JPH0658710A - Interferrometer - Google Patents

Interferrometer

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JPH0658710A
JPH0658710A JP23264092A JP23264092A JPH0658710A JP H0658710 A JPH0658710 A JP H0658710A JP 23264092 A JP23264092 A JP 23264092A JP 23264092 A JP23264092 A JP 23264092A JP H0658710 A JPH0658710 A JP H0658710A
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lens
interferometer
optical axis
reference lens
inspected
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Motonori Kanetani
元徳 金谷
Kenichi Noguchi
憲一 野口
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Fujinon Corp
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Fuji Photo Optical Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To easily perform work for changing kinds of standard lens and positions in response to an object to be inspected. CONSTITUTION:A parallel light flux is made with a collimator lens 7 from a body part 1a of an interferometer body 1 and a standard lens 2 is arranged at the parallel light flux position. Constitution is performed in that a standard lens mounting part 1b of the interferometer body 1 on which the standard lens 2 is mounted can be faced to an arbitrary position of a light axis in a light path.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レンズ等の精密光学製
品の表面状態をレーザ干渉計を用いて検査するための干
渉計装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an interferometer device for inspecting the surface condition of precision optical products such as lenses using a laser interferometer.

【0002】[0002]

【従来の技術】精密光学製品として、例えばレンズの仕
上げ精度の検査を行うためにレーザ干渉計を用いるよう
に構成したものは、従来から知られている。例えば、フ
ィゾー型の干渉計は、レーザ光源からのレーザ光の光路
に被検体としてのレンズの基準となる基準レンズを配設
すると共に、この光路における基準レンズの延長線上の
位置に被検レンズを配設し、基準レンズの基準面からの
反射光と被検レンズの被検面からの反射光との間で生じ
る干渉縞の本数(通常、ニュートン本数と呼ばれる)を
測定することによって、このレンズの表面状態を検査す
るようにしたものである。このように、レーザ干渉計を
用いると、被検レンズを非接触で検査できることから、
基準レンズにも、また被検レンズにも損傷を来すことな
く精密に検査できるので極めて都合が良い。
2. Description of the Related Art As a precision optical product, for example, a structure in which a laser interferometer is used to inspect the finishing accuracy of a lens is known. For example, in a Fizeau interferometer, a reference lens that serves as a reference for a lens as a subject is arranged in the optical path of a laser beam from a laser light source, and a test lens is placed at a position on an extension line of the reference lens in this optical path. By arranging and measuring the number of interference fringes (usually called Newton's number) generated between the reflected light from the reference surface of the reference lens and the reflected light from the test surface of the test lens, this lens The surface condition of is inspected. In this way, by using a laser interferometer, the lens under test can be inspected in a non-contact manner,
This is extremely convenient because it can be precisely inspected without damaging the reference lens or the lens to be inspected.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、干渉計を用
いて被検物体を検査するに当っては、被検物体の種類に
応じて基準レンズのF値を変えなければならない。この
基準レンズの交換作業は著しく面倒であり、しかも交換
後に光軸の調整を行う作業を必要とすることからも、全
体として基準レンズの交換作業は極めて煩わしいもので
ある。また、曲率半径等の異なる被検物体を検査する場
合には、この被検物体と基準レンズとの間の位置調整を
行わなければならないが、この基準レンズ側を動かして
位置調整を行う場合には、この基準レンズを含めた干渉
計本体の全体を動かさなければならず、この干渉計本体
は重量物であることから、その位置決めを厳格に行うの
は困難であるという問題点もある。
When inspecting an object to be inspected using an interferometer, the F value of the reference lens must be changed according to the type of the object to be inspected. The replacement work of the reference lens is extremely troublesome, and since the work of adjusting the optical axis is required after the replacement, the replacement work of the reference lens as a whole is extremely troublesome. Further, when inspecting an object to be inspected having a different radius of curvature or the like, it is necessary to adjust the position between the object to be inspected and the reference lens, but in the case of moving the reference lens side to adjust the position. Has to move the entire interferometer body including the reference lens, and since the interferometer body is a heavy object, it is difficult to position the interferometer strictly.

【0004】本発明は以上の点に鑑みてなされたもので
あって、その目的とするところは、基準レンズを容易に
動かすことができるようにすることにある。
The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to make it possible to easily move a reference lens.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、レーザ光源から出射されるレーザ光
をコリメータレンズによって平行光束とした状態で、基
準レンズを介して、被検物体に照射するようにした干渉
計装置であって、この基準レンズを変位手段に装着し
て、この変位手段によって、平行光束化されたレーザ光
の光路における光軸上の任意の位置に臨ませることがで
きる構成としたことをその特徴とするものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides an object to be inspected through a reference lens in a state where laser light emitted from a laser light source is made into a parallel light flux by a collimator lens. An interferometer device for irradiating a laser beam onto the optical axis of a parallel beam of the laser beam by mounting the reference lens on the displacement means. The feature is that it is configured to be.

【0006】[0006]

【作用】ところで、干渉計のうち、基準レンズに照射さ
れるレーザ光をコリメータレンズを介することにより平
行光として照射する場合には、基準レンズは光軸上に臨
んでいなければならないことは当然としても、光軸方向
の位置は限定されない。従って、この基準レンズを光軸
方向の位置さえ厳格に位置決めしておけば、基準レンズ
を光軸方向または光軸と直交する方向に移動させる可動
レンズとして構成できる。
In the interferometer, when the laser light applied to the reference lens is applied as parallel light through the collimator lens, the reference lens must be located on the optical axis. However, the position in the optical axis direction is not limited. Therefore, if the reference lens is strictly positioned even in the optical axis direction, it can be configured as a movable lens that moves the reference lens in the optical axis direction or in a direction orthogonal to the optical axis.

【0007】以上の点から、基準レンズを変位手段に装
着して、この基準レンズを光軸方向または光軸と直交す
る方向に移動可能とする。基準レンズを光軸方向に移動
させるようにすると、干渉計本体全体を光軸方向に移動
させることなく、基準レンズのみを光軸方向に位置調整
するだけで、基準レンズと被検物体との間の間隔の調整
が可能となる。また、F値の異なる複数の基準レンズを
光軸と直交する方向に回転したりスライドしたりする部
材に装着して、この部材を移動させるようにすると、異
なる種類の基準レンズを交換して用いることができるこ
とになる。
From the above points, the reference lens is attached to the displacement means, and the reference lens can be moved in the optical axis direction or in the direction orthogonal to the optical axis. By moving the reference lens in the optical axis direction, you can adjust the position of the reference lens only in the optical axis direction without moving the entire interferometer body in the optical axis direction. The interval can be adjusted. Further, when a plurality of reference lenses having different F-numbers are mounted on a member that rotates or slides in a direction orthogonal to the optical axis and the members are moved, different types of reference lenses are used interchangeably. It will be possible.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。まず、図1において、1は干渉計本体を示
し、この干渉計本体1は本体部1aと、この本体部1a
における光軸方向に移動可能となった基準レンズ装着部
1bとから構成され、この基準レンズ装着部1bに基準
レンズ2が装着されている。干渉計本体1は、レーザ発
振器3を有し、このレーザ発振器3から出射されるレー
ザ光は、発散レンズ4に入射される。発散レンズ4はレ
ーザ光を被検レンズ2の検査を行うのに必要な程度にま
でビーム径を拡大するためのものであって、この発散レ
ンズ4を通過したレーザ光は一度集光された後に発散さ
れるようになっている。そして、この集光位置には、絞
り5が配設されている。絞り5を通過した光は発散しな
がら、ビームスプリッタ6に入射されて、その反射面6
aに反射して、90°光路が曲折される。このビームス
プリッタ6で反射した光は所定のビーム径となった位置
でコリメータレンズ7により平行光となされる。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. First, in FIG. 1, reference numeral 1 denotes an interferometer main body, and the interferometer main body 1 includes a main body 1a and a main body 1a.
And a reference lens mounting portion 1b which is movable in the optical axis direction, and the reference lens 2 is mounted on the reference lens mounting portion 1b. The interferometer body 1 has a laser oscillator 3, and the laser light emitted from the laser oscillator 3 enters a diverging lens 4. The diverging lens 4 is for expanding the beam diameter of the laser light to an extent necessary for inspecting the lens 2 to be inspected, and the laser light passing through the diverging lens 4 is once condensed. It is supposed to diverge. A diaphragm 5 is arranged at this light collecting position. The light passing through the diaphragm 5 is incident on the beam splitter 6 while diverging, and its reflection surface 6
The 90 ° optical path is bent by being reflected at a. The light reflected by the beam splitter 6 is collimated by the collimator lens 7 at a position where the beam has a predetermined beam diameter.

【0009】基準レンズ装着部1bに設けた基準レンズ
2は、コリメータレンズ7の前方位置に配置されてお
り、その入射面2aは反射防止コーティングが施されて
おり、反対側の面は基準面2bとなっている。基準レン
ズ2の前方位置には被検物体としての被検レンズ8が配
置されており、基準レンズ2を透過した光はこの被検レ
ンズ8の被検面8aに入射され、その一部がこの被検面
8aで反射する。そして、被検面8aからの反射光と基
準レンズ2の基準面2bからの反射光とが干渉し合って
干渉縞が生じる。この反射光はコリメータレンズ7及び
ビームスプリッタ6を透過して、干渉縞結像用レンズ9
を介して撮像手段10に入射され、この撮像手段10に
より干渉縞の撮影が行われ、その映像が図示しないモニ
タ装置に表示されるようになっている。
The reference lens 2 provided in the reference lens mounting portion 1b is arranged in front of the collimator lens 7, the incident surface 2a thereof is provided with an antireflection coating, and the opposite surface is the reference surface 2b. Has become. A test lens 8 as a test object is arranged in front of the reference lens 2, and light transmitted through the reference lens 2 is incident on a test surface 8a of the test lens 8 and a part of the light is incident on the test surface 8a. It is reflected by the surface 8a to be tested. Then, the reflected light from the surface 8a to be inspected and the reflected light from the reference surface 2b of the reference lens 2 interfere with each other to generate an interference fringe. The reflected light passes through the collimator lens 7 and the beam splitter 6, and the interference fringe image forming lens 9 is formed.
The interference fringes are photographed by the image pickup means 10 through the image pickup means 10 and the image thereof is displayed on a monitor device (not shown).

【0010】ここで、被検レンズ8は、球面レンズであ
り、しかも所定のF値の基準レンズで測定できる限り
は、基準レンズ2を交換する必要はないが、被検レンズ
8の曲率半径に応じて、被検レンズ8と基準レンズ2と
の間の間隔を変化させる必要がある。一方、多数の被検
レンズ8を検査する場合には、被検レンズ8は常に一定
の位置にセットされるようになっている方が、この被検
レンズ8の着脱作業を自動化する等の点から好ましい。
このために、被検レンズ8がセットされるレンズマウン
ト部11は一定の位置に固定されている。これに対し
て、干渉計本体1全体を動かすようにすると、この干渉
計本体1はかなりの重量があるために、位置決めを極め
て高精度に行うのは困難となる。以上の点から、干渉計
本体1を2つの部位に分けて、基準レンズ2が装着され
ている基準レンズ装着部1bのみを光軸方向に移動させ
るように構成している。
Here, the lens 8 to be inspected is a spherical lens, and it is not necessary to replace the reference lens 2 as long as it can be measured by a reference lens having a predetermined F value. Accordingly, it is necessary to change the distance between the lens 8 under test and the reference lens 2. On the other hand, when a large number of lenses 8 to be inspected are to be inspected, it is preferable that the lenses 8 to be inspected are always set at a fixed position in order to automate the attachment and detachment work of the lenses 8 to be inspected. Is preferred.
For this reason, the lens mount 11 on which the lens 8 to be inspected is set is fixed at a fixed position. On the other hand, if the whole interferometer body 1 is moved, it is difficult to perform positioning with extremely high accuracy because the interferometer body 1 has a considerable weight. From the above points, the interferometer body 1 is divided into two parts, and only the reference lens mounting portion 1b on which the reference lens 2 is mounted is moved in the optical axis direction.

【0011】そこで、図2及び図3に基準レンズ装着部
1bの位置調整機構を示す。図中において、12は可動
プレートであって、この可動プレート12に基準レンズ
2が装着される基準レンズ保持部13が取り付けられて
いる。従って、これら可動プレート12と基準レンズ保
持部13とで基準レンズ装着部1bが構成される。そし
て、本体部1aには3本のガイドロッド14が立設され
ており、可動プレート12はこのガイドロッド14にス
ライド可能に支承されている。ここで、ガイドロッド1
4は干渉計本体1からのレーザ光の光路と平行な方向に
設けられている。また、15はねじ軸であって、このね
じ軸15には可動プレート12に装着したナット部材1
6が螺挿されており、ねじ軸15の先端には歯車17が
連結されている。そして、この歯車17には駆動歯車1
8が噛合しており、この駆動歯車18は入力軸19を手
動操作またはモータ等の駆動手段によって回転させるこ
とができるようになっている。
2 and 3 show a position adjusting mechanism for the reference lens mounting portion 1b. In the figure, reference numeral 12 is a movable plate, and a reference lens holding portion 13 to which the reference lens 2 is attached is attached to the movable plate 12. Therefore, the movable plate 12 and the reference lens holding portion 13 constitute the reference lens mounting portion 1b. Further, three guide rods 14 are erected on the main body portion 1a, and the movable plate 12 is slidably supported by the guide rods 14. Where the guide rod 1
Reference numeral 4 is provided in a direction parallel to the optical path of the laser light from the interferometer body 1. Further, 15 is a screw shaft, and the screw shaft 15 has a nut member 1 attached to the movable plate 12.
6 is screwed in, and a gear 17 is connected to the tip of the screw shaft 15. The drive gear 1 is attached to the gear 17.
The drive gear 18 can rotate the input shaft 19 by a manual operation or a drive means such as a motor.

【0012】以上のように構成することによって、被検
レンズ8をセットするレンズマウント部11を固定し、
また干渉計本体1における本体部1aを固定した状態に
して、入力軸19を操作して、駆動歯車18を回転させ
ると、これに追従してねじ軸15に連結した歯車17が
回転し、可動プレート12はガイドロッド14に沿って
変位する。ここで、ガイドロッド14は干渉計本体1か
ら被検レンズ8に至る物体光の光路と平行な方向に設け
られているから、可動プレート12に設けられている基
準レンズ2は光軸に沿って被検レンズ8に対して近接・
離間する方向に位置調整が行われる。
With the above structure, the lens mount portion 11 for setting the lens 8 to be inspected is fixed,
Further, when the main body 1a of the interferometer main body 1 is fixed and the input shaft 19 is operated to rotate the drive gear 18, the gear 17 connected to the screw shaft 15 follows this and rotates to move. The plate 12 is displaced along the guide rod 14. Here, since the guide rod 14 is provided in a direction parallel to the optical path of the object light from the interferometer body 1 to the lens 8 to be inspected, the reference lens 2 provided on the movable plate 12 is arranged along the optical axis. Close to the lens 8 to be inspected
Position adjustment is performed in the direction of separation.

【0013】ここで、干渉計本体1の本体部1aから出
る光は、コリメータレンズ7によって平行光となされて
いるので、この平行光の光路に置かれている限りは、基
準レンズ2は光軸方向のどの位置に配置しても、光学的
には格別差異はない。従って、基準レンズ2のみを移動
させることによって、被検レンズ8との間の位置調整を
行うようにすれば、比較的重量のある干渉計本体1全体
を動かす場合よりも位置決め精度が向上する。ただし、
この基準レンズ2の光軸は干渉計本体1の本体部1aと
も、また被検レンズ8とも一致させなければならない。
本体部1a及び被検レンズ8がセットされるレンズマウ
ント部11は共に固定されており、組み付け時にこれら
本体部1aとレンズマウント部11との間の光軸は正確
に一致させておけば、両者間の光軸にずれが生じるおそ
れはない。従って、基準レンズ装着部1bを本体部1a
に支承させて設け、この本体部1aに突設したガイドロ
ッド14にガイドさせて変位させるようにしているか
ら、このガイドロッド14を正確に光軸と平行な方向に
延在させておくことによって、基準レンズ2が光軸から
ずれるおそれはない。
Here, since the light emitted from the main body 1a of the interferometer main body 1 is collimated by the collimator lens 7, as long as it is placed in the optical path of this collimated light, the reference lens 2 has the optical axis. No matter what position in the direction, there is no optical difference. Therefore, if only the reference lens 2 is moved to adjust the position between the reference lens 2 and the lens 8 to be inspected, the positioning accuracy is improved as compared with the case where the entire interferometer main body 1, which is relatively heavy, is moved. However,
The optical axis of the reference lens 2 must be matched with the main body 1a of the interferometer main body 1 and the lens 8 to be inspected.
The main body portion 1a and the lens mount portion 11 on which the lens 8 to be inspected is set are both fixed, and if the optical axes between the main body portion 1a and the lens mount portion 11 are made to coincide exactly during assembly, both There is no risk of misalignment of the optical axis between them. Therefore, the reference lens mounting portion 1b is attached to the main body portion 1a.
The guide rod 14 is provided so as to be supported on the main body 1a and is guided and displaced by the guide rod 14 projecting from the main body portion 1a. Therefore, it is necessary to extend the guide rod 14 accurately in the direction parallel to the optical axis. There is no possibility that the reference lens 2 will be displaced from the optical axis.

【0014】次に、図4及び図5は本発明の第2の実施
例を示すものであって、本実施例においては、基準レン
ズを光軸と直交する方向に変位可能としたものが示され
ている。而して、図中20は基準レンズ装着部としての
回転円板を示し、この回転円板20には同心円上の位置
に5種類の基準レンズ21a〜21eが装着されてい
る。そして、回転円板20は、軸22に回転自在に装着
されており、この軸22が干渉計本体1の本体部1aに
固定して設けられている。また、回転円板20の外周面
にはねじ部23が形成され、このねじ部23には駆動歯
車24が噛合しており、この駆動歯車24には入力軸2
5が連結されている。従って、この入力軸25を操作す
ることにより駆動歯車24を回転させれば、基準レンズ
21a〜21eのいずれかを光路に臨ませることができ
る。
Next, FIGS. 4 and 5 show a second embodiment of the present invention, in which the reference lens is displaceable in the direction orthogonal to the optical axis. Has been done. Reference numeral 20 in the drawing denotes a rotating disc as a reference lens mounting portion, and five types of reference lenses 21a to 21e are mounted on the rotating disc 20 at positions on a concentric circle. The rotary disc 20 is rotatably mounted on a shaft 22, and the shaft 22 is fixed to the main body 1 a of the interferometer main body 1. Further, a screw portion 23 is formed on the outer peripheral surface of the rotary disc 20, and a drive gear 24 is meshed with the screw portion 23. The drive gear 24 has the input shaft 2
5 are connected. Therefore, if the drive gear 24 is rotated by operating the input shaft 25, any of the reference lenses 21a to 21e can be exposed to the optical path.

【0015】ここで、回転円板20に装着される基準レ
ンズ21a〜21eとしては、F値の異なるものや、基
準面の形状が異なるもの等、それぞれ異なる種類のレン
ズを設けておく。これにより、検査の種類や、被検レン
ズを変える際には、入力軸25を操作することによっ
て、極めて容易に基準レンズの交換を行うことができ
る。異なる種類の基準レンズでは、その厚みが異なる場
合等もあるが、本体部1aから出る光は平行光となって
いるので、光軸を一致させておきさえすれば、その基準
面の光軸方向の位置が変化しても格別問題となることは
ない。そして、各基準レンズ21a〜21eが光路に臨
んだ時に、それが光軸に対して傾いたり、また光軸がず
れたりしないように保持しなければならないが、回転円
板20の軸22に対する連結部の機械的精度を十分なも
のとしておけば、光軸に対する傾きやずれを防止でき
る。
Here, as the reference lenses 21a to 21e mounted on the rotary disc 20, different types of lenses such as those having different F-numbers and those having different reference plane shapes are provided. As a result, when changing the type of inspection or the lens to be inspected, the reference lens can be replaced very easily by operating the input shaft 25. Although different types of reference lenses may have different thicknesses, the light emitted from the main body 1a is a parallel light. There is no particular problem even if the position of is changed. When the reference lenses 21a to 21e face the optical path, the reference lenses 21a to 21e must be held so as not to tilt or deviate from the optical axis. If the mechanical precision of the section is made sufficient, it is possible to prevent the inclination and displacement with respect to the optical axis.

【0016】次に、図6は本発明の第3の実施例を示す
ものであって、本実施例においては、複数の基準レンズ
を交換可能とした点では、前述した第2の実施例と同様
であるが、交換するための手段としてスライド板30を
用いたものが示されている。このスライド板30には、
3個の基準レンズ31a〜31cが設けられており、ガ
イドロッド32に沿って光軸と直交する方向にスライド
変位させることができる構成となっている。そして、ス
ライド板30を変位させるために、モータ33が設けら
れており、このモータ33によってスライド板30に挿
通したねじ軸34を回転させることにより、3個の基準
レンズ31a〜31cのいずれかを選択的に光路に臨ま
せることができるようになる。
Next, FIG. 6 shows a third embodiment of the present invention. In this embodiment, a plurality of reference lenses can be exchanged, which is different from the above-mentioned second embodiment. Similar, but using a slide plate 30 as a means for replacement is shown. This slide plate 30 has
Three reference lenses 31a to 31c are provided and configured to be slidable along the guide rod 32 in a direction orthogonal to the optical axis. A motor 33 is provided to displace the slide plate 30, and the motor 33 rotates the screw shaft 34 inserted in the slide plate 30 to rotate one of the three reference lenses 31a to 31c. It becomes possible to selectively face the optical path.

【0017】さらに、図7に本発明の第4の実施例を示
す。この実施例においては、第3の実施例と同様に、ス
ライド板40に3個の基準レンズ41a〜41cを装着
して、このスライド板40をガイドロッド42に沿って
光軸と直交する方向に変位可能となし、またモータ43
に接続したねじ軸44により駆動されて、基準レンズ4
1a〜41cのいずれかを選択的に光路に臨ませること
ができる構成となっている。しかも、これに加えて、ガ
イドロッド42及びねじ軸44が連結されている両端の
ブラケット45を昇降ブロック46の固定して設け、こ
の昇降ブロック46をガイドロッド47に沿って光軸方
向に移動可能となし、またねじ軸48を昇降ブロック4
6に挿通させて、このねじ軸48にモータ49を連結す
ることによって、スライド板40を光軸方向にも変位可
能な構成としている。
Further, FIG. 7 shows a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, similarly to the third embodiment, three reference lenses 41a to 41c are mounted on the slide plate 40, and the slide plate 40 is moved along the guide rod 42 in the direction orthogonal to the optical axis. Not displaceable, motor 43
Driven by a screw shaft 44 connected to the reference lens 4
It is configured such that any one of 1a to 41c can be selectively exposed to the optical path. Moreover, in addition to this, brackets 45 at both ends to which the guide rod 42 and the screw shaft 44 are connected are fixedly provided to the elevating block 46, and the elevating block 46 can be moved along the guide rod 47 in the optical axis direction. Also, the screw shaft 48 is used to lift and lower the block 4.
6 and the motor 49 is connected to the screw shaft 48 so that the slide plate 40 can be displaced also in the optical axis direction.

【0018】この第4の実施例のように構成すれば、被
検レンズに応じて基準レンズの交換及び被検レンズと基
準レンズとの間隔の調整を、このスライド板40の移動
のみにより行わせることができ、しかもこのスライド板
40の移動もモータ43,49の作動により行わせるこ
とができるので、被検レンズに応じた基準レンズの選択
及び位置調整を全て自動化できる。
According to the structure of the fourth embodiment, the reference lens is exchanged and the distance between the reference lens and the reference lens is adjusted according to the lens to be inspected only by moving the slide plate 40. Further, since the movement of the slide plate 40 can be performed by the operation of the motors 43 and 49, the selection and position adjustment of the reference lens according to the lens to be inspected can be all automated.

【0019】なお、前述した各実施例においては、フィ
ゾー型の干渉計として構成したものを示したが、要は基
準レンズに入射される光路がコリメータレンズによって
平行光となったものであれば適用でき、例えば、図8に
示したように、マイケルソン型の干渉計装置として構成
することもできる。ここで、この図8の干渉計装置で
は、レーザ発振器50から出射されるレーザ光を発散レ
ンズ51を介した後、コリメータレンズ52により平行
光とした上で、ビームスプリッタ53によって参照光と
物体光とに分けて、参照光は反射ミラー54に反射させ
て、その反射光はビームスプリッタ53を透過させる。
また、物体光はその光路上の所定の位置で集光した後に
発散する基準レンズ55を介して被検レンズ56に照射
し、この被検レンズ56からの反射光を基準レンズ56
によって再び平行光とした後に、ビームスプリッタ53
に反射させて、干渉縞結像用光学系57によって撮像手
段58に干渉縞の結像を行わせるように構成したもので
ある。このタイプの干渉計装置においては、干渉計本体
59のうち、基準レンズ56以外は本体部59aに装着
し、基準レンズ56は前述の各実施例に示したと同様、
光軸方向乃至光軸と直交する方向に移動可能とした基準
レンズ装着部59bに装着する構成とすれば良い。
In each of the embodiments described above, the Fizeau interferometer is shown, but the point is that it is applicable if the optical path incident on the reference lens is collimated by the collimator lens. Alternatively, for example, as shown in FIG. 8, it may be configured as a Michelson type interferometer device. Here, in the interferometer apparatus of FIG. 8, after the laser light emitted from the laser oscillator 50 passes through the diverging lens 51, it is collimated by the collimator lens 52, and then the reference light and the object light are emitted by the beam splitter 53. The reference light is reflected by the reflection mirror 54, and the reflected light is transmitted through the beam splitter 53.
Further, the object light is irradiated onto the test lens 56 through the reference lens 55 that diverges after being condensed at a predetermined position on the optical path, and the reflected light from the test lens 56 is reflected by the reference lens 56.
After collimating the parallel light again, the beam splitter 53
The optical system 57 for forming the interference fringes causes the image pickup means 58 to form an image of the interference fringes. In this type of interferometer device, the interferometer main body 59 is mounted on the main body 59a except the reference lens 56, and the reference lens 56 is the same as that shown in each of the above-described embodiments.
The reference lens mounting portion 59b may be movable in the optical axis direction or in the direction orthogonal to the optical axis.

【0020】[0020]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、コリメ
ータレンズによって平行光束となし、この平行光束を基
準レンズを介して被検物体に照射するに当って、この基
準レンズを変位手段に装着して、この変位手段によっ
て、平行光束化されたレーザ光の光路における光軸上の
任意の位置に臨ませることができる構成としたので、こ
の基準レンズのみを動かすことによって、被検物体との
間の間隔を調整したり、また複数の基準レンズを交換し
て光路に臨ませることができるようになり、被検物体の
種類に応じて最適な基準レンズ及びその位置の調整作業
を極めて容易に、しかも正確に行うことができる等の諸
効果を奏する。
As described above, according to the present invention, a collimator lens is used to form a parallel light beam, and when the parallel light beam is applied to the object to be measured through the reference lens, the reference lens is attached to the displacement means. The displacement means allows the laser beam converted into the parallel light flux to face any position on the optical axis in the optical path. Therefore, by moving only the reference lens, It becomes possible to adjust the interval between them, and to replace multiple reference lenses to face the optical path, making it extremely easy to adjust the optimum reference lens and its position according to the type of object to be inspected. In addition, various effects such as being able to be performed accurately can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】レーザ干渉計の構成説明図である。FIG. 1 is a diagram illustrating the configuration of a laser interferometer.

【図2】本発明の第1の実施例の基準レンズ変位機構を
示す構成説明図である。
FIG. 2 is a structural explanatory view showing a reference lens displacement mechanism of the first embodiment of the present invention.

【図3】図2の平面図である。FIG. 3 is a plan view of FIG.

【図4】本発明の第2の実施例の基準レンズ変位機構を
示す構成説明図である。
FIG. 4 is a structural explanatory view showing a reference lens displacement mechanism of a second embodiment of the present invention.

【図5】図4の側面図である。FIG. 5 is a side view of FIG.

【図6】本発明の第3の実施例の基準レンズ変位機構を
示す構成説明図である。
FIG. 6 is a structural explanatory view showing a reference lens displacement mechanism of a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第3の実施例の基準レンズ変位機構を
示す構成説明図である。
FIG. 7 is a structural explanatory view showing a reference lens displacement mechanism of a third embodiment of the present invention.

【図8】図1とは異なる種類のレーザ干渉計の構成説明
図である。
FIG. 8 is a configuration explanatory view of a laser interferometer of a type different from that of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,59 干渉計本体 1a,59a 本体部 1b,59b 基準レンズ装着部 2,21a〜21e,31a〜31c,41a〜41
c,55 基準レンズ 7,52 コリメータレンズ 11 レンズマウント部 12 可動プレート 13 基準レンズ保持部 14,32,42,47 ガイドロッド 15,23,34,44,48 ねじ軸 17 歯車 18,24 駆動歯車 19,25 入力軸 20 回転円板 30,40 スライド板 33,43,49 モータ 46 昇降ブロック
1,59 Interferometer body 1a, 59a Body portion 1b, 59b Reference lens mounting portion 2, 21a to 21e, 31a to 31c, 41a to 41
c, 55 Reference lens 7,52 Collimator lens 11 Lens mount part 12 Movable plate 13 Reference lens holding part 14, 32, 42, 47 Guide rod 15, 23, 34, 44, 48 Screw shaft 17 Gear wheel 18, 24 Drive gear wheel 19 , 25 Input shaft 20 Rotating disk 30, 40 Slide plate 33, 43, 49 Motor 46 Lift block

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザ光源から出射されるレーザ光をコ
リメータレンズによって平行光束とした状態で、基準レ
ンズを介して、被検物体に照射するようにした干渉計装
置において、前記基準レンズを変位手段に装着して、こ
の変位手段によって、平行光束化されたレーザ光の光路
における光軸上の任意の位置に臨ませることができる構
成としたことを特徴とする干渉計装置。
1. An interferometer apparatus in which laser light emitted from a laser light source is collimated by a collimator lens to illuminate an object to be measured through a reference lens, and the reference lens is displaced by a displacement means. An interferometer device, characterized in that it is mounted on the optical axis and can be made to face an arbitrary position on the optical axis in the optical path of a laser beam made into a parallel light flux by this displacement means.
【請求項2】 前記変位手段により、基準レンズを光軸
方向に変位させて、被検物体との間の間隔の調整を可能
ならしめる構成としたことを特徴とする請求項1記載の
干渉計装置。
2. The interferometer according to claim 1, wherein the displacing means displaces the reference lens in the optical axis direction so as to adjust the distance between the reference lens and the object to be inspected. apparatus.
【請求項3】 前記変位手段は、複数種類の基準レンズ
が装着されて、光軸と直交する方向に変位可能な部材で
構成し、複数種類の基準レンズのうちから任意の基準レ
ンズを選択的に光路に臨ませる構成としたことを特徴と
する請求項1記載の干渉計装置。
3. The displacing means is composed of a member to which a plurality of types of reference lenses are attached and which is displaceable in a direction orthogonal to the optical axis, and an arbitrary reference lens is selectively selected from the plurality of types of reference lenses. The interferometer device according to claim 1, wherein the interferometer device is configured to be exposed to the optical path.
【請求項4】 前記変位手段には複数種類の基準レンズ
を設けて、この基準レンズを選択的に光路に臨ませると
共に、光軸方向に位置調整可能な構成としたことを特徴
とする請求項1記載の干渉計装置。
4. The displacement means is provided with a plurality of types of reference lenses, the reference lenses are selectively exposed to the optical path, and the position can be adjusted in the optical axis direction. The interferometer device according to 1.
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