JPH0667912A - Error detection circuit - Google Patents

Error detection circuit

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Publication number
JPH0667912A
JPH0667912A JP4221010A JP22101092A JPH0667912A JP H0667912 A JPH0667912 A JP H0667912A JP 4221010 A JP4221010 A JP 4221010A JP 22101092 A JP22101092 A JP 22101092A JP H0667912 A JPH0667912 A JP H0667912A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bit
circuit
ecc
error
function
Prior art date
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Pending
Application number
JP4221010A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Satoshi Natsui
聡 夏井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP4221010A priority Critical patent/JPH0667912A/en
Publication of JPH0667912A publication Critical patent/JPH0667912A/en
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Abstract

PURPOSE:To correct two-bit error by means of a simple circuit change in ECC of one-bit error correction and two-bit (or above) error detection. CONSTITUTION:This circuit is provided with an ECC circuit 1 having the generation function of a check bit in write data, a one-bit error correction function in read data, a two-bit error detection function and three or more bits error detection function, ac ECC control circuit 3 controlling the ECC circuit 1 and bit inversion circuit 2 having a function which bit-inverts only specified read data by the instruction of the ECC control circuit 3. When the two-bit error is detected in the read data at the ECC circuit 2, the bit inversion circuit 1 inverts all read data including a checking code one by one bit and the ECC circuit 1 corrects the two-bit error at the time of the one-bit error.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、メモリ装置を制御する
ECC(Error Check and Correction:エラー検出訂
正)回路の改良に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to improvement of an ECC (Error Check and Correction) circuit for controlling a memory device.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にDRAM(Dynamic Random Acces
s Memory)を使った大容量のメモリ装置を制御するメモ
リ制御回路にはエラー検出訂正機能が実装されている。
この理由は主として、半導体メモリにおいて偶発的に発
生するソフトエラー(α線によるデータ破壊)と軽度な
ハードエラーに対応するためである。半導体メモリにお
ける通常のECC機能は、1ビットエラー訂正と2ビッ
ト(この場合2ビット以上も含み、以後これを2ビット
(以上)と表記する)エラー検出が一般的である。
2. Description of the Related Art Generally, DRAM (Dynamic Random Acces
The memory control circuit that controls a large-capacity memory device using s Memory) is equipped with an error detection and correction function.
The reason for this is mainly to cope with soft errors (data destruction due to α rays) and minor hard errors that occur accidentally in the semiconductor memory. A normal ECC function in a semiconductor memory is generally a 1-bit error correction and a 2-bit (including 2 bits or more in this case, which will be hereinafter referred to as 2 bits (or more)) error detection.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のE
CC回路では、2ビット(以上)エラーが発生するとエ
ラー訂正は不可能であるという問題があった。本発明の
目的は、このような欠点を解消するもので、1ビットエ
ラー訂正および2ビット(以上)エラー検出のECCに
おいて簡単な回路変更により2ビットエラー訂正も可能
なエラー検出訂正回路を実現するものである。
However, the conventional E
The CC circuit has a problem that error correction is impossible when a 2-bit (or more) error occurs. An object of the present invention is to eliminate such drawbacks and to realize an error detection / correction circuit capable of 2-bit error correction by a simple circuit change in ECC for 1-bit error correction and 2-bit (or more) error detection. It is a thing.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明では、ライトデータにおけるチェックビ
ットの発生機能と、リードデータにおける1ビットエラ
ー訂正機能と2ビットエラー検出機能と3ビット以上エ
ラー検出機能を有するECC回路と、このECC回路を
制御するECC制御回路と、このECC制御回路の指示
により特定のリードデータのみビット反転する機能を有
するビット反転回路を具備し、ECC回路においてリー
ドデータに2ビットエラーが検出された時は、ビット反
転回路でチェックコードを含むすべてのリードデータを
1ビットずつ反転し、1ビットエラーになった時ECC
回路により2ビットエラーを訂正するようにしたことを
特徴とする。
In order to achieve such an object, according to the present invention, a check bit generating function in write data, a 1-bit error correcting function, a 2-bit error detecting function in read data, and 3 bits or more are provided. The ECC circuit includes an ECC circuit having an error detection function, an ECC control circuit for controlling the ECC circuit, and a bit inverting circuit having a function of inverting only specific read data according to an instruction from the ECC control circuit. When a 2-bit error is detected at 1, the bit inversion circuit inverts all the read data including the check code bit by bit, and when a 1-bit error occurs, the ECC
The circuit is characterized in that a 2-bit error is corrected.

【0005】[0005]

【作用】従来の1ビットエラー訂正機能と2ビット(以
上)エラー検出機能を有するECC回路に簡単な回路を
付加することにより2ビットエラー訂正機能を持たせる
ものである。ECC回路で2ビットエラーが検出された
場合、ビット反転回路でデータを1ビットずつ反転す
る。この反転により1ビットエラーになったとき、EC
C回路の1ビットエラー訂正機能を使って訂正する。こ
のようにして2ビットエラーの訂正を可能とする。
A two-bit error correction function is provided by adding a simple circuit to the conventional ECC circuit having a one-bit error correction function and a two-bit (or more) error detection function. When the ECC circuit detects a 2-bit error, the bit inverting circuit inverts the data bit by bit. When a 1-bit error occurs due to this inversion, EC
Correction is performed using the 1-bit error correction function of the C circuit. In this way, a 2-bit error can be corrected.

【0006】[0006]

【実施例】以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。
図1は本発明に係るエラー検出訂正回路の一実施例を示
す構成図である。図において、1はECC回路、2はビ
ット反転回路、3はECC制御回路である。ECC回路
1は、書き込みデータにおけるチェックビットを発生す
る機能と、読み出しデータにおける1ビットエラー訂正
機能と2ビットエラー検出機能と3ビット以上エラー機
能を有する。そして読み出し(リード:Read)と書き込
み(ライト:Write )に応じて以下に示す2つの動作モ
ードがあり、ECC制御回路3からの指示(モード信
号:Mode)に従って動作する。 (1) CB生成モード メモリ(図示せず)に対する書き込みの動作モードであ
り、入力されるデータ"Datain"により算出されるCB
(Check Bit )コード"Write CB"を出力する。 (2) エラー訂正検出モード メモリから読み出されたデータ"Datain"とCBコード"C
Bin"からシンドロームコードを算出しノーエラー(No E
rror)/1ビットエラー/2ビットエラー/3ビット以
上エラーのステータス(Status)信号を出力する。1ビ
ットエラーであればエラー訂正後のデータ"Correct Dat
a"を上位へ出力する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an error detection / correction circuit according to the present invention. In the figure, 1 is an ECC circuit, 2 is a bit inversion circuit, and 3 is an ECC control circuit. The ECC circuit 1 has a function of generating check bits in write data, a 1-bit error correction function in read data, a 2-bit error detection function, and a 3-bit or more error function. Then, there are the following two operation modes according to read (Read) and write (Write), and the operation is performed according to an instruction (mode signal: Mode) from the ECC control circuit 3. (1) CB generation mode This is an operation mode for writing to a memory (not shown), and CB calculated by the input data "Data in".
(Check Bit) Outputs the code "Write CB". (2) Error correction detection mode Data "Data in" read from memory and CB code "C"
The syndrome code is calculated from "Bin" and no error (No E
rror) / 1-bit error / 2-bit error / 3-bit or more error status signal is output. If it is a 1-bit error, the data after error correction "Correct Dat
Output a "to the upper level.

【0007】ビット反転回路2は、ECC制御回路3か
ら指定されたビットを反転するものである。ECC制御
回路3はシフトレジスタ31とシーケンサ32より構成
される。シーケンサ32はホスト(図示せず)からリー
ド/ライト等のコマンドを受け、ECC回路1にモード
を設定する機能を有する。メモリからの読み出しモード
においては、ECC回路1から得られるステータスによ
りノーエラーおよび1ビットエラーなら、正常終了(No
rmal End)ステータスを、3ビット以上エラーならデー
タエラー(Data Error)ステータスを上位にアクノリッ
ジステータス(Acknowledge Status)として返答する。
2ビットエラーなら後述のエラー処理シーケンスに従っ
てデータ訂正後ノーエラーステータス(No Error Statu
s )を返答する。シフトレジスタ31はビット反転回路
2に対する(反転される)ビット位置を指示する。この
場合シーケンサ32からの起動により次の3つの動作モ
ードのいずれかに別れる。 (1) クリアモード:シフトレジスタの全データをクリア
する("0" にする)。 (2) セットモード:シフトレジスタの最小位ビット(L
SB)のみを"1" にセットする。 (3) シフトモード:データを最上位ビット(MSB)方
向に1ビットシフトする。 この時L
SBには"0" をセットする。 なお、シフトレジスタのデータ幅は、メモリへのデータ
幅とCB(Check Bit)を合計したものである。例え
ば、ECC回路1が32ビット構成の場合は、CBが7
ビットなので、シフトレジスタのビット幅は39ビット
となる。
The bit inversion circuit 2 inverts the bit designated by the ECC control circuit 3. The ECC control circuit 3 is composed of a shift register 31 and a sequencer 32. The sequencer 32 has a function of receiving a command such as read / write from a host (not shown) and setting a mode in the ECC circuit 1. In the read mode from the memory, if there is no error or 1-bit error according to the status obtained from the ECC circuit 1, the normal end (No
If there is an error of 3 bits or more in the rmal End) status, a data error (Data Error) status is returned as an acknowledge status (Acknowledge Status).
If it is a 2-bit error, no error status (No Error Status) after data correction is performed according to the error processing sequence described later.
s) is returned. The shift register 31 indicates the bit position (inverted) for the bit inversion circuit 2. In this case, the activation from the sequencer 32 causes the operation to be divided into one of the following three operation modes. (1) Clear mode: Clear all data in the shift register (set to "0"). (2) Set mode: The least significant bit (L
Only SB) is set to "1". (3) Shift mode: Data is shifted by 1 bit in the most significant bit (MSB) direction. At this time L
Set "0" to SB. The data width of the shift register is the sum of the data width to the memory and CB (Check Bit). For example, when the ECC circuit 1 has a 32-bit configuration, CB is 7
Since it is a bit, the bit width of the shift register is 39 bits.

【0008】このような構成における動作を次に説明す
る。図2はシーケンサ32の動作を示したフローチャー
トである。図2から分かるように、リード動作とライト
動作におけるノーエラー、1ビットエラー、3ビット以
上エラーは通常のECC制御と同等である。ここでは本
発明の特徴である2ビットエラー時の動作シーケンスに
ついて述べる。読み出されたデータを1ビットずつ順番
に反転させ、データエラーの発生しているどちらかのビ
ットを検出し、1ビットエラーのデータを生成する。次
に、生成された1ビットエラーのデータをECC回路1
により1ビットだけデータ訂正する。なお、アイドル
(Idle)状態においては、シフトレジスタ31はクリア
(Clear )命令により全データがクリアされているの
で、通常の動作でビット反転回路2がデータ操作に関与
することはない。このようにして2ビットエラーを訂正
することができる。なお、2ビットエラーが多発する
と、システムパフォーマンスが著しく低下するが、ハー
ドウェアの初期不良を除くと、2ビット(以上)エラー
の起る確率はきわめて稀である。また、システムパフォ
ーマンスが低下することよりも、2ビットエラー状態を
救うことの方が意義が大きい。
The operation in such a configuration will be described below. FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the sequencer 32. As can be seen from FIG. 2, the no error, the 1-bit error, and the error of 3 bits or more in the read operation and the write operation are equivalent to the normal ECC control. Here, the operation sequence at the time of 2-bit error, which is a feature of the present invention, will be described. The read data is sequentially inverted bit by bit, one of the bits in which a data error has occurred is detected, and 1-bit error data is generated. Next, the generated 1-bit error data is transferred to the ECC circuit 1
The data is corrected by 1 bit. In the idle state, since the shift register 31 has all data cleared by a Clear command, the bit inverting circuit 2 does not participate in data operation in normal operation. In this way, the 2-bit error can be corrected. It should be noted that if 2-bit errors occur frequently, system performance will be significantly reduced, but the probability of 2-bit (or more) errors is extremely rare, except for the initial failure of hardware. Also, saving the 2-bit error condition is more important than reducing the system performance.

【0009】[0009]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、1
ビットエラー訂正機能しか持たないECC回路に簡単な
回路を付加することにより、2ビットエラー訂正が可能
となる。
As described above, according to the present invention, 1
2-bit error correction is possible by adding a simple circuit to the ECC circuit that has only a bit error correction function.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るエラー検出訂正回路の一実施例を
示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of an error detection / correction circuit according to the present invention.

【図2】シーケンサの動作を示すフローチャートであ
る。
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of a sequencer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ECC回路 2 ビット反転回路 3 ECC制御回路 31 シフトレジスタ 32 シーケンサ 1 ECC circuit 2 bit inversion circuit 3 ECC control circuit 31 shift register 32 sequencer

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】書き込みデータにおけるチェックビットを
発生する機能と、読み出しデータにおける1ビットエラ
ー訂正機能と2ビットエラー検出機能と3ビット以上エ
ラー検出機能を有するECC回路と、 このECC回路を制御するECC制御回路と、 このECC制御回路の指示により、特定の読み込みデー
タのみビット反転する機能を有するビット反転回路を具
備し、前記ECC回路において読み出しデータに2ビッ
トエラーが検出された時、ビット反転回路でチェックコ
ードを含むすべての読み出しデータを1ビットずつ反転
し、1ビットエラーになった時前記ECC回路のエラー
訂正機能を使って2ビットエラーを訂正するようにした
ことを特徴とするエラー検出訂正回路。
1. An ECC circuit having a function of generating a check bit in write data, a 1-bit error correction function in read data, a 2-bit error detection function, and an error detection function of 3 bits or more, and an ECC circuit for controlling this ECC circuit. The ECC circuit includes a control circuit and a bit inverting circuit having a function of inverting bits of only specific read data according to an instruction from the ECC control circuit. When the ECC circuit detects a 2-bit error in read data, the bit inverting circuit An error detection / correction circuit characterized by inverting all read data including a check code bit by bit and correcting a 2-bit error by using the error correction function of the ECC circuit when a 1-bit error occurs. .
JP4221010A 1992-08-20 1992-08-20 Error detection circuit Pending JPH0667912A (en)

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JP4221010A JPH0667912A (en) 1992-08-20 1992-08-20 Error detection circuit

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JPH0667912A true JPH0667912A (en) 1994-03-11

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JP4221010A Pending JPH0667912A (en) 1992-08-20 1992-08-20 Error detection circuit

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JP (1) JPH0667912A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7613982B2 (en) 2004-11-16 2009-11-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Data processing apparatus and method for flash memory
JP2011521397A (en) * 2008-05-16 2011-07-21 フュージョン−アイオー・インコーポレーテッド Apparatus, system and method for detecting and replacing a failed data storage mechanism
JP2012063882A (en) * 2010-09-14 2012-03-29 Toshiba Corp Storage device, electronic apparatus, and method for correcting error data

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