)静磁気特性に
おける角形比が0.5以上であるFe系薄膜を形成すること
を特徴とするものである。
(a) 基材面に立てた垂線とFe系物質の蒸気流とのな
す角度すなわち蒸着物質の入射角を20度以上に保って、
基材上にFe系物質を蒸着させること、 (b) チャンバー内の含窒素ガスの圧力を5.0×10-4T
orr以下に保つこと、 (c) 上記Fe系物質の蒸着と同時に、基材面に立てた
垂線に対して−45度〜+45度の角度から窒素のイオンビ
ームを照射する、 (d) 窒素イオンビームの基材に対する加速電圧を10
00V以下に保つこと、 (e) 窒素イオンビームが基材に照射されることによ
りもたらされる基材表面上でのイオン電流密度を0.1〜1
0A/m2の範囲に保つこと。
〔発明の具体的説明〕
以下、本発明を、添附図面を参照しながら更に詳細に説
明する。
第1図の断面図に示すように、本発明に係る磁気記録材
料1は、基材2と、この基材2上に被着されたFe系薄膜
3とからなっている。
基 材 基材2としては、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、ポリ
塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリエチレンテレフタ
レート、ポリイミド、ポリカーボネート、ポリアミドな
どの合成樹脂のフィルムあるいはシート、アルミニウム
箔、非磁性ニッケル箔、ステンレス箔などの非磁性金属
の箔またはシート、ガラス、セラミック板などの従来公
知の材料が用いられうる。
Fe系薄膜 Fe系薄膜3は、FexN(式中xは2〜8である)で示され
る窒化鉄を好ましくは20%以上、さらに好ましくは50%
以上で含み、しかもFe2〜3Nで示される窒化鉄の量は
70%以下であることが好ましい。この場合の「%」は、
薄膜を構成する全原子数を基準とする原子百分率(atom
ic%)である。
このFe系薄膜3中には、上記のような窒化鉄に加えて、
純鉄(α−Fe)も含まれており、この量は一般に5〜50
%であることが好ましい。
Fe系薄膜3におけるFexN(xは2〜8である)で示され
る窒化鉄の量が20%未満であると、得られる磁気記録材
料の耐腐食性が不充分であるため好ましくない。またFe
2〜3Nで示される窒化鉄の量が70%を超えると、磁気
記録材料の保磁力Hcおよび飽和磁化σsが急激に減少す
るため好ましくない。
なおFe系薄膜3におけるFexNで示される窒化鉄の量が、
5〜20%である場合には、 40℃、湿度90%の室内に1週間放置しても腐食が認めら
れない程度の耐腐食性を有しており、また前記窒化鉄の
量が20〜50%である場合には、NaClを含む水分に1週間
接触させても腐食が認められない程度の耐腐食性を有し
ており、さらに前記窒化鉄の量が50%以上である場合に
は、5%NaCl水溶液に1週間浸漬しても腐食が認められ
ない程度の耐腐食性を有している。
理論に拘束されることは望まないが、 Fe2〜3Nで示される窒化鉄は磁性を有しておらず、一
方Fe4〜8Nで示される窒化鉄ならびに純鉄は磁性を有
していると考えられる。したがって本発明に係る磁気記
録材料においては、FexN(xは2〜8である)で示され
る窒化鉄を20%以上含ませることによって耐腐食性を付
与し、またFe2〜3Nで示される窒化鉄の量を70%以下
とすることによって保磁力Hcおよび飽和磁化σsの低下
を抑えているのであろうと推定される。
保磁力Hcに関しては、Fe系薄膜中にFe2〜3Nを少量含
ませることによって、むしろ保磁力Hcは増加するが、Fe
2〜3Nの量が50%を超えると保磁力は急激に減少する
ことが見出されている。
また、本発明の磁気記録材料は、静磁気特性における飽
和磁化(σs)が50emu/g以上、さらに好ましくは70emu
/g以上であり、角形比(Rsq)は、好ましくは0.5以上、
さらに好ましくは0.7以上である。
角形比が0.5未満では記録媒体を構成する個々の磁気ド
メインの磁化容易軸の方向のランダム性が大きくなるた
め実用上十分良好な磁気記録を行うことができないので
好ましくない。
製造方法 次に本発明に係るFe系磁気記録材料1の製造方法につい
て説明する。
本発明に係るFe系磁気記録材料1は、基材2上にFe系薄
膜3を被着させて形成されているが、このFe系薄膜3の
形成は、従来公知の装置を用いて行なわれ得る。第2図
は、このような装置の概略断面図である。すなわち、こ
の場合の装置4は、底部にバルブ6を有する真空ライン
5を具備しており、装置4の内部すなわちチャンバー7
の下部には、蒸着源であるFeまたはFe系合金8を入れる
ためのルツボ9が設けられておりこのルツボ9の下部に
は、電子銃または抵抗加熱装置を含んで構成される電子
ビーム加熱装置10が設けられている。
また、チャンバー7内のルツボ9のほぼ真上位置には、
ホルダー11が設けられており、このホルダー11は基材2
を傾斜角度自在に保持する。
すなわちホルダー11は、基材2に立てた垂線とFe系蒸気
流とのなす角度αすなわち入射角αを20度好ましくは45
度以上に保つことができるように、基材2を傾けて保持
できるようになっている。さらに、チャンバー7内に
は、窒素のイオンビームを発生させて基材2表面に照射
させるためのイオン銃12が設けられており、このイオン
銃12の後部には、バルブ14を有する含窒素ガス導入ライ
ン13が接続されている。また、イオン銃12は、基材2に
立てた垂線とイオンビームとのなす角度すなわち入射角
βを±45度以内に調整できるように支持されている。但
し、この角度βは、イオン銃12が、ルツボ9からのFe系
蒸気流の進行を妨げない範囲で設定することが好まし
い。
イオン銃12としては、従来公知のイオン銃が用いられ、
例えば、低加速大電流型、低圧アーク放電型のカウフマ
ン型イオン銃などが用いられ得る。
このような装置においては、ルツボ9内のFeまたはFe系
合金8は、電子ビーム加熱装置10から放出されるととも
に加速集束された電子ビーム15により加熱され、Feまた
はFe系合金の蒸気流16が上方に向けて発生する。
一方、イオン銃12は、後部のガス導入ライン13から導入
された含窒素ガスを、イオン銃内部のフィラメント、円
筒電極、電磁コイル等で構成される放電チャンバー(図
示せず)内でイオン化し、前方の出射孔から窒素イオン
ビームを照射する機能を有している。この場合、イオン
銃12側は基材2に対して正電位にバイアスされているた
め、出射孔より放出された含窒素ガスイオンは加速され
て基材2へ向かうイオン流となる。このとき、基材2上
およびその周辺部において、このイオン流とFe系物質の
蒸気流とが衝突して反応し、Fe系物質の一部は窒化鉄と
なって基材2表面に被着すると推測される。
上記の操作の手順ならびに条件について説明すると、ま
ずチャンバー7内を10-6Torr程度の高真空にまで排気す
る。次に含窒素ガスをガス導入ライン(図示せず)から
数10Torrまで導入してチャンバー7内を含窒素ガスで満
たし、この含窒素ガスの流量をバルブによりコントロー
ルしながら再び排気を行なって、チャンバー内の含窒素
ガス圧を5.0×10-4Torr以下に保つ。チャンバー9内の
含窒素ガス圧は、得られるFe系薄膜中での窒化鉄の量お
よび磁気特性に対して大きな影響を与える。チャンバー
内の含窒素ガス圧が5.0×10-4Torrを超えると、磁気特
性のうち、角形比(Rsq)が著しく低下するので好まし
くない。
一方、ルツボ9内のFeまたはFe系合金8に照射される電
子ビーム15の量は、電子銃を含んで構成される電子ビー
ム加熱装置10に加えられる電力によりコントロールされ
るが、この電子ビーム加熱装置10に加えられる電力に応
じてFe系薄膜の成膜速度が決定される。Fe系薄膜の成膜
速度は、通常の場合1.0〜200Å/secの範囲に保持され得
るが、場合によっては約1000Å程度まで上げることも可
能である。
成膜速度が1.0Å/sec未満であると、成膜が安定化しな
いため好ましくない。
ところで、前述したように、含窒素ガスはイオン銃12内
でイオン化され、さらに加速されて基材2へ入射する
が、このとき基材表面に到達する窒素イオンのイオン電
流密度の値は、得られるFe系薄膜中の窒化鉄の組成なら
びに量に対して大きな影響を与え、したがってこの値如
何によって磁気特性および耐食特性も大きく変化する。
第3図は、イオン電流密度に対する磁気特性の変化を表
わすグラフである。このグラフから明らかなように、イ
オン電流密度(Jion)の増加にともない保磁力(Hc)お
よび角形比(Rsq)は増加して飽和し、一方、飽和磁化
(σs)は単調に減少する。ここで、Hcは斜め蒸着の際
の基材の傾斜角度を適宜制御することにより低下させる
ことができるので、第3図のグラフにおいてHcが比較的
高い値を示す範囲の電流密度であってもよい。また、角
形比(Rsq)は、磁気テープ等の一般的な用途を想定す
ると好ましくは0.5以上、さらに好ましくは0.7以上であ
ることが望ましい。また、飽和磁化(σs)は、通常の
磁気テープ等の磁気記録材料に要求される値を考慮する
と、50emu/g以上であることが望ましく、さらに好まし
くは70emu/g以上である。さらに本発明者らの知見によ
れば、イオン電流密度0.1A/m2以下で作成したものは窒
素イオンビームの照射の効果が得られず、耐食性の点で
満足のいくものではない。
以上の知見を総合的に判断するとイオン電流密度は、0.
