JPH0666717A - 顕微拡散反射測定装置 - Google Patents
顕微拡散反射測定装置Info
- Publication number
- JPH0666717A JPH0666717A JP24120392A JP24120392A JPH0666717A JP H0666717 A JPH0666717 A JP H0666717A JP 24120392 A JP24120392 A JP 24120392A JP 24120392 A JP24120392 A JP 24120392A JP H0666717 A JPH0666717 A JP H0666717A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light
- hole
- mirror
- convex mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】試料の拡散反射光のスペクトルを高い感度とS
/N比で測定すること。 【構成】中心軸に通孔2を備えた凸面鏡1と、中央部に
窓4を備えた凹面鏡3とを反射面を対向させて同軸上に
配置し、凸面鏡1の通孔2を介して試料Sに光を照射
し、また試料Sからの反射光を凸面鏡1と凹面鏡3で集
光させて光検出手段に入射させる。凸面鏡1の通孔2か
ら出射した光は、試料Sの表面に垂直に入射するため、
試料Sからの反射光はその広がり抑えられ、効率よく集
光され、また試料Sからの正反射光は系外に出て、検出
手段に入射しないからS/N比が向上する。
/N比で測定すること。 【構成】中心軸に通孔2を備えた凸面鏡1と、中央部に
窓4を備えた凹面鏡3とを反射面を対向させて同軸上に
配置し、凸面鏡1の通孔2を介して試料Sに光を照射
し、また試料Sからの反射光を凸面鏡1と凹面鏡3で集
光させて光検出手段に入射させる。凸面鏡1の通孔2か
ら出射した光は、試料Sの表面に垂直に入射するため、
試料Sからの反射光はその広がり抑えられ、効率よく集
光され、また試料Sからの正反射光は系外に出て、検出
手段に入射しないからS/N比が向上する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、試料からの拡散反射ス
ペクトルの測定技術に関する。
ペクトルの測定技術に関する。
【0002】
【従来の技術】試料表面の拡散反射スペクトルを測定す
る場合には、通常図3に示したような対物鏡にカセグレ
ン型光学系Aを使用してこの光学系の領域を対称的に2
分割し、一方の領域を照射光の光路に、また他方の領域
を試料からの反射光の光路に使用するように構成されて
いた。
る場合には、通常図3に示したような対物鏡にカセグレ
ン型光学系Aを使用してこの光学系の領域を対称的に2
分割し、一方の領域を照射光の光路に、また他方の領域
を試料からの反射光の光路に使用するように構成されて
いた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このため、試料Sへの
入射光が試料面に対して角度を持つことになって試料か
らの反射光が広い角度に拡散してしまって集光漏れとな
る光量が多く、検出出力が小さいという問題の他に、試
料からの正反射光が入射して、S/N比に低下を来すと
いう問題を抱えていた。本発明はこのような問題に鑑み
てなされたものであって、その目的とするとろは試料か
らの拡散反射光だけを高い高率で集光することができる
新規な顕微拡散反射測定装置を提供することにある。
入射光が試料面に対して角度を持つことになって試料か
らの反射光が広い角度に拡散してしまって集光漏れとな
る光量が多く、検出出力が小さいという問題の他に、試
料からの正反射光が入射して、S/N比に低下を来すと
いう問題を抱えていた。本発明はこのような問題に鑑み
てなされたものであって、その目的とするとろは試料か
らの拡散反射光だけを高い高率で集光することができる
新規な顕微拡散反射測定装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】このような問題を解消す
るために本発明においては、中心軸に通孔を備えた凸面
鏡と、中央部に窓を備えた凹面鏡とを反射面を対向させ
て同軸上に配置し、前記凸面鏡の通孔を介して試料に光
を照射し、また試料からの反射光を前記凸面鏡により受
け、ついで前記凹面鏡で集光させて光検出手段に入射さ
せるするようにした。
るために本発明においては、中心軸に通孔を備えた凸面
鏡と、中央部に窓を備えた凹面鏡とを反射面を対向させ
て同軸上に配置し、前記凸面鏡の通孔を介して試料に光
を照射し、また試料からの反射光を前記凸面鏡により受
け、ついで前記凹面鏡で集光させて光検出手段に入射さ
せるするようにした。
【0005】
【作用】凸面鏡の通孔から出射した光は、試料の表面に
垂直に入射するため、試料から拡散反射光の広がりが可
及的に抑えられる。そして試料からの正反射光は凸面鏡
の通孔から系外に放射され、拡散光だけが効率よく集光
されて高い感度と、S/N比でもって試料の拡散反射光
のスペクトルが測定されることになる。
垂直に入射するため、試料から拡散反射光の広がりが可
及的に抑えられる。そして試料からの正反射光は凸面鏡
の通孔から系外に放射され、拡散光だけが効率よく集光
されて高い感度と、S/N比でもって試料の拡散反射光
のスペクトルが測定されることになる。
【0006】
【実施例】そこで以下に本発明の詳細を図示した実施例
に基づいて説明する。図1は本発明の一実施例を示すも
ので図中符号1は、凸面鏡で、その中心軸上に試料Sに
光を照射するための通孔2が形成されている。3は、凹
面鏡で、中央部に窓4を設けて構成されており、前記凸
面鏡1の反射面と対向し、また窓4が通孔2と同軸上に
位置するように配置されている。なお、図中符号5は、
試料Sを照射する光源を示す。
に基づいて説明する。図1は本発明の一実施例を示すも
ので図中符号1は、凸面鏡で、その中心軸上に試料Sに
光を照射するための通孔2が形成されている。3は、凹
面鏡で、中央部に窓4を設けて構成されており、前記凸
面鏡1の反射面と対向し、また窓4が通孔2と同軸上に
位置するように配置されている。なお、図中符号5は、
試料Sを照射する光源を示す。
【0007】この実施例において光学系を試料Sに対向
させた状態で、凸面鏡1の通孔2を介して試料Sに光源
5の光を照射すると、光は試料Sの面に対して垂直に入
射することになる。この光は試料の組成に支配されて反
射され、反射光の内、正反射光は凸面鏡1の通孔2から
光源側に通過して光電検出手段に入射することが無く、
また拡散光だけが凸面鏡1で反射され、次いで凹面鏡3
により拡散光だけが集光されて図示しない光電検出手段
に入射する。この結果、試料からの拡散光のみを十分に
集光することができて、高い感度とS/N比で試料の拡
散スペクトルを測定できる。
させた状態で、凸面鏡1の通孔2を介して試料Sに光源
5の光を照射すると、光は試料Sの面に対して垂直に入
射することになる。この光は試料の組成に支配されて反
射され、反射光の内、正反射光は凸面鏡1の通孔2から
光源側に通過して光電検出手段に入射することが無く、
また拡散光だけが凸面鏡1で反射され、次いで凹面鏡3
により拡散光だけが集光されて図示しない光電検出手段
に入射する。この結果、試料からの拡散光のみを十分に
集光することができて、高い感度とS/N比で試料の拡
散スペクトルを測定できる。
【0008】ところで、試料Sを照射する光は、試料S
の面に対して垂直に入射するため、試料から反射した光
の拡散角が、従来の光学系に比較して小さく、このため
より多くの反射光を検出手段に導くことができる。この
結果、図2に示したように試料Sと光学系との間に入射
角を規制する色々なサイズのスリット7を挿入しても測
定可能な程度の光を取り込むことができ、例えば粉末状
のセラミックや薬剤の微小領域の性質を測定することが
可能となる。
の面に対して垂直に入射するため、試料から反射した光
の拡散角が、従来の光学系に比較して小さく、このため
より多くの反射光を検出手段に導くことができる。この
結果、図2に示したように試料Sと光学系との間に入射
角を規制する色々なサイズのスリット7を挿入しても測
定可能な程度の光を取り込むことができ、例えば粉末状
のセラミックや薬剤の微小領域の性質を測定することが
可能となる。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
中心軸に通孔を備えた凸面鏡と、中央部に窓を備えた凹
面鏡とを反射面を対向させて同軸上に配置し、この凸面
鏡の通孔を介して試料に光を照射し、また試料からの反
射光を凸面鏡により受け、ついで凹面鏡で集光させて光
検出手段に入射させるようにしたので、試料からの反射
光の広がりを可及的に抑えつつ、正反射光が光電検出手
段に入射するのを防止して拡散光だけを高い高率で光電
検出手段に導くことができ、粉末状の試料の微小領域の
性質を高い感度とS/N比で測定することができる。
中心軸に通孔を備えた凸面鏡と、中央部に窓を備えた凹
面鏡とを反射面を対向させて同軸上に配置し、この凸面
鏡の通孔を介して試料に光を照射し、また試料からの反
射光を凸面鏡により受け、ついで凹面鏡で集光させて光
検出手段に入射させるようにしたので、試料からの反射
光の広がりを可及的に抑えつつ、正反射光が光電検出手
段に入射するのを防止して拡散光だけを高い高率で光電
検出手段に導くことができ、粉末状の試料の微小領域の
性質を高い感度とS/N比で測定することができる。
【図1】本発明の一実施例を示す装置の構成図である。
【図2】同上装置の使用形態を示す図である。
【図3】従来の顕微拡散反射測定装置の光学系の一例を
示す構成図である。
示す構成図である。
1 凸面鏡 2 通孔 3 凹面鏡 4 窓 5 光源
Claims (1)
- 【請求項1】 心軸に通孔を備えた凸面鏡と、中央部に
窓を備えた凹面鏡とを反射面を対向させて同軸上に配置
し、前記凸面鏡の通孔を介して試料に光を照射し、また
試料からの反射光を前記凸面鏡により受け、ついで前記
凹面鏡で集光させて光検出手段に入射させる顕微拡散反
射測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04241203A JP3137148B2 (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 顕微拡散反射測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04241203A JP3137148B2 (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 顕微拡散反射測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0666717A true JPH0666717A (ja) | 1994-03-11 |
JP3137148B2 JP3137148B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=17070739
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04241203A Expired - Fee Related JP3137148B2 (ja) | 1992-08-18 | 1992-08-18 | 顕微拡散反射測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3137148B2 (ja) |
-
1992
- 1992-08-18 JP JP04241203A patent/JP3137148B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3137148B2 (ja) | 2001-02-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4360275A (en) | Device for measurement of optical scattering | |
US5517315A (en) | Reflectometer employing an integrating sphere and lens-mirror concentrator | |
CA2402964C (en) | Gas cell | |
US5661563A (en) | Reflectance spectroscope with read head for minimizing singly-reflected light rays | |
US5268732A (en) | Apparatus for measuring spectral transmissivity of optical fiber | |
JPH07209079A (ja) | 光学装置 | |
JPS639610B2 (ja) | ||
JPH0666717A (ja) | 顕微拡散反射測定装置 | |
JP3871415B2 (ja) | 分光透過率測定装置 | |
JPH0933435A (ja) | 透明材料の光学的特性値の測定装置 | |
JPH1062240A (ja) | 散乱測定装置とその測定方法 | |
US5212393A (en) | Sample cell for diffraction-scattering measurement of particle size distributions | |
JPH04232837A (ja) | 散乱光トラップを備えた測光装置 | |
SU1701762A1 (ru) | Устройство дл контрол качества материала | |
JP3039569B2 (ja) | 顕微全反射測定用プリズム | |
JPH05142155A (ja) | 積分球測定装置 | |
JPS63101714A (ja) | レ−ザエネルギ−検出装置 | |
JPH0579993A (ja) | 色彩測定装置 | |
KR100257610B1 (ko) | 반사경 특성 측정 장치 | |
JPS6166147A (ja) | 向上された効率の積分空所を備える反射計 | |
JPS60202317A (ja) | 測色器等のプロ−ブ | |
JPS6388411A (ja) | 積分球装置 | |
JPH05296920A (ja) | 赤外分光光度測定装置 | |
JPS60222751A (ja) | 反射測定兼用の吸光度測定器 | |
JPH02179428A (ja) | 鏡面的反射表面を有する移動物体の測色装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20001108 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |