JPH065131B2 - Clean room - Google Patents

Clean room

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JPH065131B2
JPH065131B2 JP61039900A JP3990086A JPH065131B2 JP H065131 B2 JPH065131 B2 JP H065131B2 JP 61039900 A JP61039900 A JP 61039900A JP 3990086 A JP3990086 A JP 3990086A JP H065131 B2 JPH065131 B2 JP H065131B2
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JP
Japan
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area
passage
clean room
track
region
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博司 原田
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Shimizu Construction Co Ltd
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Shimizu Construction Co Ltd
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    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F24HEATING; RANGES; VENTILATING
    • F24FAIR-CONDITIONING; AIR-HUMIDIFICATION; VENTILATION; USE OF AIR CURRENTS FOR SCREENING
    • F24F3/00Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems
    • F24F3/12Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling
    • F24F3/16Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling by purification, e.g. by filtering; by sterilisation; by ozonisation
    • F24F3/167Clean rooms, i.e. enclosed spaces in which a uniform flow of filtered air is distributed

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は、超LSI、IC等の製造分野で、製造する
環境を超高清浄に維持したい場合に必要なクリーンルー
ムに関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a clean room required in the field of manufacturing super LSIs, ICs, etc. when it is desired to maintain the manufacturing environment in ultra-high cleanliness.

「従来の技術」 一般に、半導体装置の製造工程、とりわけ半導体ウェハ
ー上に回路素子を形成する前工程では塵埃は大敵であ
り、作業雰囲気における清浄度がそのまま製品歩留まり
に結び付く。このため、この種の半導体装置の作業雰囲
気の高清浄化を図るために、クリーンルームが使用され
ており、例えば第3図ないし第5図に示すクリーンルー
ムが知られている。
"Prior Art" In general, dust is a major enemy in the manufacturing process of semiconductor devices, especially in the pre-process of forming circuit elements on a semiconductor wafer, and the cleanliness in the working atmosphere directly leads to the product yield. Therefore, a clean room is used in order to highly clean the working atmosphere of this type of semiconductor device, and for example, the clean room shown in FIGS. 3 to 5 is known.

第3図ないし第5図において、符号Kはクリーンルーム
であり、全体を外隔壁1によって外界と区画されてい
る。そして、この区画内の中央には通路部領域2が、ま
た該通路部領域2と直交するように装置部領域3,3,
…及び装置保全領域4,4,…がバックパネル5により
区画されて交互に設けられている。
In FIGS. 3 to 5, reference numeral K denotes a clean room, which is entirely separated from the outside by the outer partition wall 1. Then, the passage portion region 2 is provided at the center of the compartment, and the device portion regions 3, 3, so as to be orthogonal to the passage portion region 2.
, And device maintenance areas 4, 4, are partitioned by the back panel 5 and are alternately provided.

通路部領域2の天井には、この領域2に沿って、各装置
部領域3,3,…に前記半導体ウェハーを搬送する自動
搬送装置6が設置されている。
At the ceiling of the passage area 2, an automatic transfer device 6 is installed along the area 2 to transfer the semiconductor wafer to each of the device areas 3, 3, ....

各装置部領域3には、前記半導体の製造工程の一部分に
対応する半導体製造装置7,7,…が設置され、半導体
ウェハーが各装置部領域3で処理され、順次次の装置部
領域3へ搬送されるに従って、その製造工程も順次進行
されるような構成となっている。装置部領域3の通路部
領域2からの入口付近には、各装置部領域3間での工程
待ちをしている前記半導体ウェハーを一時的に貯蔵して
おくストッカー8、及び該ストッカー8から自動搬送装
置6に半導体ウェハーを供給するスタッカークレーン9
が設けられている。また、第5図に示すように、装置部
領域3内には、半導体製造装置7,7,…に沿って配設
された軌道10上を移動する、搬送及び半導体製造の作
業を行う多機能な自動搬送ロボット11が設置されてい
る場合もある。
A semiconductor manufacturing device 7, 7, ... Corresponding to a part of the semiconductor manufacturing process is installed in each device part region 3, a semiconductor wafer is processed in each device part region 3, and is sequentially transferred to the next device part region 3. As it is transported, its manufacturing process is sequentially advanced. In the vicinity of the entrance from the passage area 2 of the equipment area 3, a stocker 8 for temporarily storing the semiconductor wafers waiting for the process between the equipment areas 3 and an automatic stocker from the stocker 8 Stacker crane 9 for supplying semiconductor wafers to the transfer device 6
Is provided. Further, as shown in FIG. 5, in the device part region 3, a multi-function for carrying and carrying out the semiconductor manufacturing work, which moves on a track 10 arranged along the semiconductor manufacturing devices 7, 7 ,. In some cases, an automatic transfer robot 11 is installed.

装置部領域3には、その天井に主空調機(図示略)に連
通して給気ダクト12が配設され、ULPAフィルタも
しくはHEPAフィルタ13を介して装置部領域3に清
浄な空気を送風している。また、装置部領域3の半導体
装置7,7,…が設置されている部分の上方にも、UL
PAフィルタもしくはHEPAフィルタ13と装置保全
領域4に連通した排気ファン14とが取り付けられた給
気チャンバ15が設置され、装置保全領域4より吸気し
た空気を清浄化して装置部領域3に送風している。以上
の構成により、装置部領域3は、その内部が超高清浄度
に、また通路部領域2は高清浄度に保たれている。
An air supply duct 12 communicating with a main air conditioner (not shown) is provided on the ceiling of the device unit region 3, and clean air is blown to the device unit region 3 via a ULPA filter or a HEPA filter 13. ing. Further, the UL is also provided above the portion where the semiconductor devices 7, 7, ...
An air supply chamber 15 in which a PA filter or HEPA filter 13 and an exhaust fan 14 communicating with the device maintenance area 4 are attached is installed, and the air sucked from the device maintenance area 4 is cleaned and blown to the device part area 3. There is. With the above configuration, the inside of the device area 3 is maintained at an extremely high degree of cleanliness, and the passage area 2 is maintained at a high degree of cleanliness.

「発明が解決しようとする問題点」 ところで、前記従来のクリーンルームKは、通路部領域
2に直交して、半導体の製造工程の一部分に対応する装
置部領域3が設けられているため、各装置部領域3間で
の前記半導体ウェハーの搬送距離が長くなってしまい、
前記製造工程の合理化、短縮化が図りずらい、という欠
点があった。また、このクリーンルームKは、製品の変
化に対応してクリーンルームK内のレイアウトを自由に
変更することができるように、その内部に柱が無い構造
が要求され、クリーンルームK内の前記装置部領域3の
配置方法との兼合いから、その長さが100m、そして
幅方向の柱間のスパンが40〜50mにも達するような
平屋もしくは2階建の巨大建築物になってしまい、微振
動対策の観点から非常にコストのかかる建築物となって
しまう。従って、広い敷地の得やすい地価の安い地方都
市に立地条件が限られてしまうため、優秀な技術者を工
場の近郊で確保することが困難であり、また現在使用さ
れている工場を取り壊しても、このクリーンルームKを
構築するのに十分な敷地が得にくい、といった欠点もあ
った。
"Problems to be Solved by the Invention" In the conventional clean room K, since the device part region 3 corresponding to a part of the semiconductor manufacturing process is provided orthogonal to the passage part region 2, each device The transport distance of the semiconductor wafer between the partial regions 3 becomes long,
There is a drawback that it is difficult to rationalize and shorten the manufacturing process. In addition, this clean room K is required to have a structure without pillars inside so that the layout in the clean room K can be freely changed according to the change of the product, and the device part area 3 in the clean room K is required. In consideration of the arrangement method, the length of the building is 100m, and the span between columns in the width direction is 40 to 50m. From a point of view, it becomes a very expensive building. Therefore, it is difficult to secure excellent engineers in the suburbs of the factory because the location conditions are limited to a local city where the land price is easy to obtain and the land price is low, and even if the factory currently in use is demolished. However, there is also a drawback that it is difficult to obtain enough site to build this clean room K.

この発明は、製造工程の合理化、短縮化を図ることがで
き、かつ敷地面積が小さくて済み、多層化が可能なクリ
ーンルームを如何にして実現するかを問題にしている。
The present invention has an issue of how to realize a clean room capable of streamlining and shortening the manufacturing process, requiring a small site area, and capable of multi-layering.

「問題点を解決するための手段」 この発明は、超高清浄度が要求される装置部領域と、そ
の両側の、高清浄度が要求される通路部領域とを有する
とともに、前記装置部領域内にその通路部領域との境界
に沿って直線状に設けられた2ラインの軌道と、これら
軌道の延在方向における中間所定位置に設けられこれら
軌道間を連結させる分岐部と、前記軌道および分岐部を
走行する多機能な搬送装置とを具備し、前記軌道のそれ
ぞれの前記通路部領域側に軌道の延在方向に沿って製造
装置を配置してなり、前記装置部領域の上部に、超高清
浄化された清浄空気を下方に向けて供給する清浄空気供
給手段を設けるとともに、前記装置部領域及び通路部領
域の床面下に、装置部領域を経由した清浄空気を、通路
部領域に導くユーティリティ領域を設け、通路部領域の
上部に、清浄空気を回収する清浄空気回収手段を設けて
なることを特徴としている。
"Means for Solving Problems" The present invention has a device part region requiring ultra-high cleanliness and passage parts regions on both sides of the device part requiring high cleanliness. A two-line track provided linearly along the boundary with the passage part region, a branch part provided at a predetermined intermediate position in the extending direction of these tracks and connecting the tracks, the track, and A multifunctional conveying device that travels along a branch portion is provided, and a manufacturing device is arranged along the extending direction of the track on the side of each passage part region of the track, and above the device part region, A clean air supply means for supplying the ultra-cleaned clean air downward is provided, and the clean air that has passed through the device area is provided in the passage area below the floor of the device area and the passage area. Set up a utility area to guide It is characterized in that clean air collecting means for collecting clean air is provided above the passage area.

「作用」 この発明では、超高清浄度が要求される装置部領域を中
央に設け、その両側に高清浄度が要求される通路部領域
を設けるとともに、装置部領域内にその通路部領域との
境界に沿って直線状に軌道を2ライン設けて、これら軌
道のそれぞれの通路部領域側に軌道の延在方向に沿って
製造装置を配置している、すなわち両製造装置の間に軌
道を走行する搬送装置が位置することになるため、中央
の装置部領域とその両側の通路部領域とを区分すれば済
むことになる。また、軌道の延在方向における中間所定
位置にこれら軌道間を連結させる分岐部が設けられてい
るため、軌道の中間位置での搬送装置の軌道間移動がで
きる。さらに、清浄空気供給手段から排出された超高清
浄化された清浄空気は、超高清浄度が要求される装置部
領域を通過した後に、ユーティリティ領域によりそのま
ま高清浄度が要求される通路部領域を通過して清浄空気
回収手段により回収されることになる。
[Operation] In the present invention, the device part region requiring ultra-high cleanliness is provided in the center, the passage part regions requiring high cleanliness are provided on both sides thereof, and the passage part region is provided in the device part region. Two tracks are provided linearly along the boundary of the track, and the manufacturing equipment is arranged along the extending direction of the track on the passage area side of each of these tracks. Since the traveling transport device is located, it suffices to separate the central device part region and the passage part regions on both sides thereof. In addition, since the branch portion that connects the tracks is provided at a predetermined intermediate position in the extending direction of the track, the inter-track movement of the transfer device can be performed at the intermediate position of the track. Furthermore, the ultra-highly purified clean air discharged from the clean air supply means passes through the device section area where ultra-high cleanliness is required, and then passes through the passage area where high cleanliness is required by the utility area. It will pass and will be collected by the clean air recovery means.

「実施例」 以下、この発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
[Examples] Examples of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図ないし第2図は、この発明の一実施例であるクリ
ーンルームを示す図である。第1図ないし第2図におい
て、符号Kはクリーンルームであり、全体を外隔壁1に
よって外界と区画されている。そして、この区画内には
クリーンルームKの長さ方向に直線状に延在する装置部
領域3,3が、また該装置部領域3,3を囲繞するよう
に通路部領域2が、バックパネル5により区画されて設
けられている。
1 and 2 are views showing a clean room which is an embodiment of the present invention. In FIGS. 1 and 2, reference numeral K denotes a clean room, which is entirely partitioned from the outside by an outer partition wall 1. Then, in this compartment, the device part regions 3 and 3 extending linearly in the length direction of the clean room K, the passage part region 2 so as to surround the device part regions 3 and 3, and the back panel 5 are provided. It is divided and provided by.

各装置部領域3には、この領域3に沿って配設された直
線状の軌道10,10上を移動する、前記半導体ウェハ
ーの搬送及び製造作業を行う多機能な自動搬送ロボット
11,11,…が設置されている。装置部領域3内の2
本の軌道10,10間には、これらを連結する分岐部1
6,16,…が設けられている。装置部領域3には、そ
の軌道10,10に沿って、前記半導体の製造工程の一
部分に対応する半導体製造装置7,7,…が設置されて
いる。この半導体製造装置7,7,…は、前記半導体ウ
ェハーが、第1図において装置部領域3の左端より、軌
道10,10に沿ってこの装置部領域3内を一周するよ
うに順次搬送されるに従って、その製造工程も順次進行
されるような構成となっている。装置部領域3には、第
1図においてその左端に、各装置部領域3間での工程待
ちをしている半導体ウェハーを一時的に貯蔵しておくス
トッカー8が、また第1図においてその右端に、半導体
製造装置7,7,…のメンテナンス等の理由で人間が装
置部領域3内に入る時に用いるエアーシャワー17が、
装置部領域3に連通して設けられている。
In each device area 3, a multi-function automatic transfer robot 11, 11, which moves on a linear trajectory 10 arranged along the area 3 and carries out and manufactures the semiconductor wafer, ... is installed. 2 in device area 3
Between the track 10 of the book, the branching part 1 for connecting these
6, 16, ... Are provided. .. corresponding to a part of the semiconductor manufacturing process are installed in the device part region 3 along the tracks 10. In the semiconductor manufacturing apparatuses 7, 7, ..., The semiconductor wafers are sequentially transported from the left end of the apparatus section region 3 in FIG. According to the above, the manufacturing process is also sequentially advanced. In the equipment part region 3, a stocker 8 for temporarily storing semiconductor wafers waiting for the process between the equipment part regions 3 is provided at the left end in FIG. In addition, the air shower 17 used when a person enters the device area 3 for maintenance of the semiconductor manufacturing devices 7, 7 ,.
It is provided so as to communicate with the device section region 3.

クリーンルームKには、ストッカー8,8間を直線状に
連結して更にその両端が外隔壁1に至る半導体ウェハー
水平搬送装置18が設けられている。この水平搬送装置
18の両端部には、半導体ウェハーをこのクリーンルー
ムKがあるフロアとその上下のフロアとの間を搬送する
垂直搬送装置19が設けられている。また、クリーンル
ームKの外隔壁1及び装置部領域3,3間に挟まれた部
分の通路部領域2には、柱20,20,…が設置されて
いる。このクリーンルームKには、同様の構成を有する
クリーンルームKがその上下方向に連設されて、全体と
して多層化した構成とされている。
The clean room K is provided with a semiconductor wafer horizontal transfer device 18 in which the stockers 8 are linearly connected and both ends thereof reach the outer partition wall 1. At both ends of the horizontal transfer device 18, a vertical transfer device 19 is provided to transfer the semiconductor wafer between the floor in which the clean room K is located and the floors above and below the floor. Further, columns 20, 20, ... Are installed in the passage part region 2 of the part sandwiched between the outer partition wall 1 and the device part regions 3, 3 of the clean room K. A clean room K having the same structure is continuously provided in the clean room K in the vertical direction, and has a multilayer structure as a whole.

次に、クリーンルームKのより詳細な構造について説明
する。
Next, a more detailed structure of the clean room K will be described.

クリーンルームKには、第2図において、その天井版2
1と床版22との間の天井部分に、天井板23が設けら
れている。天井板23の装置部領域3の上部に相当する
部分には、主空調機(図示略)に連通して給気ダクト
(清浄空気供給手段)12が、また通路部領域2の上部
に相当する部分には、排気ダクト(清浄空気回収手段)
24が配設されている。天井板23には、給気ダクト1
2の下部に給気チャンバ15が設置されている。この給
気チャンバ15は、上方の給気ダクト12と連通すると
共に、給気チャンバ15の下部に設けられたULPAフ
ィルタもしくはHEPAフィルタ13を介して下方の空
間部と連通されている。また、給気チャンバ15には、
その天井板23との接続部に、通路部領域2と連通して
給気チャンバ15に送風するダンパ付の排気ファン14
が設置されている。
In the clean room K, as shown in FIG.
A ceiling plate 23 is provided at a ceiling portion between the floor 1 and the floor slab 22. An air supply duct (clean air supply means) 12 communicating with a main air conditioner (not shown) corresponds to a portion of the ceiling plate 23 corresponding to the upper portion of the device portion region 3, and also corresponds to an upper portion of the passage portion region 2. Exhaust duct (clean air collection means) in part
24 are provided. The ceiling board 23 has an air supply duct 1
An air supply chamber 15 is installed in the lower part of 2. The air supply chamber 15 communicates with the upper air supply duct 12, and also communicates with a lower space portion via a ULPA filter or a HEPA filter 13 provided in the lower portion of the air supply chamber 15. In addition, in the air supply chamber 15,
An exhaust fan 14 with a damper that communicates with the passage area 2 and blows air to the air supply chamber 15 at a connection portion with the ceiling plate 23.
Is installed.

一方、クリーンルームKの床部分には、床版22の上方
に有孔な床板25が設けられ、この床板25及び床版2
2の間にユーティリティ領域26を形成している。床板
25は、グレーチングもしくはパンチングメタル等の有
孔床27と、半導体製造装置7,7,…や通路部領域2
の床部に相当する部分にコンクリート製の固定床28と
を連結して構成されている。
On the other hand, the floor portion of the clean room K is provided with a perforated floor plate 25 above the floor plate 22.
A utility region 26 is formed between the two. The floor plate 25 includes a perforated floor 27 such as grating or punching metal, semiconductor manufacturing equipment 7, 7, ...
The fixed floor 28 made of concrete is connected to the portion corresponding to the floor of the above.

給気チャンバ15の下部とクリーンルームKの床板25
との間には、装置部領域3及び通路部領域2を区画する
バックパネル5が設けられている。ここで、半導体製造
装置7の幅が広い場合、バックパネル5の下端はこの半
導体製造装置7の上端までとなる。このバックパネル5
の下端部には、ダンパ付きのガラリにより構成されるバ
ックパネル排気口29が形成されている。また、給気チ
ャンバ15の下部には、照明器具30が配設されてい
る。
The lower part of the air supply chamber 15 and the floor plate 25 of the clean room K
A back panel 5 for partitioning the device part region 3 and the passage part region 2 is provided between and. Here, when the width of the semiconductor manufacturing apparatus 7 is wide, the lower end of the back panel 5 reaches the upper end of the semiconductor manufacturing apparatus 7. This back panel 5
A back panel exhaust port 29 configured by a gallery with a damper is formed at the lower end of the. Further, a lighting fixture 30 is arranged below the air supply chamber 15.

このクリーンルームKの装置部領域3及び通路部領域2
には、次のようにして清浄化された空気が送風される。
まず、図示されない主空調機から給気ダクト12を通じ
て送られてきた空気が、給気チャンバ15へ供給され
る。供給された空気は、ULPAフィルタもしくはHE
PAフィルタ13を通過して清浄化され、装置部領域3
内へ吹き出される。吹き出された空気の内の一部は、第
2図に示す矢印Aの方向に流れ、装置部領域3の有孔床
27を通過してユーティリティ領域26に達し、ここか
ら通路部領域2の有孔床27を通過して、通路部領域2
内に至る。また、その一部は、半導体製造装置7,7,
…の上端を通った後、第2図に示す矢印Bの方向に流
れ、バックパネル排気口29を通過して通路部領域2内
に至る。更に、その一部は、半導体製造装置7,7,…
の上端を通った後、第2図に示す矢印Cの方向に流れ、
装置部領域3の有孔床27を通過してユーティリティ領
域26に達し、第2図に示す矢印Aの方向の流れと合流
する。これらの空気の内の一部は、排気ファン14によ
り再度給気チャンバ15内に還流され、またその一部は
排気ダクト24によりクリーンルームKより排気され
る。これにより、装置部領域3は、その内部が超高清浄
度に、また通路部領域2は高清浄度に保たれている。
The device area 3 and the passage area 2 of this clean room K
The air cleaned as described below is blown into the air.
First, the air sent from the main air conditioner (not shown) through the air supply duct 12 is supplied to the air supply chamber 15. The supplied air is ULPA filter or HE.
After passing through the PA filter 13 and cleaned, the device part area 3
It is blown out inside. Some of the blown air flows in the direction of the arrow A shown in FIG. 2, passes through the perforated floor 27 of the equipment area 3 and reaches the utility area 26, from which the air of the passage area 2 is present. After passing through the hole floor 27, the passage area 2
Reach inside. In addition, a part of the semiconductor manufacturing equipment 7, 7,
After passing through the upper end of ..., It flows in the direction of arrow B shown in FIG. 2, passes through the back panel exhaust port 29, and reaches the inside of the passage portion region 2. Further, a part of the semiconductor manufacturing equipment 7, 7, ...
After passing through the upper end of, flow in the direction of arrow C shown in FIG.
It passes through the perforated floor 27 of the device area 3 to reach the utility area 26, and merges with the flow in the direction of arrow A shown in FIG. A part of the air is recirculated into the air supply chamber 15 by the exhaust fan 14, and a part of the air is exhausted from the clean room K by the exhaust duct 24. As a result, the inside of the device portion region 3 is kept at an extremely high degree of cleanliness, and the passage portion region 2 is kept at a high degree of cleanliness.

以上の構成を有するクリーンルームK内において、半導
体ウェハーは、まず垂直搬送装置19及び水平搬送装置
18により、一旦装置部領域3のストッカー8に貯蔵さ
れる。装置部領域3内の半導体製造装置7,7,…での
受入れ準備が完了した段階で、この半導体ウェハーは自
動搬送ロボット11により装置部領域3内に搬送され
る。半導体ウェハーは、第1図において装置部領域3の
左端より軌道10,10に沿ってこの装置部領域3内を
一周するように順次搬送され、また製造工程が進行され
てゆく。半導体ウェハーは、装置部領域3内を一周して
またその左端に至ると、再度ストッカー8内に貯蔵され
る。そして、この半導体ウェハーは、次の工程に相当す
る別の装置部領域3内の半導体製造装置7,7,…での
受入れ準備が終了した段階で、水平搬送装置18及び垂
直搬送装置19により、所定のストッカー8まで搬送さ
れる。
In the clean room K having the above configuration, the semiconductor wafer is first stored in the stocker 8 in the device unit area 3 by the vertical transfer device 19 and the horizontal transfer device 18. At the stage where preparations for acceptance have been completed in the semiconductor manufacturing apparatuses 7, 7, ... In the equipment area 3, the semiconductor wafer is transferred into the equipment area 3 by the automatic transfer robot 11. The semiconductor wafers are sequentially transported from the left end of the device part region 3 along the tracks 10, 10 so as to go around the device part region 3 in FIG. 1, and the manufacturing process proceeds. The semiconductor wafer is stored in the stocker 8 again when it goes around the inside of the apparatus region 3 and reaches the left end thereof. Then, at the stage when the preparation for receiving the semiconductor wafer in the semiconductor manufacturing equipment 7, 7, ... In another equipment area 3 corresponding to the next process is completed, the semiconductor wafer is transferred by the horizontal transfer device 18 and the vertical transfer device 19. It is conveyed to a predetermined stocker 8.

このようにして、この発明の一実施例であるクリーンル
ームK内で、半導体の製造が行なわれる。ここで、クリ
ーンルームKは、半導体ウェハーの搬送方向と製造工程
の進行方向が同一直線上に構成されているので、半導体
ウェハーの搬送距離が必要以上に長くならず、製造工程
の合理化、短縮化を図ることができる。また、装置部領
域3が一直線上に長く構成されているので、これと平行
して形成されている通路部領域2に柱20を前記従来に
比較して密度を高く自由に設けることが可能になる。即
ち、クリーンルームKを構成する建築物の構造的強度を
増すことができると共に、幅方向の柱間のスパンを短く
することが可能なため、結果としてクリーンルームKの
基準階面積を狭くして構成することができると共に、ク
リーンルームKの多層化を普通の微振動対策を行うだけ
で図ることができる。従って、敷地面積が狭くて済み、
多層化が可能なクリーンルームを実現することができる
ため、このクリーンルームKを地価が高い大都市近郊に
立地することが可能となり、従って工場近郊での優秀な
技術者の確保が容易となる。更に、装置部領域3内に多
機能な自動搬送ロボット11を設置したことにより、装
置部領域3内での製造工程を無人化することができる。
このため、装置部領域3はロボット11の通行するだけ
の領域を確保すれば十分であると共に、この装置部領域
3内での全発塵量が小さくなるので、超高清浄度を維持
するための設備が従来より小さくて済む。
In this way, the semiconductor is manufactured in the clean room K which is one embodiment of the present invention. Here, in the clean room K, since the semiconductor wafer transfer direction and the manufacturing process advancing direction are formed on the same straight line, the semiconductor wafer transfer distance does not become longer than necessary, and the manufacturing process is rationalized and shortened. Can be planned. Further, since the device portion region 3 is formed to be long in a straight line, it is possible to freely provide the columns 20 in the passage portion region 2 formed in parallel therewith with a higher density than in the conventional case. Become. That is, the structural strength of the building that constitutes the clean room K can be increased, and the span between the columns in the width direction can be shortened. As a result, the standard floor area of the clean room K can be narrowed. In addition, it is possible to make the clean room K multi-layered only by taking ordinary measures against microvibration. Therefore, the site area is small,
Since it is possible to realize a multi-layered clean room, it is possible to locate this clean room K in the suburbs of a large city with a high land price, and thus it becomes easy to secure excellent engineers in the suburbs of the factory. Furthermore, since the multifunctional automatic transfer robot 11 is installed in the device unit area 3, the manufacturing process in the device unit area 3 can be unmanned.
Therefore, it is sufficient to secure an area for the apparatus unit area 3 so that the robot 11 can pass therethrough, and the total amount of dust generated in the apparatus unit area 3 becomes small, so that an ultrahigh cleanliness is maintained The equipment can be smaller than before.

ここで、半導体製造装置7の故障、保全等のメンテナン
スの為に、人間が装置部領域3内に入る場合には、装置
部領域3に設けられたエアーシャワー17により、装置
部領域3内への塵埃の侵入を防ぐことができる。
Here, when a person enters the device unit area 3 for maintenance such as failure and maintenance of the semiconductor manufacturing apparatus 7, the air shower 17 provided in the device unit area 3 causes the person to enter the device unit area 3. It is possible to prevent the intrusion of dust.

なお、この発明によるクリーンルームは、前記実施例に
限定されない。即ち、クリーンルームK内での装置部領
域3のレイアウトは自由であり、例えば装置部領域3,
3をそのストッカーが対向するように配置しても良い。
また、装置部領域3の自動搬送ロボット11の進行方向
への長さも任意に設定可能であり、極言すれば、全工程
を1つの装置部領域3により受け持たせても良い。
The clean room according to the present invention is not limited to the above embodiment. That is, the layout of the device unit area 3 in the clean room K is free, and for example, the device unit area 3,
3 may be arranged so that the stockers face each other.
Further, the length of the apparatus unit area 3 in the traveling direction of the automatic transfer robot 11 can be arbitrarily set, and in a word, all the steps may be handled by one apparatus unit area 3.

「発明の効果」 以上詳細に説明したように、この発明によれば、超高清
浄度が要求される装置部領域を中央に設け、その両側に
高清浄度が要求される通路部領域を設けるとともに、装
置部領域内にその通路部領域との境界に沿って直線状に
軌道を2ライン設けて、これら軌道のそれぞれの通路部
領域側に軌道の延在方向に沿って製造装置を配置してい
る、すなわち両製造装置の間に軌道を走行する搬送装置
が位置することになるため、中央の装置部領域とその両
側の通路部領域とを区分すれば済むことになる。したが
って、区分の数が最小限で済む。
[Advantages of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, a device region that requires ultra-high cleanliness is provided in the center, and passage regions that require high cleanliness are provided on both sides thereof. At the same time, two lines of linear tracks are provided along the boundary with the passage part region in the device part region, and the manufacturing apparatus is arranged on each passage part region side of these tracks along the extending direction of the track. That is, since the transporting device that travels on the track is located between the two manufacturing devices, it suffices to separate the central device part region and the passage part regions on both sides thereof. Therefore, the number of divisions can be minimized.

また、軌道の延在方向における中間所定位置にこれら
軌道間を連結させる分岐部が設けられているため、軌道
の中間位置での搬送装置の軌道間移動ができる。
In addition, since the branch portion that connects the tracks is provided at a predetermined intermediate position in the extending direction of the track, the inter-track movement of the transfer device can be performed at the intermediate position of the track.

さらに、清浄空気供給手段から排出された超高清浄化さ
れた清浄空気は、超高清浄度が要求される装置部領域を
通過した後に、ユーティリティ領域によりそのまま高清
浄度が要求される通路部領域を通過して清浄空気回収手
段により回収されることになる。したがって、清浄空気
の使用の効率がよくなる。
Furthermore, the ultra-highly purified clean air discharged from the clean air supply means passes through the device area where ultra-high cleanliness is required, and then passes through the passage area where high-cleanliness is required by the utility area. It will pass and will be collected by the clean air recovery means. Therefore, the efficiency of using clean air is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の一実施例であるクリーンルームの平
面図、第2図は同断面図、第3図は従来のクリーンルー
ムの一例を示す平面図、第4図は同内部の透視図、第5
図は同内部の透視図である。 K……クリーンルーム 2……通路部領域、3……装置部領域、7……半導体製
造装置(製造装置)、11……自動搬送ロボット(搬送
装置)。
FIG. 1 is a plan view of a clean room according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of the same, FIG. 3 is a plan view showing an example of a conventional clean room, and FIG. 4 is a perspective view of the inside thereof. 5
The figure is a perspective view of the inside. K ... Clean room 2 ... Passage area, 3 ... Equipment area, 7 ... Semiconductor manufacturing equipment (manufacturing equipment), 11 ... Automatic transport robot (transport equipment).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】超高清浄度が要求される装置部領域と、そ
の両側の、高清浄度が要求される通路部領域とを有する
とともに、 前記装置部領域内にその通路部領域との境界に沿って直
線状に設けられた2ラインの軌道と、これら軌道の延在
方向における中間所定位置に設けられこれら軌道間を連
結させる分岐部と、前記軌道および分岐部を走行する多
機能な搬送装置とを具備し、 前記軌道のそれぞれの前記通路部領域側に軌道の延在方
向に沿って製造装置を配置してなり、 前記装置部領域の上部に、超高清浄化された清浄空気を
下方に向けて供給する清浄空気供給手段を設けるととも
に、前記装置部領域及び通路部領域の床面下に、装置部
領域を経由した清浄空気を、通路部領域に導くユーティ
リティ領域を設け、通路部領域の上部に、清浄空気を回
収する清浄空気回収手段を設けてなることを特徴とする
クリーンルーム。
1. A device part region that requires ultra-high cleanliness and passage part regions on both sides of the device part that require high cleanliness, and a boundary between the device part region and the passage part region. A two-line track linearly provided along the track, a branch part provided at a predetermined intermediate position in the extending direction of the track and connecting these tracks, and a multifunctional transport that runs the track and the branch part. A manufacturing device is arranged along the extending direction of the track on the side of the passage part region of each of the tracks, and an ultra-highly purified clean air is provided at the upper part of the device part region. And a utility area for guiding the clean air passing through the device section area to the passage section area under the floor of the apparatus section area and the passage section area. Clean sky at the top of Clean room, characterized by comprising providing a clean air recovery means for recovering.
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