JPS61133640A - Wafer carrying apparatus - Google Patents

Wafer carrying apparatus

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Publication number
JPS61133640A
JPS61133640A JP25551084A JP25551084A JPS61133640A JP S61133640 A JPS61133640 A JP S61133640A JP 25551084 A JP25551084 A JP 25551084A JP 25551084 A JP25551084 A JP 25551084A JP S61133640 A JPS61133640 A JP S61133640A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tunnel
carrier
clean
wafers
air
Prior art date
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Pending
Application number
JP25551084A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kikuo Sato
佐藤 喜久夫
Akira Machida
晃 町田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP25551084A priority Critical patent/JPS61133640A/en
Publication of JPS61133640A publication Critical patent/JPS61133640A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment

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Abstract

PURPOSE:To prevent attachment of dust on wafers, by sucking the dust, which is yielded from a carrier and the like into a cleaning unit at the lower part of a cleaning tunnel, and discharging clean air from the upper part of the wafers. CONSTITUTION:A cleaning tunnel 11 is separated into the upper part and the lower part by a partitioning wall 17. A carrier 15 moves in the upper part of the tunnel 11. A truck 12 moves in the lower part of the tunnel 11. A cleaning unit 21 is provided at the adjacent part of the tunnel 11. Air is sent to the upper part from a fan 22 in the direction of an arrow and filtered by an air filter 23. The air is sent to the upper part of the tunnel 11 and inputted in the unit 21 through a slit 18 and the lower part of the tunnel 11. Thus the attachment of dust on wafers can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 C産業上の利用分野〕 本発明はウェハ搬送装置、より詳しくはウェハの工程間
搬送に用いるクリーントンネルを利用する搬送装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Use] The present invention relates to a wafer transfer device, and more particularly to a transfer device that utilizes a clean tunnel used to transfer wafers between processes.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体集積回路はウェハに形成され、このウニハはダイ
シングによって個々のチップに切断される。ウェハがチ
ップごとに分割される前には、ウェハに対し、洗浄、イ
オン注入、化学気相成長その伯の処理がクリーンルーム
内でなされる。そのためにはウェハを1の工程から次の
工程へと搬送しなければならない。
Semiconductor integrated circuits are formed on wafers, and the wafers are cut into individual chips by dicing. Before the wafer is divided into chips, the wafer is subjected to cleaning, ion implantation, chemical vapor deposition, and other treatments in a clean room. For this purpose, the wafer must be transported from one process to the next.

従来そのようなウェハの搬送は人手に依存していたが、
人手の省略と、クリーンルーム内での人の移動によるゴ
ミの発生を防止する目的で、ウェハは機械的、自動的に
移送されるようになった。
Traditionally, transporting such wafers relied on human labor, but
Wafers are now transferred mechanically and automatically to eliminate manual labor and to prevent the generation of dust due to the movement of people within the clean room.

第4図を参照すると、クリーンルーム内には前記した如
き処理をなすステーション42a、 42b。
Referring to FIG. 4, within the clean room there are stations 42a and 42b that carry out the processes described above.

42c、 42dが配置され、各ステーションに移載機
43a、、、、、43eが設けられている。キーボード
から入力があると、ある移載機にあるロフトのウェハを
収納したキャリアを取り出し、それを運搬台車にのせ、
運搬台車を分岐線44a、、、、、44eのいずれかか
らループ45上に移し、所定のステーションの分岐線に
入ってキャリアを所定のステーションの移載機に移す。
42c, 42d are arranged, and each station is provided with a transfer machine 43a, . . . , 43e. When input is received from the keyboard, a carrier containing wafers in a loft is taken out from a transfer machine, placed on a transport trolley,
The carrier is transferred onto the loop 45 from one of the branch lines 44a, .

キャリアの移動に用いる運搬台車は第5図ta)の側断
面図に示され、図において、51はクリーントンネル、
52は運搬台車(コンテナともいう)、53はレール、
54はキャリア、55はウェハ、56は高性能空気濾過
器(HEPA、 High 1fficiency P
articu−1ate Air−Filterと一般
に呼称される)をそれぞれ示し、運搬台車は紙面の垂直
方向に動く。
The transport cart used for moving the carrier is shown in the side sectional view of Fig. 5 ta), and in the figure, 51 is a clean tunnel;
52 is a transport cart (also called a container), 53 is a rail,
54 is a carrier, 55 is a wafer, and 56 is a high efficiency air filter (HEPA, High 1efficiency P).
(commonly referred to as articu-1ate Air-Filter), and the transport cart moves in the direction perpendicular to the plane of the paper.

キャリア54は第5図(blの正面断面図に示され、こ
の型のキャリアにおいては5m/SeCの速度が限度で
ある。なお、クリーンエアは図の矢印方向に送られる。
The carrier 54 is shown in the front sectional view of FIG. 5 (bl), and the speed limit for this type of carrier is 5 m/SeC. Note that clean air is sent in the direction of the arrow in the figure.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

半導体装置製造ライン自動化の目的は生産性向上にあっ
たので、上記した搬送システムが現実化したのであるが
、VLSI時代に突入した現在においては、装置には「
カセットからカセットへ」の方式がとられ、ゴミの最大
原因である作業者の隔離は、ウェハ処理工程だけでなく
搬送工程においても要求される。
The purpose of automating semiconductor device manufacturing lines was to improve productivity, so the above-mentioned transport system became a reality, but now that we have entered the VLSI era, equipment has
The cassette-to-cassette system is adopted, and isolation of workers, who are the biggest cause of dust, is required not only in the wafer processing process but also in the transport process.

第5図+alに示す方式においては、運搬台車の下方で
発生するゴミがその進行に伴う乱流によって舞い上がり
、ウェハ上に付着する問題がある。そしてかかる乱流は
、第5図(blに示す方式においてより多く発生する。
In the method shown in FIG. 5+al, there is a problem in that the dust generated below the transport carriage is blown up by the turbulent flow accompanying the movement of the transport carriage and adheres to the wafer. Such turbulence occurs more often in the method shown in FIG. 5 (bl).

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は上記問題点を解消したウェハ搬送用クリーント
ンネルを提供するもので、その手段は、ウェハを収納し
たキャリアを搭載して移動する台車と、該台車が内部を
移動できるようにした搬送トンネルと、該台車の進行方
向へ延在するスリットを有し、該搬送トンネルを上部と
下部とに仕切る隔壁とを具備し、前記キャリアが前記搬
送トンネルの上部内を移動し、前記台車は前記搬送トン
ネルの下部内を移動するようにし、前記上部へは清浄な
空気を送り込み、前記下部より排気するようにしたこと
を特徴とするウェハ搬送装置によってなされる。
The present invention provides a clean tunnel for transporting wafers that solves the above-mentioned problems, and the means thereof include a carriage that carries a carrier containing wafers and moves therein, and a transport tunnel that allows the carriage to move inside. and a partition wall having a slit extending in the traveling direction of the cart and partitioning the transport tunnel into an upper part and a lower part, the carrier moves within the upper part of the transport tunnel, and the cart This is accomplished by a wafer transfer device that moves in the lower part of a tunnel, feeds clean air into the upper part, and exhausts air from the lower part.

〔作用〕[Effect]

上記装置においては、運搬台車に設けた支軸の上方端に
形成した台部にウェハキャリアを配置し、運搬台車の下
方の可動部と前記台部とは支軸用のスリットを設けた隔
壁によって分割され、クリーンエアはウェハキャリアの
上方の空気濾過器から噴射され、前記スリットを通って
運搬台車の下方からクリーンユニットを経て前記濾過器
に流れる構成にしであるので、ウェハには常にクリーン
エアが吹きつけられ、運搬台車の発生するゴミは必ずク
リーンユニットで除去されるようになっているので、ウ
ェハは常にクリーンな状態で搬送されるものである。
In the above device, the wafer carrier is placed on a platform formed at the upper end of a support shaft provided on a transport vehicle, and the lower movable portion of the transport vehicle and the platform are connected by a partition wall provided with a slit for the support shaft. Clean air is injected from an air filter above the wafer carrier and flows through the slit from below the carrier, through the clean unit, and to the filter, so that the wafer is always supplied with clean air. The wafers are always transported in a clean state because the dust generated by the wafers is always removed by the clean unit.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図に本発明実施例が側断面図で示され、それはクリ
ーントンネル11(紙面の垂直方向に延びる)、タイヤ
12aをもった運搬台車12、キャリア□支持台13に
よって構成され、運搬台車とキャリア支持台とは支軸1
4によって連結され、キャリア支持台13上に複数のウ
ェハ16を収納するキャリア15が載置される。台車へ
の制御信号の伝達はレール20からなされる。
An embodiment of the present invention is shown in a side sectional view in FIG. 1, which is composed of a clean tunnel 11 (extending perpendicular to the plane of the paper), a transport trolley 12 with tires 12a, and a carrier □ support stand 13. What is a carrier support stand? Support shaft 1
A carrier 15 accommodating a plurality of wafers 16 is placed on the carrier support stand 13 . Control signals are transmitted to the truck from the rails 20.

クリーントンネル11は隔壁17によって上方部分と下
方部分とに分離され、隔壁17には支軸14の動きと後
述する空気流のためのスリット18が形成されている。
The clean tunnel 11 is divided into an upper part and a lower part by a partition wall 17, and a slit 18 is formed in the partition wall 17 for the movement of the support shaft 14 and for airflow to be described later.

クリーントンネル11に隣接してクリーンユニット21
が設けられ、クリーンユニット内には下方にファン22
、上方に空気濾過器(HEPA) 23が配置される。
Clean unit 21 adjacent to clean tunnel 11
A fan 22 is provided below inside the clean unit.
, an air filter (HEPA) 23 is arranged above.

操作において、ファン22から矢印方向に上方に送られ
る空気は空気濾過器23で濾過され、かくして作られた
クリーンエアは穴24からクリーントンネルの上方部分
に矢印方向に送られ、クリーンエアは次いでスリット1
8を通ってクリーントンネルの下方部分に入り、穴25
からクリーンユニット21内に入る。
In operation, the air sent upwards in the direction of the arrow from the fan 22 is filtered by the air filter 23, the clean air thus created is sent in the direction of the arrow through the holes 24 into the upper part of the clean tunnel, and the clean air is then passed through the slits. 1
Enter the lower part of the clean tunnel through hole 25.
Enter the clean unit 21 from there.

かくして、ウェハ16には常にクリーンエアが吹きつけ
られ、運搬台車の下方に配置されたモータ19、レール
20から発生するゴミはクリーンユニット21に運ばれ
、クリーントンネルの上方部分に入ることはない。
In this way, clean air is always blown onto the wafer 16, and the dust generated from the motor 19 and rail 20 disposed below the carrier is carried to the clean unit 21 and does not enter the upper part of the clean tunnel.

クリーントンネルは天井26の上に配置されたアンカー
ボルト27から懸下され、運搬台車は第4図に示したシ
ステムによって移動する。前記したクリーンユニットは
、ループ45が真直ぐな部分では5〜7mおきに1個ず
つ、また分岐部では2個配置するとよい。
The clean tunnel is suspended from anchor bolts 27 placed on the ceiling 26, and the transport truck is moved by the system shown in FIG. It is preferable to arrange one clean unit every 5 to 7 m in the straight part of the loop 45, and two clean units in the branch part.

搬送中のウェハの落下を防ぐためにキャリア15は、第
2図talの正面断面図に示される如く、台部13上に
ばね止めされた支承台13a上に傾斜して支持される。
In order to prevent the wafer from falling during transportation, the carrier 15 is tilted and supported on a support 13a that is spring-loaded onto the base 13, as shown in the front sectional view of FIG.

第2図(1))は台部13の平面図であり、同図でトン
ネルの天井は省略しである。
FIG. 2(1)) is a plan view of the platform 13, and the ceiling of the tunnel is omitted in this figure.

台車が目的地に到着するとキャリア15はロボット等に
より下方に押されて水平にされ、しかる後キャリアが取
り出される。
When the cart arrives at the destination, the carrier 15 is pushed downward by a robot or the like to make it horizontal, and then the carrier is taken out.

そのためには第3図の平面図に示される手段を用いる。For this purpose, the means shown in the plan view of FIG. 3 is used.

ループに通しる入出庫31からステーション32に入っ
たキャリアを棚33に移動するには、XY方向とθ方向
、かつ、上下動するフォーク部34を操作し、それを入
出庫31まで動かしてキャリア15をフォーク35の上
にのせ、次いで後退し、向きを変えて棚33に向い必要
とあれば上下動して棚の所定の位置にキャリアをおく。
To move the carrier that has entered the station 32 from the loading/unloading 31 that passes through the loop to the shelf 33, operate the fork portion 34 that moves up and down in the XY and θ directions, move it to the loading/unloading 31, and move the carrier to the shelf 33. 15 on the fork 35, then move backward, change direction, face the shelf 33, and move up and down if necessary to place the carrier in a predetermined position on the shelf.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、搬送物たるウェハ
をクリーントンネルにより外気及びレールから隔離し、
運搬台車などから出たゴミをクリーントンネルの下部で
クリーンユニット内に吸い込み、クリーンな空気をウェ
ハの上方から出し、かつ、ウェハは進行方向に対しほぼ
水平にあるから、ウェハ上へゴミが付着することを防止
し、クリーン度を高めるので、半導体装置の製造歩留り
と製品の信頼性向上に効果大である。
As explained above, according to the present invention, wafers, which are objects to be transported, are isolated from outside air and rails by a clean tunnel,
Dust from transport vehicles is sucked into the clean unit at the bottom of the clean tunnel, and clean air is released from above the wafer, and since the wafer is almost horizontal to the direction of travel, no dust sticks to the wafer. Since it prevents this and improves the cleanliness, it is highly effective in improving the manufacturing yield of semiconductor devices and product reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明実施例の側断面図、第2図(alは第1
図の装置の運搬台車の正面断面図、同図(blは第1図
の装置の台部の平面図、第3図は第2図に示すキャリア
の移動手段の平面図、第4図はクリーンルームの配置図
、第5図(alと(blは従来例の側断面図と正面断面
図である。 図中、11はクリーントンネル、12は運搬台車、12
aはタイヤ、13は台部、14は支軸、15はキャリア
、16はウェハ、17は隔壁、18はスリット、19は
モータ、20はレール、21はクリーンユニット、22
はファン、23は空気濾過器、24と25は穴、26は
天井、27はアンカーボルト、をそれぞれ示す。 第1図 第2図 (CI) 第2図 (b)
FIG. 1 is a side sectional view of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 (al is the first
A front cross-sectional view of the transport vehicle for the equipment shown in the figure, (bl is a plan view of the platform of the equipment shown in Fig. 1, Fig. 3 is a plan view of the means for moving the carrier shown in Fig. 2, and Fig. 4 is a clean room 5 (Al and (BL are side sectional views and front sectional views of the conventional example. In the figure, 11 is a clean tunnel, 12 is a transport cart, 12
a is a tire, 13 is a base, 14 is a spindle, 15 is a carrier, 16 is a wafer, 17 is a partition, 18 is a slit, 19 is a motor, 20 is a rail, 21 is a clean unit, 22
23 is a fan, 23 is an air filter, 24 and 25 are holes, 26 is a ceiling, and 27 is an anchor bolt. Figure 1 Figure 2 (CI) Figure 2 (b)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  ウェハを収納したキャリアを搭載して移動する台車と
、該台車が内部を移動できるようにした搬送トンネルと
、該台車の進行方向へ延在するスリットを有し、該搬送
トンネルを上部と下部とに仕切る隔壁とを具備し、前記
キャリアが前記搬送トンネルの上部内を移動し、前記台
車は前記搬送トンネルの下部内を移動するようにし、前
記上部へは清浄な空気を送り込み、前記下部より排気す
るようにしたことを特徴とするウェハ搬送装置。
It has a carriage that carries a carrier containing wafers thereon, a transport tunnel in which the carriage can move, and a slit extending in the direction in which the carriage moves, and the transport tunnel is divided into upper and lower parts. the carrier is moved in the upper part of the transport tunnel, the cart is moved in the lower part of the transport tunnel, clean air is sent to the upper part, and exhaust air is exhausted from the lower part. A wafer transfer device characterized by:
JP25551084A 1984-12-03 1984-12-03 Wafer carrying apparatus Pending JPS61133640A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63151036A (en) * 1986-12-16 1988-06-23 Tokyo Electron Ltd Clean prober apparatus
WO2004040641A1 (en) * 2002-10-29 2004-05-13 Takehide Hayashi Clean tunnel for carrier
JP2017005121A (en) * 2015-06-10 2017-01-05 トヨタ自動車株式会社 Wafer transport system

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