JPH0667450A - Electrophotographic sensitive body having photoreceptive layer constituted of non-single crystalline silicon having columnar structure region and its production - Google Patents

Electrophotographic sensitive body having photoreceptive layer constituted of non-single crystalline silicon having columnar structure region and its production

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JPH0667450A
JPH0667450A JP5148009A JP14800993A JPH0667450A JP H0667450 A JPH0667450 A JP H0667450A JP 5148009 A JP5148009 A JP 5148009A JP 14800993 A JP14800993 A JP 14800993A JP H0667450 A JPH0667450 A JP H0667450A
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photosensitive member
layer
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columnar structure
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Abstract

PURPOSE:To provide the electrophotographic sensitive body with which stable images having extremely good quality are obtainable and to provide the electrophotographic sensitive body which does not generate interference fringes on the images even if coherent light, such as semiconductor laser beam, is used without using other remedies for the interference fringes. CONSTITUTION:The photoreceptive layer 4 of the electrophotographic sensitive body consisting of a base body 102 for the electrophotographic sensitive body and the photoreceptive layer 4 which is provided on the base body 102 and is constituted of a non-single crystalline material contg. silicon atoms has regions 110 of columnar structures substantially parallel with the layer thickness direction of the layer 4 at 5 to 500pieces/cm<2> density with plural nuclei 111 existing within the layer 4 as start points.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、基体上に柱状構造領域
を有する非単結晶シリコンで構成された光受容層を配し
て構成した電子写真感光体及びその製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electrophotographic photosensitive member constituted by arranging a light receiving layer made of non-single crystal silicon having a columnar structure region on a substrate and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子写真感光体の光導電層を構成する材
料については、高感度で、SN比が高く、照射する電磁
波のスペクトル特性に適合した吸収スペクトル特性を有
すること、光応答性が早く、高い暗抵抗値を有するこ
と、機械的耐久性に優れていること、使用時に於て人体
に対して無公害であること、等の諸特性が要求される。
これらの諸特性を有する材料である水素化アモルファス
シリコンを光導電層に使用した電子写真感光体が、例え
ば特開昭54−86341号公報に記載されている。こ
うしたアモルファスシリコンを光導電層に使用した電子
写真感光体は現在実用に付されている。
2. Description of the Related Art Materials constituting a photoconductive layer of an electrophotographic photosensitive member have high sensitivity, high SN ratio, absorption spectrum characteristics suited to the spectrum characteristics of electromagnetic waves to be irradiated, and fast photoresponsiveness. Various characteristics are required, such as having a high dark resistance value, excellent mechanical durability, and being non-polluting to the human body during use.
An electrophotographic photoreceptor using hydrogenated amorphous silicon, which is a material having these various characteristics, for a photoconductive layer is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 54-86341. An electrophotographic photoreceptor using such amorphous silicon for the photoconductive layer is currently put into practical use.

【0003】特開昭56−62254号公報及び、特開
昭57−119356号公報には、炭素原子を含有する
水素化アモルファスシリコンを電子写真感光体として使
用し、電子写真特性を向上させる技術が開示されてい
る。
JP-A-56-62254 and JP-A-57-119356 disclose techniques for improving electrophotographic characteristics by using hydrogenated amorphous silicon containing carbon atoms as an electrophotographic photoreceptor. It is disclosed.

【0004】ところで、こうした電子写真感光体を構成
するアモルファスシリコン膜を形成する成膜方法として
は、スパッタリング法、熱により原料ガスを分解する方
法(熱CVD法)、光により原料ガスを分解する方法
(光CVD法)、プラズマにより原料ガスを分解する方
法(プラズマCVD法)等が提案されている。これらの
成膜方法の中で、プラズマCVD法は、現在繁用されて
おり、そのための装置も各種提案されている。こうした
プラズCVD法の中、マイクロ波グロ−放電分解を用い
たいわゆるマイクロ波プラズマCVD法が工業的に注目
されている。
By the way, as a film forming method for forming an amorphous silicon film constituting such an electrophotographic photosensitive member, a sputtering method, a method of decomposing a raw material gas by heat (thermal CVD method), and a method of decomposing a raw material gas by light are used. (Optical CVD method), a method of decomposing a raw material gas by plasma (plasma CVD method), and the like have been proposed. Among these film forming methods, the plasma CVD method is currently widely used, and various apparatuses for it have been proposed. Among such plasma CVD methods, the so-called microwave plasma CVD method using microwave glow discharge decomposition has received industrial attention.

【0005】マイクロ波プラズマCVD法は、他の方法
に比べて高いデポジション速度と高い原料ガス利用効率
が得られるという利点を有している。こうした利点を生
かしたマイクロ波プラズマCVD技術の一例が、米国特
許4,504,518号明細書に記載されている。この
明細書に記載の技術は、0.1Torr以下の低圧下で
のマイクロ波プラズマCVD法による成膜で、高速の堆
積速度で良質の堆積膜を得るというものである。
The microwave plasma CVD method has an advantage that a high deposition rate and a high source gas utilization efficiency can be obtained as compared with other methods. An example of a microwave plasma CVD technique that takes advantage of these advantages is described in US Pat. No. 4,504,518. The technique described in this specification is to form a good quality deposited film at a high deposition rate by a microwave plasma CVD method under a low pressure of 0.1 Torr or less.

【0006】また、マイクロ波プラズマCVD法により
原料ガスの利用効率を改善するための技術が特開昭60
−186849号公報に記載されている。該公報に記載
の技術は、概要、マイクロ波エネルギ−の導入手段を取
り囲むように基体を配して内部チャンバ−(即ち、放電
空間)を形成するようにして、原料ガス利用効率を高め
るようにしたものである。
Further, a technique for improving the utilization efficiency of the raw material gas by the microwave plasma CVD method is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. Sho 60.
No. 186849. The technique disclosed in this publication is generally arranged so that a substrate is arranged so as to surround a means for introducing microwave energy to form an internal chamber (that is, a discharge space) so as to enhance the efficiency of raw material gas utilization. It was done.

【0007】更に、特開昭61−283116号公報に
は、放電空間中にプラズマ電位制御用の電極(バイアス
電極)を設け、このバイアス電極に所望の電圧を印加し
て堆積膜へのイオン衝撃を制御しながら堆積膜の形成を
行うようにして堆積膜の特性を向上させる技術を開示し
ている。
Further, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-283116, an electrode (bias electrode) for controlling plasma potential is provided in the discharge space, and a desired voltage is applied to this bias electrode to ion-impact the deposited film. A technique for improving the characteristics of the deposited film by forming the deposited film while controlling the temperature is disclosed.

【0008】こうしたマイクロ波プラズマCVD技術に
基づいた電子写真感光体の製造方法が米国特許5,12
9,359号明細書に記載されている。この米国特許
5,129,359号明細書に記載された電子写真感光
体の製造方法は、例えば、図12の縦断面図、図13の
横断面図で示される堆積膜形成装置により実施される。
A method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member based on such microwave plasma CVD technology is disclosed in US Pat.
No. 9,359. The method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member described in the specification of US Pat. No. 5,129,359 is carried out, for example, by a deposited film forming apparatus shown in a vertical sectional view of FIG. 12 and a lateral sectional view of FIG. .

【0009】図12、及び図13において、601は反
応容器であり、真空気密化構造を成している。602は
マイクロ波電力を反応容器601内に効率よく透過し、
かつ真空気密を保持し得るような材料(例えば石英ガラ
ス、アルミナセラミックス等)で形成されたマイクロ波
導入誘電体窓である。603はマイクロ波電力の伝送を
行う導波管であり、マイクロ波電源から反応容器近傍ま
での矩形の部分と、反応容器に挿入された円筒形の部分
から成っている。導波管603はスタブチュ−ナ−(図
示せず)、アイソレ−タ−(図示せず)を介してマイク
ロ波電源(図示せず)に接続されている。604は排気
管を示す。該排気管は一端が反応容器601内に開口
し、他端が排気装置(図示せず)に連通している。60
6は基体605により囲まれた放電空間を示す。電源6
11は、バイアス電極612に直流電圧を印加するため
の直流電源(バイアス電源)を示す。
In FIGS. 12 and 13, reference numeral 601 denotes a reaction vessel having a vacuum airtight structure. 602 efficiently transmits microwave power into the reaction vessel 601,
Further, it is a microwave introduction dielectric window formed of a material (eg, quartz glass, alumina ceramics, etc.) capable of maintaining vacuum airtightness. Reference numeral 603 denotes a waveguide for transmitting microwave power, which includes a rectangular portion from the microwave power source to the vicinity of the reaction container and a cylindrical portion inserted in the reaction container. The waveguide 603 is connected to a microwave power source (not shown) via a stub tuner (not shown) and an isolator (not shown). Reference numeral 604 represents an exhaust pipe. One end of the exhaust pipe opens into the reaction vessel 601, and the other end communicates with an exhaust device (not shown). 60
Reference numeral 6 denotes a discharge space surrounded by the base 605. Power supply 6
Reference numeral 11 denotes a DC power supply (bias power supply) for applying a DC voltage to the bias electrode 612.

【0010】上述した構成の成膜装置による従来の電子
写真感光体の製造は、以下のようにして行われる。ま
ず、真空ポンプ(図示せず)により排気管604を介し
て反応容器601内を排気し、反応容器601内を1×
10-7Torr以下の圧力に調整する。ついでヒ−タ−
607により基体605を200℃乃至300℃程度の
温度に加熱保持する。そこで不図示のガス導入手段を介
して、シランガス、水素ガス等の原料ガスが反応容器6
01内に導入される。これと同時並行的にマイクロ波電
源608により周波数2.45GHzのマイクロ波を発
生させ、導波管603及び誘電体窓602を介して反応
容器601内に導入される。更に放電空間606内のバ
イアス電極612に接続されたバイアス電源611よ
り、バイアス電極612を介して基体605に対してバ
イアス電圧を印加する。かくして基体605により囲ま
れた放電空間606において、原料ガスはマイクロ波の
エネルギ−により励起されて解離し、更にバイアス電極
611と基体605の間の電界により定常的に基体60
5上にイオン衝撃を受けながら、基体605表面に堆積
膜が形成される。この成膜時、基体605を回転軸60
9をモ−タ−610により回転させることにより回転さ
せる。
The conventional electrophotographic photosensitive member is manufactured by the film forming apparatus having the above-described structure as follows. First, the inside of the reaction container 601 is evacuated through a gas exhaust pipe 604 by a vacuum pump (not shown), and the inside of the reaction container 601 is 1 ×.
Adjust to a pressure below 10 -7 Torr. Then the heater
The substrate 605 is heated and held at a temperature of about 200 ° C. to 300 ° C. by 607. Therefore, a raw material gas such as silane gas or hydrogen gas is supplied to the reaction vessel 6 through a gas introducing means (not shown).
It is introduced in 01. Simultaneously with this, a microwave of frequency 2.45 GHz is generated by the microwave power source 608 and introduced into the reaction vessel 601 through the waveguide 603 and the dielectric window 602. Further, a bias power supply 611 connected to the bias electrode 612 in the discharge space 606 applies a bias voltage to the substrate 605 via the bias electrode 612. Thus, in the discharge space 606 surrounded by the base 605, the source gas is excited by the energy of the microwaves and dissociated, and further the electric field between the bias electrode 611 and the base 605 causes the base 60 to steadily flow.
A deposited film is formed on the surface of the substrate 605 while receiving an ion bombardment on the substrate 5. During this film formation, the substrate 605 is attached to the rotary shaft 60.
9 is rotated by a motor 610.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】この方法によれば、あ
る程度低コストで、実用的な特性と均一性のある電子写
真感光体を得ることがである。しかし、こうした従来の
電子写真感光体には依然として改良すべき問題点が存在
する。即ち、特に成膜時、成膜速度の速い領域では、均
一膜質で光学的及び電気的諸特性の要求を満足し、かつ
電子写真プロセスにより画像形成時に欠陥の少ない堆積
膜を定常的に安定して高収率(高歩留まり)で得るのは
難しいという問題点がある。
According to this method, it is possible to obtain an electrophotographic photosensitive member having practical characteristics and uniformity at a low cost to some extent. However, such conventional electrophotographic photoreceptors still have problems to be improved. That is, especially in the region where the film formation speed is high during film formation, the requirements for optical and electrical characteristics with uniform film quality are satisfied, and the deposited film with few defects is constantly stabilized by the electrophotographic process during image formation. However, it is difficult to obtain a high yield (high yield).

【0012】こうした問題点の1つに、いわゆる感度む
ら係る問題点がある。感度むらは、ラインコピ−(文字
だけよりなる原稿のコピ−)の場合にはたいして問題に
はならない。しかし、最近、写真等、ハ−フト−ンを含
む原稿のコピ−の機会が多くなり、しかも高速複写が要
求されるに従い、この感度むらに係る問題は無視できな
いものとなってきた。そして、近年急速に需要の増加し
てきたカラ−コピ−のように厳密な画像濃度の均一性が
要求される場合においては特に重要視しなければならな
い問題である。
One of these problems is the problem of so-called uneven sensitivity. The sensitivity unevenness does not cause much problem in the case of a line copy (copy of an original consisting of only characters). However, recently, as the number of occasions for copying originals such as photographs such as hoods has increased, and high-speed copying has been demanded, the problem of sensitivity unevenness has become non-negligible. This is a problem that must be particularly emphasized in the case where strict uniformity of image density is required as in color copying, which has been rapidly increasing in demand in recent years.

【0013】他の問題点として、解像度に係る問題点が
ある。複写画像の解像度は、使用する電子写真感光体の
特性以外に、現像、定着等のプロセスにも依存して決ま
ってくる。そして、近年のトナ−の微粒子化等、これら
プロセス発展に対応して、電子写真感光体についても従
来の特性を上回る解像度が要求されるようになってきて
いる。
Another problem is that of resolution. The resolution of a copied image depends on the characteristics of the electrophotographic photosensitive member to be used, as well as on the processes such as development and fixing. In response to these process developments such as the recent finer toner particles, electrophotographic photoreceptors have been required to have a resolution higher than the conventional characteristics.

【0014】こうした問題点を解消する方法が、ヨ−ロ
ッパ特許公開公報EP0454456A1号に記載され
ている。該公開公報には非単結晶炭化珪素光導電層中に
弗素原子を微量(1乃至95原子ppm)含有させ、更
に酸素原子の含有量を制御することにより光導電層中の
内部の歪みを効果的に緩和し、コピ−画像における「ポ
チ」発生、「ガサツキ」発生及び「ゴ−スト」発生を抑
制し、光受容部層表面の「球状突起」発生をも抑制した
光受容部材が記載されている。この技術は、光受容部材
の光受容層の表面の球状突起を減少させてコピ−画質の
安定と向上を図るものである。ところが、非単結晶炭化
珪素光導電層中に所定量の弗素原子及び酸素原子を含有
したところで完全に球状突起をなくすことは不可能であ
る。因に本発明らがこの光受容部材を使用してハ−フト
−ンを含む原稿を50枚/min以上の高速で長期に亙っ
て連続的に複写してみたところ、感度むらの発生や解像
度の低下が認められた。上述した光受容部材表面の球状
突起に起因するものと考えられる。
A method for solving these problems is described in European Patent Publication No. EP 0454456A1. In this publication, a trace amount of fluorine atoms (1 to 95 atom ppm) is contained in a non-single-crystal silicon carbide photoconductive layer, and the content of oxygen atoms is controlled so that the internal strain in the photoconductive layer can be effectively reduced. Described above, a light-receiving member that suppresses the occurrence of "potty", "mottle" and "ghost" in a copy image and also suppresses the occurrence of "spherical protrusions" on the surface of the light-receiving part layer is described. ing. This technique reduces the spherical protrusions on the surface of the light receiving layer of the light receiving member to stabilize and improve the copy image quality. However, it is impossible to completely eliminate the spherical projection when the non-single-crystal silicon carbide photoconductive layer contains a predetermined amount of fluorine atoms and oxygen atoms. By the way, when the inventors of the present invention continuously copied an original containing a halftone at a high speed of 50 sheets / min or more over a long period using the light receiving member, the occurrence of uneven sensitivity was found. A decrease in resolution was observed. It is considered that this is due to the spherical projections on the surface of the light receiving member.

【0015】また、特開昭62−84965号公報及び
特開昭62−188665号公報には電子写真感光体の
表面を研磨することにより、感光体の層厚むらを補正す
る技術が開示されている。しかし、これらの公報に於て
は、画像欠陥と表面研磨の関係については触れられてお
らず、層厚むらを制御したところで、今日要求されてい
るような高速複写においても、高解像度、高感度な複写
画像を安定して得ることは非常に難しい。
Further, JP-A-62-84965 and JP-A-62-188665 disclose techniques for correcting unevenness of the layer thickness of the photoconductor by polishing the surface of the electrophotographic photoconductor. There is. However, in these publications, there is no mention of the relationship between image defects and surface polishing, and even when high-speed copying is required today, high resolution and high sensitivity can be obtained by controlling layer thickness unevenness. It is very difficult to obtain stable duplicate images.

