JPH065861B2 - Reader - Google Patents

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JPH065861B2
JPH065861B2 JP58218146A JP21814683A JPH065861B2 JP H065861 B2 JPH065861 B2 JP H065861B2 JP 58218146 A JP58218146 A JP 58218146A JP 21814683 A JP21814683 A JP 21814683A JP H065861 B2 JPH065861 B2 JP H065861B2
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Japan
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signal
circuit
addressing
light receiving
line
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隆史 佐々木
千秋 松山
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/40Picture signal circuits
    • H04N1/40056Circuits for driving or energising particular reading heads or original illumination means

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は複数の受光素子を用いて、原稿などを光学的に
読取るための装置に関する。
The present invention relates to an apparatus for optically reading a document or the like using a plurality of light receiving elements.

第1図は、典型的な先行技術を示す。ファクシミリ送信
機などにおいて、原稿を工学的に読取るために、受光素
子としての複数のホトダイオードD1,D2.D3,…
が配置される。ホトダイオードD1,D2,D3は、原
稿に照射された光の打ち原稿によって反射された成分を
受光し、光電流が流れる。各ホトダイオードD1,D
2,.D3,…には、対をなすアナログスイッチS1
1,S12;S21,S22;S31,S32;…が設
けられる。差動増幅器A1の一方の入力には、スイッチ
S12,S22,S32,…からの出力がライン1を介
して与えられる。スイッチS11,S21,S31,…
からの出力は、ライン2を介して差動増幅器A1の他方
の入力に与えられる。これらのライン1,2には、抵抗
R1,R2を介して電源Eが接続される。
FIG. 1 shows a typical prior art. In a facsimile transmitter or the like, a plurality of photodiodes D1, D2. D3 ...
Are placed. The photodiodes D1, D2, D3 receive the components of the light irradiated on the document and reflected by the document, and photocurrent flows. Each photodiode D1, D
2 ,. A pair of analog switches S1 are provided at D3, ...
, S12; S21, S22; S31, S32; The outputs from the switches S12, S22, S32, ... Are given to one input of the differential amplifier A1 via the line 1. Switches S11, S21, S31, ...
Is provided via line 2 to the other input of differential amplifier A1. A power source E is connected to these lines 1 and 2 via resistors R1 and R2.

アナログスイッチS11,S12;S21,S22;S
31,S32;…は、ホトダイオードD1,D2,D
3,…からの出力をこの順序に順次的に読取ることがで
きるように、スイッチング動作される。たとえばホトダ
イオードD2からの信号を読取るにあたっては、そのホ
トダイオードD2からの信号の読取りを行なうためのア
ナログスイッチS22と、ホトダイオードD2の読取り
の直前にすでに読取ったホトダイオードD2に対応する
ノイズ発生のためのアナログスイッチS11とを同時に
導通させる。残余のアナログスイッチS12,S21,
S31,S32,…は遮断したままである。これによっ
てライン1には、第2図(1)で示される信号波形が導出
される。このライン1に導出される信号は、あなろぐス
イッチS22の導出時に生じるノイズ成分l1と、ホト
ダイオードD2の受光量に対応した信号成分とが加わっ
た波形l2を有している。またライン2には、第2図
(2)に示される波形が導出される。この第2図(2)の波形
は、アナログスイッチS22の導出によって生じたノイ
ズ成分だけが含まれる。差動増幅機A1は、ライン1,
2間の信号の差を演算する。したがって、アナログスイ
ッチS22,S12のノイズ成分が相殺され、ホトダイ
オードD2の受光量に対応した読取り信号成分のみが導
出される。
Analog switches S11, S12; S21, S22; S
31, S32; ... are photodiodes D1, D2, D
Switching is performed so that the outputs from 3, ... Can be sequentially read in this order. For example, when reading a signal from the photodiode D2, an analog switch S22 for reading a signal from the photodiode D2 and an analog switch for generating noise corresponding to the photodiode D2 already read just before the reading of the photodiode D2. Simultaneously conducts with S11. The remaining analog switches S12, S21,
S31, S32, ... Are still blocked. As a result, the signal waveform shown in FIG. 2 (1) is derived from the line 1. The signal derived to the line 1 has a waveform 12 in which a noise component 11 generated when the shunting switch S22 is derived and a signal component corresponding to the amount of light received by the photodiode D2 are added. Also, in line 2, FIG.
The waveform shown in (2) is derived. The waveform of FIG. 2 (2) includes only the noise component generated by the derivation of the analog switch S22. The differential amplifier A1 has a line 1,
Calculate the difference between the two signals. Therefore, the noise components of the analog switches S22 and S12 are canceled out, and only the read signal component corresponding to the amount of light received by the photodiode D2 is derived.

第3図は他の先行技術の電気回路図である。ホトダイオ
ードD1,D2,D3,D4,D5,…はこの順序で配
置されており、1つおきのホトダイオードD1,D3,
D5はアナログスイッチS10,S30,S50を介し
てライン4に接続されており、残余のホトダイオードD
2,D4は対応するアナログスイッチS20,S40を
介してライン5に接続されている。ライン4,5は、差
動増幅器A1に接続される。これらのライン4,5に対
応して抵抗R1,R2が接続され、抵抗R1,R2には
電源Eが接続される。
FIG. 3 is another prior art electrical circuit diagram. The photodiodes D1, D2, D3, D4, D5, ... Are arranged in this order, and every other photodiode D1, D3.
D5 is connected to the line 4 through the analog switches S10, S30 and S50, and the remaining photodiode D
2 and D4 are connected to the line 5 via the corresponding analog switches S20 and S40. Lines 4 and 5 are connected to the differential amplifier A1. The resistors R1 and R2 are connected to the lines 4 and 5, and the power source E is connected to the resistors R1 and R2.

このような先行技術ではホトダイオードD1,D2,D
3,D4,D5の出力を順次的に読出して走査するにあ
たり、たとえばホトダイオードD2の出力を読出す際に
は、アナログスイッチS20を導通すると同時に、その
直前にすでに読取られたホトダイオードD1に対応する
アナログスイッチS10を導通する。ライン5には、ホ
トダイオードD2の読取りのための検出信号成分と、ア
ナログスイッチS20のノイズ成分とが含まれており、
ライン4にはアナログスイッチS10のノイズ成分のみ
が含まれている。したがって差動増幅器A1からはホト
ダイオードD2のノイズが除去された読取りのための検
出信号成分のみが導出される。
In such prior art, the photodiodes D1, D2, D
When sequentially reading and scanning the outputs of D3, D4, and D5, for example, when reading the output of the photodiode D2, the analog switch S20 is turned on and at the same time, the analog corresponding to the already read photodiode D1 is read. The switch S10 is turned on. The line 5 includes a detection signal component for reading the photodiode D2 and a noise component of the analog switch S20,
Line 4 contains only the noise component of the analog switch S10. Therefore, only the detection signal component for reading from which the noise of the photodiode D2 is removed is derived from the differential amplifier A1.

このような第1図および第2図ならびに第3図に示され
た各先行技術では、減算されるノイズ成分は相互に異な
るアナログスイッチから導出されたものであり、したが
ってそれらのアナログスイッチの導通時に生ずるノイズ
成分の波形がアナログスイッチ毎に異なる。したがって
差動増幅器A1が差動演算動作をいかに正確に行なった
としても、その差動増幅器A1からは出力にはノイズ成
分が含まれている。
In each of the prior arts shown in FIGS. 1 and 2 and FIG. 3, the noise components to be subtracted are derived from analog switches different from each other, and thus when the analog switches are turned on. The waveform of the generated noise component differs for each analog switch. Therefore, no matter how accurately the differential amplifier A1 performs the differential operation, the output from the differential amplifier A1 contains a noise component.

第4図はさらに他の先行技術の電気回路図である。この
先行技術では、複数のホトダイオードD1,D2,…に
は電源Eが接続されており、これらのホトダイオードD
1,D2,…からの信号は、アナログスイッチS13,
S23,…からライン6に導出される。ライン6には抵
抗R3が接続されている。このライン6の電圧は、2つ
のサンプル・ホールド回路SH1,SH2に入力され
る。それらのサンプル・ホールド回路SH1,SH2か
らの出力は、差動増幅器A1に与えられる。アナログス
イッチS13,S23の入力容量は、参照符C11,C
21に等価的に示されており、またそれらの出力容量
は、参照符C12,C22で等価的に示されている。
FIG. 4 is a further prior art electrical circuit diagram. In this prior art, a power source E is connected to the plurality of photodiodes D1, D2, ...
The signals from 1, D2, ... Are analog switches S13,
The line 6 is derived from S23, .... The resistor R3 is connected to the line 6. The voltage on the line 6 is input to the two sample and hold circuits SH1 and SH2. The outputs from the sample and hold circuits SH1 and SH2 are given to the differential amplifier A1. The input capacitances of the analog switches S13 and S23 are the reference symbols C11 and C.
21 and their output capacitances are equivalently indicated by the reference signs C12 and C22.

ホトダイオードD1からの信号を読取るにあたってはア
ナログスイッチS13は第5図(1)で示されるように時
刻t1〜t2およびt3〜t4の合計2回に亘つて導通
される。残余のアナログスイッチS23,…は遮断した
ままである。ライン6に導出される信号波形は、第5図
(2)で示されている。時間t1〜t2において、アナロ
グスイッチS13が導出することによって、ライン6に
はそのアナログスイッチS13のノイズ成分l3にホト
ダイオードD1の検出信号成分が重畳される。ホトダイ
オードD1からの検出信号の導出完了後に、時刻t3〜
t4において、再びアナログスイッチS13を導通する
と、アナログスイッチS13に起因したノイズ成分l4
がライン6に導出される。
When reading the signal from the photodiode D1, the analog switch S13 is turned on for a total of two times t1 to t2 and t3 to t4 as shown in FIG. 5 (1). The remaining analog switches S23, ... Are still cut off. The signal waveform derived on line 6 is shown in FIG.
It is shown in (2). At times t1 to t2, the detection signal component of the photodiode D1 is superimposed on the noise component 13 of the analog switch S13 on the line 6 by being derived by the analog switch S13. After the completion of the derivation of the detection signal from the photodiode D1, the time t3
When the analog switch S13 is turned on again at t4, the noise component l4 caused by the analog switch S13 is generated.
Are derived on line 6.

サンプル・ホールド回路SH1では、ライン6からの信
号を高入力インピーダンスの演算増幅器A11で受信す
る。この演算増幅器A11の出力は、低インピーダンス
であり、したがってサンプルすべき信号が入力されてア
ナログスイッチS14を導通したとき、速やかにホール
ドコンデンサC13を放電または充電することができ
る。ホールドコンデンサC13の充電電圧の保持特性を
向上するために演算増幅機A12は、高入力インビーダ
ンスを有する。演算増幅器A12の出力は、低インピー
ダンスである。アナログスイッチS14を導通すること
によってサンプリングを行い、ホールドコンデンサC1
3にそのサンプリング値がストアされる。
In the sample and hold circuit SH1, the signal from the line 6 is received by the operational amplifier A11 having a high input impedance. The output of the operational amplifier A11 has a low impedance, and therefore when the signal to be sampled is input and the analog switch S14 is turned on, the hold capacitor C13 can be quickly discharged or charged. The operational amplifier A12 has a high input impedance in order to improve the holding characteristic of the charging voltage of the hold capacitor C13. The output of the operational amplifier A12 has low impedance. Sampling is performed by turning on the analog switch S14, and the hold capacitor C1
The sampling value is stored in 3.

もう1つのサンプル・ホールドSH2もまた演算増幅器
A13,A14と、ホールドコンデンサC14と、アナ
ログスイッチS15とを含み、前述のサンプル・ホール
ド回路SH1と同様な動作を行なうことができる。
The other sample-and-hold SH2 also includes operational amplifiers A13 and A14, a hold capacitor C14, and an analog switch S15, and can perform the same operation as the above-described sample-and-hold circuit SH1.

サンプル・ホールド回路SH1は、時刻t1以降におけ
るライン6の信号の最大値、またはスロープの任意の一
部V1を保持する。またサンプルホールド回路SH2
は、時刻t3以降におけるライン6の信号の最大値V2
またはSH1のhold timingと対応する点の
電圧を保持する。差動増幅器A1は、これらのサンプル
・ホールド回路SH1,SH2からの出力のV1,V2
の差に対応する信号を導出する。このようにしてホトダ
イオードD1の読取りのための検出信号成分のみが導出
され、アナログスイッチS13のスイッチング動作に起
因したノイズ成分が除去される。
The sample-and-hold circuit SH1 holds the maximum value of the signal on the line 6 after time t1 or an arbitrary part V1 of the slope. In addition, the sample hold circuit SH2
Is the maximum value V2 of the signal on line 6 after time t3
Alternatively, the voltage at the point corresponding to the holding timing of SH1 is held. The differential amplifier A1 outputs V1 and V2 of the outputs from these sample and hold circuits SH1 and SH2.
Derive a signal corresponding to the difference of. In this way, only the detection signal component for reading the photodiode D1 is derived, and the noise component due to the switching operation of the analog switch S13 is removed.

このような第4図および第5図示の先行技術では、ホト
ダイオードS13の断続的に2回導通し、これによって
与えられるノイズ成分を相殺するようにしたので、ノイ
ズ成分が良好に除去される。この先行技術の新たな問題
は、ホトダイオードD1の読取りにあたってアナログス
イッチS13を上述のように断続的に2回導通しなけれ
ばならず、したがって読取り速度が低いことである。も
しも高速度で各ホトダイオードD1,D2,…の読出し
のためにアナログスイッチS13,S23,…をスイッ
チング動作させると、それらのアナログスイッチS1
3,S23,…の動作が不安定となり、各アナログスイ
ッチS13,S23,…の第1回目の導通時に生じるノ
イズ成分と、第2図目の導通時に生じるノイズ成分との
波形が異なってくる。したがって高速動作時には、差動
増幅器A1からの出力には、波形の相違に相殺しきれな
くなったノイズ成分が含まれることになった。
In the prior arts shown in FIGS. 4 and 5, the photodiode S13 is intermittently turned on twice to cancel the noise component provided thereby, so that the noise component is satisfactorily removed. A new problem with this prior art is that the reading of the photodiode D1 requires the analog switch S13 to be conducted twice intermittently as described above, and thus the reading speed is low. If the analog switches S13, S23, ... Are switched at a high speed to read out the photodiodes D1, D2 ,.
The operation of 3, S23, ... Becomes unstable, and the waveforms of the noise component generated when the analog switches S13, S23, ... Therefore, at the time of high-speed operation, the output from the differential amplifier A1 contains a noise component that cannot be canceled out due to the difference in waveform.

本発明の目的は、高速度で読取りを行っても、スイッチ
のスイッチング態様に起因したノイズ成分を含むことが
ないようにした改良された読取り装置を提供することで
ある。
It is an object of the present invention to provide an improved reader which does not contain noise components due to the switching aspects of the switch, even when reading at high speed.

本発明は、複数の受光検出ユニットを含むとともに、各
受光検出ユニットの一方端部は共通に接続され、各受光
検出ユニットは、逆極性に方向性結合されるホトダイオ
ードと、そのホトダイオードに並列に接続される蓄積コ
ンデンサとを有して成る複数の受光検出回路と、 各受光検出ユニットの他方端部にそれぞれ直列接続され
るスイッチと、 各受光検出回路毎に設けられ、半導体集積回路によって
実現されるアドレス指定回路であって、アドレス指定信
号に応答して能動化入力端子に能動化信号が与えられて
いるとき、そのアドレス指定信号によって指定された上
記複数のスイッチの1つを選択的に導通し、能動化信号
が与えられていないとき、全てのスイッチを開いたまま
にするようにしたアドレス指定回路と、 各受光検出ユニットの共通接続された前記一方端部に接
続される直流電源と、 各受光検出ユニットの共通接続された前記一方端部に直
列接続されるカップリングコンデンサと、 ブランキング信号に応答して上記カップリングコンデン
サからの出力を短絡して導出しないようにするブランキ
ング回路と、 各アドレス指定回路に共通にアドレス指定信号を導出
し、かつ能動化信号を導出してアドレス指定回路に与
え、ブランキング回路にブランキング信号を与え、スイ
ッチを順次的にアドレス指定する各アドレス指定信号を
発生する第1期間中の第2期間に能動化信号を発生し、
この第2期間中の第3期間にのみブランキング信号を発
生せず、第3期間以外の残余の期間中にブランキング信
号を導出して、アドレス指定時に発生されるノイズ成分
がカップリングコンデンサの出力に含まれないようにす
るとともに受光検出成分のみを取出すようにした制御手
段とを含むことを特徴とする読取り装置である。
The present invention includes a plurality of light receiving / detecting units, one end of each light receiving / detecting unit is commonly connected, and each light receiving / detecting unit is connected in parallel to a photodiode and a photodiode that is directionally coupled to opposite polarities. A plurality of light receiving detection circuits each including a storage capacitor, a switch connected in series to the other end of each light receiving detection unit, and provided for each light receiving detection circuit, and realized by a semiconductor integrated circuit. An addressing circuit which selectively conducts one of the plurality of switches designated by the addressing signal when the activation signal is applied to the activation input terminal in response to the addressing signal. , An addressing circuit that keeps all switches open when no activation signal is applied, and A direct current power source connected to the one end connected to each other, a coupling capacitor connected in series to the one end commonly connected to the light receiving and detecting units, and the coupling capacitor in response to a blanking signal. A blanking circuit that short-circuits the output from the circuit to prevent it from being derived, and an addressing signal that is common to each addressing circuit and an activation signal that is supplied to the addressing circuit and then supplied to the blanking circuit. Generating an activation signal during a second period of the first period, which provides a ranking signal and generates each addressing signal for sequentially addressing the switches,
The blanking signal is not generated only in the third period of the second period, and the blanking signal is derived in the remaining period other than the third period so that the noise component generated during addressing is due to the coupling capacitor. The reading device includes a control unit that is not included in the output and that extracts only the received light detection component.

