JPH0675051A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
- Publication number
- JPH0675051A JPH0675051A JP4228253A JP22825392A JPH0675051A JP H0675051 A JPH0675051 A JP H0675051A JP 4228253 A JP4228253 A JP 4228253A JP 22825392 A JP22825392 A JP 22825392A JP H0675051 A JPH0675051 A JP H0675051A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counter
- count
- value
- overflow
- image data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 21
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 基本的にはフォトンカウンティング方式を採
用した構造で、高カウント数側の領域においても画像の
品位が高い撮像装置の提供する。 【構成】 放射線センサからのパルス信号を計数するカ
ウンタが、データサンプリング中にオーバフローしたと
きには、そのオーバフローするまでに要した時間で、カ
ウンタの容量カウンタ値を除した値を画像データに用い
るよう構成している。
用した構造で、高カウント数側の領域においても画像の
品位が高い撮像装置の提供する。 【構成】 放射線センサからのパルス信号を計数するカ
ウンタが、データサンプリング中にオーバフローしたと
きには、そのオーバフローするまでに要した時間で、カ
ウンタの容量カウンタ値を除した値を画像データに用い
るよう構成している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線像をはじめとする
放射線像の撮像装置に関し、特に、固体センサに入射す
る放射線フォトンを計数することによって濃淡画像を得
る、いわゆるフォトンカウンティング方式を採用した装
置に関する
放射線像の撮像装置に関し、特に、固体センサに入射す
る放射線フォトンを計数することによって濃淡画像を得
る、いわゆるフォトンカウンティング方式を採用した装
置に関する
【０００２】
【従来の技術】従来この種の撮像装置では、一般に、Ｃ
ｄＴｅ等の化合物半導体を用いたアレイ状センサを走査
する等によって、各位置におけるＸ線線量を計数し、そ
の各位置での線量計数値を画素濃度とする像を得ている
が、Ｘ線は被写体を透過する間に、その線量が指数関数
的に減少するといった性質があることから、従来では、
透過Ｘ線線量をカウンタで単純に計数した後に、そのカ
ウント値の対数をとって画像データを得ていた。
ｄＴｅ等の化合物半導体を用いたアレイ状センサを走査
する等によって、各位置におけるＸ線線量を計数し、そ
の各位置での線量計数値を画素濃度とする像を得ている
が、Ｘ線は被写体を透過する間に、その線量が指数関数
的に減少するといった性質があることから、従来では、
透過Ｘ線線量をカウンタで単純に計数した後に、そのカ
ウント値の対数をとって画像データを得ていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、Ｘ線線量の
カウント値の対数計算を行うと、例えば下記の表に示す
ように、低カウント数の領域では問題はないが、高カウ
ント数側の領域では、計算結果の差が少なくなり、その
高カウント数側の画像の品質が低下してしまうとった問
題がある。
カウント値の対数計算を行うと、例えば下記の表に示す
ように、低カウント数の領域では問題はないが、高カウ
ント数側の領域では、計算結果の差が少なくなり、その
高カウント数側の画像の品質が低下してしまうとった問
題がある。
【０００４】
【表１】
【０００５】本発明は上記した従来の問題点を解消すべ
くなされたもので、その目的とするところは、基本的に
はフォトンカウンティング方式を採用した構造で、高カ
ウント数側の領域においても画像の品位が高い撮像装置
の提供することにある。
くなされたもので、その目的とするところは、基本的に
はフォトンカウンティング方式を採用した構造で、高カ
ウント数側の領域においても画像の品位が高い撮像装置
の提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの構成を、実施例に対応する図１を参照しつつ説明す
ると、本発明の撮像装置は、放射線フォトンの入射によ
りパルス状の電気信号を発生する放射線センサ３と、こ
のセンサ３からの電気信号を計数するカウンタ（第１の
カウンタ）１と、画像データのサンプリング中に、カウ
ンタ１の計数値が容量オーバとなったときには、その容
量オーバとなる時点までのデータサンプリング時間を計
時する計時手段（例えば発振器６および第２のカウンタ
２）と、演算処理手段（例えば演算回路７およびＣＰＵ
８等）を備えている。そして、その演算処理手段は、デ
ータサンプリング中にカウンタ１が容量オーバの状態に
ならないときには、その計数値から画像データを求め、
かつ、容量オーバの状態となったときには、カウンタ１
の容量値を上記の計時手段による計時値で除した値から
画像データを求めて、それらのデータを画面上に出力す
るよう構成されていることによって特徴づけられる。
めの構成を、実施例に対応する図１を参照しつつ説明す
ると、本発明の撮像装置は、放射線フォトンの入射によ
りパルス状の電気信号を発生する放射線センサ３と、こ
のセンサ３からの電気信号を計数するカウンタ（第１の
カウンタ）１と、画像データのサンプリング中に、カウ
ンタ１の計数値が容量オーバとなったときには、その容
量オーバとなる時点までのデータサンプリング時間を計
時する計時手段（例えば発振器６および第２のカウンタ
２）と、演算処理手段（例えば演算回路７およびＣＰＵ
８等）を備えている。そして、その演算処理手段は、デ
ータサンプリング中にカウンタ１が容量オーバの状態に
ならないときには、その計数値から画像データを求め、
かつ、容量オーバの状態となったときには、カウンタ１
の容量値を上記の計時手段による計時値で除した値から
画像データを求めて、それらのデータを画面上に出力す
るよう構成されていることによって特徴づけられる。
【０００７】
【作用】カウンタ１が容量オーバ以上（オーバフロー）
とならないときには、カウンタ１によるカウント値がそ
のまま用いられるが、オーバフローしたときには、カウ
ンタ１の計数容量値をオーバフローに要した時間で割っ
た値をカウント値として用いるので、特に高カウント数
側の領域でデータが大きくなる。
とならないときには、カウンタ１によるカウント値がそ
のまま用いられるが、オーバフローしたときには、カウ
ンタ１の計数容量値をオーバフローに要した時間で割っ
た値をカウント値として用いるので、特に高カウント数
側の領域でデータが大きくなる。
【０００８】例えば、カウンタ１の計数容量値を128 ，
サンプリング時間 128μsec とした場合、オーバフロー
が発生するのに要する時間が、(127/128),(64/128),(5/
128)μsec であるとすると、カウント値はそれぞれ 12
9，256 ，3268.8となり、高カウント数値側のデータが
大きくなる。
サンプリング時間 128μsec とした場合、オーバフロー
が発生するのに要する時間が、(127/128),(64/128),(5/
128)μsec であるとすると、カウント値はそれぞれ 12
9，256 ，3268.8となり、高カウント数値側のデータが
大きくなる。
【０００９】
【実施例】図１は本発明実施例の回路構成を示すブロッ
ク図である。センサ３は、入射したＸ線のフォトン数に
応じてパルス状の電気信号を発生する。このセンサ３の
出力信号はアンプ４で増幅され、さらにコンパレータ５
で波高選別された後に、第１のカウンタ１へと導かれ
る。
ク図である。センサ３は、入射したＸ線のフォトン数に
応じてパルス状の電気信号を発生する。このセンサ３の
出力信号はアンプ４で増幅され、さらにコンパレータ５
で波高選別された後に、第１のカウンタ１へと導かれ
る。
【００１０】その第１のカウンタ１は８ビットのカウン
タで、カウント値が128 になった時点で最上値ビットが
「１」になり、その最上値ビットがオーバフローフラグ
として供せられる。
タで、カウント値が128 になった時点で最上値ビットが
「１」になり、その最上値ビットがオーバフローフラグ
として供せられる。
【００１１】一方、第２のカウンタ２は、発振周波数が
１MHz の発振器６からのパルス信号を計数するもので、
そのカウント値が画像データのサンプリングの時間の計
時値として用いられる。この第２のカウンタ２も８ビッ
トのカウンタで、カウント値が128 になった時点で最上
値ビットが「１」になり、その時点でのカウント値すな
わち 128μsec がこの撮像装置の一回のサンプリング時
間として規定される。
１MHz の発振器６からのパルス信号を計数するもので、
そのカウント値が画像データのサンプリングの時間の計
時値として用いられる。この第２のカウンタ２も８ビッ
トのカウンタで、カウント値が128 になった時点で最上
値ビットが「１」になり、その時点でのカウント値すな
わち 128μsec がこの撮像装置の一回のサンプリング時
間として規定される。
【００１２】以上の二つのカウンタ１および２は、ＣＰ
Ｕ８の指令により同時にカウントを開始し、その各出力
はともに演算回路７に導かれる。演算回路７は、データ
サンプリング中に第１のカウンタ１にフラグが立たない
ときには、第１のカウンタ１のカウンタ値を、そのまま
ＣＰＵ８へ転送する。一方、データサンプリング時間
（ 128μsec ）以内に、第１のカウンタ１にフラグが立
ったときには、その最上値ビットを除く下位の７ビット
に、第２のカウンタ２のカウント値から「１」を引いた
値を入れてＣＰＵ８へと転送する。なお、このように、
「１」を引いた値を転送するのは、サンプリング時間が
128μsec に達した時点で、同時に第１のカウンタ１の
カウント値が128 に達した場合、二つのカウンタ１およ
び２の最上値ビットがともに「１」となってしまい、動
作不可となることを防止するためである。
Ｕ８の指令により同時にカウントを開始し、その各出力
はともに演算回路７に導かれる。演算回路７は、データ
サンプリング中に第１のカウンタ１にフラグが立たない
ときには、第１のカウンタ１のカウンタ値を、そのまま
ＣＰＵ８へ転送する。一方、データサンプリング時間
（ 128μsec ）以内に、第１のカウンタ１にフラグが立
ったときには、その最上値ビットを除く下位の７ビット
に、第２のカウンタ２のカウント値から「１」を引いた
値を入れてＣＰＵ８へと転送する。なお、このように、
「１」を引いた値を転送するのは、サンプリング時間が
128μsec に達した時点で、同時に第１のカウンタ１の
カウント値が128 に達した場合、二つのカウンタ１およ
び２の最上値ビットがともに「１」となってしまい、動
作不可となることを防止するためである。
【００１３】そして、ＣＰＵ８は転送されたデータを基
にして後述する演算を行って画像データを作成し、その
画像データを画像表示器９に出力する。次に、下記の表
２を参照してデータの具体的な数値例を説明する。
にして後述する演算を行って画像データを作成し、その
画像データを画像表示器９に出力する。次に、下記の表
２を参照してデータの具体的な数値例を説明する。
【００１４】
【表２】
【００１５】まず、データサンプリング中に、第１のカ
ウンタ１がオーバフローしなかった場合には、表のに
示すように第１のカウンタ１の最上値ビットが「０」
で、第２のカウンタ２の最上値ビットが「１」の状態と
なり、その第１のカウンタ１のデータ「00010000」（カ
ウント値16）が、そのままＣＰＵ８に転送され、その対
数値1.20が求められる。
ウンタ１がオーバフローしなかった場合には、表のに
示すように第１のカウンタ１の最上値ビットが「０」
で、第２のカウンタ２の最上値ビットが「１」の状態と
なり、その第１のカウンタ１のデータ「00010000」（カ
ウント値16）が、そのままＣＰＵ８に転送され、その対
数値1.20が求められる。
【００１６】一方、データサンプリング時間（ 128μse
c ）以内にオーバフローが発生した場合には、表のに
示すように、第１のカウンタ１の最上値ビットが「１」
となり、この時点での第２のカウンタ２のデータ「0000
0100」から「１」を引いたデータを組み入れたデータ
「10000011」がＣＰＵ８に転送され、次に示す割り算に
よるカウント値およびその対数値が求められる。
c ）以内にオーバフローが発生した場合には、表のに
示すように、第１のカウンタ１の最上値ビットが「１」
となり、この時点での第２のカウンタ２のデータ「0000
0100」から「１」を引いたデータを組み入れたデータ
「10000011」がＣＰＵ８に転送され、次に示す割り算に
よるカウント値およびその対数値が求められる。
【００１７】すなわち、第１のカウンタ１がオーバフロ
ーしたときには、第１のカウンタ１の容量カウント値
「128 」を、第２のカウンタ２による計時値：Ｔ＝（1/
128)〔μsec/count.〕×（４）〔count.〕で割るといっ
た演算で行われ、この例の場合には、 128/Ｔ＝(128×128)/4＝4096 となり、対数計算後の値は「3.61」となる。
ーしたときには、第１のカウンタ１の容量カウント値
「128 」を、第２のカウンタ２による計時値：Ｔ＝（1/
128)〔μsec/count.〕×（４）〔count.〕で割るといっ
た演算で行われ、この例の場合には、 128/Ｔ＝(128×128)/4＝4096 となり、対数計算後の値は「3.61」となる。
【００１８】次に、以上の実施例をさらに詳しくするた
めに、低カウント数から高カウント数の領域までの画像
データの計算値の例を下表に示す。
めに、低カウント数から高カウント数の領域までの画像
データの計算値の例を下表に示す。
【００１９】
【表３】
【００２０】この表３から明らかなように、各データ間
の差は、低カウント数側に対して高カウント数側のデー
タが大きくなること判る。従って、本発明実施例では、
高カウント数側の領域の濃淡を特に強調した画像を得る
ことができる。
の差は、低カウント数側に対して高カウント数側のデー
タが大きくなること判る。従って、本発明実施例では、
高カウント数側の領域の濃淡を特に強調した画像を得る
ことができる。
【００２１】なお、以上の実施例では、８ビットのカウ
ンタを用いているが、これに限定されることなく、その
ビット数は任意で、検出すべき放射線線量やデータサン
プリング時間などに応じて適宜に設定する。また、サン
プリング時間の計時手段は、図１に示した構成に代え
て、公知の一般的なタイマなどの他の同等の代替手段を
用いてもよい。
ンタを用いているが、これに限定されることなく、その
ビット数は任意で、検出すべき放射線線量やデータサン
プリング時間などに応じて適宜に設定する。また、サン
プリング時間の計時手段は、図１に示した構成に代え
て、公知の一般的なタイマなどの他の同等の代替手段を
用いてもよい。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
放射線センサからのパルス信号を計数するカウンタが、
データサンプリング中にオーバフローしたときには、そ
のオーバフローするまでに要した時間で、カウンタの容
量値を除した値を画像データに用いるよう構成したの
で、フォトンカウンティング方式において、高カウント
数側の領域での階調を深くすることができ、従来よりも
高品質のＸ線像を得ることが可能となる。
放射線センサからのパルス信号を計数するカウンタが、
データサンプリング中にオーバフローしたときには、そ
のオーバフローするまでに要した時間で、カウンタの容
量値を除した値を画像データに用いるよう構成したの
で、フォトンカウンティング方式において、高カウント
数側の領域での階調を深くすることができ、従来よりも
高品質のＸ線像を得ることが可能となる。
【００２３】なお、従来ではＸ線等の高線量側の検出限
界がカウンタの容量で規定されていたが、本発明の撮像
装置によれば、その検出限界がカウンタの容量では規定
されないので、ダイナミックレンジを従来に比して広く
とることができるといった効果も達成し得る。
界がカウンタの容量で規定されていたが、本発明の撮像
装置によれば、その検出限界がカウンタの容量では規定
されないので、ダイナミックレンジを従来に比して広く
とることができるといった効果も達成し得る。
【図１】本発明実施例の構成を示すブロック図
１・・・・第１のカウンタ ２・・・・第２のカウンタ ３・・・・センサ ６・・・・発振器 ７・・・・演算回路 ８・・・・ＣＰＵ ９・・・・画像表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線フォトンの入射によりパルス状の
電気信号を発生する放射線センサと、このセンサからの
電気信号を計数するカウンタと、画像データのサンプリ
ング中に、上記カウンタの計数値が容量オーバとなった
ときには、その容量オーバとなる時点までのデータサン
プリング時間を計時する計時手段と、演算処理手段を備
え、その演算処理手段は、上記カウンタがデータサンプ
リング中に容量オーバの状態にならないときには、その
計数値から画像データを求め、かつ、容量オーバの状態
となったときには、上記カウンタの容量値を上記計時手
段による計時値で除した値から画像データを求めて、そ
れらのデータを画面上に出力するよう構成されてなる撮
像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4228253A JPH0675051A (ja) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4228253A JPH0675051A (ja) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | 撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0675051A true JPH0675051A (ja) | 1994-03-18 |
Family
ID=16873573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4228253A Pending JPH0675051A (ja) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | 撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0675051A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010136779A (ja) * | 2008-12-10 | 2010-06-24 | Univ Of Miyazaki | 医用画像の処理装置及び方法 |
| JP2013500113A (ja) * | 2009-07-29 | 2013-01-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ線検査装置及び方法 |
| WO2023182187A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 | ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 | 固体撮像装置 |
-
1992
- 1992-08-27 JP JP4228253A patent/JPH0675051A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010136779A (ja) * | 2008-12-10 | 2010-06-24 | Univ Of Miyazaki | 医用画像の処理装置及び方法 |
| JP2013500113A (ja) * | 2009-07-29 | 2013-01-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ線検査装置及び方法 |
| WO2023182187A1 (ja) * | 2022-03-25 | 2023-09-28 | ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 | 固体撮像装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6621887B2 (en) | Method and apparatus for processing a fluoroscopic image | |
| US5617461A (en) | Method for the operation of a digital imaging system of an X-ray diagnostic apparatus | |
| JP2890553B2 (ja) | Ｘ線像撮像装置 | |
| US6408050B1 (en) | X-ray detector and method for tissue specific image | |
| JP2018528423A (ja) | 光子計数装置及び方法 | |
| US5517544A (en) | Afterglow artifact reduction | |
| US7277568B2 (en) | Method for suppressing ghost image artifacts in x-ray device for performing this method | |
| JP6917782B2 (ja) | 放射線撮影装置、放射線撮影方法およびプログラム | |
| JPH0675051A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2002034961A (ja) | 放射線撮影装置及び放射線撮影方法 | |
| EP0589467B1 (en) | Nuclear medicine imaging apparatus | |
| JPH095445A (ja) | 放射線像撮像装置 | |
| JP3257270B2 (ja) | 撮像装置 | |
| US20030035509A1 (en) | X-ray diagnostic installation having a planar solid state X-ray image converter | |
| JP2509507B2 (ja) | 核医学イメ―ジング装置 | |
| JP2626461B2 (ja) | 核医学イメージング装置 | |
| JP2855803B2 (ja) | シンチレーションカメラ | |
| JP3490730B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPS62191787A (ja) | 放射線受像装置 | |
| JPH0697783B2 (ja) | バツクグラウンドノイズ除去装置 | |
| Wallingford et al. | Real-time X-ray image processing; Techniques for sensitivity improvement using low-cost equipment | |
| JP3443948B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
| JP3018439B2 (ja) | シンチレーションカメラ | |
| JPH09276257A (ja) | 放射線撮像装置 | |
| JPH03206771A (ja) | ピークホールド回路 |