JPH0684291A

JPH0684291A - 誤り測定装置

Info

Publication number: JPH0684291A
Application number: JP23360392A
Authority: JP
Inventors: Ichiro Konno; 伊知朗紺野; Satoshi Murakami; 聡村上; Hiromoto Katayama; 浩誠片山
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1992-09-01
Filing date: 1992-09-01
Publication date: 1994-03-25

Abstract

(57)【要約】【構成】テスト信号Ｒ₁はコンピュータ１９から記録
再生系に出力され、再生信号Ｐ₁となってインターフェ
イス２０に入力される。ＩＤデコーダ２０ｃは、再生信
号Ｐ₁をバッファメモリ２０ａ・２０ｂに格納するため
に、ブロック毎のアドレスを指定する。テスト信号Ｒ₁
と再生信号Ｐ₁は、コンピュータ１９または比較回路２
３でビット毎に比較される。比較回路２３は再生信号Ｐ
₁に誤りがあれば誤りフラグを出力する。誤りフラグが
立っている間、連続誤りカウント回路２４は誤りを含む
ワードの連続数を計数する。誤りカウント回路２６は、
単位時間内の誤り発生数を計数する。【効果】トラック内の誤り発生分布、誤りを発生させ
る信号パターン、連続誤りの頻度分布等、誤りの原因を
把握するための詳細な情報を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ディジタルＶＴＲ（Vi
deo Tape Recorder)の性能を評価する誤り測定装置に関
し、特に、一定期間の再生信号をメモリに格納し、再生
信号中の誤りの詳細を分析できる機能と、連続的に発生
した誤りの連続数の頻度分布を把握できる機能とを合わ
せて有する誤り測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、一般的な通信における誤り測定装
置は、擬似ランダム信号を用いて伝送路の誤り率を測定
している。具体的には、次のようなプロセスによってい
る。

【０００３】(1) 擬似ランダム信号を変調器を通して伝
送路に送出する。

【０００４】(2) 擬似ランダム信号を受信して復調し、
復調データを生成する。

【０００５】(3) 復調データ系列のパターンから同期情
報を検出することによって、(1) と同一の擬似ランダム
信号を生成する。

【０００６】(4) (3) で生成された擬似ランダム信号と
(2) の復調データとを比較することにより、誤りを検出
して、その数をカウントする。

【０００７】(5) 比較が行われた全データ数に対する
(4) のカウント値の比率を求めることにより、誤り率を
測定する。

【０００８】また、ＴＶ学技報 Vol.14, No.23 (1990.
5) PP45〜50 VIR90-35 に記載されたＶＴＲのための誤
り測定方法は、以下のようなプロセスによっている。

【０００９】(1) 記録フォーマットに準じた数フィール
ド分の比較データをコンピュータで作成する。

【００１０】(2) 比較データを変調部を通さずにコンピ
ュータで変調してＶＴＲの記録ＲＦ系回路に入力して記
録する。

【００１１】(3) 記録された比較データを再生して再生
ＲＦ系回路からの出力データをコンピュータに取込む。

【００１２】(4) コンピュータで同期検出、同期保護、
ＩＤ検出、ＩＤ保護等を行い、出力データを復調して再
生データを作成する。

【００１３】(5) この再生データと、元の比較データと
を比べることにより誤り率を測定する。

【００１４】ディジタルＶＴＲにおいて誤りを測定する
場合、伝送路は磁気テープを含めた記録再生系となる。
誤りが生ずる要因としては、記録再生系の信号対雑音比
（Ｓ／Ｎ）の他、磁気テープとヘッドとの当たり、信号
系列の特定パターン、ジッタ（再生信号の時間軸変動）
の影響、テープ上の傷や埃等様々な要因がある。

【００１５】第１の要因として磁気テープとヘッドとの
当たりを考えた場合、ヘッドの入口付近と出口付近と
で、テープ−ヘッド間の隙間に差異があると、誤り率に
も差異が生ずることがある。

【００１６】第２の要因として信号系列の特定パターン
を考えた場合、記録した信号系列中のある特定パターン
が、波形間干渉等の影響により再生イコライザによる波
形等化に悪影響を及ぼし、誤りを生じさせることがあ
る。

【００１７】第３の要因としてジッタの影響を考えた場
合、再生信号から再生クロックを抽出するＰＬＬ( Phas
e Locked Loop ) 回路がジッタに追従できず、ビット単
位でデータがずれてしまう現象（ビットスリップ）によ
り、バースト誤りが生ずることがある。

【００１８】第４の要因としてテープ上の傷や埃を考え
た場合、これら傷や埃によってバースト誤りが生ずるこ
ともある。

【００１９】このように、誤りが発生する要因には複数
の種類があるので、誤りの詳細（例えば、トラック上の
発生位置、発生頻度、頻度分布等）を分析することがで
きれば、要因を推測して誤りを発生させる原因を確かめ
ることが容易となる。例えば、第１の要因で誤りが発生
しているとわかれば、メカニズムを確かめる必要がある
ということを把握でき、第２の要因で誤りが発生してい
るとわかれば、再生イコライザを確かめる必要があると
いうことを把握できる。

【００２０】

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の通信
における誤り測定装置では、単に誤り率が測定されるだ
けなので、誤りを発生させる原因を把握することは容易
ではないという問題点がある。

【００２１】また、上記ＴＶ学技報に記載されているよ
うに、比較データと再生データとを比較する場合、再生
時にドロップアウトが発生したため再生されずに欠落し
たブロックがあるとすれば、コンピュータに転送された
再生データと比較データとが同一ブロック同士で逐一比
較されるようにするための制御が必要となるという技術
的課題が有る。

【００２２】また、ディジタルＶＴＲには再生データの
誤りを訂正する回路（ＥＣＣエンコーダ、ＥＣＣデコー
ダ）が備わっている。この回路の誤り訂正能力を決める
には、誤り率だけではなく連続的な誤りの発生頻度分布
をも把握しなくてはならない。ところが、従来の誤り測
定装置では、連続的な誤りの発生頻度分布を把握するこ
とはできないので、上記回路の誤り訂正能力を決めるこ
とができないという問題点もある。

【００２３】さらに、上記ＴＶ学技報に記されているＶ
ＴＲ用誤り測定装置は、コンピュータに変調、同期検
出、復調等の全てを行わせるため、コンピュータの負荷
が大きくなるので、高速コンピュータを必要とする。と
ころが、再生信号を全てコンピュータに取り込んで処理
するため、使用するメモリの制約から長時間の誤り率の
測定には適していないという問題点や、例えばディジタ
ルＶＴＲの製造ラインにおける品質管理に、高速コンピ
ュータを用いたシステムを配置することはコスト面で不
利になるという問題点が有る。

【００２４】本発明の目的は、ディジタルＶＴＲで発生
する誤りを詳細に解析することができ、しかも、コンピ
ュータの負荷を大幅に削減することができる誤り測定装
置を提供することにある。

【００２５】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係る誤
り測定装置は、上記の課題を解決するために、(1) テス
ト信号を予め記憶している第１記憶手段（例えば、コン
ピュータ）と、(2) 上記テスト信号のブロック毎に、ブ
ロックを識別するＩＤ情報を付加する信号処理を含む所
定の信号処理を施して記録媒体（例えば、磁気テープ）
に記録する記録手段（例えば、ＥＣＣエンコーダ、変調
部、記録イコライザ、記録ヘッド）と、(3) 上記所定の
信号処理とは逆の信号処理によって、上記記録媒体から
再生信号および上記ＩＤ情報を得る再生手段（例えば、
再生ヘッド、再生イコライザ、復調部、ＥＣＣデコー
ダ）と、(4) 上記再生信号を一時的に格納する第２記憶
手段（例えば、バッファメモリ）と、(5) 上記ＩＤ情報
に基づいて、上記第２記憶手段に上記再生信号をブロッ
ク毎に格納するためのアドレスを指定するアドレス指定
手段（例えば、ＩＤデコーダ）と、(6) 上記テスト信号
および再生信号をそれぞれ上記第１記憶手段および第２
記憶手段から呼出し、上記テスト信号と再生信号とをビ
ット単位で比較し、一定期間内におけるビット単位の誤
りを検出する誤り検出手段（例えば、コンピュータ）と
を備えていることを特徴としている。

【００２６】請求項２の発明に係る誤り測定装置は、上
記の課題を解決するために、(1) テスト信号を予め記憶
している記憶手段（例えば、コンピュータ）と、(2) 上
記テスト信号に所定の信号処理を施して記録媒体に記録
する記録手段（例えば、ＥＣＣエンコーダ、変調部、記
録イコライザ、記録ヘッド）と、(3) 上記所定の信号処
理とは逆の信号処理によって、上記記録媒体から再生信
号を得る再生手段（例えば、再生ヘッド、再生イコライ
ザ、復調部、ＥＣＣデコーダ）と、(4) 上記テスト信号
と再生信号とを逐次比較し、上記再生信号に誤りがある
ときに、誤り検出信号を出力する比較手段（例えば、比
較回路）と、(5) 上記誤り検出信号に基づいて、上記再
生信号における誤りを含むワードの連続数を計数する連
続数計数手段（例えば、連続誤りカウント回路）と、
(6) 上記連続数計数手段による計数値を逐次格納する連
続数記憶手段（例えば、ＲＡＭを含む連続誤り情報メモ
リ）と、(7) 上記連続数の発生回数を、上記連続数毎に
求めることにより、連続誤りの頻度分布を検出する誤り
検出手段（例えば、コンピュータ）とを備えていること
を特徴としている。

【００２７】請求項３の発明に係る誤り測定装置は、上
記の課題を解決するために、(1) テスト信号を予め記憶
している記憶手段と、(2) 上記テスト信号に所定の信号
処理を施して記録媒体に記録する記録手段と、(3) 上記
所定の信号処理とは逆の信号処理によって、上記記録媒
体から再生信号を得る再生手段と、(4) 上記テスト信号
と再生信号とを逐次比較し、上記再生信号に誤りがある
ときに、誤り検出信号を出力する比較手段と、(5) 上記
誤り検出信号に基づいて、上記再生信号の誤りが、単位
時間当たり何回発生したかを計数する誤り発生数計数手
段（例えば、誤りカウント回路）と、(6) 上記誤り発生
数計数手段による計数値を単位時間毎に逐次格納する誤
り情報記憶手段（例えば、ＲＡＭを含む誤り情報メモ
リ）と、(7) 上記計数値を単位時間当たりの再生信号に
含まれる全データ数で除算することにより、単位時間当
たりの誤り率を検出する誤り検出手段（例えば、コンピ
ュータ）とを備えていることを特徴としている。

【００２８】

【作用】請求項１の構成により、上記テスト信号とテス
ト信号が記録再生されて得られる再生信号とは、誤り検
出手段によって一定期間ビット単位で比較され、誤りが
検出されるので、再生信号に含まれる誤りを詳細に解析
することができる。例えば、一定期間を１トラックに相
当する期間に設定すれば、トラック上の誤り発生位置
や、誤りの分布状態を知ることができる。また、テスト
信号から実際に記録媒体に記録される記録信号パターン
を得れば、再生信号の誤りは、どのような記録信号パタ
ーンに対応して発生しているかを知ることもできる。

【００２９】また、テスト信号は、記録手段によってブ
ロック毎にＩＤ情報が付加されると共に、再生信号を第
２記憶手段に一時的に格納する際には、再生信号をブロ
ック毎に格納するためのアドレスが、アドレス指定手段
によって上記ＩＤ情報に基づいて指定される。この結
果、誤り検出手段が再生信号を第２記憶手段から読み出
してテスト信号と比較する場合、再生信号のブロックと
テスト信号の比較すべきブロックとを正確に対応させる
ことができる。すなわち、再生時にドロップアウト等が
発生して部分的にブロックが再生されず欠落したとして
も、テスト信号と再生信号の異なるブロック同士が比較
されるという問題が生じない。

【００３０】次に、請求項２の構成により、比較手段
は、テスト信号と再生信号とが不一致な場合に、誤り検
出信号を出力するので、連続数計数手段は、例えば誤り
検出信号がハイレベルになっている間のワード数をカウ
ントする。そこで、誤り検出手段が、再生信号における
誤りを含むワードの連続数の発生回数を、連続数毎に求
めれば、ランダム誤りとバースト誤りの発生割合を知る
ことができる。この発生割合から、記録媒体や、記録手
段、再生手段の性能を評価したり、あるいは誤り訂正能
力を評価したりすることができる。

【００３１】また、請求項３の構成により、誤り発生数
計数手段によって、単位時間当たりの誤り発生回数が計
数され、誤り検出手段によって、単位時間当たりの誤り
率が求められるので、単位時間当たりの誤り率の検出を
繰り返すことにより、長時間の誤り率の変化を知ること
ができる。この誤り率の変化から、記録媒体、記録手
段、再生手段等の時間安定性を評価することができる。

【００３２】このように、本発明に係る誤り測定装置
は、簡単な構成で誤りを詳細に解析することができ、誤
りを発生させる原因を追求することができるので、例え
ば、ディジタルＶＴＲの製造ラインにおける品質管理に
好適である。

【００３３】なお、誤り測定装置に、請求項１〜３の全
ての構成を含ませることもできるし、請求項１〜３を任
意に組み合わせて構成することもできる。また、上記の
テスト信号は、誤り測定装置に予め格納されていてもよ
いし、誤り測定装置内で生成されるようにしてもよい。

【００３４】

【実施例】本発明の一実施例について図１ないし図１３
に基づいて説明すれば、以下のとおりである。

【００３５】図２に、ディジタルＶＴＲの記録再生系に
誤り測定装置を配置した誤り測定システムの構成を概念
的に示す。

【００３６】本実施例のディジタルＶＴＲの記録系は、
アナログの映像信号１を入力してディジタル映像信号に
変換するＡ／Ｄ変換部２、データレートが圧縮された映
像データを生成する画像圧縮符号化部３、映像データの
各ブロックの先頭に同期符号およびＩＤを付加し、各ブ
ロックの末尾に誤り訂正符号を付加することによってシ
ンクブロック単位のデータを生成するＥＣＣ( Error-Co
rrecting Code ) エンコーダ４、変調部５、記録イコラ
イザ６、アンプ７、および磁気テープ９に摺接する記録
ヘッド８を備えている。

【００３７】また、再生系は、再生ヘッド１０、アンプ
１１、再生等化を行う再生イコライザ１２、同期符号・
ＩＤの検出、および復調を行う復調部１３、誤り訂正を
行うＥＣＣデコーダ１４、画像伸長復号部１５、および
Ｄ／Ａ変換部１６を備えている。

【００３８】本発明に係る誤り測定装置１８の出力は、
ＥＣＣエンコーダ４および変調部５に切り換えて接続さ
れるようになっており、誤り測定装置１８の入力もま
た、復調部１３およびＥＣＣデコーダ１４の出力に切り
換えて接続されるようになっている。ここで、誤り測定
装置１８に入出力される各信号Ｒ₁、Ｒ₂、Ｐ₁、Ｐ₂
は以下のとおりである。

【００３９】Ｒ₁：ＥＣＣエンコーダ４に供給するテスト信号Ｒ₂：変調部５に供給するテスト信号Ｐ₁：ＥＣＣデコーダ１４から供給される再生信号Ｐ₂：復調部１３から供給される再生信号誤り測定装置１８は、テスト信号Ｒ₁またはＲ₂を磁気
テープ９に記録し、再生信号Ｐ₁またはＰ₂を得ること
によって、再生信号Ｐ₁またはＰ₂の誤りを測定する装
置である。ただし、テスト信号Ｒ₁またはＲ₂は１フレ
ームで完結しており、１フレームのテスト信号Ｒ₁また
はＲ₂が繰り返して記録再生される。

【００４０】また、図２の構成から明らかなように、テ
スト信号Ｒ₁を記録した場合、再生信号Ｐ₁に誤りが無
ければ、テスト信号Ｒ₁と再生信号Ｐ₁とは同一にな
る。テスト信号Ｒ₂と再生信号Ｐ₂との関係も同様であ
る。

【００４１】なお、誤り測定装置１８は、テスト信号Ｒ
₁・Ｒ₂の作成、テスト信号Ｒ₁・Ｒ₂と再生信号Ｐ₁
・Ｐ₂との比較、再生信号Ｐ₁・Ｐ₂の誤りの解析等を
行うコンピュータ１９と接続されている。

【００４２】次に、誤り測定装置１８の構成を詳細に説
明する。図１に示すように、誤り測定装置１８は、上記
再生信号Ｐ₁またはＰ₂を入力するためのインターフェ
イス２０を備えている。インターフェイス２０は、再生
信号Ｐ₁またはＰ₂をフレーム毎に交互に読み書きする
バッファメモリ２０ａ・２０ｂ、ＩＤデコーダ２０ｃ、
バッファメモリ２０ａ・２０ｂへの入力を交互に切り換
えるスイッチ３０、およびバッファメモリ２０ａ・２０
ｂの出力を交互に切り換えるスイッチ３１を備えてい
る。上記ＩＤデコーダ２０ｃは、後で詳述するように、
復調部１３との接続時に再生信号Ｐ₂を受け取り、各シ
ンクブロックの前部に付加されているＩＤをバッファメ
モリ２０ａ・２０ｂの書込み開始アドレスに変換する回
路である。

【００４３】スイッチ３１の出力は、切換端子３２ａお
よびスイッチ３２を介して比較メモリ２１に接続される
と共に、他の切換端子３２ｂおよびスイッチ３２を介し
て信号源メモリ２２にも接続されるようになっている。
上記比較メモリ２１は、１フレームの比較信号を格納す
るメモリであり、上記信号源メモリ２２は、ＥＣＣエン
コーダ４または変調部５に供給する１フレームのテスト
信号Ｒ₁またはＲ₂を格納するメモリである。上記信号
源メモリ２２の出力は出力インターフェイス２８を介し
て、ＥＣＣエンコーダ４または変調部５の各入力に接続
されている。

【００４４】さらに、上記スイッチ３１の出力は、比較
回路２３の入力に接続されると共に、上記比較メモリ２
１の出力は、スイッチ３３および切換端子３３ａを介し
て比較回路２３の他の入力に接続されるようになってい
る。上記比較回路２３は、インターフェイス２０を介し
て入力される再生信号Ｐ₁またはＰ₂と、比較メモリ２
１から入力される比較信号とを比較し、再生信号Ｐ₁ま
たはＰ₂に誤りがあったかどうかを検出する回路であ
る。

【００４５】比較回路２３の出力は、連続誤りカウント
回路２４の入力および誤りカウント回路２６の入力にそ
れぞれ接続されている。上記連続誤りカウント回路２４
は、比較回路２３で検出された連続的な誤りの連続数を
カウントする回路である。一方、上記誤りカウント回路
２６は、比較回路２３で検出された誤りの数を単位時間
毎に区切ってカウントする回路である。

【００４６】連続誤りカウント回路２４の出力は連続誤
り情報メモリ２５に接続され、連続誤りカウント回路２
４のカウント値が連続誤り情報メモリ２５に一時格納さ
れる。一方、誤りカウント回路２６の出力は誤り情報メ
モリ２７に接続され、誤り情報メモリ２７は、誤りカウ
ント回路２６から単位時間毎のカウント値を受け取り、
一時格納する。

【００４７】上記比較メモリ２１の出力は、上記スイッ
チ３３および他の切換端子３３ｂを介してコンピュータ
インターフェイス２９に接続されている。コンピュータ
インターフェイス２９は、メモリとコンピュータとの間
でデータの受渡しを行うためのインターフェイスであっ
て、連続誤り情報メモリ２５および誤り情報メモリ２７
の各出力もまた、コンピュータインターフェイス２９に
接続されている。このコンピュータインターフェイス２
９はバスを介して前述のコンピュータ１９に接続されて
いる。

【００４８】また、インターフェイス２０、比較メモリ
２１、および信号源メモリ２２には、コントロール部３
４がバスを介して接続されている。コントロール部３４
は、再生信号Ｐ₁またはＰ₂のタイミング情報やフレー
ムパルス等に基づいて、バッファメモリ２０ａ・２０
ｂ、比較メモリ２１、および信号源メモリ２２の書込み
／読出しのタイミング制御を行う。

【００４９】次に、上記比較回路２３の構成例を図４に
示す。比較回路２３は、一方の各入力がパラレルにイン
ターフェイス２０に接続されると共に、他方の各入力が
スイッチ３３を介して比較メモリ２１にパラレルに接続
される８つの排他的ＯＲゲート２３ａを備えている。各
排他的ＯＲゲート２３ａの出力は、ＯＲゲート２３ｂに
パラレルに入力される。

【００５０】ＯＲゲート２３ｂの出力は、アンドゲート
２３ｃの一方の入力に接続されると共に、上記連続誤り
カウント回路２４および誤りカウント回路２６に接続さ
れている。また、アンドゲート２３ｃの他方の入力に
は、反転回路２３ｄの出力が接続され、反転回路２３ｄ
の入力は、インターフェイス２０に接続されている。反
転回路２３ｄは、インターフェイス２０がＥＣＣデコー
ダ１４に接続されたときに、ＥＣＣデコーダ１４が出力
する後述の訂正不能フラグＦ₁を受け取るようになって
いる。

【００５１】上記のような構成によって、比較回路２３
は、インターフェイス２０からパラレルに転送される再
生信号の８ビット中に１ビットでも誤りがあれば、後述
する誤りフラグＳ₂またはＳ₁₄を立てることができる。
本実施例では、８ビットを１ワードとみなしているが、
１ワードを何ビットに設定しても構わない。

【００５２】続いて、上記連続誤りカウント回路２４お
よび連続誤り情報メモリ２５の構成例を図５に示す。連
続誤りカウント回路２４は、Ｄフリップフロップ５０、
負論理アンドゲート５１、連続値カウンタ３５、ラッチ
３６、遅延素子３９、および反転回路５２を備えてい
る。また、連続誤り情報メモリ２５は、ＲＡＭ３７およ
びＲＡＭアドレスカウンタ３８を備えている。

【００５３】上記比較回路２３のＯＲゲート２３ｂが出
力する誤りフラグＳ₂は、Ｄフリップフロップ５０のデ
ータ端子、連続値カウンタ３５のＣＥ( Count Enable
)、負論理アンドゲート５１の一方の入力、および遅延
素子３９に入力される。クロック信号Ｓ₁は、Ｄフリッ
プフロップ５０および連続値カウンタ３５の各クロック
入力に供給される。これにより、連続値カウンタ３５
は、ＣＥがＨｉｇｈの間、つまり、誤りフラグＳ₂が立
っている間、クロック信号Ｓ₁のパルス数を誤りの連続
数としてカウントする。

【００５４】Ｄフリップフロップ５０の反転出力は、負
論理アンドゲート５１の他方の入力に接続されている。
負論理アンドゲート５１の出力は、連続値カウンタ３５
のＳＲ( Synchronous Reset ) およびＲＡＭ３７のＷＥ
( Write Enable )に入力されると共に、ＲＡＭアドレス
カウンタ３８のクロック入力に接続されている。遅延素
子３９の出力は、反転回路５２を介してラッチ３６のク
ロック入力に接続されている。また、連続値カウンタ３
５とラッチ３６とは互いに接続され、ラッチ３６とＲＡ
Ｍ３７、ＲＡＭ３７とＲＡＭアドレスカウンタ３８もそ
れぞれ互いに接続されている。

【００５５】これにより、ＲＡＭアドレスカウンタ３８
は、負論理アンドゲート５１の出力を入力したときに、
連続値カウンタ３５のカウント値を格納すべきＲＡＭ３
７のアドレスを更新する。

【００５６】さらに、誤りカウント回路２６および誤り
情報メモリ２７の構成例を図７に示す。誤りカウント回
路２６は、単位時間カウンタ４０、測定時間カウンタ４
１、Ｄフリップフロップ５３、ＮＡＮＤゲート５４、遅
延素子４６、誤りカウンタ４２、およびラッチ４３を備
えている。また、誤り情報メモリ２７は、ＲＡＭ４４お
よびＲＡＭアドレスカウンタ４５を備えている。

【００５７】単位時間カウンタ４０は、フレームパルス
Ｓ₁₁をカウントし、１フレーム毎にカウントアップされ
る。単位時間カウンタ４０の出力は、測定時間カウンタ
４１、Ｄフリップフロップ５３のデータ端子、ＮＡＮＤ
ゲート５４の一方の入力、および遅延素子４６の入力に
接続され、単位時間カウンタ４０は、例えば、４フレー
ム毎に単位時間パルスＳ₁₂を出力する。

【００５８】比較回路２３のＯＲゲート２３ｂが出力す
る上記の誤りフラグＳ₁₄は、誤りカウンタ４２のＣＥに
入力され、クロック信号Ｓ₁₃は、Ｄフリップフロップ５
３および誤りカウンタ４２のクロック入力に入力され
る。これによって、連続値カウンタ３５は、後で詳述す
るように、単位時間パルスＳ₁₂の１周期の間、すなわ
ち、単位時間カウンタ４０によって指定される単位時間
の間に誤りフラグＳ₁₄が立ったとき、クロック信号Ｓ₁₃
の入力数を単位時間毎の誤りの数としてカウントする。

【００５９】測定時間カウンタ４１は、単位時間パルス
Ｓ₁₂のパルス数をカウントして、カウント値がある値に
到達したら、単位時間毎の誤りの数の測定を終了させる
カウンタである。

【００６０】また、Ｄフリップフロップ５３の反転出力
は、ＮＡＮＤゲート５４の他方の入力に接続されてい
る。ＮＡＮＤゲート５４の出力は、誤りカウンタ４２の
ＳＲおよびＲＡＭ４４のＷＥに入力されると共に、ＲＡ
Ｍアドレスカウンタ４５のクロック入力に接続されてい
る。遅延素子４６の出力は、ラッチ４３のクロック入力
に接続されている。誤りカウンタ４２とラッチ４３、ラ
ッチ４３とＲＡＭ４４、およびＲＡＭ４４とＲＡＭアド
レスカウンタ４５とは、それぞれ互いに接続されてい
る。

【００６１】これにより、ＲＡＭアドレスカウンタ４５
は、ＮＡＮＤゲート５４の出力が入力されたとき、誤り
カウンタ４２のカウント値を格納すべきＲＡＭ４４のア
ドレスを単位時間毎に更新する。

【００６２】上記の構成において、インターフェイス２
０がＥＣＣデコーダ１４に接続された場合、コントロー
ル部３４に入力される図３（ｂ）に示すような１フレー
ム分Ｌｏｗとなるゲート信号Ｇ₁と、図３（ｃ）に示す
クロック信号Ｃ₁とに基づいて、図３（ａ）に示すよう
に、１フレーム分の再生信号Ｐ₁が、連続的にＥＣＣデ
コーダ１４からインターフェイス２０に送られる。図３
（ａ）のＤ_nは１ワードを示しており、例えば８ビット
のデータから成っている。すなわち、再生信号Ｐ₁また
はＰ₂は、８ビットパラレルの状態でインターフェイス
２０に入力される。

【００６３】また、ＥＣＣデコーダ１４は、図３（ａ）
に×印で示すような訂正能力を超えたバースト誤りを検
出したときに、誤っているデータ長（ワード数）に相当
する訂正不能フラグＦ₁を出力する。

【００６４】一方、インターフェイス２０が復調部１３
に接続された場合、図３（ｆ）に示すように、所定の周
期で１ブロック長に相当する期間Ｌｏｗとなるゲート信
号Ｇ₂と、図３（ｇ）に示すクロック信号Ｃ₂とに基づ
いて、図３（ｅ）に示すように、ブロック毎に分割さ
れ、各ブロックの先頭に同期符号およびＩＤが付加され
た再生信号Ｐ₂が、復調部１３からインターフェイス２
０に送られる。

【００６５】インターフェイス２０と復調部１３との接
続中で、再生時にドロップアウト等が発生して部分的に
ブロックが再生されなかった場合、誤り測定装置１８に
入力される再生信号Ｐ₂に欠落を生じることがある。例
えば、図３（ｅ）において第１ブロックが復調部１３か
ら出力されなかったとすると、誤り測定装置１８に入力
される再生信号Ｐ₂は、第２ブロックが先頭になってし
まう。この場合、コンピュータ１９または比較回路２３
では、本来第１ブロックの再生信号Ｐ₂と比較されるべ
き信号が、第２ブロックの再生信号Ｐ₂と比較されてし
まうため、再生信号Ｐ₂の誤りを正確に測定することが
できなくなる。

【００６６】このような支障が生じないようにするた
め、インターフェイス２０は、フレーム交替で書込み
と、読出し・消去とを繰り返す２つのバッファメモリ２
０ａ・２０ｂと、バッファメモリ２０ａ・２０ｂの書込
み開始アドレスを指定するＩＤデコーダ２０ｃとを備え
ている。すなわち、ＩＤデコーダ２０ｃは、ブロック単
位の再生信号Ｐ₂に付加されている各ＩＤを上記書込み
開始アドレスに変換し、再生信号Ｐ₂をブロック毎に、
例えばバッファメモリ２０ａの所定アドレスに一時的に
格納していく。そして、バッファメモリ２０ａに格納さ
れた１フレームの再生信号Ｐ₂が全て比較回路２３また
は比較メモリ２１に読み出されたときに、バッファメモ
リ２０ａの全アドレスに“Ｈ”を書き込む消去動作を行
えば、次にデータの欠落があってバッファメモリ２０ａ
に書き込まれなかったブロックがあったとしても、その
ブロックに関しては、読み出しの際、“Ｈ”が出力され
るので、比較されるべき信号とのずれを無くすことがで
きる。

【００６７】なお、インターフェイス２０とＥＣＣデコ
ーダ１４との接続時には、ＩＤデコーダ２０ｃは使用さ
れず、再生信号Ｐ₁は、バッファメモリ２０ａ・２０ｂ
に０番地から順にフレーム交替で書き込まれる。

【００６８】ところで、本発明に係る誤り測定装置１８
は、以下に記す３つの機能を有している。

【００６９】テスト信号Ｒ₁またはＲ₂をディジタル
ＶＴＲに記録再生させ、得られる再生信号Ｐ₁またはＰ
₂をコンピュータ１９でテスト信号Ｒ₁またはＲ₂と比
較することによって、トラック上の誤り発生位置や誤り
の分布状態等を測定する第１の機能。

【００７０】再生信号Ｐ₁またはＰ₂と比較信号とを
ワード単位で逐次比較することにより、誤りを含むワー
ドの連続数を測定する第２の機能。

【００７１】単位時間内に発生した誤りを含むワード
の総数を求め、単位時間当たりの誤り率を繰り返し測定
する第３の機能。

【００７２】以下、上記３つの機能について順番に説明
する。

【００７３】初めに、誤り測定装置１８の第一の機能と
して、再生信号の誤りの詳細を一定期間測定する方法に
ついて、図１の構成に基づいて説明する。本実施例で
は、映像信号１の１フレームを一定期間とする。

【００７４】まず、スイッチ３２を切換端子３２ｂに接
続し、コンピュータ１９で作成した、あるいは予め格納
されたテスト信号Ｒ₁またはＲ₂を信号源メモリ２２に
転送する。次に、出力インターフェイス２８をＥＣＣエ
ンコーダ４または変調部５に接続し、磁気テープ９にテ
スト信号Ｒ₁またはＲ₂を記録する。テスト信号Ｒ₁ま
たはＲ₂は、前述したように、１フレームで完結してお
り、１フレームのテスト信号Ｒ₁またはＲ₂が繰り返し
て記録される。

【００７５】次に、インターフェイス２０を復調部１３
またはＥＣＣデコーダ１４に接続すると共に、スイッチ
３２を切換端子３２ａに接続した状態で、テスト信号Ｒ
₁またはＲ₂を再生し、１フレームの再生信号Ｐ₁また
はＰ₂を比較メモリ２１に格納する。この１フレームの
再生信号Ｐ₁またはＰ₂は、スイッチ３３を切換端子３
３ｂに接続した状態で、比較メモリ２１からコンピュー
タ１９へ読み出される。こうして、１フレームの再生信
号Ｐ₁またはＰ₂は、コンピュータ１９によってテスト
信号Ｒ₁またはＲ₂と詳細に比較される。

【００７６】例えば、各トラックに同じデータを記録し
て、コンピュータ１９によりトラック上の誤りの状態を
解析して得られた誤りの分布を図９に示す。図９におい
て、縦軸はトラック上のシンクブロックの番号を示して
おり、横軸はトラック番号を示している。１トラック
は、図１０（ａ）に矢印で示すヘッド走査方向に対し
て、ヘッドの入口側と出口側とにプリアンブルおよびポ
ストアンブルがそれぞれ配され、プリアンブルとポスト
アンブルとの間には、複数のシンクブロックで構成され
る主データが記録されている。図９の分布図は、図１０
（ｂ）に示すように、１シンクブロック内で検出された
誤りを横軸方向に黒点または黒線でプロットしているの
で、図９における各トラックの横幅は、１シンクブロッ
ク長に対応している。

【００７７】このような解析を行うことにより、トラッ
ク上の誤りの詳細な情報を得ることができる。図９の例
では、各トラックに同じデータを記録したことと、誤り
が周期的に発生し易いパターンが含まれていたこととに
よって、各トラックともほぼ同じ場所に誤りが集中して
いることがわかる。

【００７８】なお、前記したように、誤りが無いという
ことは、再生信号Ｐ₁またはＰ₂とテスト信号Ｒ₁また
はＲ₂とが同一になっているということである。

【００７９】また、上記の例では、テスト信号Ｒ₁また
はＲ₂はコンピュータ１９によって作成されたが、ＥＣ
Ｃエンコーダ４の出力とＥＣＣデコーダ１４の入力とを
直結するか、あるいは、変調部５の出力と復調部１３の
入力とを直結したＥ−Ｅ系を構成し、入力された映像信
号１のＥＣＣデコーダ１４または復調部１３が出力する
第１の再生信号Ｐ₁またはＰ₂を、上記の測定と同様の
操作で１フレーム毎に比較メモリ２１と信号源メモリ２
２とに格納し、この第１の再生信号Ｐ₁またはＰ₂を誤
りの無いテスト信号として用いてもよい。

【００８０】例えば、第１の再生信号Ｐ₁がＥＣＣエン
コーダ４、変調部５、復調部１３、およびＥＣＣデコー
ダ１４を通って得られる第２の再生信号Ｐ₁を、第１の
再生信号Ｐ₁と比較することによって、上記と同様に誤
りを測定できる。この場合、第１の再生信号Ｐ₁は、上
記テスト信号Ｒ₁の代わりに信号源メモリ２２から出力
インターフェイス２８を介してＥＣＣエンコーダ４に供
給されると共に、コンピュータ１９が第１の再生信号Ｐ
₁を第２の再生信号Ｐ₁と比較するために、第１の再生
信号Ｐ₁が比較メモリ２１から予めコンピュータ１９に
転送される。

【００８１】また、上記第１の機能を使用して、図１１
に示すように、１つのシンクブロック内における再生信
号を、テスト信号とビット単位で比較し、誤りの状態を
ビット単位で検出することもできる。図１１では、テス
ト信号、再生信号、誤りフラグの３つのディジタル波形
が、横太線によって１０段に分割され、さらに、縦点線
によって８ビット単位に分割されてプロットされてい
る。最上段の左端から同期符号、ＩＤ、主データと続い
て、最下段の右端までの一連の信号が１つのシンクブロ
ックの信号を示している。この例のシンクブロックは、
１〜９段目のそれぞれにプロットされた１０バイトのデ
ータと、１０段目にプロットされた８バイトのデータと
を合わせて、９８バイトのデータによって構成されてい
る。

【００８２】なお、誤りフラグは、図１１に示されたテ
スト信号と再生信号とのコンピュータ１９によるＭＯＤ
２加算（modulo two sum ;非等価演算ともいう）によっ
て得られる。図１１に示すように、テスト信号の波形と
再生信号の波形とが一致しているときには、誤りフラグ
はＬｏｗであり、テスト信号に対して再生信号に誤りが
生じているときに、誤りフラグはＨｉｇｈになってい
る。

【００８３】このように、ビット単位で誤りの情報が得
られれば、この情報を基にコンピュータ１９で変調を行
うことにより、磁気テープ９に実際に記録されている記
録パターンを再現すれば、どのような記録パターンに誤
りが生じているかを把握することができる。

【００８４】また、再生信号の誤り検出にあたって、コ
ンピュータ１９に変調、同期検出、復調等の複雑な処理
を行わせるわけではないので、コンピュータ１９の処理
速度に高速性は要求されず、比較的処理速度の遅い、汎
用のパーソナルコンピュータと同レベルのコンピュータ
を使用することができる。

【００８５】次に、第２の機能として、連続的に発生し
た誤りの連続数の頻度分布を測定する方法について図
１、図４および図５の構成、並びに図６のタイミングチ
ャートに基づいて説明する。ただし、既に、基準となる
比較信号（上記のテスト信号と同じ信号と考えてよい）
が比較メモリ２１および信号源メモリ２２に格納されて
いて、磁気テープ９に比較信号が記録されている状態か
ら説明を行う。

【００８６】この測定の場合には、比較メモリ２１は書
込みが禁止され、読み出し専用メモリとなる。また、ス
イッチ３３は切換端子３３ａに接続される。磁気テープ
９に記録された比較信号は再生され、再生信号となって
インターフェイス２０に入力される。続いて、再生信号
は、８ビットずつ、すなわち１ワードずつパラレルにバ
ッファメモリ２０ａまたは２０ｂから比較回路２３に送
られる。これと同一タイミングで、比較信号が１ワード
ずつパラレルに比較メモリ２１から比較回路２３に読み
出される。

【００８７】比較回路２３では、図４に示す８つの排他
的ＯＲゲート２３ａによって、比較信号と再生信号とが
ビット毎に比較され、１ビットでも不一致があれば、図
６（ｂ）に示すように、ＯＲゲート２３ｂから誤りフラ
グＳ₂が出力される。ワード単位で検出される再生信号
の誤りが連続すれば、誤りフラグＳ₂のハイレベルは長
く続く。

【００８８】連続値カウンタ３５は、上記誤りフラグＳ
₂がＣＥに入力されている間、すなわち、誤りフラグＳ
₂が立っている間、１周期が１ワード長に相当するクロ
ック信号Ｓ₁（図６（ａ））をカウントし、ＳＲに入力
される切出しパルスＳ₆（図６（ｆ））によってリセッ
トされるまで、図６（ｃ）に示すような逐次増大する連
続値Ｓ₃を出力する。

【００８９】上記切出しパルスＳ₆は、誤りフラグＳ₂
と、Ｄフリップフロップ５０から１クロック遅れで出力
される誤りフラグＳ₂の反転出力との負論理和によって
生成される。結局、切出しパルスＳ₆は、誤りフラグＳ
₂の立下がりに対応してクロック信号Ｓ₁の１周期分立
ち下がる。

【００９０】一方、誤りフラグＳ₂は、遅延素子３９に
よって半クロック程度遅延され、反転回路５２によって
反転され、図６（ｄ）に示す反転誤りフラグＳ₄となっ
てラッチ３６のクロック入力に入力される。ラッチ３６
は、反転誤りフラグＳ₄の立上がりに対応する連続値カ
ウンタ３５の出力を図６（ｅ）に示す保持値Ｓ₅として
出力する。こうして、反転誤りフラグＳ₄の立上がりか
ら次の立上がりまでの間、ＲＡＭ３７の入力ピンにはラ
ッチ３６の出力が保持される。

【００９１】次に、ＲＡＭアドレスカウンタ３８は、上
記切出しパルスＳ₆が入力されるとＲＡＭ３７のアドレ
スを出力Ｓ₇によって指定し、ＲＡＭ３７のＷＥに切出
しパルスＳ₆が入力されると、上記保持値Ｓ₅がＲＡＭ
アドレスカウンタ３８によって指定されたアドレスに書
き込まれる。ＲＡＭアドレスカウンタ３８は、上記切出
しパルスＳ₆が入力される毎にカウントアップし、ＲＡ
Ｍ３７の新たなアドレスを指定する。こうして、ＲＡＭ
３７が一杯になるまで上記の動作は繰り返され、誤りフ
ラグＳ₂が立つ毎に、誤りを含むワードの連続数がＲＡ
Ｍ３７に次々と格納される。

【００９２】ＲＡＭ３７に蓄えられた連続数をコンピュ
ータ１９に転送することにより、誤りを含むワードの連
続数の頻度分布が得られる。

【００９３】上記第２の機能を使用して、誤りの連続数
の発生回数をそれぞれの連続数についてコンピュータ１
９で累計し、グラフにしたものが図１２である。このグ
ラフでは、横軸に誤りの連続数、縦軸に発生回数を取
り、累計結果を両対数でプロットしている。

【００９４】グラフの左側は連続数が小さいので、ラン
ダム誤りに相当し、グラフの右側は連続数が大きいの
で、バースト誤りに相当している。グラフの傾きはラン
ダム誤りとバースト誤りの比率を示す目安と考えること
ができる。この傾きは、磁気テープや記録再生系の性能
等によって変化する。このような解析を行うことによ
り、磁気テープや記録再生系の性能を評価することがで
き、さらにこの解析結果を誤り測定装置の訂正能力を決
める情報として用いることができる。

【００９５】次に、第３の機能として、誤り率の測定に
ついて図１および図７の構成、および図８のタイミング
チャートに基づいて説明する。再生信号と比較信号とが
比較回路２３に入力されて、誤りフラグ（図７にＳ₁₄で
示す) が生成されるまでは、上記第２の機能の場合と同
様である。第３の機能を果たす場合には、誤りフラグＳ
₁₄は誤りカウント回路２６に入力される。

【００９６】図７に示す誤りカウンタ４２は、図８
（ｄ）〜（ｆ）に示すように、測定の開始から切出しパ
ルスＳ₁₈によってリセットされるまで、ＣＥに誤りフラ
グＳ₁₄が入力されるたびに、１周期が１ワード長に相当
するクロック信号Ｓ₁₃の入力数をカウントアップする。

【００９７】誤りカウンタ４２をリセットする上記切出
しパルスＳ₁₈は、単位時間カウンタ４０が出力する単位
時間パルスＳ₁₂（図８（ｂ））と、Ｄフリップフロップ
５３から１クロック遅れで出力される単位時間パルスＳ
₁₂の反転出力とのＮＡＮＤによって生成される。図８
（ｉ）に示すように、切出しパルスＳ₁₈は、単位時間パ
ルスＳ₁₂の立上がりに対応して上記クロック信号Ｓ₁₃の
１周期分立ち下がる。

【００９８】ここで、単位時間カウンタ４０は、１周期
が１フレーム期間に相当するフレームパルスＳ₁₁（図８
（ａ））の入力数をカウントする。したがって、単位時
間カウンタ４０のカウントアップは１フレーム毎に行わ
れ、例えば、単位時間カウンタ４０が４フレーム毎に単
位時間パルスＳ₁₂を出力するとすれば、単位時間はフレ
ームパルスＳ₁₁の４周期分となる。このように、本実施
例の誤りカウンタ４２は、４フレーム期間中に誤りを含
んでいたワードの総数をカウント値Ｓ₁₅として出力す
る。

【００９９】この他、遅延単位時間パルスＳ₁₆の入力に
基づいて、ラッチ４３が誤りカウンタ４２のカウント値
Ｓ₁₅を保持値Ｓ₁₇として保持する動作、切出しパルスＳ
₁₈の入力に基づくＲＡＭ４４およびＲＡＭアドレスカウ
ンタ４５の各動作は、第２の機能におけるラッチ３６、
ＲＡＭ３７、およびＲＡＭアドレスカウンタ３８の動作
と同様である。ただし、上記第３の機能による一連の動
作は、測定時間カウンタ４１に予め設定された回数だけ
繰り返される。

【０１００】こうして、ＲＡＭ４４に蓄えられた単位時
間毎の誤りの数は、コンピュータ１９に転送され、単位
時間に含まれるデータの総数で除算することにより、単
位時間当たりの誤り率が得られる。本実施例では、１ワ
ードに含まれるデータ数は８ビット＝１バイトであるか
ら、得られる誤り率をバイトエラーレートと呼ぶことが
できる。

【０１０１】上記第３の機能を使用して、単位時間を１
秒間に設定した場合のバイトエラーレートを１０分間
（６００秒）測定した結果が図１３である。このグラフ
は横軸に測定時間（秒）、縦軸に１秒間当たりのバイト
エラーレートを取り、測定結果をプロットしている。こ
の測定は、長時間の誤り率の変化を把握することができ
るため、記録再生系の時間安定性や、磁気テープの表面
安定性等の評価を行うことができる。

【０１０２】また、図４において、誤りフラグＳ₁₄を誤
りカウント回路２６に入力するのではなく、ＥＣＣデコ
ーダ１４から出力される訂正不能フラグＦ₁を誤りカウ
ント回路２６に入力すれば、単位時間毎の誤り率の代わ
りに訂正不能フラグＦ₁の発生率が得られる。

【０１０３】さらに、反転回路２３ｄから出力される訂
正不能フラグＦ₁の反転信号と誤りフラグＳ₁₄との論理
積を取るようにすれば、訂正不能フラグＦ₁が立ってい
ないにもかかわらず、すなわち誤り訂正が行われたにも
かかわらず再生信号Ｐ₁にまだ誤りが含まれていること
を示す誤訂正フラグＦ₂を得ることができる。この誤訂
正フラグＦ₂を誤りカウント回路２６に入力すれば、単
位時間毎の誤り訂正の発生率を得ることができる。

【０１０４】なお、上記第２・第３の機能においても、
コンピュータ１９は必要最小限のデータを処理すればよ
いので、第１の機能の場合と同様、コンピュータ１９に
汎用のパーソナルコンピュータと同レベルのコンピュー
タを使用することができる。

【０１０５】

【発明の効果】請求項１の発明に係る誤り測定装置は、
以上のように、テスト信号を予め記憶している第１記憶
手段と、上記テスト信号のブロック毎に、ブロックを識
別するＩＤ情報を付加する信号処理を含む所定の信号処
理を施して記録媒体に記録する記録手段と、上記所定の
信号処理とは逆の信号処理によって、上記記録媒体から
再生信号および上記ＩＤ情報を得る再生手段と、上記再
生信号を一時的に格納する第２記憶手段と、上記ＩＤ情
報に基づいて、上記第２記憶手段に上記再生信号をブロ
ック毎に格納するためのアドレスを指定するアドレス指
定手段と、上記テスト信号および再生信号をそれぞれ上
記第１記憶手段および第２記憶手段から呼出し、上記テ
スト信号と再生信号とをビット単位で比較し、一定期間
内におけるビット単位の誤りを検出する誤り検出手段と
を備えている構成である。

【０１０６】それゆえ、上記テスト信号と再生信号と
は、誤り検出手段によって一定期間ビット単位で比較さ
れ、誤りが検出されるので、再生信号に含まれる誤りを
詳細に解析することができる。例えば、一定期間を１ト
ラックに相当する期間に設定すれば、トラック上の誤り
発生位置を知ることができる。また、テスト信号から実
際に記録媒体に記録される記録信号パターンを得れば、
再生信号の誤りは、どのような記録信号パターンに対応
して発生しているかを知ることもできる。さらに、再生
信号がブロック毎に所定のアドレスに読み書きされるの
で、再生信号のブロックとテスト信号の比較すべきブロ
ックとを正確に対応させることができるという効果を合
わせて奏する。

【０１０７】請求項２の発明に係る誤り測定装置は、以
上のように、テスト信号を予め記憶している記憶手段
と、上記テスト信号に所定の信号処理を施して記録媒体
に記録する記録手段と、上記所定の信号処理とは逆の信
号処理によって、上記記録媒体から再生信号を得る再生
手段と、上記テスト信号と再生信号とを逐次比較し、上
記再生信号に誤りがあるときに、誤り検出信号を出力す
る比較手段と、上記誤り検出信号に基づいて、上記再生
信号における誤りを含むワードの連続数を計数する連続
数計数手段と、上記連続数計数手段による計数値を逐次
格納する連続数記憶手段と、上記連続数の発生回数を、
上記連続数毎に求めることにより、連続誤りの頻度分布
を検出する誤り検出手段とを備えている構成である。

【０１０８】それゆえ、再生信号における誤りを含むワ
ードの連続数の発生回数が、連続数毎に求められるの
で、ランダム誤りとバースト誤りの発生割合を知ること
ができる。この発生割合から、記録媒体や、記録手段、
再生手段の性能を評価したり、あるいは誤り訂正能力を
評価したりすることができるという効果を奏する。

【０１０９】請求項３の発明に係る誤り測定装置は、以
上のように、テスト信号を予め記憶している記憶手段
と、上記テスト信号に所定の信号処理を施して記録媒体
に記録する記録手段と、上記所定の信号処理とは逆の信
号処理によって、上記記録媒体から再生信号を得る再生
手段と、上記テスト信号と再生信号とを逐次比較し、上
記再生信号に誤りがあるときに、誤り検出信号を出力す
る比較手段と、上記誤り検出信号に基づいて、上記再生
信号の誤りが、単位時間当たり何回発生したかを計数す
る誤り発生数計数手段と、上記誤り発生数計数手段によ
る計数値を単位時間毎に逐次格納する誤り情報記憶手段
と、上記計数値を単位時間当たりの再生信号に含まれる
全データ数で除算することにより、単位時間当たりの誤
り率を検出する誤り検出手段とを備えている構成であ
る。

【０１１０】それゆえ、単位時間当たりの誤り率が求め
られるので、単位時間当たりの誤り率の検出を繰り返す
ことにより、長時間の誤り率の変化を知ることができ
る。この誤り率の変化から、記録媒体、記録手段、再生
手段等の時間安定性を評価することができるという効果
を奏する。

【０１１１】このように、本発明に係る誤り測定装置
は、簡単な構成で誤りを詳細に解析することができ、誤
りを発生させる原因を把握するために必要な情報を得る
ことができるので、例えば、ディジタルＶＴＲの製造ラ
インにおける品質管理に配置することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る誤り測定装置の構成を示すブロッ
ク線図である。

【図２】記録再生系を含めた誤り測定システムの構成を
概略的に示すブロック線図である。

【図３】ＥＣＣデコーダおよび復調部の各出力のタイミ
ングを示すタイミングチャートである。

【図４】図１に示す比較回路の構成例を示す回路図であ
る。

【図５】図１に示す連続誤りカウント回路および連続誤
り情報メモリの構成例を示す回路図である。

【図６】図５に示す構成の各部で入出力される信号のタ
イミングを示すタイミングチャートである。

【図７】図１に示す誤りカウント回路および誤り情報メ
モリの構成例を示す回路図である。

【図８】図７に示す構成の各部で入出力される信号のタ
イミングを示すタイミングチャートである。

【図９】第１の機能を利用して測定された記録トラック
内の誤り発生分布を示すグラフである。

【図１０】記録トラックのブロック構成、並びに記録ト
ラックに対するヘッド走査方向と図９の測定結果のプロ
ット方向との関係を示す説明図である。

【図１１】第１の機能を利用して測定されたシンクブロ
ック内で発生した誤りをビット単位で視覚化して示す説
明図である。

【図１２】第２の機能を利用して測定された連続誤りの
頻度分布を示すグラフである。

【図１３】第３の機能を利用して測定された誤り率の推
移を示すグラフである。

【符号の説明】４ＥＣＣエンコーダ（記録手段）５変調部（記録手段）６記録イコライザ（記録手段）８記録ヘッド（記録手段）９磁気テープ（記録媒体）１０再生ヘッド（再生手段）１２再生イコライザ（再生手段）１３復調部（再生手段）１４ＥＣＣデコーダ（再生手段）１９コンピュータ（第１記憶手段、記憶手段、誤り
検出手段）２０ａバッファメモリ（第２記憶手段）２０ｂバッファメモリ（第２記憶手段）２０ｃＩＤデコーダ（アドレス指定手段）２３比較回路（比較手段）２４連続誤りカウント回路（連続数計数手段）２５連続誤り情報メモリ（連続数記憶手段）２６誤りカウント回路（誤り発生数計数手段）２７誤り情報メモリ（誤り情報記憶手段）Ｐ₁ 再生信号Ｐ₂ 再生信号Ｒ₁ テスト信号Ｒ₂ テスト信号Ｓ₂ 誤りフラグ（誤り検出信号）Ｓ₁₄ 誤りフラグ（誤り検出信号）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】テスト信号を予め記憶している第１記憶手
段と、上記テスト信号のブロック毎に、ブロックを識別するＩ
Ｄ情報を付加する信号処理を含む所定の信号処理を施し
て記録媒体に記録する記録手段と、上記所定の信号処理とは逆の信号処理によって、上記記
録媒体から再生信号および上記ＩＤ情報を得る再生手段
と、上記再生信号を一時的に格納する第２記憶手段と、上記ＩＤ情報に基づいて、上記第２記憶手段に上記再生
信号をブロック毎に格納するためのアドレスを指定する
アドレス指定手段と、上記テスト信号および再生信号をそれぞれ上記第１記憶
手段および第２記憶手段から呼出し、上記テスト信号と
再生信号とをビット単位で比較し、一定期間内における
ビット単位の誤りを検出する誤り検出手段とを備えてい
ることを特徴とする誤り測定装置。
【請求項２】テスト信号を予め記憶している記憶手段
と、上記テスト信号に所定の信号処理を施して記録媒体に記
録する記録手段と、上記所定の信号処理とは逆の信号処理によって、上記記
録媒体から再生信号を得る再生手段と、上記テスト信号と再生信号とを逐次比較し、上記再生信
号に誤りがあるときに、誤り検出信号を出力する比較手
段と、上記誤り検出信号に基づいて、上記再生信号における誤
りを含むワードの連続数を計数する連続数計数手段と、上記連続数計数手段による計数値を逐次格納する連続数
記憶手段と、上記連続数の発生回数を、上記連続数毎に求めることに
より、連続誤りの頻度分布を検出する誤り検出手段とを
備えていることを特徴とする誤り測定装置。
【請求項３】テスト信号を予め記憶している記憶手段
と、上記テスト信号に所定の信号処理を施して記録媒体に記
録する記録手段と、上記所定の信号処理とは逆の信号処理によって、上記記
録媒体から再生信号を得る再生手段と、上記テスト信号と再生信号とを逐次比較し、上記再生信
号に誤りがあるときに、誤り検出信号を出力する比較手
段と、上記誤り検出信号に基づいて、上記再生信号の誤りが、
単位時間当たり何回発生したかを計数する誤り発生数計
数手段と、上記誤り発生数計数手段による計数値を単位時間毎に逐
次格納する誤り情報記憶手段と、上記計数値を単位時間当たりの再生信号に含まれる全デ
ータ数で除算することにより、単位時間当たりの誤り率
を検出する誤り検出手段とを備えていることを特徴とす
る誤り測定装置。