第6図は、本発明の一実施例の電気回路図である。ファ
クシミリ送信機などにおいて原稿などを光学的に読取る
ための受光検出回路B1〜Bnが備えられえる。制御信
号発生回路12からの制御信号に基づいて制御回路13
が制御され、これによってライン11には受光検出回路
B1〜Bnからの信号が導出される。ライン1には、抵
抗14と直流電源15が直列に接続されている。ライン
11からの検出信号は、カップリングコンデンサ16か
ら増幅回路17に与えられる。増幅回路17は、抵抗1
8〜23および演算増幅器24とを含みその出力はライ
ン25に導出される。ライン25には、ブランキング回
路26のトランジスタ27が接続される。トランジスタ
27のベースには、制御信号発生回路12からライン2
8および反転回路29を介する信号が与えられる。受光
検出回路B1〜Bnによる原稿を読取った受光検出成分
のみを含む検出信号は、ノイズ成分を含んでおらず、こ
のような検出信号は出力端子30から導出されてレベル
弁別され読取られる。
FIG. 6 is an electric circuit diagram of an embodiment of the present invention. Light receiving detection circuits B1 to Bn for optically reading an original or the like may be provided in a facsimile transmitter or the like. Based on the control signal from the control signal generation circuit 12, the control circuit 13
Are controlled, so that signals from the light receiving detection circuits B1 to Bn are derived on the line 11. A resistor 14 and a DC power supply 15 are connected to the line 1 in series. The detection signal from the line 11 is given to the amplifier circuit 17 from the coupling capacitor 16. The amplifier circuit 17 has a resistor 1
8 to 23 and an operational amplifier 24, the output of which is led to line 25. The transistor 27 of the blanking circuit 26 is connected to the line 25. The base of the transistor 27 is connected to the line 2 from the control signal generating circuit 12.
8 and an inverting circuit 29 are applied. The detection signal including only the received light detection component obtained by reading the document by the received light detection circuits B1 to Bn does not include the noise component, and such a detection signal is derived from the output terminal 30 and is level-discriminated and read.

制御回路13には、各受光検出回路B1〜Bnに個別的
に対応したスイッチ回路SW1〜SWnに個別的に対応
したスイッチ回路SW1〜SWnが備えられる。これら
のスイッチ回路SW1〜SWnには、制御信号発生回路
12からラインlA〜lDを介してアドレス指定信号が
与えられる。スイッチ回路SW1〜SWnには、個別的
に対応してNANDゲートG1〜Gnからの信号が与え
られる。このNANDゲートG1〜Gnには、コントロ
ール信号がライン31を介して制御信号発生回路12か
ら与えられる。NANDガートG1〜Gnの他方の端子
には、継続接続されたいわゆるD形フリップフロップF
F1〜FFnからの出力Qがそれぞれ与えられる。初段
のD形フリップフロップFF1のデータ入力端子Dに
は、ライン32を介して制御信号発生回路12から信号
が与えられる。フリップフロップFF1〜FFnのクロ
ックのクロック入力端子CKには、ライン33を介して
クロック信号が与えられえる。またこれらのフリップフ
ロップFF1〜FFnのクリア入力端子CRには、ライ
ン34を介してクリア信号が与えられる。フリップフロ
ップFF1の出力Qは、次段のフリップフロップFF2
のデータ入力端子Dに与えられる。このようにしてフリ
ップフロップFF1〜FFnが前述のように継続接続さ
れている。
The control circuit 13 includes switch circuits SW1 to SWn individually corresponding to the switch circuits SW1 to SWn individually corresponding to the respective light receiving detection circuits B1 to Bn. An address designation signal is applied to these switch circuits SW1 to SWn from the control signal generation circuit 12 via lines 1A to 1D. Signals from NAND gates G1 to Gn are individually applied to the switch circuits SW1 to SWn. A control signal is applied to the NAND gates G1 to Gn from the control signal generation circuit 12 via the line 31. The other terminals of the NAND gates G1 to Gn are continuously connected to a so-called D-type flip-flop F.
Outputs Q from F1 to FFn are provided respectively. A signal is applied from the control signal generation circuit 12 to the data input terminal D of the first-stage D-type flip-flop FF1 via the line 32. A clock signal can be given to the clock input terminals CK of the clocks of the flip-flops FF1 to FFn via the line 33. A clear signal is given to the clear input terminals CR of these flip-flops FF1 to FFn via the line 34. The output Q of the flip-flop FF1 is the flip-flop FF2 of the next stage.
Data input terminal D. In this way, the flip-flops FF1 to FFn are continuously connected as described above.

第7図は、受光検出回路B1と、スイッチ回路SW1の
具体的な構成を示す電気回路図である。受光検出回路B
1は、ホトダイオードD1〜D16と、蓄電コンデンサ
C101〜C116とが並列にそれぞれ接続されて構成
された受光検出ユニットU1〜U16を含む。各受光検
出ユニットU1〜U16は、スイッチ回路SW1のスイ
ッチSX1〜SX16に直列に接続される。スイッチS
X1…SX16には、アドレス指定回路M1の出力端子
P0〜P15から信号が与えられる。このアドレス指定
回路M1の入力端子PA〜PDにはラインlA〜lDを
介してアドレス指定信号が与えられる。アドレス指定回
路M1の入力端子INHには、NANDゲードG1から
の信号が与えられる。
FIG. 7 is an electric circuit diagram showing a specific configuration of the light receiving detection circuit B1 and the switch circuit SW1. Light receiving detection circuit B
1 includes photodiodes D1 to D16 and light receiving and detecting units U1 to U16 configured by connecting storage capacitors C101 to C116 in parallel, respectively. The light reception detection units U1 to U16 are connected in series to the switches SX1 to SX16 of the switch circuit SW1. Switch S
Signals are applied to X1 ... SX16 from output terminals P0 to P15 of the addressing circuit M1. Addressing signals are applied to the input terminals PA to PD of the addressing circuit M1 via lines 1A to 1D. A signal from the NAND gate G1 is applied to the input terminal INH of the addressing circuit M1.

アドレス指定回路M1は、入力端子INHの信号レベル
がハイレベルであるとき出力端子P0〜P15からの信
号がスイッチSX1〜SX16を開いたままとする。ま
たこのアドレス指定回路M1は、入力端子INHに与え
れられる信号がローレベルであるとき、入力端子PA〜
PDに与えられる2進数のアドレス指定信号によって指
定される出力端子P0〜P15のうちの1つによって、
対応するスイッチSX1〜SX16のうちの1つを選択
的に導通する。このようなスイッチ回路SW1は、半導
体集積回路によって実現され、商業的に入手可能であ
る。このスイッチ回路SW1は、入力端子PA〜PDに
アドレス信号が与えられてアドレス指定動作が行なわれ
るとき、ライン11の検出信号にノイズ成分を重畳させ
るという問題がある。本発明に従えば、そのノイズ成分
は後述のように出力端子30には導出されない。スイッ
チ回路SW1は、アドレス指定回路M1の入力端子IN
Hに入力される信号のレベルが変化し、したがってスイ
ッチSX1〜SX16のスイッチング態様が変化すると
きには、ライン11にノイズ成分を発生させない。した
がって入力端子PA〜PDに入力されたアドレス指定信
号によって選択された出力端子P0からP15のうちの
1つ、かつしたがってスイッチSX1〜SX16の導通
時刻を、アドレス指定回路M1における入力端子PA〜
PDに与えられたアドレス指定信号による出力端子P0
〜P15のアドレス指定動作からずらすことが可能であ
る。これによって前記アドレス指定動作時に発生するノ
イズ成分の発生時刻と、スイッチSX1〜SX16の導
通による受光検出ユニットU1〜U16からの受光検出
成分の発生時刻とを希望する時間だけずらすことが可能
である。したがって受光検出成分から希望する時間だけ
充分にずれているノイズ成分を後述のよう除去すること
が容易となる。残余の受光検出回路B2〜Bnは、受光
検出回路B1と同様な構成を有し、またスイッチ回路S
W2〜SWnは、スイッチ回路SW1と同様な構成を有
する。
The addressing circuit M1 keeps the switches SX1 to SX16 open by the signals from the output terminals P0 to P15 when the signal level of the input terminal INH is high. Further, this addressing circuit M1 receives input signals from the input terminals PA to when the signal applied to the input terminal INH is at the low level.
By one of the output terminals P0-P15 specified by the binary addressing signal applied to PD,
One of the corresponding switches SX1 to SX16 is selectively turned on. Such a switch circuit SW1 is realized by a semiconductor integrated circuit and is commercially available. This switch circuit SW1 has a problem that a noise component is superimposed on the detection signal of the line 11 when an address signal is applied to the input terminals PA to PD and an addressing operation is performed. According to the present invention, the noise component is not derived to the output terminal 30 as described later. The switch circuit SW1 has an input terminal IN of the addressing circuit M1.
When the level of the signal input to H changes and therefore the switching mode of the switches SX1 to SX16 changes, no noise component is generated in the line 11. Therefore, the conduction time of one of the output terminals P0 to P15 selected by the addressing signal input to the input terminals PA to PD, and thus the switches SX1 to SX16, is determined by the input terminal PA to the addressing circuit M1.
Output terminal P0 according to the address designation signal given to PD
It is possible to deviate from the addressing operation of ~ P15. This makes it possible to shift the generation time of the noise component generated during the addressing operation and the generation time of the light reception detection component from the light reception detection units U1 to U16 due to the conduction of the switches SX1 to SX16 by a desired time. Therefore, it becomes easy to remove a noise component that is sufficiently deviated from the received light detection component for a desired time as described later. The remaining light receiving detection circuits B2 to Bn have the same configuration as the light receiving detection circuit B1, and the switch circuit S
W2 to SWn have the same configuration as the switch circuit SW1.

第8図を参照して、制御信号発生回路12のラインlA
〜lDから導出されるアドレス指定信号は第8図(1)〜
第8図(4)にそれぞれ示されている。このようなアドレ
ス指定信号によって第1表に示されるように出力端子P
0〜P15,したがってスイッチSX1〜AX16が選
択的にアドレス指定される。
Referring to FIG. 8, line 1A of control signal generating circuit 12
~ Addressing signals derived from ID are shown in Fig. 8 (1) ~
Each is shown in FIG. 8 (4). Such an addressing signal causes the output terminal P as shown in Table 1.
0-P15 and thus switches SX1-AX16 are selectively addressed.

制御信号発生回路12は、出力端子31から第8図(5)
で示されるコントロール信号を導出する。このコントロ
ール信号は、ラインlAに導出される最下位のアドレス
指定信号の2倍の周波数を有する。制御信号発生回路1
2からライン32を経てフリップフロップFF1のクロ
ック端子CKに与えられる信号は、第8図(6)で示され
るようにラインlDに導出される最高位のアドレス指定
信号と同一の周期を有するパルスである。
The control signal generating circuit 12 is shown in FIG. 8 (5) from the output terminal 31.
The control signal indicated by is derived. This control signal has twice the frequency of the lowest addressing signal derived on line 1A. Control signal generation circuit 1
The signal provided from 2 to the clock terminal CK of the flip-flop FF1 via the line 32 is a pulse having the same period as the highest addressing signal derived on the line 1D as shown in FIG. 8 (6). is there.

制御信号発生回路12からライン34にクリア信号が導
出されてフリップフロップFF1〜FFnの出力Qがロ
ーレベルになった後に、ライン32からハイレベルのパ
ルスが与えられ、このときライン33からクロック信号
が導出されると、フリップフロップFF1の出力Qに
は、データ入力端子Dがハイレベルであるので、ハイレ
ベルの信号が導出されたままになる。残余のフリップフ
ロップFF2〜FFnの出力Qはローレベルである。ラ
インlA〜lDからのアドレス指定信号がスイッチ回路
SW1に与えられ、アドレス指定回路M1は出力端子P
0〜P15に対応したスイッチSX1〜SX16を順次
的に導通させる。各スイッチSX1〜SX16の導通時
間は、ライン31からの信号のハイレベルの持続期間、
したがってNANDゲートG1のローレベルの持続期間
に等しい。スイッチSX1〜SX16の一連の導通走査
が終了すると、ライン33からクロック信号が導出され
る。これによってフリップフロップFF2の出力Qがハ
イレベルとなり、残余のフリップフロップFF1,FF
3〜FFnの出力Qはローレベルとなる。ライン31か
らハイレベルの信号が導出されることによってNAND
ゲートG2の出力はローレベルとなり、これによってス
イッチSW2に備えられているスイッチが順次的に導通
走査されることになる。このようにしてスイッチ回路S
W1〜SWnの順次的な走査が終了した後には再びスイ
ッチ回路SW1からの走査がくり返し開始される。
After the clear signal is derived from the control signal generating circuit 12 to the line 34 and the output Q of the flip-flops FF1 to FFn becomes low level, a high level pulse is given from the line 32, and at this time, the clock signal is supplied from the line 33. When derived, the data input terminal D is at high level at the output Q of the flip-flop FF1, so that the high level signal remains derived. The outputs Q of the remaining flip-flops FF2 to FFn are at low level. The addressing signals from the lines 1A to 1D are given to the switch circuit SW1, and the addressing circuit M1 outputs the output terminal P.
Switches SX1 to SX16 corresponding to 0 to P15 are sequentially turned on. The conduction time of each of the switches SX1 to SX16 is the duration of the high level signal from the line 31,
Therefore, it is equal to the low-level duration of the NAND gate G1. When the series of conductive scans of the switches SX1 to SX16 is completed, the clock signal is derived from the line 33. As a result, the output Q of the flip-flop FF2 becomes high level, and the remaining flip-flops FF1, FF
The outputs Q of 3 to FFn become low level. The high level signal is derived from the line 31 so that the NAND
The output of the gate G2 becomes low level, and the switches provided in the switch SW2 are sequentially conductively scanned. In this way, the switch circuit S
After the sequential scanning of W1 to SWn is completed, the scanning from the switch circuit SW1 is repeatedly started again.

たとえば受光検出回路B1〜Bnに備えされている受光
検出ユニットの数が全部で2048個あるとき、すなわ
ちn=2048であるとき、これらの受光検出ユニット
を前記スイッチによって5mS以内に走査して読出し得
るようにするには、各受光検出ユニット毎の時間の最大
値がせいぜい2.3μSである。したがってラインlAか
ら導出される最下位のアドレス指定信号のハイレベルで
ある期間は、その時間2.3μSに定められる。
For example, when the total number of light receiving detection units provided in the light receiving detection circuits B1 to Bn is 2048, that is, when n = 2048, these light receiving detection units can be scanned and read within 5 mS by the switch. In order to do so, the maximum value of the time for each light receiving / detecting unit is at most 2.3 μS. Therefore, the high level period of the lowest addressing signal derived from the line 1A is set to the time 2.3 μS.

第9図を参照して、ラインlAから導出される最下位の
アドレス指定信号は、第9図(1)に示されている。この
ハイレベルである期間W0は前述のようにたとえば2.3
μSに定められる。ライン31から導出される制御信号
は第9図(2)に示されているように、この期間W0中に
おいてハイレベルとなる。ラインlAのアドレス指定信
号のハイレベルとなる立上り時刻t10から時間W1だ
け遅延した時刻t11において、ライン31の制御信号
がハイレベルとなり、ラインlAのアドレス指定信号が
ローレベルとなる時刻t13と同時またはそれよりも前
の時刻t12においてライン31の制御信号はローレベ
ルとなる。したがってライン11からカップリングコン
デンサ16を経て増幅器17に与えられる信号は第9図
(3)で示されるようにラインlA〜lDからのアドレス
指定信号の発生時刻t10において、第9図(3)で示さ
れる検出信号にノイズ成分P100を含む。その後、時
間W1経過して、このノイズ成分P100が検出信号に
含まれなくなった時刻T11においてライン31から制
御信号が与えられる。これによってアドレス指定回路M
1は、スイッチSX1〜SX16のうちの選択されたも
のを導通する。こうして入力端子INHにローレベルの
信号が与えられてからライン11に検出信号が実際に導
出されるまでの動作遅延時間は第9図(2)において参照
符W2で示されている。時間W1はたとえば200〜1
800nSの範囲で定められる。遅延時間W2はたとえ
ば典型的には約300nSである。こうして時刻t11
から遅延時間W2を経た後に、検出信号は受光検出回路
B1〜Bnの受光状態に対応した受光検出成分q100
が発生される。
Referring to FIG. 9, the lowest addressing signal derived from line 1A is shown in FIG. 9 (1). As described above, the period W0 that is at the high level is, for example, 2.3.
It is defined as μS. The control signal derived from the line 31 is at a high level during this period W0, as shown in FIG. 9 (2). At the time t11 delayed by a time W1 from the rising time t10 when the addressing signal of the line IA becomes high level, the control signal of the line 31 becomes high level and the addressing signal of the line IA becomes low level at the same time t13 or. At time t12 before that, the control signal of the line 31 becomes low level. Therefore, the signal given to the amplifier 17 from the line 11 through the coupling capacitor 16 is shown in FIG.
At the generation time t10 of the addressing signals from the lines 1A to 1D as shown in (3), the detection signal shown in FIG. 9 (3) contains the noise component P100. Then, after a lapse of time W1, the control signal is given from the line 31 at time T11 when the noise component P100 is not included in the detection signal. This allows the addressing circuit M
1 conducts a selected one of the switches SX1 to SX16. The operation delay time from when a low level signal is applied to the input terminal INH to when the detection signal is actually derived on the line 11 is indicated by reference numeral W2 in FIG. 9 (2). The time W1 is, for example, 200 to 1.
It is defined in the range of 800 nS. The delay time W2 is, for example, typically about 300 nS. Thus at time t11
After a delay time W2 from, the detection signal is a light reception detection component q100 corresponding to the light reception states of the light reception detection circuits B1 to Bn.
Is generated.

要約すると、アドレス指定回路M1によってアドレス指
定動作が行なわれているときにノイズ成分P100が発
生し、それから時間W1を経た後の時刻t11に入力端
子INHにローレベルの信号が与えられる。これによっ
て選択されたスイッチSX1〜SAX16のうちの1つ
が時刻t11から遅延時間W2後に、受光検出成分q1
00が導出される。こうしてノイズ成分P100と受光
検出成分g100とが時間的に充分にずらされる。した
がって受光検出成分q100のみを取出すことが次に述
べる動作によって容易となる。
In summary, a noise component P100 is generated when the addressing operation is performed by the addressing circuit M1, and a low level signal is applied to the input terminal INH at time t11 after the time W1 has passed. One of the switches SX1 to SAX16 selected in this manner receives the light reception detection component q1 after the delay time W2 from the time t11.
00 is derived. In this way, the noise component P100 and the received light detection component g100 are sufficiently shifted in time. Therefore, it is easy to extract only the received light detection component q100 by the operation described below.

制御信号発生回路12は、ライン28から第9図(4)で
示される時刻t14〜t15においてハイレベルとなる
信号を導出する。これによってブランキング回路26の
トランジスタ27は第9図(4)のハイレベルの期間中遮
断状態となり、残余のローレベルの期間では導通したま
まである。トランジスタ27が導通する時刻t14は、
ライン31にハイレベルの信号が導出される時刻t11
以降であり、しかも受光検出成分g100がライン11
に導出される時刻以前であり、そのハイレベルの持続期
間W3は受光検出成分g100が発生している時間以上
に定められる。トランジスタ27が遮断していることに
よって、増幅回路17によって増幅された信号成分g1
00が出力端子30に導出される。ノイズ成分P100
が発生しているときには、トランジスタ27は導通して
いる。したがって出力端子30には、そのノイズ成分P
100が導出されない。このようにして出力端子30に
導出される信号波形は、第9図(5)に示させるように、
受光検出成分g100のみを含む。
The control signal generation circuit 12 derives from the line 28 a signal which becomes a high level at times t14 to t15 shown in FIG. 9 (4). As a result, the transistor 27 of the blanking circuit 26 is in the cutoff state during the high level period shown in FIG. 9 (4) and remains conductive during the remaining low level period. At time t14 when the transistor 27 becomes conductive,
Time t11 when a high level signal is derived on the line 31
After that, and the received light detection component g100 is line 11
The time W3 of the high level before the time derived from the above is determined to be longer than the time when the received light detection component g100 is generated. Since the transistor 27 is cut off, the signal component g1 amplified by the amplifier circuit 17 is generated.
00 is led to the output terminal 30. Noise component P100
Is occurring, the transistor 27 is conducting. Therefore, the noise component P is output to the output terminal 30.
100 is not derived. The signal waveform thus derived at the output terminal 30 is, as shown in FIG. 9 (5),
Only the received light detection component g100 is included.

増幅回路17は、ライン11からカップリングコンデン
サ16を介する検出信号を増幅している。増幅回路17
による重要な働きを述べる。後段に備えられているブラ
ンキング回路26のトランジスタ27を開閉する際に
は、僅かなノイズ成分が含まれる。このノイス成分と言
うのは、トランジスタ27による導通時には、出力端子
30はコレクタ・エミッタ間電圧たとえば0.2V程度の
電圧が嵩上げされることによって生じる。この電圧の値
は、ライン25の信号のレベルにかかわらず一定であ
る。したがって増幅回路17によって信号を十分に増幅
することにより、トランジスタ27の開閉に起因したノ
イズ成分を見かけ上小さくすることができ、SN比を向
上することが可能である。また、この増幅回路17を設
けることによって出力端子30に与えられる検出信号の
レベルが同上され、これに応じて後続のレベル弁別回路
による正確なレベル弁別が容易となる。
The amplifier circuit 17 amplifies the detection signal from the line 11 via the coupling capacitor 16. Amplifier circuit 17
The important functions of When the transistor 27 of the blanking circuit 26 provided in the subsequent stage is opened and closed, a slight noise component is included. The noise component is generated by raising the collector-emitter voltage of the output terminal 30, for example, about 0.2 V, when the transistor 27 is turned on. The value of this voltage is constant regardless of the level of the signal on line 25. Therefore, by sufficiently amplifying the signal by the amplifier circuit 17, the noise component due to the opening / closing of the transistor 27 can be apparently reduced, and the SN ratio can be improved. Further, by providing this amplifier circuit 17, the level of the detection signal applied to the output terminal 30 is the same as above, and accordingly, accurate level discrimination by the subsequent level discrimination circuit becomes easy.

受光検出ユニット毎に関連して直列に接続されているス
イッチをマイクロコンピュータなどの処理回路によっ
て、直接かつ順次的に導通走査するようにした構成にお
いてもまた、本発明を実施することができる。
The present invention can also be implemented in a configuration in which switches connected in series in association with each of the light receiving and detecting units are directly and sequentially conductively scanned by a processing circuit such as a microcomputer.

以上のように本発明によれば、高速度で読取りを行なっ
ても、スイッチのスイッチング態様に起因したノイズ成
分を含むことがないようにした読取り装置が実現され
る。
As described above, according to the present invention, it is possible to realize a reading device that does not include a noise component due to a switching mode of a switch even when reading at high speed.

特に本発明によれば、各受光検出ユニットU1〜U16
の共通接続された一方端部には、カップリングコンデン
サ16が接続されており、このカップリングコンデンサ
16を介して導出される信号に含まれているノイズ成分
は、ブランキング回路26の働きによって導出しないよ
うにされるので、比較的簡単な構成で、アドレス指定時
に発生されるノイズ成分p100を確実に除去すること
が可能になる。しかもこのようなブランキング回路が、
カップリングコンデンサ16の出力を短絡して導出しな
いようにするとき、直流電源15およびそれに接続され
ている受光検出回路B1〜Bnに悪影響を及ぼすことが
ないので好都合である。
Particularly, according to the present invention, each of the photodetection units U1 to U16
A coupling capacitor 16 is connected to one end of each of the common-connected capacitors, and the noise component included in the signal derived via the coupling capacitor 16 is derived by the function of the blanking circuit 26. Since it is not performed, the noise component p100 generated during addressing can be reliably removed with a relatively simple configuration. Moreover, such a blanking circuit
When the output of the coupling capacitor 16 is short-circuited so as not to be led out, it is advantageous because it does not adversely affect the DC power supply 15 and the photodetection circuits B1 to Bn connected thereto.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は先行技術の電気回路図、第2図は第1図に示さ
れた先行技術の動作を説明するための波形図、第3図は
他の先行技術の電気回路図、第4図は更に他の先行技術
の電気回路図、第5図は第4図に示された先行技術の動
作を説明するための波形図、第6図は本発明の一実施例
の電気回路図、第7図は第6図に示された受光検出回路
B1およびスイッチ回路SW1の具体的な構成を示す電
気回路図、第8図および第9図は第6図および第7図に
示された実施例の動作を説明するための波形図である。 12;12a;12b…制御信号発生回路、13…制御
回路、17…増幅回路、26…ブランキング回路、B1
〜Bn…受光検出回路、SW1〜SWn;SW101,
SW102…スイッチ回路、G1〜Gn…NANDゲー
ト、FF1〜FFn…フリップフロップ、D1〜D16
…ホトダイオード、C101〜C116…蓄積コンデン
サ、SX1〜SX16…スイッチ、M1…アドレス指定
回路、U1〜U16…受光検出ユニット。
FIG. 1 is a prior art electric circuit diagram, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the prior art shown in FIG. 1, FIG. 3 is another prior art electric circuit diagram, and FIG. FIG. 5 is still another electric circuit diagram of the prior art, FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the operation of the prior art shown in FIG. 4, and FIG. 6 is an electric circuit diagram of one embodiment of the present invention. FIG. 7 is an electric circuit diagram showing a specific configuration of the photodetection circuit B1 and the switch circuit SW1 shown in FIG. 6, and FIGS. 8 and 9 are the embodiments shown in FIGS. 6 and 7. 6 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. 12; 12a; 12b ... Control signal generating circuit, 13 ... Control circuit, 17 ... Amplifier circuit, 26 ... Blanking circuit, B1
-Bn ... Light receiving detection circuit, SW1-SWn; SW101,
SW102 ... switch circuit, G1 to Gn ... NAND gate, FF1 to FFn ... flip-flop, D1 to D16
... photodiode, C101 to C116 ... storage capacitor, SX1 to SX16 ... switch, M1 ... addressing circuit, U1 to U16 ... photodetection detection unit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の受光検出ユニットを含むとともに、
各受光検出ユニットの一方端部は共通に接続され、各受
光検出ユニットは、逆極性に方向性結合されるホトダイ
オードと、そのホトダイオードに並列に接続される蓄積
コンデンサとを有して成る複数の受光検出回路と、 各受光検出ユニットの他方端部にそれぞれ直列接続され
るスイッチと、 各受光検出回路毎に設けられ、半導体集積回路によって
実現されるアドレス指定回路であって、アドレス指定信
号に応答して能動化入力端子に能動化信号が与えられて
いるとき、そのアドレス指定信号によって指定された上
記複数のスイッチの1つを選択的に導通し、能動化信号
が与えられていないとき、全てのスイッチを開いたまま
にするようにしたアドレス指定回路と、 各受光検出ユニットの共通接続された前記一方端部に接
続される直流電源と、 各受光検出ユニットの共通接続された前記一方端部に直
列接続されるカップリングコンデンサと、 ブランキング信号に応答して上記カップリングコンデン
サからの出力を短絡して導出しないようにするブランキ
ング回路と、 各アドレス指定回路に共通にアドレス指定信号を導出
し、かつ能動化信号を導出してアドレス指定回路に与
え、ブランキング回路にブランキング信号を与え、スイ
ッチを順次的にアドレス指定する各アドレス指定信号を
発生する第1期間中の第2期間に能動化信号を発生し、
この第2期間中の第3期間にのみブランキング信号を発
生せず、第3期間以外の残余の期間中にブランキング信
号を導出して、アドレス指定時に発生されるノイズ成分
がカップリングコンデンサの出力に含まれないようにす
るとともに受光検出成分のみを取出すようにした制御手
段とを含むことを特徴とする読取り装置。
1. A plurality of light receiving and detecting units are included, and
One end of each light receiving / detecting unit is connected in common, and each light receiving / detecting unit has a plurality of light receiving units each having a photodiode directionally coupled in opposite polarity and a storage capacitor connected in parallel to the photodiode. A detection circuit, a switch connected in series to the other end of each light receiving detection unit, and an addressing circuit provided for each light receiving detection circuit and realized by a semiconductor integrated circuit, which is responsive to an addressing signal. When the activation signal is applied to the activation input terminal, one of the plurality of switches designated by the addressing signal is selectively turned on, and when the activation signal is not applied, all of the switches are turned on. An addressing circuit that keeps the switch open, and a DC power source connected to the commonly connected one end of each photodetection unit. A coupling capacitor connected in series to the commonly connected one end of each light receiving and detecting unit; and a blanking circuit for short-circuiting the output from the coupling capacitor in response to a blanking signal so as not to lead out. , Derivation of addressing signal common to each addressing circuit and derivation of activation signal to addressing circuit, blanking signal to blanking circuit, and addressing switches sequentially Generating an activation signal during a second period of the first period during which the signal is generated,
The blanking signal is not generated only in the third period of the second period, and the blanking signal is derived in the remaining period other than the third period so that the noise component generated during addressing is due to the coupling capacitor. A reading device comprising: a control unit that is not included in the output and that extracts only the received light detection component.
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