JPH0676945B2 - Eccentricity correction method for balance tester and balance tester - Google Patents

Eccentricity correction method for balance tester and balance tester

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JPH0676945B2
JPH0676945B2 JP61071971A JP7197186A JPH0676945B2 JP H0676945 B2 JPH0676945 B2 JP H0676945B2 JP 61071971 A JP61071971 A JP 61071971A JP 7197186 A JP7197186 A JP 7197186A JP H0676945 B2 JPH0676945 B2 JP H0676945B2
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eccentricity
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degrees
dut
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、被試験体を支持する支持アダプタの偏芯を電
気的に補正する偏芯補正方法と釣合試験機に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an eccentricity correction method and a balance tester for electrically correcting the eccentricity of a support adapter that supports a device under test.

従来の技術 被試験体の不釣合を測定する時その時その測定精度を高
めるには、被試験体を支持する支持アダプタに存在する
偏芯を補正する必要がある。そのため、被試験体を支持
アダプタに取り付けて回転させ1度目の釣合試験を行っ
た後、支持アダプタに対する被試験体の取付角度を180
度回転させて取り付け2度目の釣合試験を行う。この2
回の釣合試験によって得られた不釣合を示す2つの偏芯
ベクトルから偏芯補正ベクトルを算出し、支持アダプタ
の偏芯の補正を行う電気的な方法と、1目の釣合試験を
行った時に不釣合を0とする補正を行い、2度目の釣合
試験によって示された不釣合を0とする補正を行うにあ
たって、被試験体に重りを取り付ける等によってその半
分の補正を行い、残りの半分を支持アダプタによって補
正することにより、支持アダプタの偏芯を補正する機械
的な方法とがある。
2. Description of the Related Art When measuring an imbalance of a device under test, it is necessary to correct the eccentricity present in a support adapter that supports the device under test in order to improve the accuracy of the measurement. Therefore, after attaching the DUT to the support adapter and rotating it to perform the first balance test, the attachment angle of the DUT to the support adapter is set to 180.
Rotate once and attach for the second balance test. This 2
An eccentricity correction vector was calculated from two eccentricity vectors indicating the imbalance obtained by the balance test, and an electrical method for correcting the eccentricity of the support adapter and the first balance test were performed. Sometimes the unbalance is corrected to 0, and the unbalance shown in the second balance test is corrected to 0. At the same time, the weight is attached to the DUT and the other half is corrected. There is a mechanical method of correcting the eccentricity of the support adapter by correcting the eccentricity of the support adapter.

発明が解決しようとする問題点 被試験体が支持アダプタと接触する位置は、完全な同一
円周上にはなく僅かながらずれていること等が原因とな
って、支持アダプタに対する被試験体の取付角度が異な
ると、支持アダプタの偏芯に違いが生じ、上記のよう
に、取付角度が互いに180異なる2回の釣合試験によっ
て支持アダプタの偏芯を補正する場合には、その取付角
度から外れた角度に被試験体を取り付けた時に生じる偏
芯を充分に補正できないことになる。
Problems to be Solved by the Invention Mounting of the device under test on the support adapter is due to the fact that the position where the device under test comes into contact with the support adapter is not on the same perfect circle but slightly deviated. If the angle is different, the eccentricity of the support adapter will be different. As described above, when correcting the eccentricity of the support adapter by the two equilibrium tests in which the mounting angles differ from each other by 180 times, the deviation from the mounting angle The eccentricity that occurs when the DUT is attached at different angles cannot be corrected sufficiently.

本発明は上記の問題点を解消するために発明されたもの
で、任意の方向に被試験体を取り付けた場合にも、精度
よく支持アダプタの偏芯を補正することのできる釣合試
験機の支持アダプタの偏芯補正方法と、精度よく被試験
体の釣合試験を行うことのできる動釣合試験機を提供す
ることを目的としている。
The present invention has been invented in order to solve the above problems, and a balance tester capable of accurately correcting the eccentricity of the support adapter even when the DUT is attached in any direction. It is an object of the present invention to provide a method for correcting eccentricity of a support adapter and a dynamic balance tester capable of accurately performing a balance test on a device under test.

問題点を解決するための手段 上記目的を達成するために、本発明の釣合試験機の偏芯
補正方法は、360度を3以上の整数であるNで割って得
られる角度をM度とする時、被試験体の支持アダプタに
対する取付角度をM度づつ違えてN通りの釣合試験を行
う工程と、被試験体の不釣合および前記支持アダプタの
偏芯によって生じる偏芯を示しかつN通りの釣合試験に
よって得られるN個の偏芯ベクトルを加算しかつNで除
すことによりベクトルを算出する工程と、被試験体が支
持アダプタを介して取り付けられかつ回転する測定用主
軸の回転中心の変位を示す変位信号に前記の算出された
ベクトルを180度回転させた偏芯補正ベクトルに対応し
た補正ベクトル信号を加算する工程とにより構成する また本発明の釣合試験機は、ピックアップからの変位信
号を直交する2方向に分離し、偏芯ベクトルを示すXお
よびYの2つの偏芯ベクトル分離信号を生成する同期整
流回路と、被試験体の支持アダプタに対する取付角度を
M度づつ違えて行うN通りの釣合試験により得られた各
N個のXおよびY偏芯ベクトル分離信号から、X偏芯ベ
クトル分離信号およびY偏芯ベクトル分離信号毎にそれ
ぞれの平均値を算出する演算回路と、この演算回路から
の出力に従って補正ベクトル信号を生成するベクトル生
成回路と、補正ベクトル信号を変位信号に加算する加算
回路とを備える。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, in the eccentricity correction method for a balance testing machine of the present invention, an angle obtained by dividing 360 degrees by N, which is an integer of 3 or more, is defined as M degrees. In this case, the steps of performing N number of balance tests by changing the mounting angle of the DUT to the support adapter by M degrees and showing the eccentricity caused by the unbalance of the DUT and the eccentricity of the support adapter Of calculating the vector by adding N eccentricity vectors obtained by the equilibrium test and dividing by N, and the center of rotation of the main spindle for measurement in which the DUT is attached via the support adapter and rotates. And a step of adding a correction vector signal corresponding to an eccentricity correction vector obtained by rotating the calculated vector by 180 degrees to a displacement signal indicating the displacement of the balance tester of the present invention. The synchronous rectifier circuit that separates the position signals into two orthogonal directions and generates two eccentricity vector separation signals of X and Y indicating the eccentricity vector and the mounting angle of the DUT to the support adapter are different by M degrees. And an arithmetic circuit for calculating an average value for each of the X eccentricity vector separation signal and the Y eccentricity vector separation signal from each of the N X and Y eccentricity vector separation signals obtained by the N kinds of balance tests. A vector generation circuit that generates a correction vector signal according to the output from the arithmetic circuit and an addition circuit that adds the correction vector signal to the displacement signal.

作用 被試験体の不釣合と支持アダプタの偏芯とにより生じる
偏芯を示す偏芯ベクトルを、N個採取する。この時支持
アダプタの偏芯による影響は各偏芯ベクトルにおいて微
小に異なっている。各偏芯ベクトルの、XおよびY方向
の成分を示す偏芯ベクトル分離信号の平均値を算出する
ことによって、被試験体の不釣合により生じる偏芯を相
殺すると共に、支持アダプタの偏芯が原因となっている
互いに微小に異なる偏芯の平均を示すベクトルの値が算
出される。この算出された平均を示すベクトルを相殺す
る補正ベクトル信号を発生させ変位信号に加算する。
Action N eccentricity vectors indicating eccentricity caused by unbalance of the DUT and eccentricity of the support adapter are sampled. At this time, the influence of the eccentricity of the support adapter is slightly different in each eccentricity vector. By calculating the average value of the eccentricity vector separation signals indicating the X and Y direction components of each eccentricity vector, the eccentricity caused by the imbalance of the device under test is canceled and the eccentricity of the support adapter causes The value of the vector indicating the average of eccentricities that are slightly different from each other is calculated. A correction vector signal for canceling the vector indicating the calculated average is generated and added to the displacement signal.

実施例 以下に本発明の一実施例について説明する。Example One example of the present invention will be described below.