【0016】特に、高速複写において、高解像度、高感
度な複写画像を安定的に得るためには、露光用に使用さ
れる光の反射の問題をも解決しなければならない。露光
用の光源に半導体レ−ザ−を用いたデジタル複写機の感
光体としてにアモルファスシリコン系の感光体を使用す
る場合、アモルファスシリコンのエネルギ−バンドギャ
ップよりも低エネルギ−である近赤外レ−ザ−を使用す
るため、アモルファスシリコン膜中でレ−ザ−光を完全
に吸収することはできない。そのためレ−ザ−光は吸収
されるもののほかに一部透過或は反射されるものもある
ため、感光体表面で反射したレ−ザ−光とアモルファス
シリコン膜と基体との界面或はアモルファスシリコン膜
の積層界面で反射したレ−ザ−光が互いに干渉し合い、
干渉縞が生じてしまう。
In particular, in high-speed copying, in order to stably obtain a high-resolution, high-sensitivity copied image, the problem of reflection of light used for exposure must be solved. When an amorphous silicon type photoconductor is used as a photoconductor of a digital copying machine using a semiconductor laser as a light source for exposure, a near infrared ray whose energy is lower than the energy band gap of amorphous silicon. Since the laser is used, the laser light cannot be completely absorbed in the amorphous silicon film. For this reason, laser light is not only absorbed but also partially transmitted or reflected, so that the laser light reflected on the surface of the photoconductor and the interface between the amorphous silicon film and the substrate or the amorphous silicon. The laser lights reflected at the laminated interface of the films interfere with each other,
Interference fringes will occur.

【0017】この干渉縞の問題を解決する技術が米国特
許4,808,504号明細書に開示されている。該明
細書に開示された電子写真感光体は、感光層が配される
基体表面に複数の球状痕跡窪みによる凹凸を設け、感光
体全体に発生する干渉縞を、各々の痕跡窪み内に分散せ
しめて干渉縞の発生を防止するというものである。
A technique for solving the problem of interference fringes is disclosed in US Pat. No. 4,808,504. The electrophotographic photoreceptor disclosed in the specification is provided with unevenness due to a plurality of spherical trace depressions on the surface of the substrate on which the photosensitive layer is arranged, and the interference fringes generated on the entire photoreceptor are dispersed in the respective trace depressions. To prevent the generation of interference fringes.

【0018】この干渉縞の発生を防止するようにした電
子写真感光体は、有効なものとして評価されている。と
ころがこの電子写真感光体については、基体表面に複数
の球状痕跡窪みによる凹凸を設けるためには、例えば複
数の剛体真球を基体表面に落下させる等の工程が必要で
あるところ、設備的な面と製造工程の面から電子写真感
光体の大幅なコストアップを招いてしまうという問題が
ある。
The electrophotographic photosensitive member which is designed to prevent the occurrence of interference fringes is evaluated as effective. However, regarding this electrophotographic photosensitive member, in order to provide the surface of the substrate with irregularities due to the plurality of spherical trace depressions, for example, a step of dropping a plurality of rigid true spheres onto the surface of the substrate is required. There is a problem in that the cost of the electrophotographic photosensitive member is greatly increased from the viewpoint of the manufacturing process.

【0019】本発明の主たる目的は、従来の電子写真感
光体における上述した感度むらの発生、解像度の低下等
の問題のない改善された電子写真感光体を提供すること
にある。本発明の他の目的は、電子写真感光体用の基体
と、該基体上に設けられた珪素原子を含有する電子写真
感光体であって、前記非単結晶材料で構成された層が、
該層の内部に位置する核より該層の層厚方向に実質的に
平行な柱状構造の領域を5個/cm2乃至500個/c
2の密度で有することを特徴とする電子写真感光体を
提供することにある。本発明の更に別の目的は、前記改
善された電子写真感光体をマイクロ波プラズCVD法に
より、安定して歩留り良くしかも安価に製造する方法を
提供することにある。
A main object of the present invention is to provide an improved electrophotographic photosensitive member which does not have the above-mentioned problems of sensitivity unevenness and deterioration of resolution in the conventional electrophotographic photosensitive member. Another object of the present invention is a substrate for an electrophotographic photosensitive member, and an electrophotographic photosensitive member containing a silicon atom, which is provided on the substrate, wherein the layer composed of the non-single-crystal material comprises:
Regions having a columnar structure substantially parallel to the layer thickness direction of the layer from the nucleus located inside the layer are 5 / cm 2 to 500 / c.
Another object of the present invention is to provide an electrophotographic photosensitive member characterized by having a density of m 2 . Still another object of the present invention is to provide a method for producing the improved electrophotographic photosensitive member by a microwave plasma CVD method with stable yield and at low cost.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、従来の電
子写真感光体における上述した問題点を解決し、上記目
的を達成すべく、感光層を構成する非単結晶材料(アモ
ルファスシリコン)の内部に柱状構造の領域を積極的に
形成して検討を行った。その結果、本発明者らは、概
要、(1)基体上に形成される非単結晶材料で構成され
た層の内部に、該層の層厚方向に実質的に平行な柱状構
造の領域を複数配した場合、該柱状構造の領域が前記非
単結晶材料で構成された層の層厚方向に垂直な方向の電
荷の流れがなくなり、解像度が向上する;(2)柱状構
造の領域により、入射光の感光体表面からの反射、積層
された堆積膜の界面からの反射、或は基体表面からの反
射が分散されて、反射のむらが低減(即ち、光の吸収量
の差を低減)する、という知見を得た。
In order to solve the above-mentioned problems in the conventional electrophotographic photosensitive member and achieve the above object, the present inventors have made a non-single crystal material (amorphous silicon) constituting the photosensitive layer. A region having a columnar structure was positively formed in the inside of the container for study. As a result, the present inventors have summarized, (1) inside a layer formed of a non-single crystal material formed on a substrate, a region having a columnar structure substantially parallel to the layer thickness direction of the layer. When a plurality of columnar structures are arranged, the flow of charges in the direction perpendicular to the layer thickness direction of the layer composed of the non-single crystal material is eliminated, and the resolution is improved. Reflection of incident light from the surface of the photoconductor, reflection from the interface of the stacked deposition films, or reflection from the surface of the substrate is dispersed to reduce unevenness of reflection (that is, reduce the difference in light absorption amount). I got the knowledge that.

【0021】本発明は本発明者らが得た上記知見に基づ
いて完成したものである。本発明の骨子は下述するとお
りの内容のものである。即ち、本発明の電子写真感光体
は、電子写真感光体用の基体と、該基体上に設けられた
珪素原子を含有する電子写真感光体であって、前記非単
結晶材料で構成された層が、該層の内部に位置する核を
起点として該層の層厚方向に実質的に平行な柱状構造の
領域を5個/cm2乃至500個/cm2の密度で有する
ことを特徴とするものである。 本発明は、上記構成の
電子写真感光体の製造方法を包含する。本発明の電子写
真感光体の製造方法は、減圧にし得る反応容器内に珪素
原子を含有するガスを導入し、前記ガスにマイクロ波エ
ネルギ−を供給して、前記反応容器内の放電空間内にプ
ラズマを生起させ、前記反応容器内に配された基体上に
珪素原子を含有する非単結晶材料で構成された層を形成
して電子写真感光体を製造する電子写真感光体の製造方
法において、前記非単結晶材料で構成された層の一部を
形成した後、該一部形成された層の表面に、柱状構造の
領域を形成する起点となる核を安定的に吸着させた後、
前記非単結晶材料で構成された層を更に形成し、前記核
を起点として該層の層厚方向に実質的に平行に成長した
柱状構造の領域を5個/cm2乃至500/cm2の密度
で形成することを特徴とするものである。
The present invention has been completed based on the above findings obtained by the present inventors. The gist of the present invention is as described below. That is, the electrophotographic photosensitive member of the present invention is a substrate for an electrophotographic photosensitive member and an electrophotographic photosensitive member containing a silicon atom, which is provided on the substrate, and is a layer formed of the non-single crystal material. Has a columnar structure region which is substantially parallel to the layer thickness direction of the layer with a nucleus located inside the layer as a starting point at a density of 5 / cm 2 to 500 / cm 2. It is a thing. The present invention includes a method for manufacturing the electrophotographic photosensitive member having the above structure. The method for producing an electrophotographic photosensitive member of the present invention, a gas containing silicon atoms is introduced into a reaction vessel capable of being depressurized, microwave energy is supplied to the gas, and a discharge space in the reaction vessel is introduced. In a method for producing an electrophotographic photoreceptor, plasma is generated, and a layer composed of a non-single-crystal material containing silicon atoms is formed on a substrate arranged in the reaction vessel to produce an electrophotographic photoreceptor. After forming a part of the layer composed of the non-single-crystal material, on the surface of the partly formed layer, after stably adsorbing the nucleus serving as the starting point for forming the region of the columnar structure,
The further forming a layer formed of a non-single-crystal material, the nucleus region of the 5 / cm 2 to 500 / cm 2 of substantially parallel-grown columnar structure said layer in the layer thickness direction as a starting point It is characterized by being formed with a density.

【0022】上記構成の本発明の電子写真感光体によれ
ば、非単結晶材料で構成された層の内部に、該層の層厚
方向に実質的に平行な柱状構造の領域を複数配すること
により、該柱状構造の領域が前記非単結晶材料で構成さ
れた層の層厚方向に垂直な方向の電荷の流れが抑えら
れ、これにより画像流れの発生がなくなり、解像度が向
上する。また、前記柱状構造の領域により、入射光の感
光体表面からの反射、積層された堆積膜の界面からの反
射、或は基体表面からの反射が分散される。これにより
反射のむらが低減し(即ち、光の吸収量の差のが低
減)、その結果感度むらの発生が低減する。
According to the electrophotographic photosensitive member of the present invention having the above-mentioned structure, a plurality of regions having a columnar structure, which are substantially parallel to the layer thickness direction of the layer, are arranged inside the layer composed of the non-single crystal material. As a result, the flow of charges in a direction perpendicular to the layer thickness direction of the layer made of the non-single crystal material in the region of the columnar structure is suppressed, whereby image deletion does not occur, and resolution is improved. Further, the region of the columnar structure disperses the reflection of incident light from the surface of the photoconductor, the reflection from the interface of the stacked deposition films, or the reflection from the surface of the substrate. As a result, the unevenness of reflection is reduced (that is, the difference in the amount of absorbed light is reduced), and as a result, the occurrence of uneven sensitivity is reduced.

【0023】また、本発明の電子写真感光体の製造方法
によれば、上記構成の改善された電子写真感光体を安定
して歩留り良く、しかも安価に製造することができる。
Further, according to the method of manufacturing an electrophotographic photosensitive member of the present invention, it is possible to manufacture an electrophotographic photosensitive member having the above-mentioned constitution with stable yield and at low cost.

【0024】本発明者らは、現在の電子写真感光体のほ
とんどは、電荷発生機能、電荷輸送機能、表面保護機
能、電荷注入阻止機能等の機能の異なる複数の層を基体
上に積層して構成されていることに着目し、このような
電子写真感光体における感度むらの発生原因について検
討した。その結果、次のような知見を得た。即ち、積層
した複数の堆積層は各々屈折率が微妙に異なるため、各
層の界面では入射光の反射が生ずる。この反射に加えて
感光体表面からの反射、基体表面からの反射も生じ、こ
れらの全ての反射光はその行路長の違いにより互いに干
渉をおこし、互いに強め合うか、打ち消し合う。たとえ
膜質的に同等な部分であっても、層の厚さ、光の入射角
の違い等により感光体の部分により光の行路長が異なっ
てくるため、干渉により光の強度は感光体の位置によっ
て異なる。これが、反射のむらとなり、感光体の感度の
むらの発生原因となる。
The present inventors have found that most of the current electrophotographic photoreceptors have a plurality of layers having different functions such as a charge generating function, a charge transporting function, a surface protecting function, a charge injection blocking function, etc. laminated on a substrate. Focusing on the fact that it is configured, the cause of uneven sensitivity in such an electrophotographic photosensitive member was examined. As a result, we obtained the following findings. That is, since the plurality of stacked deposition layers have slightly different refractive indexes, the incident light is reflected at the interface between the layers. In addition to this reflection, reflection from the surface of the photoconductor and reflection from the surface of the substrate also occur, and all of these reflected lights interfere with each other due to the difference in their path lengths, and strengthen or cancel each other. Even if the film quality is the same, the path length of the light varies depending on the part of the photoconductor due to the difference in the layer thickness and the incident angle of the light. Depends on This causes uneven reflection, which causes uneven sensitivity of the photoconductor.

【0025】また、電子写真感光体における解像度の低
下を引き起こす原因について検討して。その結果、電子
写真感光体においては、基体及び感光層の表面に保持さ
れた電荷で、露光領域に存在するものは露光時に消滅す
るが、露光時に感光層内で発生した電荷によっては非露
光部に残存する電荷の電界により横方向に流れるもの
(即ち、層厚方向に垂直な方向への流れ)が生じ、これ
が解像度の低下を引き起こす。
Further, the cause of the deterioration of the resolution of the electrophotographic photosensitive member will be examined. As a result, in the electrophotographic photosensitive member, the charges held on the surfaces of the substrate and the photosensitive layer, which are present in the exposed area, disappear during the exposure, but depending on the charges generated in the photosensitive layer during the exposure, the non-exposed portion is exposed. The electric field of the electric charge remaining in the film causes a lateral flow (that is, a flow in a direction perpendicular to the layer thickness direction), which causes a reduction in resolution.

【0026】以上述べた知見に基づいて本発明者らは、
上述の感度むらの発生及び、解像度の低下は、基体上に
形成される非単結晶材料で構成された層の内部に、該層
の層厚方向に実質的に平行な柱状構造の領域を複数配し
た場合、防止できるのではないかと考え得るに至った。
本発明者らはこの考えが有効であるか否かを確かめるた
め以下に述べる実験を行った。
Based on the findings described above, the present inventors
The above-described unevenness in sensitivity and deterioration in resolution are caused by a plurality of columnar structure regions substantially parallel to the layer thickness direction inside the layer formed of the non-single crystal material formed on the substrate. I thought that it could be prevented if they were placed.
The present inventors conducted the following experiments to confirm whether this idea is valid.

【0027】実験1 上述した柱状構造の領域の出発点となる核としてSi粉
末をAl基体表面上に散布した後、該Al基体表面上に
堆積膜(光受容層)を形成して感光体を得た。該堆積膜
をSEMで観察した。また、得られた感光体を用いて、
画像形成を行い、電子写真特性について調べた。
Experiment 1 Si powder was sprinkled on the surface of the Al substrate as a nucleus serving as a starting point of the above-mentioned columnar structure region, and then a deposited film (photoreceptive layer) was formed on the surface of the Al substrate to form a photoreceptor. Obtained. The deposited film was observed by SEM. Also, using the obtained photoreceptor,
Images were formed and examined for electrophotographic properties.

【0028】成膜装置として、図7及び図8に示した装
置を使用した。図7及び図8に示した装置は以下に述べ
る点を除いて、前述の図12及び図13に示した装置と
同じ構成である。即ち、柱状構造の領域の出発点となる
核の導入口として、導入口213が設けられている点、
及び基体205自転の他に公転するような機構が設けら
れている点で図12及び図13に示した装置とは異なっ
ている。図7、及び図8において、201は反応容器、
202はマイクロ波電力を反応容器201内に効率よく
透過し、かつ真空気密を保持し得るアルミナセラミック
スで形成されたマイクロ波導入誘電体窓、203はマイ
クロ波電力の伝送を行う導波管である。導波管203は
スタブチュ−ナ−(図示せず)、アイソレ−タ−(図示
せず)を介してマイクロ波電源(図示せず)に接続され
ている。204は一端が反応容器201内に開口し、他
端が排気装置(図示せず)に連通している排気管、20
6は基体205により囲まれた放電空間、211はバイ
アス電極212に直流電圧を印加するための直流電源
(バイアス電源)である。214はシ−ル部材、216
は公転プレ−ト、215は公転プレ−ト216を回転さ
せるためのモ−タ−である。光受容層の形成は以下のよ
うにして行った。
As the film forming apparatus, the apparatus shown in FIGS. 7 and 8 was used. The apparatus shown in FIGS. 7 and 8 has the same configuration as the apparatus shown in FIGS. 12 and 13 except for the points described below. That is, the introduction port 213 is provided as a nucleus introduction port serving as a starting point of the columnar structure region,
Further, the apparatus is different from the apparatus shown in FIGS. 12 and 13 in that a mechanism for revolving in addition to the rotation of the base body 205 is provided. 7 and 8, 201 is a reaction container,
Reference numeral 202 denotes a microwave introducing dielectric window formed of alumina ceramics capable of efficiently transmitting microwave power into the reaction vessel 201 and maintaining vacuum tightness, and 203 is a waveguide for transmitting microwave power. . The waveguide 203 is connected to a microwave power source (not shown) via a stub tuner (not shown) and an isolator (not shown). An exhaust pipe 204 has one end opening into the reaction vessel 201 and the other end communicating with an exhaust device (not shown), 20
6 is a discharge space surrounded by the base 205, and 211 is a DC power supply (bias power supply) for applying a DC voltage to the bias electrode 212. 214 is a seal member, 216
Is a revolution plate, and 215 is a motor for rotating the revolution plate 216. The light receiving layer was formed as follows.

【0029】即ち、Al製の基体205が配された反応
容器201内を排気管204を介して排気し、該反応容
器201内を1×10-7Torrの圧力に調整した。つ
いでヒ−タ−207に通電して基体205を250℃の
温度に加熱保持した。モ−タ−210により基体205
を自転させると共に、モ−タ−215により基体205
を公転させた。ここで、平均粒子径10μmのSi粉末
を圧力2×104Pa、流量1000sccmのArガ
スとともに導入口213を介して2分間に亙って反応容
器201内に導入し、基体205の表面上にSi粉末を
散布した。次に、不図示のガス導入手段を介して、Si
4ガス,Heガス,CH4ガス,SiF 4ガスをそれぞ
れ、350sccm,100sccm,50sccm,
1sccmの流量で反応容器201内に導入し、該反応
容器201内を4.0mTorrの圧力に調整した。こ
うしたところで、マイクロ波電源208により周波数
2.45GHz、1000Wのマイクロ波を導波管20
3を介して反応容器201内に導入した。これと同時に
バイアス電極212に70Vのバイアス電圧を印加し
た。かくして基体205により囲まれた放電空間206
において、上述の成膜用原料ガスはマイクロ波のエネル
ギ−により励起されて解離し、バイアス電極212と基
体205の間の電界により定常的にイオン衝撃を受けな
がら、基体205上に水素及び弗素を含有するアモルフ
ァス炭化珪素膜(a−SiC:H:F)が20μmの厚
みで形成された。こうして得られたアモルファス炭化珪
素膜をAl基体205の一部より切り出してSEM観察
用の試料を作成し、SEM観察を行った。そうしたとこ
ろ、基体205の表面上のSi核から光受容層の自由表
面に向かって複数の亀裂がはしっており、膜質が粗悪な
ものであることが確認できた。また、光受容層の表面に
は、多数の突起が生じていたので、図9に示す研磨装置
を使用して突起の研磨を行った。図9に示される研磨装
置は、電子写真感光体をシャフトに取りつけてこれを回
転させ、回転する電子写真感光体の表面に研磨テ−プを
圧着させて研磨を行う形態のものである。研磨は以下の
ようにして行った。
That is, a reaction in which a substrate 205 made of Al is arranged.
The inside of the container 201 is evacuated through the exhaust pipe 204, and the reaction volume
1 x 10 inside the vessel 201-7The pressure was adjusted to Torr. One
Then, the heater 207 is energized and the substrate 205 is heated to 250 ° C.
Heated and held at temperature. Base 205 by motor-210
The substrate 205 is rotated by the motor 215 while rotating.
Was revolved around. Here, Si powder having an average particle diameter of 10 μm
Pressure 2 × 10FourAr gas with Pa and flow rate of 1000 sccm
Reaction volume through the inlet 213 for 2 minutes.
Introduced into the container 201, Si powder on the surface of the substrate 205
Sprayed. Next, Si is introduced through a gas introducing means (not shown).
HFourGas, He gas, CHFourGas, SiF FourEach gas
350sccm, 100sccm, 50sccm,
Introduced into the reaction vessel 201 at a flow rate of 1 sccm, the reaction
The pressure inside the container 201 was adjusted to 4.0 mTorr. This
By the way, the microwave power source 208 causes the frequency
2.45 GHz, 1000 W microwaves waveguide 20
It was introduced into the reaction vessel 201 via At the same time
Applying a bias voltage of 70V to the bias electrode 212
It was The discharge space 206 thus surrounded by the substrate 205
In the above, the above-mentioned film forming source gas is microwave energy.
It is excited by a gear and dissociated, and the bias electrode 212 and the
Do not constantly receive ion bombardment by the electric field between the body 205
Amorph containing hydrogen and fluorine on the substrate 205
The silicon carbide film (a-SiC: H: F) is 20 μm thick
Formed only by. Amorphous silicon carbide thus obtained
The element film is cut out from a part of the Al substrate 205 and observed by SEM.
A sample was prepared for SEM observation. Where it did
The free surface of the photoreceptor layer from the Si nuclei on the surface of the substrate 205.
There are multiple cracks on the surface, and the film quality is poor.
It was confirmed to be a thing. Also, on the surface of the light receiving layer
Had many protrusions, the polishing apparatus shown in FIG.
Was used to polish the protrusions. Polishing device shown in FIG.
Mount the electrophotographic photoreceptor on the shaft and rotate it.
A polishing tape is applied to the surface of the rotating electrophotographic photoconductor.
This is a form in which pressure is applied and polishing is performed. Polishing is as follows
I went like this.

【0030】まず研磨装置本体301中の研磨ユニット
302を上方に上げクランプ303により固定したの
ち、電子写真感光体305を支持台304と組み合わ
せ、シャフト306に固定した。ついでクランプ303
を緩め、研磨ユニット302を下方に降ろし、圧接ロー
ラ−307により研磨テープ308を電子写真感光体3
05に圧着した。研磨テープ308としてはポリエステ
ルフィルム上に平均粒径8μmの炭化珪素粉末を塗布し
たものを用いた。圧接ローラ−307は表面にウレタン
ゴム(JIS硬度;80)を被覆したものを用いた。こ
の時、圧接用のバネ309を調節して、圧接ローラ−3
07を介して研磨テープ308を電子写真感光体305
に圧着させる圧力を線圧40g/cm、接触幅(以降
「ニップ幅」と略称する)を0.5mmとした。
First, the polishing unit 302 in the main body 301 of the polishing apparatus was raised and fixed by the clamp 303, and then the electrophotographic photosensitive member 305 was combined with the support 304 and fixed to the shaft 306. Then clamp 303
Is loosened, the polishing unit 302 is lowered, and the polishing tape 308 is attached to the electrophotographic photosensitive member 3 by the pressing roller-307.
It was crimped to 05. As the polishing tape 308, a polyester film coated with silicon carbide powder having an average particle diameter of 8 μm was used. The pressing roller 307 used had a surface coated with urethane rubber (JIS hardness: 80). At this time, the spring 309 for pressure contact is adjusted to adjust the pressure contact roller-3.
07 via the polishing tape 308 to the electrophotographic photoreceptor 305.
The pressure to be pressure-bonded to was set to a linear pressure of 40 g / cm, and the contact width (hereinafter abbreviated as "nip width") was set to 0.5 mm.

【0031】次に、回転数が可変のモーター310及び
311を回転し、研磨を行なった。研磨テープ308の
送り速度は10mm/min、被研磨部材である電子写
真感光体305の回転速度は300mm/secとし
て、5分間の研磨を行なった。
Next, the motors 310 and 311 whose rotation speeds are variable were rotated to perform polishing. The polishing tape 308 was fed at a feed rate of 10 mm / min, and the electrophotographic photosensitive member 305 as a member to be polished was rotated at a speed of 300 mm / sec, and polishing was performed for 5 minutes.

【0032】このようにして得られた感光体をキヤノン
(株)製NP9330複写機を実験用に改造した複写機
に搭載して画像形成を行った。複写の初期には原稿の複
写がなんとかできたものの、複写を繰り返すに従い複写
画像の状態が急激に悪くなり、原稿の文字が認識できな
くなってしまった。ここで作製した感光体の特性が非常
に悪いのは、Si核のAl基体上への吸着が安定したも
のではなく、このことに起因して、Si核上に形成され
る堆積膜に亀裂が生じたためであろうと考えられる。
The photoconductor thus obtained was mounted on a copying machine, which was a Canon NP9330 copying machine modified for experiments, to form an image. Although the original could be copied in the early stage of copying, the condition of the copied image suddenly deteriorated as the copying was repeated, and the characters on the original could not be recognized. The characteristics of the photoconductor prepared here are very poor because the adsorption of Si nuclei on the Al substrate is not stable, which causes cracks in the deposited film formed on the Si nuclei. Probably because it happened.

【0033】実験2 実験においては、実験1で得られた結果に鑑みて、Si
核のAl基体上への散布をAl基体上にわずかに堆積膜
を形成した後に行った。即ち、実験1におけるSi核の
Al基体上への散布工程を、Al基体上にわずかに堆積
膜を形成した後に行う以外、実験1と同様にして行っ
た。具体的には、次のとおりに行った。反応容器201
内を減圧排気した後、Al基体205を250℃の温度
に加熱保持した。基体205を自転公転させると共に、
SiH4ガス,Heガス,CH4ガス,SiF4ガスの成
膜用原料ガスをそれぞれ、350sccm,100sc
cm,50sccm,1sccmの流量で反応容器20
1内に導入し、該反応容器201内を4.0mTorr
の圧力に調整した。こうしたところで、マイクロ波電源
208により周波数2.45GHz、1000Wのマイ
クロ波を導波管203を介して反応容器201内に導入
した。これと同時にバイアス電極212に70Vのバイ
アス電圧を印加した。この操作を、基体205上に水素
及び弗素を含有するアモルファス炭化珪素膜(a−Si
C:H:F)が5μmの厚みで形成されるまでつづけた
後、マイクロ波電源205の電源を切り、原料ガスの供
給をストップさせた。次に、平均粒子径10μmのSi
粉末を圧力2×104Pa、流量1000sccmのA
rガスとともに導入口213より2分間に亙って反応容
器201内に導入し、5μm厚のアモルファス炭化珪素
膜(a−SiC:H:F)上にSi粉末を散布した。そ
の後再び、上述の原料ガスを反応容器201内に導入す
るとともに、マイクロ波電力の投入及びバイアス電極2
12へのバイアス電圧の印加を行う上述の成膜操作を繰
り返して、厚さ15μmのアモルファス炭化珪素膜(a
−SiC:H:F)を積層した。こうして電子写真感光
体を得た。得られた電子写真感光体について実験1と同
様にして評価した。SEM観察の結果、最初に形成した
5μm厚のアモルファス炭化珪素膜(a−SiC:H:
F)上に散布したSi核から膜厚方向に見かけ上平行な
柱状の領域が形成されているのが観察された。これらの
柱状の領域は、すべてのSi核から発生しているわけで
はなく、Si核の中には柱状の領域を発生させていない
ものもあった。図9に示す研磨装置を使用して実験1と
同様に感光体表面の研磨を行った後、実験1と同様に画
像形成を行った。その結果、実験1で得られた複写画像
に比べて格段に優れた画像が得られたが、複写枚数が5
万枚を越えたあたりから急激に複写画像の低下(特に解
像度の低下及び白ポチの増加)が認められた。5万枚複
写後の感光体では、該感光体の光受容層を構成する堆積
膜がどのように変化したのかを観察するため、該堆積膜
をAl基体の一部より切り出してSEM観察用の試料を
作成し、SEM観察を行った。そうしたところ、最初に
形成した5μm厚のアモルファス炭化珪素膜(a−Si
C:H:F)上に散布されたSi核から膜厚方向に見か
け上平行に形成された柱状の領域は存在するものの、他
にSi核の近傍に堆積膜の存在しない粗な領域が存在し
ているのが確認された。この粗な領域の発生が解像度の
低下及び白ポチの増加を引き起こしたものと考えられ
る。また該粗な領域は、堆積膜上に散布されたいくつか
のSi核が安定した状態で堆積膜に吸着しなかったこと
に起因して生じたものと考えられる。
Experiment 2 In the experiment, in consideration of the results obtained in Experiment 1, Si
The dispersion of the nuclei on the Al substrate was performed after forming a slight deposited film on the Al substrate. That is, the step of spraying Si nuclei on the Al substrate in Experiment 1 was performed in the same manner as in Experiment 1 except that a slight deposition film was formed on the Al substrate. Specifically, it carried out as follows. Reaction vessel 201
After evacuating the inside under reduced pressure, the Al substrate 205 was heated and held at a temperature of 250 ° C. While rotating the base body 205 around its axis,
SiH 4 gas, He gas, CH 4 gas, and SiF 4 gas are used as film forming source gases at 350 sccm and 100 sc, respectively.
cm, 50 sccm, 1 sccm at the reaction vessel 20
1, and the inside of the reaction vessel 201 is 4.0 mTorr.
The pressure was adjusted to. At such a place, a microwave having a frequency of 2.45 GHz and 1000 W was introduced into the reaction vessel 201 through the waveguide 203 by the microwave power source 208. At the same time, a bias voltage of 70 V was applied to the bias electrode 212. This operation is carried out by performing an amorphous silicon carbide film (a-Si) containing hydrogen and fluorine on the substrate 205.
After C: H: F) was continuously formed to a thickness of 5 μm, the microwave power source 205 was turned off to stop the supply of the raw material gas. Next, Si having an average particle size of 10 μm
The powder is A at a pressure of 2 × 10 4 Pa and a flow rate of 1000 sccm.
It was introduced into the reaction vessel 201 together with the r gas through the introduction port 213 for 2 minutes, and Si powder was sprinkled on the amorphous silicon carbide film (a-SiC: H: F) having a thickness of 5 μm. After that, the above-mentioned source gas is again introduced into the reaction vessel 201, and microwave power is applied and the bias electrode 2 is supplied.
The above-described film forming operation of applying a bias voltage to the amorphous silicon carbide film (a) having a thickness of 15 μm (a) is repeated.
-SiC: H: F) was laminated. Thus, an electrophotographic photosensitive member was obtained. The obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Experiment 1. As a result of SEM observation, the initially formed amorphous silicon carbide film (a-SiC: H: 5 μm thick) was formed.
It was observed that columnar regions, which are apparently parallel to each other in the film thickness direction, were formed from the Si nuclei scattered on F). These columnar regions were not generated from all Si nuclei, and some Si nuclei did not generate columnar regions. After the surface of the photoconductor was polished in the same manner as in Experiment 1 using the polishing apparatus shown in FIG. 9, image formation was performed in the same manner as in Experiment 1. As a result, an image significantly superior to the copy image obtained in Experiment 1 was obtained, but the number of copies was 5
A drastic reduction in the number of copied images (particularly a decrease in resolution and an increase in white spots) was observed after the number of sheets exceeded 10,000. In the photoconductor after copying 50,000 sheets, in order to observe how the deposited film constituting the photoreceptive layer of the photoconductor was changed, the deposited film was cut out from a part of the Al substrate and used for SEM observation. A sample was prepared and SEM observation was performed. As a result, the initially formed amorphous silicon carbide film (a-Si) having a thickness of 5 μm was formed.
C: H: F) has columnar regions formed apparently parallel to each other in the film thickness direction from the Si nuclei scattered, but there is another rough region where no deposited film exists near the Si nuclei. It was confirmed that it was doing. It is considered that the occurrence of this rough area caused a decrease in resolution and an increase in white spots. It is considered that the rough region is caused by the fact that some Si nuclei scattered on the deposited film did not adsorb to the deposited film in a stable state.

【0034】実験3 本実験においては、Si核がアモルファス炭化珪素膜
(a−SiC:H:F)上に安定した状態で吸着するよ
うにすべく、核となるSi粉末をあらかじめ帯電させ、
該Si粉末と基体の両者の電界を利用してSi核をアモ
ルファス炭化珪素膜(a−SiC:H:F)上に吸着さ
せるようにした。本実験における成膜操作は、図7及び
図8に示される堆積膜形成装置に改良を加えたものを使
用して行った。具体的には、導入口213の途中に0.
5mm径のタングステン線で構成された帯電器を配し、
この帯電器に直流電圧を印加することでコロナ放電を発
生させてSi粉末を帯電させるようにした。これに加え
て、基体205に直流バイアス電圧を印加できるように
した。本実験における成膜は、実験2におけるSi核の
散布を、Si粒子を帯電器により帯電させるとともにA
l基体205にバイアス電圧を印加して両者の間に生ず
る電界を利用して行った以外実験2におけると同様にし
て行った。具体的には、次のとおりに行った。反応容器
201内を減圧排気した後、Al基体205を250℃
の温度に加熱保持した。Al基体205を自転公転させ
ると共に、SiH4ガス,Heガス,CH4ガス,SiF
4ガスの成膜用原料ガスをそれぞれ、350sccm,
100sccm,50sccm,1sccmの流量で反
応容器201内に導入し、該反応容器201内を4.0
mTorrの圧力に調整した。こうしたところで、マイ
クロ波電源208により周波数2.45GHz、100
0Wのマイクロ波を導波管203を介して反応容器20
1内に導入した。これと同時にバイアス電極212に7
0Vのバイアス電圧を印加した。この成膜工程を、Al
基体205上に5μm厚の水素及び弗素を含有するアモ
ルファス炭化珪素膜(a−SiC:H:F)が形成され
るまでつづけた後、マイクロ波電源205の電源を切
り、上記成膜用原料ガスの供給をストップさせた。次
に、導入口213の近傍に設けられた帯電器に5kVの
直流電圧を印加してコロナ放電を発生させてSi粉末を
帯電させ、Al基体205に−100Vの直流電圧を印
加した状態で、Si粉末を圧力2×104Pa、流量1
000sccmのArガスとともに導入口213より2
分間に亙って反応容器201内に導入した。Al基体2
05への直流電圧を印加を停止した後、上述の成膜用原
料ガスを反応容器201内に導入するとともに、マイク
ロ波電力の投入及びバイアス電極212へのバイアス電
圧の印加をする上述の成膜操作を繰り返して厚さ15μ
mのアモルファス炭化珪素膜(a−SiC:H:F)を
積層した。こうして電子写真感光体を得た。得られた電
子写真感光体について実験2と同様の手法で評価した。
SEM観察の結果、最初に形成した5μm厚のアモルフ
ァス炭化珪素膜(a−SiC:H:F)上に散布された
全てのSi核から堆積膜の膜厚方向に見かけ上平行に柱
状の領域が形成されているのが観察された。図9に示す
研磨装置を使用して実験2におけると同様に感光体表面
の研磨を行った後、実験2と同様にして画像形成を行っ
た。その結果、実験2で得られた複写画像よりもさらに
優れた画像が得られ、10万枚の複写後にあっても複写
画像の低下は見られなかった。ここで非常に優れた複写
画像が得られた理由は、堆積膜上にSi核が安定な状態
で吸着し、該Si核を起点として柱状の領域が膜厚方向
に見かけ上平行に柱状の領域が形成されたためと考えら
れる。
Experiment 3 In this experiment, the Si powder to be the core was precharged so that the Si nucleus could be adsorbed on the amorphous silicon carbide film (a-SiC: H: F) in a stable state.
The Si nuclei were adsorbed on the amorphous silicon carbide film (a-SiC: H: F) by utilizing the electric fields of both the Si powder and the substrate. The film forming operation in this experiment was performed by using a modified deposition film forming apparatus shown in FIGS. 7 and 8. Specifically, a value of 0.
Arrange a charger composed of 5 mm diameter tungsten wire,
By applying a DC voltage to this charger, corona discharge was generated to charge the Si powder. In addition to this, a DC bias voltage can be applied to the substrate 205. The film formation in this experiment was performed by spraying Si nuclei in Experiment 2 by charging Si particles with a charger and
The same procedure as in Experiment 2 was performed except that a bias voltage was applied to the substrate 205 and the electric field generated between the two was used. Specifically, it carried out as follows. After evacuating the inside of the reaction vessel 201 under reduced pressure, the Al substrate 205 is heated to 250 ° C.
It was heated and held at the temperature of. The Al substrate 205 is rotated and revolved, and SiH 4 gas, He gas, CH 4 gas, SiF are used.
The four source gases for film formation were 350 sccm,
It was introduced into the reaction container 201 at a flow rate of 100 sccm, 50 sccm, and 1 sccm, and the inside of the reaction container 201 was set to 4.0.
The pressure was adjusted to mTorr. In such a place, the microwave power source 208 is used to generate a frequency of 2.45 GHz, 100
The reaction vessel 20 receives 0 W microwaves through the waveguide 203.
Introduced in 1. At the same time, the bias electrode 212 is
A bias voltage of 0V was applied. This film forming process is
After the amorphous silicon carbide film (a-SiC: H: F) containing hydrogen and fluorine having a thickness of 5 μm is formed on the substrate 205, the microwave power source 205 is turned off, and the film forming source gas is formed. Supply was stopped. Next, a DC voltage of 5 kV was applied to a charger provided in the vicinity of the inlet 213 to generate corona discharge to charge the Si powder, and a DC voltage of -100 V was applied to the Al substrate 205. Si powder pressure 2 × 10 4 Pa, flow rate 1
2 from the inlet 213 together with Ar gas of 000 sccm
It was introduced into the reaction vessel 201 over a period of time. Al base 2
After stopping the application of the DC voltage to 05, the above-mentioned film forming raw material gas is introduced into the reaction vessel 201, and the microwave power is applied and the bias voltage is applied to the bias electrode 212. Repeat the operation to a thickness of 15μ
m amorphous silicon carbide film (a-SiC: H: F) was laminated. Thus, an electrophotographic photosensitive member was obtained. The obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Experiment 2.
As a result of SEM observation, columnar regions are apparently parallel to the thickness direction of the deposited film from all Si nuclei scattered on the initially formed amorphous silicon carbide film (a-SiC: H: F) having a thickness of 5 μm. It was observed to have formed. After polishing the surface of the photoconductor in the same manner as in Experiment 2 using the polishing apparatus shown in FIG. 9, image formation was performed in the same manner as in Experiment 2. As a result, an image superior to the copied image obtained in Experiment 2 was obtained, and no deterioration of the copied image was observed even after 100,000 copies were made. The reason why a very excellent copied image was obtained here is that the Si nuclei are adsorbed on the deposited film in a stable state, and the columnar regions are apparently parallel to each other in the film thickness direction from the Si nuclei as a starting point. Is considered to have been formed.

【0035】実験4 本実験においては実験3において得られた結果に鑑みて
堆積膜中に形成される柱状構造領域の密度を種々変化さ
せ、好ましい密度を得べく検討した。本実験では、図1
に示される構成の電子写真感光体を複数種作製した。図
1において102は、基体であり、104は珪素原子を
母体とする非単結晶(アモルファス、微結晶、あるいは
多結晶)で構成された光導電層としての機能を有する層
である。103は電荷注入阻止層、105は表面保護層
である。110は柱状構造を示し、111は柱状構造の
核を示す。それぞれの場合、堆積膜の形成は実験3で使
用した装置を使用して以下のように行った。反応容器2
01内を減圧排気した後、Al基体205を250℃の
温度に加熱保持した。Al基体205を自転公転させる
と共に、SiH4ガス,Heガス,B26ガス,NOガ
スの成膜用原料ガスをそれぞれ、350sccm,10
00ppm,10sccmの流量で反応容器201内に
導入し、該反応容器201内を4.0mTorrの圧力
に調整した。こうしたところで、マイクロ波電源208
により周波数2.45GHz、1000Wののマイクロ
波を導波管203を介して反応容器201内に導入し
た。これと同時にバイアス電極212に70Vのバイア
ス電圧を印加した。こうして電荷注入阻止層103を形
成した。この成膜工程を続けてAl基体205上に3μ
m厚のa−Si:H:N:B膜を形成した。次いでB2
6ガス及びNOガスの供給をやめ、上述したSiH4
ス及びHeガスに加えてCH4及びSiF4ガスをそれぞ
れ50sccm,1sccmの流量で反応容器201内
に導入して5μmのa−SiC:H:F膜を形成した
後、マイクロ波電源205の電源を切り、上記成膜用原
料ガスの供給をストップさせた。それぞれの場合におい
て、次に、導入口213の近傍に設けられた帯電器に5
kVの直流電圧を印加してコロナ放電を発生させSi粉
末を帯電させ、Al基体205に−100Vの直流電圧
を印加した状態で、該Si粉末を圧力2×104Pa、
流量800sccmのArガスとともに導入口213よ
り異なった導入時間、即ち、10秒〜5分間に亙って反
応容器201内に導入した。Al基体205への直流電
圧を印加を停止した後、上述の成膜用原料ガスを反応容
器201内に導入するとともに、マイクロ波電力の投入
及びバイアス電極212へのバイアス電圧の印加を行う
上述の成膜操作を繰り返して15μm厚のa−SiC:
H:Fを積層した。こうして光導電層104を形成し
た。次に表1に示した成膜条件で0.5μm厚のa−S
iC:H膜からなる表面層105を形成した。上記10
3層、104層、及び105層の形成条件を表1にまと
めて示す。得られたそれぞれの感光体について、図9に
示す研磨装置を使用して実験2と同様にその表面の研磨
を行った。得られたそれぞれの感光体をキヤノン(株)
製NP9330複写機を実験用に改造した複写機に搭載
して画像形成及び評価を行った。得られた評価結果は表
2にまとめて示す。表2に示した各評価項目については
以下の評価基準で行った。
Experiment 4 In the present experiment, in view of the results obtained in Experiment 3, various densities of the columnar structure regions formed in the deposited film were changed to study to obtain a preferable density. In this experiment,
A plurality of types of electrophotographic photoconductors having the structure shown in 1 were produced. In FIG. 1, reference numeral 102 is a substrate, and 104 is a layer having a function as a photoconductive layer composed of a non-single crystal (amorphous, microcrystalline, or polycrystalline) having silicon atoms as a matrix. 103 is a charge injection blocking layer, and 105 is a surface protective layer. 110 indicates a columnar structure, and 111 indicates a nucleus of the columnar structure. In each case, the deposited film was formed using the apparatus used in Experiment 3 as follows. Reaction vessel 2
After evacuating the interior of 01 under reduced pressure, the Al substrate 205 was heated and maintained at a temperature of 250 ° C. The Al substrate 205 is rotated and revolved, and the film forming raw material gases of SiH 4 gas, He gas, B 2 H 6 gas and NO gas are respectively 350 sccm, 10
It was introduced into the reaction vessel 201 at a flow rate of 00 ppm and 10 sccm, and the pressure inside the reaction vessel 201 was adjusted to 4.0 mTorr. In such a place, the microwave power source 208
Then, a microwave having a frequency of 2.45 GHz and 1000 W was introduced into the reaction vessel 201 through the waveguide 203. At the same time, a bias voltage of 70 V was applied to the bias electrode 212. Thus, the charge injection blocking layer 103 was formed. This film forming process is continued to form 3 μ on the Al substrate 205.
An m-thick a-Si: H: N: B film was formed. Then B 2
The supply of H 6 gas and NO gas was stopped, and CH 4 and SiF 4 gas were introduced into the reaction vessel 201 at a flow rate of 50 sccm and 1 sccm, respectively, in addition to the above-mentioned SiH 4 gas and He gas, and 5 μm of a-SiC: After forming the H: F film, the microwave power supply 205 was turned off to stop the supply of the film forming source gas. In each case, the charging device provided near the inlet 213 is then
A DC voltage of kV is applied to generate a corona discharge to charge the Si powder, and a pressure of 2 × 10 4 Pa is applied to the Si powder in a state where a DC voltage of −100 V is applied to the Al substrate 205.
The Ar gas having a flow rate of 800 sccm was introduced into the reaction container 201 through the introduction port 213 for different introduction times, that is, 10 seconds to 5 minutes. After the application of the DC voltage to the Al substrate 205 is stopped, the above-mentioned film forming material gas is introduced into the reaction vessel 201, and the microwave power is applied and the bias voltage is applied to the bias electrode 212. By repeating the film forming operation, a-SiC having a thickness of 15 μm:
H: F was laminated. Thus, the photoconductive layer 104 was formed. Next, under the film forming conditions shown in Table 1, 0.5 μm thick aS
A surface layer 105 made of an iC: H film was formed. 10 above
The conditions for forming the three layers, the 104 layers, and the 105 layers are summarized in Table 1. The surface of each of the obtained photoconductors was polished in the same manner as in Experiment 2 using the polishing apparatus shown in FIG. Each of the obtained photoconductors is manufactured by Canon Inc.
The NP9330 copying machine manufactured by NP9330 was mounted on a copying machine modified for experiments, and image formation and evaluation were performed. The obtained evaluation results are summarized in Table 2. Each evaluation item shown in Table 2 was evaluated according to the following evaluation criteria.

【0036】(1)感度むら:全面ハーフトーンの原稿
を原稿台に置きコピーした時に得られた画像サンプルを
観察し、濃淡のむらを評価した。
(1) Sensitivity unevenness: An image sample obtained when an original halftone original was placed on an original table and copied was observed to evaluate unevenness of light and shade.

【0037】感光体表面を軸方向に3等分、周方向に3
等分表面に対応するように9つの領域に分け各々の領域
の画像濃度の平均を比較し評価した。 ◎ ・・・・ 9つの領域で画像濃度の差無し。 ○ ・・・・ 1〜2の領域で一部僅かな画像濃度の差有
り。 △ ・・・・ 全面に渡り画像濃度の差があるが程度は軽徴
である。 × ・・・・ 全面に渡り問題になる程度の画像濃度の差が
ある。
The surface of the photoconductor is divided into three parts in the axial direction and three parts in the circumferential direction.
The image was divided into nine areas so as to correspond to the equally divided surface, and the average of image densities in the respective areas was compared and evaluated. ◎ ・ ・ ・ ・ No difference in image density in the nine areas. ○: There is a slight difference in image density in the areas 1 and 2. Δ: The image density is different over the entire surface, but the degree is slight. × ... There is a difference in image density over the entire surface that causes a problem.

【0038】(2)解像度:白地に全面文字よりなる通
常の原稿を原稿台に置きコピーした時に得られた画像サ
ンプルを観察し、画像上の文字がいずれもつぶれずに再
現できたか評価した。
(2) Resolution: An image sample obtained by copying an ordinary document consisting of characters all over a white background on a platen was observed to evaluate whether any characters on the image could be reproduced without being crushed.

【0039】但し、この時画像上でむらがある時は、全
画像領域で評価し一番悪い部分の結果を示した。 ◎ ・・・・ 良好。 ○ ・・・・ 一部つぶれ有り。 △ ・・・・ つぶれは多いが文字として認識できる。 × ・・・・ 文字として認識できないものもある。
However, at this time, when there was unevenness on the image, the evaluation was performed on the entire image area and the result of the worst part was shown. ◎ ・ ・ ・ ・ Good. ○ ・ ・ ・ ・ Partially crushed. △ ・ ・ ・ ・ Although there are many crushes, it can be recognized as characters. × ・ ・ ・ ・ Some characters cannot be recognized.

【0040】(3)干渉縞:全面ハーフトーンの原稿及
び全面黒の原稿を原稿台に置きコピーした時に得られた
画像サンプルを観察し、感光体の膜厚むらに対応した縞
状の濃淡のむらを評価した。 ◎ ・・・・ いずれの画像でも干渉縞は全く認められな
い。 ○ ・・・・ 詳細に観察するとハーフトーンの画像で一部
に軽徴な干渉縞が認められる。 △ ・・・・ ハーフトーンの画像で干渉縞が、全面黒の画
像上では認められない。 × ・・・・ 何れの画像上でも干渉縞が目立つ。
(3) Interference fringe: An image sample obtained by copying an entire halftone original document and an entire black original document on the original plate is observed, and striped unevenness of light and shade corresponding to the uneven thickness of the photoconductor is observed. Was evaluated. ⊚: No interference fringes are observed in any of the images. ○ ・ ・ ・ ・ When observed in detail, slight interference fringes are observed in some of the halftone images. B: No interference fringes are observed on the black image in the halftone image. × ... Interference fringes are conspicuous on any image.

【0041】(4)がさつき:全面ハーフトーンの原
稿、及び、白地に全面文字よりなる通常の原稿を交互に
原稿台に置きコピーした時に得られた画像サンプルを観
察し、がさつきの程度を評価した。 ◎ ・・・・ いずれの画像でもがさつきは全く認められな
い。 ○ ・・・・ ハーフトーンの画像に一部わずかにがさつく
部分有り。 △ ・・・・ ハーフトーンの画像ではがさつきが目立つ
が、全面文字の原稿には影響無し。 × ・・・・ 文字として認識できないものもある。
(4) Roughness: The original half-tone original and the normal original consisting of full-faced characters on a white background are alternately placed on the original plate and the image sample obtained by copying is observed to determine the degree of roughness. evaluated. ◎ ・ ・ ・ ・ No roughness is observed in any of the images. ○ .... There is a part of the halftone image that is slightly shaky. △ ・ ・ ・ ・ The halftone image has a noticeable roughness, but it has no effect on the original with full-scale characters. × ・ ・ ・ ・ Some characters cannot be recognized.

【0042】[0042]

【表1】 [Table 1]

【0043】[0043]

【表2】 表2に示した結果から明らかなように、堆積膜中に5個
/cm2乃至500個/cm2の範囲の密度で柱状構造を
形成した場合、感度むら、解像度、干渉縞、がさつきの
それぞれにつき、非常に優れた特性を示す電子写真感光
体が得られることが理解される。
[Table 2] As is clear from the results shown in Table 2, when the columnar structure was formed in the deposited film at a density in the range of 5 pieces / cm 2 to 500 pieces / cm 2 , sensitivity unevenness, resolution, interference fringes, and roughness were observed. It is understood that each gives an electrophotographic photoreceptor that exhibits very good properties.

【0044】以上の実験1乃至実験4の結果から、次の
ことが判明した。
From the results of Experiments 1 to 4 described above, the following was found.

【0045】基体上に非単結晶材料で構成された層を形
成した後、該層の表面に成長して柱状構造の領域を形成
する起点となる核を安定した状態で吸着させた後、非単
結晶材料で構成された層を更に形成し、該層の層厚方向
に実質的に平行な柱状構造の領域を5個/cm2乃至5
00個/cm2の密度で形成してなる光受容部材は、感
度むら、解像度、干渉縞、がさつきのそれぞれにつき、
非常に優れた特性を示す。
After forming a layer made of a non-single-crystal material on a substrate, a nucleus serving as a starting point for growing on the surface of the layer to form a columnar structure region is adsorbed in a stable state, A layer composed of a single crystal material is further formed, and the region of the columnar structure which is substantially parallel to the layer thickness direction of the layer is 5 / cm 2 to 5
The light receiving member formed with a density of 00 pieces / cm 2 has sensitivity unevenness, resolution, interference fringes, and roughness,
Shows very good properties.

【0046】本発明の電子写真感光体は、電子写真感光
体用の基体と、該基体上に設けられた珪素原子を含有す
る非単結晶材料で構成された光受容層と、からなる電子
写真感光体であって、前記光受容層が、該層の内部に位
置する複数の核を起点として該層の層厚方向に実質的に
平行な柱状構造の領域を5個/cm2乃至500個/c
2の密度で有することを特徴とするものである。
The electrophotographic photosensitive member of the present invention comprises an electrophotographic photosensitive member comprising a substrate for the electrophotographic photosensitive member and a photoreceptive layer provided on the substrate and made of a non-single crystal material containing silicon atoms. a photoreceptor, the light receiving layer, 5 / cm 2 to 500 regions of substantially parallel columnar structure said layer in the layer thickness direction a plurality of nuclei located within the layer as a starting point / C
It is characterized by having a density of m 2 .

【0047】本発明の電子写真感光体の製造方法は、減
圧にし得る反応容器内に珪素原子を含有するガスを導入
し、前記ガスにマイクロ波エネルギ−を供給して、前記
反応容器内の放電空間内にプラズマを生起させ、前記反
応容器内に配された基体上に珪素原子を含有する非単結
晶材料で構成された光受容層を形成して電子写真感光体
を製造する方法であって、(i)前記光受容層の一部を
形成し、(ii)形成された層の表面に、柱状構造の領域を
形成する起点となる複数の核を安定した状態で付着さ
せ、(iii)前記複数の核を付着させた層表面上に前記
(i)の工程を行い、前記複数の核を起点として該層の
成長方向に実質的に平行な柱状構造の領域を5個/cm
2乃至500個/cm2の密度で形成することを特徴起点
として該層の成長方向に実質的に平行な柱状構造の領域
を5個/cm2乃至500個/cm2の密度で形成するこ
とを特徴とするものである。
In the method for producing an electrophotographic photosensitive member of the present invention, a gas containing silicon atoms is introduced into a reaction vessel that can be depressurized, and microwave energy is supplied to the gas to cause discharge in the reaction vessel. A method for producing an electrophotographic photosensitive member by causing a plasma to be generated in a space, and forming a photoreceptive layer composed of a non-single-crystal material containing silicon atoms on a substrate arranged in the reaction container. , (I) a part of the light-receiving layer is formed, and (ii) a plurality of nuclei serving as starting points for forming a region having a columnar structure are stably attached to the surface of the formed layer, (iii) The step (i) is performed on the surface of the layer on which the plurality of nuclei are attached, and 5 regions / cm of a columnar structure region that is substantially parallel to the growth direction of the layer starting from the plurality of nuclei are formed.
2 to 500 / cm as a feature origin that formed in the second density region of substantially parallel columnar structures the layer growth direction 5 pieces / cm 2 to be formed at a density of 500 pieces / cm 2 It is characterized by.

【0048】本発明の電子写真感光体を図1を参照しな
がら説明する。図1は本発明の電子写真感光体の断面を
模式的に示した図である。
The electrophotographic photosensitive member of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram schematically showing a cross section of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【0049】図1において102は、基体であり、10
4は珪素原子を母体とする非単結晶(アモルファス、微
結晶、あるいは多結晶)で構成された光導電層としての
機能を有する層である。110は柱状構造の領域を示
し、111は柱状構造の核を示す。103は電荷注入阻
止層を示し、105は表面保護層を示す。これらの電荷
注入阻止層103及び表面保護層105は、必ずしも必
要とされるものではなく、得ようとする電子写真感光体
の特性に応じて適宜設けることのできるものである。
In FIG. 1, reference numeral 102 denotes a substrate, 10
Reference numeral 4 is a layer having a function as a photoconductive layer which is composed of a non-single crystal (amorphous, microcrystalline, or polycrystalline) having silicon atoms as a matrix. Reference numeral 110 denotes a columnar structure region, and 111 denotes a columnar structure nucleus. 103 indicates a charge injection blocking layer, and 105 indicates a surface protective layer. The charge injection blocking layer 103 and the surface protective layer 105 are not necessarily required and can be appropriately provided according to the characteristics of the electrophotographic photosensitive member to be obtained.

【0050】本発明の電子写真感光体は、従来の感光体
に見られる感度むらの発生、解像度の低下等の問題はな
く、画像特性に優れたものである。この点について、図
6を参照しながら説明する。図6は珪素原子を母体とす
る非単結晶からなる光導電層104に光が入射した際、
どのように光が進むかを示した図である。図6において
柱状構造の領域110及び柱状構造の核111は、非単
結晶層104中に界面を形成している。柱状構造の領域
110における屈折率と非単結晶層104の領域の屈折
率とは異なっていることから入射光I1は、両者の界面
において反射を繰り返し、例えばR1〜R6の反射光を発
生する。反射光R1〜R6はそれぞれ行路長が異なるた
め、互いに干渉を起こし、強め合うか、打ち消し合うが
柱状構造の領域110の存在により光の反射機会が増加
する。これにより、反射光どうしの干渉が分散され、特
定位置で光が強め合うあるいは打ち消し合うことがなく
なる。
The electrophotographic photosensitive member of the present invention is excellent in image characteristics without the problems such as the unevenness in sensitivity and the deterioration of resolution which are seen in conventional photosensitive members. This point will be described with reference to FIG. FIG. 6 shows that when light is incident on the photoconductive layer 104 made of a non-single crystal having silicon atoms as a matrix,
It is a figure showing how light advances. In FIG. 6, the columnar structure region 110 and the columnar structure nucleus 111 form an interface in the non-single-crystal layer 104. Since the refractive index in the region 110 having the columnar structure is different from the refractive index in the region of the non-single crystal layer 104, the incident light I 1 is repeatedly reflected at the interface between the two, and the reflected light of R 1 to R 6 , for example, is reflected. Occur. Since the reflected lights R 1 to R 6 have different path lengths, they interfere with each other and strengthen or cancel each other, but the presence of the columnar region 110 increases the chance of light reflection. As a result, the interference between the reflected lights is dispersed, and the lights do not intensify or cancel each other at a specific position.

【0051】また、本発明の電子写真感光体において
は、露光時に光導電層内で発生する電荷が非露光部に残
存する電荷の電界によって引き寄せられて生ずる横流れ
を柱状構造の領域110の存在により阻止できる。
Further, in the electrophotographic photosensitive member of the present invention, due to the existence of the columnar structure region 110, the lateral flow caused by the electric charge generated in the photoconductive layer at the time of exposure being attracted by the electric field of the electric charge remaining in the non-exposed portion is caused. Can be stopped.

【0052】本発明の電子写真感光体においては、図2
に示す様に、珪素原子を母体とする非単結晶104を、
例えば104(A)、104(B)、104(C)のよ
うな複数の層を積層して構成することもできる。また、
図3に示す様に103層及び105層のそれぞれを相異
なる複数の層を積層して構成することもできる。 10
3層及び105層のそれぞれには、上述した以外に例え
ば基体からの光の反射を防ぐ光吸収層、電荷を輸送する
電荷輸送層、又は電荷を発生する電荷発生層として機能
等を持たせることができる。好ましい態様においては、
103層を、光吸収層及び/又は電荷注入阻止層とし、
105層を電荷発生層及び/又は表面層とする。103
層及び105層はそれぞれシリコン原子を母体とし炭
素、ゲルマニウム、窒素、酸素、水素、弗素、ほう素、
燐の中から選択される一種又はそれ以上を含有する非晶
質材料及び多結晶質材料を包含する非単結晶材料の中か
ら選択されるもので構成される。柱状構造領域の形状
は、感光体表面に対して水平に切断した場合の形状とし
て、円形、楕円形またはそれらが重なった形状に近似し
た形状が好ましい。感光体表面に対して垂直に切断した
時の断面の形状は、長方形、三角形、台形、またはそれ
らを組み合わせた形状が好ましい。
In the electrophotographic photosensitive member of the present invention, FIG.
As shown in, a non-single crystal 104 having a silicon atom as a base is
For example, a plurality of layers such as 104 (A), 104 (B), and 104 (C) may be laminated and configured. Also,
As shown in FIG. 3, each of the 103 layer and the 105 layer may be formed by laminating a plurality of different layers. 10
In addition to the above, each of the 3 layer and the 105 layer has a function such as a light absorption layer for preventing reflection of light from the substrate, a charge transport layer for transporting charges, or a charge generation layer for generating charges. You can In a preferred embodiment,
103 layer as a light absorption layer and / or a charge injection blocking layer,
The layer 105 is a charge generation layer and / or a surface layer. 103
The layers 105 and 105 are each composed of a silicon atom as a base, carbon, germanium, nitrogen, oxygen, hydrogen, fluorine, boron,
It is composed of one selected from non-single crystal materials including amorphous materials and polycrystalline materials containing one or more selected from phosphorus. The shape of the columnar structure region is preferably a circle, an ellipse, or a shape close to a shape in which they are overlapped, as a shape when cut horizontally with respect to the surface of the photoconductor. The cross-sectional shape when cut perpendicularly to the surface of the photoreceptor is preferably rectangular, triangular, trapezoidal, or a combination thereof.

【0053】柱状構造領域の大きさは、感光体表面側か
らみて直径(または長径)1μm以上、300μm以
下、より好ましくは5μm以上、100μm以下が好ま
しい。これより小さいと本発明の効果は見られず、一方
大きいと、所望の電子写真特性が発揮されない。柱状構
造の密度は、直径(または長径)5μm以上100μm
以下のものが1cm2当たり5個以上500個以下、好
ましくは10個以上、300個以下、最適には10個以
上、100個以下とされる。これらの範囲より柱状構造
の密度が小さいと本発明の効果が見られず、一方、大き
いと、画像のがさつき等、画像特性の悪化をもたらして
しまう。
The size of the columnar structure region is preferably 1 μm or more and 300 μm or less, more preferably 5 μm or more and 100 μm or less in diameter (or major axis) when viewed from the surface side of the photoreceptor. If it is smaller than this, the effect of the present invention is not seen, while if it is larger, desired electrophotographic characteristics are not exhibited. The density of the columnar structure is 5 μm or more in diameter (or major axis) and 100 μm
The following are 5 or more and 500 or less, preferably 10 or more and 300 or less, and optimally 10 or more and 100 or less per cm 2 . If the density of the columnar structure is smaller than these ranges, the effect of the present invention will not be obtained, while if it is large, the image characteristics such as roughness of the image will be deteriorated.

【0054】柱状構造領域発生の起点となる核は微小な
粒子ならば何でも良いが特にシリコン原子を含有した単
結晶、多結晶等の結晶質粉末が好ましい。しかし、非単
結晶の粉末も使用できる。
Any nucleus may be used as a starting point for generating a columnar structure region as long as it is a fine particle, but a crystalline powder such as a single crystal or a polycrystal containing a silicon atom is particularly preferable. However, non-single crystal powders can also be used.

【0055】柱状構造領域の発生起点位置は、該柱状構
造領域を形成する光受容層について、該層の下方界面位
置から層厚方向で上方に1μm以上、より好ましくは3
μm以上、最適には5μm以上のところに設定される。
The origin of generation of the columnar structure region is 1 μm or more, more preferably 3 μm upward in the layer thickness direction from the lower interface position of the light receiving layer forming the columnar structure region.
It is set to be at least μm, optimally at 5 μm or more.

【0056】柱状構造領域を発生させる起点となる核を
堆積膜上に散布して付着させる好適な方法としては、核
となる粒子を帯電させた後、ヘリウム、ネオン、アルゴ
ン、等の希ガス、水素ガス、又はシランガス、メタンガ
ス等の原料ガスと共に反応容器内に導入して堆積膜上に
散布し、基体と帯電した粉体の両者の電界を利用して堆
積膜上に核となる該粒子を付着させる方法が挙げられ
る。
As a preferable method of scattering and attaching the nuclei, which are the starting points for generating the columnar structure regions, onto the deposited film, after charging the nuclei particles, a rare gas such as helium, neon or argon, Hydrogen gas or silane gas, methane gas, and other source gases are introduced into the reaction vessel and sprayed onto the deposited film, and the particles serving as nuclei are deposited on the deposited film by using the electric fields of both the substrate and the charged powder. The method of attaching is mentioned.

【0057】核となる粒子を帯電させる方法としては、
コロナ放電、火花放電あるいはグロ−放電のような手段
で電荷を与える方法が望ましいものとして例示できる。
コロナ放電を使用する場合、0.1〜0.5mm程度の
径のステンレス線、タングステン線等の帯電線で構成さ
れた帯電器に、4〜8kVの直流電圧をかけてコロナ放
電を発生させる。核となる粒子と共に反応容器内に導入
されるガスの流量及び吹き出し圧は、粉体粒子の大き
さ、量、対象となる膜の面積、散布時間等に依存して変
わるものであるが、一般に該ガスの流量を100scc
m〜100slmとし、圧力を104Pa〜105Paに
するのが好ましい。帯電した粒子と基体間の電界を用い
て付着を行う場合には、電界の強度は、1V/cm〜1
00V/cmとするのが好ましい。
As a method of charging the core particles,
A desirable method is one in which electric charge is applied by means such as corona discharge, spark discharge or glow discharge.
When the corona discharge is used, a corona discharge is generated by applying a DC voltage of 4 to 8 kV to a charger composed of a charging wire such as a stainless wire or a tungsten wire having a diameter of about 0.1 to 0.5 mm. The flow rate and blowing pressure of the gas introduced into the reaction vessel together with the core particles vary depending on the size and amount of the powder particles, the area of the target membrane, the spraying time, etc. Flow rate of the gas is 100 scc
It is preferable that the pressure is 10 4 Pa to 10 5 Pa and the pressure is m to 100 slm. When the adhesion is performed using an electric field between the charged particles and the substrate, the electric field strength is 1 V / cm to 1
It is preferably set to 00 V / cm.

【0058】本発明における珪素原子を含有する非単結
晶層104は珪素原子に対して炭素原子を2.0原子%
以上、25原子%以下含有し、更に、珪素原子に対して
弗素原子を2.0ppm以上、90ppm以下含有する
ことが好ましい。
The non-single-crystal layer 104 containing silicon atoms in the present invention contains 2.0 atom% of carbon atoms with respect to silicon atoms.
As described above, it is preferable that the content is 25 atomic% or less, and the content of fluorine atom is 2.0 ppm or more and 90 ppm or less with respect to the silicon atom.

【0059】珪素原子を含有する非単結晶層104の形
成に用いる原料ガスとしては、シラン、ジシラン等の他
に、炭素原子を添加するガスとして、メタン(C
4)、エタン(C25)、エチレン(C24)、アセ
チレン(C22)、プロパン(C38)等の炭化水素ま
たはこれらの混合ガスが挙げられる。また、テトラメチ
ルシラン(Si(CH34)の様に珪素原子と炭素原子
を同時に含むガスも原料ガスとして有効である。
The raw material gas used for forming the non-single-crystal layer 104 containing silicon atoms is silane (disilane) or the like, and methane (C
H 4 ), ethane (C 2 H 5 ), ethylene (C 2 H 4 ), acetylene (C 2 H 2 ), hydrocarbons such as propane (C 3 H 8 ), or a mixed gas thereof. Further, a gas containing simultaneously silicon atoms and carbon atoms such as tetramethylsilane (Si (CH 3 ) 4 ) is also effective as a raw material gas.

【0060】珪素原子を含有する非単結晶層104中に
弗素原子を添加するために使用するガスとしては、四弗
化珪素(SiF4)、(CF4)等の弗化物またはこれら
の混合ガスが挙げられる。
As a gas used for adding a fluorine atom into the non-single-crystal layer 104 containing a silicon atom, a fluoride such as silicon tetrafluoride (SiF 4 ) or (CF 4 ) or a mixed gas thereof is used. Is mentioned.

【0061】104層中に炭素を含有させる場合、10
4層中の珪素原子の量に対して2原子%以上、20原子
%以下、最適には3原子%以上、10原子%以下含有さ
せることが好ましい。
When carbon is contained in the 104 layer, it is 10
It is preferable to contain 2 at% or more and 20 at% or less, and optimally 3 at% or more and 10 at% or less with respect to the amount of silicon atoms in the four layers.

【0062】104層中に弗素原子を含有させる場合、
104層中の珪素原子の量に対して2ppm以上、90
ppm以下、最適には3ppm以上、80ppm以下の
量で含有させることが望ましい。
When the 104 layer contains a fluorine atom,
2ppm or more with respect to the amount of silicon atoms in the 104 layer, 90
It is desirable that the content be less than or equal to ppm, and optimally, more than or equal to 3 ppm and less than or equal to 80 ppm.

【0063】104層の厚さは、基体上の堆積膜の総膜
厚の30%以上、100%以下、更に好ましくは50%
以上、100%以下の範囲が好ましい。
The thickness of 104 layers is 30% or more, 100% or less, and more preferably 50% of the total thickness of the deposited film on the substrate.
As described above, the range of 100% or less is preferable.

【0064】本発明において、マイクロ波プラズマCV
D法により104層を形成する場合、放電空間内にバイ
アス電圧を印加した状態で層形成を行なうことは有効で
あり、少なくとも基体に陽イオンが衝突する方向に電界
が掛かることが好ましい。バイアス電圧を全く掛けない
場合、本発明の効果は著しく低減してしまうが、バイア
ス電圧を印加する場合、DC成分の電圧を1V以上、5
00V以下、好ましくは5V以上、100V以下とする
のが望ましい。
In the present invention, the microwave plasma CV is used.
When the 104 layers are formed by the D method, it is effective to form the layers with a bias voltage applied in the discharge space, and it is preferable that an electric field be applied at least in the direction in which the cations collide with the substrate. When the bias voltage is not applied at all, the effect of the present invention is remarkably reduced, but when the bias voltage is applied, the voltage of the DC component is 1 V or more, 5 or more.
It is desirable that the voltage is 00 V or less, preferably 5 V or more and 100 V or less.

【0065】103層及び105層の形成方法は、真空
蒸着、スパッタ、熱CVD、プラズマCVD等適宜選択
して使用できる。
As the method for forming the 103 layer and the 105 layer, vacuum vapor deposition, sputtering, thermal CVD, plasma CVD or the like can be appropriately selected and used.

【0066】基体材料としては、例えば、ステンレス、
Al、Cr、Mo、Au、In、Nb、Te、V、T
i、Pt、Pd、Fe等の金属、これらの合金または表
面を導電処理したポリカーボネート等の合成樹脂、ガラ
ス、セラミックス、紙等が使用できる。
The base material is, for example, stainless steel,
Al, Cr, Mo, Au, In, Nb, Te, V, T
Metals such as i, Pt, Pd, and Fe, alloys of these, synthetic resins such as polycarbonate whose surface is conductively treated, glass, ceramics, paper, and the like can be used.

【0067】基体の形状は任意の物で良いが、複数の基
体で放電空間を取り囲む構成の堆積膜形成方法において
は特に円筒形の物が最適である。基体の大きさには特に
制限はないが実用的には直径20mm以上、500mm
以下、長さ10mm以上、1000mm以下が好まし
い。
The substrate may have any shape, but a cylindrical one is particularly suitable for the method of forming a deposited film in which a plurality of substrates surround the discharge space. There is no particular limitation on the size of the substrate, but in practice, the diameter is 20 mm or more, 500 mm
Hereafter, the length is preferably 10 mm or more and 1000 mm or less.

【0068】複数の基体で放電空間を取り囲む構成の堆
積膜形成方法においては基体の間隔は1mm以上、50
mm以下が好ましい。基体の数は放電空間を形成できる
ならばいずれでも良いが3本以上、より好ましくは4本
以上が適当である。
In the deposited film forming method having a structure in which the discharge space is surrounded by a plurality of substrates, the distance between the substrates is 1 mm or more and 50
mm or less is preferable. The number of bases may be any as long as a discharge space can be formed, but 3 or more, and more preferably 4 or more are suitable.

【0069】本発明において、珪素原子を含有する非単
結晶よりなる層は、特に、水素を含むアモルファスシリ
コン、または、他の原子を含み珪素を主体としたアモル
ファス材料が望ましい。
In the present invention, the layer made of a non-single crystal containing silicon atoms is particularly preferably amorphous silicon containing hydrogen or an amorphous material mainly containing silicon containing other atoms.

【0070】本発明の電子写真用感光体では、基体上に
堆積した堆積膜の総膜厚は、5μm以上、100μm以
下、更に好ましくは10μm以上、70μm以下、最適
には15μm以上、50μm以下が望ましい。
In the electrophotographic photoreceptor of the present invention, the total thickness of the deposited film deposited on the substrate is 5 μm or more and 100 μm or less, more preferably 10 μm or more and 70 μm or less, and most preferably 15 μm or more and 50 μm or less. desirable.

【0071】電子写真感光体を構成する堆積膜の形成法
としては、特にプラズマCVD法が望ましい。そして、
プラズマCVD法であれば、DC放電法、RF放電法、
マイクロ波放電法等を使用することができるが、特にマ
イクロ波を使用した放電法が好ましい。
A plasma CVD method is particularly preferable as a method of forming a deposited film constituting an electrophotographic photosensitive member. And
In the case of plasma CVD method, DC discharge method, RF discharge method,
A microwave discharge method or the like can be used, but a discharge method using microwaves is particularly preferable.

【0072】マイクロ波を使用する場合、特に、図7及
び図8に示すように、放電空間を囲むように基体を設
け、少なくとも基体の一端側から導波管によりマイクロ
波を放電空間に導入する構成の方法が望ましい。この
時、マイクロ波を導入のための誘電体窓の材質としては
アルミナ(Al23)、窒化アルミニウム(AlN)、
窒化ボロン(BN)、窒化珪素(SiN)、炭化珪素
(SiC)、酸化珪素(SiO2)、酸化ベリリウム
(BeO)、テフロン、ポリスチレン等マイクロ波の損
失の少ない材料が通常使用される。
When using microwaves, in particular, as shown in FIGS. 7 and 8, a base is provided so as to surround the discharge space, and microwaves are introduced into the discharge space by a waveguide from at least one end side of the base. The configuration method is desirable. At this time, the material of the dielectric window for introducing the microwave is alumina (Al 2 O 3 ), aluminum nitride (AlN),
Materials with low microwave loss such as boron nitride (BN), silicon nitride (SiN), silicon carbide (SiC), silicon oxide (SiO 2 ), beryllium oxide (BeO), Teflon and polystyrene are usually used.

【0073】本発明では、堆積膜形成中の放電空間の圧
力は、DC電力またはRF電力を放電電力として用いる
場合には、特に100mtorr以上、5torr以
下、好ましくは200mtorr以上、2torr以下
が好ましい。マイクロ波を放電電力として用いる場合に
は、0.5mtorr以上、100mtorr以下、好
ましくは1mtorr以上、20mtorr以下の圧力
が、放電の安定性及び堆積膜の均一性を考慮すると望ま
しい。
In the present invention, the pressure of the discharge space during the formation of the deposited film is preferably 100 mtorr or more and 5 torr or less, preferably 200 mtorr or more and 2 torr or less when DC power or RF power is used as the discharge power. When microwaves are used as the discharge power, a pressure of 0.5 mtorr or more and 100 mtorr or less, preferably 1 mtorr or more and 20 mtorr or less is desirable in view of the stability of discharge and the uniformity of the deposited film.

【0074】堆積膜形成時の基体温度は、100℃以
上、500℃以下の範囲がとり得るが、特に150℃以
上、450℃以下、好ましくは200℃以上、400℃
以下、最適には230℃以上、350℃以下が望まし
い。
The substrate temperature at the time of forming the deposited film can be in the range of 100 ° C. or higher and 500 ° C. or lower, but particularly 150 ° C. or higher and 450 ° C. or lower, preferably 200 ° C. or higher and 400 ° C.
The optimum temperature is 230 ° C or higher and 350 ° C or lower.

【0075】基体の加熱方法は、真空仕様である発熱体
であればよく、より具体的にはシース状ヒーターの巻き
付けヒーター、板状ヒーター、セラミックスヒーター等
の電気抵抗発熱体、ハロゲンランプ、赤外線ランプ等の
熱放射ランプ発熱体、液体、気体等を温媒とし熱交換手
段による発熱体等が挙げられる。加熱手段の表面材質
は、ステンレス、ニッケル、アルミニウム、銅等の金属
類、セラミックス、耐熱性高分子樹脂等を使用すること
ができる。また、それ以外にも、反応容器とは別に加熱
専用の容器を設け、加熱した後、反応容器内に真空中で
基体を搬送する等の方法も使用することができる。更
に、放電に使用するマイクロ波自身により(例えば、必
要に応じて強度を変えることにより)基体温度を制御す
ることも可能である。以上のいずれの手段を単独にまた
は併用して用いることができる。
The heating method of the substrate may be any heating element having a vacuum specification, and more specifically, electric resistance heating elements such as a wound heater of a sheath heater, a plate heater, a ceramic heater, a halogen lamp, an infrared lamp. Examples of the heat radiation lamp include a heating element, a heating element using a heat exchange means with a liquid, a gas or the like as a heating medium. As the surface material of the heating means, metals such as stainless steel, nickel, aluminum and copper, ceramics, heat resistant polymer resin and the like can be used. In addition to the above, a method of providing a heating-dedicated container separately from the reaction container and heating and then transporting the substrate into the reaction container in a vacuum can also be used. Further, it is possible to control the substrate temperature by the microwave itself used for discharging (for example, by changing the intensity as necessary). Any of the above means can be used alone or in combination.

【0076】堆積膜形成中の放電電力は、DC電力また
はRF電力を放電電力として用いる場合、特に20W以
上、2kW以下、好ましくは50W以上、1kW以下
が、マイクロ波放電電力として用いる場合、100W以
上、10kW以下、好ましくは500W以上、2kW以
下が望ましい。
The discharge power during formation of the deposited film is 20 W or more and 2 kW or less, preferably 50 W or more and 1 kW or less when DC power or RF power is used as discharge power, and 100 W or more when used as microwave discharge power. 10 kW or less, preferably 500 W or more and 2 kW or less.

【0077】本発明に使用される研磨工程は、研磨材を
塗布した研磨テープを用いる場合特に効果が大きい。好
適な研磨材としてはシリカ(SiO2)、アルミナ(A
2 3)、酸化鉄(Fe23)、炭化珪素(SiC)、
窒化炭素(C34)、酸化セリウム(CeO)等の微粉
末がある。研磨材の平均粒径としては、平均粒径が小さ
すぎると研磨速度が低下し、実質的な研磨時間の増大を
招き、大きすぎると研磨速度が非常に速くなり、目的と
する柱状構造以外の部分にも影響を与えてしまう。具体
的には、1μm以上、20μm以下が望ましい。
In the polishing process used in the present invention, an abrasive is used.
The effect is particularly great when the coated abrasive tape is used. Good
A suitable abrasive is silica (SiO2), Alumina (A
l2O 3), Iron oxide (Fe2O3), Silicon carbide (SiC),
Carbon nitride (C3NFour), Fine powder of cerium oxide (CeO), etc.
There is an end. The average particle size of the abrasive is small
If it is too much, the polishing rate will decrease and the polishing time will increase substantially.
If it is too large, the polishing speed will be very high,
It also affects the parts other than the columnar structure. Concrete
Specifically, the thickness is preferably 1 μm or more and 20 μm or less.

【0078】研磨材の微粉末を塗布するベース材料とし
てはフィルム状の形状のものならばいずれでも良く、ポ
リアミド、ポリエステル、ポリウレタン、ポリ尿素、ポ
リオレフィン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩
化ビニリデン、ポリ弗化エチレン、ポリアクリロニトリ
ル、ポリビニルアルコール、ポリシアン化ビニリデン等
の有機高分子、ステンレス等の金属薄膜、紙等が挙げら
れる。中でも計量且つ強度もあること、安価で大量生産
が可能で環境変化に強い等の理由により有機高分子フィ
ルムが最適である。
The base material to which the fine powder of the abrasive is applied may be any film-shaped base material, such as polyamide, polyester, polyurethane, polyurea, polyolefin, polystyrene, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polyfluoride. Examples thereof include organic polymers such as ethylene oxide, polyacrylonitrile, polyvinyl alcohol, and polyvinylidene cyanide; metal thin films such as stainless steel; and paper. Among them, the organic polymer film is most suitable because of its weight and strength, inexpensive mass production, and resistance to environmental changes.

【0079】研磨装置に用いられる圧接ローラーとして
は、いずれの材質でも良いが、圧接ローラーが必要以上
に堅い場合には研磨テープによる傷が被研磨部材である
電子写真感光体に発生し、又、必要以上に柔らかい場合
には圧接圧力が研磨テープに伝わらず、実質的に研磨速
度の低下を招くため、例えば表面をシリコンゴムあるい
はウレタン等の材料で被覆したものが望ましい。更に、
圧接圧力に応じて研磨テープと電子写真感光体との間
で、適切な量のニップ幅をもたせることが可能なローラ
ーが好ましい。この時ニップ幅としては、0.01mm
以上、3mm以下が望ましい。圧接圧力としては線圧と
して10g/cm以上、500g/cm以下が望まし
い。
The pressure roller used in the polishing apparatus may be made of any material. However, when the pressure roller is stiffer than necessary, scratches due to the polishing tape are generated on the electrophotographic photosensitive member, which is the member to be polished, and If it is softer than necessary, the pressure contact pressure will not be transmitted to the polishing tape and the polishing rate will be substantially reduced. Therefore, it is desirable to coat the surface with a material such as silicon rubber or urethane. Furthermore,
A roller capable of providing an appropriate amount of nip width between the polishing tape and the electrophotographic photosensitive member according to the contact pressure is preferable. At this time, the nip width is 0.01 mm
It is preferably 3 mm or less. The contact pressure is preferably 10 g / cm or more and 500 g / cm or less as a linear pressure.

【0080】圧接ローラーの代わりに凸型に湾曲した圧
接部材を用いても良い。
Instead of the pressure contact roller, a convex pressure contact member may be used.

【0081】溶剤に分散させた研磨材を用いる方法も有
効である。この時好適な研磨材としてはシリカ(SiO
2)、アルミナ(Al23)、酸化鉄(Fe23)、炭
化珪素(SiC)、窒化炭素(C34)、酸化セリウム
(CeO)等の微粉末がある。研磨材の平均粒径として
は、平均粒径が小さすぎると研磨速度が低下し、実質的
な研磨時間の増大を招き、大きすぎると研磨速度が非常
に速くなり、目的とする柱状構造以外の部分にも影響を
与えてしまう。具体的には、1μm以上、20μm以下
が望ましい。
A method of using an abrasive dispersed in a solvent is also effective. At this time, silica (SiO
2 ), alumina (Al 2 O 3 ), iron oxide (Fe 2 O 3 ), silicon carbide (SiC), carbon nitride (C 3 N 4 ), cerium oxide (CeO), and other fine powders. As for the average particle diameter of the abrasive, if the average particle diameter is too small, the polishing rate decreases, and the polishing time is substantially increased. If the average particle diameter is too large, the polishing rate becomes very high. It also affects the part. Specifically, the thickness is preferably 1 μm or more and 20 μm or less.

【0082】溶剤としては研磨材が分散可能であればい
ずれの液体でも良いが、取り扱いの容易さから特に水が
好ましい。研磨材の濃度は流動性と研磨速度の最適化の
ため、体積比率で5%以上、50%以下が望ましい。研
磨材を分散した溶液を保持する部材は、溶剤を保持でき
るならばいずれでも良いが、実用上特に布、紙等、繊維
質の物が望ましい。
As the solvent, any liquid may be used as long as it can disperse the abrasive, but water is particularly preferable from the viewpoint of easy handling. The concentration of the abrasive is preferably 5% or more and 50% or less in terms of volume ratio in order to optimize the fluidity and the polishing rate. The member for holding the solution in which the abrasive is dispersed may be any member as long as it can hold the solvent, but in practice, a fibrous material such as cloth or paper is particularly preferable.

【0083】保持部材の形状としてはいずれでも良く、
ローラー状、平面状、円筒形の電子写真感光体を包み込
むような曲面を持ったもの等が挙げられる。この時ニッ
プ幅としては、0.1mm以上、100mm以下が望ま
しい。圧接圧力としては1g/cm2以上、1000g
/cm2以下が望ましい。
The holding member may have any shape,
Examples thereof include those having a curved surface that encloses a roller-shaped, flat-shaped, or cylindrical electrophotographic photosensitive member. At this time, the nip width is preferably 0.1 mm or more and 100 mm or less. Pressing pressure is 1g / cm 2 or more, 1000g
/ Cm 2 or less is desirable.

【0084】何れの研磨方法でも、被研磨材である電子
写真感光体の回転速度は1mm/sec以上、1000
mm/sec以下が望ましい。研磨時間は10秒以上、
60分以下、好ましくは1分以上、10分以下が本発明
を実施するに当たり適当である。
In any of the polishing methods, the rotation speed of the electrophotographic photosensitive member as the material to be polished is 1 mm / sec or more, 1000
mm / sec or less is desirable. Polishing time is 10 seconds or more,
60 minutes or less, preferably 1 minute or more and 10 minutes or less is suitable for carrying out the present invention.

【0085】堆積膜の断面構造の観察は、感光体の切断
面を必要に応じてバフ研磨等の研磨を行った後、光学顕
微鏡または電子顕微鏡等を使用して行うことが望まし
い。
It is desirable to observe the sectional structure of the deposited film by using an optical microscope, an electron microscope or the like after polishing the cut surface of the photoconductor as necessary by buffing or the like.

【0086】[0086]

【実施例】以下、実施例を挙げて本発明の電子写真感光
体及びその製造方法をより具体的に説明するが、本発明
はこれら実施例に限定されるものではない。
EXAMPLES The electrophotographic photoreceptor and the method for producing the same according to the present invention will be described in more detail below with reference to Examples, but the present invention is not limited to these Examples.

【0087】実施例1 実験4で使用した成膜装置を使用して、図1に示される
3層構成のアモルファスシリコン系電子写真感光体を複
数種作製した。それぞれの電子写真感光体は、光導電層
104の形成条件を下述するように一部変更した以外
は、実験4におけると同様の方法で作製した即ち、それ
ぞれの場合において、104層形成の際のCH4の流量
は表1においては一点のみが示されているがこれを種々
変化させ、Si粉末の付着工程の際の平均粒子径10μ
mのSi粉末を圧力2.5×104Pa、流量1000
sccmのArガスとともに導入口213より2分間に
亙って反応容器201内に導入した以外は実験4におけ
ると同様にして、電子写真感光体を作製した。
Example 1 Using the film forming apparatus used in Experiment 4, plural kinds of amorphous silicon type electrophotographic photoconductors having a three-layer structure shown in FIG. 1 were produced. Each electrophotographic photosensitive member was produced by the same method as in Experiment 4, except that the formation conditions of the photoconductive layer 104 were partially changed as described below, that is, in each case, when forming 104 layers. Although only one point is shown in Table 1 for the CH 4 flow rate of the above, various changes were made to obtain an average particle diameter of 10 μm during the Si powder adhesion step.
m Si powder, pressure 2.5 × 10 4 Pa, flow rate 1000
An electrophotographic photosensitive member was produced in the same manner as in Experiment 4 except that it was introduced into the reaction container 201 through the introduction port 213 for 2 minutes together with Ar gas of sccm.

【0088】このようにして得られた電子写真感光体の
それぞれについて、実験4で行ったのと同様にして評価
を行った。得られた評価結果を表3に示す。表3におけ
る「白ポチ」の評価基準は次のとおりである。
Each of the electrophotographic photosensitive members thus obtained was evaluated in the same manner as in Experiment 4. Table 3 shows the obtained evaluation results. The evaluation criteria of "white spot" in Table 3 are as follows.

【0089】白ポチ:黒原稿を原稿台に置きコピーした
時に得られた画像サンプルの同一面積内にある白点の数
により評価を行なった。 ◎ ・・・・ 良好。 ○ ・・・・ 一部小さい白点有り。 △ ・・・・ 全面に白点があるが文字の認識には支障無
し。 × ・・・・ 文字が読みにくい程白点が多い。
White spot: Evaluation was performed by the number of white spots within the same area of the image sample obtained when a black original was placed on the original plate and copied. ◎ ・ ・ ・ ・ Good. ○ ・ ・ ・ ・ There are some small white spots. △ ・ ・ ・ ・ There are white dots on the entire surface, but there is no problem in recognizing the characters. × ・ ・ ・ ・ There are many white dots as the characters are hard to read.

【0090】[0090]

【表3】 表3に示した結果から明らかなように、本発明の電子写
真感光体は、104層中に炭素原子を2.0原子%乃至
25原子%の範囲で含有する場合に特に有効であること
がわかる。
[Table 3] As is clear from the results shown in Table 3, the electrophotographic photosensitive member of the present invention is particularly effective when the 104 layer contains carbon atoms in the range of 2.0 atom% to 25 atom%. Recognize.

【0091】実施例2 実験4で使用した成膜装置を使用して、図1に示される
3層構成のアモルファスシリコン系電子写真感光体を複
数種形成した。それぞれの電子写真感光体は、光導電層
104の形成条件を下述するように一部変更した以外
は、実験4におけると同様の方法で作製した即ち、それ
ぞれの場合において、104層形成の際のSiF4の流
量は表1においては一点のみが示されているがこれを種
々変化させ、Si粉末の付着工程の際の平均粒子径10
μmのSi粉末を圧力2.5×10 4Pa、流量100
0sccmのArガスとともに導入口213より2分間
に亙って反応容器201内に導入した以外は実験4にお
けると同様にして、電子写真感光体を作成した。このよ
うにして得られた電子写真感光体を使用して、画像形成
を行い、感度むら及び解像度について実験4で行ったの
と同様にして評価を行った。得られた評価結果を表4に
示す。表4から理解されるように本発明の電子写真感光
体は、104層中に弗素原子を2.0ppm乃至90p
pmの範囲で含有する場合に特に有効である。尚、この
傾向は、104層中の炭素量を変化させても同様であっ
た。
[0091]Example 2 Using the film deposition system used in Experiment 4, it is shown in FIG.
Amorphous silicon-based electrophotographic photoreceptor with a three-layer structure
Several types were formed. Each electrophotographic photoreceptor has a photoconductive layer
Other than partially changing the formation conditions of 104 as described below
Was made in the same way as in Experiment 4, ie
In each case, SiF when forming 104 layersFourFlow of
In Table 1, only one point is shown,
The average particle size during the Si powder attachment step 10
Pressure of 2.5 × 10 μm Si powder FourPa, flow rate 100
2 minutes from inlet 213 with 0 sccm Ar gas
Experiment 4 except that it was introduced into the reaction vessel 201 over
An electrophotographic photosensitive member was prepared in the same manner as described above. This
Image formation using the electrophotographic photoreceptor obtained in this way
Was performed in Experiment 4 for sensitivity unevenness and resolution.
Evaluation was carried out in the same manner as. Table 4 shows the obtained evaluation results.
Show. As can be understood from Table 4, the electrophotographic photosensitive material of the present invention
The body has fluorine atoms in the 104 layers from 2.0 ppm to 90 p
It is particularly effective when contained in the range of pm. Incidentally, this
The tendency is the same when the carbon content in the 104 layer is changed.
It was

【0092】[0092]

【表4】 実施例3 実験4で使用した成膜装置を使用して、図4に示される
3層構成のアモルファスシリコン系電子写真感光体を複
数種作成した。3層の形成条件は表5に示したとおりで
ある。本実施例においては、104(B)層と105層
の層厚を変化させて感光体を製造し、得られたそれぞれ
の感光体について評価を行った。ここで、感光体を構成
する堆積膜の総膜厚を20μm,30μm,40μm,
として検討した。また、104(A)層形成の条件につ
いて、珪素原子に対して炭素原子が14原子%、且つ弗
素原子が70ppm含有されるようにCH4ガス及びS
iF6ガスを反応容器内に導入した。104(B)層形
成の条件については、珪素原子に対して炭素原子が7原
子%、且つ弗素原子が30ppm含有されるようにCH
4ガス及びSiF6ガスを反応容器内に導入した。柱状構
造の成長起点となる成長核の堆積膜上への散布工程は、
104(B)層を5μm形成した後、実験4で示したの
と同様の方法で行った。得られた結果を表6に示す。表
6より104層の層膜厚が感光体を構成する堆積膜の総
膜厚30%以上、100%未満の範囲にあるとき本発明
の電子写真感光体は、特に有用であることがわかる。
尚、この傾向は104層中の炭素量及び弗素量を変化さ
せても同様であった。
[Table 4] Example 3 Using the film forming apparatus used in Experiment 4, a plurality of types of amorphous silicon-based electrophotographic photosensitive members having a three-layer structure shown in FIG. 4 were prepared. The conditions for forming the three layers are as shown in Table 5. In this example, a photosensitive member was manufactured by changing the layer thicknesses of the 104 (B) layer and the 105 layer, and the obtained photosensitive members were evaluated. Here, the total thickness of the deposited film forming the photoconductor is 20 μm, 30 μm, 40 μm,
Considered as. As for the conditions for forming the 104 (A) layer, CH 4 gas and S were added so that carbon atoms were contained at 14 atom% and fluorine atoms were contained at 70 ppm with respect to silicon atoms.
iF 6 gas was introduced into the reaction vessel. Regarding the conditions for forming the 104 (B) layer, carbon atoms are contained in an amount of 7 atom% and fluorine atoms are contained in an amount of 30 ppm with respect to silicon atoms.
4 gas and SiF 6 gas were introduced into the reaction vessel. The process of spraying the growth nuclei, which is the starting point of the growth of the columnar structure, onto the deposited film is
After forming the 104 (B) layer to a thickness of 5 μm, the same method as that described in Experiment 4 was performed. The obtained results are shown in Table 6. From Table 6, it can be seen that the electrophotographic photoreceptor of the present invention is particularly useful when the layer thickness of 104 layers is in the range of 30% or more and less than 100% of the total thickness of the deposited film constituting the photoreceptor.
This tendency was the same even when the carbon amount and the fluorine amount in the 104 layer were changed.

【0093】[0093]

【表5】 [Table 5]

【0094】[0094]

【表6】 実施例4 表7に示す条件で、Si粉末の付着工程の際の平均粒子
径10μmのSi粉末を圧力2.5×104Pa、流量
1000sccmのArガスとともに導入口213より
2分間に亙って反応容器201内に導入した以外は実験
4におけると同様にして、複数種の電子写真感光体を作
成した。得られた電子写真感光体のそれぞれについて、
実験4で行ったのと同様にして評価を行った。得られた
評価結果を表8に示す。表8における「細線再現性」
「クリ−ニング性」「耐久性」「サ−ビス性」の評価基
準は次のとおりである。
[Table 6] Example 4 Under the conditions shown in Table 7, Si powder having an average particle diameter of 10 μm in the Si powder adhesion step was introduced together with Ar gas at a pressure of 2.5 × 10 4 Pa and a flow rate of 1000 sccm for 2 minutes from the inlet 213. A plurality of types of electrophotographic photoconductors were prepared in the same manner as in Experiment 4 except that the electrophotographic photosensitive member was introduced into the reaction container 201. For each of the obtained electrophotographic photoreceptors,
Evaluation was carried out in the same way as in Experiment 4. Table 8 shows the obtained evaluation results. "Reproducibility of fine lines" in Table 8
The evaluation criteria of "cleaning property", "durability" and "service property" are as follows.

【0095】細線再現性:白地に全面文字よりなる通常
の原稿を原稿台に置きコピーした時に得られた画像サン
プルを観察し、画像上の細線が途切れずにつながってい
るか評価した。但しこの時画像上のむらがある時は、全
画像領域で評価し一番悪い部分の結果を示した。 ◎ ・・・・ 良好。 ○ ・・・・ 一部途切れあり。 △ ・・・・ 途切れは多いが文字として認識できる。 × ・・・・ 文字として認識できないものもある。
Fine line reproducibility: An image sample obtained by copying an ordinary document consisting of all letters on a white background on a platen was observed to evaluate whether fine lines on the image were connected without interruption. However, at this time, when there was unevenness on the image, the evaluation was performed on the entire image area and the result of the worst part was shown. ◎ ・ ・ ・ ・ Good. ○ ・ ・ ・ ・ Partially discontinued. △ ・ ・ ・ ・ There are many breaks, but they can be recognized as characters. × ・ ・ ・ ・ Some characters cannot be recognized.

【0096】クリーニング性:全面黒原稿、ハーフトー
ン原稿、全面文字の原稿を各10枚づつコピーを行な
い、クリーナーによるクリーニング性を評価した。 ◎ ・・・・ 良好。 ○ ・・・・ 一部小さなクリーニング不良が認められたが
ブレード清掃後治まった。 △ ・・・・ 筋状にクリーニング不良が数カ所認められた
が実用上支障無し。 × ・・・・ 全面クリーニング不良。
Cleanability: A black original, a halftone original, and a full-text original were copied 10 sheets each to evaluate the cleaning ability with a cleaner. ◎ ・ ・ ・ ・ Good. ○ ・ ・ ・ ・ Some small cleaning defects were found, but they were cured after cleaning the blade. △ ・ ・ ・ ・ Small streaky cleaning defects were observed, but there was no problem in practical use. × ・ ・ ・ ・ Whole surface cleaning failure.

【0097】耐久性:上記の評価を行なった電子写真感
光体を複写機にいれ、1万枚通紙耐久後次のようにして
評価した。 ◎ ・・・・ いずれの項目においても初期と同等である。 ○ ・・・・ いずれか1つの項目において初期に比べ僅か
に劣化が認められた。 △ ・・・・ いずれかの項目において初期に比べかなりの
劣化が認められるが、実用上支障無し。 × ・・・・ 実用上支障がある劣化が認められた。
Durability: The electrophotographic photosensitive member evaluated as described above was put in a copying machine, and after 10,000 sheets of paper had passed, the evaluation was made as follows. ◎ ・ ・ ・ ・ Each item is equivalent to the initial stage. ○ ・ ・ ・ ・ A slight deterioration was observed in any one of the items compared to the initial stage. △ ・ ・ ・ ・ A considerable deterioration was observed in any of the items compared to the initial stage, but there was no practical problem. × ・ ・ ・ ・ Deterioration that is a hindrance to practical use was recognized.

【0098】サービス性:ブレード傷によるクリーニン
グ不良か、分離爪摩耗による紙の分離不良が発生するま
で連続的に通紙耐久を行ない、通紙枚数を市場でのサー
ビスマンの出動実績と比較した。 ◎ ・・・・ 他の定期交換部品の補償枚数以上であった。 ○ ・・・・ 定期点検で充分対応可能な枚数であった。 △ ・・・・ サービスマンが定期点検以外に呼ばれる可能
性のある枚数であった。 × ・・・・ サービスが困難な枚数であった。
Serviceability: Continuous paper passing was carried out until cleaning failure due to blade scratches or paper separation failure due to separation claw abrasion occurred, and the number of passed paper sheets was compared with the servicing record of servicemen in the market. ◎ ・ ・ ・ ・ The number of other regular replacement parts was more than compensated. ○ ・ ・ ・ ・ The number of sheets was enough for regular inspection. △ ・ ・ ・ ・ The number of sheets that could have been called by a service person other than during regular inspections. × ・ ・ ・ ・ The number of services was difficult.

【0099】[0099]

【表7】 [Table 7]

【0100】[0100]

【表8】 比較例1 図12及び図13に示す成膜装置を使用して、表9に示
す条件で柱状構造領域のないアモルファスシリコン電子
写真感光体を作成した。得られた感光体を使用して、実
施例4と同様にして評価を行った。評価結果を表8に示
す。
[Table 8] Comparative Example 1 An amorphous silicon electrophotographic photosensitive member having no columnar structure region was prepared under the conditions shown in Table 9 using the film forming apparatus shown in FIGS. 12 and 13. The obtained photoreceptor was used and evaluated in the same manner as in Example 4. The evaluation results are shown in Table 8.

【0101】[0101]

【表9】 比較例2 RFプラズマCVD法を用いて表10に示す条件によ
り、図11に示す構成のアモルファスシリコン電子写真
感光体を作製した。図11において502はAl基体、
503は電荷注入阻止層、504は光導電層、504は
表面保護層をそれぞれ示している。ここでは図14に示
した成膜装置を使用して通常行われる手順によりAl基
体705上にアモルファスシリコン膜の形成を行ない電
子写真感光体を作製した。図14において、701は真
空容器、702はRF電源、703は原料ガス導入口、
706は放電空間、707は支持体、708絶縁体、7
09は回転シャフトである。得られた感光体は図15に
示す研磨装置801を用いて表面の研磨を行った。感光
体805を回転シャフト806にセットしてモ−タ−8
11により回転させた。回転する感光体805に粒径2
μmのシリカ粉末を分散させたノルマルヘプタン液を塗
布した研磨布807を押し当てて10分間研磨した。8
02は押し当て機構である。こうして得られた電子写真
感光体について、実施例4と同様にして評価を行った。
評価結果を表8に示す。
[Table 9] Comparative Example 2 An amorphous silicon electrophotographic photosensitive member having the configuration shown in FIG. 11 was produced under the conditions shown in Table 10 using the RF plasma CVD method. In FIG. 11, 502 is an Al substrate,
Reference numeral 503 is a charge injection blocking layer, 504 is a photoconductive layer, and 504 is a surface protective layer. Here, an amorphous silicon film was formed on the Al substrate 705 by the procedure usually performed using the film forming apparatus shown in FIG. 14 to manufacture an electrophotographic photosensitive member. In FIG. 14, 701 is a vacuum container, 702 is an RF power source, 703 is a source gas introduction port,
706 is a discharge space, 707 is a support, 708 insulator, 7
Reference numeral 09 is a rotary shaft. The surface of the obtained photoreceptor was polished by using a polishing device 801 shown in FIG. The photoconductor 805 is set on the rotary shaft 806 and the motor 8 is set.
It was rotated by 11. Particle size 2 on rotating photoconductor 805
A polishing cloth 807 coated with a normal heptane liquid in which μm silica powder was dispersed was pressed to polish for 10 minutes. 8
Reference numeral 02 is a pressing mechanism. The electrophotographic photosensitive member thus obtained was evaluated in the same manner as in Example 4.
The evaluation results are shown in Table 8.

【0102】[0102]

【表10】 実施例5 実験4で使用した成膜装置を使用して、表11に示す条
件に従い、図5に示す4層構成の電子写真感光体を作製
した。柱状構造成長の核となるSi粉末の散布工程は、
104層を5μm堆積させた後、平均粒子径12μmの
Si粉末を圧力2.5×104Pa、流量800scc
mのArガスとともに導入口213より2分間に亙って
反応容器201内に導入して行った。細かい操作手順は
実験4に示したのと類似のものとした。得られた電子写
真感光体について、実施例4と同様にして評価を行っ
た。その結果、実施例4と同様に優れた特性を有するも
のであることが確認された。
[Table 10] Example 5 Using the film forming apparatus used in Experiment 4, an electrophotographic photosensitive member having a four-layer structure shown in FIG. 5 was produced under the conditions shown in Table 11. The process of spraying Si powder, which is the nucleus of columnar structure growth,
After depositing 104 layers of 5 μm, Si powder having an average particle diameter of 12 μm is applied at a pressure of 2.5 × 10 4 Pa and a flow rate of 800 sccc.
m of Ar gas was introduced into the reaction vessel 201 through the introduction port 213 for 2 minutes. The detailed procedure was similar to that shown in Experiment 4. The obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 4. As a result, it was confirmed to have excellent properties as in Example 4.

【0103】[0103]

【表11】 実施例6 炭素原子の供給ガスとして、メタンガスに代えて、アセ
チレンガスを用い、実験4で使用した成膜装置を使用し
て、表12に示す条件に従い、図1に示す3層構成の電
子写真感光体を作製した。柱状構造成長の核となるSi
粉末の付着工程は、10柱状構造成長の核となるSi粉
末の付着工程は、104層を5μm堆積させた後、平均
粒子径8μmのSi粉末を圧力2.5×104Pa、流
量800sccmのArガスとともに導入口213より
3分間に亙って反応容器201内に導入して行った。細
かい操作手順は実験4に示したのと類似のものとした。
得られた電子写真感光体について、実施例4と同様にし
て評価を行った。その結果、実施例4と同様にして評価
を行った。その結果、実施例4と同様に優れた特性を有
するものであることが確認された。
[Table 11] Example 6 Using an acetylene gas instead of methane gas as a carbon atom supply gas, and using the film forming apparatus used in Experiment 4, according to the conditions shown in Table 12, an electrophotography of the three-layer structure shown in FIG. A photoconductor was prepared. Si as the nucleus of columnar structure growth
In the powder adhesion step, the Si powder adhesion step that serves as a nucleus of columnar structure growth is performed by depositing 104 layers of 5 μm, and then applying Si powder having an average particle diameter of 8 μm at a pressure of 2.5 × 10 4 Pa and a flow rate of 800 sccm. It was introduced together with Ar gas into the reaction vessel 201 through the introduction port 213 for 3 minutes. The detailed procedure was similar to that shown in Experiment 4.
The obtained electrophotographic photosensitive member was evaluated in the same manner as in Example 4. As a result, evaluation was performed in the same manner as in Example 4. As a result, it was confirmed to have excellent properties as in Example 4.

【0104】[0104]

【表12】 実施例7 実験4で使用した成膜装置を使用して、表7に示す条件
に従い、実施例4と同様の工程により基体上に堆積膜を
形成した。堆積膜形成後、図10に示される研磨装置を
使用して感光体表面の研磨を行った。図10に示される
研磨装置は、電子写真感光体をシャフトに取りつけてこ
れを回転させ、回転する電子写真感光体の表面に研磨液
413を供給して研磨を行う形態のものである。
[Table 12] Example 7 Using the film forming apparatus used in Experiment 4, a deposited film was formed on the substrate by the same process as in Example 4 according to the conditions shown in Table 7. After forming the deposited film, the surface of the photoconductor was polished using the polishing apparatus shown in FIG. The polishing apparatus shown in FIG. 10 has a form in which an electrophotographic photosensitive member is attached to a shaft, is rotated, and a polishing liquid 413 is supplied to the surface of the rotating electrophotographic photosensitive member to perform polishing.

【0105】まず研磨装置本体401中の研磨ユニット
402を上方に上げクランプ403により固定した後、
電子写真感光体405を支持体404と組み合わせ、シ
ャフト406に固定した。ついでクランプ403を緩
め、研磨ユニット402を下方に降ろし、研磨ローラー
407を電子写真感光体405に圧着した。研磨ローラ
ー407の表面の材質として布を用いた。この時、圧差
用のバネ409を調節して、研磨ローラー407を電子
写真感光体405に圧着させる圧力を10g/cm2
ニップ幅を10mmとした。
First, the polishing unit 402 in the main body 401 of the polishing apparatus is lifted up and fixed by the clamp 403.
The electrophotographic photosensitive member 405 was combined with the support 404 and fixed to the shaft 406. Then, the clamp 403 was loosened, the polishing unit 402 was lowered, and the polishing roller 407 was pressure-bonded to the electrophotographic photosensitive member 405. A cloth was used as the material of the surface of the polishing roller 407. At this time, the pressure difference spring 409 is adjusted so that the pressure for pressing the polishing roller 407 to the electrophotographic photosensitive member 405 is 10 g / cm 2 ,
The nip width was 10 mm.

【0106】上部タンク408に蓄えられた、研磨材と
して平均粒径が8μmの炭化珪素を使用した研磨液41
3をバルブ414で流量を調節しながら、注入管415
を通して研磨ローラー407に滴下した。研磨液の滴下
と同時に、モーター410及び411を回転させ、研磨
を行なった。研磨ローラー407の回転速度は10mm
/min,被研磨部材である電子写真感光体405の回
転速度は300mm/secとして5分間の研磨を行な
った。以上のようにして研磨を終了した電子写真感光体
は、その表面をイオン交換水にて洗浄し、表面に残存し
ている研磨液を取り除き、続いて温度40℃の乾燥室に
て1時間放置して表面の水分を取り除いた。
A polishing liquid 41 stored in the upper tank 408 and using silicon carbide having an average particle diameter of 8 μm as an abrasive.
3, while adjusting the flow rate with the valve 414, the injection pipe 415
Was dripped onto the polishing roller 407. Simultaneously with the dropping of the polishing liquid, the motors 410 and 411 were rotated to perform polishing. The rotation speed of the polishing roller 407 is 10 mm.
/ Min, the rotation speed of the electrophotographic photosensitive member 405 as the member to be polished was 300 mm / sec, and polishing was performed for 5 minutes. The surface of the electrophotographic photosensitive member that has been polished as described above is washed with ion-exchanged water to remove the polishing liquid remaining on the surface, and then left in a drying chamber at a temperature of 40 ° C. for 1 hour. Then, the water on the surface was removed.

【0107】こうして得られた電子写真感光体を実施例
4と同様の手順で評価した。その結果、実施例4の場合
と同様に、優れた電子写真感光体であることが確認でき
た。
The electrophotographic photosensitive member thus obtained was evaluated in the same procedure as in Example 4. As a result, as in the case of Example 4, it was confirmed that the electrophotographic photosensitive member was excellent.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の電子写真感光体の一例を模式的に示す
模式図である。
FIG. 1 is a schematic view schematically showing an example of an electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図2】本発明の電子写真感光体の一例を模式的に示す
模式図である。
FIG. 2 is a schematic view schematically showing an example of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図3】本発明の電子写真感光体の一例を模式的に示す
模式図である。
FIG. 3 is a schematic view schematically showing an example of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図4】本発明の電子写真感光体の一例を模式的に示す
模式図である。
FIG. 4 is a schematic view schematically showing an example of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図5】本発明の電子写真感光体の一例を模式的に示す
模式図である。
FIG. 5 is a schematic view schematically showing an example of the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図6】本発明の電子写真感光体における光の入射行路
及び反射行路を模式的に示す模式図である。
FIG. 6 is a schematic view schematically showing a light incident path and a light reflection path in the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図7】本発明の電子写真感光体を製造するのに使用可
能な成膜装置の一例を示す模式図である。
FIG. 7 is a schematic view showing an example of a film forming apparatus that can be used to manufacture the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図8】本発明の電子写真感光体を製造するのに使用可
能な成膜装置の一例を示す模式図である。
FIG. 8 is a schematic view showing an example of a film forming apparatus that can be used to manufacture the electrophotographic photosensitive member of the present invention.

【図9】研磨装置を示す模式図である。FIG. 9 is a schematic view showing a polishing apparatus.

【図10】研磨装置を示す模式図である。FIG. 10 is a schematic view showing a polishing apparatus.

【図11】従来の電子写真感光体を模式的に示す模式図
である。
FIG. 11 is a schematic view schematically showing a conventional electrophotographic photosensitive member.

【図12】マイクロ波プラズマCVD装置の一例を示す
模式図である。
FIG. 12 is a schematic view showing an example of a microwave plasma CVD apparatus.

【図13】マイクロ波プラズマCVD装置の一例を示す
模式図である。
FIG. 13 is a schematic diagram showing an example of a microwave plasma CVD apparatus.

【図14】RFプラズマCVD装置を示す模式図であ
る。
FIG. 14 is a schematic view showing an RF plasma CVD apparatus.

【図15】研磨装置を示す模式図である。FIG. 15 is a schematic view showing a polishing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 本発明による電子写真感光体の断面 102,502 基体 103 電荷注入阻止層 104 光導電層 105 表面保護層 110 柱状構造の領域 111 柱状構造の核 201,601,701 反応容器 202,602 マイクロ波導入管 203,603 導波管 204,604,704 排気管 205,605,705 基体 206,606,706 放電空間 207,607,707 ヒーター 209,609,709 回転軸 210,610,710 モーター 211 直流電源 212 バイアス電極 213 粒子導入口 301,401,801 研磨装置 302,402 研磨ユニット 303,403 クランプ 304,404 支持体 305,405,805 電子写真感光体 306,406,806 シャフト 307 圧接ローラー 308 研磨テープ 309,409 バネ 310,410 モーター 311,411,811 モーター 407 研磨ローラー 408 タンク 413 研磨液 414 バルブ 415 注入管 501 従来の電子写真感光体の断面 503 電荷注入阻止層 504 光導電層 505 表面保護層 702 RF電極 703 原料ガス導入管 708 絶縁がいし 802 押し当て機構 807 研磨布 101 Cross Section of Electrophotographic Photosensitive Member According to the Present Invention 102,502 Substrate 103 Charge Injection Blocking Layer 104 Photoconductive Layer 105 Surface Protective Layer 110 Columnar Structure Region 111 Columnar Structure Core 201, 601, 701 Reaction Vessel 202, 602 Microwave Introduction Tube 203,603 Waveguide 204,604,704 Exhaust tube 205,605,705 Base 206,606,706 Discharge space 207,607,707 Heater 209,609,709 Rotating shaft 210,610,710 Motor 211 DC power supply 212 Bias electrode 213 Particle introduction port 301,401,801 Polishing device 302,402 Polishing unit 303,403 Clamp 304,404 Support 305,405,805 Electrophotographic photoreceptor 306,406,806 Shaft 307 Pressing roller 308 Polishing tape 309,409 Spring 310,410 Motor 311,411,811 Motor 407 Polishing roller 408 Tank 413 Polishing liquid 414 Valve 415 Injection tube 501 Cross section of conventional electrophotographic photoreceptor 503 Charge injection blocking layer 504 Photoconductive layer 505 Surface protection Layer 702 RF electrode 703 Raw material gas introduction pipe 708 Insulating insulator 802 Pressing mechanism 807 Polishing cloth

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電子写真感光体用の基体と、該基体上に
設けられた珪素原子を含有する非単結晶材料で構成され
た光受容層と、からなる電子写真感光体であって、前記
光受容層が、該層の内部に位置する複数の核を起点とし
て該層の層厚方向に実質的に平行な柱状構造の領域を5
個/cm2乃至500個/cm2の密度で有することを特
徴とする電子写真感光体。
1. An electrophotographic photosensitive member comprising a substrate for an electrophotographic photosensitive member and a photoreceptive layer formed on the substrate and made of a non-single-crystal material containing a silicon atom, wherein The light-receiving layer has a columnar structure region 5 which is substantially parallel to the layer thickness direction of the layer starting from a plurality of nuclei located inside the layer.
An electrophotographic photosensitive member characterized by having a density of pieces / cm 2 to 500 / cm 2.
【請求項2】 前記核を構成する材料は、結晶性材料で
ある請求項1に記載の電子写真感光体。
2. The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the material forming the nucleus is a crystalline material.
【請求項3】 前記柱状構造の領域の直径は、1μm乃
至300μmの範囲にある請求項1に記載の電子写真感
光体。
3. The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the diameter of the region of the columnar structure is in the range of 1 μm to 300 μm.
【請求項4】 前記核は前記光受容層の前記基体側の界
面位置から1μm以上の位置に設けられる請求項1に記
載の電子写真感光体。
4. The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the nucleus is provided at a position 1 μm or more from an interface position of the light receiving layer on the substrate side.
【請求項5】 前記光受容層を構成する前記非単結晶材
料は、珪素原子に対して炭素原子を2.0原子%乃至2
5原子%の範囲で含有する請求項1に記載の電子写真感
光体。
5. The non-single-crystal material forming the light receiving layer contains carbon atoms of 2.0 atom% to 2 with respect to silicon atoms.
The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the electrophotographic photosensitive member is contained in the range of 5 atom%.
【請求項6】 前記光受容層を構成する非単結晶材料
は、珪素原子に対して弗素原子を2.0ppm乃至90
ppmの範囲で含有する請求項1に記載の電子写真感光
体。
6. The non-single-crystal material constituting the light-receiving layer contains fluorine atoms of 2.0 ppm to 90 relative to silicon atoms.
The electrophotographic photosensitive member according to claim 1, wherein the electrophotographic photosensitive member is contained in a range of ppm.
【請求項7】 減圧にし得る反応容器内に珪素原子を含
有するガスを導入し、前記ガスにマイクロ波エネルギ−
を供給して、前記反応容器内の放電空間内にプラズマを
生起させ、前記反応容器内に配された基体上に珪素原子
を含有する非単結晶材料で構成された光受容層を形成し
て電子写真感光体を製造する方法であって、(i)前記
光受容層の一部を形成し、(ii)形成された層の表面に、
柱状構造の領域を形成する起点となる複数の核を安定し
た状態で付着させ、(iii)前記複数の核を付着させた層
表面上に前記(i)の工程を行い、前記複数の核を起点
として該層の成長方向に実質的に平行な柱状構造の領域
を5個/cm2乃至500個/cm2の密度で形成するこ
とを特徴とする電子写真感光体の製造方法。
7. A gas containing silicon atoms is introduced into a reaction vessel capable of reducing the pressure, and microwave energy is supplied to the gas.
To generate a plasma in the discharge space in the reaction vessel to form a photoreceptive layer made of a non-single-crystal material containing silicon atoms on the substrate arranged in the reaction vessel. A method for producing an electrophotographic photosensitive member, comprising: (i) forming a part of the light-receiving layer; and (ii) forming a surface of the formed layer,
A plurality of nuclei serving as a starting point for forming a region having a columnar structure are stably attached, and (iii) the step (i) is performed on the surface of the layer to which the plurality of nuclei are attached to form a plurality of the nuclei. A method for producing an electrophotographic photosensitive member, characterized in that a region having a columnar structure which is substantially parallel to a growth direction of the layer as a starting point is formed at a density of 5 pieces / cm 2 to 500 pieces / cm 2 .
【請求項8】 前記核を構成する材料は、結晶性材料で
ある請求項7に記載の電子写真感光体の製造方法。
8. The method for manufacturing an electrophotographic photosensitive member according to claim 7, wherein the material forming the core is a crystalline material.
【請求項9】 前記柱状構造の領域の直径は、1μm乃
至300μmの範囲にある請求項7に記載の電子写真感
光体の製造方法。
9. The method for manufacturing an electrophotographic photosensitive member according to claim 7, wherein the diameter of the region of the columnar structure is in the range of 1 μm to 300 μm.
【請求項10】 前記核は前記光受容層の前記基体側の
界面位置から1μm以上の位置に配置させる請求項7に
記載の電子写真感光体の製造方法。
10. The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to claim 7, wherein the nucleus is arranged at a position of 1 μm or more from an interface position of the light receiving layer on the substrate side.
【請求項11】 前記光受容層を構成する前記非単結晶
材料は、珪素原子に対して炭素原子を2.0原子%乃至
25原子%の範囲で含有する請求項7に記載の電子写真
感光体の製造方法。
11. The electrophotographic photosensitive material according to claim 7, wherein the non-single-crystal material forming the light receiving layer contains carbon atoms in the range of 2.0 atom% to 25 atom% with respect to silicon atoms. Body manufacturing method.
【請求項12】 前記光受容層を構成する前記非単結晶
は、珪素原子に対して弗素原子を2.0ppm乃至90
ppmの範囲で含有する請求項7に記載の電子写真感光
体の製造方法。
12. The non-single crystal constituting the light receiving layer contains fluorine atoms of 2.0 ppm to 90 relative to silicon atoms.
The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to claim 7, wherein the electrophotographic photosensitive member is contained in the range of ppm.
【請求項13】 前記核を構成する材料を帯電させて前
記反応容器内に導入する請求項7に記載の電子写真感光
体の製造方法。
13. The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to claim 7, wherein the material forming the nucleus is charged and introduced into the reaction container.
【請求項14】 前記帯電はコロナ帯電である請求項1
3に記載の電子写真感光体の製造方法。
14. The charging according to claim 1, wherein the charging is corona charging.
4. The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to item 3.
【請求項15】 前記核の前記層表面への付着は、1V
/cm〜100V/cmの電界のもとで行われる請求項
13に記載の電子写真感光体の製造方法。
15. The adhesion of the nucleus to the surface of the layer is 1V.
The method for producing an electrophotographic photosensitive member according to claim 13, wherein the method is performed under an electric field of / cm to 100 V / cm.
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