JPH0674943A - Gate pulse generating circuit for ultrasonic measuring device - Google Patents

Gate pulse generating circuit for ultrasonic measuring device

Info

Publication number
JPH0674943A
JPH0674943A JP4253902A JP25390292A JPH0674943A JP H0674943 A JPH0674943 A JP H0674943A JP 4253902 A JP4253902 A JP 4253902A JP 25390292 A JP25390292 A JP 25390292A JP H0674943 A JPH0674943 A JP H0674943A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
timing
count value
circuit
gate pulse
gate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4253902A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ken Nishizuka
建 西塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP4253902A priority Critical patent/JPH0674943A/en
Publication of JPH0674943A publication Critical patent/JPH0674943A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce delay time from reception of the surface echo o generation of a gate pulse. CONSTITUTION:Passed time on and after a synchronous signal 33 is counted by a counter circuit 2, and count values until reception of the surface echo are held until the next measuring cycle by a latch circuit 3. The timing of a gate pulse 37 in this time measuring cycle is based on the timing generated by comparing a count value 2a with comparison values 5a and 6a calculated by using a count value 3b measured in the preceding time. Since these comparison values 5a and 6a are used to estimate the surface echo receiving timing, the gate pulse 37 generating timing can be set optionally without waiting for the reception of the surface echo in this time measuring cycle.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、超音波測定装置のゲ
ートパルス発生回路に関し、詳しくは、被検体表面直下
の部分を特定し得るゲートパルスが生成可能であって、
その発生タイミングとそのパルス幅の設定等が容易な超
音波測定装置のゲートパルス発生回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gate pulse generating circuit for an ultrasonic measuring apparatus, and more specifically, it can generate a gate pulse capable of specifying a portion just below the surface of a subject,
The present invention relates to a gate pulse generation circuit of an ultrasonic measurement device in which the generation timing and the pulse width can be easily set.

【0002】[0002]

【従来の技術】超音波測定装置の1つである超音波探傷
装置は、エコー受信信号(又はビデオ信号あるいはRF
信号)の任意の位置でゲートがかけられるようになって
いて、例えば、エコー受信信号の欠陥エコーにゲートを
かけ、このゲートに対応して抽出したエコー受信信号に
ついてピークレベル等を得て、その値の大きさで欠陥の
良否を判定している。この場合、エコー受信信号の任意
の位置にゲートをかけるためには、ゲートパルスを任意
のタイミングで発生させることが必要である。図4は、
このゲートパルス発生の原理を説明する欠陥測定におけ
るAスコープ像とそのゲートパルス発生タイミングとの
関係の説明図である。
2. Description of the Related Art An ultrasonic flaw detector, which is one of ultrasonic measuring devices, is an echo reception signal (or video signal or RF signal).
Signal), the gate can be applied at an arbitrary position. For example, the defective echo of the echo reception signal is gated, and the peak level or the like is obtained for the echo reception signal extracted corresponding to this gate. The quality of the defect is judged by the size of the value. In this case, in order to gate the echo reception signal at any position, it is necessary to generate a gate pulse at any timing. Figure 4
It is explanatory drawing of the relationship between the A scope image and its gate pulse generation timing in defect measurement explaining the principle of this gate pulse generation.

【0003】図4において、30は、水浸反射法で得ら
れたAスコープ像であって、Tは送信エコー、Sは表面
からのエコー(表面エコー)、Fは欠陥からのエコー
(欠陥エコー)、Bは底面からのエコー(底面エコー)
である。33は、周期的な測定に対応して発生する同期
信号であり、この信号の後縁(立上がり)でパルサを駆
動し送信パルスを出力し、送信パルス信号は、エコー受
信信号30における送信エコーTとなって現れる。
In FIG. 4, 30 is an A-scope image obtained by the water immersion reflection method, T is a transmission echo, S is an echo from a surface (surface echo), and F is an echo from a defect (defect echo). ) And B are echoes from the bottom (bottom echo)
Is. Reference numeral 33 is a synchronization signal generated in response to periodic measurement, which drives the pulser at the trailing edge (rising edge) of this signal to output a transmission pulse. The transmission pulse signal is the transmission echo T in the echo reception signal 30. Appears.

【0004】34は、所定の設定された時間に対応する
パルス幅を持つ遅延トリガパルスであり、前記同期信号
33の後縁(立上がり)を起点として発生する。35
は、表面エコー検出パルスであって、同期信号33の前
縁でセットされるフリップフロップ出力とエコー受信信
号30を受けるコンパレータ出力と遅延トリガパルス3
4がなくなったときとの論理積出力として発生する。3
6は、ゲート位置パルスであって、表面エコー検出パル
ス35を起点とし、設定された時間に対応するパルス幅
を持つパルスとして発生する。
Reference numeral 34 is a delayed trigger pulse having a pulse width corresponding to a predetermined set time, and is generated from the trailing edge (rising edge) of the synchronizing signal 33 as a starting point. 35
Is a surface echo detection pulse, which is a flip-flop output set at the leading edge of the synchronization signal 33, a comparator output which receives the echo reception signal 30, and a delay trigger pulse 3
It is generated as a logical product output when 4 is lost. Three
Reference numeral 6 is a gate position pulse, which is generated as a pulse having a pulse width corresponding to the set time, starting from the surface echo detection pulse 35.

【0005】37は、いわゆるゲートパルス(ゲート幅
パルス)で前記ゲート位置パルス36の後縁(立下が
り)を起点に発生し、設定された時間に対応するパルス
幅を持つパルスである。このように、ゲート幅パルス3
7は、同期信号33の発生に応じ、かつ表面エコーSの
発生タイミングに同期して、設定された時間に設定され
た幅で発生する。
37 is a so-called gate pulse (gate width pulse) which is generated from the trailing edge (falling edge) of the gate position pulse 36 and has a pulse width corresponding to the set time. Thus, the gate width pulse 3
7 is generated with the width set at the set time in response to the generation of the synchronization signal 33 and in synchronization with the generation timing of the surface echo S.

【0006】このような方式によるゲートパルスの発生
は、一般に表面エコー同期ゲートモードと呼ばれるもの
であって、表面エコーSを基準にゲートをかけているの
で、プローブと被検体までの距離(水距離という)が変
化しても表面エコーSからのゲート位置が変化しない特
徴がある。なお、遅延トリガパルス34は、表面エコー
Sを検出する手段として用いるパルスであって、このパ
ルスがLOWレベル(以下“L”)の期間は、表面エコ
ーSが検出されない。このことで表面エコーSの検出ま
での不要信号の検出が抑止される。
The generation of the gate pulse by such a method is generally called a surface echo synchronous gating mode, and since the gate is applied based on the surface echo S, the distance between the probe and the object (water distance) That is, the gate position from the surface echo S does not change even if the value of () is changed. The delayed trigger pulse 34 is a pulse used as a means for detecting the surface echo S, and the surface echo S is not detected while this pulse is at the LOW level (hereinafter "L"). This suppresses the detection of unnecessary signals until the detection of the surface echo S.

【0007】一方、ゲートをかける方式には主同期ゲー
トモードと呼ばれるもう一つの方式があって、これは、
同期信号33を基準としてゲートパルスを発生する方法
である。すなわち、ゲート位置パルス36は、同期信号
33の前縁(立上がり)を起点として発生し、ゲート幅
パルス37は、前述と同様にこのゲート位置パルス36
の後縁を起点として発生する。以上のような2つのゲー
トモードは、選択できるようになっていて、遅延トリガ
パルス34、ゲート位置パルス36、ゲート幅パルス3
7の値については、特に、規格等で定められてはいない
ので超音波測定装置によってまちまちであるが、一例と
して挙げると、遅延トリガパルスは、 0.5〜400 μs、
ゲート位置パルスは、 0.1〜300 μs、ゲート幅パルス
は、 0.1〜800 μsである。
On the other hand, there is another method called a main synchronous gate mode in the method of applying a gate.
This is a method of generating a gate pulse based on the synchronization signal 33. That is, the gate position pulse 36 is generated with the leading edge (rising edge) of the synchronization signal 33 as a starting point, and the gate width pulse 37 is the same as that described above.
It occurs from the trailing edge of the. The above two gate modes can be selected, and the delay trigger pulse 34, the gate position pulse 36, and the gate width pulse 3 are selected.
The value of 7 is not specified in the standard, and therefore varies depending on the ultrasonic measuring device. However, as an example, the delay trigger pulse is 0.5 to 400 μs,
The gate position pulse is 0.1 to 300 μs, and the gate width pulse is 0.1 to 800 μs.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】このような従来の超音
波測定装置のゲートパルス発生回路では、表面エコー同
期モードでのゲートパルスの発生は、通常エコー受信信
号が所定のスレッシュホールドレベルと比較されてこの
スレッシュホールドを越えているときに対応するパルス
として表面エコーの検出パルスが生成され(図3の破線
部分参照)、この検出パルスに同期してゲート位置パル
スが生成されこのゲート位置パルスの終了タイミングに
応じてゲートパルスが生成される(図3の矢印部分参
照)。そこで、表面エコーの受信からゲートパルスの発
生に至るまでの間には、表面エコーの検出回路とゲート
位置パルスの生成回路とゲートパルスの発生開始の回路
と、この順に上記の各信号が伝搬する。
In such a gate pulse generating circuit of the conventional ultrasonic measuring apparatus, the generation of the gate pulse in the surface echo synchronization mode is normally performed by comparing the echo reception signal with a predetermined threshold level. When the lever exceeds the threshold, a surface echo detection pulse is generated as a corresponding pulse (see the broken line portion in FIG. 3), a gate position pulse is generated in synchronization with this detection pulse, and this gate position pulse ends. A gate pulse is generated according to the timing (see the arrow portion in FIG. 3). Therefore, from the reception of the surface echo to the generation of the gate pulse, the surface echo detection circuit, the gate position pulse generation circuit, and the gate pulse generation start circuit, and the above signals propagate in this order. .

【0009】このため、それぞれの回路での伝搬遅延時
間が重なり、例えゲート位置パルスの幅を最小に設定し
たとしても、表面エコーの受信からゲートパルスの発生
に至るまでの遅延時間は、完全には無くすることができ
ない。そして、このままの構成でそれを100nsの程
度以下にするには、高価な特別の超高速論理素子等を用
いることになるが、それでも、回路実装や調整等が極め
て困難である。しかし、超音波探傷技術の応用範囲が薄
物や薄膜等を対象とする分野にも広がり、特に最近はI
Cチップに対する探傷の要求も高まってきている。この
ような微細構造物の探傷では、その内部の探傷もさるこ
とながら、その表面直下の欠陥を検出することも重要で
ある。
Therefore, the propagation delay times in the respective circuits are overlapped, and even if the width of the gate position pulse is set to the minimum, the delay time from the reception of the surface echo to the generation of the gate pulse is completely. Cannot be lost. Then, in order to reduce it to about 100 ns or less with this configuration, an expensive special ultra-high-speed logic element or the like is used, but even then, circuit mounting, adjustment, etc. are extremely difficult. However, the application range of ultrasonic flaw detection technology has expanded to the field of thin and thin films, and recently, I
The demand for flaw detection on C chips is also increasing. In flaw detection of such a fine structure, it is important to detect flaws directly below the surface as well as flaw detection inside.

【0010】そこで、このようなニーズに応えるために
は、表面エコーの受信からゲートパルスの発生に至るま
での遅延時間を、50nsの程度以下にすることが必要
とされる。これは現状の限界を越えるものであり、この
ままでは問題である。この発明の目的は、このような従
来技術の問題点を解決するものであって、表面エコーの
受信からゲートパルスの発生に至るまでの遅延時間を小
さくできる又は無くすことができる超音波測定装置のゲ
ートパルス発生回路を実現することである。
Therefore, in order to meet such needs, it is necessary to set the delay time from the reception of the surface echo to the generation of the gate pulse to about 50 ns or less. This is beyond the limits of the current situation, and it remains a problem. An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to provide an ultrasonic measurement device capable of reducing or eliminating the delay time from the reception of a surface echo to the generation of a gate pulse. It is to realize a gate pulse generation circuit.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るこの発明の超音波測定装置のゲートパルス発生回路の
第1の構成は、被検体に超音波を発信しその反射波をエ
コー信号として測定する超音波測定装置の回路であっ
て、前記エコー信号の一部分を特定するためのタイミン
グパルスであるゲートパルスを発生する超音波測定装置
のゲートパルス発生回路において、前記超音波の発信タ
イミングに同期した同期信号を受け、この同期信号に同
期して一定の周期でクロックを発生するクロック発生回
路と、前記同期信号を受けてカウント値がリセットさ
れ、前記クロックをカウントするカウンタ回路と、前記
被検体の表面からの反射を示す表面エコーが前記エコー
信号の中から検出された検出タイミングに応じて、前記
カウンタのその時のカウント値をラッチするラッチ回路
と、表面エコーの検出タイミングを基準として前記クロ
ックの周期によって決定されるゲートパルス発生までの
期間を示す第1のデータと、表面エコーの検出タイミン
グを基準として前記クロックの周期によって決定される
ゲートパルス終了までの期間(又はゲートパルスの幅)
を示す第2のデータとを有し、前記ラッチ回路での前記
ラッチのタイミング以前のタイミングに前記ラッチ回路
のラッチしていた前回のカウント値が入力されて保持
し、前記の前回のカウント値と前記第1のデータとの和
を第1の比較値として出力し、前記の前回のカウント値
と前記第2のデータとの和(又は前記の前回のカウント
値と前記第1のデータと前記第2のデータとの和)を第
2の比較値として出力する演算制御回路と、を備え、前
記カウンタ回路のカウント値と前記第1の比較値とが一
致するタイミングに基づいて前記ゲートパルスが発生さ
れ、前記カウンタ回路のカウント値と前記第2の比較値
とが一致するタイミングに基づいて前記ゲートパルスが
終了されるものである。
The first configuration of the gate pulse generating circuit of the ultrasonic measuring apparatus of the present invention which achieves the above object is to transmit an ultrasonic wave to a subject and use its reflected wave as an echo signal. A circuit of an ultrasonic measuring device for measuring, wherein a gate pulse generating circuit of an ultrasonic measuring device for generating a gate pulse, which is a timing pulse for specifying a part of the echo signal, is synchronized with the transmission timing of the ultrasonic wave. A clock generation circuit that receives the synchronized signal and generates a clock at a fixed cycle in synchronization with the synchronized signal; a counter circuit that receives the synchronized signal and resets a count value; and counts the clock; The surface echo indicating the reflection from the surface of the counter is detected by the counter according to the detection timing detected from the echo signal. A latch circuit for latching the input value, first data indicating a period until the gate pulse is generated, which is determined by the cycle of the clock with reference to the detection timing of the surface echo, and the clock of the clock with the detection timing of the surface echo as the reference. Period (or gate pulse width) until the end of the gate pulse determined by the cycle
And second data indicating that the previous count value latched by the latch circuit is input and held at a timing before the latch timing in the latch circuit, and The sum of the first data is output as a first comparison value, and the sum of the previous count value and the second data (or the previous count value, the first data, and the first data is output). And a calculation control circuit for outputting a sum of the data of 2) as a second comparison value, and the gate pulse is generated based on a timing at which the count value of the counter circuit and the first comparison value match. Then, the gate pulse is ended based on the timing when the count value of the counter circuit and the second comparison value match.

【0012】先の目的を達成するこの発明の超音波測定
装置のゲートパルス発生回路の第2の構成は、被検体に
超音波を発信しその反射波をエコー信号として測定する
超音波測定装置の回路であって、前記エコー信号の一部
分を特定するためのタイミングパルスであるゲートパル
スを発生する超音波測定装置のゲートパルス発生回路に
おいて、前記超音波の発信タイミングに同期した同期信
号を受け、この同期信号に同期して一定の周期でクロッ
クを発生するクロック発生回路と、前記同期信号を受け
てカウント値がリセットされ、前記クロックをカウント
するカウンタ回路と、前記被検体の表面からの反射を示
す表面エコーが前記エコー信号の中から検出された検出
タイミングに応じて、前記カウンタのその時のカウント
値をラッチするラッチ回路と、前記被検体の測定深さの
範囲の始めを示す第1の設定値が入力されて前記クロッ
クの周期を基準としてこの設定値の示す深さまでのエコ
ー信号における期間に対応する第1のデータが算出さ
れ、前記被検体の測定深さの範囲の終わりを示す第2の
設定値(又はその範囲に相当する値の設定値)が入力さ
れて前記クロックの周期を基準としてこの設定値の示す
深さまでのエコー信号における期間(又は前記測定深さ
の範囲のエコー信号における期間)に対応する第2のデ
ータが算出され、前記同期信号のタイミングを前記基準
タイミングとする主同期ゲートモードと表面エコーの検
出タイミングを前記基準タイミングとする表面エコー同
期ゲートモードの何れか一方のゲートモードが選択さ
れ、前記ラッチ回路での前記ラッチのタイミング以前の
タイミングに前記ラッチ回路のラッチしていた前回のカ
ウント値を入力して保持し、前記主同期ゲートモードが
選択されているときには前記第1のデータを第1の比較
値として出力し前記第2のデータを第2の比較値として
出力し、前記表面エコー同期ゲートモードが選択されて
いるときには前記の前回のカウント値と前記第1のデー
タとの和を前記第1の比較値として出力し前記の前回の
カウント値と前記第2のデータとの和(又は前記の前回
のカウント値と前記第1のデータと前記第2のデータと
の和)を前記第2の比較値として出力する演算制御回路
と、を備え、前記カウンタ回路のカウント値と前記第1
の比較値とが一致するタイミングに基づいて前記ゲート
パルスが発生され、前記カウンタ回路のカウント値と前
記第2の比較値とが一致するタイミングに基づいて前記
ゲートパルスが終了されるものである。
The second structure of the gate pulse generating circuit of the ultrasonic measuring apparatus of the present invention which achieves the above object is an ultrasonic measuring apparatus for transmitting ultrasonic waves to a subject and measuring the reflected wave as an echo signal. A circuit, in a gate pulse generation circuit of an ultrasonic measurement device for generating a gate pulse which is a timing pulse for specifying a part of the echo signal, receives a synchronization signal synchronized with the transmission timing of the ultrasonic wave, A clock generation circuit that generates a clock at a constant cycle in synchronization with a synchronization signal, a counter circuit that receives the synchronization signal and resets a count value, counts the clock, and a reflection from the surface of the subject A latch for latching the count value of the counter at that time according to the detection timing at which the surface echo is detected from the echo signal. H circuit and a first set value indicating the beginning of the range of the measured depth of the subject are input, and the first set value corresponding to the period in the echo signal up to the depth indicated by the set value is set on the basis of the cycle of the clock. Data is calculated, a second set value indicating the end of the range of the measurement depth of the subject (or a set value of a value corresponding to the range) is input, and the set value is set based on the cycle of the clock. The second data corresponding to the period in the echo signal up to the depth indicated by (or the period in the echo signal in the range of the measurement depth) is calculated, and the main synchronization gate mode in which the timing of the synchronization signal is the reference timing One of the gate modes of the surface echo synchronization gate mode, which uses the detection timing of the surface echo as the reference timing, is selected, and the latch circuit in the latch circuit is selected. The previous count value latched by the latch circuit is input and held at a timing before the muting, and when the main synchronization gate mode is selected, the first data is output as a first comparison value. The second data is output as a second comparison value, and when the surface echo synchronization gate mode is selected, the sum of the previous count value and the first data is output as the first comparison value. Then, the sum of the previous count value and the second data (or the sum of the previous count value, the first data and the second data) is output as the second comparison value. An arithmetic control circuit; and a count value of the counter circuit and the first value.
The gate pulse is generated on the basis of the timing at which the comparison value of 1 and the comparison value of 1 are coincident with each other, and the gate pulse is terminated on the timing at which the count value of the counter circuit and the second comparison value coincide.

【0013】[0013]

【作用】このような構成のこの発明の超音波測定装置の
ゲートパルス発生回路では、表面エコー同期ゲートモー
ドが選択されているときには、前回の測定行為で得られ
た表面エコーの発生タイミングが、ラッチ回路にラッチ
された前回のカウント値として、今回の測定行為の前半
まで保持される。そして、これを以て今回の表面エコー
の発生タイミングが推定される。そこで、この推定され
た表面エコーの発生タイミングに合わせることにより、
現測定における表面エコーの検出を待たなくても、表面
エコーに同期したゲートパルスを発生することが可能と
なる。
In the gate pulse generating circuit of the ultrasonic measuring apparatus of the present invention having such a structure, when the surface echo synchronization gate mode is selected, the generation timing of the surface echo obtained in the previous measurement operation is latched. The previous count value latched in the circuit is held until the first half of this measurement action. Then, the generation timing of the current surface echo is estimated based on this. Therefore, by matching the estimated generation timing of the surface echo,
It is possible to generate the gate pulse synchronized with the surface echo without waiting for the detection of the surface echo in the current measurement.

【0014】したがって、表面エコーの受信からゲート
パルスの発生に至るまでの時間は、クロックの周期を単
位として任意に設定可能であり、その時間をゼロにする
こともできる。また、第2の構成のこの発明の超音波測
定装置のゲートパルス発生回路では、被検体の表面に超
音波のプローブを接触させて測定するときには主同期ゲ
ートモードを選択し、被検体の表面から超音波のプロー
ブを離した状態で測定するときには表面エコー同期ゲー
トモードを選択するだけで、被検体とプローブ間距離の
設定等の面倒な設定や操作をする必要がなく、ゲートパ
ルスの設定が両ゲートモードで同様の操作で行うことが
できる。したがって、ゲートパルスの設定が容易であ
り、誤操作や誤測定のおそれも少ない。
Therefore, the time from the reception of the surface echo to the generation of the gate pulse can be arbitrarily set with the clock cycle as a unit, and the time can be set to zero. Further, in the gate pulse generating circuit of the ultrasonic measuring apparatus of the second configuration of the present invention, when the ultrasonic probe is brought into contact with the surface of the object to be measured, the main synchronous gate mode is selected, When measuring with the ultrasonic probe separated, simply select the surface echo synchronous gate mode, and you do not have to perform troublesome settings and operations such as setting the distance between the subject and the probe. The same operation can be performed in the gate mode. Therefore, setting of the gate pulse is easy, and there is little risk of erroneous operation or erroneous measurement.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して詳
細に説明する。図1は、この発明の超音波測定装置のゲ
ートパルス発生回路を適用した一実施例のブロック図、
図2は表面エコー同期ゲートモード時のその動作を説明
するための波形例であり、図3は主同期ゲートモード時
のその動作を説明するための波形例である。図1におい
て、1はクロック発生回路、2はカウンタ回路、3はラ
ッチ回路、4,5,6は比較器、7,8はフリップフロ
ップ、9はスイッチ回路、10はANDゲート、11は
コントローラであり、その構成は以下に詳述する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of an embodiment to which a gate pulse generating circuit of an ultrasonic measuring device of the present invention is applied,
FIG. 2 is a waveform example for explaining the operation in the surface echo synchronization gate mode, and FIG. 3 is an example waveform for explaining the operation in the main synchronization gate mode. In FIG. 1, 1 is a clock generation circuit, 2 is a counter circuit, 3 is a latch circuit, 4, 5 and 6 are comparators, 7 and 8 are flip-flops, 9 is a switch circuit, 10 is an AND gate, and 11 is a controller. Yes, its configuration will be described in detail below.

【0016】クロック発生回路1は、遅延素子とゲート
の入力と出力がループ状に接続されて、この遅延素子の
遅延時間に対応した一定の周期で発振する。この発振に
より、クロックを発生する。また、このゲートの他の入
力には超音波の発信に同期した同期信号33を受け、同
期信号33が有意(“L”)の間はこのゲートの出力が
固定されて発振が止められ、同期信号33が有意でなく
なると(“H”)同時に発振が再開される。これによ
り、このクロックの位相は、同期信号33に同期する。
つまり、超音波の発信に同期する。
In the clock generating circuit 1, the input and output of the delay element and the gate are connected in a loop and oscillate at a constant cycle corresponding to the delay time of the delay element. A clock is generated by this oscillation. Further, the other input of this gate receives a synchronizing signal 33 synchronized with the transmission of ultrasonic waves, and while the synchronizing signal 33 is significant (“L”), the output of this gate is fixed and oscillation is stopped, thus When the signal 33 becomes insignificant (“H”), oscillation is restarted at the same time. As a result, the phase of this clock is synchronized with the synchronization signal 33.
That is, it is synchronized with the transmission of ultrasonic waves.

【0017】カウンタ回路2は、同期信号33
(“L”)を受けてカウント値がリセットされ、同期信
号33が有意でない(“H”)ときには、クロック発生
回路1からのクロックをカウントする。つまり、超音波
の発信後の経過時間を計数する。ラッチ回路3は、カウ
ンタ回路2におけるカウンタのビット数に応じたビット
数を有するラッチを主体とする回路である。このラッチ
は、今回の超音波測定で得られた表面エコーの検出パル
ス35を受けて(検出回路は図示せず)、この検出パル
ス35のタイミングに応じて、カウンタ回路2のそのと
きのカウント値2aをラッチする。
The counter circuit 2 has a synchronizing signal 33.
The count value is reset in response to ("L"), and when the synchronization signal 33 is not significant ("H"), the clock from the clock generation circuit 1 is counted. That is, the elapsed time after the transmission of ultrasonic waves is counted. The latch circuit 3 is a circuit mainly composed of a latch having a bit number corresponding to the bit number of the counter in the counter circuit 2. This latch receives the detection pulse 35 of the surface echo obtained by the ultrasonic measurement this time (the detection circuit is not shown), and according to the timing of this detection pulse 35, the count value of the counter circuit 2 at that time is detected. Latch 2a.

【0018】つまり、今回の超音波測定での超音波発信
から表面エコー受信までのカウント値をラッチする。こ
のラッチ状態は次回の超音波測定で新たな表面エコーを
受信するまでは維持される。そこで、今回のカウント値
をラッチするまでは、前回のカウント値が保持されてい
る。もっとも、前回の測定が存在しない初回の超音波測
定だけは除かれる。つまり、新たな表面エコーの受信ま
では、前回の超音波測定での超音波発信から表面エコー
受信までのカウント値が保持されている。
That is, the count value from the ultrasonic wave transmission to the surface echo reception in this ultrasonic measurement is latched. This latched state is maintained until a new surface echo is received in the next ultrasonic measurement. Therefore, the previous count value is held until the current count value is latched. However, only the first ultrasonic measurement, which has no previous measurement, is excluded. In other words, until the reception of a new surface echo, the count value from the ultrasonic wave transmission in the previous ultrasonic measurement to the surface echo reception is held.

【0019】コントローラ11は、マイクロコンピュー
タを主体として構成され、詳細な図示は省略するが各処
理に対応したプログラムの実行等によって以下の入力処
理や演算,制御等を行う回路である。その処理の第1
は、ゲートパルスの発生タイミングを示す第1の期間又
はこれに相当する第1の設定値が、例えばキーボードや
ボリューム回路等(図示せず)を介して入力される。さ
らに、この期間は、クロックの周期を基準の単位時間と
する整数値とされる。この整数値が、基準となるタイミ
ングからゲートパルス発生までの期間を示す第1のデー
タである。
The controller 11 is mainly composed of a microcomputer, and although not shown in detail, it is a circuit for performing the following input processing, calculation, control, etc. by executing a program corresponding to each processing. First of the processing
Is input with a first period indicating the generation timing of the gate pulse or a first set value corresponding thereto, for example, via a keyboard, a volume circuit, or the like (not shown). Furthermore, this period is an integer value with the clock cycle as a reference unit time. This integer value is the first data indicating the period from the reference timing to the generation of the gate pulse.

【0020】その処理の第2は、ゲートパルスの終了タ
イミングを示す第2の期間又はこれに相当する第2の設
定値が、やはりキーボードやボリューム回路等を介して
入力される。さらに、この期間は、クロックの周期を基
準の単位時間とする整数値とされる。この整数値が、基
準となるタイミングからゲートパルス終了までの期間を
示す第2のデータである。なお、この第2の期間の代わ
りに、ゲートパルスの幅又はこれに相当する測定深さの
範囲を入力してもよい。その処理の第3は、主同期ゲー
トモードと表面エコー同期ゲートモードの何れのゲート
モードで装置が動作すべきかについての指示が、例えば
キーボードを介して入力され、それに対応したゲートモ
ードが選択される。
In the second of the processing, the second period indicating the end timing of the gate pulse or the second set value corresponding thereto is also input via the keyboard, the volume circuit or the like. Furthermore, this period is an integer value with the clock cycle as a reference unit time. This integer value is the second data indicating the period from the reference timing to the end of the gate pulse. Note that instead of the second period, the width of the gate pulse or the range of the measurement depth corresponding to this may be input. The third of the processings is that an instruction as to which of the main synchronization gate mode and the surface echo synchronization gate mode the device should operate is input through, for example, the keyboard, and the corresponding gate mode is selected. .

【0021】その処理の第4は、前回の超音波測定終了
から今回の超音波測定の開始までの間に、ラッチ回路3
の保持するカウント値3bを入力しておく。すなわち、
前回の超音波測定での超音波発信から表面エコー受信ま
でのカウント値が入力される。超音波測定の一回のサイ
クルは極めて短時間であり、これに対してプローブと被
検体の位置は固定されているのが通常であり、例え固定
されていない場合でもプローブや被検体等の機械物は慣
性が大きくその相対位置の変動は穏やかである。そこ
で、この前回のカウント値は、今回の表面エコー受信ま
でのカウント値すなわちプローブと被検体の距離相当値
の良い推定値である。
The fourth processing is the latch circuit 3 between the end of the previous ultrasonic measurement and the start of the present ultrasonic measurement.
The count value 3b held by is input. That is,
The count value from the ultrasonic wave transmission in the previous ultrasonic wave measurement to the surface echo reception is input. One cycle of ultrasonic measurement is extremely short, whereas the positions of the probe and the subject are usually fixed, and even if they are not fixed, the machine of the probe or the subject is not fixed. An object has a large inertia and its relative position fluctuates gently. Therefore, this previous count value is a good estimate value of the count value up to this time surface echo reception, that is, the distance equivalent value between the probe and the subject.

【0022】その処理の第5は、主同期ゲートモードが
選択されているときの処理である。この処理では、第1
のデータを第1の比較値5aとして出力し、第2のデー
タを第2の比較値6aとして出力する。よって、これら
の比較値5a,6aは、同期信号33を基準としたゲー
トパルス発生・終了タイミングに対応した値である。さ
らに、スイッチ回路9を制御してANDゲート10の出
力10aを固定する。これにより、フリップフロップ7
のセット信号10aが抑制される。
The fifth of the processes is a process when the main synchronous gate mode is selected. In this process,
Is output as the first comparison value 5a, and the second data is output as the second comparison value 6a. Therefore, these comparison values 5a and 6a are values corresponding to the gate pulse generation / end timing with reference to the synchronization signal 33. Further, the switch circuit 9 is controlled to fix the output 10a of the AND gate 10. As a result, the flip-flop 7
The set signal 10a is suppressed.

【0023】その処理の第6は、表面エコー同期ゲート
モードが選択されているときの処理であり、第5の処理
と選択的に何れかの処理が行われる。これは、第4の処
理で入力した前回のカウント値と第1のデータとの和を
第1の比較値5aとして出力し、前回のカウント値と第
2のデータとの和を第2の比較値6aとして出力する。
このように同期信号から表面エコーまでの値(カウント
値)に、表面エコーを基準とした値(データ)が加算さ
れているので、これらの比較値5a,6aも、推定値で
はあるが、同期信号33を基準としてゲートパルス発生
・終了タイミングに対応する値である。
The sixth of the processes is a process when the surface echo synchronization gate mode is selected, and any one of the processes is selectively performed in addition to the fifth process. This is to output the sum of the previous count value input in the fourth process and the first data as the first comparison value 5a, and to output the sum of the previous count value and the second data to the second comparison value 5a. Output as value 6a.
In this way, since the value (data) based on the surface echo is added to the value (count value) from the synchronization signal to the surface echo, these comparison values 5a and 6a are also estimated values, but It is a value corresponding to the gate pulse generation / end timing with reference to the signal 33.

【0024】この同期信号33を基準とする推定値すな
わち測定された距離相当値を用いることから、ゲートパ
ルスの発生タイミングの設定の自由度が大きく、課題の
遅延時間を50ns以下にすることが可能であり、極端
な例としては表面エコー受信以前のタイミングに設定す
ることも可能である。なお、第2の処理で第2の期間の
代わりにゲートパルスの幅が入力された場合には、前回
のカウント値と第1のデータと第2のデータとの和を第
2の比較値6aとするとよい。
Since the estimated value based on the synchronization signal 33, that is, the measured distance equivalent value is used, the degree of freedom in setting the gate pulse generation timing is large, and the delay time of the problem can be 50 ns or less. As an extreme example, it is possible to set the timing before receiving the surface echo. When the width of the gate pulse is input instead of the second period in the second processing, the sum of the previous count value, the first data, and the second data is used as the second comparison value 6a. It is good to

【0025】また、第6の処理では、前回のカウント値
あるいは伝搬遅延時間のばらつき等を考慮した所定値を
前回のカウント値に加減した値が、第3の比較値4aと
して出力される。この比較値4aは、表面エコー以前の
ノイズ抑制期間に対応する。さらに、スイッチ回路9を
制御してANDゲート10に同期信号33をそのまま出
力10aとして出力させる。これにより、フリップフロ
ップ7がセット信号10aとして同期信号33を受け
る。
Further, in the sixth processing, a value obtained by adding or subtracting a predetermined value considering the previous count value or the variation of the propagation delay time to the previous count value is output as the third comparison value 4a. This comparison value 4a corresponds to the noise suppression period before the surface echo. Further, the switch circuit 9 is controlled to cause the AND gate 10 to output the synchronization signal 33 as it is as the output 10a. As a result, the flip-flop 7 receives the synchronization signal 33 as the set signal 10a.

【0026】比較器5は、カウント値2aと第1の比較
値5aとを受けてこれらを比較し、これらが一致したタ
イミング、すなわち同期信号33を基準としてゲートパ
ルスが発生すべきタイミングを示す比較結果をフリップ
フロップ8に送出する。比較器6は、カウント値2aと
第2の比較値6aとを受けてこれらを比較し、これらが
一致したタイミング、すなわち同期信号33を基準とし
てゲートパルスが終了すべきタイミングを示す比較結果
をフリップフロップ8に送出する。
The comparator 5 receives the count value 2a and the first comparison value 5a and compares them, and compares the timings, that is, the timings at which the gate pulse should be generated with reference to the synchronization signal 33. The result is sent to the flip-flop 8. The comparator 6 receives the count value 2a and the second comparison value 6a, compares them, and compares the timings, that is, the comparison result indicating the timing at which the gate pulse should end with the synchronization signal 33 as a reference. Send to p8.

【0027】フリップフロップ8は、比較器5からの比
較結果を受けてセットされ、比較器6からの比較結果を
受けてリセットされる。したがって、フリップフロップ
8から出力されるゲートパルス37は、主同期ゲートモ
ードでも表面エコー同期ゲートモードでも同期信号33
を基準として設定されたタイミングに対応する。このよ
うに、基準タイミングが統一されてカウンタ回路が1つ
で済むので、面倒な複数のカウンタ回路間のスキュー等
のタイミング調整が不要となる。
The flip-flop 8 is set upon receiving the comparison result from the comparator 5 and reset upon receiving the comparison result from the comparator 6. Therefore, the gate pulse 37 output from the flip-flop 8 is the synchronization signal 33 in both the main synchronization gate mode and the surface echo synchronization gate mode.
Corresponds to the timing set with reference to. In this way, since the reference timing is unified and only one counter circuit is required, it is not necessary to perform troublesome timing adjustment such as skew between a plurality of counter circuits.

【0028】また、比較器4は、カウント値2aと第3
の比較値4aとを受けてこれらを比較し、これらが一致
したタイミング、すなわち同期信号33を基準として表
面エコー以前のノイズ抑制期間が終了すべきタイミング
を示す比較結果をフリップフロップ7に送出する。フリ
ップフロップ7は、表面エコー同期モードのときにはA
NDゲート10を介する同期信号33のタイミングでリ
セットされ、比較器4からの比較結果を受けてセットさ
れる。主同期モードのときにはリセットされることがな
い。
Further, the comparator 4 uses the count value 2a and the third value.
The comparison result 4a is compared with each other, and the comparison results are sent to the flip-flop 7, which indicates the timing at which they coincide with each other, that is, the timing at which the noise suppression period before the surface echo should end with reference to the synchronization signal 33. The flip-flop 7 is A when in the surface echo synchronization mode.
It is reset at the timing of the synchronization signal 33 via the ND gate 10 and is set upon receiving the comparison result from the comparator 4. It is not reset in the main synchronization mode.

【0029】そこで、フリップフロップ7からの反転出
力として出力されるノイズマスク用パルス(従来の遅延
トリガパルスのノイズ抑制機能のみ抽出した信号)34
は、元々不要な主同期ゲートモードでは出力されず、必
要とされる表面エコー同期ゲートモードでは同期信号3
3を基準として設定されたタイミングに対応して生成さ
れる。そこで、このための回路も単一のカウンタ回路2
を利用することができ、カウンタ回路等の複数化という
不都合を生じることがない。
Therefore, a noise masking pulse output as an inverted output from the flip-flop 7 (a signal obtained by extracting only the noise suppressing function of the conventional delay trigger pulse) 34
Is not output in the main sync gate mode, which is originally unnecessary, and the sync signal 3 is output in the required surface echo sync gate mode.
It is generated corresponding to the timing set based on 3. Therefore, the circuit for this is also a single counter circuit 2
Can be used, and the inconvenience of multiple counter circuits and the like does not occur.

【0030】このような構成の下、先ず、被検体にプロ
ーブを接触させて超音波測定を行う直接測定法の場合
は、キーボード等を介して、主同期ゲートモードを指定
する。さらに、測定深さの範囲を示すゲートパルスの発
生と終了のタイミングを指定する。そして、測定の開始
を指示すると、超音波測定が繰り返される。このとき、
最初の測定サイクルだけは有効な測定が行われないが、
短時間に測定が繰り返されるので、実用上特に問題はな
いし、最初のサイクルだけ測定結果の出力を抑制するこ
ととしてもよい。この直接測定法では、超音波の発信タ
イミングと表面エコーの受信タイミングとは一体として
重なることから、同期信号33に基づくゲートパルスに
より被検体についての測定深さの範囲が特定される。
With such a configuration, first, in the case of the direct measurement method in which a probe is brought into contact with a subject to perform ultrasonic measurement, the main synchronous gate mode is designated via a keyboard or the like. Further, the timing of generation and termination of the gate pulse indicating the range of measurement depth is specified. Then, when the start of measurement is instructed, ultrasonic measurement is repeated. At this time,
Only the first measurement cycle does not make a valid measurement,
Since the measurement is repeated in a short time, there is no particular problem in practice, and the output of the measurement result may be suppressed only in the first cycle. In this direct measurement method, since the ultrasonic wave transmission timing and the surface echo reception timing overlap as a unit, the range of the measurement depth of the subject is specified by the gate pulse based on the synchronization signal 33.

【0031】次に、従来例で述べた水浸反射法もその1
つであるが、被検体からプローブを離し水等を媒介とし
て非接触で超音波測定を行う間接測定法の場合は、キー
ボード等を介して、表面同期ゲートモードを指定する。
さらに、測定深さの範囲を示すゲートパルスの発生と終
了のタイミングを被検体表面からの深さで指定する。そ
して、測定の開始を指示すると、超音波測定が繰り返さ
れる。このときも、最初の測定サイクルが無効なことは
同様である。この間接測定法では被検体とプローブとの
間に水等が存在することから、超音波の発信タイミング
と表面エコーの受信タイミングとは一致しない。間に介
在する水等のいわゆる水距離に対応して表面エコーが遅
れるのである。
Next, the water immersion reflection method described in the conventional example is also part 1
However, in the case of the indirect measurement method in which the probe is separated from the subject and the ultrasonic measurement is performed in a non-contact manner using water or the like as a medium, the surface synchronization gate mode is designated via a keyboard or the like.
Further, the timing of generation and termination of the gate pulse indicating the range of measurement depth is specified by the depth from the surface of the subject. Then, when the start of measurement is instructed, ultrasonic measurement is repeated. At this time, it is the same that the first measurement cycle is invalid. In this indirect measurement method, since water and the like exist between the subject and the probe, the ultrasonic wave transmission timing and the surface echo reception timing do not match. The surface echo is delayed according to the so-called water distance of water or the like interposed between them.

【0032】これに対処すべく、このゲートパルス発生
回路では、この水距離に対応する遅延時間(図2のt2
参照)が、前回の測定サイクルで得られた遅延時間(図
2のt1参照)を以て推定される。そして、この推定さ
れた遅延時間すなわち測定された水距離を用いて被検体
表面からの深さがプローブからの距離に修正される。そ
こで、やはり、同期信号33に基づくゲートパルスによ
り、被検体の測定深さの範囲が特定される。しかも、既
述の如く任意の深さに設定が可能なので、被検体の表面
直下の深さを特定して探傷することもできる。
To deal with this, in this gate pulse generation circuit, the delay time (t2 in FIG. 2) corresponding to this water distance is
(Reference) is estimated with the delay time (see t1 in FIG. 2) obtained in the previous measurement cycle. Then, by using the estimated delay time, that is, the measured water distance, the depth from the surface of the subject is corrected to the distance from the probe. Therefore, again, the range of the measurement depth of the subject is specified by the gate pulse based on the synchronization signal 33. Moreover, as described above, the depth can be set to an arbitrary value, so that the depth directly below the surface of the subject can be specified for flaw detection.

【0033】また、直接測定法か間接測定法かに応じて
主同期ゲートモード又は表面エコー同期モードの選択を
指示すれば、後は、直接測定法と間接測定法の何れの場
合であっても同様の操作で超音波測定を行うことができ
る。したがって、水距離の測定や設定等の繁雑な処理を
する必要がなくて、便利であり、個人差による測定値の
ばらつきや誤差,誤測定,誤入力,誤操作等の不都合も
なくすことができる。
Further, if the selection of the main synchronous gate mode or the surface echo synchronous mode is instructed according to the direct measurement method or the indirect measurement method, the subsequent steps will be performed regardless of the direct measurement method or the indirect measurement method. Ultrasonic measurement can be performed by the same operation. Therefore, it is not necessary to perform complicated processing such as measurement and setting of water distance, which is convenient, and it is possible to eliminate inconveniences such as variations and errors in measured values due to individual differences, erroneous measurements, erroneous inputs, and erroneous operations.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明の超音波測定装置のゲートパルス発生回路にあって
は、表面エコーの受信タイミングとゲートパルスの発生
タイミングとの先後関係がほぼ任意に設定できる。した
がって、表面エコーの受信からゲートパルスの発生に至
るまでの遅延時間を小さくできる又は無くすることがで
きる。しかも、操作が容易で、測定誤り等も発生し難い
という効果がある。
As can be understood from the above description, in the gate pulse generating circuit of the ultrasonic measuring apparatus of the present invention, the relationship between the reception timing of the surface echo and the generation timing of the gate pulse is almost arbitrary. Can be set. Therefore, the delay time from the reception of the surface echo to the generation of the gate pulse can be reduced or eliminated. Moreover, there is an effect that the operation is easy and a measurement error or the like hardly occurs.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、この発明の構成の超音波測定装置のゲ
ートパルス発生回路の一実施例のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a gate pulse generation circuit of an ultrasonic measurement device having a configuration of the present invention.

【図2】図2は、表面エコー同期モードのときのその波
形例である。
FIG. 2 is an example of the waveform in the surface echo synchronization mode.

【図3】図3は、主同期モードのときのその波形例であ
る。
FIG. 3 is an example of the waveform in the main synchronization mode.

【図4】図4は、従来の超音波測定装置のゲートパルス
発生回路により生成されるゲートパルス等の波形例であ
る。
FIG. 4 is a waveform example of a gate pulse or the like generated by a gate pulse generation circuit of a conventional ultrasonic measurement device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 クロック発生回路 2 カウンタ回路 3 ラッチ回路 4,5,6は比較器 7,8 フリップフロップ 9 スイッチ回路 10 ANDゲート 11 コントローラ 1 clock generation circuit 2 counter circuit 3 latch circuit 4, 5, 6 are comparators 7, 8 flip-flop 9 switch circuit 10 AND gate 11 controller

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被検体に超音波を発信しその反射波をエコ
ー信号として測定する超音波測定装置の回路であって、
前記エコー信号の一部分を特定するためのタイミングパ
ルスであるゲートパルスを発生する超音波測定装置のゲ
ートパルス発生回路において、 前記超音波の発信タイミングに同期した同期信号を受
け、この同期信号に同期して一定の周期でクロックを発
生するクロック発生回路と、 前記同期信号を受けてカウント値がリセットされ、前記
クロックをカウントするカウンタ回路と、 前記被検体の表面からの反射を示す表面エコーが前記エ
コー信号の中から検出された検出タイミングに応じて、
前記カウンタのその時のカウント値をラッチするラッチ
回路と、 表面エコーの検出タイミングを基準として前記クロック
の周期によって決定されるゲートパルス発生までの期間
を示す第1のデータと、表面エコーの検出タイミングを
基準として前記クロックの周期によって決定されるゲー
トパルス終了までの期間(又はゲートパルスの幅)を示
す第2のデータとを有し、前記ラッチ回路での前記ラッ
チのタイミング以前のタイミングに前記ラッチ回路のラ
ッチしていた前回のカウント値が入力されて保持し、前
記の前回のカウント値と前記第1のデータとの和を第1
の比較値として出力し、前記の前回のカウント値と前記
第2のデータとの和(又は前記の前回のカウント値と前
記第1のデータと前記第2のデータとの和)を第2の比
較値として出力する演算制御回路と、 を備え、前記カウンタ回路のカウント値と前記第1の比
較値とが一致するタイミングに基づいて前記ゲートパル
スが発生され、前記カウンタ回路のカウント値と前記第
2の比較値とが一致するタイミングに基づいて前記ゲー
トパルスが終了されることを特徴とする超音波測定装置
のゲートパルス発生回路。
1. A circuit of an ultrasonic measurement device for transmitting an ultrasonic wave to a subject and measuring the reflected wave as an echo signal, comprising:
In a gate pulse generation circuit of an ultrasonic measurement device for generating a gate pulse which is a timing pulse for specifying a part of the echo signal, a synchronization signal synchronized with the transmission timing of the ultrasonic wave is received and synchronized with this synchronization signal. A clock generation circuit that generates a clock at a fixed cycle, a counter circuit that receives the synchronization signal and resets a count value and counts the clock, and a surface echo that indicates reflection from the surface of the subject is the echo. Depending on the detection timing detected from the signal,
A latch circuit for latching the count value of the counter at that time; first data indicating a period until the gate pulse is generated, which is determined by the cycle of the clock with reference to the detection timing of the surface echo, and the detection timing of the surface echo. Second data indicating a period until the end of the gate pulse (or the width of the gate pulse) determined by the cycle of the clock as a reference, and the latch circuit is set at a timing before the latch timing in the latch circuit. The latched previous count value is input and held, and the sum of the previous count value and the first data is first
And outputs the sum of the previous count value and the second data (or the sum of the previous count value, the first data, and the second data) as the second comparison value. An arithmetic control circuit for outputting as a comparison value, and the gate pulse is generated based on a timing at which the count value of the counter circuit and the first comparison value match, and the count value of the counter circuit and the first comparison value are generated. The gate pulse generation circuit of the ultrasonic measurement device, wherein the gate pulse is ended based on the timing when the comparison value of 2 matches.
【請求項2】被検体に超音波を発信しその反射波をエコ
ー信号として測定する超音波測定装置の回路であって、
前記エコー信号の一部分を特定するためのタイミングパ
ルスであるゲートパルスを発生する超音波測定装置のゲ
ートパルス発生回路において、 前記超音波の発信タイミングに同期した同期信号を受
け、この同期信号に同期して一定の周期でクロックを発
生するクロック発生回路と、 前記同期信号を受けてカウント値がリセットされ、前記
クロックをカウントするカウンタ回路と、 前記被検体の表面からの反射を示す表面エコーが前記エ
コー信号の中から検出された検出タイミングに応じて、
前記カウンタのその時のカウント値をラッチするラッチ
回路と、 前記被検体の測定深さの範囲の始めを示す第1の設定値
が入力されて前記クロックの周期を基準としてこの設定
値の示す深さまでのエコー信号における期間に対応する
第1のデータが算出され、前記被検体の測定深さの範囲
の終わりを示す第2の設定値(又はその範囲に相当する
値の設定値)が入力されて前記クロックの周期を基準と
してこの設定値の示す深さまでのエコー信号における期
間(又は前記測定深さの範囲のエコー信号における期
間)に対応する第2のデータが算出され、前記同期信号
のタイミングを前記基準タイミングとする主同期ゲート
モードと表面エコーの検出タイミングを前記基準タイミ
ングとする表面エコー同期ゲートモードの何れか一方の
ゲートモードが選択され、前記ラッチ回路での前記ラッ
チのタイミング以前のタイミングに前記ラッチ回路のラ
ッチしていた前回のカウント値を入力して保持し、前記
主同期ゲートモードが選択されているときには前記第1
のデータを第1の比較値として出力し前記第2のデータ
を第2の比較値として出力し、前記表面エコー同期ゲー
トモードが選択されているときには前記の前回のカウン
ト値と前記第1のデータとの和を前記第1の比較値とし
て出力し前記の前回のカウント値と前記第2のデータと
の和(又は前記の前回のカウント値と前記第1のデータ
と前記第2のデータとの和)を前記第2の比較値として
出力する演算制御回路と、 を備え、前記カウンタ回路のカウント値と前記第1の比
較値とが一致するタイミングに基づいて前記ゲートパル
スが発生され、前記カウンタ回路のカウント値と前記第
2の比較値とが一致するタイミングに基づいて前記ゲー
トパルスが終了されることを特徴とする超音波測定装置
のゲートパルス発生回路。
2. A circuit of an ultrasonic measuring device for transmitting an ultrasonic wave to a subject and measuring the reflected wave as an echo signal,
In a gate pulse generation circuit of an ultrasonic measurement device for generating a gate pulse which is a timing pulse for specifying a part of the echo signal, a synchronization signal synchronized with the transmission timing of the ultrasonic wave is received and synchronized with this synchronization signal. A clock generation circuit that generates a clock at a fixed cycle, a counter circuit that receives the synchronization signal and resets a count value and counts the clock, and a surface echo that indicates reflection from the surface of the subject is the echo. Depending on the detection timing detected from the signal,
A latch circuit for latching the count value of the counter at that time, and a first set value indicating the beginning of the range of the measurement depth of the subject are input to the depth indicated by the set value with reference to the cycle of the clock. The first data corresponding to the period in the echo signal is calculated, and the second set value (or set value of a value corresponding to the range) indicating the end of the range of the measurement depth of the subject is input. The second data corresponding to the period in the echo signal up to the depth indicated by the set value (or the period in the echo signal in the range of the measured depth) is calculated based on the clock cycle, and the timing of the synchronization signal is calculated. A gate mode of either the main synchronous gate mode with the reference timing or the surface echo synchronous gate mode with the detection timing of the surface echo as the reference timing. Mode is selected, the previous count value latched by the latch circuit is input and held at a timing before the latch timing in the latch circuit, and when the main synchronization gate mode is selected, 1
Data is output as a first comparison value, the second data is output as a second comparison value, and when the surface echo synchronization gate mode is selected, the previous count value and the first data are output. Is output as the first comparison value, and the sum of the previous count value and the second data (or the previous count value, the first data and the second data) is output. An arithmetic control circuit that outputs the sum) as the second comparison value, and the gate pulse is generated based on the timing at which the count value of the counter circuit and the first comparison value match, A gate pulse generation circuit for an ultrasonic measurement device, wherein the gate pulse is terminated based on a timing at which a count value of the circuit and the second comparison value match.
JP4253902A 1992-08-28 1992-08-28 Gate pulse generating circuit for ultrasonic measuring device Pending JPH0674943A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4253902A JPH0674943A (en) 1992-08-28 1992-08-28 Gate pulse generating circuit for ultrasonic measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4253902A JPH0674943A (en) 1992-08-28 1992-08-28 Gate pulse generating circuit for ultrasonic measuring device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0674943A true JPH0674943A (en) 1994-03-18

Family

ID=17257669

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4253902A Pending JPH0674943A (en) 1992-08-28 1992-08-28 Gate pulse generating circuit for ultrasonic measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0674943A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6314055B1 (en) Range measuring system
JPH0674943A (en) Gate pulse generating circuit for ultrasonic measuring device
JP2631783B2 (en) Ultrasound imaging equipment
JPS5997069A (en) Ultrasonic car height measuring apparatus
JP3089643B2 (en) Partial discharge detection device for electrical equipment
JP2544673B2 (en) Gate pulse generation circuit for ultrasonic measurement equipment
JP2778300B2 (en) Ultrasonic distance measuring device
JP2824844B2 (en) Time measurement circuit of ultrasonic measuring device
JPH0334710Y2 (en)
JPH0894740A (en) Ultrasonic distance measuring apparatus
JP4512247B2 (en) Ultrasonic level gauge
JPS62153782A (en) Ultrasonic range finder
JPH10325870A (en) Ultrasonic range finder
JPH06317418A (en) Ultrasonic measuring instrument
JP2002286701A (en) Measuring value correcting method in ultrasonic sound speed measurement and ultrasonic measuring device
JP2522597B2 (en) Ultrasonic object detector
JP2002181619A (en) Absolute sound speed measuring method and device of ultrasonic wave
JPH0254905B2 (en)
JPH0432351B2 (en)
JPH05107343A (en) Eliminating device for radar interference
JPH03211485A (en) Distance measuring instrument
JPH1183818A (en) Ultrasonic flaw detection apparatus
JPS601552A (en) Ultrasonic flaw detector
JPH08194059A (en) Ultrasonic distance measuring apparatus
JPH0882673A (en) Ultrasonic distance-measuring apparatus