1〜10A/m2が好ましく、さらに好ましくは0.2〜0.7A/m2
である。
一方、窒素イオンビームの基板に対する加速電圧は、Fe
系薄膜の成膜速度に及ぼす影響を考慮すると、1000V以
下であることが望ましく、さらに好ましくは、500V以下
である。すなわち、加速電圧が1000Vを越えると、基板
上で生ずるスパッタリング効果により、成膜速度が著し
く低下するので好ましくない。
上記のような条件で成膜した場合、得られるFe系薄膜
は、FexN(式中xは2〜8)で示される窒化鉄を20%以
上含み、しかも、Fe2〜3Nで示される窒化鉄の量が70
%である。
なお、ルツボ9およびホルダー11は、一般には接地する
ことが好ましいが、ホルダー11に関しては大地に対して
負の電圧を印加してもよい。
蒸着源であるFe系合金としては、Feを主体とした合金た
とえばFe−Ni、Fe−Co、Fe−Ni−Co、Fe−Rh、Fe−Cr、
Fe−Sm、Fe−Cr、Fe−SiのFe系強磁材料などが用いられ
うる。
含窒素ガスとしては、窒素ガス、アンモニアガス、また
はこれらの混合物あるいはこれらのガスとヘリウム、ネ
オン、アルゴンなどの不活性ガスとの混合物が用いられ
るが、特に窒素ガスが好ましい。
なお、Fe系薄膜3の膜厚は、広い範囲で変化しうるが、
一般に500〜5000Å、好ましくは500〜3000Åであること
が望ましい。
なお、本明細書においてFe系薄膜中の窒化鉄の量は、メ
スバウァー法に基いて決定された値である。
〔発明の実施例〕
以下本発明を実施例により説明するが、本発明はこれら
の実施例に限定されるものではない。
実施例1 基材として厚さ50μmのポリイミドフィルムを用い、そ
の表面に、Feを蒸着源として第2図に示した装置により
以下の条件でFe系薄膜を形成した。
成膜条件 入射角:α=75度 β=0度 真空度:8×10-5Torr (導入ガス:N2) イオン電流密度:0.43A/m2 加速電圧:500V 成膜速度:5Å/sec 膜厚:1700Å 得られた磁気記録材料の組成ならびに特性を下表に示
す。なお、膜の組成はメスバウアー分光法により分析し
た。
比較例1 実施例1において、窒素イオンビームを照射しないでFe
系薄膜を形成した。成膜条件は以下の通りである。
成膜条件 入射角:α=75度 真空度:5×10-5Torr (N2ガス導入せず) 成膜速度:5Å/sec 膜厚:1700Å
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る磁気記録材料の断面図、第2図は
Fe系薄膜を形成する際に用いられる装置の概略断面図、
第3図はイオン電流密度に対する磁気特性の変化を表わ
すグラフである。 1……磁気記録材料、2……基材、3……Fe系薄膜、4
……装置。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基材と、この基材上に形成されたFe系薄膜
    とからなる磁気記録材料において、前記Fe系薄膜が、斜
    方蒸着層からなり、(イ)FexN(式中xは2〜8であ
    る)で示される窒化鉄を前記Fe系薄膜を構成する全原子
    数を基準とする原子百分率で20%以上含み、(ロ)Fe
    2〜3Nで示される窒化鉄の量が前記Fe系薄膜を構成す
    る全原子数を基準とする原子百分率で70%以下であり、
    かつ、(ハ)静磁気特性における角形比が0.5以上であ
    ることを特徴とする、磁気記録材料。
  2. 【請求項2】チャンバー内で、FeまたはFe系合金からな
    るFe系物質を蒸着源として、以下の条件(a)〜(e)
    下で基材上に、(イ)FexN(式中xは2〜8である)で
    示される窒化鉄をFe系薄膜を構成する全原子数を基準と
    する原子百分率で20%以上含み、(ロ)Fe2〜3Nで示
    される窒化鉄の量がFe系薄膜を構成する全原子数を基準
    とする原子百分率で70%以下であり、かつ、(ハ)静磁
    気特性における角形比が0.5以上であるFe系薄膜を形成
    することを特徴とする、磁気記録材料の製造方法。 (a) 基材面に立てた垂線とFe系物質の蒸気流とのな
    す角度すなわち蒸着物質の入射角を20度以上に保って、
    基材上にFe系物質を蒸着させること、 (b) チャンバー内の含窒素ガスの圧力を5.0×10-4T
    orr以下に保つこと、 (c) 上記Fe系物質の蒸着と同時に、基材面に立てた
    垂線に対して−45度〜+45度の角度から窒素のイオンビ
    ームを照射する、 (d) 窒素イオンビームの基材に対する加速電圧を10
    00V以下に保つこと、 (e) 窒素イオンビームが基材に照射されることによ
    りもたらされる基材表面上でのイオン電流密度を0.1〜1
    0A/m2の範囲に保つこと。
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