JPH0648493B2 - Ｘ線ｃｔスキヤナによる投影デ−タの補正方法 - Google Patents
Ｘ線ｃｔスキヤナによる投影デ−タの補正方法Info
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- JPH0648493B2 JPH0648493B2 JP60066143A JP6614385A JPH0648493B2 JP H0648493 B2 JPH0648493 B2 JP H0648493B2 JP 60066143 A JP60066143 A JP 60066143A JP 6614385 A JP6614385 A JP 6614385A JP H0648493 B2 JPH0648493 B2 JP H0648493B2
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
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Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、Ｘ線管と多素子検出器とからなるＸ線ＣＴス
キヤナの分野で利用される。
キヤナの分野で利用される。
本発明は、第３世代の、つまりフアンビーム型Ｘ線ＣＴ
スキヤナの投影データ収集に関する。
スキヤナの投影データ収集に関する。
（ロ）従来技術 従来より、フアンビーム型Ｘ線ＣＴスキヤナ特有の問題
として、検出器が多数個により構成されるので、検出器
間相互のばらつきが画質に直接的影響を及ぼすことであ
る。検出器のサンプリング検出位置に数％の誤差がある
と、リング状のアーチフアクト（偽像）が生ずる。これ
は回転フアンビームの性質上、１つの検出器の出力が画
像再生に最も寄与する場所（画素）が円軌道を示すた
め、その軌道に沿つて誤差が蓄積されるからである。
として、検出器が多数個により構成されるので、検出器
間相互のばらつきが画質に直接的影響を及ぼすことであ
る。検出器のサンプリング検出位置に数％の誤差がある
と、リング状のアーチフアクト（偽像）が生ずる。これ
は回転フアンビームの性質上、１つの検出器の出力が画
像再生に最も寄与する場所（画素）が円軌道を示すた
め、その軌道に沿つて誤差が蓄積されるからである。
（ハ）発明が解決しようとする問題点 最新のＸ線ＣＴスキヤナでは、検出器素子間隔が１〜
１．５ミリという狭まいものが開発されているが、もつ
と高い組立精度が要求されている。
１．５ミリという狭まいものが開発されているが、もつ
と高い組立精度が要求されている。
前述したリング・アーチフアクトを生じさせないために
は、検出器素子間隔のばらつきは２％程度にまで抑える
必要がある。
は、検出器素子間隔のばらつきは２％程度にまで抑える
必要がある。
しかしながら、０．０５〜０．１５ミリの薄い電極板を
使つた電離箱検出器では、板のそりなどによりその目標
はなかなか達成し難たく、製作できてもその歩留まりが
悪い。あるいはシンチレータとフオトダイオードとから
なる半導体検出器においても、その組立精度上の目標は
達成し難たい。
使つた電離箱検出器では、板のそりなどによりその目標
はなかなか達成し難たく、製作できてもその歩留まりが
悪い。あるいはシンチレータとフオトダイオードとから
なる半導体検出器においても、その組立精度上の目標は
達成し難たい。
そこで、このような組立精度ないし検出器入力側の問題
から離なれて、検出器素子間隔のばらつきにより出力さ
れる誤差データを補正して、つまり検出器出力側により
この問題を解決し、リング・アーチフアクトを生じない
ような投影データを得て、これを画像再構成に使用する
ことが、本発明の課題である。
から離なれて、検出器素子間隔のばらつきにより出力さ
れる誤差データを補正して、つまり検出器出力側により
この問題を解決し、リング・アーチフアクトを生じない
ような投影データを得て、これを画像再構成に使用する
ことが、本発明の課題である。
（ニ）問題点を解決するための手段 前記課題の解決は、Ｘ線管・検出器間にＸ線吸収係数の
大きい部材を配置または横断移動させ、該部材にＸ線を
照射させその相対位置をパラメータにしてその各素子毎
の投影データを収集し、各素子毎に収集された投影デー
タの重心値（θｉ）を算出し、本来投影されるべき各素
子毎の既知相対位置（θ′ｉ）と投影データ重心値（θ
ｉ）とのずれ（Δθｉ）を演算し、被写体の投影データ
（Ｐｉ）が得られるときその補正値（Ｐ′ｉ）を各素子
毎のずれ（Δθｉ）に応じた補間演算により求めること
により、達成できる。
大きい部材を配置または横断移動させ、該部材にＸ線を
照射させその相対位置をパラメータにしてその各素子毎
の投影データを収集し、各素子毎に収集された投影デー
タの重心値（θｉ）を算出し、本来投影されるべき各素
子毎の既知相対位置（θ′ｉ）と投影データ重心値（θ
ｉ）とのずれ（Δθｉ）を演算し、被写体の投影データ
（Ｐｉ）が得られるときその補正値（Ｐ′ｉ）を各素子
毎のずれ（Δθｉ）に応じた補間演算により求めること
により、達成できる。
（ホ）作 用 Ｘ線間・検出器間にＸ線吸収係数の大きい部材を配置ま
たは横断移動させ、これにＸ線を照射させることによつ
て、部材のある相対位置での投影データ、そのうち信頼
性のある重心値が占める位置と、検出器がその部材相対
位置と対応すべき既知位置とのずれを測定でき、これと
検出器素子前後間の既知位置との比が計られ、この比に
検出器素子前後の投影データの差を掛けることにより、
各素子毎の誤差値が演算され、これにより被写体の投影
データが補正されるのである。
たは横断移動させ、これにＸ線を照射させることによつ
て、部材のある相対位置での投影データ、そのうち信頼
性のある重心値が占める位置と、検出器がその部材相対
位置と対応すべき既知位置とのずれを測定でき、これと
検出器素子前後間の既知位置との比が計られ、この比に
検出器素子前後の投影データの差を掛けることにより、
各素子毎の誤差値が演算され、これにより被写体の投影
データが補正されるのである。
（ヘ）実施例 本発明の好適な実施例を、図面に基づいて説明する。
第１図は、その１実施例の作用態様図である。Ｘ線ＣＴ
スキヤナは、Ｘ線管１と検出器２とからなり、これらの
対向位置間にＸ線吸収係数の大きい部材、例えば鉄ピン
３が配置される。図示のように、鉄ピン３をスキヤナ対
向域を横断するように移動させてもよい。その軌道は検
出器２の素子配列と相対位置がとれるようであればよ
く、好ましくは検出器素子配列と平行な円弧状がよい。
θはその相対位置を弧度として現わしている。鉄ピン３
にＸ線を照射し、検出器各素子毎に鉄ピン３の投影デー
タを収集する。第２図は、このような投影データの分布
図である。各素子毎に投影データの重心値が占める位置
θｉを求める。図示例では、投影データは正規分布図を
示しているので、最大値が重心値となり、その位置はθ
ｉとして示される。
スキヤナは、Ｘ線管１と検出器２とからなり、これらの
対向位置間にＸ線吸収係数の大きい部材、例えば鉄ピン
３が配置される。図示のように、鉄ピン３をスキヤナ対
向域を横断するように移動させてもよい。その軌道は検
出器２の素子配列と相対位置がとれるようであればよ
く、好ましくは検出器素子配列と平行な円弧状がよい。
θはその相対位置を弧度として現わしている。鉄ピン３
にＸ線を照射し、検出器各素子毎に鉄ピン３の投影デー
タを収集する。第２図は、このような投影データの分布
図である。各素子毎に投影データの重心値が占める位置
θｉを求める。図示例では、投影データは正規分布図を
示しているので、最大値が重心値となり、その位置はθ
ｉとして示される。
第３図は、被写体投影データの分布図であり、第２図に
おける重心値θｉと、本来投影されるべき、つまり検出
器相互間にばらつきがない場合の既知位置θ′ｉとが対
応され、ずれΔθｉを算出し、これを記憶ないし登録す
る。
おける重心値θｉと、本来投影されるべき、つまり検出
器相互間にばらつきがない場合の既知位置θ′ｉとが対
応され、ずれΔθｉを算出し、これを記憶ないし登録す
る。
ずれを直した位置、図示では矢頭位置がサンプリング中
心である。このように、検出器素子毎に感度、特性など
のばらつきがあつても、自分自身のチヤンネルの中で重
心値ないし最大値を求めるので、それらの影響を一切受
けずに、正確にサンプリング中心を求めることが可能で
ある。
心である。このように、検出器素子毎に感度、特性など
のばらつきがあつても、自分自身のチヤンネルの中で重
心値ないし最大値を求めるので、それらの影響を一切受
けずに、正確にサンプリング中心を求めることが可能で
ある。
第３図において、黒点のように被写体の投影データＰｉ
が得られると、その補正値Ｐ′ｉは各チヤンネルのずれ
Δθｉに応じた補間演算により求められる。図示例のｉ
はi-2 として一般式にすれば、投影データＰｉの補正値
ないし計算上の投影データＰ′ｉは、Ｐ′ｉ＝Ｐｉ＋
（Pi-1−Ｐｉ）×Δθｉ／（θ′ｉ−θ′i-1）となり
求められる。なお、θ′ｉ、θ′i-1は投影データ
Ｐｉ、Ｐi-1の検出器でのそれぞれ既知相対位置であ
る。
が得られると、その補正値Ｐ′ｉは各チヤンネルのずれ
Δθｉに応じた補間演算により求められる。図示例のｉ
はi-2 として一般式にすれば、投影データＰｉの補正値
ないし計算上の投影データＰ′ｉは、Ｐ′ｉ＝Ｐｉ＋
（Pi-1−Ｐｉ）×Δθｉ／（θ′ｉ−θ′i-1）となり
求められる。なお、θ′ｉ、θ′i-1は投影データ
Ｐｉ、Ｐi-1の検出器でのそれぞれ既知相対位置であ
る。
本発明によれば、ずれΔθｉに応じて、得られた投影デ
ータＰｉから補間データＰ′ｉを作成し、このデータを
画素再構成の処理にかける。
ータＰｉから補間データＰ′ｉを作成し、このデータを
画素再構成の処理にかける。
（ト）効 果 本発明では、検出器素子間の組立精度が悪くて、相互に
ばらつきがあつても、画像にリング・アーチフアクトを
生ぜず、また検出器出力側で入力側のばらつきを解消す
るので、製品の歩留まりがが向上し、全体としてコスト
が低減するという効果を奏する。
ばらつきがあつても、画像にリング・アーチフアクトを
生ぜず、また検出器出力側で入力側のばらつきを解消す
るので、製品の歩留まりがが向上し、全体としてコスト
が低減するという効果を奏する。
第１図は本発明の１実施例作用態様図、第２図は本発明
による照射部材の投影データ分布例図、第３図は被写体
の投影データ分布例図である。 １はＸ線管ないしその焦点、２は検出器、３はＸ線吸収
係数の大きい部材である。
による照射部材の投影データ分布例図、第３図は被写体
の投影データ分布例図である。 １はＸ線管ないしその焦点、２は検出器、３はＸ線吸収
係数の大きい部材である。
Claims (2)
- 【請求項１】Ｘ線管と多素子検出器とからなるフアンビ
ーム型Ｘ線ＣＴスキヤナにおいて、Ｘ線管・検出器間に
Ｘ線吸収係数の大きい部材を配置または横断移動させ、
該部材にＸ線を照射させその相対位置をパラメータにし
てその各素子毎の投影データを収集し、各素子毎に収集
された投影データの重心値（θｉ）を算出し、本来投影
されるべき各素子毎の既知相対位置（θ′ｉ）と投影デ
ータ重心値（θｉ）とのずれ（Δθｉ）を演算し、被写
体の投影データ（Ｐｉ）が得られるときその補正値
（Ｐ′ｉ）を各素子毎のずれ（Δθｉ）に応じた補間演
算により求めることを特徴とする、Ｘ線ＣＴスキヤナに
よる投影データの補正方法。 - 【請求項２】被写体の投影データ（Ｐｉ）の補正値
（Ｐ′ｉ）が、Ｐ′ｉ＝Ｐｉ＋（Ｐi-1 −Ｐｉ）×Δθ
ｉ／（θ′ｉ−θ′i-1 ）により求められることを特徴
とする、特許請求の範囲第１項に記載のＸ線ＣＴスキヤ
ナによる投影データの補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60066143A JPH0648493B2 (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | Ｘ線ｃｔスキヤナによる投影デ−タの補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60066143A JPH0648493B2 (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | Ｘ線ｃｔスキヤナによる投影デ−タの補正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61223983A JPS61223983A (ja) | 1986-10-04 |
| JPH0648493B2 true JPH0648493B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=13307340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60066143A Expired - Fee Related JPH0648493B2 (ja) | 1985-03-28 | 1985-03-28 | Ｘ線ｃｔスキヤナによる投影デ−タの補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0648493B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106821407A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-06-13 | 上海联影医疗科技有限公司 | 用于计算机断层扫描的运动检测方法和装置 |
-
1985
- 1985-03-28 JP JP60066143A patent/JPH0648493B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106821407A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-06-13 | 上海联影医疗科技有限公司 | 用于计算机断层扫描的运动检测方法和装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61223983A (ja) | 1986-10-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |