JPH0652282B2 - Ｌｃｒメ−タ - Google Patents
Ｌｃｒメ−タInfo
- Publication number
- JPH0652282B2 JPH0652282B2 JP14041287A JP14041287A JPH0652282B2 JP H0652282 B2 JPH0652282 B2 JP H0652282B2 JP 14041287 A JP14041287 A JP 14041287A JP 14041287 A JP14041287 A JP 14041287A JP H0652282 B2 JPH0652282 B2 JP H0652282B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impedance
- range
- measured
- frequency
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はＬＣＲメータに係り、更に詳しく言えば、被
測定体のＬ，Ｃ，Ｒ検出用抵抗を被測定体のインピーダ
ンスに応じて切り換えるようにしたＬＣＲメータに関す
るものである。
測定体のＬ，Ｃ，Ｒ検出用抵抗を被測定体のインピーダ
ンスに応じて切り換えるようにしたＬＣＲメータに関す
るものである。
従来のＬＣＲメータにおいては、一般に、被測定体に所
定周波数の測定用電圧を加え、被測定体に流れる電流を
例えば電流／電圧変換器にて電圧に変換するとともに、
移相器により測定用電圧と同相、９０°進相、及び９０
°遅相の３つの信号を形成し、上記変換電圧をこれら３
つの信号にて同期検波するようにしている。このように
すると、その検波出力からはそれぞれ測定用電圧と同
相、９０°進相、及び９０°遅相した電流成分を表す３
つの電圧が得られるから、これらの電圧と上記測定用電
圧とから演算により被測定体のＬ，Ｃ，Ｒを求めるよう
にしている。
定周波数の測定用電圧を加え、被測定体に流れる電流を
例えば電流／電圧変換器にて電圧に変換するとともに、
移相器により測定用電圧と同相、９０°進相、及び９０
°遅相の３つの信号を形成し、上記変換電圧をこれら３
つの信号にて同期検波するようにしている。このように
すると、その検波出力からはそれぞれ測定用電圧と同
相、９０°進相、及び９０°遅相した電流成分を表す３
つの電圧が得られるから、これらの電圧と上記測定用電
圧とから演算により被測定体のＬ，Ｃ，Ｒを求めるよう
にしている。
なお、測定周波数は例えば100Hz，500Hz，１kHz，10kHz
……などと×10nを標準にしてスポット状に数点設けら
れ、所望の周波数を適宜選択して測定を行うようになっ
ている。
……などと×10nを標準にしてスポット状に数点設けら
れ、所望の周波数を適宜選択して測定を行うようになっ
ている。
Ｌ，Ｃ，Ｒの測定レンジも同様に×10nのステップで設
けられている。例えばＲについては10Ω，100Ω，1k
Ω，10kΩ……、Ｌについては10μＨ，100μＨ，１mH，
10mH……、Ｃについては10pF，100pF，１nF，10nF……
などである。この場合、被測定体の定格値は一般に既知
であるから、それに適合したレンジを設定する。例えば
コンデンサの容量測定の場合、定格値が２nFであれば測
定レンジは１−１０ｎとする。オートレンジの場合に
は装置が適合レンジを自動的に設定するようになってい
る。
けられている。例えばＲについては10Ω，100Ω，1k
Ω，10kΩ……、Ｌについては10μＨ，100μＨ，１mH，
10mH……、Ｃについては10pF，100pF，１nF，10nF……
などである。この場合、被測定体の定格値は一般に既知
であるから、それに適合したレンジを設定する。例えば
コンデンサの容量測定の場合、定格値が２nFであれば測
定レンジは１−１０ｎとする。オートレンジの場合に
は装置が適合レンジを自動的に設定するようになってい
る。
上記従来のＬＣＲメータにおいては、通常、被測定体が
有するＬ，Ｃ，Ｒ等の定格値を目安にして電流／電圧変
換器に接続された検出用のレンジ抵抗を切り換えるよう
にしている。したがって例えば測定周波数が１桁違う
と、同一レンジ内であっても被測定体によりそのインピ
ーダンスの最大値と最小値の比が100倍の大きさとなる
ことがある。
有するＬ，Ｃ，Ｒ等の定格値を目安にして電流／電圧変
換器に接続された検出用のレンジ抵抗を切り換えるよう
にしている。したがって例えば測定周波数が１桁違う
と、同一レンジ内であっても被測定体によりそのインピ
ーダンスの最大値と最小値の比が100倍の大きさとなる
ことがある。
一例としてコンデンサの容量測定の場合を第11図により
説明すると、横軸は周波数、縦軸はコンデンサのリアク
タンス（以下、「インピーダンス」と総称する。）、斜
線(イ)、(ロ)はそれぞれ容量Ｃ1及びＣ2を有するコンデン
サのインピーダンス／周波数特性を表すものとし、横軸
と縦軸を対数目盛にするとコンデンサのインピーダンス
変化は図示のように直線で示すことができる。
説明すると、横軸は周波数、縦軸はコンデンサのリアク
タンス（以下、「インピーダンス」と総称する。）、斜
線(イ)、(ロ)はそれぞれ容量Ｃ1及びＣ2を有するコンデン
サのインピーダンス／周波数特性を表すものとし、横軸
と縦軸を対数目盛にするとコンデンサのインピーダンス
変化は図示のように直線で示すことができる。
同図において、例えば測定レンジをレンジＣ２、測定周
波数を1に設定したとすると、周波数1における容量
Ｃ1のインピーダンス（点Ａ）はＺ1で、容量Ｃ2のイン
ピーダンス（点Ｂ）はＺ2である。
波数を1に設定したとすると、周波数1における容量
Ｃ1のインピーダンス（点Ａ）はＺ1で、容量Ｃ2のイン
ピーダンス（点Ｂ）はＺ2である。
ここで、例えば容量Ｃ2の値が容量Ｃ1の10倍、すなわち
Ｃ2＝Ｃ1×10とすると、インピーダンスに関しては、Ｚ
2＝Ｚ1／10となることは明らかである。
Ｃ2＝Ｃ1×10とすると、インピーダンスに関しては、Ｚ
2＝Ｚ1／10となることは明らかである。
次に、測定周波数を上記1の10倍の周波数2に設定
し、同様に容量Ｃ1，Ｃ2のインピーダンスを測定する
と、点Ｃにおける容量Ｃ1のインピーダンスＺ2′は上記
点ＡにおけるインピーダンスＺ1の１／10、すなわち
Ｚ2′＝Ｚ2となる。同様にして、点Ｄにおける容量Ｃ2
のインピーダンスＺ3′は上記点Ｂにおけるインピーダ
ンスＺ2の１／10、すなわちＺ3′＝Ｚ3となる。
し、同様に容量Ｃ1，Ｃ2のインピーダンスを測定する
と、点Ｃにおける容量Ｃ1のインピーダンスＺ2′は上記
点ＡにおけるインピーダンスＺ1の１／10、すなわち
Ｚ2′＝Ｚ2となる。同様にして、点Ｄにおける容量Ｃ2
のインピーダンスＺ3′は上記点Ｂにおけるインピーダ
ンスＺ2の１／10、すなわちＺ3′＝Ｚ3となる。
よって、同一レンジＣ２内であっても測定周波数が１桁
異なると、点Ａ近傍と点Ｄ近傍におけるコンデンサのイ
ンピーダンスはその大きさの比がほぼ100倍となる。し
たがって、例えば周波数1の測定用定電流にて容量Ｃ1
を測定した場合、点ＡのインピーダンスＺ1に発生する
電圧は、周波数2の同一レベルの測定用電流にて容量
Ｃ2を測定したとき、点Ｄにおけるそのインピーダンス
Ｚ3に発生する電圧の100倍となる。また、例えば周波数
1の定電圧で容量Ｃ1を測定した場合に流れる電流は、
周波数2の同一レベルの定電圧で容量Ｃ2を測定した場
合に流れる電流の１／100になることも容易にわかる。
異なると、点Ａ近傍と点Ｄ近傍におけるコンデンサのイ
ンピーダンスはその大きさの比がほぼ100倍となる。し
たがって、例えば周波数1の測定用定電流にて容量Ｃ1
を測定した場合、点ＡのインピーダンスＺ1に発生する
電圧は、周波数2の同一レベルの測定用電流にて容量
Ｃ2を測定したとき、点Ｄにおけるそのインピーダンス
Ｚ3に発生する電圧の100倍となる。また、例えば周波数
1の定電圧で容量Ｃ1を測定した場合に流れる電流は、
周波数2の同一レベルの定電圧で容量Ｃ2を測定した場
合に流れる電流の１／100になることも容易にわかる。
このため従来のＬＣＲメータにおいては、測定周波数を
微細に変化させて測定しようとすると、測定系全般にわ
たり直線性に優れた40ｄＢのダイナミックレンジを必要
とするが、温度変化等の周囲条件を考慮すると回路が一
般に高価格となる。また、上記のように測定信号に対す
る応答信号が小さくなると、ディジタル変換した場合の
有効ビットが比較的下位に存在し、分解能が低下するた
め以後の演算処理における誤差が無視できない値に増大
する。
微細に変化させて測定しようとすると、測定系全般にわ
たり直線性に優れた40ｄＢのダイナミックレンジを必要
とするが、温度変化等の周囲条件を考慮すると回路が一
般に高価格となる。また、上記のように測定信号に対す
る応答信号が小さくなると、ディジタル変換した場合の
有効ビットが比較的下位に存在し、分解能が低下するた
め以後の演算処理における誤差が無視できない値に増大
する。
この場合、10倍ステップで設定されている測定レンジＣ
１，Ｃ２等を、周波数を変えたときそれぞれ検出抵抗も
切り換え、例えば３分割して３倍ステップのレンジにす
ると、同一レンジ内ではインピーダンスの最大／最小の
比を30：１に減少させることができる。しかし切換回路
が３倍になるなど装置が大形化するとともにコストアッ
プを招き、いずれにしても好ましくない。
１，Ｃ２等を、周波数を変えたときそれぞれ検出抵抗も
切り換え、例えば３分割して３倍ステップのレンジにす
ると、同一レンジ内ではインピーダンスの最大／最小の
比を30：１に減少させることができる。しかし切換回路
が３倍になるなど装置が大形化するとともにコストアッ
プを招き、いずれにしても好ましくない。
この発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的
は、測定周波数によるインピーダンスの変化が例えば10
倍を超えないレンジを選択して測定するようにした高精
度で、かつ、広帯域のＬＣＲメータを提供することにあ
る。
は、測定周波数によるインピーダンスの変化が例えば10
倍を超えないレンジを選択して測定するようにした高精
度で、かつ、広帯域のＬＣＲメータを提供することにあ
る。
第１図に示されている実施例を参照すると、上記の問題
点を解決するため、この発明によるＬＣＲメータは例え
ば被測定体２のインピーダンスＺXに応じて切り換えら
れる電流検出用抵抗（以下、「基準抵抗」と言う。）Ｒ
S1ないしＳSnを有するレンジ設定器５と、上記被測定体
２のインピーダンスＺXを求めるインピーダンス演算手
段14と、上記インピーダンスＺXと基準抵抗ＲSの大きさ
の差に関連したデータを有する桁移動データ保持手段15
と、インピーダンス演算手段14にて得られたインピーダ
ンスＺXの値と上記桁移動データとにより、インピーダ
ンスの比が10：１を超えない範囲で測定するように測定
桁を調整する桁調整手段16、及び求めたインピーダンス
ＺXを測定範囲に含むレンジを選択する測定範囲検出手
段17とを備え、この桁調整手段16又は測定範囲検出手段
17からの桁制御出力により、レンジ切換手段18を介して
上記レンジ設定器５の基準抵抗ＲSが最適値に切り換え
られるようになっている。
点を解決するため、この発明によるＬＣＲメータは例え
ば被測定体２のインピーダンスＺXに応じて切り換えら
れる電流検出用抵抗（以下、「基準抵抗」と言う。）Ｒ
S1ないしＳSnを有するレンジ設定器５と、上記被測定体
２のインピーダンスＺXを求めるインピーダンス演算手
段14と、上記インピーダンスＺXと基準抵抗ＲSの大きさ
の差に関連したデータを有する桁移動データ保持手段15
と、インピーダンス演算手段14にて得られたインピーダ
ンスＺXの値と上記桁移動データとにより、インピーダ
ンスの比が10：１を超えない範囲で測定するように測定
桁を調整する桁調整手段16、及び求めたインピーダンス
ＺXを測定範囲に含むレンジを選択する測定範囲検出手
段17とを備え、この桁調整手段16又は測定範囲検出手段
17からの桁制御出力により、レンジ切換手段18を介して
上記レンジ設定器５の基準抵抗ＲSが最適値に切り換え
られるようになっている。
上記の構成により、測定周波数を連続変化させた場合で
もレンジ設定器５には、被測定体２のインピーダンスＺ
Xに対してその大きさの比が10：１を超えない値の基準
抵抗が切り換え可能に設定され、高精度のＬ，Ｃ，Ｒ測
定ができる。
もレンジ設定器５には、被測定体２のインピーダンスＺ
Xに対してその大きさの比が10：１を超えない値の基準
抵抗が切り換え可能に設定され、高精度のＬ，Ｃ，Ｒ測
定ができる。
第２図に示されるように、例えば容量Ｃを有するコンデ
ンサのインピーダンスが周波数においてＺｃであると
すると、そのｎ倍の周波数ｎにおいてはＺｃ／ｎとな
り、インダンタンスＬを有するコイル等のインピーダン
スが周波数においてＺLであったとすると、周波数ｎ
においてはＺLＸnとなる。
ンサのインピーダンスが周波数においてＺｃであると
すると、そのｎ倍の周波数ｎにおいてはＺｃ／ｎとな
り、インダンタンスＬを有するコイル等のインピーダン
スが周波数においてＺLであったとすると、周波数ｎ
においてはＺLＸnとなる。
この場合、横軸の周波数と縦軸のインピーダンスをそれ
ぞれ対数目盛にすると、容量ＣとインダクタンスＬのイ
ンピーダンス／周波数特性は図示のように直線で表すこ
とができる。ここで、例えばコイルのインピーダンスＺ
LないしｎＺLの値の逆数（アドミッタンス）をとって結
ぶとその直線の傾斜が反転し、コンデンサのインピーダ
ンス／周波数特性を表す直線と平行になり、同一特性と
なることが知られている。よってインダクタンス測定の
場合には、そのインピーダンスの逆数を用いることによ
りコンデンサの場合と同一手段にて測定できるから、以
下、被測定体がコンデンサの場合について述べることに
し、コイル等の場合については説明を省略する。
ぞれ対数目盛にすると、容量ＣとインダクタンスＬのイ
ンピーダンス／周波数特性は図示のように直線で表すこ
とができる。ここで、例えばコイルのインピーダンスＺ
LないしｎＺLの値の逆数（アドミッタンス）をとって結
ぶとその直線の傾斜が反転し、コンデンサのインピーダ
ンス／周波数特性を表す直線と平行になり、同一特性と
なることが知られている。よってインダクタンス測定の
場合には、そのインピーダンスの逆数を用いることによ
りコンデンサの場合と同一手段にて測定できるから、以
下、被測定体がコンデンサの場合について述べることに
し、コイル等の場合については説明を省略する。
上記第１図のレンジ設定器５を含む入力部が第３図に示
されている。
されている。
この第３図において、信号源１からインピーダンスＺX
を有する被測定体２に測定用電圧ＶVが加えられたもの
とすると、この電圧ＶVは例えば電圧検出器３にて検出
される。
を有する被測定体２に測定用電圧ＶVが加えられたもの
とすると、この電圧ＶVは例えば電圧検出器３にて検出
される。
上記電圧ＶVにより被測定体２に流れる電流をＩとする
と、 ＝V／X……(1) である。
と、 ＝V／X……(1) である。
電流／電圧変換器４に接続されたレンジ設定器５の基準
抵抗Ｒsi（ｉ＝１，２，……ｎ）には、上記電流Ｉを打
ち消すための帰還電流−Ｉが流され、電流／電圧変換器
４の出力側にはこの電流−Ｉに比例した大きさの電圧Ｖ
Iが発生する。
抵抗Ｒsi（ｉ＝１，２，……ｎ）には、上記電流Ｉを打
ち消すための帰還電流−Ｉが流され、電流／電圧変換器
４の出力側にはこの電流−Ｉに比例した大きさの電圧Ｖ
Iが発生する。
すなわちI ＝−×Ｒsm……(2) 式(1)と(2)から、被測定体２のインピーダンスＺXはX ＝（V／I）Ｒsm……(3) となる。ただし、−符号は省略してある。
式(3)において、基準抵抗Ｒsmは既知の値であるから、
２つの電圧信号VとIを例えばそれぞれ電圧検出器３
と電流／電圧変換器４の後段に設けられたＡＣ／ＤＣ変
換器６，７にて直流化し、Ａ／Ｄコンバータ13を介して
ディジタル変換されたデータをインピーダンス演算手段
14によって算出すれば、上記式(3)のインピーダンスＺX
の大きさが求まる。
２つの電圧信号VとIを例えばそれぞれ電圧検出器３
と電流／電圧変換器４の後段に設けられたＡＣ／ＤＣ変
換器６，７にて直流化し、Ａ／Ｄコンバータ13を介して
ディジタル変換されたデータをインピーダンス演算手段
14によって算出すれば、上記式(3)のインピーダンスＺX
の大きさが求まる。
Ｌ，Ｃ，Ｒの測定は次のようにして行われる。被測定体
２が容量Ｃを有するコンデンサの場合、例えばリード線
等の抵抗成分Ｒを考慮すると、その等価回路は一般に第
４図(A)に示されるようになり、等価直列インピーダン
スＺXCはXC ＝Ｒ−ｊ（１／ωＣ）………(4) で表される。
２が容量Ｃを有するコンデンサの場合、例えばリード線
等の抵抗成分Ｒを考慮すると、その等価回路は一般に第
４図(A)に示されるようになり、等価直列インピーダン
スＺXCはXC ＝Ｒ−ｊ（１／ωＣ）………(4) で表される。
また、各インピーダンスの大きさについては例えば第４
図(B)に示されるように、 Ｒ＝ＺXCcosθ…………………(5) １／ωＣ＝ＺXCsinθ…………(6a) である。
図(B)に示されるように、 Ｒ＝ＺXCcosθ…………………(5) １／ωＣ＝ＺXCsinθ…………(6a) である。
ここで、θは遅れ位相角を示し θ＝tan-1（１／ωＣＲ） であり、このθの値を測定すれば上式(5)，(6a)により
ＬＣＲ演算手段１９において、Ｒ，Ｃの値が求められ
る。
ＬＣＲ演算手段１９において、Ｒ，Ｃの値が求められ
る。
位相角θの測定は次のようにして行われる。電圧検出器
３にて検出された測定用電圧ＶVは、例えば自動利得制
御器８により一定レベルＡOを有する電圧信号にされ
る。それを例えば ＶV＝ＡOsinωｔ…………………(7) とする。
３にて検出された測定用電圧ＶVは、例えば自動利得制
御器８により一定レベルＡOを有する電圧信号にされ
る。それを例えば ＶV＝ＡOsinωｔ…………………(7) とする。
電流／電圧変換器４にて変換された電流成分を表す電圧
ＶIも同様に、自動利得制御器９にて上記電圧信号ＶVと
同一の一定レベルにされる。それを ＶI＝ＡOsin（ωｔ−θ）………(8) とする。
ＶIも同様に、自動利得制御器９にて上記電圧信号ＶVと
同一の一定レベルにされる。それを ＶI＝ＡOsin（ωｔ−θ）………(8) とする。
ここで、θは基準とする電圧信号ＶVに対しての遅れ位
相角を表すものとする。
相角を表すものとする。
上記２つの電圧信号ＶVとＶIは例えば引算器10に加えら
れ、次のようにアナログ演算される。
れ、次のようにアナログ演算される。
ＶV−ＶI＝ＡOsinωｔ−ＡOsin（ωｔ−θ）＝２ＡOsin
（θ／２）sin（ωｔ−θ／２） この演算出力を例えばＡＣ／ＤＣ変換器18にて直流に変
換すると、位相角θの１／２のsinに比例した電圧が得
られる。
（θ／２）sin（ωｔ−θ／２） この演算出力を例えばＡＣ／ＤＣ変換器18にて直流に変
換すると、位相角θの１／２のsinに比例した電圧が得
られる。
すなわち ＶV−ＶI＝２ＡOｋsin（θ／２）……(9) ただし、ｋは回路形式によって定まる既知の比例定数で
ある。
ある。
よって、この直流電圧をＡ／Ｄコンバータ13にてディジ
タル変換し、インピーダンス演算手段14にてＶV−ＶIを
演算すればθが求まる。
タル変換し、インピーダンス演算手段14にてＶV−ＶIを
演算すればθが求まる。
この場合、位相角θはその絶対値｜θ｜で求まるので、
＋，−の進み遅れ位相については例えば自得利得制御器
８，９の出力を位相比較器12に入力し、その＋，−の出
力をディジタル変換したのちインピーダンス演算手段14
を介してＬＣＲ演算手段19へ与えるようになっている。
＋，−の進み遅れ位相については例えば自得利得制御器
８，９の出力を位相比較器12に入力し、その＋，−の出
力をディジタル変換したのちインピーダンス演算手段14
を介してＬＣＲ演算手段19へ与えるようになっている。
なお、被測定体２がインダクタンスＬを有するコイル等
の場合には、第５図(A)及び第５図(B)に示されるよう
に、その等価直列インピーダンスＺXLは例えばXL ＝Ｒ＋ｊωＬ で、各インピーダンスの大きさについては Ｒ＝ＺXLcosθ ωＬ＝ＺXLsinθ である。
の場合には、第５図(A)及び第５図(B)に示されるよう
に、その等価直列インピーダンスＺXLは例えばXL ＝Ｒ＋ｊωＬ で、各インピーダンスの大きさについては Ｒ＝ＺXLcosθ ωＬ＝ＺXLsinθ である。
よって、インダクタンスＬは上式から Ｌ＝ＺXL（sinθ）／ω となる。この場合、θは進み位相角を表し θ＝tan-1（ωＬ／Ｒ） であり、θ，Ｒ，Ｌの測定は上記容量測定の場合と同様
なので、その説明は省略する。
なので、その説明は省略する。
第６図には、容量Ｃ1ないしＣ7をパラメータとしてコン
デンサのインピーダンス／周波数特性の一例が示されて
いる。
デンサのインピーダンス／周波数特性の一例が示されて
いる。
同図において、測定周波数帯域は例えば1〜6までと
し、この帯域内における測定可能な最大インピーダンス
をそれぞれＺX1及びＺX7とする。
し、この帯域内における測定可能な最大インピーダンス
をそれぞれＺX1及びＺX7とする。
ここで、例えば下限周波数1において最大インピーダ
ンスＺX1となる容量がＣ1であったとすると、この周波
数1の10倍、100倍、1000倍……の周波数2，3，
4……における容量Ｃ1のインピーダンスＺX2，X3，ＺX4
……は、上記第２図の説明で明らかなようにそれぞれ最
大インピーダンスＺX1の１／10，１／100，１／1000，
……となり、上限周波数6においてはそのインピーダ
ンスがＺX6となる。
ンスＺX1となる容量がＣ1であったとすると、この周波
数1の10倍、100倍、1000倍……の周波数2，3，
4……における容量Ｃ1のインピーダンスＺX2，X3，ＺX4
……は、上記第２図の説明で明らかなようにそれぞれ最
大インピーダンスＺX1の１／10，１／100，１／1000，
……となり、上限周波数6においてはそのインピーダ
ンスがＺX6となる。
上記容量Ｃ1より10倍ステップで大きい容量Ｃ2，Ｃ3…
…のインピーダンスは、周波数が10倍ステップで高くな
るにしたがいそれぞれ同様に１／10ステップで低くな
り、点Ｐ，Ｑ，Ｒ，Ｓを結ぶ直線で囲まれた範囲内の容
量がこの周波数帯域で測定可能となる。抵抗について
は、例えばＰ，Ｐ′，Ｒ，Ｓを結ぶ直線で囲まれた範囲
のインピーダンスに相当する値の抵抗が測定可能とな
る。
…のインピーダンスは、周波数が10倍ステップで高くな
るにしたがいそれぞれ同様に１／10ステップで低くな
り、点Ｐ，Ｑ，Ｒ，Ｓを結ぶ直線で囲まれた範囲内の容
量がこの周波数帯域で測定可能となる。抵抗について
は、例えばＰ，Ｐ′，Ｒ，Ｓを結ぶ直線で囲まれた範囲
のインピーダンスに相当する値の抵抗が測定可能とな
る。
これらのインピーダンスを測定するに当り、上記第３図
に示されている基準抵抗ＲS1は、例えば ＺX2ＲS1＜ＺX1 すなわち ＺX1／10ＲS1＜ＺX1 であるようにその値が設定され、以下、ＲS2，ＲS3，…
…については ＲS2＝ＲS1／10 ＲS3＝ＲS2／10（＝ＲS1／102） ＲS4＝ＲS3／10（＝ＲS1／103） のように１／10ステップでその値が定められている。
に示されている基準抵抗ＲS1は、例えば ＺX2ＲS1＜ＺX1 すなわち ＺX1／10ＲS1＜ＺX1 であるようにその値が設定され、以下、ＲS2，ＲS3，…
…については ＲS2＝ＲS1／10 ＲS3＝ＲS2／10（＝ＲS1／102） ＲS4＝ＲS3／10（＝ＲS1／103） のように１／10ステップでその値が定められている。
このように基準抵抗の値を定めると、例えば容量Ｃ1の
周波数1におけるインピーダンスＺX1は、周波数が2
になるとＺX2まで下がり、その途中の周波数2′では
基準抵抗ＲS1と等しい値のインピーダンスＺS1（○印箇
所）となる。
周波数1におけるインピーダンスＺX1は、周波数が2
になるとＺX2まで下がり、その途中の周波数2′では
基準抵抗ＲS1と等しい値のインピーダンスＺS1（○印箇
所）となる。
ここで、上記式(3)を変形して電流／電圧変換器４の変
換利得Ｇを Ｇ＝ＶI／ＶV ＝Ｒsi／ＺX……………………(10) と表し、Ｒsi＝ＲS1とおくと に対応して となる。これを周波数の面から見ると に応じて となる。
換利得Ｇを Ｇ＝ＶI／ＶV ＝Ｒsi／ＺX……………………(10) と表し、Ｒsi＝ＲS1とおくと に対応して となる。これを周波数の面から見ると に応じて となる。
よって、周波数2′を検出する代わりに変換利得Ｇが
１、すなわちＶV＝ＶIになったことを検出して基準抵抗
ＲS1を１桁低い値に順次切り換えれば、測定周波数を広
範囲に、かつ、連続的に変化させた場合でも変換利得Ｇ
を0.1から１の範囲で、すなわち、被測定体のインピー
ダンス変化が１：10を超えない範囲で所定の測定を行う
ことができる。以下、容量Ｃ2，Ｃ3……についても同様
である。
１、すなわちＶV＝ＶIになったことを検出して基準抵抗
ＲS1を１桁低い値に順次切り換えれば、測定周波数を広
範囲に、かつ、連続的に変化させた場合でも変換利得Ｇ
を0.1から１の範囲で、すなわち、被測定体のインピー
ダンス変化が１：10を超えない範囲で所定の測定を行う
ことができる。以下、容量Ｃ2，Ｃ3……についても同様
である。
ここで、上記基準抵抗Ｒsiの設定条件 ＺX（ｉ−１）ＲsiＺxi において、例えば左辺の等号を適用し ＺX（ｉ−１）＝Ｒsi とおいて、計算上の値ＺX2ないしＺX7をそれぞれ実際の
基準抵抗ＲS1ないしＲS6に置き換えると、変換利得Ｇ＝
１となる中間の周波数2′，3′，……はそれぞれ
2，3，……となり、第７図に示されるように、第６図
と等価な見やすいインピーダンス／周波数特性図が得ら
れる。
基準抵抗ＲS1ないしＲS6に置き換えると、変換利得Ｇ＝
１となる中間の周波数2′，3′，……はそれぞれ
2，3，……となり、第７図に示されるように、第６図
と等価な見やすいインピーダンス／周波数特性図が得ら
れる。
第７図において、測定可能最大インピーダンスＺX1を例
えばＭΩ単位にて ＺX1＝Ａ〔ＭΩ〕 と表すことにする。ただし １Ａ＜10 とする。
えばＭΩ単位にて ＺX1＝Ａ〔ＭΩ〕 と表すことにする。ただし １Ａ＜10 とする。
また、最大基準抵抗ＲS1についても同様にＭΩ単位で表
し、 ＲS1＝Ｂ〔ＭΩ〕………………(11a) とする。ただし、Ｂは １Ｂ＜10………………(11b) なる一定値とする。
し、 ＲS1＝Ｂ〔ＭΩ〕………………(11a) とする。ただし、Ｂは １Ｂ＜10………………(11b) なる一定値とする。
このようにすると、基準抵抗ＲS2ないしＲS6については ＲS2＝Ｂ×10-1〔ＭΩ〕 ＲS3＝Ｂ×10-2〔ＭΩ〕 ＲS6＝Ｂ×10-5〔ＭΩ〕 となり、一般には Ｒsi＝Ｂ×10-(i-1)〔ＭΩ〕……(11) とおくことができる。ただし、ｉ＝１，２，……ｎであ
る。
る。
ここで、上記第７図の一部を抜すいした第８図におい
て、ある周波数における被測定容量ＣXの未知インピ
ーダンスＺXが例えば ＺX＝Ａ′×10-p〔ＭΩ〕…………(12) であったとする。ただし １Ａ′＜10………………………(12a) ０ｐ＜（ｉ−１）…………………(12a) とする。
て、ある周波数における被測定容量ＣXの未知インピ
ーダンスＺXが例えば ＺX＝Ａ′×10-p〔ＭΩ〕…………(12) であったとする。ただし １Ａ′＜10………………………(12a) ０ｐ＜（ｉ−１）…………………(12a) とする。
次に、式(3)を変形すると、変換電圧ＶIは ＶI＝ＶVＲsi／ＺX………………(13) となる。
式(11)と式(12)の値をそれぞれ式(13)に代入すると、 ＶI＝ＶVＢ×10-(i-1)／Ａ′10-p＝ＶV（Ｂ／Ａ′）10
p-(i-1)……(14) となる。左辺のＶVを左辺に移すと次式が得られる。
p-(i-1)……(14) となる。左辺のＶVを左辺に移すと次式が得られる。
ＶI／ＶV＝（Ｂ／Ａ′）10p-(i-1)…(14a) 上式の左辺は、式(10)により変換利得Ｇを表しているか
ら Ｇ＝（Ｂ／Ａ′）10p-(i-1)…………(15) とおくことができる。
ら Ｇ＝（Ｂ／Ａ′）10p-(i-1)…………(15) とおくことができる。
ここで、式(12b)によりｐ＜（ｉ−１）であるから、イ
ンピーダンスＺXと基準抵抗Ｒsiの大きさの関係はＲsi
＜ＺXとなり、変換利得ＧがＧ＜１になることは第６図
と式(10)の説明で述べたとおりである。
ンピーダンスＺXと基準抵抗Ｒsiの大きさの関係はＲsi
＜ＺXとなり、変換利得ＧがＧ＜１になることは第６図
と式(10)の説明で述べたとおりである。
よって、−ｑ＝ｐ−（ｉ−１）とおくと、式(15)より Ｇ＝（Ｂ／Ａ′）10-q＜１…………(15a) 式(15a)において、例えば基準抵抗Ｒsiを桁上げしてｑ
＝０、すなわちｐ＝（ｉ−１）となるようにすると Ｇ＝（Ｂ／Ａ′）＜１……………(15b) となる。
＝０、すなわちｐ＝（ｉ−１）となるようにすると Ｇ＝（Ｂ／Ａ′）＜１……………(15b) となる。
式(15b)のＢ，Ａ′は上記式(11b)と(12a)により １Ｂ＜10 １Ａ′＜10 であるから １／10＜Ｂ／Ａ′＜10 である。この式と式(15b)とから １／10＜Ｂ／Ａ′＜１…………(16) 又は １／10＜Ｇ＜１………………(16a) が得られる。
よって、式(16)を式(14a)に代入すると、測定電圧ＶVと
変換電圧ＶIの大きさの関係は、 ＶV／10＜ＶI＜ＶV………………(17) となり、式(16a)を式(3)に代入すると、被測定インピー
ダンスＺXと基準瀬抗Ｒsiの大きさの関係は、 ＺX／10＜Ｒsi＜ＺX………………(18) となる。
変換電圧ＶIの大きさの関係は、 ＶV／10＜ＶI＜ＶV………………(17) となり、式(16a)を式(3)に代入すると、被測定インピー
ダンスＺXと基準瀬抗Ｒsiの大きさの関係は、 ＺX／10＜Ｒsi＜ＺX………………(18) となる。
式(17)又は(18)を見ると、上記10のべき乗を表す桁指数
ｐと（ｉ−１）の差ｑが０となるように基準抵抗Ｒsiを
桁移動させることにより、測定電圧ＶVと変換電圧ＶI又
は被測定インピーダンスＺXと基準瀬抗Ｒsiの大きさを
同一桁内に合わせられることがわかる。言い換えると、
２つの電圧の割算ＶI／ＶV、又は抵抗とインピーダンス
の割算Ｒsi／ＺXを行った場合、例えば４桁表示におい
て最上位桁を有効数字となし得るので、高精度の測定デ
ータが得られることを意味している。
ｐと（ｉ−１）の差ｑが０となるように基準抵抗Ｒsiを
桁移動させることにより、測定電圧ＶVと変換電圧ＶI又
は被測定インピーダンスＺXと基準瀬抗Ｒsiの大きさを
同一桁内に合わせられることがわかる。言い換えると、
２つの電圧の割算ＶI／ＶV、又は抵抗とインピーダンス
の割算Ｒsi／ＺXを行った場合、例えば４桁表示におい
て最上位桁を有効数字となし得るので、高精度の測定デ
ータが得られることを意味している。
この実施例においては、桁合わせをする前の桁指数の差
ｑに対して、基準抵抗Ｒsiの桁移動数ｎを例えばｑが１
ならｎも１、ｑが３ならｎも３というように同じ数に設
定され、その一例が第９図に示されている。この場合、
桁移動方向は例えばｐ＜（ｉ−１）で桁指数差ｑがｑ＝
ｐ−（ｉ−１）＜０、すなわち負の値−ｑならば基準抵
抗Ｒsiは桁上げされ、ｐ＞（ｉ−１）で桁指数差ｑ＝ｐ
−（ｉ−１）＞０、すなわち正の値の場合には桁下げさ
れるようになっている。
ｑに対して、基準抵抗Ｒsiの桁移動数ｎを例えばｑが１
ならｎも１、ｑが３ならｎも３というように同じ数に設
定され、その一例が第９図に示されている。この場合、
桁移動方向は例えばｐ＜（ｉ−１）で桁指数差ｑがｑ＝
ｐ−（ｉ−１）＜０、すなわち負の値−ｑならば基準抵
抗Ｒsiは桁上げされ、ｐ＞（ｉ−１）で桁指数差ｑ＝ｐ
−（ｉ−１）＞０、すなわち正の値の場合には桁下げさ
れるようになっている。
この実施例においては、表示器２１の最大表示数が例え
ば1999にされているので、表示範囲としては200-1999が
標準となっており、各測定レンジは上記範囲に10iが乗
じられている。例えばインピーダンス測定レンジＲ３の
測定範囲が(0.200-1.999)×10-2ＭΩであるとすると、
レンジＲ４の測定範囲は(0.200-1.999)×10-3ＭΩにさ
れている。
ば1999にされているので、表示範囲としては200-1999が
標準となっており、各測定レンジは上記範囲に10iが乗
じられている。例えばインピーダンス測定レンジＲ３の
測定範囲が(0.200-1.999)×10-2ＭΩであるとすると、
レンジＲ４の測定範囲は(0.200-1.999)×10-3ＭΩにさ
れている。
したがって、上記第８図において周波数における容量
ＣXのインピーダンスＺXを測定する場合、例えば基準抵
抗が桁合わせ後ＲS4に設定されたとすると、インピーダ
ンスＺXの値Ａ′×10-2がレンジＲ３の測定範囲内にあ
るかどうかを確めるようになっている。この場合、ＺX
の値がレンジＲ３の上、下限値に対して 200100Ａ′1999 であればこのレンジにてインピーダンス測定が行われる
が、もし 100Ａ′2000 ならば基準抵抗ＲS4がＲS3に桁上げされ、上位レンジＲ
２にて測定される。また、 100Ａ′＜2000 ならば基準抵抗ＲS4がＲS5に桁下げされ、下位レンジＲ
４にて測定される。実際には下限値を190とし、下位レ
ンジの上限値とオーバラップさせてレンジ間に切れ目が
生じないようにしている。
ＣXのインピーダンスＺXを測定する場合、例えば基準抵
抗が桁合わせ後ＲS4に設定されたとすると、インピーダ
ンスＺXの値Ａ′×10-2がレンジＲ３の測定範囲内にあ
るかどうかを確めるようになっている。この場合、ＺX
の値がレンジＲ３の上、下限値に対して 200100Ａ′1999 であればこのレンジにてインピーダンス測定が行われる
が、もし 100Ａ′2000 ならば基準抵抗ＲS4がＲS3に桁上げされ、上位レンジＲ
２にて測定される。また、 100Ａ′＜2000 ならば基準抵抗ＲS4がＲS5に桁下げされ、下位レンジＲ
４にて測定される。実際には下限値を190とし、下位レ
ンジの上限値とオーバラップさせてレンジ間に切れ目が
生じないようにしている。
なお、上記容量ＣXの周波数におけるインピーダンス
ＺXが正規のレンジＲ３で測定されたとしても、測定周
波数がから′に変った場合にはレンジＲ３の下限値
を下回るので、第６図及び第７図の説明で述べたように
基準抵抗がＲS5に切り換えられ、上記同様にレンジＲ４
へ桁下げされる。
ＺXが正規のレンジＲ３で測定されたとしても、測定周
波数がから′に変った場合にはレンジＲ３の下限値
を下回るので、第６図及び第７図の説明で述べたように
基準抵抗がＲS5に切り換えられ、上記同様にレンジＲ４
へ桁下げされる。
容量ＣX1，ＣX2の周波数におけるインピーダンス
ＺX1，ＺX2についても上記同様に桁合わせ後、上、下限
値との比較がなされ、適合レンジが選択される。この場
合、図示が適合レンジであったとすると、インピーダン
スＺX1，ＺX2はそれぞれレンジＲ３とレンジＲ４にて測
定される。容量については、ＣX1とＣX2は例えばレンジ
Ｃ３にて測定され、ＣX1の容量値はレンジＣ２にて測定
される。この実施例においては容量レンジの選択はＬＣ
Ｒ演算手段21にて行われ、例えば測定値に対して小数点
の移置変更、又は10のベキ乗を変えることによりレンジ
アップ、レンジダウンがなされるようになっている。し
たがってこの場合、基準抵抗の切り換えは行われない。
ＺX1，ＺX2についても上記同様に桁合わせ後、上、下限
値との比較がなされ、適合レンジが選択される。この場
合、図示が適合レンジであったとすると、インピーダン
スＺX1，ＺX2はそれぞれレンジＲ３とレンジＲ４にて測
定される。容量については、ＣX1とＣX2は例えばレンジ
Ｃ３にて測定され、ＣX1の容量値はレンジＣ２にて測定
される。この実施例においては容量レンジの選択はＬＣ
Ｒ演算手段21にて行われ、例えば測定値に対して小数点
の移置変更、又は10のベキ乗を変えることによりレンジ
アップ、レンジダウンがなされるようになっている。し
たがってこの場合、基準抵抗の切り換えは行われない。
上記第１図において、ＺX演算手段14ないしＬＣＲ演算
手段19を例えばマイクロコンピュータ22に置き換えても
よく、その場合の制御動作の一例が第10図に示されてい
る。
手段19を例えばマイクロコンピュータ22に置き換えても
よく、その場合の制御動作の一例が第10図に示されてい
る。
この実施例においては、測定可能最大インピーダンスを
ＭΩ単位で表し、それを基準にして基準抵抗Ｒsiを定め
た場合の例が示されているが、例えば測定可能最小イン
ピーダンスをΩ単位で表し、それを基準にして基準抵抗
Ｒsiを設定してもよい。
ＭΩ単位で表し、それを基準にして基準抵抗Ｒsiを定め
た場合の例が示されているが、例えば測定可能最小イン
ピーダンスをΩ単位で表し、それを基準にして基準抵抗
Ｒsiを設定してもよい。
また、電流／電圧変換器４にレンジ設定用抵抗を設けた
電圧測定法について説明されているが、電流測定法によ
る場合には、その電圧検出に上記の方法を応用してもよ
い。なお、電流／電圧変換器４の変換利得Ｇを、0.1
Ｇ１としたが、これは変換器の周波数特性を許容最大
値まで利用するためであって、もし測定帯域周波数に対
して変換器の周波数特性に十分余裕があれば、Ｇとし
てもさしつかえない。
電圧測定法について説明されているが、電流測定法によ
る場合には、その電圧検出に上記の方法を応用してもよ
い。なお、電流／電圧変換器４の変換利得Ｇを、0.1
Ｇ１としたが、これは変換器の周波数特性を許容最大
値まで利用するためであって、もし測定帯域周波数に対
して変換器の周波数特性に十分余裕があれば、Ｇとし
てもさしつかえない。
〔効果〕 以上、詳細に説明したように、この発明によるＬＣＲメ
ータは、被測定体に所定の測定用電圧を加え、その流れ
る電流を切り換え可能な基準抵抗を介して電圧に変換
し、この変換電圧と上記測定電圧とから被測定体のイン
ピーダンスを測定するＺX演算手段と、この測定インピ
ーダンスと上記基準抵抗との大きさの差に関連するデー
タを有する桁移動データ保持手段と、上記測定インピー
ダンスと桁移動データとにより基準抵抗の値を測定イン
ピーダンスと同一桁に桁合わせる桁調整手段、及び上記
測定データが所定の測定範囲内に入るようにレンジ選択
を行う測定範囲検出手段とを備え、上記桁調整手段もし
くは測定範囲検出手段からの制御出力にて上記基準抵抗
を最適値に切り換えるようにしている。
ータは、被測定体に所定の測定用電圧を加え、その流れ
る電流を切り換え可能な基準抵抗を介して電圧に変換
し、この変換電圧と上記測定電圧とから被測定体のイン
ピーダンスを測定するＺX演算手段と、この測定インピ
ーダンスと上記基準抵抗との大きさの差に関連するデー
タを有する桁移動データ保持手段と、上記測定インピー
ダンスと桁移動データとにより基準抵抗の値を測定イン
ピーダンスと同一桁に桁合わせる桁調整手段、及び上記
測定データが所定の測定範囲内に入るようにレンジ選択
を行う測定範囲検出手段とを備え、上記桁調整手段もし
くは測定範囲検出手段からの制御出力にて上記基準抵抗
を最適値に切り換えるようにしている。
したがってこのＬＣＲメータによれば、測定周波数を連
続的に変化させた場合でも測定系のダイナミックレンジ
が10倍（20ｄＢ）でればよく、このため高精度で、かつ
広帯域のＬＣＲ測定が可能である。なお、同期検波器な
どを必要としないので切換回路が簡単であり、装置の小
形化簡素化にも有利である。
続的に変化させた場合でも測定系のダイナミックレンジ
が10倍（20ｄＢ）でればよく、このため高精度で、かつ
広帯域のＬＣＲ測定が可能である。なお、同期検波器な
どを必要としないので切換回路が簡単であり、装置の小
形化簡素化にも有利である。
第１図ないし第10図はこの発明によるＬＣＲメータの実
施例に係り、第１図はその構成を示すブロック線図、第
２図はインピーダンス測定説明用の周波数特性図、第３
図は入力部の動作説明用回路図、第４図(A)、第４図(B)
及び第５図(A)、第５図(B)は被測定体の等価インピーダ
ンス説明図、第６図及び第７図は基準抵抗と測定レンジ
の説明図、第８図は測定の具体例説明図、第９図は桁合
わせ用データの説明図、第10図はマイクロコンピュータ
による制御動作の一例を示すフローチャート、第11図は
従来装置による測定例の説明図である。 図中、１は信号源、２は被測定体、３は電圧検出器、４
は電流／電圧変換器、５はレンジ設定器、14はインピー
ダンス演算手段、15は桁移動データ保持手段、16は桁調
整手段、17は測定範囲検出手段、18はＬＣＲ演算手段、
22はマイクロコンピュータである。
施例に係り、第１図はその構成を示すブロック線図、第
２図はインピーダンス測定説明用の周波数特性図、第３
図は入力部の動作説明用回路図、第４図(A)、第４図(B)
及び第５図(A)、第５図(B)は被測定体の等価インピーダ
ンス説明図、第６図及び第７図は基準抵抗と測定レンジ
の説明図、第８図は測定の具体例説明図、第９図は桁合
わせ用データの説明図、第10図はマイクロコンピュータ
による制御動作の一例を示すフローチャート、第11図は
従来装置による測定例の説明図である。 図中、１は信号源、２は被測定体、３は電圧検出器、４
は電流／電圧変換器、５はレンジ設定器、14はインピー
ダンス演算手段、15は桁移動データ保持手段、16は桁調
整手段、17は測定範囲検出手段、18はＬＣＲ演算手段、
22はマイクロコンピュータである。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定体に測定用信号を加え、レンジ設定
用の基準抵抗を介して得られる応答信号と上記測定用信
号とから上記被測定体のＬ，Ｃ，Ｒ成分を測定するＬＣ
Ｒメータにおいて、 上記測定用信号と応答信号とにより上記被測定体のイン
ピーダンスを測定するインピーダンス演算手段と、 上記インピーダンス測定値と上記基準抵抗との大きさの
差に関連する桁データにより上記基準抵抗の大きさを上
記インピーダンス測定値と同一桁に合わせる桁調整手段
と、 上記インピーダンス測定値により所定の測定範囲を有す
るレンジを選択する測定範囲検出手段と、 上記桁調整手段もしくは上記測定範囲検出手段からの制
御出力にて上記基準抵抗の最適値が切り換え設定される
レンジ設定器とを備えていることを特徴とするＬＣＲメ
ータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14041287A JPH0652282B2 (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | Ｌｃｒメ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14041287A JPH0652282B2 (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | Ｌｃｒメ−タ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63304173A JPS63304173A (ja) | 1988-12-12 |
| JPH0652282B2 true JPH0652282B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=15268132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14041287A Expired - Lifetime JPH0652282B2 (ja) | 1987-06-04 | 1987-06-04 | Ｌｃｒメ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0652282B2 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8839139B2 (en) | 2004-09-30 | 2014-09-16 | Microsoft Corporation | User interface for providing task management and calendar information |
| US9015624B2 (en) | 2004-08-16 | 2015-04-21 | Microsoft Corporation | Floating command object |
| US9015621B2 (en) | 2004-08-16 | 2015-04-21 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Command user interface for displaying multiple sections of software functionality controls |
| US9046983B2 (en) | 2009-05-12 | 2015-06-02 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Hierarchically-organized control galleries |
| US9098473B2 (en) | 2007-06-29 | 2015-08-04 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Accessing an out-space user interface for a document editor program |
| US9098837B2 (en) | 2003-06-26 | 2015-08-04 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Side-by-side shared calendars |
| US9223477B2 (en) | 2004-08-16 | 2015-12-29 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Command user interface for displaying selectable software functionality controls |
| US9338114B2 (en) | 2008-06-24 | 2016-05-10 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Automatic conversation techniques |
| US9513781B2 (en) | 2005-09-12 | 2016-12-06 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Expanded search and find user interface |
| US9542667B2 (en) | 2005-09-09 | 2017-01-10 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Navigating messages within a thread |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2583476Y2 (ja) * | 1991-10-31 | 1998-10-22 | 日置電機株式会社 | 電流−電圧変換回路 |
| ES2143411B1 (es) * | 1998-04-02 | 2000-12-16 | Univ Catalunya Politecnica | Metodo de medida y circuito electronico para ser utilizado en analizadores de impedancia comerciales para la medida de impedancia electrica de materiales. |
-
1987
- 1987-06-04 JP JP14041287A patent/JPH0652282B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9098837B2 (en) | 2003-06-26 | 2015-08-04 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Side-by-side shared calendars |
| US9015624B2 (en) | 2004-08-16 | 2015-04-21 | Microsoft Corporation | Floating command object |
| US9015621B2 (en) | 2004-08-16 | 2015-04-21 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Command user interface for displaying multiple sections of software functionality controls |
| US9223477B2 (en) | 2004-08-16 | 2015-12-29 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Command user interface for displaying selectable software functionality controls |
| US8839139B2 (en) | 2004-09-30 | 2014-09-16 | Microsoft Corporation | User interface for providing task management and calendar information |
| US9542667B2 (en) | 2005-09-09 | 2017-01-10 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Navigating messages within a thread |
| US9513781B2 (en) | 2005-09-12 | 2016-12-06 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Expanded search and find user interface |
| US9098473B2 (en) | 2007-06-29 | 2015-08-04 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Accessing an out-space user interface for a document editor program |
| US9338114B2 (en) | 2008-06-24 | 2016-05-10 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Automatic conversation techniques |
| US9046983B2 (en) | 2009-05-12 | 2015-06-02 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Hierarchically-organized control galleries |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63304173A (ja) | 1988-12-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0652282B2 (ja) | Ｌｃｒメ−タ | |
| GB1572088A (en) | Method of and apparatus for automatic measurement of impedance and other parameters with microprocessor calculation techniques | |
| US3248646A (en) | Location of cable faults by comparing a section of the faulted cable with a part of the section | |
| JPH077016B2 (ja) | 電圧測定器用分圧器 | |
| JPH07107720B2 (ja) | 抵抗遠隔送信器のタップ位置を決定する方法及びこの方法を実施するための回路装置 | |
| JP2003028900A (ja) | 非接触電圧測定方法およびその装置 | |
| JPH0652283B2 (ja) | Ｌｃｒメ−タ | |
| US2593175A (en) | Electric method and system for measuring impedance magnitude and phase angle | |
| AU695365B2 (en) | Electrical apparatus with wide dynamic range for monitoring and protecting electric power systems | |
| US4278932A (en) | A.C. Bridges | |
| WO2007034519A1 (en) | Method and apparatus for measuring capacity variations of a condenser | |
| JPS61110002A (ja) | 光学濃度／網点面積率測定装置における自動レンジ制御方法 | |
| KR900008302B1 (ko) | 디지탈 적산 전력계의 역률 측정회로 및 방법 | |
| JP2583476Y2 (ja) | 電流−電圧変換回路 | |
| JP4261002B2 (ja) | 交流電圧測定装置及び方法 | |
| GB2093292A (en) | Apparatus and methods for analogue-to-digital conversion and for deriving in-phase and quadrature components of voltage and current in an impedance | |
| JPS6027968Y2 (ja) | 交流電圧測定装置 | |
| CN117928362A (en) | AC bridge ratio measuring circuit for full-range measurement of differential capacitance sensor | |
| US2820195A (en) | Impedance measuring | |
| JPH06281678A (ja) | サンプリング式測定装置 | |
| SU1228021A1 (ru) | Измеритель параметров комплексных сопротивлений | |
| SU1196775A1 (ru) | Устройство дл измерени переменного напр жени | |
| SU840744A1 (ru) | Устройство дл измерени относи-ТЕльНОгО изМЕНЕНи пАРАМЕТРОВ КОМплЕКСНОгОСОпРОТиВлЕНи | |
| JP3073052B2 (ja) | インピーダンス測定器 | |
| JPH0316069Y2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |