JPH0645203Y2 - 上部解放形箱型構造物の深さ計測装置 - Google Patents
上部解放形箱型構造物の深さ計測装置Info
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- JPH0645203Y2 JPH0645203Y2 JP7525290U JP7525290U JPH0645203Y2 JP H0645203 Y2 JPH0645203 Y2 JP H0645203Y2 JP 7525290 U JP7525290 U JP 7525290U JP 7525290 U JP7525290 U JP 7525290U JP H0645203 Y2 JPH0645203 Y2 JP H0645203Y2
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Description
【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は，例えば核燃料再処理工場で使用されている核
燃料剪断機のハウジング（上部解放形箱型構造物）の各
部の深さを計測する上部解放形箱型構造物の深さ計測装
置に関するものである。
燃料剪断機のハウジング（上部解放形箱型構造物）の各
部の深さを計測する上部解放形箱型構造物の深さ計測装
置に関するものである。
（従来の技術） 従来，核燃料再処理工場で使用されている核燃料剪断機
のハウジング（上部解放形箱型構造物）の各部の深さ
は，曲尺等により計測するか，マイクロメータによ
り計測するか，光センサーにより計測するか，第９
図に示すようにハウジング（ａ）を跨いでハウジング
（ａ）の上にストレートエツジ（ｃ）を載置する一方，
電磁式測長器（ｂ）をストレートエツジ（ｃ）とハウン
ジグ（ａ）底部との間に介装して，計測するようにして
いる。なお第８図は同電磁式測長器（ｂ）の詳細を示し
ており，（b1）が筒状の電磁式測長器本体，（b2）が同
電磁式測長器本体（b1）内に軸方向移動を可能に嵌挿し
た下部測長スピンドル，（b3）が電磁式測長器（ｂ）の
上部測長スピンドル，（b4）が上記下部測長スピンドル
（b2）を軸方向外方へ付勢するスプリング，（b5）が上
記下部測長スピンドル（b2）に接続したスケール，
（b6）が同スケール（b5）の移動量を検出する検出ヘツ
ド，（b7）が同検出ヘツド（b6）から延びた信号伝達ケ
ーブル，（b8）が同ケーブル（b7）に接続した計測値表
示ユニツトで，下部測長スピンドル（b2）及びスケール
（b5）の移動量を検出ヘツド（b6）により検出し，その
とき得られる検出信号を信号伝達ケーブル（b7）を介し
計測値表示ユニツト（b8）へ送って，ここに下部測長ス
ピンドル（b2）及びスケール（b5）の移動量，即ち，ハ
ウジング（上部解放形箱型構造物）（ａ）の深さの値を
表示するようになっている。
のハウジング（上部解放形箱型構造物）の各部の深さ
は，曲尺等により計測するか，マイクロメータによ
り計測するか，光センサーにより計測するか，第９
図に示すようにハウジング（ａ）を跨いでハウジング
（ａ）の上にストレートエツジ（ｃ）を載置する一方，
電磁式測長器（ｂ）をストレートエツジ（ｃ）とハウン
ジグ（ａ）底部との間に介装して，計測するようにして
いる。なお第８図は同電磁式測長器（ｂ）の詳細を示し
ており，（b1）が筒状の電磁式測長器本体，（b2）が同
電磁式測長器本体（b1）内に軸方向移動を可能に嵌挿し
た下部測長スピンドル，（b3）が電磁式測長器（ｂ）の
上部測長スピンドル，（b4）が上記下部測長スピンドル
（b2）を軸方向外方へ付勢するスプリング，（b5）が上
記下部測長スピンドル（b2）に接続したスケール，
（b6）が同スケール（b5）の移動量を検出する検出ヘツ
ド，（b7）が同検出ヘツド（b6）から延びた信号伝達ケ
ーブル，（b8）が同ケーブル（b7）に接続した計測値表
示ユニツトで，下部測長スピンドル（b2）及びスケール
（b5）の移動量を検出ヘツド（b6）により検出し，その
とき得られる検出信号を信号伝達ケーブル（b7）を介し
計測値表示ユニツト（b8）へ送って，ここに下部測長ス
ピンドル（b2）及びスケール（b5）の移動量，即ち，ハ
ウジング（上部解放形箱型構造物）（ａ）の深さの値を
表示するようになっている。
（考案が解決しようとする課題） 前記の曲尺を使用した計測方法は，例えば1/10mm以下
の精度を要する計測には不向きである。
の精度を要する計測には不向きである。
またの計測方法は，計測精度を向上できるもの
の，高放射線下での計測であり，次の問題があった。即
ち， のマイクロメータを使用した計測方法は，遠隔操作の
マニプレータによりマイクロメータを直接ハンドリング
する必要があって，マイクロメータのハンドリングが煩
雑になる上に，マイクロメータの計測値をマニプレータ
の操作地点（遠隔地点）から読み取るので，計測値を読
み取り難い。またマイクロメータは，その取扱いに習熟
していないと，信頼できるデータを得られず，経験の浅
い者では，信頼できるデータを得られない。
の，高放射線下での計測であり，次の問題があった。即
ち， のマイクロメータを使用した計測方法は，遠隔操作の
マニプレータによりマイクロメータを直接ハンドリング
する必要があって，マイクロメータのハンドリングが煩
雑になる上に，マイクロメータの計測値をマニプレータ
の操作地点（遠隔地点）から読み取るので，計測値を読
み取り難い。またマイクロメータは，その取扱いに習熟
していないと，信頼できるデータを得られず，経験の浅
い者では，信頼できるデータを得られない。
の光センサーを使用した計測方法は，光センサー自身
が高放射線下で早期に劣化するので，信頼できるデータ
を得難い。
が高放射線下で早期に劣化するので，信頼できるデータ
を得難い。
の電磁式測長器を使用した計測方法は，電磁式測長器
が高放射線下で劣化し難くて，信頼性の高い高精度のデ
ータを得られるものの，遠隔操作のマニプレータにより
電磁式測長器を直接ハンドリングする必要があって，電
磁式測長器のハンドリングが煩雑になるという問題があ
った。
が高放射線下で劣化し難くて，信頼性の高い高精度のデ
ータを得られるものの，遠隔操作のマニプレータにより
電磁式測長器を直接ハンドリングする必要があって，電
磁式測長器のハンドリングが煩雑になるという問題があ
った。
本考案は前記の問題点に鑑み提案するもきであり，その
目的とする処は，上部解放形箱型構造物の深さの計測を
容易に行うことができる上に，信頼性の高い高精度のデ
ータを得られる上部解放形箱型構造物の深さ計測装置を
提供しようとする点にある。
目的とする処は，上部解放形箱型構造物の深さの計測を
容易に行うことができる上に，信頼性の高い高精度のデ
ータを得られる上部解放形箱型構造物の深さ計測装置を
提供しようとする点にある。
（課題を解決するための手段） 上記の目的を達成するために，本考案は，電磁式測長器
を使用して上部解放形箱型構造物の深さを計測する上部
解放形箱型構造物の深さ計測装置において，前記上部解
放形箱型構造物を跨いで載置される中間部をくり抜いた
ストレートエツジと，同ストレートエツジ上に垂直状態
に保持されたアダプタと，同アダプタ内に垂直状態に保
持された電磁式測長器と，上記ストレートエツジと上記
アダプタとの間に介装される調整ブロツクと，上記アダ
プタのガイド部材に沿う垂直移動可能に保持されて上記
電磁式測長器の下部測長スピンドルに下方から当接した
測定子とを具えている。
を使用して上部解放形箱型構造物の深さを計測する上部
解放形箱型構造物の深さ計測装置において，前記上部解
放形箱型構造物を跨いで載置される中間部をくり抜いた
ストレートエツジと，同ストレートエツジ上に垂直状態
に保持されたアダプタと，同アダプタ内に垂直状態に保
持された電磁式測長器と，上記ストレートエツジと上記
アダプタとの間に介装される調整ブロツクと，上記アダ
プタのガイド部材に沿う垂直移動可能に保持されて上記
電磁式測長器の下部測長スピンドルに下方から当接した
測定子とを具えている。
（作用） 本考案の上部解放形箱型構造物の深さ計測装置は前記の
ように構成されており，上部解放形箱型構造物の深さが
深くて，この深さが伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲
内にあれば，電磁式測長器の上部測長スピンドルをアダ
プタ上部に当接させ，アダプタをストレートエツジの上
に載せ，ストレートエツジを上部解放形箱型構造物の上
に跨座状態に載せ，アダプタの測定子を上部解放形箱型
構造物の底面に当接させて，上部解放形箱型構造物の深
さを計測し，また上部解放形箱型構造物の深さが浅く
て，この深さが伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲外に
あれば，調整ブロツクをアダプタとストレートエツジと
の間に介装する以外，上記と同じ要領で，上部解放形箱
型構造物の深さを計測する。
ように構成されており，上部解放形箱型構造物の深さが
深くて，この深さが伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲
内にあれば，電磁式測長器の上部測長スピンドルをアダ
プタ上部に当接させ，アダプタをストレートエツジの上
に載せ，ストレートエツジを上部解放形箱型構造物の上
に跨座状態に載せ，アダプタの測定子を上部解放形箱型
構造物の底面に当接させて，上部解放形箱型構造物の深
さを計測し，また上部解放形箱型構造物の深さが浅く
て，この深さが伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲外に
あれば，調整ブロツクをアダプタとストレートエツジと
の間に介装する以外，上記と同じ要領で，上部解放形箱
型構造物の深さを計測する。
（実施例） 次に本考案の上部解放形箱型構造物の深さ計測装置を第
１図乃至第５図に示す一実施例により説明すると，第１
図の（１）が上部解放形箱型構造物，第1,2図の（２）
が電磁式測長器，（2a）が同電磁式測長器（２）内に軸
方向移動を可能に嵌挿した下部測長スピンドルで，同下
部測長スピンドル（2a）が電磁式測長器（２）内のスプ
リング（図示せず）により軸方向外方へ付勢されてい
る。また（2b）が同電磁式測長器（２）の上部測長スピ
ンドル，（2c）が同電磁式測長器（２）の中間部から横
方向に突設した検出ヘツドを含むケーブルカバー，（2
d）が計測値表示ユニツトで，上記検出ヘツドと同計測
値表示ユニツト（2d）とがケーブルカバー（2c）内を通
る信号伝達ケーブルにより接続されており，下部測長ス
ピンドル（2a）及び同下部測長スピンドル（2a）に取付
けたスケール（図示せず）の移動量を検出ヘツドにより
検出し，そのとき得られる検出信号を信号伝達ケーブル
を介し計測値表示ユニツト（2d）へ送って，ここに下部
測長スピンドル（2a）及びスケールの移動量，即ち，上
部解放形箱型構造物（１）の深さの値を表示するように
なっている。また（３）が同電磁式測長器（２）を垂直
状態に保持するアダプタ，（3a）が同アダプタ（３）の
上端部に設けた移動用アイボルト，（3b）が断面Ｕ字形
の下部ガイド部材，（3c）が同ガイド部材（3b）により
垂直移動可能に保持されて上記電磁式測長器（２）の下
部測長スピンドル（2a）に下方から当接した測定子，
（3d）が上記アダプタ（３）の下部に形成した上部ガイ
ド部材で，同上部ガイド部材（3d）と上記下部ガイド部
材（3b）とが一体に組み付けられている。また（3e）が
上記上部ガイド部材（3d）に設けた指針，（４）が上記
下部ガイド部材（3b）の上端部と上記電磁式測長器
（２）のケーブルカバー（2c）との間に介装したゴム製
支持部材で，同ゴム製支持部材（４）により電磁式測長
器（２）が押し上げられて，同電磁式測長器（２）の上
部測長スピンドル（2b）の上端部が上記アダプタ（３）
の上部面（Ａ）に当接している。また（５）が上記上部
ガイド部材（3d）を載せる枠型の調整ブロツク（上下方
向にくり抜いた枠型の調整ブロツク），（5a）が同調整
ブロツク（５）の両側面両端部下面に固定した４個の案
内爪，（5b）が同調整ブロツク（５）の両側面中央部下
面に固定した２個の指針，第1,3,4,5図の（６）が同調
整ブロツク（５）を載せて支持する枠型のストレートエ
ツジ（上下方向にくり抜いた枠側のストレートエツジ）
で，同ストレートエツジ（６）が上部解放形箱型構造物
（１）を跨いで載置される。なお上記各案内爪（5a）
は，上記調整ブロツク（５）を上記ストレートエツジ
（６）の上に載置したときに，調整ブロツク（５）の位
置決めと脱落防止とのために設けられている。また上記
指針（5b）は上記ストレートエツジ（６）に刻設したス
ケール（6a）に対応して調整ブロツク（５）の両側面中
央部下面に固定しており，同指針（5b）と上記スケール
（6a）とで計測点を表示することになる。
１図乃至第５図に示す一実施例により説明すると，第１
図の（１）が上部解放形箱型構造物，第1,2図の（２）
が電磁式測長器，（2a）が同電磁式測長器（２）内に軸
方向移動を可能に嵌挿した下部測長スピンドルで，同下
部測長スピンドル（2a）が電磁式測長器（２）内のスプ
リング（図示せず）により軸方向外方へ付勢されてい
る。また（2b）が同電磁式測長器（２）の上部測長スピ
ンドル，（2c）が同電磁式測長器（２）の中間部から横
方向に突設した検出ヘツドを含むケーブルカバー，（2
d）が計測値表示ユニツトで，上記検出ヘツドと同計測
値表示ユニツト（2d）とがケーブルカバー（2c）内を通
る信号伝達ケーブルにより接続されており，下部測長ス
ピンドル（2a）及び同下部測長スピンドル（2a）に取付
けたスケール（図示せず）の移動量を検出ヘツドにより
検出し，そのとき得られる検出信号を信号伝達ケーブル
を介し計測値表示ユニツト（2d）へ送って，ここに下部
測長スピンドル（2a）及びスケールの移動量，即ち，上
部解放形箱型構造物（１）の深さの値を表示するように
なっている。また（３）が同電磁式測長器（２）を垂直
状態に保持するアダプタ，（3a）が同アダプタ（３）の
上端部に設けた移動用アイボルト，（3b）が断面Ｕ字形
の下部ガイド部材，（3c）が同ガイド部材（3b）により
垂直移動可能に保持されて上記電磁式測長器（２）の下
部測長スピンドル（2a）に下方から当接した測定子，
（3d）が上記アダプタ（３）の下部に形成した上部ガイ
ド部材で，同上部ガイド部材（3d）と上記下部ガイド部
材（3b）とが一体に組み付けられている。また（3e）が
上記上部ガイド部材（3d）に設けた指針，（４）が上記
下部ガイド部材（3b）の上端部と上記電磁式測長器
（２）のケーブルカバー（2c）との間に介装したゴム製
支持部材で，同ゴム製支持部材（４）により電磁式測長
器（２）が押し上げられて，同電磁式測長器（２）の上
部測長スピンドル（2b）の上端部が上記アダプタ（３）
の上部面（Ａ）に当接している。また（５）が上記上部
ガイド部材（3d）を載せる枠型の調整ブロツク（上下方
向にくり抜いた枠型の調整ブロツク），（5a）が同調整
ブロツク（５）の両側面両端部下面に固定した４個の案
内爪，（5b）が同調整ブロツク（５）の両側面中央部下
面に固定した２個の指針，第1,3,4,5図の（６）が同調
整ブロツク（５）を載せて支持する枠型のストレートエ
ツジ（上下方向にくり抜いた枠側のストレートエツジ）
で，同ストレートエツジ（６）が上部解放形箱型構造物
（１）を跨いで載置される。なお上記各案内爪（5a）
は，上記調整ブロツク（５）を上記ストレートエツジ
（６）の上に載置したときに，調整ブロツク（５）の位
置決めと脱落防止とのために設けられている。また上記
指針（5b）は上記ストレートエツジ（６）に刻設したス
ケール（6a）に対応して調整ブロツク（５）の両側面中
央部下面に固定しており，同指針（5b）と上記スケール
（6a）とで計測点を表示することになる。
次に前記第１図乃至第５図に示す上部解放形箱型構造物
の深さ計測装置の作用を具体的に説明する。第６図は，
上部解放形箱型構造物（１）の深さL1及びL2の計測例を
示している。
の深さ計測装置の作用を具体的に説明する。第６図は，
上部解放形箱型構造物（１）の深さL1及びL2の計測例を
示している。
先ず深さL1の計測例を説明する。第１図は，電磁式測長
器（２）の上部測長スピンドル（2b）がアダプタ（３）
の上部面（Ａ）に当接し，電磁式測長器（２）の下部測
長スピンドル（2a）がアダプタ（３）の測定子（3c）を
介して上部解放形箱型構造物（１）の底面に当接してい
る。またストレートエツジ（６）が上部解放形箱型構造
物（１）を跨いで載置されている。また第６図のl0が電
磁式測長器（２）最長時のストレートエツジ（６）の上
面から下部測長スピンドル（2a）下端部までの長さで，
この長さl0は，常に一定であり，この長さを別の計測器
で予め計測しておく。またストレートエツジ（６）の高
さl1も上記長さl0と同様に別の計測器で予め計測してお
く。そして上部解放形箱型構造物（１）の深さL1を計測
する場合，上部解放形箱型構造物（１）の深さL1は，L1
＝l0-l1-l3になる。即ち，L1はl3を知ることにより求め
られ，このl3は，l0時の計測値表示ユニツト（2d）に表
示された値の差により知ることができる。
器（２）の上部測長スピンドル（2b）がアダプタ（３）
の上部面（Ａ）に当接し，電磁式測長器（２）の下部測
長スピンドル（2a）がアダプタ（３）の測定子（3c）を
介して上部解放形箱型構造物（１）の底面に当接してい
る。またストレートエツジ（６）が上部解放形箱型構造
物（１）を跨いで載置されている。また第６図のl0が電
磁式測長器（２）最長時のストレートエツジ（６）の上
面から下部測長スピンドル（2a）下端部までの長さで，
この長さl0は，常に一定であり，この長さを別の計測器
で予め計測しておく。またストレートエツジ（６）の高
さl1も上記長さl0と同様に別の計測器で予め計測してお
く。そして上部解放形箱型構造物（１）の深さL1を計測
する場合，上部解放形箱型構造物（１）の深さL1は，L1
＝l0-l1-l3になる。即ち，L1はl3を知ることにより求め
られ，このl3は，l0時の計測値表示ユニツト（2d）に表
示された値の差により知ることができる。
次に深さL2の計測例について説明する。深さL2が電磁式
測長器（２）の下部測長スピンドル（2a）及び上部測長
スピンドル（2b）の作動範囲内にある場合には，上記と
同じ要領で上部解放形箱型構造物（１）の深さL2を計測
するが，深さL2が電磁式測長器（２）の下部測長スピン
ドル（2a）及び上部測長スピンドル（2b）の作動範囲外
にある場合には，第７図に示すようにアダプタ（３）と
ストレートエツジ（６）との間に高さl2の調整ブロツク
（５）を介装して，上記と同じ要領で上部解放形箱型構
造物（１）の深さL2を計測する。
測長器（２）の下部測長スピンドル（2a）及び上部測長
スピンドル（2b）の作動範囲内にある場合には，上記と
同じ要領で上部解放形箱型構造物（１）の深さL2を計測
するが，深さL2が電磁式測長器（２）の下部測長スピン
ドル（2a）及び上部測長スピンドル（2b）の作動範囲外
にある場合には，第７図に示すようにアダプタ（３）と
ストレートエツジ（６）との間に高さl2の調整ブロツク
（５）を介装して，上記と同じ要領で上部解放形箱型構
造物（１）の深さL2を計測する。
このように上部解放形箱型構造物（１）の深さがL1のよ
うに深くて，それが伸縮可能な電磁式測長器（２）の作
動範囲内にあれば，電磁式測長器（２）の上部測長スピ
ンドル（2b）をアダプタ（３）の上部面（Ａ）に当接さ
せ，アダプタ（３）をストレートエツジ（６）の上に載
せ，ストレートエツジ（６）を上部解放形箱型構造物
（１）の上に跨座状態に載せ，アダプタ（３）の測定子
（3c）を上部解放形箱型構造物（１）の底面に当接させ
た状態で，上部解放形箱型構造物（１）の深さを計測
し，また上部解放形箱型構造物（１）の深さがL1のよう
に浅くて，それが伸縮可能な電磁式測長器（２）の作動
範囲外にあれば，調整ブロツク（５）をアダプタ（３）
とストレートエツジ（６）との間に介装する以外，上記
と同じ要領で，上部解放形箱型構造物（１）の深さを計
測する。
うに深くて，それが伸縮可能な電磁式測長器（２）の作
動範囲内にあれば，電磁式測長器（２）の上部測長スピ
ンドル（2b）をアダプタ（３）の上部面（Ａ）に当接さ
せ，アダプタ（３）をストレートエツジ（６）の上に載
せ，ストレートエツジ（６）を上部解放形箱型構造物
（１）の上に跨座状態に載せ，アダプタ（３）の測定子
（3c）を上部解放形箱型構造物（１）の底面に当接させ
た状態で，上部解放形箱型構造物（１）の深さを計測
し，また上部解放形箱型構造物（１）の深さがL1のよう
に浅くて，それが伸縮可能な電磁式測長器（２）の作動
範囲外にあれば，調整ブロツク（５）をアダプタ（３）
とストレートエツジ（６）との間に介装する以外，上記
と同じ要領で，上部解放形箱型構造物（１）の深さを計
測する。
（考案の効果） 本考案の上部解放形箱型構造物の深さ計測装置は前記の
ように上部解放形箱型構造物の深さが深くて，この深さ
が伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲内にあれば，電磁
式測長器の上部測長スピンドルをアダプタ上部に当接さ
せ，アダプタをストレートエツジの上に載せ，ストレー
トエツジを上部解放形箱型構造物の上に跨座状態に載
せ，アダプタの測定子を上部解放形箱型構造物の底部面
に当接させて，上部解放形箱型構造物の深さを計測し，
また上部解放形箱型構造物の深さが浅くて，この深さが
伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲外にあれば，調整ブ
ロツクをアダプタとストレートエツジとの間に介装する
以外，上記と同じ要領で，上部解放形箱型構造物の深さ
を計測する。つまりアダプタをストレートエツジの上に
直接載せるか，アダプタを調整ブロツクを介してストレ
ートエツジの上に載せるかの簡単な操作により，上部解
放形箱型構造物の深さを計測するので，上部解放形箱型
構造物の深さの計測を容易に行うことができる上に，信
頼性の高い高精度のデータを得られる効果がある。
ように上部解放形箱型構造物の深さが深くて，この深さ
が伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲内にあれば，電磁
式測長器の上部測長スピンドルをアダプタ上部に当接さ
せ，アダプタをストレートエツジの上に載せ，ストレー
トエツジを上部解放形箱型構造物の上に跨座状態に載
せ，アダプタの測定子を上部解放形箱型構造物の底部面
に当接させて，上部解放形箱型構造物の深さを計測し，
また上部解放形箱型構造物の深さが浅くて，この深さが
伸縮可能な電磁式測長器の作動範囲外にあれば，調整ブ
ロツクをアダプタとストレートエツジとの間に介装する
以外，上記と同じ要領で，上部解放形箱型構造物の深さ
を計測する。つまりアダプタをストレートエツジの上に
直接載せるか，アダプタを調整ブロツクを介してストレ
ートエツジの上に載せるかの簡単な操作により，上部解
放形箱型構造物の深さを計測するので，上部解放形箱型
構造物の深さの計測を容易に行うことができる上に，信
頼性の高い高精度のデータを得られる効果がある。
第１図は本考案に係わる上部解放形箱型構造物の深さ計
測装置の一実施例を示す正面図，第２図はその縦断側面
図，第３図はストレートエツジの平面図，第４図は第３
図の矢視IV-IV線に沿う縦断正面図，第５図は第３図の
矢視Ｖ−Ｖ線に沿う縦断側面図，第6,7図は同深さ計測
装置の作用説明図，第８図は従来の電磁式測長器を示す
説明図，第９図は従来の上部解放形箱型構造物の深さ計
測要領を示す側面図である。 （１）……上部解放形箱型構造物，（２）……電磁式測
長器，（2a）……電磁式測長器（２）の下部測長スピン
ドル，（３）……アダプタ，（3c）……アダプタ（３）
の測定子，（５）……調整ブロツク，（６）……ストレ
ートエツジ。
測装置の一実施例を示す正面図，第２図はその縦断側面
図，第３図はストレートエツジの平面図，第４図は第３
図の矢視IV-IV線に沿う縦断正面図，第５図は第３図の
矢視Ｖ−Ｖ線に沿う縦断側面図，第6,7図は同深さ計測
装置の作用説明図，第８図は従来の電磁式測長器を示す
説明図，第９図は従来の上部解放形箱型構造物の深さ計
測要領を示す側面図である。 （１）……上部解放形箱型構造物，（２）……電磁式測
長器，（2a）……電磁式測長器（２）の下部測長スピン
ドル，（３）……アダプタ，（3c）……アダプタ（３）
の測定子，（５）……調整ブロツク，（６）……ストレ
ートエツジ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 齋働 守 茨城県那珂郡東海村大字村松４番地33 動 力炉・核燃料開発事業団東海事業所内 (72)考案者 清水 武範 茨城県那珂郡東海村大字村松４番地33 動 力炉・核燃料開発事業団東海事業所内 (72)考案者 岡本 弘信 茨城県那珂郡東海村大字村松４番地33 動 力炉・核燃料開発事業団東海事業所内 (72)考案者 渡辺 好一 長崎県長崎市飽の浦町１番１号 三菱重工 業株式会社長崎造船所内
Claims (1)
- 【請求項１】電磁式測長器を使用して上部解放形箱型構
造物の深さを計測する上部解放形箱型構造物の深さ計測
装置において，前記上部解放形箱型構造物を跨いで載置
される中間部をくり抜いたストレートエツジと，同スト
レートエツジ上に垂直状態に保持されたアダプタと，同
アダプタ内に垂直状態に保持された電磁式測長器と，上
記ストレートエツジと上記アダプタとの間に介装される
調整ブロツクと，上記アダプタのガイド部材に沿う垂直
移動可能に保持されて上記電磁式測長器の下部測長スピ
ンドルに下方から当接した測定子とを具えていることを
特徴とした上部解放形箱型構造物の深さ計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7525290U JPH0645203Y2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | 上部解放形箱型構造物の深さ計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7525290U JPH0645203Y2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | 上部解放形箱型構造物の深さ計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0434606U JPH0434606U (ja) | 1992-03-23 |
| JPH0645203Y2 true JPH0645203Y2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=31615671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7525290U Expired - Lifetime JPH0645203Y2 (ja) | 1990-07-17 | 1990-07-17 | 上部解放形箱型構造物の深さ計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0645203Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9958359B2 (en) | 2013-06-25 | 2018-05-01 | Bridgestone Corporation | Tire performance testing apparatus |
-
1990
- 1990-07-17 JP JP7525290U patent/JPH0645203Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9958359B2 (en) | 2013-06-25 | 2018-05-01 | Bridgestone Corporation | Tire performance testing apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0434606U (ja) | 1992-03-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |