JPH0685115A - 電子部品搭載用基板 - Google Patents
電子部品搭載用基板Info
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- JPH0685115A JPH0685115A JP23492892A JP23492892A JPH0685115A JP H0685115 A JPH0685115 A JP H0685115A JP 23492892 A JP23492892 A JP 23492892A JP 23492892 A JP23492892 A JP 23492892A JP H0685115 A JPH0685115 A JP H0685115A
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- Japan
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- electronic component
- component mounting
- lead
- bent
- leads
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Abstract
(57)【要約】
【目的】樹脂モールド時にインナーリードと導体回路と
の接合部分に作用する応力を低減させて、接合部分の剥
がれ、接合材のクラック等の発生を防止し、電子部品搭
載装置の信頼性の向上および、歩留りの向上を図る。 【構成】樹脂モールド時にリード6の一部がリードフレ
ーム挟持部14に挟持された状態のとき、インナーリー
ド6aが撓んでヒートシンク7の下面7aがトランスフ
ァモールド金型12の内面11aを押圧するようにし
た。導体回路2の一部に接合されるインナーリード6a
に絶縁基板1の高さ方向へ屈曲した屈曲部Kが設けられ
ている。インナーリード6aが撓んだ際に屈曲部Kが伸
長してリード6及びインナーリード6aに加わる応力が
緩和される。この結果、インナーリードと導体回路との
接合部分に加わる応力も小さくなり、接合部分の剥が
れ、接合材のクラック等の発生が防止される。
の接合部分に作用する応力を低減させて、接合部分の剥
がれ、接合材のクラック等の発生を防止し、電子部品搭
載装置の信頼性の向上および、歩留りの向上を図る。 【構成】樹脂モールド時にリード6の一部がリードフレ
ーム挟持部14に挟持された状態のとき、インナーリー
ド6aが撓んでヒートシンク7の下面7aがトランスフ
ァモールド金型12の内面11aを押圧するようにし
た。導体回路2の一部に接合されるインナーリード6a
に絶縁基板1の高さ方向へ屈曲した屈曲部Kが設けられ
ている。インナーリード6aが撓んだ際に屈曲部Kが伸
長してリード6及びインナーリード6aに加わる応力が
緩和される。この結果、インナーリードと導体回路との
接合部分に加わる応力も小さくなり、接合部分の剥が
れ、接合材のクラック等の発生が防止される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品を搭載する絶
縁基板に放熱板を設けた電子部品搭載用基板に係り、詳
しくは、その絶縁基板に形成された導体回路の一部に接
続されるリードの構造に特徴を有する電子部品搭載用基
板に関するものである。
縁基板に放熱板を設けた電子部品搭載用基板に係り、詳
しくは、その絶縁基板に形成された導体回路の一部に接
続されるリードの構造に特徴を有する電子部品搭載用基
板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、電子部品搭載用基板を用いた電子
部品搭載装置において、装置の動作中に電子部品から発
生する熱を効率良く放熱するための放熱板を備えたもの
が提案されている。この電子部品搭載装置は図7に示す
ように、絶縁基板1上に導体回路2が形成されるととも
に、電子部品搭載部3が形成されている。電子部品搭載
部3には電子部品としてのICチップ4が搭載されてお
り、そのICチップ4はボンディングワイヤ5を介して
前記導体回路2と接続されている。導体回路2の端部に
はリード6のインナーリード6aが半田付け等により電
気的に接続されている。また、電子部品搭載部3の底部
には金属放熱板としてのヒートシンク7が配設されてい
る。そして、上記各部材により電子部品搭載用基板8が
構成され、電子部品搭載用基板8は樹脂9を用いたトラ
ンスファモールドによりヒートシンク7の表面7aが外
部に露出するようにして封止されている。
部品搭載装置において、装置の動作中に電子部品から発
生する熱を効率良く放熱するための放熱板を備えたもの
が提案されている。この電子部品搭載装置は図7に示す
ように、絶縁基板1上に導体回路2が形成されるととも
に、電子部品搭載部3が形成されている。電子部品搭載
部3には電子部品としてのICチップ4が搭載されてお
り、そのICチップ4はボンディングワイヤ5を介して
前記導体回路2と接続されている。導体回路2の端部に
はリード6のインナーリード6aが半田付け等により電
気的に接続されている。また、電子部品搭載部3の底部
には金属放熱板としてのヒートシンク7が配設されてい
る。そして、上記各部材により電子部品搭載用基板8が
構成され、電子部品搭載用基板8は樹脂9を用いたトラ
ンスファモールドによりヒートシンク7の表面7aが外
部に露出するようにして封止されている。
【0003】この電子部品搭載用基板8をトランスファ
モールドにより樹脂封止する場合は、図8に示すよう
に、上型10及び下型11からなるトランスファモール
ド金型12が用いられる。そして、前記電子部品搭載用
基板8は上型10及び下型11により形成されたキャビ
ティ13内に収納される。このとき、リードフレームの
一部を構成しているリード6は上型10及び下型11に
より形成されたリードフレーム挟持部14にて挟持され
ている。そして、封止樹脂9が図示しない注入口より前
記キャビティ13内に圧入され、樹脂9を硬化させた
後、リード6を所定の位置で切り離して電子部品搭載装
置15が製造される。
モールドにより樹脂封止する場合は、図8に示すよう
に、上型10及び下型11からなるトランスファモール
ド金型12が用いられる。そして、前記電子部品搭載用
基板8は上型10及び下型11により形成されたキャビ
ティ13内に収納される。このとき、リードフレームの
一部を構成しているリード6は上型10及び下型11に
より形成されたリードフレーム挟持部14にて挟持され
ている。そして、封止樹脂9が図示しない注入口より前
記キャビティ13内に圧入され、樹脂9を硬化させた
後、リード6を所定の位置で切り離して電子部品搭載装
置15が製造される。
【0004】前記した電子部品搭載装置15において
は、ICチップ4の動作中の熱をヒートシンク7から確
実に放熱させるためには、その表面7aが封止樹脂9の
外部に露出されていることが有効である。それには、電
子部品搭載用基板8をトランスファモールドにより樹脂
封止するときに、ヒートシンク7の表面7aを下型11
の内面11aに常時密着させておく必要がある。そのた
め、図8に示すように、インナーリード6aの表面6b
からヒートシンク7の表面7aまでの高さHが、下型1
1の内面11aからリードフレーム挟持部14までの高
さhより所定量だけ高くなるように、ヒートシンク7の
厚みを増加させている。
は、ICチップ4の動作中の熱をヒートシンク7から確
実に放熱させるためには、その表面7aが封止樹脂9の
外部に露出されていることが有効である。それには、電
子部品搭載用基板8をトランスファモールドにより樹脂
封止するときに、ヒートシンク7の表面7aを下型11
の内面11aに常時密着させておく必要がある。そのた
め、図8に示すように、インナーリード6aの表面6b
からヒートシンク7の表面7aまでの高さHが、下型1
1の内面11aからリードフレーム挟持部14までの高
さhより所定量だけ高くなるように、ヒートシンク7の
厚みを増加させている。
【0005】このようにすると、リード6の一部をリー
ドフレーム挟持部14で挟持した状態で電子部品搭載用
基板8をキャビティ13内に収納した場合、電子部品搭
載用基板8は前記高さHと高さhとの差の分だけ上型1
0側に変位する。また、リードフレーム挟持部14に挟
持されたリード6は変位しないため、インナーリード6
aが撓んだ状態となり、絶縁基板1を介してヒートシン
ク7の表面7aが内面11aに押圧状態に保持される。
この結果、トランスファモールド時封止樹脂9が表面7
aと内面11aとの間に入り込むことがなく、表面7a
が封止樹脂9の外部に露出した状態となる。
ドフレーム挟持部14で挟持した状態で電子部品搭載用
基板8をキャビティ13内に収納した場合、電子部品搭
載用基板8は前記高さHと高さhとの差の分だけ上型1
0側に変位する。また、リードフレーム挟持部14に挟
持されたリード6は変位しないため、インナーリード6
aが撓んだ状態となり、絶縁基板1を介してヒートシン
ク7の表面7aが内面11aに押圧状態に保持される。
この結果、トランスファモールド時封止樹脂9が表面7
aと内面11aとの間に入り込むことがなく、表面7a
が封止樹脂9の外部に露出した状態となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記した電
子部品搭載用基板8においては、樹脂封止するときにイ
ンナーリード6aの撓みによりインナーリード6aと導
体回路2との接合部分に応力が作用して、接合部分が部
分的に剥がれたり、半田等の接合材にクラックが生じる
という問題がある。そして、接合部分の剥がれ、接合材
のクラックにより良好な電気的接続状態を維持すること
ができなくなり、場合によっては、接合部分が完全に剥
がれて断線するおそれがある。
子部品搭載用基板8においては、樹脂封止するときにイ
ンナーリード6aの撓みによりインナーリード6aと導
体回路2との接合部分に応力が作用して、接合部分が部
分的に剥がれたり、半田等の接合材にクラックが生じる
という問題がある。そして、接合部分の剥がれ、接合材
のクラックにより良好な電気的接続状態を維持すること
ができなくなり、場合によっては、接合部分が完全に剥
がれて断線するおそれがある。
【0007】また、電子部品搭載用基板8では良品であ
ってもトランスファモールド金型12にて樹脂封止して
電子部品搭載装置15を製造する際に接合部分に無理な
力が加わって、前記した欠陥が発生して不良品となる場
合がある。このため、装置としての歩留りが低下すると
いう問題がある。
ってもトランスファモールド金型12にて樹脂封止して
電子部品搭載装置15を製造する際に接合部分に無理な
力が加わって、前記した欠陥が発生して不良品となる場
合がある。このため、装置としての歩留りが低下すると
いう問題がある。
【0008】さらに、電子部品搭載装置15として導体
回路2とインナーリード6aとが良好な電気的接続状態
でないと、装置としての信頼性が低下するとともに、早
期に故障するおそれがある。
回路2とインナーリード6aとが良好な電気的接続状態
でないと、装置としての信頼性が低下するとともに、早
期に故障するおそれがある。
【0009】本発明は前記問題点に鑑みてなされたもの
であり、その目的は樹脂モールド時にインナーリードと
導体回路との接合部分に作用する応力を低減させて、接
合部分の剥がれ、接合材のクラック等の発生を防止し、
電子部品搭載装置の信頼性の向上および、歩留りの向上
を図ることができる電子部品搭載用基板を提供すること
にある。
であり、その目的は樹脂モールド時にインナーリードと
導体回路との接合部分に作用する応力を低減させて、接
合部分の剥がれ、接合材のクラック等の発生を防止し、
電子部品搭載装置の信頼性の向上および、歩留りの向上
を図ることができる電子部品搭載用基板を提供すること
にある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め本発明では、導体回路を有する絶縁基板に電子部品搭
載部が形成され、該電子部品搭載部の底部に金属放熱板
が配設され、前記導体回路の一部とリードフレームに連
続するインナーリードとが接続され、かつ電子部品搭載
部に電子部品が搭載された後、金属放熱板の電子部品を
搭載する面と反対側表面が露出する状態で略全体がトラ
ンスファモールドにより樹脂封止される電子部品搭載用
基板において、前記リードフレームの表面から前記金属
放熱板の表面までの高さを、トランスファモールド金型
の金属放熱板と対向する面からリードフレーム挟持部ま
での高さより大きくし、前記インナーリードに前記絶縁
基板の高さ方向へ屈曲する屈曲部を設けた。
め本発明では、導体回路を有する絶縁基板に電子部品搭
載部が形成され、該電子部品搭載部の底部に金属放熱板
が配設され、前記導体回路の一部とリードフレームに連
続するインナーリードとが接続され、かつ電子部品搭載
部に電子部品が搭載された後、金属放熱板の電子部品を
搭載する面と反対側表面が露出する状態で略全体がトラ
ンスファモールドにより樹脂封止される電子部品搭載用
基板において、前記リードフレームの表面から前記金属
放熱板の表面までの高さを、トランスファモールド金型
の金属放熱板と対向する面からリードフレーム挟持部ま
での高さより大きくし、前記インナーリードに前記絶縁
基板の高さ方向へ屈曲する屈曲部を設けた。
【0011】
【作用】本発明では、リードフレームの表面から金属放
熱板の表面までの高さを、トランスファモールド金型の
金属放熱板と対向する面からリードフレーム挟持部まで
の高さより高く形成したことによって、封止樹脂のモー
ルド時に金属放熱板の表面が金型の内面に押圧された状
態となり、金型の内面と金属放熱板との間に隙間が生じ
ることがなくなる。従って、金属放熱板の表面に封止樹
脂が付着することがなくなる。
熱板の表面までの高さを、トランスファモールド金型の
金属放熱板と対向する面からリードフレーム挟持部まで
の高さより高く形成したことによって、封止樹脂のモー
ルド時に金属放熱板の表面が金型の内面に押圧された状
態となり、金型の内面と金属放熱板との間に隙間が生じ
ることがなくなる。従って、金属放熱板の表面に封止樹
脂が付着することがなくなる。
【0012】また、インナーリードに絶縁基板の高さ方
向へ屈曲する屈曲部を設けたことによって、リードフレ
ームの一部がリードフレーム挟持部に挟持された状態の
とき、インナーリードは絶縁基板の高さ方向への伸縮が
可能となる。このため、樹脂モールド時においてインナ
ーリードが撓んだ際にリードフレーム及びインナーリー
ドに加わる応力が緩和される。この結果、インナーリー
ドと導体回路との接合部分に加わる応力も小さくなり、
接合部分の剥がれ、接合材のクラック等の発生が防止さ
れる。
向へ屈曲する屈曲部を設けたことによって、リードフレ
ームの一部がリードフレーム挟持部に挟持された状態の
とき、インナーリードは絶縁基板の高さ方向への伸縮が
可能となる。このため、樹脂モールド時においてインナ
ーリードが撓んだ際にリードフレーム及びインナーリー
ドに加わる応力が緩和される。この結果、インナーリー
ドと導体回路との接合部分に加わる応力も小さくなり、
接合部分の剥がれ、接合材のクラック等の発生が防止さ
れる。
【0013】
【実施例】(第一実施例)以下、本発明を具体化した第
一実施例を図1〜図3に従って説明する。なお、従来技
術で説明した部分と同一の構成は同一符号を付してその
説明を省略する。
一実施例を図1〜図3に従って説明する。なお、従来技
術で説明した部分と同一の構成は同一符号を付してその
説明を省略する。
【0014】図1に示すように、電子部品搭載用基板8
の各インナーリード6aには3個の屈曲部Kがそれぞれ
形成されている。この屈曲部Kは絶縁基板1の高さ方向
に屈曲しており、従来のインナーリードよりも全体とし
て長くなっている。なお、屈曲部Kの加工はインナーリ
ード6aと導体回路2と接合の前に、金型によるプレス
加工により行われる。
の各インナーリード6aには3個の屈曲部Kがそれぞれ
形成されている。この屈曲部Kは絶縁基板1の高さ方向
に屈曲しており、従来のインナーリードよりも全体とし
て長くなっている。なお、屈曲部Kの加工はインナーリ
ード6aと導体回路2と接合の前に、金型によるプレス
加工により行われる。
【0015】リードフレームの材質には鉄/ニッケル合
金、銅合金、コバルト合金等が使用される。絶縁基板1
にはポリイミド、エポキシ、ビスマレイミド・トリアジ
ン樹脂等の熱硬化性樹脂とガラスクロス等による積層板
が使用される。ヒートシンク7は銅、アルミ等の熱伝導
の良い金属材料あるいはアルミナ等のセラミックが使用
される。インナーリード6aと導体回路2との接合は、
鉛又はズズ系の半田による接合、あるいはインナーリー
ド6aと導体回路2に金メッキ、スズめっき等を施して
金属間熱圧着を行うことにより接合される。
金、銅合金、コバルト合金等が使用される。絶縁基板1
にはポリイミド、エポキシ、ビスマレイミド・トリアジ
ン樹脂等の熱硬化性樹脂とガラスクロス等による積層板
が使用される。ヒートシンク7は銅、アルミ等の熱伝導
の良い金属材料あるいはアルミナ等のセラミックが使用
される。インナーリード6aと導体回路2との接合は、
鉛又はズズ系の半田による接合、あるいはインナーリー
ド6aと導体回路2に金メッキ、スズめっき等を施して
金属間熱圧着を行うことにより接合される。
【0016】前記電子部品搭載用基板8をモールドする
場合、図2に示すように、電子部品搭載用基板8がトラ
ンスファモールド金型12に収納され、リードフレーム
を構成するリード6の一部がリードフレーム挟持部14
に挟持される。このとき、ヒートシンク7が下型11の
内面11aと当接して基板8は上型10側に変位し、イ
ンナーリード6aは撓んだ状態となる。インナーリード
6aは3個の屈曲部Kが存在することにより屈曲部Kが
ないものより全体が長くなっている。このため、インナ
ーリード6aが撓んだときに、従来の屈曲部Kのないリ
ードに加わる応力よりも小さな応力がインナーリード6
aに加わる。また、インナーリード6aに加わる力は一
部が屈曲部Kの変形に使われる。この結果、インナーリ
ード6aと導体回路2と接合部分に加わる応力が小さく
なり、接合部分の剥がれ、接合材のクラック等の発生を
防止することができる。
場合、図2に示すように、電子部品搭載用基板8がトラ
ンスファモールド金型12に収納され、リードフレーム
を構成するリード6の一部がリードフレーム挟持部14
に挟持される。このとき、ヒートシンク7が下型11の
内面11aと当接して基板8は上型10側に変位し、イ
ンナーリード6aは撓んだ状態となる。インナーリード
6aは3個の屈曲部Kが存在することにより屈曲部Kが
ないものより全体が長くなっている。このため、インナ
ーリード6aが撓んだときに、従来の屈曲部Kのないリ
ードに加わる応力よりも小さな応力がインナーリード6
aに加わる。また、インナーリード6aに加わる力は一
部が屈曲部Kの変形に使われる。この結果、インナーリ
ード6aと導体回路2と接合部分に加わる応力が小さく
なり、接合部分の剥がれ、接合材のクラック等の発生を
防止することができる。
【0017】この状態で樹脂の圧入硬化後、リード6が
所定の位置で切断されて、図3に示す電子部品搭載装置
15が得られる。前記のように、インナーリード6aと
導体回路2との接合部分の剥がれ、接合材のクラック等
の発生が防止された状態で電子部品搭載用基板8のモー
ルドが行われる。このため、モールド時に不良品となる
ことがなく、電子部品搭載装置15としての歩留りが向
上する。
所定の位置で切断されて、図3に示す電子部品搭載装置
15が得られる。前記のように、インナーリード6aと
導体回路2との接合部分の剥がれ、接合材のクラック等
の発生が防止された状態で電子部品搭載用基板8のモー
ルドが行われる。このため、モールド時に不良品となる
ことがなく、電子部品搭載装置15としての歩留りが向
上する。
【0018】また、電子部品搭載装置15の導体回路2
とインナーリード6aとが良好な電気的接続状態とな
り、装置の信頼性が向上するとともに、早期に故障する
おそれが無くなる。
とインナーリード6aとが良好な電気的接続状態とな
り、装置の信頼性が向上するとともに、早期に故障する
おそれが無くなる。
【0019】さらに、インナーリード6aの残留応力が
小さいため、モールド後の残留応力によるインナーリー
ド6aと封止樹脂9との界面の破損が防止される。その
ため、結露時に発生した水分がインナーリード6aと封
止樹脂9との間から浸入することがなくなる。
小さいため、モールド後の残留応力によるインナーリー
ド6aと封止樹脂9との界面の破損が防止される。その
ため、結露時に発生した水分がインナーリード6aと封
止樹脂9との間から浸入することがなくなる。
【0020】(第二実施例)次に第二実施例について説
明する。この実施例ではインナーリード6aが直接導体
回路2と接合されずに、スルーホールを介して電気的に
接続されている点が前記実施例と異なっている。
明する。この実施例ではインナーリード6aが直接導体
回路2と接合されずに、スルーホールを介して電気的に
接続されている点が前記実施例と異なっている。
【0021】図4に示すように、絶縁基板1には導体回
路2及びスルーホール17が形成されており、導体回路
2とインナーリード6aとがスルーホール17を介して
接続されている。
路2及びスルーホール17が形成されており、導体回路
2とインナーリード6aとがスルーホール17を介して
接続されている。
【0022】このように構成された電子部品搭載用基板
8も前記実施例と同様にモールドされる。従って、図5
に示すように、電子部品搭載用基板8がトランスファモ
ールド金型12に収納されると、インナーリード6aは
基板8の変位により撓んだ状態となる。このとき、前記
実施例と同様な理由によりインナーリード6aに加わる
応力は、従来の屈曲部Kのないインナーリードに加わる
応力よりも小さくなる。この結果、インナーリード6a
とスルーホール17との接続信頼性を低下させることが
なくなる。
8も前記実施例と同様にモールドされる。従って、図5
に示すように、電子部品搭載用基板8がトランスファモ
ールド金型12に収納されると、インナーリード6aは
基板8の変位により撓んだ状態となる。このとき、前記
実施例と同様な理由によりインナーリード6aに加わる
応力は、従来の屈曲部Kのないインナーリードに加わる
応力よりも小さくなる。この結果、インナーリード6a
とスルーホール17との接続信頼性を低下させることが
なくなる。
【0023】図6はトランスファモールドにより封止樹
脂された電子部品搭載装置15を示す側断面図である。
この電子部品搭載装置15においてもインナーリード6
aの残留応力が小さいため、残留応力による封止樹脂9
及び絶縁基板1の破損を防止することがでる。そのた
め、従来の装置とは異なり、結露時に発生した水分がリ
ード6と封止樹脂9との間から浸入することもなく、リ
ード6の先端位置が不揃いとなることもない。従って、
電子部品搭載装置15の信頼性が向上する。
脂された電子部品搭載装置15を示す側断面図である。
この電子部品搭載装置15においてもインナーリード6
aの残留応力が小さいため、残留応力による封止樹脂9
及び絶縁基板1の破損を防止することがでる。そのた
め、従来の装置とは異なり、結露時に発生した水分がリ
ード6と封止樹脂9との間から浸入することもなく、リ
ード6の先端位置が不揃いとなることもない。従って、
電子部品搭載装置15の信頼性が向上する。
【0024】尚、本発明は上記実施例のみに限定される
ことはなく、屈曲部Kの個数を3個に限らず、2個ある
いは4個以上としてもよい。また、屈曲部Kの形状を湾
曲状等他の形状としてもよい。
ことはなく、屈曲部Kの個数を3個に限らず、2個ある
いは4個以上としてもよい。また、屈曲部Kの形状を湾
曲状等他の形状としてもよい。
【0025】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
樹脂モールド時にインナーリードと導体回路との接合部
分に作用する応力を低減させて、接合部分の剥がれ、接
合材のクラック等の発生を防止し、電子部品搭載装置の
信頼性の向上および、歩留りの向上を図ることができる
という優れた効果を奏する。
樹脂モールド時にインナーリードと導体回路との接合部
分に作用する応力を低減させて、接合部分の剥がれ、接
合材のクラック等の発生を防止し、電子部品搭載装置の
信頼性の向上および、歩留りの向上を図ることができる
という優れた効果を奏する。
【図1】本発明の第一実施例における電子部品搭載用基
板の側断面図である。
板の側断面図である。
【図2】同じく、トランスファモールド金型に電子部品
搭載用基板を収納した状態を示す側断面図である。
搭載用基板を収納した状態を示す側断面図である。
【図3】同じく、電子部品搭載装置の側断面図である。
【図4】第二実施例における電子部品搭載用基板の側断
面図である。
面図である。
【図5】同じく、トランスファモールド金型に電子部品
搭載用基板を収納した状態を示す側断面図である。
搭載用基板を収納した状態を示す側断面図である。
【図6】同じく、電子部品搭載装置の側断面図である。
【図7】従来例における電子部品搭載装置の側断面図で
ある。
ある。
【図8】同じく、トランスファモールド金型に電子部品
搭載用基板を収納した状態を示す側断面図である。
搭載用基板を収納した状態を示す側断面図である。
1…絶縁基板、2…導体回路、3…電子部品搭載部、4
…電子部品としてのICチップ、6…リード、6a…イ
ンナーリード、7…金属放熱板としてのヒートシンク、
8…電子部品搭載用基板、9…樹脂、12…トランスフ
ァモールド金型、14…リードフレーム挟持部、K…屈
曲部
…電子部品としてのICチップ、6…リード、6a…イ
ンナーリード、7…金属放熱板としてのヒートシンク、
8…電子部品搭載用基板、9…樹脂、12…トランスフ
ァモールド金型、14…リードフレーム挟持部、K…屈
曲部
Claims (1)
- 【請求項1】 導体回路を有する絶縁基板に電子部品搭
載部が形成され、該電子部品搭載部の底部に金属放熱板
が配設され、前記導体回路の一部とリードフレームに連
続するインナーリードとが接続され、かつ電子部品搭載
部に電子部品が搭載された後、金属放熱板の電子部品を
搭載する面と反対側表面が露出する状態で略全体がトラ
ンスファモールドにより樹脂封止される電子部品搭載用
基板において、 前記リードフレームの表面から前記金属放熱板の表面ま
での高さを、トランスファモールド金型の金属放熱板と
対向する面からリードフレーム挟持部までの高さより大
きくし、前記インナーリードに前記絶縁基板の高さ方向
へ屈曲する屈曲部を設けたことを特徴とする電子部品搭
載用基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23492892A JPH0685115A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 電子部品搭載用基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23492892A JPH0685115A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 電子部品搭載用基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0685115A true JPH0685115A (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=16978480
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23492892A Pending JPH0685115A (ja) | 1992-09-02 | 1992-09-02 | 電子部品搭載用基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0685115A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6392309B1 (en) * | 1995-08-25 | 2002-05-21 | Sony Corporation | Semiconductor device including solid state imaging device |
JP2015026791A (ja) * | 2013-07-29 | 2015-02-05 | 新電元工業株式会社 | 半導体装置及びリードフレーム |
-
1992
- 1992-09-02 JP JP23492892A patent/JPH0685115A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6392309B1 (en) * | 1995-08-25 | 2002-05-21 | Sony Corporation | Semiconductor device including solid state imaging device |
JP2015026791A (ja) * | 2013-07-29 | 2015-02-05 | 新電元工業株式会社 | 半導体装置及びリードフレーム |
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