JPS62196538A - Clean room - Google Patents
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- JPS62196538A JPS62196538A JP61039900A JP3990086A JPS62196538A JP S62196538 A JPS62196538 A JP S62196538A JP 61039900 A JP61039900 A JP 61039900A JP 3990086 A JP3990086 A JP 3990086A JP S62196538 A JPS62196538 A JP S62196538A
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Classifications
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F24—HEATING; RANGES; VENTILATING
- F24F—AIR-CONDITIONING; AIR-HUMIDIFICATION; VENTILATION; USE OF AIR CURRENTS FOR SCREENING
- F24F3/00—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems
- F24F3/12—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling
- F24F3/16—Air-conditioning systems in which conditioned primary air is supplied from one or more central stations to distributing units in the rooms or spaces where it may receive secondary treatment; Apparatus specially designed for such systems characterised by the treatment of the air otherwise than by heating and cooling by purification, e.g. by filtering; by sterilisation; by ozonisation
- F24F3/167—Clean rooms, i.e. enclosed spaces in which a uniform flow of filtered air is distributed
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- Mechanical Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、超LSI、■C等の製造分野で、製造する
環境を超高清浄に維持したい場合に必要なりリーンルー
ムに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a lean room, which is necessary in the field of manufacturing ultra-LSIs, ■Cs, etc., when it is desired to maintain the manufacturing environment at an ultra-high level of cleanliness.
「従来の技術」
一般に、半導体装置の製造工程、とりわけ半導体ウェハ
ー」二に回路素子を形成する面工程では塵埃は大数であ
り、作業雰囲気における清浄度がそのまま製品歩留まり
に結び付く。このたぬ、この種の半導体装置の作業雰囲
気の高清浄化を図るために、クリーンルームが使用さA
]ており、例えば第3図ないし第5図に示すクリーンル
ームが知られている。``Prior Art'' In general, there is a large amount of dust in the manufacturing process of semiconductor devices, especially in the surface process of forming circuit elements on semiconductor wafers, and the cleanliness of the working atmosphere directly affects the product yield. A clean room is used to maintain a highly clean working atmosphere for this type of semiconductor device.
] For example, clean rooms shown in FIGS. 3 to 5 are known.
第3図ないし第5図において、符号にはクリーンルーム
であり、全体を外隔壁1によって外界と区画されている
。そして、この区画内の中央には通路部領域2が、また
該通路部領域2と直交ずろように装置部領域3.3.・
・・及び装置保全領域4゜4、・・がバックパネル5に
より区画されて交互に設けられている。In FIGS. 3 to 5, the reference numeral indicates a clean room, and the entire room is separated from the outside world by an outer partition wall 1. In the center of this section is a passage area 2, and at right angles to the passage area 2 are device areas 3, 3, .・
. . . and device maintenance areas 4° 4, . . . are divided by the back panel 5 and provided alternately.
通路部領域2の天井には、この領域2に沿って、各装置
部領域3.3. に前記半導体ウェハーを搬送する自動
搬送装置6が設置されてL)る。On the ceiling of the passage area 2, along this area 2, each device area 3.3. An automatic transport device 6 for transporting the semiconductor wafer is installed at L).
各装置部領域3には、前記半導体の製造工程の一部分に
対応する半導体製造装置7.7.・・が設置され、半導
体ウェハーが各装置部領域3で処理され、順次次の装置
部領域3へ搬送されるに従−1て、その製造工程ら順次
進行されるような構成となっている。装置部領域3の通
路部領域2からの入口付近には、各装置部領域3間での
工程待ちをしている前記半導体ウェハーを一時的に貯蔵
しておくストッカー8、及び該ストッカー8から自動搬
送装置6に半導体ウェハーを供給するスタッカークレー
ン9が設けられている。また、第5図に示すように、装
置部領域3内には、半導体製造装置7.7. に沿って
配設された軌道10」−を移動する、搬送及び半導体製
造の作業を行う多機能な自動搬送ロポッ)IIが設置さ
れている場合もある。Each device area 3 includes semiconductor manufacturing equipment 7.7. corresponding to a part of the semiconductor manufacturing process. . . Near the entrance from the passage area 2 of the equipment area 3, there is a stocker 8 for temporarily storing the semiconductor wafers waiting to be processed between the equipment areas 3, and an automatic storage system from the stocker 8. A stacker crane 9 for supplying semiconductor wafers to the transport device 6 is provided. Further, as shown in FIG. 5, in the device area 3, semiconductor manufacturing devices 7.7. In some cases, a multi-functional automatic transport robot II that moves on a track 10'' arranged along a track 10'' and performs transport and semiconductor manufacturing operations is installed.
装置部領域3には、その天井に主空調機(図示路)に連
通して給気ダクトI2が配設され、U LPAフィルタ
もしくはI−I E P Aフィルタ13を介して装置
部領域3に清浄な空気を送風している。In the equipment area 3, an air supply duct I2 is installed on the ceiling to communicate with the main air conditioner (path shown), and the air is supplied to the equipment area 3 via the U LPA filter or the I-I EP A filter 13. It blows clean air.
また、装置部領域3の半導体装置7,7.・・・が設置
されている部分の」一方にも、UL P Aフィルタも
しくはHE P Aフィルタ13と装置保全領域4に連
通した排気ファン14とが取り付けられた給気ヂャンバ
15が設置され、装置保全領域4より吸気した空気を清
浄化して装置部領域3に送風している。以−1−の構成
により、装置部領域3は、その内部が超高清浄度に、ま
た通路部領域2は高清浄度に保たれている。Furthermore, the semiconductor devices 7, 7 . An air supply chamber 15 equipped with a UL P A filter or a HE P A filter 13 and an exhaust fan 14 that communicates with the device maintenance area 4 is also installed on one side of the part where ... is installed. The air taken in from the maintenance area 4 is purified and blown to the device area 3. With the configuration described in -1- below, the inside of the device region 3 is kept at an ultra-high level of cleanliness, and the passage region 2 is kept at a high level of cleanliness.
[発明が解決しようとする問題点−]
ところで、前記従来のクリーンルームには、通路部領域
2に直交して、半導体の製造工程の一部分に対応する装
置部領域3が設けられているため、各装置部領域3間で
の前記半導体ウェハーの搬送距離が長くなってしまい、
前記製造工程の合理化、短縮化が図りすらい、という欠
点があった。また、このクリーンルームには、製品の変
化に対応してクリーンルームに内のレイアラ)・を自由
に変更することができるように、その内部に柱が無い構
造が要求され、クリーンルームI(内の前記装置部領域
3の配置方法との兼合いから、その長さが10011、
そして幅方向の柱間のスパンが40〜50屑にも達する
ような平屋もしくは2階建の巨大建築物になってしまい
、微振動対策の観点から非常にコストのかかる建築物と
なってしまう。従って、広い敷地の得やすい地価の安い
地方都市に立地条件が限られてしまうため、優秀な技術
者を工場の近郊で確保することが困難であり、また現在
使用されている工場を取り壊しても、このクリーンルー
ツ1、Kを構築するのに十分な敷地が得にくい、といっ
た欠点もあった。[Problems to be Solved by the Invention] By the way, in the conventional clean room, an equipment area 3 corresponding to a part of the semiconductor manufacturing process is provided orthogonally to the passage area 2. The transport distance of the semiconductor wafer between the device area 3 becomes long,
There is a drawback in that the manufacturing process cannot be rationalized or shortened. In addition, this clean room is required to have a structure without pillars so that the equipment inside the clean room I can be changed freely in response to changes in the product. In consideration of the arrangement method of part region 3, its length is 10011,
This results in a huge one-story or two-story building with a span between columns in the width direction of 40 to 50 pieces, resulting in a very expensive building from the perspective of countermeasures against microvibrations. Therefore, location conditions are limited in local cities where large sites are easily available and land prices are low, making it difficult to secure excellent engineers in the vicinity of factories, and even if the factories currently in use are demolished. There was also the drawback that it was difficult to obtain sufficient land to construct Clean Roots 1 and K.
この発明は、製造工程の合理化、短縮化を図ることがで
き、かつ敷地面積が小さくて済み、多層化が可能なりリ
ーンルームを如何にして実現するかを問題にしている。This invention addresses the problem of how to realize a lean room that can rationalize and shorten the manufacturing process, requires a small site area, and can be multi-layered.
[−問題点を解決するための手段 I
この発明は、室内を、超高清浄度が要求される装置部領
域ど高清浄度が要求される通路部領域とに区分して構成
し、前記装置部領域内に、咳領域を直線状に進行する多
機能な搬送装置を設]Jると共に、該搬送装置の進行方
向に沿って製造装置をその工程の順に配置したようなり
リーンルームを構成して、前記問題点を解決している。[-Means for Solving the Problems I] The present invention divides a room into an apparatus area where ultra-high cleanliness is required and a passage area where high cleanliness is required, and A multi-functional transport device that moves linearly through the cough area is installed in the area, and a lean room is constructed with manufacturing equipment arranged in the order of their processes along the direction of movement of the transport device. This solves the above problems.
[作用 1
この発明では、半導体ウニ)S−等作業物の搬送4一
方向と製造工程の進行方向とが同一直線−にに構成され
ると共に、装置部領域が一直線−1−に構成される。[Function 1] In this invention, one direction of conveyance 4 of a workpiece such as a semiconductor sea urchin) and the direction of progress of the manufacturing process are arranged in the same straight line, and the device area is arranged in a straight line -1. .
「実施例」
以下、この発明の実施例について図面を参照して説明す
る。"Embodiments" Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図ないし第2図は、この発明の一実施例であるクリ
ーンルームを示す図である。第1図ないし第2図におい
て、符号にはクリーンルームであり、全体を外隅壁1に
よって外界と区画されている。そして、この区画内には
クリーンルームにの長さ方向に直線状に延在する装置部
領域3.3が、また該装置部領域3,3を囲繞するよう
に通路部領域2が、バックパネル5により区画されて設
けられている。1 and 2 are diagrams showing a clean room that is an embodiment of the present invention. In FIGS. 1 and 2, the reference numeral indicates a clean room, and the entire room is separated from the outside world by an outer corner wall 1. In this compartment, there is an equipment area 3.3 that extends linearly in the length direction of the clean room, a passage area 2 that surrounds the equipment areas 3, 3, and a back panel 5. It is divided and provided by.
各装置部領域3には、この領域3に沿って配設された直
線状の軌道10.10上を移動する、前記半導体ウェハ
ーの搬送及び製造作業を行う多機能な自動搬送口ボッ1
−11,11. が設置されている。装置部領域3内
の2本の軌道10.10間には、これらを連結する分岐
部16,16.・・・h< 設ifられている。装置部
領域3には、その軌道10.10に沿って、前記半導体
の製造工程の一部分に対応する半導体製造装置7,7.
・・・が設置されている。この半導体製造装置7,7.
・・は、前記半導体ウェハーが、第1図において装置部
領域3の左端より、軌道In、10に沿ってこの装置部
領域3内を−・周するように順次搬送されるに従って、
その製造工程も順次進行されるような構成トナっている
。装置部領域3には、第1図においてその左端に、各装
置部領域3間での工程待ちをしている半導体ウェハーを
一時的に貯蔵しておくストッカー8が、また第1図にお
いてその右端に、半導体製造装置7,7.・・・のメン
テナンス等の理由で人間が装置部領域3内に入る時に用
いるエアーシャワーI7が、装置部領域3に連通して設
f1られている。Each device area 3 includes a multifunctional automatic transfer port box 1 that moves on a linear track 10.10 disposed along this area 3 and performs the semiconductor wafer transfer and manufacturing operations.
-11,11. is installed. Between the two tracks 10.10 in the device area 3, there are branch parts 16, 16.10 connecting them. ...h< is set. In the device area 3, along the trajectory 10.10, there are semiconductor manufacturing devices 7, 7, .
... has been installed. This semiconductor manufacturing apparatus 7, 7.
... is as the semiconductor wafer is sequentially conveyed from the left end of the device region 3 in FIG.
The manufacturing process is also structured to proceed sequentially. In the equipment area 3, there is a stocker 8 at the left end in FIG. 1 for temporarily storing semiconductor wafers waiting to be processed between each equipment area 3; , semiconductor manufacturing equipment 7, 7. An air shower I7, which is used when a person enters the device area 3 for reasons such as maintenance, is provided in communication with the device area 3 f1.
クリーンルーム■くには、ストッカー8.8間を直線状
に連結して更にその両端が外隔壁Iに至る半導体ウェハ
ー水平搬送装置18が設けられている。この水平搬送装
置18の両端部には、半導体ウェハーをこのクリーンル
ームKがあるフロアとその」ユニのフロアとの間を搬送
する垂直搬送装置I9が設けられている。また、クリー
ンルームにの外隔壁1及び装置部領域3,3間に挾まれ
た部分の通路部領域2には、柱20,20.・が設置さ
れている。このクリーンルームI(には、同様の構成を
有するクリーンルームKがその−1−下方向に連設され
て、全体として多層化した構成とされている。A semiconductor wafer horizontal transport device 18 is provided in the clean room 18, which connects the stockers 8 and 8 in a straight line, and further extends to the outer partition wall I at both ends thereof. At both ends of this horizontal transport device 18, vertical transport devices I9 are provided for transporting semiconductor wafers between the floor where this clean room K is located and the floor of the unit. Further, pillars 20, 20.・ is installed. In this clean room I, a clean room K having a similar configuration is connected downwardly, and the overall structure is multilayered.
次に、クリーンルームにのより詳細な構造について説明
する。Next, a more detailed structure of the clean room will be explained.
クリーンルームKには、第2図において、その天井板2
1と床版22との間の天井部分に、天井板23が設けら
れている。天井板23の装置部領域3の」二部に相当す
る部分には、主空調機(図示略)に連通して給気ダクト
12が、また通路部領域2の上部に相当する部分には、
排気ダクト24が配設されている。天井板23には、給
気タクト12の下部に給気チャンバ15が設置されてい
る。In the clean room K, as shown in Figure 2, the ceiling plate 2 is
A ceiling board 23 is provided in the ceiling portion between 1 and the floor slab 22. An air supply duct 12 is connected to a main air conditioner (not shown) in a portion of the ceiling plate 23 corresponding to the second part of the device area 3, and an air supply duct 12 is connected to a portion corresponding to the upper part of the passage area 2.
An exhaust duct 24 is provided. An air supply chamber 15 is installed in the ceiling plate 23 below the air supply tact 12.
この給気チャンバI5は、上方の給気ダクト12と連通
ずると共に、給気チャンバ15の下部に設けられたU
L P AフィルタもしくはII E P Aフィルタ
13を介して下方の空間部と連通されている。This air supply chamber I5 communicates with the upper air supply duct 12 and is connected to a U provided at the lower part of the air supply chamber 15.
It is communicated with the space below via the LPA filter or the II EP A filter 13.
また、給気チャンバI5には、その天井板23との接続
部に、通路部領域2と連通して給気チャンバI5に送風
するダンパ付の排気ファン14が設置されている。In addition, an exhaust fan 14 with a damper is installed in the air supply chamber I5 at a connection portion with the ceiling plate 23, which communicates with the passage area 2 and blows air into the air supply chamber I5.
一方、クリーンルームにの床部分には、床版22の−1
一方に有孔な床板25が設けられ、この床板25及び床
版22の間にユーティリティ領域26を形成している。On the other hand, -1 of the floor slab 22 is installed on the floor of the clean room.
A perforated floor plate 25 is provided on one side, and a utility area 26 is formed between the floor plate 25 and the floor slab 22.
床板25は、グレーチングもしくはパンチングメタル等
の有孔床27と、半導体製造装置7,7.・や通路部領
域2の床部に相当する部分にコンクリート製の固定床2
8とを連結して構成されている。The floor plate 25 includes a perforated floor 27 made of grating or perforated metal, and semiconductor manufacturing equipment 7, 7 .・Concrete fixed floor 2 is installed in the area corresponding to the floor of the passage area 2.
8 are connected.
給気チャンバI5の下部とクリーンルームにの床板25
との間には、装置部領域3及び通路部領域2を区画する
バックパネル5が設けられている。Floor plate 25 at the bottom of the air supply chamber I5 and in the clean room
A back panel 5 that partitions the device area 3 and the passage area 2 is provided between the two.
ここで、半導体製造装置7の幅が広い場合、バラクパネ
ル5の下端はこの半導体製造装置7の−L端までとなる
。このバックパネル5の下端部には、ダンパ付きのガラ
リにより構成されるバックパネル排気口29が形成され
ている。また、給気チャンバ15の下部には、照明器具
30が配設されている。Here, when the width of the semiconductor manufacturing apparatus 7 is wide, the lower end of the bulkhead panel 5 extends to the -L end of the semiconductor manufacturing apparatus 7. At the lower end of the back panel 5, a back panel exhaust port 29 is formed by a louver with a damper. Furthermore, a lighting fixture 30 is provided at the bottom of the air supply chamber 15 .
このクリーンルームにの装置部領域3及び通路部領域2
には、次のようにして清浄化された空気が送風される。Equipment area 3 and passage area 2 in this clean room
Cleaned air is blown in the following manner.
まず、図示されない主空調機から給気ダクト12を通じ
て送られてきた空気が、給気チャンバI5へ供給される
。供給された空気は、ULPAフィルタもしくはHEP
Aフィルタ13を通過して清浄化され、装置部領域3
内へ吹き出される。吹き出された空気の内の一部は、第
2図に示す矢印Aの方向に流れ、装置部領域3の有孔床
27を通過してユーティリティ領域26に達し、ここか
ら通路部領域2の有孔床27を通過して、通路部領域2
内に至る。また、その一部は、半導体製造装置7,7.
・・・の」一端を通った後、第2図に示す矢印Bの方向
に流れ、バックパネル排気[129を通過して通路部領
域2内に至る。更に、その一部は、半導体製造装置7,
7. の上端を通った後、第2図に示す矢印Cの方向に
流れ、装置部領域3の有孔床27を通過してユーティリ
ティ領域26に達し、第2図に示す矢印Aの方向の流れ
と合流する。これらの空気の内の一部は、排気ファンI
4により再度給気チャンバ15内に還流され、またその
一部は排気ダクト24によりクリーンルームにより排気
される。これにより、装置部領域3は、その内部が超高
清浄度に、また通路部領域2は高清浄度に保たれている
。First, air sent from a main air conditioner (not shown) through the air supply duct 12 is supplied to the air supply chamber I5. The supplied air is filtered through ULPA filter or HEP.
After passing through the A filter 13 and being cleaned, the device area 3
It is blown out inside. A part of the blown air flows in the direction of arrow A shown in FIG. Passing through the hole bed 27, the passage area 2
Reach within. Also, some of the semiconductor manufacturing equipment 7, 7.
After passing through one end of ``...'', the air flows in the direction of arrow B shown in FIG. 2, passes through the back panel exhaust 129, and reaches the passage area 2. Furthermore, some of them are semiconductor manufacturing equipment 7,
7. After passing through the upper end, the flow flows in the direction of arrow C shown in FIG. join together. Some of these airs are exhausted by the exhaust fan I
4, the air is returned to the supply chamber 15 again, and a part of it is exhausted to the clean room through the exhaust duct 24. As a result, the inside of the device region 3 is kept at an ultra-high level of cleanliness, and the passage region 2 is kept at a high level of cleanliness.
以上の構成を有するクリーンルームに内において、半導
体ウェハーは、まず垂直搬送装置19及び水平搬送装置
18により、一旦装置部領域3のストッカー8に貯蔵さ
れる。装置部領域3内の半導体製造装置7,7.・・・
での受入れ準備が完了した段階で、この半導体ウェハー
は自動搬送ロボット11により装置部領域3内に搬送さ
れる。半導体ウェハーは、第1図において装置部領域3
の左端より軌道10.10に沿ってこの装置部領域3内
を−・周するように順次搬送され、また製造工程が進行
されてゆく。半導体ウェハーは、装置部領域3内を一周
してまたその左端?こ至ると、再度ストッカー8内に貯
蔵される。そして、この半導体ウェハーは、次の工程に
相当する別の装置部領域3内の一半導体製造装置7,7
. での受入れ準備が終了した段階で、水平搬送装置1
8及び垂直搬送装置19により、所定のストッカー8ま
で搬送される。In the clean room having the above configuration, semiconductor wafers are first stored in the stocker 8 in the device area 3 by the vertical transfer device 19 and the horizontal transfer device 18. Semiconductor manufacturing equipment 7, 7 within the equipment area 3. ...
When preparations for acceptance are completed, the semiconductor wafer is transported into the apparatus area 3 by the automatic transport robot 11. The semiconductor wafer is located in the device area 3 in FIG.
From the left end, the sheets are sequentially conveyed along the track 10.10 so as to go around the device area 3, and the manufacturing process proceeds. The semiconductor wafer goes around the device area 3 and returns to the left end. When this is completed, it is stored in the stocker 8 again. Then, this semiconductor wafer is transferred to one semiconductor manufacturing apparatus 7, 7 in another apparatus area 3 corresponding to the next process.
.. When preparations for acceptance are completed, the horizontal transport device 1
8 and the vertical conveyance device 19 to a predetermined stocker 8 .
このようにして、この発明の一実施例であるクリーンル
ームに内で、半導体の製造が行なわれろ。In this manner, semiconductor manufacturing is performed in a clean room that is an embodiment of the present invention.
ここで、クリーンルームには、半導体ウェハーの搬送′
方向と製造工程の進行方向が同一直線−1−に構成され
ているので、半導体ウェハーの搬送距離が必要以上に長
くならず、製造工程の合理化、短縮化を図ることができ
る。また、装置部領域3が一直線上に長く構成されてい
るので、これと平行して形成されている通路部領域2に
柱20を前記従来に比較して密度を高く自由に設けるこ
とが可能になる。即ち、クリーンルームKを構成する建
築物の構造的強度を増すことができると共に、幅方向の
柱間のスパンを短くすることが可能なため、結果として
クリーンルームにの基L$階部面積狭くして構成するこ
とかできると共に、クリーンルームにの多層化を普通の
微振動対策を行うたけで図ることができる。従って、敷
地面積か狭くて済み、多層化が可能なりリーンルームを
実現することができるため、このクリーンルームKを地
価が高い大都市近郊に立地することが可能となり、従っ
て工場近郊での優秀な技術者の確保が容易となる。Here, the clean room is used for transporting semiconductor wafers.
Since the direction and the direction of progress of the manufacturing process are configured to be the same straight line -1-, the transport distance of the semiconductor wafer is not longer than necessary, and the manufacturing process can be rationalized and shortened. In addition, since the device region 3 is long and arranged in a straight line, the pillars 20 can be freely provided in the passage region 2, which is formed parallel to the device region 3, with a higher density than in the prior art. Become. In other words, it is possible to increase the structural strength of the building that makes up the clean room K, and it is also possible to shorten the span between the columns in the width direction, resulting in a narrow floor area of the clean room. In addition, it is possible to create multiple layers in a clean room by simply taking ordinary measures against microvibrations. Therefore, the site area is small, it is possible to have multiple layers, and a lean room can be realized, making it possible to locate this clean room K near a large city where land prices are high. This makes it easier to secure personnel.
更に、装置部領域3内に多機能な自動搬送ロボット11
を設置したことにより、装置部領域3内での製造工程を
無人化することができる。このため、装置部領域3はロ
ボット11の通行するだけの領域を確保すれば十分であ
ると共に、この装置部領域3内での全発塵量が小さくな
るので、超高清浄度を維持するための設備が従来より小
さくて済む。Furthermore, a multifunctional automatic transfer robot 11 is installed in the device area 3.
By installing this, the manufacturing process within the device area 3 can be automated. Therefore, it is sufficient to ensure that the device area 3 is large enough for the robot 11 to pass through, and since the total amount of dust generated within this device area 3 is reduced, ultra-high cleanliness can be maintained. The equipment required is smaller than before.
ここで、半導体製造装置7の故障、保全等のメンテナン
スの為に、人間が装置部領域3内に入る場合には、装置
部領域3に設けられたエアーシャワー17により、装置
部領域3内への塵埃の侵入を防ぐことができる。Here, when a person enters the equipment area 3 for maintenance such as failure or maintenance of the semiconductor manufacturing equipment 7, an air shower 17 provided in the equipment area 3 allows a person to enter the equipment area 3. can prevent dust from entering.
なお、この発明によるクリーンルームは、R17記実施
例に限定されない。即ち、クリーンルームに内での装置
部領域3のレイアウトは自由であり、例えば装置部領域
3.3をそのストッカーが対向するように配置しても良
い。また、装置部領域3の自動搬送ロボット11の進行
方向への長さも任意に設定可能であり、極言すれば、全
工程を1つの装置部領域3により受は持たせても良い。Note that the clean room according to the present invention is not limited to the embodiment R17. That is, the layout of the device area 3 in the clean room is free; for example, the device area 3.3 may be arranged so that its stockers face each other. Further, the length of the device area 3 in the direction of movement of the automatic transfer robot 11 can be set arbitrarily, and in other words, all processes may be covered by one device area 3.
「発明の効果」
以」―詳細に説明したように、この発明によれば、室内
を、超高清浄度が要求される装置部領域と高清浄度が要
、求基れる通路部領域とに区分して構成し、前記装置部
領域内に、該領域を直線状に進行する多機能な搬送装置
を設けると共に、該搬送装置の進行方向に沿って製造装
置をその工程の順に配置したようなりリーンルームを構
成したので、半導体ウェハーの搬送方向と製造工程の進
行方向が同一直線」二に構成されるため、半導体ウェハ
ーの搬送距離が必要具−1−に長くならず、製造工程の
合理化、短縮化を図ることができる。また、装置部領域
か一直線上に長く構成されているので、これと区画され
て形成されている通路部領域に柱を前記従来のクリーン
ルームに比較I、て密度を高く自由に設けることが可能
になる。即ち、クリーンルーl、を構成する建築物の構
造的強度を増すことができると共に、幅方向の柱間のス
パンを短くすることが可能なため、結果としてクリーン
ルームの基準階面積を狭くして構成することができると
共に、クリーンルームの多層化を図ることができる。従
って、敷地面積が狭くて済み、多層化が可能なりリーン
ルームを実現することができる。``Effects of the Invention'' - As explained in detail, according to the present invention, the interior of the room can be divided into the equipment area where ultra-high cleanliness is required and the passage area where high cleanliness is required. The apparatus is divided into sections, and a multifunctional conveying device that linearly moves through the area is provided in the device area, and manufacturing devices are arranged in the order of their processes along the direction of movement of the conveying device. Since the lean room is constructed, the direction of transport of semiconductor wafers and the direction of progress of the manufacturing process are arranged in the same straight line, so the transport distance of semiconductor wafers does not become as long as necessary, streamlining the manufacturing process, It is possible to shorten the time. In addition, since the equipment area is long and in a straight line, it is possible to freely install pillars in the passage area that is separated from the equipment area in a higher density compared to the conventional clean room. Become. In other words, it is possible to increase the structural strength of the building that composes the clean room, and to shorten the span between columns in the width direction, resulting in a clean room with a smaller standard floor area. In addition, the clean room can be multi-layered. Therefore, the site area is small and multi-layering is possible, making it possible to realize a lean room.
第1図はこの発明の一実施例であるクリーンルームの平
面図、第2図は同断面図、第3図は従来のクリーンルー
ムの一例を示す平面図、第4図は同内部の透視図、第5
図は同内部の透視図である。
K・・・・・クリーンルーム
2・・・・・通路部領域、3・・ 装置部領域、7・・
・・・・半導体製造装置(製造装置)、11・・・・・
自動搬送ロボット (搬送装置)。Fig. 1 is a plan view of a clean room that is an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a sectional view of the same, Fig. 3 is a plan view showing an example of a conventional clean room, Fig. 4 is a perspective view of the interior, and Fig. 5
The figure is a perspective view of the inside. K...Clean room 2...Aisle area, 3...Equipment area, 7...
...Semiconductor manufacturing equipment (manufacturing equipment), 11...
Automatic transport robot (transport device).
Claims (1)
が要求される通路部領域とに区分して構成し、前記装置
部領域内に、該領域を直線状に進行する多機能な搬送装
置を設けると共に、該搬送装置の進行方向に沿って製造
装置をその工程の順に配置したことを特徴とするクリー
ンルーム。The interior of the room is divided into an equipment area where ultra-high cleanliness is required and a passage area where high cleanliness is required, and within the equipment area, a multi-function device that travels linearly through the area is constructed. What is claimed is: 1. A clean room characterized in that a conveying device is provided, and manufacturing devices are arranged in the order of their processes along the traveling direction of the conveying device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61039900A JPH065131B2 (en) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | Clean room |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61039900A JPH065131B2 (en) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | Clean room |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62196538A true JPS62196538A (en) | 1987-08-29 |
JPH065131B2 JPH065131B2 (en) | 1994-01-19 |
Family
ID=12565835
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61039900A Expired - Fee Related JPH065131B2 (en) | 1986-02-25 | 1986-02-25 | Clean room |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH065131B2 (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS625031A (en) * | 1985-06-28 | 1987-01-12 | Kajima Corp | Clean room partially having different cleaning degrees |
-
1986
- 1986-02-25 JP JP61039900A patent/JPH065131B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS625031A (en) * | 1985-06-28 | 1987-01-12 | Kajima Corp | Clean room partially having different cleaning degrees |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH065131B2 (en) | 1994-01-19 |
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