JPH0670877U - Agricultural product sorter - Google Patents

Agricultural product sorter

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JPH0670877U
JPH0670877U JP065257U JP6525791U JPH0670877U JP H0670877 U JPH0670877 U JP H0670877U JP 065257 U JP065257 U JP 065257U JP 6525791 U JP6525791 U JP 6525791U JP H0670877 U JPH0670877 U JP H0670877U
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JP
Japan
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circuit
lamp
pulse
ejector
optical
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Application number
JP065257U
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Japanese (ja)
Inventor
エッチ.コディング エリアス
Original Assignee
デルタ テクノロジー コーポレーション
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/342Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour
    • B07C5/3425Sorting according to other particular properties according to optical properties, e.g. colour of granular material, e.g. ore particles, grain
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/36Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
    • B07C5/363Sorting apparatus characterised by the means used for distribution by means of air
    • B07C5/365Sorting apparatus characterised by the means used for distribution by means of air using a single separation means
    • B07C5/366Sorting apparatus characterised by the means used for distribution by means of air using a single separation means during free fall of the articles

Landscapes

  • Sorting Of Articles (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 農産物の多量識別を可能とすると共に、回路
構成(E)を簡素化することによって装置(S)の製造コス
トを低減する。 【構成】 農産物を、観察ステーション(V)の観察窓の
前方において多数のチャンネルに小分割して流下させ、
各チャンネル毎に光学センサー(34)を対応させて1個の
領域を形成する。農産物の選別に際しては、個々の粒に
分離して粒毎の判別はせずに、照明された観察室を通過
して流れ落ちるときの、流れの照明の強さに基づいて行
ない、多数のチャンネルに対しマルチプレックス方式に
よって連続的にスキャニングする。
(57) [Summary] [Objective] A large amount of agricultural products can be identified, and the manufacturing cost of the device (S) is reduced by simplifying the circuit configuration (E). [Composition] The agricultural product is subdivided into a large number of channels in front of the observation window of the observation station (V) and allowed to flow down.
An optical sensor 34 is associated with each channel to form one area. When selecting agricultural products, do not distinguish them into individual grains and perform discrimination based on the intensity of the flow illumination when they flow down through an illuminated observation room without distinguishing between individual grains. On the other hand, continuous scanning is performed by the multiplex method.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は農産物を光学的に選別する装置に関する。 The present invention relates to a device for optically selecting agricultural products.

【0002】[0002]

【考案の背景】[Background of device]

本考案者に係るアメリカ特許第4454029号は農産物の2色選別機に関す るものである。これら選別機は、農産物不合格品の検出を、例えばコーヒー豆、 ピーナツ等の産物のカラーに基づいて行なうものである。又、農産物の中には、 例えば米粒のように比較的小さく、通常は粒状のものがあって、これらは単一色 即ち灰色レベルの選別だけを行ない、黒ずんだ産物を不合格品として排除すれば よい。アメリカ特許第3738484号はこの種農産物の単一色選別を行なう装 置に関するものである。しかしながら、選別精度を高めるには、粒は個々に一定 の間隔を設けて連続する流れの中に維持せねばならない。従って粒の容量に制限 が設けられ、選別機は一定の時間間隔をおいて処理することになる。生産性を高 めるには選別機の追加が必要となるのである。 U.S. Pat. No. 4,454,029 relating to the present inventor relates to a two-color sorter for agricultural products. These sorters detect unacceptable agricultural products based on the color of products such as coffee beans and peanuts. In addition, some agricultural products are relatively small, usually granular, such as rice grains, and these are only sorted by a single color, that is, gray level, and if the dark products are rejected as rejected products. Good. U.S. Pat. No. 3,738,484 relates to a device for single color selection of this type of agricultural product. However, in order to improve sorting accuracy, the grains must be maintained in a continuous stream at regular intervals. Therefore, the grain volume is limited, and the sorting machine processes at regular intervals. To improve productivity, it is necessary to add a sorter.

【0003】[0003]

【考案の要旨】[Summary of device]

本考案は、農産物、特に米等のような小さな粒状の産物の新規で改良された選 別機を明らかにするものである。農産物の選別は、照明された観察室を通過して 流れ落ちるときの照明の強さに基づいて行なわれる。農産物は、観察ステーショ ンに入る前に、下向きに落ちる多くの平行な流れが作られる。この流れの中では 産物を個々の粒に一個ずつ分離しスキャンする必要はない。従って選別機の生産 性は高められ、また選別精度も向上する。産物の流れと同じ数の光学スキャニン グステーションを有する多くのチャンネルが観察室の中に設けられる。産物の流 れは観察室の中の蛍光ランプによって光が当てられ、通過する産物の流れによっ て反射される光の量、通常は単一色を検知し、検出した不合格の産物を取り除く のである。 The present invention reveals a new and improved sorter for agricultural products, especially small granular products such as rice. Sorting of produce is based on the intensity of the illumination as it flows past the illuminated observation chamber. Agricultural products are created with many parallel streams falling downwards before entering the observation station. It is not necessary to separate and scan the product into individual grains in this stream. Therefore, the productivity of the sorter is improved and the sorting accuracy is also improved. Many channels are provided in the observation room with as many optical scanning stations as product streams. The product stream is illuminated by a fluorescent lamp in the observation chamber and detects the amount of light reflected by the product stream passing through it, usually a single color, and removes rejected products that are detected. is there.

【0004】 光学スキャニングステーションの各々には複数の光学センサーを配列しており 、該センサーはスキャニングステーションより前の観察室の小分割された部分を 感知するのである。光学センサーは、スキャニングステーションの前に産物があ るとき、その産物を感知し、感知した光を表わす電気信号を形成する。各チャン ネルに設けられた光学センサーからの信号は連続的にサンプリングまたは多重送 信され、電子処理回路に送られて、基準の信号と比較し産物が合格品であるかど うかの決定を行なう。もし合格品でなければそれらは取り除かれる。Each of the optical scanning stations has a plurality of optical sensors arrayed therein which sense a subdivided portion of the observation room in front of the scanning station. The optical sensor senses the product when it is in front of the scanning station and forms an electrical signal representative of the sensed light. The signal from the optical sensor on each channel is continuously sampled or multiplexed and sent to an electronic processing circuit where it is compared with a reference signal to determine if the product is acceptable. If they are not acceptable, they will be removed.

【0005】 光学観察ステーションチャンネルの前に存在するイメージ領域を小分割して多 くの領域、すなわち光学センサーの各々に対して一個の領域を形成することによ って、且つマルチプレックス方式にて連続的にスキャニングすることによって、 選別速度と生産性は著しく高められ、また選別精度の向上にも寄与する。更に、 産物を分離して個々の粒を一定の間隔を設けて連続的に流す必要性もない。By subdividing the image area existing in front of the optical viewing station channel into many areas, one area for each of the optical sensors, and in a multiplexed manner. By continuously scanning, the sorting speed and productivity are remarkably increased, and also contribute to the improvement of sorting accuracy. Furthermore, there is no need to separate the product and run individual grains continuously at regular intervals.

【0006】 産物の主照明となる蛍光ランプに加えて、背景(background)蛍光ランプを設け て観察室の背景照明レベルを形成する。ランプの感度(sensitivity)は調節可能 である。一旦設定されると、ランプは自動的にモニターされコントロールされる 。各蛍光ランプを作動させる電流の強さもモニターされ最大の定格値と比較され る。ランプを流れる実際の電流が定格値を超えると、そのことを示す表示がなさ れる。In addition to the fluorescent lamp that is the main illumination of the product, a background fluorescent lamp is provided to form the background illumination level of the observation room. The lamp sensitivity is adjustable. Once set, the lamp will be automatically monitored and controlled. The intensity of the current that operates each fluorescent lamp is also monitored and compared to the maximum rated value. When the actual current flowing through the lamp exceeds the rated value, an indication is given to that effect.

【0007】 本考案の選別機はタイミング回路にコントロールされて作動し、照明用の蛍光 ランプを周期的に消して、該ランプに加えられる電圧の極性(polarity)を逆転さ せる。ランプの極性が逆転している時間と同じ時間だけ、観察室には自動的に空 気が吹きつけられダストや微粒物質が取り除かれる。The sorting machine of the present invention operates under the control of a timing circuit to periodically extinguish a fluorescent lamp for illumination to reverse the polarity of the voltage applied to the lamp. The observation chamber is automatically blown with air for the same amount of time that the polarity of the lamp is reversed, removing dust and fine particles.

【0008】 本考案の選別機の望ましい実施例では、独立した2つの選別機を用い、一方の 選別機の上に他方の選別機を設けている。下部選別機には上部選別機によって不 合格として排出された産物のみが送られ、その中から実質的に合格品となるもの を回収する。In a preferred embodiment of the sorter of the present invention, two independent sorters are used, one sorter being provided on top of the other sorter. Only the products discharged as rejects by the upper sorter are sent to the lower sorter, and the products that are actually passed are collected from the products.

【0009】[0009]

【望ましい実施例の説明】[Description of the preferred embodiment]

図面中、符号S(図1)は本考案に係る選別装置の全体を示しており、米粒等の 小さい粒状の産物を選別するものである。選別装置Sには、上部選別機Uと下部 選別機LがフレームFに取り付けられている。電源P(図1及び図15)がフレー ムFに設けられ、作動電力を発生して選別機U,Lに適当なバイアス電圧を加え る。選別機UとLはフレームFにおける位置を除いて、構造と作用は同じである 。従って説明は一つだけについて行なうが、他のものについても同じような構造 と機能を有するものであることは理解されよう。 In the drawings, reference numeral S (FIG. 1) indicates the whole of the sorting apparatus according to the present invention, which sorts small granular products such as rice grains. An upper sorter U and a lower sorter L are attached to the frame F of the sorter S. A power source P (FIGS. 1 and 15) is provided in the frame F to generate operating power and apply an appropriate bias voltage to the sorting machines U and L. The sorters U and L have the same structure and operation except for the position in the frame F. Therefore, only one explanation will be given, but it will be understood that other ones have similar structures and functions.

【0010】 選別装置S(図1)には上部ホッパー(10)が設けられ、該ホッパーの中に、選別 されるべき産物が、例えばオーガー(Auger)によって駆動するコンベア装置のよ うな適当な手段を通じて溜められる。産物は上部ホッパー(10)から下横部の受入 れシュート部(12)の中を通っていく。受入れシュート(12)の中の産物は広がって 、後部の傾斜した波型トレイ(14)の上に落ち、ここで産物の粒は、観察ステーシ ョンV(図2乃至図4)の光学観察チャンネルの数と等しい数の平行な溝の中に整 列される。波形のトレイ(14)は振動モータ(16)によって動作し、選別されるべき 産品を後部へ移動させ、前方に傾斜するフィードトレイ(18)の中へ落下させるの である。The sorting device S (FIG. 1) is provided with an upper hopper (10) in which the products to be sorted are provided with suitable means, for example a conveyor device driven by an auger. Accumulated through. The product is received from the upper hopper (10) and passes through the chute (12) in the lower horizontal section. The product in the receiving chute (12) spreads out and falls onto the slanted corrugated tray (14) at the rear, where the product grains are observed by optical observation station V (Figs. 2 to 4). Aligned in a number of parallel grooves equal to the number of channels. The corrugated tray (14) is actuated by a vibrating motor (16), which moves the product to be sorted to the rear and drops it into a forward-sloping feed tray (18).

【0011】 フィードトレイ(18)は波形に形成し、上部トレイ(14)と同じ数の溝を有してお り、フレームFの上部(20)に取り付けられる。下部選別機Lの溝幅は、必要に応 じて上部選別機Uのものよりも狭くすることにより、降りてくる産物の流れをよ り厳密に個々の粒からなる流れとなるようにすることもできる。The feed tray 18 is corrugated, has the same number of grooves as the upper tray 14, and is attached to the upper portion 20 of the frame F. If necessary, the groove width of the lower sorter L should be narrower than that of the upper sorter U so that the flow of the descending product becomes more strictly a flow of individual grains. You can also

【0012】 選別される各々の流れの中の産物は波形トレイ(18)から下降して光学ステーシ ョンO(図3)の焦点レンズ(24)の前の空間(22)(図2)の中に入る。光学ステーシ ョンはその1つずつが夫々トレイ(18)の中の各々の溝と対応する。産物の流れは 必ずしも粒が個々に分離している必要はなく、例えば多数の粒が同時に各焦点レ ンズ(24)の前に存在してもよい。The products in each stream to be sorted descend from the corrugated tray (18) to the space (22) (FIG. 2) in front of the focusing lens (24) of the optical station O (FIG. 3). go inside. One optical station corresponds to each groove in the tray (18). The product stream does not necessarily have to be an individual separation of the grains, for example multiple grains may be present at the same time before each focal lens (24).

【0013】 光学観察ステーションは各々に焦点レンズ(24)(図2及び図3)を備え、該レン ズ(24)は装置Aが選別を行なう光学部分の一部をなし、空間(22)に存在する光を 、マスキングディスク(32)の中に形成した狭いスロット(30)を通じて走査フォト セル(28)に焦点を合わせる。各光学観察ステーションOの走査フォトセル(28)は 、複数個のフォトダイオードセル(34)(図9)を一列に揃えて形成したものである 。走査フォトセル(28)は上部選別機Uと下部選別機Lの各々のカバー付き電子シ ャシ(38)(図1)の中のプリアンプボード(36)(図2及び図4)に取り付けられる。Each of the optical observation stations is provided with a focusing lens (24) (FIGS. 2 and 3), and the lens (24) forms a part of an optical portion for the apparatus A to select, and a space (22) is provided. The existing light is focused on the scanning photocell (28) through a narrow slot (30) formed in the masking disc (32). The scanning photocell 28 of each optical observation station O is formed by aligning a plurality of photodiode cells 34 (FIG. 9) in a line. The scanning photocell (28) is mounted on the preamplifier board (36) (Figs. 2 and 4) in the covered electronic chassis (38) (Fig. 1) of each of the upper and lower sorters U and L. .

【0014】 コントロールパネル(40)(図1及び図7)は選別機Uと選別機Lの各々のカバー 付き電子シャシ(38)の下方に取り付けられる。観察ステーションVの空間(22)の 照明は一対の照明用蛍光ランプ(42)(図2、図8及び図18)から供給される。背 景照明蛍光ランプ(44)(図2)は、基準即ち背景照明信号を反射板(46)に送り、該 反射板はレンズ(24)に照明を与える。背景照明は不合格品と合格品とを区別して 選別できるように適当なレベルに設定される。空間(22)を通過する産物が、光学 ステーションOの前を通過する一定の産物の流れに対してランプ(44)によって設 定された基準即ち背景レベルよりも暗い場合は、エジェクターソレノイド(48)が 作動し(図8)、エジェクターJ(図2) からエアーを吹き付けて不合格の産物を 強制的に廃棄シュートまたはホッパー(50)の中に送り込む。合格品は観察ステー ションVから搬送用シュートまたは部材(52)の中を通過し、該部材(52)からじょ うご(54)(図1)を通ってバッグ等の適当な容器の中に入れられる。The control panel 40 (FIGS. 1 and 7) is attached below the electronic chassis (38) with a cover of each of the sorting machines U and L. Illumination of the space (22) of the observation station V is supplied from a pair of illumination fluorescent lamps (42) (FIGS. 2, 8 and 18). A background illumination fluorescent lamp (44) (FIG. 2) sends a reference or background illumination signal to reflector (46), which provides illumination to lens (24). The background illumination is set to an appropriate level so that rejected products and accepted products can be distinguished and selected. If the product passing through the space (22) is darker than the reference or background level set by the lamp (44) for a constant product flow passing in front of the optical station O, then the ejector solenoid (48) Is activated (Fig. 8) and blows air from ejector J (Fig. 2) to force rejected products into the waste chute or hopper (50). Accepted products pass from the observation station V through the transport chute or the member (52), and then from the member (52) through the jogo (54) (Fig. 1) into a suitable container such as a bag. Can be put in.

【0015】 上部選別機Uの廃棄シュート(50)を通じて不合格とされた産物を下部選別機L の供給シュート(14)に搬送する。上部選別機Uから送られる不合格品の流れには 合格品となるべき粒が含まれているかもしれないからであり、これは産物を個々 の粒に分けるよりもむしろ流れとして通過させて下部選別機Lにて同じような選 別作業をもう一度行なわせるためである。The rejected product is conveyed to the supply chute (14) of the lower sorter L 1 through the waste chute (50) of the upper sorter U 1. This is because the reject stream sent from the upper sorter U may contain grains to be accepted, which is to pass the product as a stream rather than breaking it into individual grains. This is because the same sort of selection work is performed again by the sorter L.

【0016】 図面に示すじょうご即ち供給部材(54)は、下部選別機には取り付けず、その代 わりにコンベア装置を設けることによって、下部選別機Lから不合格となって排 出された産物を廃棄することもできるし、或はまた上部ホッパー(10)に戻して新 たに入ってくる産物と共に選別を行なうこともできる。The funnel or feeding member (54) shown in the drawing is not attached to the lower sorting machine, but a conveyor device is provided instead of the lower sorting machine L to discard the product rejected and discharged from the lower sorting machine L. Alternatively, it can be returned to the upper hopper (10) for sorting with the new incoming product.

【0017】 本考案の選別装置Sの電気回路には、観察ステーションVの中で産物の選別を 行なう各チャンネルの電子処理回路E(図8)を含むと共に、選別機UとLの電源 Pの中のランプコントロール回路Kを含んでいる。各観察チャンネルの電子処理 回路Eは、光学ステーションOの各ステーションの選別光学部(図2及び図3)を 含む。光学ステーションではそれに隣設する観察ステーションVの光状態を感知 し、感知した光の状態を表わす電気信号をプリアンプ回路(preamplifier circui t)(56)(図8)に供給する。プリアンプ回路(56)の各チャンネルの感度はプリアン プリファイヤーのゲインコントロール回路(58)(図9及び図10)によってコント ロールされる。The electric circuit of the sorting apparatus S of the present invention includes an electronic processing circuit E (FIG. 8) of each channel for sorting products in the observation station V, and a power source P for the sorting machines U and L. It includes a lamp control circuit K inside. The electronic processing circuit E of each observation channel includes the sorting optics (FIGS. 2 and 3) of each station of the optical station O. The optical station senses the optical state of the observation station V adjacent to the optical station and supplies an electric signal representing the sensed optical state to a preamplifier circuit (56) (FIG. 8). The sensitivity of each channel of the preamplifier circuit (56) is controlled by the gain control circuit (58) (FIGS. 9 and 10) of the preamp prefire.

【0018】 プリアンプ回路(56)は、観察ステーションVの中の特定の光学ステーションO の前で感知した光状態を示す電気的な信号を、そのチャンネルの回路Eのアンプ 回路(amplifier circuit)(60)(図9、図10及び図11)に供給する。チャンネ ル感度回路(59)は各チャンネルに設けられて、所定チャンネルの感度の調節を行 なう。アンプ回路(60)によって増幅された信号はクラス分け(classification)回 路(62)(図8)に送られ、該回路によって、個々の溝の中を流れて観察ステーショ ンVを通過する産物が、産物の暗さ程度に応じて、合格品であるか不合格品であ るか決定される。The preamplifier circuit (56) outputs an electric signal indicating an optical state sensed in front of a specific optical station O 1 in the observation station V 1 to an amplifier circuit (60) of the circuit E of the channel. ) (FIGS. 9, 10 and 11). The channel sensitivity circuit (59) is provided for each channel and adjusts the sensitivity of a predetermined channel. The signal amplified by the amplifier circuit (60) is sent to the classification circuit (62) (Fig. 8), which allows the products flowing in the individual grooves to pass the observation station V. Depending on the darkness of the product, it is determined whether the product is acceptable or not acceptable.

【0019】 回路Eのクラス分け回路(62)は、更に、アンプ回路(60)の調節を定期的に行な うが、これについては後で詳しく説明する。クラス分け回路(62)において不合格 品の表示が形成されると、不合格の産物を光学ステーションOからエジェクター Jの前方の位置まで通過させることができるように、遅延回路(64)によって適当 な時間を経過させるのである。エジェクターJにおいて、エジェクタープリドラ イブ回路(66)とエジェクタードライブ回路(68)とによってエジェクターソレノイ ド(48)を励磁し、産物の流れの中に空気を吹き付け、不合格の産物の流れをそら せてシュートまたはじょうご(50)に送るのである。The classifying circuit (62) of the circuit E further regularly adjusts the amplifier circuit (60), which will be described in detail later. When a reject indication is formed in the classification circuit (62), a suitable delay circuit (64) is provided by the delay circuit (64) so that the rejected product can be passed from the optical station O to a position in front of the ejector J. Time passes. In the ejector J, the ejector solenoid drive (68) is excited by the ejector pre-driving circuit (66) and the ejector drive circuit (68), and air is blown into the product stream to divert the rejected product stream. Then send it to the chute or funnel (50).

【0020】 ランプコントロール回路Kにおいてランプ(70)(図8及び図18)は電源回路(7 2)(図8及び図14)から作動電力を受ける。照明感度回路(74)(図8及び図1
6) とランプコントロール回路(76)(図8及び図16)によってランプ(70)の照
明の強 さを調節する。タイミングコントロール回路(78)(図8及び図17)はランプスタ ート回路(80)(図8及び図18)を通じてランプ(70)の直流駆動バイアスの極性を 周期的に逆転させる。タイミングコントロール回路(78)は観察ステーションVの 中の観察室清掃ソレノイド(82)を周期的に作動させ、観察ステーションVからダ ストや積もった微粒物質を吹き飛ばす。もしこのようなものが存在すると選別精 度に影響を及ぼすことになるかもしれないからである。タイミングコントロール 回路(78)はさらに、ランプスタート回路(80)と観察室清掃ソレノイド(82)が作動 している間、フィーダ(16)の作動をコントロールする。
In the lamp control circuit K, the lamp 70 (FIGS. 8 and 18) receives operating power from the power supply circuit 72 (FIGS. 8 and 14). Illumination sensitivity circuit (74) (Figs. 8 and 1
6) and the lamp control circuit 76 (FIGS. 8 and 16) to adjust the illumination intensity of the lamp 70. The timing control circuit 78 (FIGS. 8 and 17) periodically reverses the polarity of the DC driving bias of the lamp 70 through the lamp start circuit 80 (FIGS. 8 and 18). The timing control circuit (78) periodically actuates the observation chamber cleaning solenoid (82) in the observation station V to blow dust and accumulated fine particles from the observation station V. If such a thing exists, it may affect the sorting accuracy. The timing control circuit (78) further controls the operation of the feeder (16) while the lamp start circuit (80) and the observation room cleaning solenoid (82) are operating.

【0021】 電子処理回路E(図9)について詳しく説明すると、光学ステーションOの一つ に適当な数のフォトセル(34)を一列に揃えたものであるが、その間隔はレンズ(2 4)によって焦点が合わされる面積の幅と等しい間隔にしている。フォトセル(34) はプリアンプ回路(56)の中の関連する前置増幅器(preamplifier)(84)を通じて、 ゲイン基準ポテンシオメータ(86)とローパスフィルター(low pass filter)(88) と電気的に接続される。交流につながった電子処理回路E(図9)において、連結 キャパシター(90)がポテンシオメータ(86)とローパスフィルター(88)の間にて接 続される。直流につながった電子処理回路E(図10)の場合、連結キャパシター は全く存在しない。直流接続型には、キャパシター(90)が存在しないこと、及び アンプ回路(60)のクラス分け回路(62)によってゲインコントロールが周期的に自 動的に行なわれることの外は、交流接続型及び直流接続型のいずれの電子回路E も構造と機能は互いに同じである。The electronic processing circuit E (FIG. 9) will be described in detail. An appropriate number of photocells (34) are arranged in a line in one of the optical stations O. The spacing is equal to the width of the area to be focused by. The photocell (34) is electrically connected to the gain reference potentiometer (86) and the low pass filter (88) through the associated preamplifier (84) in the preamplifier circuit (56). To be done. In the electronic processing circuit E (FIG. 9) connected to the alternating current, the connection capacitor (90) is connected between the potentiometer (86) and the low pass filter (88). In the case of the electronic processing circuit E (FIG. 10) connected to direct current, there is no connecting capacitor at all. The DC connection type does not have the capacitor (90) and the gain control is automatically performed periodically by the classification circuit (62) of the amplifier circuit (60). The structure and the function of any electronic circuit E of the DC connection type are the same as each other.

【0022】 所定の光学ステーションOの中で一列に揃えて並べられた各光学センサー(34) のローパスフィルター(88)は、アナログマルチプレクサー(90)に電気的につなが り、該マルチプレクサーはクラス分け回路(62)(図13)からコンダクター(92、9 4及び96)を通じて送られるアドレスコマンドを受けてプリアンプ(84)からの電気 信号を選択的に且つ連続的にサンプリングする。The low-pass filter (88) of each optical sensor (34) arranged in a line in a predetermined optical station O is electrically connected to an analog multiplexer (90), and the multiplexer is classified as a class. In response to the address command sent from the dividing circuit 62 (FIG. 13) through the conductors (92, 94 and 96), the electric signal from the preamplifier (84) is selectively and continuously sampled.

【0023】 信号はこのようにしてマルチプレクサー(90)のコントロールを受けて増幅器(9 8)(図9)に送られ、該増幅器(98)はポテンシオメータ(102)からコンダクター(10 0)を通じてオフセットバイアス信号を受ける。増幅器(98)からの信号はコンパレ ータ増幅器(104)への一つの入力として供給され、該増幅器はチャンネル感度回 路(50)(図11)からコンダクター(106)を通じて感度レベルの信号を別の入力と して受ける。コンパレータ(104)は、センシングフォトダイオード(34)に表われ る像の暗さが、その特定したチャンネルに対して予め設定された感度を超えてい るかどうかを感知する。像の明るさが不十分であるとき、コンパレータ(104)は 、ORゲート(108)(図9)を通じて、クラス分け器のトリップ出力信号(105)(図 19)を適当な時間、例えば約25マイクロ秒間供給して単安定マルチバイブレー タまたはワンショット(110)を励磁し、1/2乃至2ミリ秒間、エジェクターパルス (111)(図19)を形成する。The signal is thus sent to the amplifier (98) (FIG. 9) under the control of the multiplexer (90), which is fed from the potentiometer (102) through the conductor (100). Receives an offset bias signal. The signal from the amplifier (98) is provided as one input to the comparator amplifier (104), which separates the sensitivity level signal from the channel sensitivity circuit (50) (Fig. 11) through the conductor (106). Receive as input. The comparator (104) senses whether the darkness of the image appearing in the sensing photodiode (34) exceeds a preset sensitivity for the specified channel. When the image brightness is insufficient, the comparator (104) outputs the classifier trip output signal (105) (FIG. 19) through the OR gate (108) (FIG. 9) for a suitable time, for example, about 25. The monostable multivibrator or one-shot (110) is excited by supplying for microsecond, and the ejector pulse (111) (FIG. 19) is formed for 1/2 to 2 milliseconds.

【0024】 エジェクターパルス(111)はマルチバイブレータ(110)(図9)からシフトレジス ター(112)の中に送られる。シフトレジスターはオシレータ回路(114)(図9)から のクロックパルス(113)(図19)によって作動する。オシレータ回路(114)からの クロックパルス(113)の周波数によって、シフトレジスター(112)を通じて、マル チバイブレータ(110)からのエジェクターパルス(111)のスピードと動きをコント ロールし、不満足なまたは異常な暗さの粒の産物が選別されるとエジェクターソ レノイド(48)が励磁する時にエジェクタージェットJの前にその産物があるよう にする。エジェクターパルス(111)は4乃至8ミリ秒の時間経過後シフトレジス ター(112)を通じてマルチバイブレータ(110)の中で形成され、該パルスはトラン ジスタ(116)を励磁してパルス(117)(図19)を発生させ、エジェクタープリドラ イバー回路(66)とエジェクタードライバー回路(68)を通じて信号を送りエジェク ターソレノイド(48)を作動させる。The ejector pulse (111) is sent from the multivibrator (110) (FIG. 9) into the shift register (112). The shift register is activated by clock pulses (113) (Fig. 19) from the oscillator circuit (114) (Fig. 9). The frequency of the clock pulse (113) from the oscillator circuit (114) controls the speed and movement of the ejector pulse (111) from the multivibrator (110) through the shift register (112), which may be unsatisfactory or abnormal. When the dark grain product is sorted, it will be in front of the ejector jet J when the ejector solenoid (48) is excited. The ejector pulse (111) is formed in the multivibrator (110) through the shift register (112) after a lapse of 4 to 8 milliseconds, and the pulse excites the transistor (116) to generate the pulse (117) (Fig. 19) and sends a signal through the ejector pre-driver circuit 66 and the ejector driver circuit 68 to activate the ejector solenoid 48.

【0025】 各選別チャンネルのマルチバイブレータ(110)は、クラス分け回路(62)(図13 )の中のゲート回路からコンダクター(118)を通じて、特定のチャンネルのエジェ クターテスト信号によって周期的に作動させることもできる。バイパスコンダク ター(120)(図9)はコンパレータ増幅器(104)の出力に接続され、信号はコンパレ ータ(104)から直接シフトレジスター(112)に供給され、検出された不合格とすべ き状態の時間間隔は、通常はエジェクターパルス(111)の時間間隔よりも著しく 長いから、これが検出されないで通過することがないようにしている。これによ ってダークスポットを検出する時間を長くとることができるから、マルチバイブ レータ(110)のリセット時間の間に見過ごしてしまうことはない。The multivibrator (110) of each selection channel is periodically activated by the ejector test signal of a specific channel from the gate circuit in the classification circuit (62) (FIG. 13) through the conductor (118). You can also The bypass conductor (120) (Fig. 9) is connected to the output of the comparator amplifier (104), and the signal is fed directly from the comparator (104) to the shift register (112), which is detected as a fail and the full condition. Since the time interval of is usually much longer than the time interval of the ejector pulse (111), we try to prevent it from passing undetected. As a result, it is possible to take a long time to detect the dark spot, so that it is not overlooked during the reset time of the multivibrator (110).

【0026】 抑止トランジスタ(122)(図9及び図10)はコンダクタ(120)に接続され、チャ ンネルの各タイムスロットの最初の半分の時間、マルチプレクサー(90)が次の連 続式光学センサーへの切り替えが行なわれる間に、コンパレータ増幅器(104)か らの信号の通路を接地(ground)するかまたは抑制(inhibit)するのである。トラ ンジスタ(122)はクラス分け回路(62)(図13)からコンダクタ(124)を通じて励磁 される。ゲート(108)はコンダクタ(126)を通じて、コントロールパネル(130)(図 1及び図7)に設けられたエジェクターテストのオン−オフスイッチ(128)(図7 及び図9)と電気的につながっている。The inhibit transistor (122) (FIGS. 9 and 10) is connected to the conductor (120) and the multiplexer (90) is the next continuous optical sensor for the first half of each time slot of the channel. The path of the signal from the comparator amplifier (104) is grounded or inhibited while the switch is performed. The transistor (122) is excited from the classification circuit (62) (Fig. 13) through the conductor (124). The gate 108 is electrically connected to the ejector test on / off switch 128 (Figs. 7 and 9) provided on the control panel 130 (Figs. 1 and 7) through the conductor 126. There is.

【0027】 観察チャンネルOの各チャンネルの感度コントロール信号は、チャンネル感度 回路(59)(図11)の中に形成される。信号はコンダクタ(106)に対するものを例 示しており、そのチャンネルのポテンシオメータ(132)によって発せられ、増幅 器(134)を通じて全体の又は共通の感度コントロールポテンシオメータ(136)につ ながれる。ポテンシオメータ(136)の調節はパネル(130)のノブ(137)(図7)によ ってコントロールされる。個々のチャンネルの感度信号は、例えば(106)のよう なコンダクタを通じて特定チャンネル(図13)のコンパレータ増幅器(104)に送 られる。The sensitivity control signal of each channel of the observation channel O is formed in the channel sensitivity circuit (59) (FIG. 11). The signal is shown for a conductor (106), emitted by the potentiometer (132) of that channel, and connected through an amplifier (134) to the overall or common sensitivity control potentiometer (136). Adjustment of potentiometer (136) is controlled by knob (137) (FIG. 7) on panel (130). The sensitivity signal of each channel is sent to the comparator amplifier (104) of the specific channel (FIG. 13) through a conductor such as (106).

【0028】 直流接続型の電子処理回路E(図10)の場合、増幅器(138)(図11)はゲイン 基準信号を発生させコンダクタ(142)を通じてゲインコントロールフィードバッ クネットワーク(146)の中の積分コンパレータ増幅器(144)(図10)に送られる。 増幅器(144)(図10)の出力はゲインコントロールネットワーク(146)(図10及 び図11)の発光ダイオードに送られ、ネットワーク(146)の中の感光性(photose nsitive)の抵抗器の抵抗をコントロールする。この抵抗は増幅器(98)の入力に接 続され、抵抗をコントロールすることによって増幅器(98)のゲイン調節を周期的 に行なう。In the case of the DC-connected electronic processing circuit E (FIG. 10), the amplifier (138) (FIG. 11) generates a gain reference signal and, through the conductor (142), in the gain control feedback network (146). It is sent to the integrating comparator amplifier (144) (FIG. 10). The output of the amplifier (144) (Fig. 10) is sent to the light emitting diode of the gain control network (146) (Figs. 10 and 11) and the resistance of the photosensitive resistor in the network (146). Control. This resistance is connected to the input of the amplifier (98), and the gain of the amplifier (98) is adjusted periodically by controlling the resistance.

【0029】 クラス分け信号(147)(図22)はコンパレータ増幅器(104)の観察ステイション Vの各チャンネルに対して形成され、コンダクター(148)を通じてゲート(108)( 図9及び図12)に送られる。観察ステイションVの前のチャンバーに不合格品 があると、エジェクターパルス(111)が形成され、前述したのと同じようにして エジェクターソレノイド(48)を作動させる。遅延回路(64)(図12)において、ト ランジスタ(150)は各チャンネルのマルチバイブレータ(110)の抑止入力と電気的 に接続される。トランジスタ(150)と、該トランジスタにつながった抵抗器(152) 及びキャパシター(154)とによって、僅かの時間遅れてエジェクターテスト機能 を開始させ、この間マルチバイブレータ(110)は抑止されて、この時間が経過す るまでエジェクターパルス(111)が形成されないようにしている。A classification signal (147) (FIG. 22) is formed for each channel of the observation station V of the comparator amplifier (104) and is passed through the conductor (148) to the gate (108) (FIGS. 9 and 12). Sent. If there is a rejected product in the chamber before the observation station V, an ejector pulse (111) is formed and the ejector solenoid (48) is operated in the same manner as described above. In the delay circuit 64 (FIG. 12), the transistor (150) is electrically connected to the inhibition input of the multivibrator (110) of each channel. The transistor (150) and the resistor (152) and the capacitor (154) connected to the transistor start the ejector test function with a slight time delay, during which the multivibrator (110) is suppressed, and this time The ejector pulse (111) is prevented from being formed until the time elapses.

【0030】 クラス分け回路(62)(図13)にはタイムスロットコントロール回路(160)を含 み、該回路はスキャンコントロール信号をコンダクター(92)(94)(96)を通じてマ ルチプレクサー(90)(図9乃至図11)に送り、観察チャンネルまたは光学ステイ ションOの中に配列した光学センサーを連続的に走査していく。タイムスロット コントロール回路(160)(図13)において、マスター電圧をコントロールされた オシレータ(161)は、約80キロヘルツの周波数のマスター周波数信号(162)(図 22)を供給する。オシレータは論理レベル変換トランジスタ(163)を通じて4ビ ットバイナリーカウンター(164)につながれる。トランジスタ(163)に入力される と、オシレータ(161)の論理レベルとカウンター(164)の論理レベルとの間におい て、カウンター(164)を異なる論理レベルにさせておくことができる。バイナリ ーカウンター(164)は図22に示された4ビットの計数信号を発し、デコードバ ッファ回路(165)を作動させる。これによってマルチプレクサー(90)は、コンダ クター(92)(94)(96)を経て整列された光学センサーOを順番に個々に選択する。 マルチプレクサー(90)の走査速度は約20キロヘルツである。The classification circuit (62) (FIG. 13) includes a time slot control circuit (160), which sends a scan control signal through the conductors (92) (94) (96) to the multiplexer (90) ( 9 to 11), the optical sensor arranged in the observation channel or the optical station O is continuously scanned. In the time slot control circuit 160 (FIG. 13), the oscillator controlled by the master voltage (161) supplies the master frequency signal 162 (FIG. 22) having a frequency of about 80 kHz. The oscillator is connected to a 4-bit binary counter (164) through a logic level conversion transistor (163). When input to the transistor (163), the counter (164) can be kept at different logic levels between the logic level of the oscillator (161) and the logic level of the counter (164). The binary counter (164) outputs the 4-bit count signal shown in FIG. 22 and activates the decode buffer circuit (165). This causes the multiplexer 90 to sequentially select the optical sensors O aligned through the conductors 92, 94, 96, respectively. The scanning speed of the multiplexer (90) is about 20 kilohertz.

【0031】 インバータゲート(166)はカウンター(165)からビットワンカウントの論理レベ ルを逆転させて、抑止パルス波形(167)によってコンダクター(124)を通じて抑止 し、各フォトダイオード(34)の最初の1/2サイクルの光学的状態を感知する。 ゲ ート(108)とマルチバイブレータ(110)、は各スキャニングサイクルの最初の1/2 サイクルがディスエイブル状態となる。 この様にして、マルチプレクサー(90) の各スイッチング動作の間に形成されたスパイク即ち過渡部(168)(図22)は、 選別される産物の中に望ましくないダークスポットとして検出されるのを抑制さ れる。The inverter gate (166) reverses the bit one-count logic level from the counter (165) and inhibits it through the conductor (124) by the inhibit pulse waveform (167), and the first of each photodiode (34). Detects 1/2 cycle optical state. The gate (108) and the multivibrator (110) are disabled in the first half of each scanning cycle. In this way, the spikes or transients (168) (FIG. 22) formed during each switching operation of the multiplexer (90) are detected as unwanted dark spots in the sorted product. Will be suppressed.

【0032】 本考案の直流接続型の実施例に於て、フォトダイオード(34)の1つ、例えば列 の最後のフォトダイオードは、各観察ステーションOの中に産物が下降してくる 流れから離れた位置に設けており、ゲインコントロールを行なうため背景の照明 レベルを感知する。ゲート(169)はカウンター(164)の例えば第3ビット及び第4 ビットの如き適当なビットに接続され、ゲート(170)の中で反転後、抑止パルス( 171)を形成し各フォトダイオードがスキャニングサイクルを行なう間に1回、背 景を感知する時間間隔を設けるのである。背景を感知している間、フォトセル(2 8)の前の観察ステーションVの背景の照明状態がモニターされる。ゲート(170) からの抑止パルスは、背景を感知している間、バッファ(165)からコンダクター( 124)(図9、図10、図12及び図13)を通じて遅延回路(64)に送られ、背景の 感知中に、クラス分け又は選別を行なわない様にする。この抑止機能は照明ラン プ(42)の極性が逆転したとき、ランプ逆転抑止機能にも同じようにして働くが、 これについては後で説明をする。In the DC-connected embodiment of the present invention, one of the photodiodes 34, eg, the last photodiode in the row, is separated from the descending stream of product into each observation station O. It is installed at a different position and gain control is performed to detect the background illumination level. The gate (169) is connected to an appropriate bit such as the third bit and the fourth bit of the counter (164), and after being inverted in the gate (170), the inhibition pulse (171) is formed and each photodiode is scanned. There should be one background-sensing time interval between cycles. While sensing the background, the background illumination of the viewing station V in front of the photocell 28 is monitored. The inhibit pulse from the gate (170) is sent from the buffer (165) to the delay circuit (64) through the conductor (124) (FIGS. 9, 10, 12 and 13) while sensing the background. Avoid classifying or sorting while sensing the background. This deterrent function works similarly for the lamp reversal deterrent function when the polarity of the illumination lamp (42) is reversed, which will be explained later.

【0033】 もう1つのクラス分けを抑止する機能は、エジェクターテストスイッチ(128)( 図7及び図12)が作動したとき、ダイオード(174)によってコンダクター(176) を通じて行なわれる。エジェクターテストスイッチ(128)が作動すると、更にコ ンダクター(178)(図13)を通じて、クラス分け回路(62)のエジェクターチャン ネルセレクター回路(182)の中の周波数コントロールオシレータ(180)に作動電力 が供給される。オシレータ(180)は、個々のチャンネルのエジェクターEにパル スを送るべき頻度を決定する。オシレータ(180)の周波数はポテンシオメータ(18 4)によってコントロールされ、該ポテンシオメータはパネル(130)のエジェクタ ー周波数コントロールノブ(196)(図7)によって調節される。あるチャンネルの エジェクターが計数回路(182)によって選択され、テストされているとき、パネ ル(130)のインジケータ発光ダイオード(185)(図7)もまた励磁し、係るテストが 現在行なわれていることを表示する。インジケータ発光ダイオード(185)は更に 通常の選別作業におけるエジェクター作業をも表示する。Another declassification function is performed by the diode (174) through the conductor (176) when the ejector test switch (128) (FIGS. 7 and 12) is activated. When the ejector test switch (128) is activated, operating power is further supplied to the frequency control oscillator (180) in the ejector channel selector circuit (182) of the classification circuit (62) through the contactor (178) (Fig. 13). Supplied. Oscillator 180 determines the frequency at which pulses should be sent to ejector E on each channel. The frequency of oscillator 180 is controlled by potentiometer 184, which is adjusted by ejector frequency control knob 196 (FIG. 7) on panel 130. When the ejector of a channel is selected and tested by the counting circuit (182), the indicator light emitting diode (185) (Fig. 7) of the panel (130) is also energized and such a test is currently being performed. Is displayed. The indicator light emitting diode (185) also displays the ejector work in normal sorting work.

【0034】 チャンネルのテストカウンター回路(182) (図13)はオシレータ(188)によっ て作動し、該オシレータは1組のアップ/ダウンコントロールゲート(192)を通 じて4ビットのデジタルカウンター回路(190)を作動させる。ゲート(192)はフロ ントパネル(130)のアップ/ダウンコントロールスイッチ(194)(図7)によって作 動し、カウンター(190)(図13)の中に記憶されたパルスの計数をオシレータ(18 8)からの各パルスに加えるべきか、減ずるべきかをコントロールする。オシレー タ(188)の作動はパネル(130)の変化テストチャンネルボタン(196)によってコン トロールされる。テストチャンネルカウンター回路(182)のカウンター(190)に記 憶された計数はデコード回路(198)(200)に送られ、1組の並列NORゲート(202 )と関連してデコードし、エジェクターソレノイド(48)がテストされるべきであ ることを表示する。The channel test counter circuit (182) (FIG. 13) is operated by an oscillator (188), which passes through a pair of up / down control gates (192) to a 4-bit digital counter circuit. Activate (190). The gate (192) is operated by the up / down control switch (194) (Fig. 7) of the front panel (130), and counts the pulses stored in the counter (190) (Fig. 13). Control) whether to add or subtract each pulse from. Activation of the oscillator (188) is controlled by the change test channel button (196) on the panel (130). The count stored in the counter (190) of the test channel counter circuit (182) is sent to the decoding circuits (198) (200) to be decoded in association with the pair of parallel NOR gates (202), and the ejector solenoid ( 48) indicates that it should be tested.

【0035】 直流接続型(図10)の選別機Sの場合、アナログスイッチ(203)(図10及び図 13)を設けて、ゲイン調節作動信号(204)(図22)をコンダクターー(205)(図1 0及び図13)を通じて受ける様にする。アナログスイッチ(203)は、計数回路(1 60)の最後の2つのスキャニングサイクル中、ゲート(170)の出力でゲート(206) によって検出されバッファ(165)を通じて送られた信号(204)によって作動してい る。この様にして、あるチャンネルによって感知された観察状態は、電子処理回 路Eを通じて基準増幅器(144)及び感光性抵抗器(146)に送られ、 増幅器(98)の 入力の減衰を調節し、光学ステーションOの背景状態との補償を行なう。この間 、信号はコンダクター(124)(図9、図10、図12及び図13)を通じて送られ 、エジェクター動作を抑制する。In the case of a DC connection type (FIG. 10) sorter S, an analog switch (203) (FIGS. 10 and 13) is provided, and a gain adjustment operation signal (204) (FIG. 22) is sent to the conductor (205) ( 10 and 13). The analog switch (203) is activated by the signal (204) detected by the gate (206) at the output of the gate (170) and sent through the buffer (165) during the last two scanning cycles of the counting circuit (160). is doing. In this way, the observed condition sensed by a channel is sent to the reference amplifier (144) and the photosensitive resistor (146) through the electronic processing circuit E to adjust the attenuation at the input of the amplifier (98), Compensate for the background condition of optical station O. During this time, signals are sent through the conductor 124 (FIGS. 9, 10, 12 and 13) to inhibit ejector operation.

【0036】 エジェクタープリドライブ回路(66)(図14)は、遅延回路(64)からの入力信号 を受けると、トランジスター(206)と導通する。トランジスター(206)のコレクタ ーと繋がった積分増幅器(208)はこのとき電荷を蓄積しはじめ、コンパレータ増 幅器(210)に送られる電圧を作る。コンパレータ(210)の出力はトランジスター(2 12)のコレクターに接続される。通常の選別作業の間、遅延回路(64)からのパル スはトランジスター(206)(212)を通過し、図20の(214)に示す如く、 電源トラ ンジスター(216)(218)を励磁する短時間のパルスを発生し、作動電圧を、電流制 限抵抗器(220)からエジェクターJを駆動するエジェクターソレノイド(48)のコ イル(222)まで通すことが出来る。このとき、パネル(130)(図7)に於けるそのチ ャンネルのインジケータ発光ダイオード(185)が励磁し、エジェクター(48)が電 流を受けている状態であることを表示する。The ejector pre-drive circuit (66) (FIG. 14) conducts with the transistor (206) when receiving the input signal from the delay circuit (64). The integrating amplifier (208) connected to the collector of the transistor (206) then begins to accumulate charge, creating the voltage that is sent to the comparator amplifier (210). The output of the comparator (210) is connected to the collector of the transistor (212). During the normal sorting operation, the pulse from the delay circuit (64) passes through the transistors (206) (212) and excites the power transistors (216) (218) as shown in (214) of FIG. Short pulses can be generated and operating voltage can be passed from the current limiting resistor (220) to the coil (222) of the ejector solenoid (48) that drives ejector J. At this time, the indicator light-emitting diode (185) of the channel on the panel (130) (Fig. 7) is excited, indicating that the ejector (48) is in the state of receiving current.

【0037】 図20の(226)で示す如く数秒のオーダーの比較的長いトリップ信号が発生し ているときトランジスター(206)は導電性になる。信号(226)の始まりと共に、波 形(228)で示す如くインテグレータ(208)(図14)の出力は増え始める。符号(230 )で示す如く、信号の時間内の一点にて、インテグレータ(208)の出力はバイアス 形成ネットワーク(232)によってコンパレータ(210)に加えられたバイアスレベル を越えると、 符号(233)で示す如くコンパレータ(210)は逆の状態即ちクランプ 状態になる。長く続くトリップ信号の波形(226)の残り部分については、コンパ レータ(210)の出力が電源トランジスター(216)(218)を通る電流の流れを抑える レベルに維持し、エジェクター(48)のソレノイド(222)を通る過剰電流の流れを 抑え、ソレノイド(222)が損傷されるのを防いでいる。トリップ信号(226)の終点 (234)にて、インテグレータ(208)の出力の電圧は符号(236)で示す如く小さくな り始め、符号(238)で示す位置に達する。ここではコンパレータ(210)への入力は 解除されない。The transistor 206 becomes conductive when a relatively long trip signal of the order of a few seconds is generated, as shown at (226) in FIG. With the beginning of signal (226), the output of integrator (208) (FIG. 14) begins to increase, as shown by waveform (228). At one point in time of the signal, as shown at (230), the output of the integrator (208) exceeds the bias level applied to the comparator (210) by the bias forming network (232), at (233). As shown, comparator 210 is in the opposite or clamped state. For the remainder of the long trip signal waveform (226), keep the output of the comparator (210) at a level that limits current flow through the power transistors (216) (218) and allow the ejector (48) solenoid (48) to It prevents excessive current flow through 222) and prevents damage to the solenoid (222). At the end point (234) of the trip signal (226), the voltage at the output of the integrator (208) begins to decrease as indicated by reference numeral (236) and reaches the position indicated by reference numeral (238). Here, the input to the comparator (210) is not released.

【0038】 ランプ電源コントロール回路(72)(第15図)に於て、作動電力は入力ライン(2 40)(242)を通じて電子コントロールオン−オフスイッチ(244)に送られる。スイ ッチ(244)が閉じると、ライン(240)(242)の交流がトランスフォーマ(246)から適 当な直流電源回路(248)に送られる。この時、冷却ファン(250)とランプフィラメ ントトランスフォーマ(256)(図18)はライン(240)(242)から作動電力を受ける 。コントロールパネル(254)(図5)に取り付けられたランプオン/オフスイッチ( 252)によって、ライン(240)(242)からランプ電源供給トランスフォーマ(257)(第 15図)に送られる電源のコントロールを行ない、ランプ電源供給トランスフォ ーマ(257)はコントロールされた整流器ネットワーク(258)からライン(260)(第1 5図及び図18)を通じて直流電圧をランプ回路(70)に供給し、ランプ(42)の作 動電力を供給する。In the lamp power control circuit 72 (FIG. 15), operating power is sent to the electronic control on-off switch (244) through the input lines (240) (242). When the switch (244) is closed, the AC of the lines (240) (242) is sent from the transformer (246) to the appropriate DC power supply circuit (248). At this time, the cooling fan (250) and the lamp filament transformer (256) (FIG. 18) receive operating power from the lines (240) and (242). The lamp on / off switch (252) mounted on the control panel (254) (Fig. 5) controls the power supplied from the lines (240) (242) to the lamp power supply transformer (257) (Fig. 15). The lamp power supply transformer (257) supplies a DC voltage to the lamp circuit (70) from the controlled rectifier network (258) through the line (260) (Figs. 15 and 18), and the lamp (42). ).

【0039】 回路(72)のソリッドステートリレー(262)(第15図)はライン(240)(242)と電 気的に接続される。ランプスイッチ(252)を閉じると、リレー(262)によって、コ ントロールパネル(254)(図5)に取り付けられたエジェクターオン/オフスイッ チ(264)から電流を流すことが出来るから、ライン(240)(242)(第15図)の交流 電圧はトランスフォーマ(266)と整流器回路(268)を通り、コンダクター(270)を 通じてエジェクタードライブ回路(68)(図14)に作動電源バイアスを供給する。 トランスフォーマ(272)はスイッチ(264)が閉じた時交流電圧を受け、整流器ネッ トワーク(274)を通じて直流作動電力をフィーダー電力コントロール(275)に供給 し、タイミングコントロール回路(78)にコントロールされて電源を上部選別機U と下部選別機Lの両方のフィーダー(16)に電源を供給する。電源はタイミングコ ントロール(78)の指令を受けてソレノイド(276)(278)を作動するために供給され る。ソレノイド(276)(278)は以下に記載する如く用いられると、選別装置Sの作 動中に観察ステーションに溜まったダストや外部から侵入してきた物質を取り除 くことが出来るように、選別機UとLの観察ステーションVを通じて周期的に空 気を吹き付けるのである。The solid state relay (262) (FIG. 15) of the circuit (72) is electrically connected to the lines (240) and (242). When the lamp switch (252) is closed, the relay (262) allows current to flow from the ejector on / off switch (264) attached to the control panel (254) (Fig. 5), so the line (240) The AC voltage at (242) (Fig. 15) passes through the transformer (266) and the rectifier circuit (268) and through the conductor (270) to supply the operating power supply bias to the ejector drive circuit (68) (Fig. 14). The transformer (272) receives an AC voltage when the switch (264) is closed, supplies DC operating power to the feeder power control (275) through the rectifier network (274), and is controlled by the timing control circuit (78) to supply power. To the feeders (16) of both the upper sorter U and the lower sorter L. Power is supplied to operate the solenoids (276) (278) in response to a command from the timing control (78). When used as described below, the solenoids (276) (278) are used to remove the dust collected in the observation station and the substances that have entered from the outside during the operation of the sorting device S. Air is periodically blown through the observation stations V of U and L.

【0040】 照明感度回路(74)(図16)に於て、背景照明を感知するフォトダイオード(280 )は背景照明ランプ(44)(図2)の近傍に配置され、感知された光学的状態を示す 信号を変換増幅器(282)を通じて差動増幅器の第1の入力に送る。差動(differen tial)増幅器(284)は別の入力にポテンシオメータ(286)に設定された背景照明の 感度レベルを受け、バッファ増幅器(288)を通じて供給される。ポテンシオメー タ(286)の設定はコントロールパネル(254)のコントロールノブ(290)(図5)によ ってコントロールされる。In the illumination sensitivity circuit (74) (FIG. 16), the photodiode (280) that senses the background illumination is arranged in the vicinity of the background illumination lamp (44) (FIG. 2) to detect the sensed optical state. Is sent to the first input of the differential amplifier through the conversion amplifier (282). The differential tial amplifier (284) receives at another input the sensitivity level of background illumination set in the potentiometer (286) and is fed through the buffer amplifier (288). The potentiometer (286) settings are controlled by the control knob (290) (Fig. 5) on the control panel (254).

【0041】 照明感度回路(74)(図16)はセンシングフォトダイオード(292)を含み、該フ ォトダイオードは選別装置Sの上部及び下部選別機ステーションの両者の主照明 ランプ(42)の各々の近くに設けられる。フォトダイオード(292)は感知した照明 状態を示す電気信号を形成する。これら信号はバッファ増幅器(294)を通じて供 給され差動増幅器(296)に送られる。差動増幅器(296)は更に又、その別の入力で 感度設定ポテンシオメータ(300)によってバッファ増幅器(298)を通って送られた 基準レベルの信号を受ける。ポテンシオメータ(300)の設定はコントロールパネ ル(254)の感度調節ノブ(302)(図5)によってコントロールされる。The illumination sensitivity circuit (74) (FIG. 16) includes a sensing photodiode (292) which is near each of the main illumination lamps (42) at both the upper and lower sorter stations of the sorter S. It is provided in. The photodiode (292) forms an electrical signal indicative of the sensed lighting condition. These signals are supplied through the buffer amplifier (294) and sent to the differential amplifier (296). The differential amplifier (296) also receives at its other input a reference level signal sent through the buffer amplifier (298) by the sensitivity setting potentiometer (300). The setting of the potentiometer (300) is controlled by the sensitivity adjustment knob (302) (Fig. 5) of the control panel (254).

【0042】 差動増幅器(284)(296)が形成する信号は、その信号電圧は、ポテンシオメータ (286)(300)によって示される観察ステーションの所定の照明レベルと、フォトダ イオード(280)(292)によって感知される実際の照明状態との違いを示している。 増幅器(284)(296)に形成された微分信号は、電圧から電流への変換器として機能 する作動増幅器(304)に送られる。作動増幅器(304)からの出力電流はこのように して、観察ステーションVにおける所定の照明強さと実際の照明強さとの差異と して現れる。この差異によって作動増幅器(304)の出力に繋がった電力トランジ スター(312)(図18)を流れる電流の量がコントロールされる。電力トランジス ター(312)は各々がコンダクター(314)によって極性逆転スイッチ(316)を介しラ ンプコントロール回路(70)(図18)の中のランプ(42)の1つに接続している。ト ランジスター(312)は、ランプ(42)を通過する電流のレベルをコントロールして 、規制しているから、ランプ(42)が与える照明の強さをコントロールすることが 出来る。The signals formed by the differential amplifiers (284) (296) are such that the signal voltage is at a given illumination level of the viewing station indicated by the potentiometers (286) (300) and the photodiodes (280) (292). ) Shows the difference from the actual lighting condition sensed by). The differential signal formed in the amplifiers (284) (296) is sent to an operational amplifier (304) which functions as a voltage-to-current converter. The output current from the operational amplifier (304) thus appears as the difference between the predetermined illumination intensity at the observation station V and the actual illumination intensity. This difference controls the amount of current flowing through the power transistor (312) (FIG. 18) connected to the output of the operational amplifier (304). The power transistors (312) are each connected by a conductor (314) via a polarity reversal switch (316) to one of the lamps (42) in the lamp control circuit (70) (FIG. 18). The transistor (312) controls the level of the electric current passing through the lamp (42) to regulate it, so that the intensity of the illumination given by the lamp (42) can be controlled.

【0043】 コンダクター(310)は増幅器(304)(図16)に負の入力を供給し、その電圧は電 力トランジスター(312)のエミッターの抵抗器(317)(図18)を流れる電流によっ て決められ、それは連繋されたランプ(42)を流れる電流量を表している。コンダ クター(310)の電圧は、関連するランプを流れる電流がランプコントロール回路 の連結抵抗器(318)を通じてコンパレータ増幅器(320)の第1の入力に接続されて ランプ(42)を流れる電流の大きさを表わしていることを意味する。コンパレータ 増幅器(320)の別の入力には抵抗器ネットワーク(322)によって形成されたランプ (42)の最大定格電流である基準の電流が供給される。コンダクター(310)を通り ランプ(42)を流れる電流レベルが抵抗器ネットワーク(322)によって表わされた ランプ(42)の定格電流を越えない限り、コントロールパネル(254)に収容された 対のインジケータ(324)の内、インジケータ発光ダイオード(324a)を励磁し、ラ ンプの定格電流を越えていないことを表示する。コンパレータ(320)がランプ(42 )を流れる電流が定格を越えたことを感知すると、コンパレータ(320)は状態を変 えてその代わりとして、対(324)の内もう1つのインジケータ発光ダイオード(324 b)を励磁する。発光ダイオード(324a)は緑色の光を発するものが望ましく、一方 発光ダイオード(324b)は赤色の光を発するものが望ましい。しかしながら異なる 色の光を同じように用いても構わないことは理解されるべきである。The conductor (310) provides a negative input to the amplifier (304) (FIG. 16) whose voltage is dependent on the current flowing through the resistor (317) (FIG. 18) in the emitter of the power transistor (312). Which represents the amount of current flowing through the linked lamps (42). The voltage of the conductor (310) is such that the current through the associated lamp is connected to the first input of the comparator amplifier (320) through the connecting resistor (318) of the lamp control circuit and is the magnitude of the current through the lamp (42). It means that it represents The other input of the comparator amplifier (320) is supplied with a reference current which is the maximum rated current of the lamp (42) formed by the resistor network (322). A pair of indicators housed in the control panel (254) as long as the current level through the conductor (310) and through the lamp (42) does not exceed the rated current of the lamp (42) represented by the resistor network (322). Of the (324), the indicator light-emitting diode (324a) is excited to display that the rated current of the lamp is not exceeded. When the comparator (320) senses that the current through the lamp (42) exceeds the rating, the comparator (320) changes state and instead takes the place of another indicator light emitting diode (324 b) in the pair (324). ) Is excited. The light emitting diode (324a) preferably emits green light, while the light emitting diode (324b) preferably emits red light. However, it should be understood that different colors of light may be used as well.

【0044】 コンダクター(310)は更に又抵抗器(328)を通じてコンパレータ作動増幅器(330 )に接続される。増幅器(330)は又電流センサーとしても機能し、ランプ(42)の全 部が少なくとも最小の電流を導いていることが感知されるまで、共通の出力コン ダクター又はバス(332)を低レベルに保持する。コンダクター(332)はトランジス ター(334)に接続され、該トランジスターはコンダクター(332)が低レベルにある 限り導電せず、ランプ(42)の全部が電流を流している訳ではないことを示してい る。トランジスター(334)が非導電性のとき、オシレータ(336)は、波形(340)(図 21)によって示されるようにパルス化された電流信号をトランジスター(338)に 供給し、信号はランプスタート回路(80)のトランスフォーマ(346)の一次側(344) (図18)に共通して供給される。トランスフォーマ(346)の一次側(344)は、その 誘導リアクタンスによって生ずる正の過渡部又はスパイクを有する電圧波形(348 )(図22)を形成する。トランスフォーマ(346)の一次側(344)の波形(348)はトラ ンスフォーマ(346)の二次コイル(352)に於ける大きな負のパルス(350)(図21) を含み、このパルスはランプ(42)が導通するまでランプ(42)に送られる。The conductor (310) is also connected to the comparator operational amplifier (330) through the resistor (328). The amplifier (330) also functions as a current sensor, pulling the common output conductor or bus (332) low until it is sensed that all of the lamps (42) are conducting at least a minimum current. Hold. Conductor (332) is connected to transistor (334) and the transistor is not conducting as long as conductor (332) is low, indicating that not all lamps (42) are conducting current. It When the transistor (334) is non-conducting, the oscillator (336) provides a pulsed current signal to the transistor (338), as shown by the waveform (340) (Fig. 21), which signals the ramp start circuit. It is commonly supplied to the primary side (344) (FIG. 18) of the transformer (346) of (80). The primary side (344) of the transformer (346) forms a voltage waveform (348) (FIG. 22) with a positive transient or spike caused by its inductive reactance. The waveform (348) on the primary side (344) of the transformer (346) includes a large negative pulse (350) (FIG. 21) on the secondary coil (352) of the transformer (346), which pulse is a ramp. It is sent to the lamp (42) until it becomes conductive.

【0045】 コンパレータ作動増幅器(330)(図16)の全部が、それに連繋しているランプ に電流が流れていることを一旦感知すると、コンダクター(332)の電圧は高レベ ルに移行し、トランジスター(334)を導電すると共に、オシレータ(336)が更にパ ルスを形成することを抑える。Once all of the comparator-operated amplifiers (330) (FIG. 16) sense current flowing through the lamps associated with it, the voltage on conductor (332) transitions to a high level, causing the transistor It conducts (334) electrically and suppresses the oscillator (336) from further forming a pulse.

【0046】 ランプのオン/オフスイッチ(252)(図5、第15図及び図16)の1つのブレ ードが、オシレータ(336)(図16)の抑止入力ターミナルにも電気的に接続され 、スイッチ(252)がオフの位置(図16)に移行したときオシレータ(336)はランプ スタートパルスを形成することが抑えられる。スイッチ(252)のこのブレードが オンの位置に移行するとき、ソリッドステートリレー(262)(第15図)はコンダク ター(352)を通じて励磁される。One blade of the lamp on / off switch (252) (FIGS. 5, 15 and 16) is also electrically connected to the inhibit input terminal of the oscillator (336) (FIG. 16). , The oscillator 336 is prevented from forming a ramp start pulse when the switch 252 transitions to the off position (FIG. 16). When this blade of switch (252) transitions to the on position, solid state relay (262) (Fig. 15) is energized through conductor (352).

【0047】 オシレータ(336)の抑止入力端子もまたオシレータ抑止トランジスター(354)( 図16)に電気的に接続され、その動作はランプ電流抑止トランジスター(356)に よってコントロールされる。ランプ電流抑止トランジスター(356)はトランジス ター(306)の各々のベースに電気的に接続される。トランジスター(356)が励磁す ると、トランジスター(306)のコレクターが接地され、ランプ電力トランジスタ ー(312)(42)に電流が流れるのを抑制する。トランジスター(356)は、タイミング 回路(78)からコンダクター(358)を通じて又はスイッチ(244)(第15図及び図1 6)を解放することによってランプ停止信号を受けると、トランジスター(306)を 作動させてトランジスター(354)を通じてオシレータ(336)を抑止する。制動(dam ping)キャパシター(359)は閉じたスイッチ(244)を通じて電流をゆっくりと放電 し、ランプ(42)の極性が急に変わることを防いでいる。The inhibit input terminal of the oscillator (336) is also electrically connected to the oscillator inhibit transistor (354) (FIG. 16), the operation of which is controlled by the lamp current inhibit transistor (356). A lamp current suppression transistor (356) is electrically connected to each base of the transistors (306). When transistor (356) is energized, the collector of transistor (306) is grounded, inhibiting current flow through lamp power transistors (312) (42). Transistor (356) activates transistor (306) when it receives a lamp stop signal from timing circuit (78) through conductor (358) or by releasing switch (244) (Figs. 15 and 16). Suppresses the oscillator (336) through the transistor (354). Damping capacitors (359) slowly discharge current through the closed switch (244), preventing sudden changes in the polarity of the lamp (42).

【0048】 電流コンダクター(332)は2つのインバータ(360)(362)を経てコンダクター(364 )によってランプタイミング回路(78)(図17)に繋がれ、コンダクター(364)の電 圧レベルによってキャパシター増幅器(330)に感知されたランプ(42)の全てが電 流を導いているかどうかをタイミング回路(78)に対して表示するのである。トラ ンジスター(366)はコンダクター(364)の電圧状態が全てのランプが電流を受けて いることを示すとき導電性となり、電流をリレーコイル(368)に通すことが出来 、コンタクト(370)の位置を移動してインジケータ発光ダイオード(324)(326)が 発光出来るように電気的に繋ぐのである。The current conductor (332) is connected to the lamp timing circuit (78) (FIG. 17) by the conductor (364) through the two inverters (360) and (362), and the capacitor amplifier is connected according to the voltage level of the conductor (364). It indicates to the timing circuit (78) whether all of the lamps (42) sensed by (330) are conducting current. The transistor (366) becomes conductive when the voltage state of the conductor (364) indicates that all lamps are receiving current, allowing current to pass through the relay coil (368) and the position of the contact (370). Is electrically connected so that the indicator light emitting diodes (324) and (326) can emit light.

【0049】 タイミングコントロール回路(78)(図17)に於て、メインの遅延単安定マルチ バイブレータ又はワンショット(372)は、タイムコントロール回路(376)によって 決められた時間が過ぎた後、出力パルス(374)(図23)を形成する。メインの遅 延時間の間隔は代表的には15分又は20分のオーダであり、これはランプの逆 転コンタクト(316)(図18)からランプ(42)を流れる電流の極性を逆転させるの に必要なおおよその時間間隔を表わしている。メイン遅延単安定マルチバイブレ ータ(372)(図17)に形成されたパルス(374)は入力信号として更に単安定マルチ バイブレータ(378)に送られ、 ここでコンダクター(382)にフィーダー停止パル ス波形(380)(図23)を形成し、コンダクター(386)にランプ逆転パルス(384)を 形成する。ランプ逆転単安定マルチバイブレータ(388)(図17)は二安定スイッ チ又はトグル(392)に送られるパルス(384)に応答してランプ逆転パルス(390)(図 23)を形成する。トグル(392)は波形(394)で示す如く状態を変化させる。波形( 394)は高レベルに移行するとトランジスター対(396)を導電性にし、電流をラン プ逆転リレーコイル(398)を通過させ、ランプ(42)を流れる電流の向きをコント ロールするコンタクト(316)(図18)の位置を変化させる。トグル(392)は又低論 理レベルに移行するとトランジスター対(396)は非導電性となり、ランプ逆転リ レー(398)を電流が流れるのを遮断しコンタクト(316)の位置を再び変化させる。 単安定マルチバイブレータ(378)に形成されたパルス(384)はランプ停止単安定マ ルチバイブレータ(400)への入力として送られる。 単安定マルチバイブレータ(4 00)はコンダクター(404)を通じてランプ停止パルス(402)及び反対の論理レベル のパルス(406)を形成し、パルス(406)はコンダクター(358)を通じてランプ電流 抑止トランジスター(356)(図16)に送られ、ランプ(42)に電流が流れるのを遮 断する。In the timing control circuit (78) (FIG. 17), the main delay monostable multivibrator or one-shot (372) outputs the output pulse after the time determined by the time control circuit (376) has passed. (374) (FIG. 23) is formed. The main delay time interval is typically on the order of 15 or 20 minutes, which reverses the polarity of the current flowing through the lamp's reverse contact (316) (Fig. 18) through the lamp (42). Represents the approximate time interval required for. The pulse (374) formed on the main delay monostable multivibrator (372) (Fig. 17) is further fed as an input signal to the monostable multivibrator (378), where the conductor (382) feed stop pulse. A waveform (380) (FIG. 23) is formed and a ramp reversal pulse (384) is formed on the conductor (386). The ramp reversal monostable multivibrator (388) (FIG. 17) forms the ramp reversal pulse (390) (FIG. 23) in response to the pulse (384) sent to the bistable switch or toggle (392). The toggle (392) changes state as shown by the waveform (394). The waveform (394) makes the transistor pair (396) conductive when it goes high, passing current through the ramp reversing relay coil (398) and controlling the direction of current flow through the lamp (42) (316). ) (FIG. 18) is changed. When the toggle (392) also goes to a low logic level, the transistor pair (396) becomes non-conducting, interrupting current flow through the lamp reverse relay (398) and repositioning the contact (316). The pulse (384) generated in the monostable multivibrator (378) is sent as input to the ramp stop monostable multivibrator (400). The monostable multivibrator (400) forms a lamp stop pulse (402) and an opposite logic level pulse (406) through the conductor (404), the pulse (406) passing through the conductor (358) to the lamp current suppression transistor (356). ) (Fig. 16) to block the flow of current through the lamp (42).

【0050】 コンダクター(404)のランプ停止パルス(406)はNANDゲート(407)への入力 として供給される。ゲート(407)は又、入力としてコンダクター(364)の電圧状態 を受け、この電圧はランプ(42)が導電状態であることを示す。波形(408)(図23 )によって示す如く、ランプ停止パルス(402)の状態を変えたのち僅かの時間遅ら せてランプ(42)の全てを導電させた後、ゲート(407)に加えられたコンダクター( 364)の電圧レベルは高レベルに移行する。コンダクター(364)の波形(408)は更に 入力としてコンダクター(410)を通じて背景ブロウダウン単安定マルチバイブレ ータ又はワンショット(412)に送られる。マルチバイブレータ(412)はパルス(414 )(図23)をコンダクター(416)を通じてゲート(407)に供給し、パルス(418)をコ ンダクター(420)を通じてトランジスター(422)に送る。トランジスター(422)は パルス(418)を受けるとトランジスター(424)(426)を導通させ、その間パルス(41 8)を電力コントロールボード(275)に送り、電流を背景ブロウダウンソレノイド( 276)(278)(第15図)に流し、空気を観察ステーションVから吹き付けて蓄積され たダストやその他微粒子を取り除いてきれいにする。The lamp stop pulse (406) of the conductor (404) is provided as an input to the NAND gate (407). The gate (407) also receives as an input the voltage state of the conductor (364), which indicates that the lamp (42) is conducting. As shown by waveform (408) (Fig. 23), after changing the state of the lamp stop pulse (402), the lamp (42) is made conductive after a slight delay and then applied to the gate (407). The voltage level of the conductor (364) goes high. The waveform (408) of the conductor (364) is also sent as an input through the conductor (410) to the background blowdown monostable multivibrator or one shot (412). The multivibrator (412) supplies the pulse (414) (FIG. 23) to the gate (407) through the conductor (416) and the pulse (418) to the transistor (422) through the contactor (420). The transistor (422) conducts the transistor (424) (426) when it receives the pulse (418), while sending the pulse (418) to the power control board (275), sending current to the background blowdown solenoid (276) (278). ) (Fig. 15) and blow air from the observation station V to remove accumulated dust and other fine particles and clean it.

【0051】 NANDゲート(407)はインバータゲート(428)、ローパスフィルター(430)及 びインバータ(432)を通じて接続され、エジェクター取消しパルス(434)(図23) を形成し、該パルスによってトランジスター(436)を導通させ、遅延回路(64)(図 12)のORゲート(108)を抑止してエジェクター取消しパルス(434)を持続させ る。The NAND gate (407) is connected through the inverter gate (428), the low pass filter (430) and the inverter (432) to form an ejector cancellation pulse (434) (FIG. 23), and the pulse causes the transistor (436). ) Is turned on, and the OR gate (108) of the delay circuit (64) (FIG. 12) is suppressed to maintain the ejector cancellation pulse (434).

【0052】 反転型のパルス(434)(図23)はインバータ(428)から入力としてNANDゲー ト(438)(図17)に送られ、NANDゲートはコンダクター(382)を通じて第2の 入力としてパルス(384)を受ける。ゲート(438)はフィーダー取消しパルス(440)( 図23)を形成し、該パルスはインバータ(442)(444)(図17)にて反転後NOR ゲート(446)に平行して送られる。フィーダー取消しパルス(440)はゲート(446) からインバータ(448)を通じて一対のフィーダー取消しトランジスター(450)に送 られる。トランジスター(450)はコンダクター(452)を通じて、フィーダー取消し パルス(440)が持続している間、選別機UとLのフィーダー(16)が作動しないよ うにする。フィーダー取消しトランジスター(450)は各々がゲート(446)の1つを 通じて、インバータ(454)を経てフィーダーコントロールパネル(460)(図6)に設 けたフィーダーコントロールスイッチ(458)に接続され、作業者は上部と下部の フィーダー(16)の両方とも停止させることが出来る。The inverted pulse (434) (FIG. 23) is sent as an input from the inverter (428) to the NAND gate (438) (FIG. 17), and the NAND gate is pulsed as a second input through the conductor (382). Take (384). The gate (438) forms a feeder cancellation pulse (440) (FIG. 23) which is sent in parallel to the NOR gate (446) after being inverted by the inverters (442) (444) (FIG. 17). The feeder cancel pulse (440) is sent from the gate (446) through the inverter (448) to the pair of feeder cancel transistors (450). Transistor (450), through conductor (452), prevents the feeders (16) of sorters U and L from operating while the feeder cancel pulse (440) persists. Each feeder cancel transistor (450) is connected through one of the gates (446) to the feeder control switch (458) on the feeder control panel (460) (Fig. 6) via the inverter (454). The operator can stop both the upper and lower feeders (16).

【0053】 インバータ(460)(図17)、ローパスフィルター(462)及びもう1つのインバー タ(464)はインバータ(442)に電気的に接続され、ゲート(438)からフィーダー取 消しパルス(440)は反転した形でメインの遅延モノリセットパルス(466)(図23) としてコンダクター(468)(図17)を通じてメインの遅延単安定(372)に対する入 力として供給される。パルス(466)はランプの逆転が完了すると単安定(372)をリ セットし、使用された場所にて、タイミングコントロール回路(78)にコントロー ルされてチャンバー清掃機能が行なわれる。The inverter (460) (FIG. 17), the low pass filter (462) and the other inverter (464) are electrically connected to the inverter (442) and fed from the gate (438) to the feeder cancellation pulse (440). Is provided in inverted form as the main delayed mono-reset pulse (466) (FIG. 23) through the conductor (468) (FIG. 17) as input to the main delayed monostable (372). The pulse (466) resets the monostable (372) when the reversal of the lamp is completed, and is controlled by the timing control circuit (78) at the place where it is used to perform the chamber cleaning function.

【0054】 ランプ逆転オーバーライドスイッチ(470)(図5及び図17)はフロントパネル( 254)に設けられる。オーバーライドスイッチ(470)(図17)を押圧すると、単安 定マルチバイブレータ(472)はパルスを形成し、メインの遅延単安定(372)を、通 常の状態変化の時間よりも速い時間で状態を変化させることができる。スイッチ (470)を押圧すると、恰も単安定(372)の通常の遅延時間が経過したのと同じよう に、チャンバー清掃機能及びランプ逆転機能が行なわれる。The lamp reverse override switch 470 (FIGS. 5 and 17) is provided on the front panel (254). When the override switch (470) (Fig. 17) is pressed, the monostable multivibrator (472) forms a pulse that activates the main delay monostable (372) at a faster rate than the normal state change. Can be changed. When the switch (470) is pressed, the chamber cleaning function and the lamp reversing function are performed as if the normal delay time of the monostable (372) has passed.

【0055】 本考案の実施に於て、選別される産物はホッパー(10)に入れられ、トレー(14) (18)の中で下向きに落ちるいくつかの平行な流れを形成し、その後観察ステーシ ョンVの中を通過する。前述した如く、これらの流れは個々の粒が互いに隣合っ ていても良く、観察ステーションVを通過させる前に産物の粒を分離して1つづ つ垂直方向に一定の間隔を設ける必要はない。In the practice of the present invention, the products to be sorted are placed in a hopper (10), forming several parallel streams that drop downwards in trays (14) (18), after which the observation stations are Pass through the V. As mentioned above, these streams may be such that the individual grains are next to each other and it is not necessary to separate the product grains one at a time vertically before passing through the observation station V.

【0056】 観察ステーションVにおいて、光学式観察ステーションOの各々の中に一列に 揃えて設けたフォトダイオードセルによって、ステーションOの前に観察チャン バーVの面積の内、細分化した部分を感知する。光学センサーフォトセル(34)は 、もし産物がその前にあるとき、産物を感知した光を示す電気信号を形成する。 光学センサーフォトセル(34)からの信号は連続的に電気的にサンプリングされ又 はマルチプレクサー(90)によって多重送信され、クラス分け回路(62)のコンパレ ータ増幅器(104)の基準信号との比較が行なわれ産物が合格すべきものであるか どうかの決定をする。もし産物が合格すべきでない場合、出力パルス(105)(図19 )が形成され、単安定(110)によって遅延回路(64)を通るパルス(111)を形成し、 パルス(117)としてエジェクタープリドライブ回路(66)とエジェクタードライブ 回路(68)に送られソレノイド(48)を励磁し、観察ステーションVの中のエジェク タージェットJを通じて空気を吹き付け、不合格の産物を吹き飛ばして上部選別 機Uのシュート(50)の中に入れ、そこから下部選別機Lのフィーダートレー(14) (18)の中を通過させて同じような選別作業が行なわれる。下部選別機Lで合格と なった産物はトレー又はシュート(52)から適当な容器の中に供給される。下部選 別機Lで不合格となった産物は廃棄してしまうか、或は又新たに入ってくる粒と 共に上部選別機Uのシュート又はホッパー(10)の中に供給して更に選別を行なう 。In the observation station V, the photodiode cells arranged in line in each of the optical observation stations O sense the subdivided portion of the area of the observation chamber V in front of the station O. . The optical sensor photocell (34) forms an electrical signal indicative of the light that senses the product if it is in front of it. The signal from the optical sensor photocell (34) is continuously electrically sampled or multiplexed by the multiplexer (90) and compared with the reference signal of the comparator amplifier (104) of the classification circuit (62). A comparison is made to determine if the product should pass. If the product should not pass, the output pulse (105) (Fig. 19) is formed, the monostable (110) forms the pulse (111) through the delay circuit (64), and the ejector prepulse as pulse (117). It is sent to the drive circuit (66) and the ejector drive circuit (68) to excite the solenoid (48) and blow air through the ejector jet J in the observation station V to blow away the rejected products and A similar sort operation is performed by putting the chute in the chute 50 and passing it through the feeder trays 14 and 18 of the lower sorter L. Products that pass the lower sorter L are fed from a tray or chute (52) into a suitable container. Products rejected by the lower sorter L may be discarded, or may be supplied together with the new incoming grains into the chute or hopper (10) of the upper sorter U for further sorting. Do.

【0057】 選別作業中、ランプ(42)を流れる電流の強さは絶えずモニターされて、各ラン プへの定格電流が越えていないかどうかしらべる。もしランプ(42)の内、1つの ランプの定格電流が越えているとすると、それに関連したダイオード対(324)の 内、警告発光ダイオードが作動して定格電流が越えていることを表示する。次に そのランプ(42)を交換することが出来る。更に、選別作業中ランプ(42)の各々は 照明強さの出力が基準値と比較される。あるランプの照明レベルが基準レベルか ら外れているとき、そのランプ(42)に送られる電流の量は、そのランプ(42)の照 明強さの出力が基準レベルに戻るように調節が行なわれる。During the sorting operation, the intensity of the current flowing through the lamp (42) is constantly monitored to see if the rated current to each lamp is exceeded. If the rated current of one of the lamps (42) is exceeded, the warning light emitting diode of the associated diode pair (324) will be activated to indicate that the rated current is exceeded. The lamp (42) can then be replaced. Further, the output of the illumination intensity of each of the lamps (42) during the sorting operation is compared with the reference value. When the illumination level of a lamp deviates from the reference level, the amount of current sent to the lamp (42) is adjusted so that the illumination intensity output of the lamp (42) returns to the reference level. Be done.

【0058】 メインの遅延単安定(372)によって設定された時間が経過すると、フィーダー 停止パルス(384)とランプ停止パルス(406)が形成され、蛍光ランプ(42)に供給さ れる電流の極性が逆転する。オシレータ(336)が作動し、パルスをランプLの各 々のパルストランスフォーマー回路に供給する。ランプ(42)の全てが照明される まで、前記パルスは供給される。この時、選別作業が再開される。When the time set by the main delay monostable (372) has elapsed, the feeder stop pulse (384) and the lamp stop pulse (406) are formed, and the polarity of the current supplied to the fluorescent lamp (42) changes. Reverse. Oscillator 336 is activated and supplies pulses to the respective pulse transformer circuits of lamp L. The pulse is delivered until all of the lamps (42) are illuminated. At this time, the sorting work is restarted.

【0059】 本考案の前記開示及び記載は例示的に説明したものであって、大きさ、形状及 び材料、要素、回路要素、配線及び接続に於て、例示した回路及び構造の詳細と 同じように、本考案の精神から逸脱することなく種々の変形を成すことが出来る 。The foregoing disclosure and description of the invention is provided as an example, and is the same as the illustrated circuit and structure details in size, shape and materials, elements, circuit elements, wiring and connections. Thus, various modifications can be made without departing from the spirit of the invention.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の選別機の斜面図である。FIG. 1 is a perspective view of a sorting machine according to the present invention.

【図2】図1の選別機の産物観察ステーションの一部を
破断した正面図である。
FIG. 2 is a front view in which a part of a product observation station of the sorting machine of FIG. 1 is cut away.

【図3】図2の3ー3線に沿う断面図である。3 is a sectional view taken along line 3-3 of FIG.

【図4】図2の4ー4線に沿う断面図である。4 is a sectional view taken along line 4-4 of FIG.

【図5】図1の選別機の装置パネルの正面図である。5 is a front view of the device panel of the sorter of FIG. 1. FIG.

【図6】図1の選別機の装置パネルの正面図である。6 is a front view of the device panel of the sorter of FIG. 1. FIG.

【図7】図1の選別機の装置パネルの正面図である。7 is a front view of the device panel of the sorter of FIG. 1. FIG.

【図8】図1の選別機のブロックダイヤグラムである。FIG. 8 is a block diagram of the sorter of FIG.

【図9】図1の選別機に於ける選別チャンネルの電気回
路図である。
9 is an electric circuit diagram of a sorting channel in the sorting machine of FIG.

【図10】図1の選別機の他の実施例の選別チャンネル
の電気回路図である。
10 is an electric circuit diagram of a sorting channel of another embodiment of the sorting machine of FIG.

【図11】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
11 is an electric circuit diagram of a part of the circuits of FIGS. 9 and 10. FIG.

【図12】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
12 is an electric circuit diagram of a part of the circuits shown in FIGS. 9 and 10. FIG.

【図13】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
13 is an electric circuit diagram of a part of the circuits of FIGS. 9 and 10. FIG.

【図14】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
14 is an electric circuit diagram of a part of the circuits shown in FIGS. 9 and 10. FIG.

【図15】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
15 is an electric circuit diagram of a part of the circuits of FIGS. 9 and 10. FIG.

【図16】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
16 is an electric circuit diagram of a part of the circuits of FIGS. 9 and 10. FIG.

【図17】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
FIG. 17 is an electric circuit diagram of a part of the circuits shown in FIGS. 9 and 10.

【図18】図9及び図10の回路の一部についての電気
回路図である。
18 is an electric circuit diagram of a part of the circuits of FIGS. 9 and 10. FIG.

【図19】図9及び図10の回路について、時間スケー
ルは共通でないが、その回路の動作を説明する波形図で
ある。
FIG. 19 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuits of FIGS. 9 and 10, although the time scale is not common.

【図20】図9及び図10の回路について、時間スケー
ルは共通でないが、その回路の動作を説明する波形図で
ある。
FIG. 20 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuits of FIGS. 9 and 10, although the time scales are not common.

【図21】図9及び図10の回路について、時間スケー
ルは共通でないが、その回路の動作を説明する波形図で
ある。
FIG. 21 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuits of FIGS. 9 and 10, although the time scale is not common.

【図22】図9及び図10の回路について、時間スケー
ルは共通でないが、その回路の動作を説明する波形図で
ある。
FIG. 22 is a waveform diagram for explaining the operation of the circuits of FIGS. 9 and 10, although the time scale is not common.

【図23】図9及び図10の回路について、時間スケー
ルは共通でないが、その回路の動作を説明する波形図で
ある。
FIG. 23 is a waveform diagram illustrating the operation of the circuits of FIGS. 9 and 10, although the time scales are not common.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

S 選別装置 L 下部選別機 U 上部選別機 V 観察ステーション E 電子処理回路 F フレーム J エジェクター K ランプコントロール回路 O 光学ステーション P 電源 S sorter L bottom sorter U top sorter V observation station E electronic processing circuit F frame J ejector K lamp control circuit O optical station P power supply

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 農産物が流れとなって照明された観察室
の中を下降する際、農産物のカラーに基づいて農産物を
選別する装置であって、 (a) 観察室の中に設けられ、農産物が観察ステーション
の中を流れとなって通過するとき農産物から反射した光
を感知する光学ステーション手段と、 (b) 該光学ステーション手段は、農産物の前記流れから
反射した光を感知し、その感知した光を表わす電気信号
を形成する複数の光学センサーを一列に揃えて配列して
おり、 (c) 光学ステーション手段の中で光学センサーからの電
気信号を連続的にサンプリングする手段と、 (d) 連続的にサンプリングした電気信号を基準信号と比
較して産物が合格すべきであるかどうかを決定する直流
接続型処理回路手段と、 (e) 不合格の産物を合格と決められた産物から排除する
ためのエジェクター手段と、 (f) 処理回路手段の基準信号を形成する手段と、 (g) 基準信号のレベルを周期的にサンプリングする手段
と、 (h) 前記連続的にサンプリングする手段は前記周期的に
サンプリングする手段を作動させる手段を備えており、 (i) 周期的にサンプリングした基準信号のレベルを調節
して略一定に維持するための手段、とを備えていること
を特徴とする農産物の選別装置。
1. A device for selecting an agricultural product based on the color of the agricultural product when the agricultural product descends in an illuminated observation room as a stream, wherein (a) the agricultural product is provided in the observation chamber. An optical station means for sensing the light reflected from the produce as it passes through the observation station, and (b) the optical station means senses and senses the light reflected from the stream of produce. A plurality of optical sensors that form an electric signal representing light are arranged in a line, and (c) means for continuously sampling the electric signal from the optical sensor in the optical station means, and (d) continuous DC-coupled processing circuit means to determine whether a product should pass by comparing the electrically sampled electrical signal with a reference signal; and (e) rejecting rejected products from those determined to pass. Ejector means for, (f) means for forming the reference signal of the processing circuit means, (g) means for periodically sampling the level of the reference signal, (h) the means for continuously sampling is A means for activating the means for periodically sampling, and (i) means for adjusting the level of the periodically sampled reference signal to maintain it at a substantially constant level. Agricultural product sorter.
JP065257U 1985-09-03 1991-08-19 Agricultural product sorter Pending JPH0670877U (en)

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US06/772,178 US4697709A (en) 1985-09-03 1985-09-03 Sorter for agricultural products
US772178 2001-01-29

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