JPH0667204A - Liquid crystal display device and its manufacture - Google Patents

Liquid crystal display device and its manufacture

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JPH0667204A
JPH0667204A JP22046992A JP22046992A JPH0667204A JP H0667204 A JPH0667204 A JP H0667204A JP 22046992 A JP22046992 A JP 22046992A JP 22046992 A JP22046992 A JP 22046992A JP H0667204 A JPH0667204 A JP H0667204A
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JP
Japan
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liquid crystal
light
shielding film
display device
crystal display
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Withdrawn
Application number
JP22046992A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuyoshi Kaize
泰佳 海瀬
Shinji Shimada
伸二 島田
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Publication of JPH0667204A publication Critical patent/JPH0667204A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide a liquid crystal display device having high display quality which eliminates characteristic variation of a TFT due to light irradiation and is excellent on the orientation of liquid crystal molecules at a display part, and its manufacturing method. CONSTITUTION:An active matrix type liquid crystal display device has a liquid crystal held between two substrates 15a and 15b, and the TFT 16 and a pixel electrode 9 are provided on the substrate 15a. A light shielding film 11 is formed except at the display part of the pixel electrode 9 on the substrate 15a. The light shielding film 11 in the upper part of the TFT 16 is made thick enough not to cause the TFT 16 to vary in characteristic owing to light and the film thickness of the light shielding film 11 at other parts is so set that the orientation of liquid crystal molecules at the display part excellent.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は薄膜トランジスタ(以下
TFTと称する)アレイを有するアクティブマトリクス
型液晶表示装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix type liquid crystal display device having a thin film transistor (TFT) array.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、液晶表示素子は、ブラウン管(C
RT)と比べ、厚さ(奥行き)を格段に薄くできるこ
と、駆動時における消費電力を小さくできること等の利
点があるので、種々の分野で用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a liquid crystal display element is a cathode ray tube (C
It is used in various fields because it has an advantage that the thickness (depth) can be remarkably reduced as compared with RT) and that power consumption during driving can be reduced.

【0003】近年では、テレビやコンピューター等のよ
うに走査線数が増大した場合でも、カラーでの高画質表
示が可能な、アクティブマトリックス型液晶表示素子が
広く用いられている。
In recent years, an active matrix type liquid crystal display device has been widely used which can display a high quality image in color even when the number of scanning lines is increased as in a television or a computer.

【0004】従来のTFTアレイを有するアクティブマ
トリクス型液晶表示装置を図3および図4に示す。
An active matrix type liquid crystal display device having a conventional TFT array is shown in FIGS. 3 and 4.

【0005】この液晶表示装置は、基板45a上に、ゲー
ト電極31、ゲート絶縁膜32、アモルファスシリコン半導
体膜33、n+アモルファスシリコン膜34、ソース電極3
5、36、ソースバスライン37、ドレイン電極38、絵素電
極39、保護膜40、遮光膜41および配向膜44が積層され
て、一方のセル基板とされている。このセル基板と対向
する基板45b上には、透明電極42、絶縁膜43および配向
膜44が積層されて、他方のセル基板とされている。ま
た、この両セル基板の間には、液晶が封入されて、液晶
セルとなっている。図4において、斜線部分が遮光膜41
が形成されている部分である。
This liquid crystal display device has a gate electrode 31, a gate insulating film 32, an amorphous silicon semiconductor film 33, an n + amorphous silicon film 34, and a source electrode 3 on a substrate 45a.
5, 36, the source bus line 37, the drain electrode 38, the pixel electrode 39, the protective film 40, the light shielding film 41, and the alignment film 44 are laminated to form one cell substrate. The transparent electrode 42, the insulating film 43, and the alignment film 44 are laminated on the substrate 45b facing the cell substrate to form the other cell substrate. Liquid crystal is sealed between the cell substrates to form a liquid crystal cell. In FIG. 4, the shaded portion is the light shielding film 41.
Is a part where is formed.

【0006】上記のような液晶表示装置では、絵素を駆
動させるスイッチング素子として、アモルファスシリコ
ンを用いたTFT46がマトリクス状に設けられている。
アモルファスシリコンは光感応性があり、強い光が照射
された場合、半導体としての特性が変化し、リーク電流
が増大する。また、バスラインと絵素電極の間から、光
漏れが生じる虞がある。これを防ぐため、TFT46が設
けられている一方のセル基板45aの上には遮光膜41が形
成され、TFT46およびバスラインと絵素電極にの間に
強い光が当たらないような構成にされている。
In the liquid crystal display device as described above, TFTs 46 using amorphous silicon are provided in a matrix as switching elements for driving the picture elements.
Amorphous silicon has photosensitivity, and when it is irradiated with intense light, the characteristics as a semiconductor change and the leak current increases. In addition, light leakage may occur between the bus line and the pixel electrode. In order to prevent this, a light shielding film 41 is formed on one of the cell substrates 45a on which the TFT 46 is provided, and the TFT 46 and the bus line and the pixel electrode are not exposed to strong light. There is.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記のような液晶表示
装置では、絵素電極39の表示部以外の基板15a部分に
は、遮光膜41が一様の厚さで形成されている。よって、
TFT46への光の影響を少なくするために、遮光膜41の
膜厚を厚くして光の透過率を下げると、その他の部分の
膜厚も厚くなる。このことにより、絵素電極と遮光膜間
の段差が大きくなり、表示部の液晶分子の配向が乱れ、
ディスクリネーションが発生するなど、表示画像に悪影
響を与えていた。逆に、液晶分子の配向に悪影響を与え
ないように膜厚を薄くすると、光の透過率が高くなり、
TFT46への遮光が充分に行えず、TFT46の特性が変
化してしまうという問題があった。
In the liquid crystal display device as described above, the light shielding film 41 is formed with a uniform thickness on the portion of the substrate 15a other than the display portion of the picture element electrode 39. Therefore,
If the film thickness of the light shielding film 41 is increased to reduce the light transmittance in order to reduce the influence of light on the TFT 46, the film thickness of other portions also increases. This increases the step between the pixel electrode and the light-shielding film, disturbing the alignment of liquid crystal molecules in the display section,
The display image was adversely affected such as disclination. Conversely, if the film thickness is reduced so as not to adversely affect the alignment of liquid crystal molecules, the light transmittance increases,
There is a problem that the characteristics of the TFT 46 are changed because the TFT 46 cannot be shielded sufficiently.

【0008】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたものであり、光照射によるTFTの特性変化がな
く、かつ、表示部の液晶分子の配向が良好な、表示品位
の高い液晶表示装置およびその製造方法を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and there is no change in the characteristics of the TFT due to light irradiation, and the alignment of the liquid crystal molecules in the display section is good, and a high display quality liquid crystal display is provided. An object of the present invention is to provide a device and a manufacturing method thereof.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置
は、2枚の基板間に液晶が挟持され、一方の基板上に薄
膜トランジスタと絵素電極とがマトリクス状に設けら
れ、該絵素電極の表示部以外の該一方の基板部分を覆っ
て遮光膜が形成されているアクティブマトリクス型液晶
表示装置において、該遮光膜が、該薄膜トランジスタの
上方部分における膜厚を、その他の部分よりも厚くして
形成されており、そのことにより上記目的が達成され
る。
In a liquid crystal display device of the present invention, a liquid crystal is sandwiched between two substrates, and thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate. In the active matrix type liquid crystal display device in which a light-shielding film is formed to cover the one substrate portion other than the display portion, the light-shielding film makes the film thickness in the upper portion of the thin film transistor thicker than other portions. The above-mentioned object is achieved thereby.

【0010】上記遮光膜は、ポリイミド、ポリアミド、
ポリアミド酸、アクリルおよびそれらの誘導体のうち少
なくとも1種と、カーボン、染料および顔料のうち少な
くとも1種とを含有してなるものを用いてもよい。
The light-shielding film is made of polyimide, polyamide,
You may use what contains at least 1 sort (s) of polyamic acid, acryl, and those derivatives, and at least 1 sort (s) of carbon, a dye, and a pigment.

【0011】本発明の液晶表示装置の製造方法は、2枚
の基板間に液晶が挟持され、一方の基板上に薄膜トラン
ジスタと絵素電極とがマトリクス状に設けられているア
クティブマトリクス型液晶表示装置の製造方法におい
て、該絵素電極の表示部以外の該一方の基板部分を覆っ
て下部遮光膜を形成する工程と、該下部遮光膜の上であ
り、かつ、該薄膜トランジスタの上方である部分に、上
部遮光膜を形成する工程とを含み、そのことにより上記
目的が達成される。
The liquid crystal display device manufacturing method of the present invention is an active matrix liquid crystal display device in which liquid crystal is sandwiched between two substrates and thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate. In the manufacturing method of, the step of forming a lower light-shielding film to cover the one substrate portion other than the display portion of the pixel electrode, and a portion on the lower light-shielding film and above the thin film transistor. And a step of forming an upper light-shielding film, whereby the above object is achieved.

【0012】本発明の液晶表示装置の製造方法は、2枚
の基板間に液晶が挟持され、一方の基板上に薄膜トラン
ジスタと絵素電極とがマトリクス状に設けられているア
クティブマトリクス型液晶表示装置の製造方法におい
て、該薄膜トランジスタおよび該絵素電極の表示部を除
く、該一方の基板部分を覆って、第1の遮光膜を形成す
る工程と、該薄膜トランジスタの上方を覆って第1の遮
光膜よりも膜厚の厚い第2の遮光膜を形成する工程とを
含み、そのことにより上記目的が達成される。
According to the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, an active matrix type liquid crystal display device in which liquid crystal is sandwiched between two substrates and thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate. And a step of forming a first light-shielding film that covers the one substrate portion excluding the display portion of the thin film transistor and the pixel electrode, and a first light-shielding film that covers the upper portion of the thin film transistor. And a step of forming a second light-shielding film having a larger film thickness, thereby achieving the above object.

【0013】本発明の液晶表示装置の製造方法は、2枚
の基板間に液晶が挟持され、一方の基板上に薄膜トラン
ジスタと絵素電極とがマトリクス状に設けられているア
クティブマトリクス型液晶表示装置の製造方法におい
て、該絵素電極の表示部以外の該一方の基板部分を覆っ
て遮光膜を形成する工程と、該薄膜トランジスタの上方
以外の部分の遮光膜の膜厚を薄くする工程とを含み、そ
のことにより上記目的が達成される。
According to the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, an active matrix type liquid crystal display device in which liquid crystal is sandwiched between two substrates and thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate. In the manufacturing method of 1., a step of forming a light shielding film covering the one substrate portion other than the display portion of the pixel electrode, and a step of thinning the thickness of the light shielding film in a portion other than above the thin film transistor. Therefore, the above object is achieved.

【0014】[0014]

【作用】本発明では、TFTを覆って形成される遮光膜
の膜厚が、その他の部分よりも厚く形成されている。よ
って、TFTに充分な遮光が得られ、かつ、表示部の液
晶分子の配向を良好に保つことができる。
In the present invention, the light-shielding film formed to cover the TFT is formed thicker than other portions. Therefore, sufficient light shielding can be obtained for the TFT, and the alignment of the liquid crystal molecules in the display section can be maintained well.

【0015】[0015]

【実施例】以下に本発明を実施例に基づいて説明する。EXAMPLES The present invention will be described below based on examples.

【0016】(実施例1)図1は本発明の液晶表示装置
の一実施例を示す縦断面図であり、図2は、平面図であ
る。この液晶表示素子において、マトリクス状に設けら
れた絵素電極9の表示部以外の基板15a部分を覆って遮
光膜11が設けられている(図2の斜線部分)。この遮光
膜11は、マトリクス状に設けられたTFT16上方部分
(図2の網かけ部分)では、他の部分に比べて、膜厚が
厚くなっている。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a vertical sectional view showing an embodiment of the liquid crystal display device of the present invention, and FIG. 2 is a plan view. In this liquid crystal display element, a light-shielding film 11 is provided so as to cover a portion of the substrate 15a other than the display portion of the pixel electrodes 9 arranged in a matrix (hatched portion in FIG. 2). The light-shielding film 11 is thicker in the upper portion of the TFT 16 (hatched portion in FIG. 2) provided in a matrix than in other portions.

【0017】この液晶表示装置の製造方法を図5および
図6を参照して説明する。
A method of manufacturing this liquid crystal display device will be described with reference to FIGS.

【0018】まず、図6(a)に示すように、ガラス、
石英などでできた基板15a上にアルミニウム、タンタ
ル、チタン、銅などからなるゲート電極1をスパッタリ
ングにより形成する。次に、図6(b)に示すように、
窒化シリコン、酸化シリコンなどからなるゲート絶縁膜
2をプラズマCVD法などにより形成する。続いて、ア
モルファスシリコン半導体膜3およびn+−アモルファ
スシリコン半導体膜4をプラズマCVD法により形成す
る。その後、図6(c)、(d)に示すように、アルミ
ニウム、タンタル、チタン、銅などからなるソースバス
ライン7、ソース電極5、6およびドレイン電極8をス
パッタリングなどにより形成する。以上により、絵素電
極9をスイッチングするTFT16が形成される。
First, as shown in FIG. 6A, glass,
A gate electrode 1 made of aluminum, tantalum, titanium, copper or the like is formed on a substrate 15a made of quartz or the like by sputtering. Next, as shown in FIG.
The gate insulating film 2 made of silicon nitride, silicon oxide or the like is formed by a plasma CVD method or the like. Subsequently, the amorphous silicon semiconductor film 3 and the n + -amorphous silicon semiconductor film 4 are formed by the plasma CVD method. After that, as shown in FIGS. 6C and 6D, the source bus line 7, the source electrodes 5 and 6 and the drain electrode 8 made of aluminum, tantalum, titanium, copper or the like are formed by sputtering or the like. As described above, the TFT 16 that switches the pixel electrode 9 is formed.

【0019】次に、図6(d)に示すように、酸化イン
ジウムを主成分とする透明導電膜(ITO)を用いて、
スパッタリングなどにより絵素電極9を形成する。その
上に、必要に応じて、窒化シリコン、酸化シリコンなど
からなる保護膜10をスパッタリングなどにより形成す
る。この保護膜10は、遮光膜11の絶縁性が充分高くない
場合、または遮光膜11中にイオン性の不純物が含まれて
いる場合には、TFT16の特性劣化を防止する効果があ
る。
Next, as shown in FIG. 6D, a transparent conductive film (ITO) containing indium oxide as a main component is used,
The pixel electrode 9 is formed by sputtering or the like. If necessary, a protective film 10 made of silicon nitride, silicon oxide or the like is formed thereon by sputtering or the like. This protective film 10 has an effect of preventing the characteristic deterioration of the TFT 16 when the insulating property of the light shielding film 11 is not sufficiently high or when the light shielding film 11 contains ionic impurities.

【0020】その後、図6(e)に示すように、遮光膜
11を形成する。
Then, as shown in FIG. 6 (e), a light-shielding film is formed.
Forming 11.

【0021】遮光膜11を形成するための材料としては、
樹脂が用いられ、商品としてカラーモザイクCK200
0(商品名:富士ハントエレクトロニクステクノロジー
株式会社製)があり、その他に、ポリイミド、ポリアミ
ド、ポリアミド酸、アクリルまたはそれらの誘導体にカ
ーボン、染料、顔料などで着色したものを用いることが
できる。
As a material for forming the light shielding film 11,
Resin is used and the product is color mosaic CK200.
0 (trade name: manufactured by Fuji Hunt Electronics Technology Co., Ltd.), and polyimide, polyamide, polyamic acid, acryl or their derivatives colored with carbon, dye, pigment or the like can be used.

【0022】遮光膜11は以下に示す方法により形成する
ことができる。
The light shielding film 11 can be formed by the following method.

【0023】まず、絵素電極9の表示部以外の基板15a
部分を覆って下部遮光膜を形成する工程と、該下部遮光
膜の上であり、かつ、TFT16の上方部分に、上部遮光
膜を形成する工程とからなる遮光膜11の形成方法につい
て説明する。
First, the substrate 15a other than the display portion of the picture element electrode 9
A method of forming the light shielding film 11 including a step of forming a lower light shielding film so as to cover the portion and a step of forming an upper light shielding film on the lower light shielding film and above the TFT 16 will be described.

【0024】まず、絵素電極9の表示部以外の基板15a
部分に、樹脂を所定の厚みで塗布する。これを仮焼成し
て、露光現像した後、本焼成する。以上により下部遮光
膜が形成される。さらに、TFT16上方部分に、樹脂を
所定の厚みで塗布する。これを仮焼成して、露光現像し
た後、本焼成する。以上により上部遮光膜が形成され
る。
First, the substrate 15a other than the display portion of the picture element electrode 9
A resin is applied to the portion with a predetermined thickness. This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. As described above, the lower light shielding film is formed. Further, resin is applied to the upper portion of the TFT 16 with a predetermined thickness. This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. As described above, the upper light-shielding film is formed.

【0025】例えば、カラーモザイクCK2000を用
いた場合は以下のようになる。
For example, when the color mosaic CK2000 is used, it is as follows.

【0026】まず、絵素電極9の表示部以外の基板15a
部分に、上記樹脂をスピンコートを用いて、3000r
pm、20秒で塗布する。これを仮焼成し、露光現像し
た後、本焼成する。さらに、TFT16上方部分に、上記
樹脂をスピンコートを用いて、3000rpm、20秒
で塗布する。これを仮焼成し、露光現像した後、本焼成
する。この場合、TFT16上方部分の遮光膜11の膜厚は
約1μmとなり、550nmにおける可視光透過率は約
0.25%となる。また、TFT16上以外の部分の遮光
膜11の膜厚は約0.5μmとなり、550nmにおける
可視光透過率は約5%となる。
First, the substrate 15a other than the display portion of the picture element electrode 9
3000r by spin coating the above resin on the part
Apply at pm for 20 seconds. This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. Further, the above resin is applied to the upper portion of the TFT 16 by spin coating at 3000 rpm for 20 seconds. This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. In this case, the film thickness of the light shielding film 11 above the TFT 16 is about 1 μm, and the visible light transmittance at 550 nm is about 0.25%. Further, the film thickness of the light-shielding film 11 other than on the TFT 16 is about 0.5 μm, and the visible light transmittance at 550 nm is about 5%.

【0027】次に、TFT16および絵素電極9の表示部
を除く、基板15a部分を覆って、第1の遮光膜を形成す
る工程と、TFT16の上方を覆って、第1の遮光膜より
も膜厚の厚い第2の遮光膜を形成する工程とからなる遮
光膜11の形成方法について説明する。
Next, a step of forming a first light-shielding film by covering the portion of the substrate 15a excluding the display portion of the TFT 16 and the picture element electrode 9 and a step of covering the upper portion of the TFT 16 with the first light-shielding film. A method of forming the light shielding film 11 including a step of forming a second light shielding film having a large film thickness will be described.

【0028】まず、絵素電極9の表示部およびTFT16
以外の基板15a部分に、樹脂を所定の厚みで塗布する。
これを仮焼成し、露光現像した後、本焼成する。以上に
より第1の遮光膜が形成される。次に、TFT16上方部
分に、樹脂を所定の厚みで塗布する。これを仮焼成し、
露光現像した後、本焼成する。以上により第2の遮光膜
が形成される。
First, the display portion of the pixel electrode 9 and the TFT 16
Resin is applied to a portion of the substrate 15a other than the above with a predetermined thickness.
This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. As described above, the first light shielding film is formed. Next, a resin is applied to the upper portion of the TFT 16 with a predetermined thickness. This is calcined,
After exposure and development, main baking is performed. As described above, the second light shielding film is formed.

【0029】例えば、カラーモザイクCK2000を用
いた場合は以下のようになる。
For example, the case of using the color mosaic CK2000 is as follows.

【0030】まず、絵素電極9の表示部およびTFT16
以外の基板15a部分に、上記樹脂をスピンコートを用い
て、3000rpm、20秒で塗布する。これを仮焼成
し、露光現像した後、本焼成する。以上により第1の遮
光膜が形成される。次に、TFT16上方部分に、上記樹
脂を、樹脂をスピンコートを用いて、1000rpm、
20秒で塗布する。これを仮焼成し、露光現像した後、
本焼成する。以上により第2の遮光膜が形成される。こ
の場合、TFT16上方部分の遮光膜11の膜厚は約1μm
となり、550nmにおける可視光透過率は約0.25
%となる。また、TFT16上以外の部分の遮光膜11の膜
厚は約0.5μmとなり、550nmにおける可視光透
過率は約5%となる。
First, the display portion of the pixel electrode 9 and the TFT 16
The above resin is applied to the portion of the substrate 15a other than the above by spin coating at 3000 rpm for 20 seconds. This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. As described above, the first light shielding film is formed. Next, the above resin is applied to the upper portion of the TFT 16 by spin coating the resin at 1000 rpm,
Apply in 20 seconds. This is pre-baked, exposed and developed,
The main firing is performed. As described above, the second light shielding film is formed. In this case, the film thickness of the light shielding film 11 above the TFT 16 is about 1 μm.
Therefore, the visible light transmittance at 550 nm is about 0.25.
%. Further, the film thickness of the light-shielding film 11 other than on the TFT 16 is about 0.5 μm, and the visible light transmittance at 550 nm is about 5%.

【0031】次に、絵素電極9の表示部以外の基板15a
部分を覆って遮光膜を形成する工程と、TFT16の上方
以外の部分の遮光膜の膜厚を薄くする工程とからなる遮
光膜11の形成方法について説明する。
Next, the substrate 15a other than the display portion of the picture element electrode 9
A method of forming the light-shielding film 11 including a step of forming the light-shielding film covering the portion and a step of reducing the film thickness of the light-shielding film in the portion other than above the TFT 16 will be described.

【0032】まず、絵素電極9の表示部以外の基板15a
部分に、樹脂を所定の厚みで塗布する。これを仮焼成
し、露光現像した後、本焼成する。以上により遮光膜が
形成される。その後、TFT16の上方以外の部分の遮光
膜を薄くする。例えば、遮光膜の表面にフォトレジスト
を塗布し、パターンマスクで被覆する。その後、露光し
て、エッチングすることにより、TFT16上以外の部分
の遮光膜11の膜厚を薄くすることができる。
First, the substrate 15a other than the display portion of the picture element electrode 9 is formed.
A resin is applied to the portion with a predetermined thickness. This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. The light shielding film is formed by the above. After that, the light-shielding film other than above the TFT 16 is thinned. For example, a photoresist is applied to the surface of the light-shielding film and covered with a pattern mask. After that, by exposing and etching, the film thickness of the light shielding film 11 other than on the TFT 16 can be reduced.

【0033】例えば、カラーモザイクCK2000を用
いた場合は以下のようになる。
For example, the case of using the color mosaic CK2000 is as follows.

【0034】まず、基板15a上の絵素電極9の表示部以
外の部分に、上記樹脂をスピンコートを用いて、100
0rpm、20秒で塗布する。これを仮焼成し、露光現
像した後、本焼成する。以上により遮光膜が形成され
る。次に、遮光膜の表面に、例えば、OFPR−800
(東京応化株式会社製)などのフォトレジストを塗布
し、パターンマスクで被覆する。その後、露光して、P
E−3(東京応化株式会社製)などによりエッチング
し、TFT16上以外の部分の遮光膜11の膜厚を薄くす
る。この場合、TFT16上方部分の遮光膜11の膜厚は約
1μmとなり、550nmにおける可視光透過率は約
0.25%となる。また、TFT16上以外の部分の遮光
膜11の膜厚は約0.5μmとなり、550nmにおける
可視光透過率は約5%となる。
First, the resin is spin-coated on a portion of the substrate 15a other than the display portion of the pixel electrode 9 to form 100
Apply at 0 rpm for 20 seconds. This is pre-baked, exposed and developed, and then main-baked. The light shielding film is formed by the above. Next, on the surface of the light shielding film, for example, OFPR-800
A photoresist such as (Tokyo Ohka Co., Ltd.) is applied and covered with a pattern mask. After that, expose it to P
Etching is performed with E-3 (manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) or the like to reduce the film thickness of the light-shielding film 11 other than on the TFT 16. In this case, the film thickness of the light shielding film 11 above the TFT 16 is about 1 μm, and the visible light transmittance at 550 nm is about 0.25%. Further, the film thickness of the light-shielding film 11 other than on the TFT 16 is about 0.5 μm, and the visible light transmittance at 550 nm is about 5%.

【0035】上記のいずれの方法で遮光膜11を作成した
場合であっても、TFT16上方部分の遮光膜11の膜厚
は、その他の膜厚より厚く形成される。
Even when the light shielding film 11 is formed by any of the above methods, the film thickness of the light shielding film 11 above the TFT 16 is formed to be thicker than the other film thicknesses.

【0036】よって、遮光膜の膜厚11を、TFT16の上
方部分では、TFT16の遮光に充分であり、かつ、それ
以外の部分では、表示部の液晶分子の配向に影響を与え
ないものとすることができる。
Therefore, the film thickness 11 of the light-shielding film is sufficient to shield the TFT 16 in the upper part of the TFT 16 and does not affect the alignment of the liquid crystal molecules in the display part in the other parts. be able to.

【0037】その後、ポリイミドからなる配向膜14を、
印刷法などにより形成する。配向膜としては、ポリイミ
ド、ポリアミド等を用いることができる。以上により、
基板15a上のTFT16上方部分とそれ以外の部分とに膜
厚の異なる遮光膜11が形成されている、アクティブマト
リックス型液晶表示素子の一方のセル基板が作成され
る。
After that, the alignment film 14 made of polyimide is
It is formed by a printing method or the like. As the alignment film, polyimide, polyamide or the like can be used. From the above,
One cell substrate of the active matrix type liquid crystal display device is prepared in which the light shielding film 11 having different film thickness is formed on the portion above the TFT 16 on the substrate 15a and the other portion.

【0038】次に、基板15bの上に、ITOなどからな
る透明電極12をスパッタリングなどにより形成する。リ
ーク防止のために必要であれば、窒化シリコンなどから
なる絶縁膜13を、さらに積層してもよい。その後、配向
膜14を印刷法などにより形成する。配向膜としては、上
記と同様に、ポリイミド、ポリアミド等を用いることが
できる。以上により、他方のセル基板が形成される。
Next, the transparent electrode 12 made of ITO or the like is formed on the substrate 15b by sputtering or the like. If necessary to prevent leakage, an insulating film 13 made of silicon nitride or the like may be further laminated. After that, the alignment film 14 is formed by a printing method or the like. As the alignment film, polyimide, polyamide or the like can be used as in the above. By the above, the other cell substrate is formed.

【0039】その状態で、両セル基板を配向処理して、
スペーサを散布した後、両基板を貼り合わせ、周囲をシ
ールし、液晶を注入し注入口を封止して液晶セルを得
た。ここで用いられる液晶としては、例えば、ZLI−
1552、ZLI−4217、ZLI−4353など
(メルクジャパン(株)製)があげられ、スペーサーと
しては、例えば、SP−2045(積水ファインケミカ
ル(株)製)などを用いることができる。
In that state, both cell substrates are subjected to orientation treatment,
After spraying the spacers, both substrates were bonded together, the periphery was sealed, liquid crystal was injected, and the injection port was sealed to obtain a liquid crystal cell. The liquid crystal used here is, for example, ZLI-
1552, ZLI-4217, ZLI-4353 and the like (manufactured by Merck Japan Co., Ltd.) can be used, and as the spacer, for example, SP-2045 (manufactured by Sekisui Fine Chemical Co., Ltd.) can be used.

【0040】この実施例の詳細は以下の通りである。遮
光膜11の形成方法は、上記の3通りの方法で行った。
The details of this embodiment are as follows. The light shielding film 11 was formed by the above three methods.

【0041】絶縁性基板15a、15b:ガラス ゲート電極1:タンタル、厚み3000オングストロー
ム ゲート絶縁膜2:窒化シリコン、厚み3000オングス
トローム 半導体膜3:アモルファスシリコン(a−Si)、厚み
300オングストローム 半導体コンタクト膜4:n+−アモルファスシリコン
(n+−a−Si)、厚み450オングストローム ソース電極5、6およびドレイン電極8:チタン、厚み
2000オングストローム 絵素電極9:ITO、厚み1000オングストローム 保護膜10:酸化シリコン、厚み1000オングストロー
ム 遮光膜11:カラーモザイクCK2000、TFT16上方
部分の厚み1μm、TFT16の上以外の厚み0.5μm 透明電極12:ITO、厚み1000オングストローム 絶縁膜13:窒化シリコン、厚み1000オングストロー
ム 配向膜14:ポリイミド、厚み800オングストローム この液晶表示装置において、遮光膜11をいずれの方法で
形成した場合も、TFT16は光の影響による特性の変化
を生ずることがなく、また、表示部分の液晶分子は配向
が良好であった。よって、良好な表示品位が得られた。
Insulating Substrates 15a and 15b: Glass Gate Electrode 1: Tantalum, Thickness 3000 Å Gate Insulation Film 2: Silicon Nitride, Thickness 3000 Å Semiconductor Film 3: Amorphous Silicon (a-Si), Thickness 300 Å Semiconductor Contact Film 4 : N + -amorphous silicon (n + -a-Si), thickness 450 angstrom source electrodes 5 and 6 and drain electrode 8: titanium, thickness 2,000 angstrom picture element electrode 9: ITO, thickness 1000 angstrom protective film 10: silicon oxide, Thickness 1000 Å Light-shielding film 11: Color mosaic CK2000, thickness 1 μm above TFT 16, thickness 0.5 μm except above TFT 16 Transparent electrode 12: ITO, thickness 1000 Å Insulation film 13: Silicon nitride, thickness 000 angstrom Alignment film 14: Polyimide, thickness 800 angstrom In this liquid crystal display device, the TFT 16 does not change its characteristics due to the influence of light even when the light shielding film 11 is formed by any method. The liquid crystal molecules were well aligned. Therefore, good display quality was obtained.

【0042】(実施例2)遮光膜を顔料入りポリアミド
を用いて形成した以外は、実施例1と同様にして液晶表
示装置を作製した。
Example 2 A liquid crystal display device was produced in the same manner as in Example 1 except that the light-shielding film was made of polyamide containing pigment.

【0043】この液晶表示装置において、TFT16は光
の影響による特性の変化を生ずることがなく、また、表
示部分の液晶分子は配向が良好であった。よって、良好
な表示品位が得られた。
In this liquid crystal display device, the TFT 16 did not change its characteristics due to the influence of light, and the liquid crystal molecules in the display portion were well oriented. Therefore, good display quality was obtained.

【0044】上記実施例において、半導体膜の材料とし
てポリシリコンを用いてもよい。
In the above embodiment, polysilicon may be used as the material of the semiconductor film.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明の液晶表示装置は、TFTに光に
よる特性変化が起こらず、かつ、表示部の液晶分子の配
向が良好である。よって、直視用ディスプレイ、高精細
プロジェクター等にも良好な表示品位が得られる。ま
た、本発明の液晶表示装置の製造方法によれば、TFT
上方部分の遮光膜とそれ以外の部分の遮光膜との膜厚を
変えて形成できる。よって、TFT上方部分の遮光膜の
膜厚はTFTの遮光に充分なものとし、かつ、それ以外
の部分の遮光膜は表示部の液晶分子の配向に悪影響を与
えないものとすることができる。
According to the liquid crystal display device of the present invention, the characteristics of the TFT are not changed by light, and the liquid crystal molecules in the display section are well aligned. Therefore, a good display quality can be obtained for a direct-view display, a high-definition projector, and the like. Further, according to the method for manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, the TFT
The light-shielding film in the upper portion and the light-shielding film in other portions can be formed with different thicknesses. Therefore, the film thickness of the light-shielding film above the TFT can be made sufficient for light-shielding the TFT, and the light-shielding film in the other part can not adversely affect the alignment of liquid crystal molecules in the display section.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の液晶表示装置の一実施例の要部を示す
縦断面図である。
FIG. 1 is a vertical cross-sectional view showing a main part of an embodiment of a liquid crystal display device of the present invention.

【図2】本発明の液晶表示装置の一実施例の要部を示す
平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a main part of an embodiment of the liquid crystal display device of the present invention.

【図3】従来の液晶表示装置の要部を示す縦断面図であ
る。
FIG. 3 is a vertical cross-sectional view showing a main part of a conventional liquid crystal display device.

【図4】従来の液晶表示装置の要部を示す平面図であ
る。
FIG. 4 is a plan view showing a main part of a conventional liquid crystal display device.

【図5】本発明の液晶表示装置の製造工程を示す工程図
である。
FIG. 5 is a process drawing showing a manufacturing process of a liquid crystal display device of the present invention.

【図6】本発明の液晶表示装置の製造工程を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a manufacturing process of the liquid crystal display device of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ゲート電極 2 ゲート絶縁膜 3 アモルファスシリコン半導体膜 4 n+−アモルファスシリコン膜 5、6 ソース電極 8 ドレイン電極 9 絵素電極 11 遮光膜 12 透明電極 14 配向膜 15a、15b 基板 16 TFT1 gate electrode 2 gate insulating film 3 amorphous silicon semiconductor film 4 n + -amorphous silicon film 5, 6 source electrode 8 drain electrode 9 pixel electrode 11 light-shielding film 12 transparent electrode 14 alignment film 15a, 15b substrate 16 TFT

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 2枚の基板間に液晶が挟持され、一方の
基板上に薄膜トランジスタと絵素電極とがマトリクス状
に設けられ、該絵素電極の表示部以外の該一方の基板部
分を覆って遮光膜が形成されているアクティブマトリク
ス型液晶表示装置において、 該遮光膜が、該薄膜トランジスタの上方部分における膜
厚を、その他の部分よりも厚くして形成されている液晶
表示装置。
1. A liquid crystal is sandwiched between two substrates, thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate, and the one substrate portion other than the display portion of the pixel electrodes is covered. An active matrix liquid crystal display device having a light-shielding film formed therein, wherein the light-shielding film is formed such that the film thickness in the upper portion of the thin film transistor is thicker than the other portions.
【請求項2】 2枚の基板間に液晶が挟持され、一方の
基板上に薄膜トランジスタと絵素電極とがマトリクス状
に設けられているアクティブマトリクス型液晶表示装置
の製造方法において、 該絵素電極の表示部以外の該一方の基板部分を覆って下
部遮光膜を形成する工程と、 該下部遮光膜の上であり、かつ、該薄膜トランジスタの
上方である部分に、上部遮光膜を形成する工程と、 を含む液晶表示装置の製造方法。
2. A method for manufacturing an active matrix type liquid crystal display device in which a liquid crystal is sandwiched between two substrates, and thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate. A step of forming a lower light-shielding film covering the one substrate portion other than the display portion, and a step of forming an upper light-shielding film on a portion above the lower light-shielding film and above the thin film transistor. A method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising:
【請求項3】 2枚の基板間に液晶が挟持され、一方の
基板上に薄膜トランジスタと絵素電極とがマトリクス状
に設けられているアクティブマトリクス型液晶表示装置
の製造方法において、 該薄膜トランジスタおよび該絵素電極の表示部を除く、
該一方の基板部分を覆って、第1の遮光膜を形成する工
程と、 該薄膜トランジスタの上方を覆って、第1の遮光膜より
も膜厚の厚い第2の遮光膜を形成する工程と、 を含む液晶表示装置の製造方法。
3. A method of manufacturing an active matrix type liquid crystal display device, wherein liquid crystal is sandwiched between two substrates, and thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate. Excluding the display area of pixel electrodes,
Forming a first light-shielding film over the one substrate portion; forming a second light-shielding film over the thin film transistor and having a thickness larger than that of the first light-shielding film; A method for manufacturing a liquid crystal display device including the following.
【請求項4】 2枚の基板間に液晶が挟持され、一方の
基板上に薄膜トランジスタと絵素電極とがマトリクス状
に設けられているアクティブマトリクス型液晶表示装置
の製造方法において、 該絵素電極の表示部以外の、該一方の基板部分を覆って
遮光膜を形成する工程と、 該薄膜トランジスタの上方以外の部分の遮光膜の膜厚を
薄くする工程と、 を含む液晶表示装置の製造方法。
4. A method for manufacturing an active matrix type liquid crystal display device, wherein liquid crystal is sandwiched between two substrates, and thin film transistors and pixel electrodes are provided in a matrix on one substrate. And a step of forming a light-shielding film to cover the one substrate portion other than the display portion, and a step of thinning the light-shielding film in a portion other than above the thin film transistor.
【請求項5】 前記遮光膜が、ポリイミド、ポリアミ
ド、ポリアミド酸、アクリルおよびそれらの誘導体のう
ち少なくとも1種と、カーボン、染料および顔料のうち
少なくとも1種とを含有してなる請求項1記載の液晶表
示装置。
5. The light-shielding film contains at least one of polyimide, polyamide, polyamic acid, acrylic and derivatives thereof, and at least one of carbon, dye and pigment. Liquid crystal display device.
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