JPH06500667A - 光子誘導可変容量効果素子 - Google Patents
光子誘導可変容量効果素子Info
- Publication number
- JPH06500667A JPH06500667A JP3517189A JP51718991A JPH06500667A JP H06500667 A JPH06500667 A JP H06500667A JP 3517189 A JP3517189 A JP 3517189A JP 51718991 A JP51718991 A JP 51718991A JP H06500667 A JPH06500667 A JP H06500667A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- junction
- psvce
- voltage
- photon
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000000694 effects Effects 0.000 title claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 53
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 17
- 239000000463 material Substances 0.000 description 13
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 11
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 11
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 8
- 108020003175 receptors Proteins 0.000 description 7
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 6
- 238000005421 electrostatic potential Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005474 detonation Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 230000011664 signaling Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 229920002994 synthetic fiber Polymers 0.000 description 1
- 235000021419 vinegar Nutrition 0.000 description 1
- 239000000052 vinegar Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/86—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable only by variation of the electric current supplied, or only the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched
- H01L29/92—Capacitors having potential barriers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
- H01L31/10—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
- H01L31/101—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H01L31/102—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier
- H01L31/103—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier the potential barrier being of the PN homojunction type
- H01L31/1035—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier the potential barrier being of the PN homojunction type the devices comprising active layers formed only by AIIIBV compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/08—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
- H01L31/10—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
- H01L31/101—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
- H01L31/102—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier
- H01L31/103—Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier the potential barrier being of the PN homojunction type
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
光子誘導可変容量効果素子
本発明は、一般的に半導体素子、特にP/N接合の光電特性を利用した半導体素
子に関し、そして更に特定すれば、P/N接合の空乏領域の光子誘導(phot
on simulation)が伝導スレシホルド以下の可変容量効果を生じる
、光子誘導可変容量効果素子を対象としたものである。
発明の背景
情報信号の光学伝送システムは、固有の利点を享受し、その結果近年このような
システムが太幅に増加してしする。光学システムは、可視光に非常に近い搬送波
周波数を用し)てVするので(赤外線および紫外線も用いてI/する。)、使用
可能なスペクトルを使いきってしまう恐れがないように、かなり広し)帯域変調
技術を用いることがある。実際、振幅増幅(AM)は、可視光スペクトルにおい
て搬送波信号を用し)て実施することが容易なため、選択されている技術である
。車にLED(発光ダイオード)を介して電流を変化させるのみで、光エネルギ
の直接振幅変調を生成するのである。
加えて、光学システムは、外部RF(無線周波数)伝送の干渉、および核爆発の
電磁衝撃に比較的影響されなl/1ものである。結果的に、優れた信号対ノイズ
比性能を有する高速通信(s igna l ing)が得られる。
もちろん、データおよび音声伝送用に光学システムを用いる場合、一般的に固体
導波媒体の制約を受ける。これらの導波管は、光フアイバケーブルの形状を取り
、望ましい光学的品質(高透過性、高屈折率等)を有する合成材料から製造され
ている。光エネルギは、光フアイバケーブルによって効果的に取り込まれ、そし
てこのようなケーブル構造体のネットワークによって、比較的短い距離を案内さ
れる。
光ファイバに対するこの制約は、LAN (ローカルエリアネットワーク)のよ
うな一般的なコンピュータデータネットワークにおいては完全に受け入れること
ができるが、より長い距離にわたる伝送では、光ファイバに頼ることが実用的で
ないことが頻繁に起こる(必要なケーブル長、好ましくない地形、耐震性を確保
する要望等)。光フアイバケーブルを用いず空中を伝送させるマイクロ波周波数
は、短距離および二地点間の用途には、信頼性がある。陸上の移動環境において
音声およびデータを通信装置に伝送するためには、より低い周波数のRF傷信号
ほとんど例外なく用いられている。
可視光スペクトル内の搬送波周波数から、より低いRF周波数への遷移が必要な
ために、そしてより低い周波数の通信スペクトルにおいてFM(周波数変調)が
支持されてAM変調が一般的に排除されているため、AM変調された光エネルギ
をFM変調されたRF搬送波に変換するための種々の方法が考案されている。F
M変調無線信号は、伝送された信号情報の保全性を保存することに関して、AM
変調無線信号よりも、次の2つの理由で勝っている。第1に、FMシステムは、
自然のおよび人工の電磁ノイズ(振幅が変化する)に対する本質的な耐性(im
mu n i t y)を有しており、第2に、FM信号の捕獲効果が、より高
い通信の信頼性をもたらすのである。AMからFMに変換するもつとも一般的な
技術は、フォトトランジスタ検出器回路を用いて光波内に含まれている情報を復
調すること、そして次に電圧制御発振器(vCO)の周波数決定素子を形成する
バラクタ−ダイオードに上記検出器の出力を印加して、FM信号を生成すること
を伴うものである。
このような変換回路を用いると、光フアイバネットワークとRFネットワークと
を用いている通信システムに、複雑さと費用とを、増加させることになる。した
がって、AM変調光エネルギのFM変調RF信号への変換を簡素化する方法に対
する必要性が生じている。
発明の概要
上述の必要性は、少なくとも1つのP/N接合と、接合動作点が実質的に平衡に
ある時、所定の幅を有する、関連する空乏領域から成り、前記接合は入射光子を
受信するように構成されかつ配置されている半導体素子によって満足される。
入射した光子は、空乏領域の幅を変調して光子誘導可変容量効果を生じる一方、
動作点は実質的に平衡近くに維持されている。
図面の簡単な説明
第1a図は、平衡におけるP/N接合周囲の空乏領域を図示する。
第1b囚は、平衡における接合間の静電電位を示す。
第1c図は、平衡におけるP/N接合のエネルギバンド図である。
第2a図は、空乏領域幅に対する入射光の効果の図である。
第2b図は、入射光に応答した静電電位の減少を示す。
第2c図は、衝突する光子に晒されたP/N接合に対するエネルギバンド図であ
る。
第3a図は、入射光子強度および入射RF電圧における変化による、ガリウム砒
素P/N接合の動作点のシフトを示す。
第3b図は、小信号入射RF電圧による、自己バイアスPSVCE素子の動作領
域を示す。
第3C図は、通常信号入射RF電圧による、自己バイアスPSVCE素子の動作
領域を示す。
第3d図は、大信号入射RF電圧による、外部バイアスPSVCHの動作領域を
図示する。
第4図は、vCOにおける周波数決定素子としての本発明のPSVCE素子を示
す。
第5a図は、典型的なPSVCE受容体素子パッケージを示す。
第5b図はPSVCE素子光ファイバ連結終端パッケージの図である。
第5crMは、第5b図の素子に対する概略シンボルである。
第6a図は、典型的なPSVCE断路(isolator)素子パッケージの図
である。および
第6b図は、第6a図の素子に対する概略シンボルである。
好適な実施例の説明
P/N接合は、それぞれドナー不純物(N−型半導体を形成するための)および
アクセプタ不純物(P−型半導体を形成するための)の添加によって、「ドープ
」された真性半導体材料の2つの部分の間の境界において、形成するものである
。ドナー不純物は、真性材料の結晶構造に自由電子を「与えて」、負の電荷キャ
リア過剰、すなわちN−型材料としての特性を作り出す。アクセプタ不純唆を使
用すると、通常は電子がある結晶格子に「ホール」を結果的に生じ、そして、ホ
ールは正の電荷キャリアとして考えられるので、この種の材料をP−ffiと名
付けている。
第1a図は、平衡におけるP/N接合を図示したもので、全体的に番号100で
示しである。接合自体は、N−型材料(102)からP−型材料(101)の部
分を分ける実線によって示されている。よく知られているように、図では破線で
示された、輻Wの遷移領域(103)が、その物質間の物理的境界を包囲してい
る。この遷移領域は、接合を取り囲む隣接領域が再結合のために電荷キャリアが
実際上欠如しているので、時として空乏領域と呼ばれている。P−型およびN−
型材料にて始まる導体(104)が、解放接点にて終わっている様子が示され、
外部からこの素子に電圧を印加していないことを示している。
当該技術ではよく知られているように、接合の平衡状態を維持するのに必要な電
位差が生じる。この電位差を、内部拡散電位または接触電位と呼び、第1b図で
はvoとして示されている。これは、電荷キャリアが接合を横切る際に克服しな
くてはならない静電電位である。
第1c図は、平衡における接合に対するエネルギバンド図である。P−型材料に
対して、価電子帯エネルギレベル(Evp)は、伝導帯エネルギレベル(EC,
)より、フェルミレベル(E、、)に大幅に近い。もちろん、P−型材料内の導
電帯において自由電子を見つけることは期待できないであろう。
接合のN側では、逆の状況が得られる。伝導帯エネルギレベJl/(Ee、)は
、価電子帯エネルギレベル(E□)より、フェルミレベル(E6)に大幅に近く
、伝導帯における自由電子の高い確率を示している。接合の反対側の伝導帯エネ
ルギレベルは、qvoだけ離されており、ここでqは1つの電子の電荷であり、
voは内部拡散電位である。
第2a図は、接合が入射光に露出された時の、空乏領域の輻における劇的な変化
を示すものである。入射光子のエネルギがバンドギャップ電圧のエネルギより大
きい時、電子−ホール対が生成される有限の確率があり、そして順方向電圧が接
合間に現れる。
全体的に番号200で示されている、第2a図に示す半導体素子は、丁度光に延
べたように、P−型材料(201)とN−型材料(202)との間の境界にP/
N接合を有している。この接合を入射光(205)に露出すると、遷移領域20
3の輻Wが、平衡における4Ii (第1a図)と比較した時、著しく小さくな
り、そして解放回路電圧Voeが素子の接触端子(204)に現れる。
もちろん、遷移領域間の静電電位は、平衡値と比較すると、第2b[iUに示す
ようにV 6 Cに等しい量だけ減少している。この静電電位の減少は、素子を
伝導により近付けるものである。
この事実は第2c図のエネルギバンド図によっても示されている。照明された接
合を横切るフェルミレベルの差は、qV。。であり、接合が適当な周波数の光で
照明された時、電荷キャリア遷移領域の横断がより簡単に行われることを意味す
る。
当然、平衡接触電位■。は接合間に現れ得る最大順方向電圧であるので、voゎ
の値がこれを越えることはない。
光エネルギを加えることによる遷移領域幅の変化の1つの結果は、素子間の容量
における観測可能な変化となる。電荷キャリアは遷移領域の限界に集まる傾向が
あるので、遷移領域の幅が板の隔たりに対応する従来の平行板コンデンサを用い
て、P/N接合を類推的に説明することができる。平行板コンデンサの容量が板
間距離に反比例するのと丁度同じように、P/N接合間の容量も遷移領域の輻に
反比例する。
この光子誘導可変容量効果(PSVCE:PhotonStimulated
Variable Capacitance Effect)の従来の応用は、
限られた範囲の動作電圧に制約されていた。第3a図は、P/N接合に対する典
型的なV−I (電圧−電流)特性である。図に示すように、従来のPSVCE
領域は、接合平衡に近いそれら動作点に制限されている。
先に論じたように、適当な周波数の入射光が遷移領域をより狭くさせ、結果的に
容量が増加することになる。しかし、順方向電圧があまりに多く増加すると(図
に示すようにガリウム砒素で製造されたPSVCE素子に対して約1.5ボルト
以上)、接合が通電し始め、そして容量効果が無駄になる。
全ての応用において、接合の容量性特性が有用となるためには、vo。がvo(
接合の接触電位)以下の値を有するようにV o cを維持しなくてはならない
。この正の接合電圧軸に沿った動作点のシフトが、光子照明の増加による動作点
シフトの方向として、第3a図に示されている。
逆バイアス状態に向かう動作点のシフトは、結果として遷移領域幅の増加をもた
らし、これに対応して接合間の容量が減少する。この負の接合電圧軸に沿った動
作点シフトは、図において、入射RF電圧(自己整流バイアス)の増加による動
作点シフトの方向として、示されている。従来のpsvcE素子の動作領域は次
のように定義される。PSVCE素子の従来の応用は、関連するRF発振回路か
らの入射RF電圧のピーク間振幅がqVo(接合の所与の入射光子照明の範囲に
対する、接合を形成する半導体材料の伝導帯エネルギレベルの差)より大幅に小
さい、動作等M(class ofoperation)を必要とする。これは
、入射RF電圧が接合バンドギャップ電圧に関して小さい、自己バイアス(従来
の)動作の小信号等級である。この動作等級では、PSVCE素子は、それ自身
の動作点(自己バイアスされた)を、光子照明されたP/N接合の静電電位の関
数として、定義する。この動作等級に対する動作点を示すとすれば、第3b図の
ようになろう。光子照明値の範囲は、光信号波形3゜1および302によって示
されるように、瞬間電圧がスレシホルド電圧に決して近付かないように維持され
る。例示の目的で正弦波形を示しているが、信号波形はいかなる任意の形状をも
有することができることに注意されたい。
典型的には、光学伝送システムにおけるAM変調を参照して先に論じたように、
信号情報は、PSVCE素子の接合が決して暗くならないように、光波キャリア
に変調されている。
これは、光照明源によって、接合を「電荷捕獲」に保持するものである。光源は
電荷解放の度合を変動させるが、いずれも接合の伝導を起こすのに十分な強度の
ものではない。
この自己バイアス動作の等級を拡張するには、十分な強度の連動するRF発振回
路からの入射RF電圧を、PSVCE素子接合の伝導スレシホルドに近付け、入
射RF電圧の自己整流の関数として、接合容量において電荷の解放および蓄積が
結果的に得られるようにする必要がある。この動作モードでは、自己バイアスP
SVCE素子は、拡張した動作領域を確保することによって、それ自体の有用な
動作領域を拡張する方向に向かう。この動作領域の拡張は、一方では、入射RF
の自己整流から結果的に生じる相対する電圧間の平衡点によって生成される電圧
の影響の下での、P/N接合の真性接触電位のシフトされた位置(locus)
の、そして他方では、光子電荷の解放の結果である。入射RF電圧がより大きけ
れば、より大きな置火光照明を得ることになる。
PSVCE素子の有用な容量効果は、P/N接合の伝導が大きく生じた時はいつ
でも、存在しなくなる。したがって、この動作領域は、自己バイアスPSVCE
素子の有用な動作限度近くにある。この領域では、PSVCE素子の変換感度は
減少し、そして大幅なRF自己整流または光電流が結果として生じた点で、動作
限度が起こる。
PSVCE素子のP/N接合の伝導スレシホルドに近付く強度の、大きな入射R
F電圧が印加される、自己バイアス(従来の)動作の大信号等級として記載され
てきたものは、拡張された動作領域を生成する。この動作等級に対する動作点を
、第3c図に示しており、そこには光層明信号303および304が描き込まれ
ている。
PSVCE素子の第2の動作等級は、外部から印加された逆バイアスの応用を伴
うものである。このバイアスは、典型的に、高インピーダンス、RF切断電流源
(RF dec。
upled current 5ource)から得られる。
逆バイアス静電電荷は、暗接合点がP/N接合のV−I特性に関して、より大き
な負電圧において生じるように、PSvCE素子の動作点を変更するものである
。PSVCE素子をこの動作で動作させるのは、RF自己整流を回避しつつより
大きな強度の入射RF電圧を得る便宜を図る、光電流の発生を回避しつつより大
きな強度の入射RF電圧を得る便宜を図る、或はPSVCE素子の接合容量の見
かけ上の強度(n。
m1nal magnitude)を減少させるためである。
当然、外部バイアス電流を供給する電流源の解放回路電圧は、PSVCE素子の
P/N接合の逆電圧ブレークダウン限度以下に選択しなければならない。外部バ
イアス動作等級では、PSVCE素子の変換感度が減少する。この動作等級に対
する動作点を、第3d図に示すが、この動作モードに対する相対振幅を示すため
に、光層明信号305,306.および307を加えである。動作モードの先の
議論から明白なように、動作点が平衡近くに保持されている時(従来の小信号自
己バイアス動作等級)、PSVCE素子を最も有利に利用することができる。
第4図は、AM変調光エネルギをFM変pIRFに変換するのに有用なネットワ
ーク(番号400で全体的に示されている)のブロック図である。直接FM変調
は、電圧制御発振器(VCO)を用いることによって、最も多く行われており、
この場合、操舵電圧(steering voltage)を、周波数決定素子
として動作するVCoの入力内の電圧可変コンデンサ(バラクタ−)に印加する
。操舵電圧を変化させると、バラクタ−容量を変化させることになり、vCO出
力における周波数が変化する結果となる。
第4図では、PSVCE素子(404)!l’、VCO(’403)の入力にお
いて周波数決定素子として用いられており、こ(’)PSVCE素子(404)
はDC(直流)プo7クコンデンサ(406)によって、vCO入力から分離さ
れている。
光フアイバケーブル(401)を介して供給されたAM変調光(402)が、P
SVCE素子に向けられている。光(402)の強度変化が、PSVCE (4
04)内の遷移領域幅を変調し、これがPSVCE (404)の容量を変化さ
せる原因となる。これは、vCO出力(405)において所望の周波数置11R
F信号を生成するものである。
第5a図は、全体的に番号500で示されたPSVCE受容体パッケージの図で
ある。PSVCE素子(504)は、素子領域の一方(P−型またはN−型材料
のいずれか)に接触を与える導電性基板(505)に実装されている。導体(5
07)がこの板に取り付けられ、そしてパッケージの外側に延長している。残り
の領域との接触は、第2の導体(506)の直接取付によって、実施されている
。キャップ(501)を基板(505)上に配置シテ、PSVCE素子(504
)を完全に包囲すると共に、不用な光を排除している。
キャップ(501)にはレンズ(502)が備えられており、入射光子(503
)が素子に到達できるようにしである。
PSVCE受容体素子光ファイバパッケージを第5b図に示す。PSVCE受容
体素子は、極性キーイング(keying)の目的のための平坦側面(504)
を含む置体(503)内に実装されている。光ファイバ(501)は、光ファイ
バ(501)を決った位置に固定しかつ置体(503)への不用な光の侵入を防
止する役を果たす光フアイバ保持用ナツト (502)を介して、置体に入って
いる。大きな接触ビン(505)と小さな接触ビン(506)とを利用して、P
SVCE素子との電気的接触を行うと共に、適当な極性を確保するのを補助して
いる。第5cmはPSVCE受容器素子に対する概略シンボルを示すものである
。
これまでの議論は、1つの応用(AM変調光からFM変調RFへの直接フォーマ
ット変換)において、P S VCE素子の一種(ガリウム砒素受容体)を定義
するものである。ガリウム砒素に言及したが、いずれのふされしい半導体材料で
も、PSVCE素子を製造するために利用することができる。ガリウム砒素のダ
イオードは比較的高いQ(性質係数)を呈するごとが当該技術ではよく知られて
いるが、シリコンで製造されたダイオードは、RFの応用において、より低いノ
イズおよびよりよい熱安定性を表す。
PSVCE素子は、光学的に透明な基板のような、進歩した半導体技術を利用し
て製造することもできる。従来の不透明な基板上の感光半導体素子は、入射光照
明を受けるために広い接合表面積を必要とする。光学的に透明な基板を用いて製
造した素子は、より狭い表面積の埋め込み接合を用いることができる。接合面積
の減少は、接合容量がより少ないこと、そして接合内に蓄積された電荷が少ない
ことを意味するので、光学的に透明な基板技術を用いて、変換感度がより高く、
そしてダイナミック周波数応答がより大きな素子を構成することができる。
多数のP/N接合を用いて構成したPSVCE素子は、典型的に電気的に直列に
接続されており、より大きな光感度、変換感度、より低い値の全体容量(直列接
合による)、およびより高い伝導スレシホルド電圧を示す。もちろん、多数のP
/N接合を、電気的に並列に接続してもよい。この並列接続を行えば、別個の光
源を別個の並列接続された接合に適用゛し、光入力の線型結合を結果的に得る、
線型光学結合のような応用が可能となるであろう。線型光学スプリッタの設計は
、光信号を同時に2つ以上のPSVCE素子に衝突させ、各PSVCE素子を関
連する回路に接続することによって、達成することができる。
レーザダイオードのような発光体を調整してより高い効率および周波数選択特性
を得ることは、当該技術ではよく知られている。このように、レーザダイオード
発光体および/または受容体の形状のPSVCE素子を製造して、これらの特性
全てを利用することができる。
共通パッケージ内に収容された一対の発光体/受容体を備えたPSVCE素子は
、極性には無関係なPSVCE断路器をもたらす。05VCE断路器パツケージ
を第6a図に示し、素子の機能を示す概略シンボルを第6b図に示す。発光器お
よび光受容器のいずれかまたは両方を、多数のP/N接合またはセルで構成する
こともできる。
トランジスタのような半導体素子を、自己増幅PSVCE素子として実施するこ
とができる。フォトトランジスタのベース/エミッタ接合において解放された電
荷キャリアは、この素子のコレクタ/エミッタコンダクタンスを変調し、コレク
タ/ベース容量に対応する変化を起こさせ、これを有利に使用することができる
。
先に論じたAMからFMへの変換の例の他に、PSVCE素子は、断路器、電子
フィルタの調整、通信システムにおける自動周波数網状結合(netting)
、およびフィードバックループにおいても、用途を有するものである。
1己lマイアス1乍−−ド覧;壽い7九信号電縫缶fあし1鷹合Rg、3d
5m
国際調査報告
Claims (20)
- 1.半導体素子であって: 少なくとも1つのP/N接合と、接合動作点が実質的に平衡にある時所定の幅を 有する、関連する空乏領域;入射光子を受信するように構成されかつ配置された 前記接合; から成り、前記入射光子は前記空乏領域の幅を変調して、光子誘導可変容量効果 を生成する一方、動作点を実質的に平衡付近に維持することを特徴とする半導体 素子。
- 2.請求項1記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は、 ガリウム砒素で製造されていることを特徴とする半導体素子。
- 3.請求項1記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合はシ リコンで製造されていることを特徴とする半導体素子。
- 4.請求項1記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は、 多数の直列接続されたP/N接合を含むことを特徴とする半導体素子。
- 5.請求項1記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は、 多数の並列接続されたP/N接合を含むことを特徴とする半導体素子。
- 6.請求項1記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は、 光学的に透明な基板内において、埋め込み接合として構成されていることを特徴 とする半導体素子。
- 7.半導体素子であって: 少なくとも1つのP/N接合と、接合動作点が入射RF電圧の自己整流によって 生成される電圧によって決定される時、所定の幅を有する、関連する空乏領域; 入射光子を受信するように構成されかつ配置された前記接合; から成り、前記入射光子は前記空乏領域の幅を変調して、光子誘導可変容量効果 を生成する一方、入射RF電圧の自己整流によって生成される電圧に実質的に等 しい量だけ、P/N接合の平衡に関して、動作点をずらしたことを特徴とする半 導体素子。
- 8.請求項7記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は、 ガリウム砒素で製造されていることを特徴とする半導体素子。
- 9.請求項7記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合はシ リコンで製造されていることを特徴とする半導体素子。
- 10.請求項7記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は 、多数の直列接続されたP/N接合を含むことを特電とする半導体素子。
- 11.請求項7記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は 、多数の並列接続されたP/N接合を含むことを特徴とする半導体素子。
- 12.請求項7記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合は 、光学的に透明な基板内において、埋め込み接合として構成されていることを特 徴とする半導体素子。
- 13.半導体素子であって: 少なくとも1つのP/N接合と、外部印加高インピーダンス電流源の解放回路電 圧によって接合動作点が決定される時、所定の幅を有する、関連する空乏領域; 入射光子を受信するように構成されかつ配置された前記接合; から成り、前記入射光子は前記空乏領域の幅を変調して、光子誘導可変容量効果 を生成する一方、外部印加高インピーダンス電流源の解放回路電圧に実質的に等 しい量だけ、P/N接合の平衡に関して、動作点をずらしたことを特徴とする半 導体素子。
- 14.請求項13記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合 は、ガリウム砒素で製造されていることを特徴とする半導体素子。
- 15.請求項13記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合 はシリコンで製造されていることを特徴とする半導体素子。
- 16.請求項13記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合 は、多数の直列接続されたP/N接合を含むことを特徴とする半導体素子。
- 17.請求項13記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合 は、多数の並列接続されたP/N接合を含むことを特徴とする半導体素子。
- 18.請求項13記載の半導体素子において、前記少なくとも1つのP/N接合 は、光学的に透明な基板内において、埋め込み接合として構成されていることを 特徴とする半導体素子。
- 19.変調フォーマット変換装置であって:入力および出力ポートを有する電圧 制御発振器(VCO);前記VCOの入力ポートに結合された光子誘導可変容量 効果(PSVCE)素子; 前記PSVCE素子に向けられる振幅変調光源;から成り、前記振幅変調光によ って前記PSVCE素子内に誘導された容量変化は、結果的に前記VCOの出力 ポートにおいて、関連する周波数変化を生じることを特徴とする半導体素子。
- 20.半導体素子であって: 単一パッケージ内の第1お上び第2のPSVCE素子から成り; 前記第1のPSVCE素子に結合された第1の外部回路および前記第2のPSV CE素子に結合された第2の外部回路が、互いに電気的に絶縁されていることを 特徴とする半導体素子。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US579,437 | 1990-09-07 | ||
US07/579,437 US5136346A (en) | 1990-09-07 | 1990-09-07 | Photon stimulated variable capacitance effect devices |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06500667A true JPH06500667A (ja) | 1994-01-20 |
JP2712836B2 JP2712836B2 (ja) | 1998-02-16 |
Family
ID=24316904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3517189A Expired - Lifetime JP2712836B2 (ja) | 1990-09-07 | 1991-09-06 | 光子誘導可変容量効果素子 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5136346A (ja) |
EP (1) | EP0547177A4 (ja) |
JP (1) | JP2712836B2 (ja) |
KR (1) | KR930701836A (ja) |
WO (1) | WO1992004735A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SE521733C2 (sv) | 1999-06-04 | 2003-12-02 | Ericsson Telefon Ab L M | Variabel kapacitans, lågpassfilter samt mikroelektromekaniskt omkopplingsarrangemang |
AUPR174800A0 (en) * | 2000-11-29 | 2000-12-21 | Australian National University, The | Semiconductor processing |
MY144264A (en) * | 2001-11-29 | 2011-08-29 | Transform Solar Pty Ltd | Semiconductur texturing process |
US20050216531A1 (en) * | 2004-03-24 | 2005-09-29 | Blandford Robert R | Personal web diary |
US9147778B2 (en) * | 2006-11-07 | 2015-09-29 | First Solar, Inc. | Photovoltaic devices including nitrogen-containing metal contact |
JP2013110282A (ja) * | 2011-11-21 | 2013-06-06 | Canon Inc | 発光素子の駆動回路および発光装置 |
US10323980B2 (en) * | 2013-03-29 | 2019-06-18 | Rensselaer Polytechnic Institute | Tunable photocapacitive optical radiation sensor enabled radio transmitter and applications thereof |
EP3776610B1 (en) | 2018-07-20 | 2023-11-22 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Electronic device including variable capacitor including photo-conductive material and method for controlling the same |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3126483A (en) * | 1964-03-24 | Combination radiation detector and amplifier | ||
NL154165C (ja) * | 1949-10-11 | |||
US3040262A (en) * | 1959-06-22 | 1962-06-19 | Bell Telephone Labor Inc | Light sensitive resonant circuit |
US3117229A (en) * | 1960-10-03 | 1964-01-07 | Solid State Radiations Inc | Solid state radiation detector with separate ohmic contacts to reduce leakage current |
US3502884A (en) * | 1966-12-19 | 1970-03-24 | Rca Corp | Method and apparatus for detecting light by capacitance change using semiconductor material with depletion layer |
GB1302206A (ja) * | 1968-12-30 | 1973-01-04 | ||
US3798508A (en) * | 1969-09-18 | 1974-03-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Variable capacitance device |
US3748579A (en) * | 1971-11-12 | 1973-07-24 | Bell Telephone Labor Inc | Method for determining concentration profiles of deep levels on both sides of a p-n junction |
US4064522A (en) * | 1976-02-04 | 1977-12-20 | Exxon Research & Engineering Co. | High efficiency selenium heterojunction solar cells |
US4481487A (en) * | 1981-08-14 | 1984-11-06 | Texas Instruments Incorporated | Monolithic microwave wide-band VCO |
US4463322A (en) * | 1981-08-14 | 1984-07-31 | Texas Instruments Incorporated | Self-biasing for FET-driven microwave VCOs |
JPS6041270A (ja) * | 1983-08-16 | 1985-03-04 | Oki Electric Ind Co Ltd | 集積型ホトカプラ |
US4805084A (en) * | 1988-04-25 | 1989-02-14 | General Electric Company | Direct DC to RF conversion by impulse excitation |
-
1990
- 1990-09-07 US US07/579,437 patent/US5136346A/en not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-09-06 JP JP3517189A patent/JP2712836B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1991-09-06 WO PCT/US1991/006391 patent/WO1992004735A1/en not_active Application Discontinuation
- 1991-09-06 EP EP19910918855 patent/EP0547177A4/en not_active Ceased
-
1993
- 1993-02-23 KR KR1019930700524A patent/KR930701836A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1992004735A1 (en) | 1992-03-19 |
US5136346A (en) | 1992-08-04 |
KR930701836A (ko) | 1993-06-12 |
JP2712836B2 (ja) | 1998-02-16 |
EP0547177A4 (en) | 1993-07-21 |
EP0547177A1 (en) | 1993-06-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3304431A (en) | Photosensitive transistor chopper using light emissive diode | |
US10340407B2 (en) | Avalanche photodetector | |
US6198118B1 (en) | Distributed photodiode structure | |
Chen et al. | A 2.5 Gbps CMOS fully integrated optical receicer with lateral PIN detector | |
JPH06500667A (ja) | 光子誘導可変容量効果素子 | |
JP2000332286A (ja) | 高パワーで大きいバンド幅の進行波光検出噐 | |
Berger | MSM photodiodes | |
US5296715A (en) | Optically isolated signal coupler with linear response | |
WO2014068850A1 (ja) | フォトダイオード | |
US4183034A (en) | Pin photodiode and integrated circuit including same | |
US6081020A (en) | Linear PIN photodiode | |
CN107248536B (zh) | 基于量子阱结构的光开关器件 | |
CN114843289A (zh) | 一种设置电容结构的光电器件 | |
CN208538885U (zh) | 一种波导型光伏场效应晶体管结构的光敏器件 | |
KR101897257B1 (ko) | 광 검출기 및 그를 구비한 광학 소자 | |
Lam et al. | Surface-depleted photoconductors | |
US4531143A (en) | Laser activated MTOS microwave device | |
EP0706225A1 (en) | Optical communication system comprising a resonant tunneling diode | |
US3466448A (en) | Double injection photodetector having n+-p-p+ | |
Akahori et al. | A 622 Mb/s monolithically integrated InGaAs-InP high-sensitivity transimpedance photoreceiver and a multichannel receiver array | |
US6753586B1 (en) | Distributed photodiode structure having majority dopant gradient and method for making same | |
Gaitonde et al. | Application-Specific Dual-Mode Buried-Gate GaAs OPFET for Visible-Light Communication | |
CN211320097U (zh) | 光电器件 | |
JPS5941556Y2 (ja) | 受光回路 | |
Oliinyk et al. | Research of the Photocapacitor Effect in A 2 B 6 Monocrystals |