JPH0672834B2 - 波長分散測定装置 - Google Patents
波長分散測定装置Info
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- JPH0672834B2 JPH0672834B2 JP22717884A JP22717884A JPH0672834B2 JP H0672834 B2 JPH0672834 B2 JP H0672834B2 JP 22717884 A JP22717884 A JP 22717884A JP 22717884 A JP22717884 A JP 22717884A JP H0672834 B2 JPH0672834 B2 JP H0672834B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ファイバの基本特性の一つである波長分散
の測定装置に関する。特に、強度変調および波長変調さ
せた光信号を被測定光ファイバに入射させて、この被測
定光ファイバの波長分散を容易に測定できる波長分散測
定方法を用いる装置に関する。
の測定装置に関する。特に、強度変調および波長変調さ
せた光信号を被測定光ファイバに入射させて、この被測
定光ファイバの波長分散を容易に測定できる波長分散測
定方法を用いる装置に関する。
光ファイバ中を光信号が伝搬する速度は光信号の波長に
よって異なる。したがって、波長広がりがある光源から
送出させた光パルス信号のパルス幅は、光ファイバを伝
搬した後に広がるために、帯域幅を狭めなければならず
光信号の伝送速度が制限される。このために、光ファイ
バの遅延時間の波長依存性、すなわち光の波長に依存し
て群速度が異なることにより生ずる波長分散を評価する
ことは、光通信装置を設計する上で大変重要である。
よって異なる。したがって、波長広がりがある光源から
送出させた光パルス信号のパルス幅は、光ファイバを伝
搬した後に広がるために、帯域幅を狭めなければならず
光信号の伝送速度が制限される。このために、光ファイ
バの遅延時間の波長依存性、すなわち光の波長に依存し
て群速度が異なることにより生ずる波長分散を評価する
ことは、光通信装置を設計する上で大変重要である。
このように波長分散は、光ファイバ内を伝搬する光信号
の群速度が、光の波長によって異なることを意味し、光
ファイバの帯域を決定する量である。波長λa、λbの光
が受ける単位ファイバ長あたりの群遅延時間τは、波長
（λa＋λb）/2における波長分散Ｄ〔ps・nm-1・km-1〕
を用いて、 τ＝Ｄ・｜λa−λb｜〔ps/km〕 により求められる。
の群速度が、光の波長によって異なることを意味し、光
ファイバの帯域を決定する量である。波長λa、λbの光
が受ける単位ファイバ長あたりの群遅延時間τは、波長
（λa＋λb）/2における波長分散Ｄ〔ps・nm-1・km-1〕
を用いて、 τ＝Ｄ・｜λa−λb｜〔ps/km〕 により求められる。
従来の光ファイバの波長分散測定装置方法には、パル
ス法、干渉法、差分法、位相差法などがある。
ス法、干渉法、差分法、位相差法などがある。
パルス法は、波長の異なる光パルスを被測定光ファイバ
に入射し、それぞれの光パルスの遅延時間差（到達時間
差）を測定して波長分散を算出する方法である。
に入射し、それぞれの光パルスの遅延時間差（到達時間
差）を測定して波長分散を算出する方法である。
干渉法は、光源の波長を変えることにより光ファイバ伝
搬光の光路長が変化するので、その干渉縞の鮮明度を測
定し波長分散を求める方法である。
搬光の光路長が変化するので、その干渉縞の鮮明度を測
定し波長分散を求める方法である。
差分法は、正弦波で強度変調された光が、光ファイバ伝
搬後に光源波長に対して位相変化する変化率を測定して
波長分散を算出する方法である。
搬後に光源波長に対して位相変化する変化率を測定して
波長分散を算出する方法である。
位相差法は、波長が異なる光を同一周波数で変調し、被
測定光ファイバに入射させ、光ファイバ伝搬中に受けた
変調信号の遅延位相差を測定して波長分散を算出する方
法である。
測定光ファイバに入射させ、光ファイバ伝搬中に受けた
変調信号の遅延位相差を測定して波長分散を算出する方
法である。
ところが、このような従来の波長分散測定方法では、次
のような問題点がある。
のような問題点がある。
パルス法では、その測定精度が光パルス幅、測定電気系
のジッタおよび帯域で制限され50ps以下であり、また光
パルス発生のために広帯域の送受信回路が必要になるな
どの問題点がある。
のジッタおよび帯域で制限され50ps以下であり、また光
パルス発生のために広帯域の送受信回路が必要になるな
どの問題点がある。
干渉法では、高速回路を必要としない点では有利である
が、位相の基準になる空中伝播光と、光ファイバ伝播光
との間の光路差がコヒーレンス長を越えると干渉縞が消
失するために、布設された長尺光ファイバには不適当で
ある。また、干渉実験用の除震台などの特殊な実験環境
が必須であり、現場環境で簡単に測定できるものではな
い。
が、位相の基準になる空中伝播光と、光ファイバ伝播光
との間の光路差がコヒーレンス長を越えると干渉縞が消
失するために、布設された長尺光ファイバには不適当で
ある。また、干渉実験用の除震台などの特殊な実験環境
が必須であり、現場環境で簡単に測定できるものではな
い。
差分法および位相差法は、波長可変レーザ装置および光
変調器などの大規模な光源装置が必要である欠点があ
る。また、レーザ装置の波長制御技術が十分に確立して
いない難点もあり、さらに布設後の光ファイバの場合に
は、参照信号光を別途に光ファイバの入出力端間を伝送
しなければならない問題点がある。
変調器などの大規模な光源装置が必要である欠点があ
る。また、レーザ装置の波長制御技術が十分に確立して
いない難点もあり、さらに布設後の光ファイバの場合に
は、参照信号光を別途に光ファイバの入出力端間を伝送
しなければならない問題点がある。
本発明は、このような従来の問題点に着目してなされた
もので、光ファイバの波長分散を広い波長領域にわたり
簡単にかつ高精度に測定することができる新規な波長分
散測定装置を提供することを目的とする。
もので、光ファイバの波長分散を広い波長領域にわたり
簡単にかつ高精度に測定することができる新規な波長分
散測定装置を提供することを目的とする。
本発明は、被測定光ファイバの長さＬを測定し、この被
測定光ファイバの一端から、変調角周波数ωcの強度変
調が施された入射光を入射させ、上記被測定光ファイバ
の他端から出射する出射光を電気信号に変換し、上記入
射光または上記出射光に変調角周波数ωm、波長振幅Δ
λ、中心波長の波長変調を施し、上記電気信号の位相
変調成分の最大位相偏移βを測定して、この値から波長
分散値の絶対値|D|を として求める。
測定光ファイバの一端から、変調角周波数ωcの強度変
調が施された入射光を入射させ、上記被測定光ファイバ
の他端から出射する出射光を電気信号に変換し、上記入
射光または上記出射光に変調角周波数ωm、波長振幅Δ
λ、中心波長の波長変調を施し、上記電気信号の位相
変調成分の最大位相偏移βを測定して、この値から波長
分散値の絶対値|D|を として求める。
また、電気信号の位相変調成分の最大周波数偏移Δを
測定して、この値から波長分散|D|を として求める。
測定して、この値から波長分散|D|を として求める。
本発明は、被測定光ファイバの一端から、強度変調およ
び波長変調された光信号を入射させる。この伝搬光は、
強度変調角周波数ωcの正弦波信号が波長変調角周波数
ωmの位相変調を受けているために、この位相変調の最
大位相偏移または最大周波数偏移を測定することによ
り、波長分散値を算出することができる。
び波長変調された光信号を入射させる。この伝搬光は、
強度変調角周波数ωcの正弦波信号が波長変調角周波数
ωmの位相変調を受けているために、この位相変調の最
大位相偏移または最大周波数偏移を測定することによ
り、波長分散値を算出することができる。
波長変調器は被測定光ファイバの出射端側に設置して
も、本発明を実施することができる。
も、本発明を実施することができる。
また、最大位相偏移または最大周波数偏移を測定し波長
分岐値を算出するには、演算処理装置に入力して行う必
要がある。
分岐値を算出するには、演算処理装置に入力して行う必
要がある。
本発明は、まず被測定光ファイバの長さＬを測定し、こ
の被測定光ファイバの一端から、変調角周波数ωcの強
度変調、および変調角周波数ωm、中心波長、波長振
幅Δλの波長変調の二重同時変調を受けた光を入射させ
る。このような変調を受けた光が、この被測定光ファイ
バを伝搬し、他端から出射した後に光検出器で光強度に
比例した電気信号に変換される。この電気信号は、被測
定光ファイバの分散がない場合には、強度変調角周波数
ωcの正弦波であるが、中心波長において有限の波長
分散Ｄが存在する場合には、強度変調角周波数ωcの正
弦波信号が波長変調角周波数ωmの位相変調を受ける。
この位相変調の度合を表す最大位相偏移（変調指数）β
には、 β＝|D|・Ｌ・Δλ・ωc ……（１） の関係があるので、（１）式より波長分散|D|を求める
ことができる。
の被測定光ファイバの一端から、変調角周波数ωcの強
度変調、および変調角周波数ωm、中心波長、波長振
幅Δλの波長変調の二重同時変調を受けた光を入射させ
る。このような変調を受けた光が、この被測定光ファイ
バを伝搬し、他端から出射した後に光検出器で光強度に
比例した電気信号に変換される。この電気信号は、被測
定光ファイバの分散がない場合には、強度変調角周波数
ωcの正弦波であるが、中心波長において有限の波長
分散Ｄが存在する場合には、強度変調角周波数ωcの正
弦波信号が波長変調角周波数ωmの位相変調を受ける。
この位相変調の度合を表す最大位相偏移（変調指数）β
には、 β＝|D|・Ｌ・Δλ・ωc ……（１） の関係があるので、（１）式より波長分散|D|を求める
ことができる。
ここで、長さ（Ｌ）20kmの被測定光ファイバに、変調周
波数（ωc/2π）100MHzで強度変調され、同時に波長振
幅（Δλ）100nm、変調周波数（ωm/2π）10KHzで波長
変調された光を入射させた場合を示す。中心波長にお
ける波長分散の絶対値（|D|）が２×10-12〔ps/nm/km〕
とすると、被測定ファイバを伝搬して出射された光を二
乗検波して得られる電気信号は、強度変調角周波数（ω
c）を中心として変調指数（β）2.51の位相変調スペク
トルが観測される。これらのスペクトルは、100MHzの０
次成分のまわりに10KHzの整数倍の高次成分スペクトル
から構成される。スペクトラムアナライザで観測する
と、第３図に示すようなスペクトルが得られる。あるい
は、波長振幅（Δλ）を零から次第に大きくしてゆき、
スペクトルの挙動を観測してもよい。この場合には、変
調指数（β）が2.405を満たす波長振幅（Δλ）に達し
たときに、０次成分が零になることから（１）式を用い
て波長分散|D|を求めることができる。
波数（ωc/2π）100MHzで強度変調され、同時に波長振
幅（Δλ）100nm、変調周波数（ωm/2π）10KHzで波長
変調された光を入射させた場合を示す。中心波長にお
ける波長分散の絶対値（|D|）が２×10-12〔ps/nm/km〕
とすると、被測定ファイバを伝搬して出射された光を二
乗検波して得られる電気信号は、強度変調角周波数（ω
c）を中心として変調指数（β）2.51の位相変調スペク
トルが観測される。これらのスペクトルは、100MHzの０
次成分のまわりに10KHzの整数倍の高次成分スペクトル
から構成される。スペクトラムアナライザで観測する
と、第３図に示すようなスペクトルが得られる。あるい
は、波長振幅（Δλ）を零から次第に大きくしてゆき、
スペクトルの挙動を観測してもよい。この場合には、変
調指数（β）が2.405を満たす波長振幅（Δλ）に達し
たときに、０次成分が零になることから（１）式を用い
て波長分散|D|を求めることができる。
以下、本発明の実施例方式を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明の一実施例測定装置を示すブロック構
成図である。第１図において、光源１は発振器２および
電流源３を接続する強度変調回路４に接続される。この
光源１の出力光は波長変調器５に入射され、その出力光
はレンズ６を介して被測定光ファイバ７に入射する。被
測定光ファイバ７からの出射光は、レンズ８を介して光
電気変換器９に入射され、その出力は増幅器10を介して
スペクトラムアナライザ11に入力する。
成図である。第１図において、光源１は発振器２および
電流源３を接続する強度変調回路４に接続される。この
光源１の出力光は波長変調器５に入射され、その出力光
はレンズ６を介して被測定光ファイバ７に入射する。被
測定光ファイバ７からの出射光は、レンズ８を介して光
電気変換器９に入射され、その出力は増幅器10を介して
スペクトラムアナライザ11に入力する。
光源１は広い波長帯で発光する発光ダイオードが適当で
ある。光源１は、発振器２からの正弦波信号と電流源３
からのバイアス電流とを重畳する強度変調回路４により
駆動される。強度変調された光源１の出力光は、波長変
調器５に入射し波長変調を受ける。波長変調器５は、通
常の分光器に光偏向器を備えたもので実現できる。波長
変調器５からの出力光は、被測定光ファイバ７を伝搬し
て光電気変換器９で光信号に比例した電気信号に変換さ
れる。この電気信号は、適当な利得をもつ増幅器10で増
幅されたのちスペクトラムアナライザ11に入力し、強度
変調信号が被測定光ファイバ７の波長分散特性によって
受けた位相変調強度を最大位相偏移β（変調指数）をパ
ラメータにして測定する。この値をもとに（１）式から
波長分散値|D|が算出される。このときの波長分散値|D|
は、 である。
ある。光源１は、発振器２からの正弦波信号と電流源３
からのバイアス電流とを重畳する強度変調回路４により
駆動される。強度変調された光源１の出力光は、波長変
調器５に入射し波長変調を受ける。波長変調器５は、通
常の分光器に光偏向器を備えたもので実現できる。波長
変調器５からの出力光は、被測定光ファイバ７を伝搬し
て光電気変換器９で光信号に比例した電気信号に変換さ
れる。この電気信号は、適当な利得をもつ増幅器10で増
幅されたのちスペクトラムアナライザ11に入力し、強度
変調信号が被測定光ファイバ７の波長分散特性によって
受けた位相変調強度を最大位相偏移β（変調指数）をパ
ラメータにして測定する。この値をもとに（１）式から
波長分散値|D|が算出される。このときの波長分散値|D|
は、 である。
位相変調信号は、換言すれば周波数変調を受けた信号と
も見做すことができる。
も見做すことができる。
この場合の最大周波数偏移Δは、 Δ＝β・ωm/2π ……（３） の関係を満たすので、最大周波数偏移Δを測定して
も、（２）式および（３）式より波長分散値|D|を算出
することができる。このときの波長分散値|D|は、 である。
も、（２）式および（３）式より波長分散値|D|を算出
することができる。このときの波長分散値|D|は、 である。
ここで、最大位相偏移βあるいは最大周波数偏移Δを
求めるには、スペクトラムアナライザ11に接続された演
算処理装置に入力して行い、さらに波長分散値Ｄを算出
する方法をとる。
求めるには、スペクトラムアナライザ11に接続された演
算処理装置に入力して行い、さらに波長分散値Ｄを算出
する方法をとる。
第２図は、波長変換器５の構成例を示す概略図であり、
以下に波長振幅Δλの決定について説明する。
以下に波長振幅Δλの決定について説明する。
第２図において、回折格子21により回折した光が、光偏
向素子22により正弦波的に出射スリット23（幅2W）を走
査するように構成する。光源の波長拡がりによる回折ビ
ームの広がり（片側）をΔθ0より小さい光偏向素子22
の走査角（片側）をΔθ（Δθ≦Δθ0）とすると、波
長振幅Δλは で与えられる。ここで、θは回折角（出射光と回折格子
面上の法線がなす角）、ｍは回折次数、ｄは回折格子の
溝間隔である。かりに、 Δθ＝ 6.×10-2［rad］， ｍ＝1, ｄ＝1/600［mm］， ｗ＝30［μｍ］， ｈ＝10［cm］ cosθ＝１ とすると、出射スリットから出射される光の波長振幅Δ
λは100［nm］になる。また、そのときの切りだし波長
スペクトル幅すなわち分解能は式（５）で と置くことにより0.5［nm］と求められる。
向素子22により正弦波的に出射スリット23（幅2W）を走
査するように構成する。光源の波長拡がりによる回折ビ
ームの広がり（片側）をΔθ0より小さい光偏向素子22
の走査角（片側）をΔθ（Δθ≦Δθ0）とすると、波
長振幅Δλは で与えられる。ここで、θは回折角（出射光と回折格子
面上の法線がなす角）、ｍは回折次数、ｄは回折格子の
溝間隔である。かりに、 Δθ＝ 6.×10-2［rad］， ｍ＝1, ｄ＝1/600［mm］， ｗ＝30［μｍ］， ｈ＝10［cm］ cosθ＝１ とすると、出射スリットから出射される光の波長振幅Δ
λは100［nm］になる。また、そのときの切りだし波長
スペクトル幅すなわち分解能は式（５）で と置くことにより0.5［nm］と求められる。
実際の分光器では回折格子21と出射スリット23との間に
結像系が挿入されるが、本実施例では本質的な影響がな
いので省略している。
結像系が挿入されるが、本実施例では本質的な影響がな
いので省略している。
また、波長変調器５は被測定光ファイバ７の出射端側に
設置しても、同様に本発明を実施することができる。
設置しても、同様に本発明を実施することができる。
さらに、波長変調領域内に被測定光ファイバ７の零分散
波長がある場合には、測定結果に誤差が生じるので、こ
れを考慮して波長変調を行うことが望ましい。
波長がある場合には、測定結果に誤差が生じるので、こ
れを考慮して波長変調を行うことが望ましい。
被測定光ファイバの長さＬを測定する方法は、メジャー
などで実測してもよいが、その一端から光パルスを入射
させて、その伝搬時間を測定することによる光学長を用
いる方法がより正確である。
などで実測してもよいが、その一端から光パルスを入射
させて、その伝搬時間を測定することによる光学長を用
いる方法がより正確である。
［発明の効果］ 本発明の波長分散測定装置は、極めて小さい二つの光信
号の時間差を測定する必要がないので、広波長帯域で発
光する光源を用いることができる。したがって、広い波
長域での波長分散値を正確に測定することができる。
号の時間差を測定する必要がないので、広波長帯域で発
光する光源を用いることができる。したがって、広い波
長域での波長分散値を正確に測定することができる。
また、強度変調周波数あるいは波長振幅のいずれかは可
変であれば、特定の変調成分が零になるように調整する
ことにより零位法測定が可能であり、したがってさらに
高精度の測定も可能にすることができる。
変であれば、特定の変調成分が零になるように調整する
ことにより零位法測定が可能であり、したがってさらに
高精度の測定も可能にすることができる。
したがって、光ファイバの入力端と出力端が遠く離れて
いる測定環境、すなわち現場に布設された後の伝送路光
ファイバであっても、容易にしかも正確に波長分散を測
定することができ、光通信システムを形成する上でもよ
り効率的な運用が可能になる優れた効果がある。
いる測定環境、すなわち現場に布設された後の伝送路光
ファイバであっても、容易にしかも正確に波長分散を測
定することができ、光通信システムを形成する上でもよ
り効率的な運用が可能になる優れた効果がある。
第１図は本発明の一実施例測定装置を示すブロック構成
図。 第２図は波長変調器の構成例を示す概略図。 第３図は観測される位相変調スペクトル例を示す図（β
＝2.51）。 １……光源、２……発振器、３……電流源、４……強度
変調回路、５……波長変調器、６、８……レンズ、７…
…被測定光ファイバ（単一モード光ファイバ）、９……
光電気変換器、10……増幅器、11……スペクトラムアナ
ライザ、21……回折格子、22……光偏向素子、23……出
射スリット。
図。 第２図は波長変調器の構成例を示す概略図。 第３図は観測される位相変調スペクトル例を示す図（β
＝2.51）。 １……光源、２……発振器、３……電流源、４……強度
変調回路、５……波長変調器、６、８……レンズ、７…
…被測定光ファイバ（単一モード光ファイバ）、９……
光電気変換器、10……増幅器、11……スペクトラムアナ
ライザ、21……回折格子、22……光偏向素子、23……出
射スリット。
Claims (4)
- 【請求項１】広い波長帯域を有する光を出射する光源
と、 前記光源からの出射光に変調角周波数ωcの強度変調を
施す手段と、 中心波長変化が正弦波状になるように強度変調を施され
た光から狭帯域の波長を抜き出す手段と、 この手段により狭帯域の波長を抜き出された光を長さＬ
の光ファイバに入力する手段と、 前記光ファイバからの出射光を受光し電気信号に変換す
る手段と、 前記電気信号の位相変調成分の最大位相偏移βを測定す
る手段と、 これらの値から波長分散の絶対値|D|を として求める演算手段と を備えたことを特徴とする波長分散測定装置。 但し抜き出された光の波長の振幅をΔλとする。 - 【請求項２】広い波長帯域を有する光を出射する光源
と、 前記光源からの出射光に変調角周波数ωcの強度変調を
施す手段と、 中心波長変化が正弦波状になるように強度変調を施され
た光から狭帯域の波長を抜き出す手段と、 この手段により狭帯域の波長を抜き出された光を長さＬ
の光ファイバに入力する手段と、 前記光ファイバからの出射光を受光し電気信号に変換す
る手段と、 前記電気信号の位相変調成分から最大周波数偏移Δを
測定する手段と、 これらの値から波長分散の絶対値|D|を として求める演算手段と を備えたことを特徴とする波長分散測定装置。 但し抜き出された光の波長の偏移角周波数をωm、波長
の振幅をΔλとする。 - 【請求項３】広い波長帯域を有する光を出射する光源
と、 前記光源からの出射光に変調角周波数ωcの強度変調を
施す手段と、 この強度変調を施された光を長さＬの光ファイバに入力
する手段と、 前記光ファイバから出力される光から中心波長変化が正
弦波状になるように狭帯域の波長を抜き出す手段と、 この手段により狭帯域の波長を抜き出された光を受光し
電気信号に変換する手段と、 前記電気信号の位相変調成分の最大位相偏移βを測定す
る手段と、 これらの値から波長分散の絶対値|D|を として求める演算手段と を備えたことを特徴とする波長分散測定装置。 但し抜き出された光の波長の振幅をΔλとする。 - 【請求項４】広い波長帯域を有する光を出射する光源
と、 前記光源からの出射光に変調角周波数ωcの強度変調を
施す手段と、 この強度変調を施された光を長さＬの光ファイバに入力
する手段と、 前記光ファイバから出力される光から中心波長変化が正
弦波状になるように狭帯域の波長を抜き出す手段と、 この手段により狭帯域の波長を抜き出された光を受光し
電気信号に変換する手段と、 前記電気信号の位相変調成分から最大周波数偏移Δを
測定する手段と、 これらの値から波長分散の絶対値|D|を として求める演算手段と を備えたことを特徴とする波長分散測定装置。 但し抜き出された光の波長の偏移角周波数をωm、波長
の振幅をΔλとする。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22717884A JPH0672834B2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 波長分散測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22717884A JPH0672834B2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 波長分散測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61105439A JPS61105439A (ja) | 1986-05-23 |
| JPH0672834B2 true JPH0672834B2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=16856706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22717884A Expired - Fee Related JPH0672834B2 (ja) | 1984-10-29 | 1984-10-29 | 波長分散測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0672834B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002022613A (ja) | 2000-07-10 | 2002-01-23 | Advantest Corp | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
-
1984
- 1984-10-29 JP JP22717884A patent/JPH0672834B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61105439A (ja) | 1986-05-23 |
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