JPH0663836B2 - 分光光度計 - Google Patents

分光光度計

Info

Publication number
JPH0663836B2
JPH0663836B2 JP8736084A JP8736084A JPH0663836B2 JP H0663836 B2 JPH0663836 B2 JP H0663836B2 JP 8736084 A JP8736084 A JP 8736084A JP 8736084 A JP8736084 A JP 8736084A JP H0663836 B2 JPH0663836 B2 JP H0663836B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
scanning
transparent
slit device
slit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP8736084A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60231122A (ja
Inventor
日出久 西垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP8736084A priority Critical patent/JPH0663836B2/ja
Publication of JPS60231122A publication Critical patent/JPS60231122A/ja
Publication of JPH0663836B2 publication Critical patent/JPH0663836B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/30—Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
    • G01J3/32—Investigating bands of a spectrum in sequence by a single detector
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • G01J3/20—Rowland circle spectrometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 イ．産業上の利用分野 本発明は機械的な運動部分を持たない分光光度計に関す
る。
ロ．従来技術 従来分光光度計で波長走査を行うには回折格子，プリズ
ム等の分散素子を動かしていた。この場合、波長を知る
のに、分散素子を動かす機構の適当個所の移動距離を波
長値に換算すると云う方法を採つているので、分散素子
を駆動する機構は高精度を要し、波長の高速走査を行う
ことは困難であつた。また摩耗等により時が経つと機構
的に検出される波長値と実際の波長との間にずれが生じ
ると云う問題があつた。
機械的な運動なしに波長走査を行う方法として、分散素
子により形成されるスペクトル像の位置にフオトセンサ
アレイを置いてスペクトルの測定を行う方法もあるが、
高価であり、光検出器として光電子増倍管を用いた機械
的走査方法のものに比し感度が低い。
ハ．目的 本発明は、光分散素子によつて形成されるスペクトル像
面に沿つて、機械的運動部分なしに電気的にスリツトを
移動させることにより、上記した問題点を解消した分光
光度計を得ることを目的とする。
ニ．構成 電圧を印加することにより光透過性が変化する液晶を用
いて、スリツト状の透明部分を形成し或は移動させるよ
うにしたスリツト装置を光分散素子により形成されるス
ペクトル像面に沿つて配置したことを特徴とする分光光
度計である。
ホ．実施例 第１図は本発明の一実施例分光光度計を示す。１は光
源、２は試料測定部、３は分光器の入口スリツト、４は
凹面回折格子、５は液晶よりなるスリツト装置で、入口
スリツト３，回折格子４，スリツト装置５の三者は一つ
のローランド円Ｒ上に位置を固定して配置されており、
回折格子４は曲率半径がローランド円Ｒの直径と等し
く、ローランド円上の０点に曲率中心がある。この構成
によつて測定しようとする波長域の光のスペクトル像が
ローランド円Ｒに沿い、スリツト装置５上に形成され
る。６はスリツト装置５の後に配置された光検出用の光
電子増倍管である。
スリツト装置５は第２図に示すように、通常は透明で電
圧が印加されると偏光子となる性質の液晶層Ａ，Ｂを互
の偏光方向が直交するようにして重ね、間に共通一面の
透明電極Ｃをはさみ、外面に平行格子状に透明走査電極
Ｓ，Ｓ′を形成したものである。走査電極Ｓ，Ｓ′中の
相対向するもの同士を同極性として透明電極と走査電極
との間に電圧を印加すると、液晶Ａ，Ｂは電圧が印加さ
れた走査電極の部分だけ偏光性となり、かつその偏光方
向が直交しているので、その部分だけ不透明となる。そ
こで、共通電極Ｃと全走査電極との間に電圧をかけると
スリツト装置全体が不透明となり、この状態で、相対向
する１乃至複数対の透明電極だけ電圧をかけないでおく
と、その部分だけがスリツト状に透明になり、分光器の
出口スリツトとして機能することになる。スリツト装置
の全長は４０mmで走査電極のピツチ0.1mmであり、４０
０〜８００mmの波長範囲をカバーする。
上の説明では中間の共通電極を連続一面とし、両外側の
電極を格子状としたが、これを逆にして共通電極を格子
状にし、両外側の電極を連続電極としてもよい。
第３図はスリツト装置の断面を示し、Ｇ０は透明中間層
で、その両面に共通電極Ｃが形成してあり、Ｇ１，Ｇ２
が外側透明層で、内面に電極Ｓ，Ｓ′が形成してあり、
中間層との間に液晶Ａ，Ｂがはさまれている。
第１図に戻つて７は液晶制御回路であり、８は装置全体
を制御しているコンピュータである。コンピュータ８は
装置全体を制御しているコンピュータである。コンピュ
ータ８は設定されたプログラムに従い、スリツト装置５
の透明部分を一端から他端へと移動させることによつて
波長走査を行い、スリツト装置の透明部分の各位置にお
ける光検出器６の出力をメモリに読込み、メモリに読込
んだデータを出力装置９に出力してスペクトルを表示す
る。或はスリツト装置上の幾つかの波長位置を順次透明
にする動作を繰返し、時分割方式により二波長法による
測定とか多元素同時発光分析を行う。スリツト装置５に
おいて、格子状の走査電極に端から順に０，１，２…と
アドレスを決めておくと、スペクトル上の波長とこのア
ドレスとの間の対応関係が定まるので、このアドレスと
対応する波長とをコンピュータ８に記憶させておくこと
により、スリツト装置のアドレスの指定データを波長値
に変換する。或は予めこのアドレスから波長を算出する
演算プログラムを与えておき、演算に必要な係数を記憶
させておくこともできる。この方式の方が輝線スペクト
ルを使つて波長較正を行うには便利である。また試料測
定部を二光束方式の構成にすれば二光束方式の分光測定
が可能なことは云うまでもない。
スリツト装置制御回路７は第４図に示すように、２進符
号入力端子と、多数の出力端子を持ち、各出力端子の出
力は通常Ｈレベルで入力２進符号に対応する順位の一つ
の出力端子の出力がＬレベルになるデコーダであつて、
その出力端子がスリツト装置５の各走査電極と一対一に
接続されている。
ヘ．効果 本発明は上述したような構成で機械的運動部分が全くな
く、波長走査は電気的なアドレス走査に変換されている
ので、高速な波長走査或は波長切換えが可能であり、機
構の摩耗による波長のずれ、精度低下がなく、従来困難
であつた経時的に変化する連続スペクトルの測定とか、
多元素同時分析が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例の光学系の平面図、第２図は
上記におけるスリツト装置の斜視図、第３図は同スリツ
ト装置の一部拡大断面図、第４図はスリツト装置制御回
路のブロツク図である。 １……光源、２……試料測定部、３……入口スリツト、
４……凹面回折格子、５……スリツト装置、６……光検
出器、７……スリツト装置制御回路、８……コンピユー
タ、９……出力装置、Ａ，Ｂ……液晶、Ｃ……共通電
極、Ｓ，Ｓ′……走査電極、Ｇ０，Ｇ１，Ｇ２……透明
基板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】平行格子状の透明な走査電極と透明な一つ
    の共通電極とを液晶物質をはさんで対向させたスリット
    装置を、上記格子状の走査電極が分光器のスペクトルの
    波長分散方向に並ぶように、該分光器のスペクトル像面
    に沿わせて配置し、上記スリット装置の各走査電極に順
    次、その電極以外の全走査電極と異る電圧を印加する制
    御回路を設けて、信号によって上記スリット装置におけ
    る透明部分の位置を変化させて任意の波長の光を取り出
    せるようにしたことを特徴とする分光光度計。
JP8736084A 1984-04-30 1984-04-30 分光光度計 Expired - Lifetime JPH0663836B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8736084A JPH0663836B2 (ja) 1984-04-30 1984-04-30 分光光度計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8736084A JPH0663836B2 (ja) 1984-04-30 1984-04-30 分光光度計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60231122A JPS60231122A (ja) 1985-11-16
JPH0663836B2 true JPH0663836B2 (ja) 1994-08-22

Family

ID=13912717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8736084A Expired - Lifetime JPH0663836B2 (ja) 1984-04-30 1984-04-30 分光光度計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0663836B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61100620A (ja) * 1984-10-24 1986-05-19 Union Giken:Kk 多波長分光光度計
CN107843948A (zh) * 2017-06-26 2018-03-27 扬州瑞威光电科技有限公司 一种罗兰圆结构的Bragg衍射双光栅结构设计方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60231122A (ja) 1985-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0080699B1 (en) Densitometer
EP0183706B1 (en) Stationary, electrically alterable, optical masking device and spectroscopic apparatus employing same
US3762817A (en) Spectral densitometer
US4822169A (en) Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation
US4007989A (en) Hadamard filter design
JP2837868B2 (ja) 分光装置
US2152645A (en) Photoelectric color measuring and analyzing apparatus
US5457530A (en) Spectrometer provided with an optical shutter
US4256405A (en) Scanning spectrometer
JPH01197617A (ja) 分光器
CA2070330C (en) High resolution spectroscopy system
US5592291A (en) Spectrophotometer
US4710024A (en) Spectrophotometer
JPH0663836B2 (ja) 分光光度計
EP0176826A2 (en) Method and apparatus for dual-beam spectral transmission measurements
JPS63188744A (ja) 光学屈折率の示差型自動測定装置
US4391523A (en) Scannable detector system for echelle grating spectrometers
US11143556B1 (en) Birefringent interferometer and fourier transform spectrometer
GB2278434A (en) Broadband radiometer
JP3126718B2 (ja) マルチチャネル蛍光分光装置
JP2005121574A (ja) 近赤外分光装置
US7440107B2 (en) Sampling spectrophotometer comprising an interferometer
SU1550378A1 (ru) Способ определени показател преломлени прозрачных сред
JPH0432729A (ja) フーリエ変換形分光分析装置
JPS61120023A (ja) 分光光度計