第1図は本発明の釣合試験機を示すブロック線図であ
る。図において、支持アダプタ42を介して被試験体41が
測定用主軸43に取り付けられている。測定用主軸43の回
転中心の変位は、ピックアップ11によって測定され、変
位信号31となって加算回路12の一方に入力されている。
そしてその出力は同期整流回路13に導かれ、偏芯ベクト
ルの直交する2方向の成分を示すX偏芯ベクトル分離信
号32X、Y偏芯ベクトル分離信号32Yの対の信号となっ
て、表示部15および演算回路14のそれぞれに接続されて
いる。演算回路14からの出力は、ベクトル生成回路16内
の記憶回路17に送られて記憶され、その記憶された値
は、チョッパ回路18によって擬似正弦波の波形を持つ補
正ベクトル信号33となり、変位信号31が入力されている
加算回路12の他方の入力に導かれている。また測定用主
軸43の回転位置を検出する位相検出器20が設けられ、測
定用主軸43の回転位置が一定の角度にくる毎に位置信号
34を発生し、2相パルス生成回路19へと送っている。2
相パルス生成回路19は位置信号34に同期して、互いに位
相が90度異なる2つのパルス信号を生成し、ベクトル生
成回路16および同期整流回路13へ送出している。
FIG. 1 is a block diagram showing a balance testing machine of the present invention. In the figure, the device under test 41 is attached to the measurement spindle 43 via a support adapter 42. The displacement of the rotation center of the measuring main shaft 43 is measured by the pickup 11 and becomes a displacement signal 31 which is input to one of the adding circuits 12.
Then, the output thereof is guided to the synchronous rectification circuit 13 and becomes a pair of signals of an X eccentricity vector separation signal 32X and a Y eccentricity vector separation signal 32Y indicating the components of the eccentricity vector in two orthogonal directions, and the display unit 15 And the arithmetic circuit 14, respectively. The output from the arithmetic circuit 14 is sent to and stored in the storage circuit 17 in the vector generation circuit 16, and the stored value becomes the correction vector signal 33 having the waveform of the pseudo sine wave by the chopper circuit 18, and the displacement signal. 31 is led to the other input of the adder circuit 12 to which it is input. Further, a phase detector 20 for detecting the rotational position of the measuring main shaft 43 is provided, and a position signal is output every time the rotational position of the measuring main shaft 43 reaches a certain angle.
34 is generated and sent to the two-phase pulse generation circuit 19. Two
The phase pulse generation circuit 19 generates two pulse signals whose phases are different from each other by 90 degrees in synchronization with the position signal 34 and sends them to the vector generation circuit 16 and the synchronous rectification circuit 13.

第2図は演算回路14の詳細を示すブロック線図である。
X偏芯ベクトル分離信号32Xは加算器51に入力され、そ
の出力はメモリ52に入力されている。そしてメモリ52の
出力は、割算回路54と、もう一方のメモリ53との入力に
それぞれ導かれていて、メモリ53からの出力は、加算器
51の他方の入力につながっている。割算回路54の出力
は、第1図のベクトル生成回路16に送出されている。メ
モリ52、53は、それぞれ図示されていない制御信号に従
って入力をサンプルし記憶する。Y偏芯ベクトル分離信
号32Yについても同じ構成となっていて、割算回路14は
上記の2組からなっている。
FIG. 2 is a block diagram showing details of the arithmetic circuit 14.
The X eccentricity vector separation signal 32X is input to the adder 51, and its output is input to the memory 52. The output of the memory 52 is led to the inputs of the division circuit 54 and the other memory 53, and the output from the memory 53 is the adder.
It is connected to the other input of 51. The output of the division circuit 54 is sent to the vector generation circuit 16 of FIG. Memories 52, 53 sample and store inputs according to control signals not shown, respectively. The Y eccentricity vector separation signal 32Y has the same configuration, and the division circuit 14 is composed of the above two sets.

では以下に第1図、第2図を参照しつつ、動作について
説明する。
The operation will be described below with reference to FIGS. 1 and 2.

測定用主軸43の回転中心の変位量にその振幅が比例し、
測定用主軸43の回転数にその周期が等しい正弦波である
変位信号31は、加算回路12を介して接続される同期整流
回路13により、直交する2方向の成分で偏芯を示す偏芯
ベクトル分離信号32に変換される。
Its amplitude is proportional to the displacement amount of the rotation center of the measuring spindle 43,
The displacement signal 31, which is a sine wave whose period is equal to the rotation speed of the measurement spindle 43, is eccentricity vector indicating eccentricity in two orthogonal components by the synchronous rectification circuit 13 connected through the adder circuit 12. It is converted into a separated signal 32.

360度を3以上の整数Nで割って得られる角度をM度と
する。そして被試験体41の支持アダプタ42に対する取付
角度を最初に0度等に取り付けて釣合試験を行い、その
時の偏芯ベクトル分離信号32Xの電圧をa1Xとし、次に被
試験体41を支持アダプタ42に対してM度回転させて取り
付け2回目の釣合試験を行う。その時の偏芯ベクトル分
離信号32Xの電圧をa2Xとする。以下同様にしてN回目の
釣合試験の時にはanXとする。
The angle obtained by dividing 360 degrees by an integer N of 3 or more is M degrees. Then, the mounting angle of the DUT 41 to the support adapter 42 is first attached to 0 degree or the like to perform a balance test, the voltage of the eccentric vector separation signal 32X at that time is set to a1X, and then the DUT 41 is supported. It is rotated by M degrees with respect to 42 and the second equilibrium test is performed. The voltage of the eccentricity vector separation signal 32X at that time is a2X. Similarly, in the same manner, anX will be used for the Nth balance test.

メモリ53は初期値が0に設定されているので、最初の釣
合試験を行う加算器51の出力はa1Xとなる。メモリ52に
その電圧を記憶させ、その電圧がメモリ52から安定して
出力された時点でメモリ53に記憶させると共に、その電
圧を加算器51に入力する。次に2回目の釣合試験を行う
と偏芯ベクトル分離信号32Xの電圧はa2Xとなり、加算器
51からはa1X+a2Xの電圧が出力される。この電圧をメモ
リ52、53に上記と同じタイミングで記憶させる。順次同
様の動作によってN回目の釣合試験が終わった時には、
メモリ52にはa1XからanXまでの電圧の加算結果が記憶さ
れている。演算回路54は、この加算結果を1/N倍するの
で、その値は、a1XからanXまでの電圧の平均を示す電圧
となる。
Since the initial value of the memory 53 is set to 0, the output of the adder 51 performing the first balance test is a1X. The voltage is stored in the memory 52, stored in the memory 53 when the voltage is stably output from the memory 52, and the voltage is input to the adder 51. Next, when the second balance test is performed, the voltage of the eccentric vector separation signal 32X becomes a2X, and the adder
The voltage of a1X + a2X is output from 51. This voltage is stored in the memories 52 and 53 at the same timing as above. When the Nth balance test is completed by the same operation in sequence,
The memory 52 stores the addition result of the voltages from a1X to anX. Since the arithmetic circuit 54 multiplies this addition result by 1 / N, its value becomes a voltage indicating the average of the voltages from a1X to anX.

Y偏芯ベクトル分離信号32Yについても同様である。第
3図は演算回路14の他の実施例を示したブロック線図で
ある。N個(図においてはN=3を示す)のメモリ61の
入力には、X偏芯ベクトル分離信号32Xが接続され、各
メモリ61の出力は加算器62によって加算された後、割算
回路63により1/N倍される。メモリ61aはa1Xを、61bはa2
Xを、61cはa3Xをそれぞれ記憶する。割算回路63の出力
にはa1Xからa3Xの電圧を平均した値が現れる。
The same applies to the Y eccentricity vector separation signal 32Y. FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the arithmetic circuit 14. The X eccentricity vector separation signal 32X is connected to the inputs of N (in the figure, N = 3 is shown) memories 61, and the output of each memory 61 is added by the adder 62, and then the division circuit 63 Is multiplied by 1 / N. Memory 61a is a1X, 61b is a2
X and 61c store a3X, respectively. At the output of the division circuit 63, a value obtained by averaging the voltages of a1X to a3X appears.

第4図はN=3の時の偏芯ベクトルを示す説明図であ
る。偏芯ベクトル61は、被試験体41の不釣合を示すベク
トル(以下では不釣合ベクトルと略す)63と支持アダプ
タ42の偏芯を示すベクトル(以下ではアダプタベクトル
と略す)62との合成として示される。不釣合ベクトル63
は、被試験体41の支持アダプタ42に対する取付角度を回
転させると、その回転角度と同じ角度だけ回転する。N
=3なのでM=120度となり、不釣合ベクトル63は互い
に角度が120度異なり、長さは等しい。アダプタベクト
ル62は、被試験体41や支持アダプタ42の加工精度内の誤
差等によって生じる取り付けエラーがあるので、被試験
体41の取付角度が異なると、アダプタベクトル62どうし
には、互いに僅かの差異が生じている。演算回路14によ
って偏芯ベクトル61を平均したベクトルを算出すると、
不釣合ベクトル63は互いに相殺しあい、アダプタベクト
ル62のみが残ってくるが、そのベクトルは3つのアダプ
タベクトル62の先端を頂点とする三角形の中心を示すベ
クトルとなり、このベクトルは、支持アダプタ42の偏芯
の平均を示すベクトルである。このベクトルを180度回
転させたベクトルが補正ベクトル64となり、ベクトル生
成回路15によって補正ベクトル64に対応した補正ベクト
ル信号33を発生させる。そして加算回路12を介して変位
信号31に加算することにより、支持アダプタ42の偏芯の
補正を行う。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the eccentricity vector when N = 3. The eccentricity vector 61 is shown as a combination of a vector (hereinafter abbreviated as unbalance vector) 63 indicating the unbalance of the DUT 41 and a vector (hereinafter abbreviated as adapter vector) 62 indicating the eccentricity of the support adapter 42. Unbalanced vector 63
When the mounting angle of the DUT 41 with respect to the support adapter 42 is rotated, it rotates by the same angle as the rotation angle. N
= 3, M = 120 degrees, and the unbalanced vectors 63 have angles different from each other by 120 degrees and have the same length. Since the adapter vector 62 has a mounting error caused by an error in the processing accuracy of the DUT 41 or the support adapter 42, if the mounting angle of the DUT 41 is different, the adapter vectors 62 are slightly different from each other. Is occurring. When a vector obtained by averaging the eccentricity vector 61 is calculated by the arithmetic circuit 14,
The unbalanced vectors 63 cancel each other out, and only the adapter vector 62 remains, but that vector becomes a vector indicating the center of a triangle having the tips of the three adapter vectors 62 as vertices, and this vector is eccentric to the support adapter 42. Is a vector indicating the average of. The vector obtained by rotating this vector by 180 degrees becomes the correction vector 64, and the vector generation circuit 15 generates the correction vector signal 33 corresponding to the correction vector 64. The eccentricity of the support adapter 42 is corrected by adding it to the displacement signal 31 via the adder circuit 12.

なお本発明は上記実施例に限定されず、演算回路14につ
いては同じ動作を行う他の回路構成、例えばA/D変換回
路やCPUを設けることにより演算回路を行う構成等とす
ることが可能である。
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and the arithmetic circuit 14 may have another circuit configuration that performs the same operation, for example, by providing an A / D conversion circuit or a CPU to perform the arithmetic circuit. is there.

発明の効果 被試験体の支持アダプタに対する取付角度を、互いに等
しい角度に異なる3通り以上の取付角度によって取り付
け、それぞれの取付角度において釣合試験を行う。その
結果得られた偏芯ベクトルを平均化したベクトルを算出
し、この算出されたベクトルによって支持アダプタの偏
芯を補正するようにしたので、任意の方向に被試験体を
取り付けた場合にも、精度よく支持アダプタの偏芯を補
正することのできる釣合試験機の支持アダプタの偏芯補
正方法と、精度よく被試験体の釣合試験を行うことので
きる釣合試験機を提供することが可能となる。
EFFECTS OF THE INVENTION The test object is attached to the support adapter at three or more different attachment angles that are equal to each other, and a balance test is performed at each of the attachment angles. The vector obtained by averaging the eccentricity vector obtained as a result is calculated, and the eccentricity of the support adapter is corrected by the calculated vector, so even when the DUT is attached in any direction, An eccentricity correction method for a support adapter of a balance tester capable of accurately correcting eccentricity of a support adapter, and a balance tester capable of accurately performing a balance test of a DUT. It will be possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の釣合試験機の一実施例を示すブロック
線図、第2図は演算回路14の詳細を示すブロック線図、
第3図は演算回路14の他の実施例を示したブロック線
図、第4図はN=3の時の偏芯ベクトルを示す説明図で
ある。 11……ピックアップ、12……加算回路、13……同期整流
回路、14……演算回路、16……ベクトル生成回路。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the balance testing machine of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing details of the arithmetic circuit 14.
FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the arithmetic circuit 14, and FIG. 4 is an explanatory diagram showing an eccentricity vector when N = 3. 11 …… Pickup, 12 …… Adding circuit, 13 …… Synchronous rectifying circuit, 14 …… Computing circuit, 16 …… Vector generating circuit.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】360度を3以上の整数であるNで割って得
られる角度をM度とする時、被試験体の支持アダプタに
対する取付角度をM度づつ違えてN通りの釣合試験を行
う工程と、前記被試験体の不釣合および前記支持アダプ
タの偏芯によって生じる偏芯を示しかつ前記N通りの釣
合試験によって得られるN個の偏芯ベクトルを加算しか
つNで除すことによりベクトルを算出する工程と、前記
被試験体が前記支持アダプタを介して取り付けられかつ
回転する測定用主軸の回転中心の変位を示す変位信号に
前記の算出されたベクトルを180度回転させた偏芯補正
ベクトルに対応した補正ベクトル信号を加算する工程と
により構成されたことを特徴とする釣合試験機の偏芯補
正方法。
1. When an angle obtained by dividing 360 degrees by N, which is an integer of 3 or more, is M degrees, N types of balance tests are performed by changing the mounting angle of the DUT to the support adapter by M degrees. The steps of performing and showing the eccentricity caused by the unbalance of the DUT and the eccentricity of the support adapter, and adding N eccentricity vectors obtained by the N kinds of balance tests and dividing by N An eccentricity obtained by rotating the calculated vector by 180 degrees to a displacement signal indicating the displacement of the rotation center of the measuring main shaft in which the DUT is attached via the support adapter and rotates through the step of calculating the vector. And a step of adding a correction vector signal corresponding to the correction vector.
【請求項2】360度を3以上の整数であるNで割って得
られる角度をM度とする時、ピックアップからの変位信
号を直交する2方向に分離し偏芯ベクトルを示すXおよ
びYの2つの偏芯ベクトル分離信号に変換する同期整流
回路と、被試験体の支持アダプタに対する取付角度をM
度づつ違えて行うN通りの釣合試験により得られた各N
個のXおよびY偏芯ベクトル分離信号からX偏芯ベクト
ル分離信号およびY偏芯ベクトル分離信号毎にそれぞれ
の平均値を算出する演算回路と、この演算回路からの出
力に従って補正ベクトル信号を生成するベクトル生成回
路と、前記補正ベクトル信号を前記変位信号に加算する
加算回路とを備えたことを特徴とする釣合試験機。
2. When the angle obtained by dividing 360 degrees by N, which is an integer of 3 or more, is M degrees, the displacement signal from the pickup is separated into two orthogonal directions and X and Y of eccentricity vector are shown. The synchronous rectification circuit that converts two eccentricity vector separation signals and the mounting angle of the DUT to the support adapter are set to M
Each N obtained by N kinds of balance tests performed at different times
An arithmetic circuit that calculates an average value of each X eccentricity vector separation signal and each Y eccentricity vector separation signal from the X and Y eccentricity vector separation signals, and a correction vector signal is generated according to the output from this arithmetic circuit. A balance testing machine comprising a vector generation circuit and an addition circuit for adding the correction vector signal to the displacement signal.
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JPS62228127A (en) 1987-10-07

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