JPH0642163Y2 - Optical shape measuring device - Google Patents

Optical shape measuring device

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JPH0642163Y2
JPH0642163Y2 JP1880989U JP1880989U JPH0642163Y2 JP H0642163 Y2 JPH0642163 Y2 JP H0642163Y2 JP 1880989 U JP1880989 U JP 1880989U JP 1880989 U JP1880989 U JP 1880989U JP H0642163 Y2 JPH0642163 Y2 JP H0642163Y2
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JP
Japan
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light
measured
focus error
shape measuring
arithmetic processing
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健太 御厨
智昭 南光
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は光学式形状測定装置に関し、光学式形状測定装
置の測定精度を向上させるものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial field of application> The present invention relates to an optical profile measuring apparatus, and improves the measurement accuracy of the optical profile measuring apparatus.

〈従来の技術〉 第3図は従来の光学式形状測定装置の一例を示す構成図
である。
<Prior Art> FIG. 3 is a block diagram showing an example of a conventional optical shape measuring apparatus.

第3図において、レーザダイオード10より出射された光
は、コリメータレンズ11で平行光とされ、偏光ビームス
プリッタ12で反射される。反射光は、対物レンズ14を通
って、被測定物15に照射される。ここで、被測定物15の
反射面が、対物レンズ14の焦点位置にある時には、反射
光は、対物レンズ14を通過すると平行光となり、偏光ビ
ームスプリッタ12を通って、臨界角プリズム16に入射さ
れる。臨界角プリズム16は、平行光が入射した時に臨界
角(θ)となるように調整されており、平行光は全て反
射され、2分割フォトダイオード18へ入射されるため、
2分割フォトダイオード18のA素子、B素子とも同じ光
量を受けるので、差動増幅器20を経た後のフォーカスエ
ラー信号は0となる。
In FIG. 3, the light emitted from the laser diode 10 is collimated by the collimator lens 11 and reflected by the polarization beam splitter 12. The reflected light passes through the objective lens 14 and irradiates the DUT 15. Here, when the reflection surface of the DUT 15 is at the focal position of the objective lens 14, the reflected light becomes parallel light when passing through the objective lens 14, passes through the polarization beam splitter 12, and enters the critical angle prism 16. To be done. The critical angle prism 16 is adjusted to have a critical angle (θ) when parallel light is incident, and since all the parallel light is reflected and is incident on the two-division photodiode 18,
Since the A element and the B element of the two-divided photodiode 18 receive the same amount of light, the focus error signal after passing through the differential amplifier 20 becomes zero.

被測定物15と対物レンズ14が近すぎる場合は、対物レン
ズ14を出た光は発散光となり、臨界角プリズム16のa点
で反射する光量が減るため、2分割フォトダイオード18
のA素子が受ける光量が少なくなり、フォーカスエラー
信号は負(−)となる。
When the DUT 15 and the objective lens 14 are too close to each other, the light emitted from the objective lens 14 becomes divergent light, and the amount of light reflected at the point a of the critical angle prism 16 decreases, so that the two-division photodiode 18
The amount of light received by the A element is reduced, and the focus error signal becomes negative (-).

一方、被測定物15と対物レンズ14が離れすぎている場合
は、臨界角プリズム16に入射する光が収束光となるの
で、2分割フォトダイオード18のB素子の受ける光量が
少なくなり、フォーカスエラー信号は正(+)となる。
On the other hand, when the object to be measured 15 and the objective lens 14 are too far apart, the light incident on the critical angle prism 16 becomes convergent light, so the amount of light received by the B element of the two-divided photodiode 18 decreases and the focus error occurs. The signal is positive (+).

これら2つの場合に、フォーカスエラー信号は両極性を
とるので、図示しない制御回路に送られ、対物レンズ14
をフォーカス方向に駆動する。
In these two cases, since the focus error signal has both polarities, it is sent to the control circuit (not shown) and the objective lens 14
Drive in the focus direction.

このような構成においては、平行光からフォーカスエラ
ー信号を検出できる利点があり、臨界角プリズム16での
反射を数回繰り返すことにより、高い検出感度を得るこ
とができ、測定点周囲のデータを取り込むことにより、
非接触で被測定物の形状を測定することができる。
In such a configuration, there is an advantage that the focus error signal can be detected from the parallel light, and by repeating the reflection at the critical angle prism 16 several times, a high detection sensitivity can be obtained and the data around the measurement point can be captured. By
The shape of the object to be measured can be measured without contact.

〈考案が解決しようとする課題〉 しかしながら、上記従来技術に示す光学式形状測定装置
においては、フォーカスエラー信号の横分解能は、光ス
ポット径により制限され、決定されていたため、第4図
(イ)に示すような、光スポット径(図中1.6μm)よ
り幅の狭い被測定物15上の溝15aを測定することは不可
能であった。即ち、被測定物15上の溝15aに光スポット
を当てた場合、溝15aの両端のエッジと中央とで回折が
起こるが、上記従来技術に示した2分割フォトダイオー
ド18では、被測定物15からの反射光の光強度パターン
は、第4図(ロ)に示すようになり、±1次の回折光の
微小なズレを読み取ることができないため、横分解能を
向上させることができないという課題があった。
<Problems to be Solved by the Invention> However, in the optical shape measuring apparatus shown in the above-mentioned prior art, the lateral resolution of the focus error signal is limited and determined by the light spot diameter. It was impossible to measure the groove 15a on the DUT 15 having a width narrower than the light spot diameter (1.6 μm in the figure) as shown in FIG. That is, when a light spot is applied to the groove 15a on the DUT 15, diffraction occurs at the edges and the center of both ends of the groove 15a. The light intensity pattern of the reflected light from is as shown in FIG. 4 (b), and since the minute deviation of the ± 1st order diffracted light cannot be read, there is a problem that the lateral resolution cannot be improved. there were.

本考案は上記従来技術の課題を踏まえて成されたもので
あり、被測定物からの反射光の光強度パターンをアレイ
素子上で±1次回折光が微小に変位することを検出し、
演算処理することにより、光のスポット径以下の溝幅の
ような特定な形状を1μm以下の横分解能で測定するこ
とができ、又、被測定物の面の傾きや反射率むら等も検
出できるため、これらの測定データを用いて、フォーカ
スエラー検出光学系から得られるフォーカスエラー信号
を補正する構成とすることにより、被測定物の面の傾き
や反射率むら等の影響を排除することができ、更に横分
解能を向上させることができる光学式形状測定装置を提
供することを目的としたものである。
The present invention has been made in view of the above problems of the prior art, and detects a slight displacement of ± first-order diffracted light on the array element in the light intensity pattern of the reflected light from the object to be measured,
By performing arithmetic processing, it is possible to measure a specific shape such as a groove width that is equal to or smaller than the spot diameter of light with a lateral resolution of 1 μm or less, and it is also possible to detect a tilt of the surface of an object to be measured, uneven reflectance, and the like. Therefore, by using these measurement data to correct the focus error signal obtained from the focus error detection optical system, it is possible to eliminate the influence of the tilt of the surface of the object to be measured or the unevenness of reflectance. Another object of the present invention is to provide an optical shape measuring device capable of further improving the lateral resolution.

〈課題を解決するための手段〉 上記課題を解決するための本考案の第1の構成は、対物
レンズをフォーカス方向に駆動し、被測定物上に光スポ
ットを集光し、その反射光の光強度パターンを測定し
て、演算処理することにより、前記被測定物の形状を測
定するようにした光学式形状測定装置において、前記被
測定物からの反射光の光強度パターンを測定するための
アレイ素子と、このアレイ素子の出力信号を加算処理す
る演算処理部と、前記被測定物からの反射光よりフォー
カスエラー信号を得るためのフォーカスエラー検出光学
系と、このフォーカスエラー検出光学系から得られたフ
ォーカスエラー信号を前記演算処理部からの演算結果に
より補正する第2の演算処理部とを設けた構成としたこ
とを特徴とするものである。
<Means for Solving the Problems> A first configuration of the present invention for solving the above problems is to drive an objective lens in a focus direction to collect a light spot on an object to be measured and to reflect the reflected light. By measuring the light intensity pattern and performing arithmetic processing, in the optical shape measuring device configured to measure the shape of the DUT, for measuring the light intensity pattern of the reflected light from the DUT. An array element, an arithmetic processing section for adding the output signals of the array element, a focus error detection optical system for obtaining a focus error signal from the reflected light from the object to be measured, and a focus error detection optical system A second arithmetic processing unit for correcting the obtained focus error signal based on the arithmetic result from the arithmetic processing unit is provided.

又、第2の構成は、第1の構成の光学式形状測定装置に
おいて、前記被測定物上の光スポットの拡大像を前記ア
レイ素子上に結像させるための結像光学系を設けた構成
としたことを特徴とするものである。
In the second configuration, the optical shape measuring apparatus of the first configuration is provided with an image forming optical system for forming an enlarged image of a light spot on the object to be measured on the array element. It is characterized by that.

〈作用〉 本考案によれば、アレイ素子によって、被測定物からの
反射光を細かく分割して処理を行うことにより、溝幅の
ような特定の形状を1μm以下の横分解能で測定でき、
被測定物面の傾きや反射率むらなども検出できるため、
これらの信号を用いて、フォーカスエラー信号の補正を
行うことにより、それらの影響を排除でき、測定精度を
向上できる。又、結像光学系を用いて、拡大像を結像さ
せ、その強度パターンから測定することにより、光学系
の収差の影響を小さくでき、更に測定精度が向上すると
共に、得られる像がフーリエ変換像でないため、データ
処理が簡易化される。
<Operation> According to the present invention, the array element can measure a specific shape such as a groove width with a lateral resolution of 1 μm or less by finely dividing the reflected light from the object to be measured,
Since it is possible to detect the inclination of the object surface and uneven reflectance,
By correcting the focus error signal using these signals, their influences can be eliminated and the measurement accuracy can be improved. In addition, by forming an enlarged image using the imaging optical system and measuring from the intensity pattern, the influence of aberration of the optical system can be reduced, the measurement accuracy is further improved, and the obtained image is Fourier transformed. Since it is not an image, data processing is simplified.

〈実施例〉 以下、本考案を図面に基づいて説明する。<Example> Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本考案の光学式形状測定装置の第1の実施例を
示す構成図である。なお、第1図において第3図と同一
要素には同一符号を付して重複する説明は省略する。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the optical shape measuring apparatus of the present invention. In FIG. 1, the same elements as those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

第1図において、13は1/4波長板、17は被測定物15から
の反射光を2つに分岐するビームスプリッタ、19はビー
ムスプリッタ17により分岐された一方の光を受光するア
レイ素子、21はアレイ素子19の出力信号を加算処理する
演算処理部、22はビームスプリッタ17により分岐された
他方の光よりフォーカスエラー信号を得るためのフォー
カスエラー検出光学系、23はフォーカスエラー検出光学
系22から得られたフォーカスエラー信号を前記演算処理
部21からの演算結果により補正する第2の演算処理部で
ある。
In FIG. 1, 13 is a quarter-wave plate, 17 is a beam splitter that splits the reflected light from the DUT 15 into two, 19 is an array element that receives one of the beams split by the beam splitter 17, Reference numeral 21 is an arithmetic processing unit for adding the output signals of the array element 19, 22 is a focus error detection optical system for obtaining a focus error signal from the other light split by the beam splitter 17, and 23 is a focus error detection optical system 22. The second calculation processing unit corrects the focus error signal obtained from the calculation result from the calculation processing unit 21.

このような構成において、レーザダイオード10より出射
された光は、コリメータレンズ11で平行光とされ、偏光
ビームスプリッタ12で反射される。反射光は1/4波長板1
3を通って、対物レンズ14にて集光され、被測定物15上
に照射される。照射された光は、被測定物15で反射さ
れ、対物レンズ14、1/4波長板13、偏光ビームスプリッ
タ12を通って、ビームスプリッタ17で2つに分割され
る。一方の光は、アレイ素子19に入射され、被測定物15
からの反射光の光強度パターンに応じた信号となって、
演算処理部21に送られ、加算処理後、測定データである
溝幅等の光スポット内のパターン信号が得られると共
に、その測定データは、演算処理部23に送られる。他方
の光は、フォーカスエラー検出光学系22に入射され、フ
ォーカスエラー信号となって、演算処理部23に送られ
る。演算処理部23では、演算処理部21からの測定データ
により補正され、フォーカスエラー信号となって出力さ
れる。
In such a configuration, the light emitted from the laser diode 10 is collimated by the collimator lens 11 and reflected by the polarization beam splitter 12. Reflected light is 1/4 wavelength plate 1
After passing through 3, the light is condensed by the objective lens 14 and irradiated onto the object to be measured 15. The irradiated light is reflected by the DUT 15, passes through the objective lens 14, the quarter-wave plate 13, and the polarization beam splitter 12, and is split into two by a beam splitter 17. One of the lights is incident on the array element 19 and is measured 15
It becomes a signal according to the light intensity pattern of the reflected light from
The pattern signal in the light spot such as the groove width, which is the measurement data, is sent to the arithmetic processing unit 21, and after the addition processing, the measurement data is sent to the arithmetic processing unit 23. The other light enters the focus error detection optical system 22, becomes a focus error signal, and is sent to the arithmetic processing unit 23. The arithmetic processing unit 23 corrects the measurement data from the arithmetic processing unit 21 and outputs it as a focus error signal.

上記構成において、アレイ素子19上では、第4図(ロ)
に示すような±1次回折光による光強度パターンが微小
に変位することを検出し、その信号を演算処理部21にて
加算処理することにより、光のスポット径以下の溝幅も
測定する。なお、横分解能は、アレイ素子の分割数によ
って決定されるものである。又、演算処理部21の測定デ
ータを用いて、フォーカスエラー信号を補正することに
より、被測定物15の面の傾きや反射率むら等の影響を排
除できるため、更に横分解能を向上させている。
In the above configuration, on the array element 19, FIG.
A minute displacement of the light intensity pattern due to the ± 1st-order diffracted light as shown in (1) is detected, and the signal is added by the arithmetic processing unit 21 to measure the groove width equal to or smaller than the light spot diameter. The lateral resolution is determined by the number of divisions of the array element. Further, by correcting the focus error signal using the measurement data of the arithmetic processing unit 21, it is possible to eliminate the influence of the inclination of the surface of the DUT 15, the unevenness of the reflectance, and the like, thereby further improving the lateral resolution. .

又、横分解能を上げることにより、溝幅の検出だけでは
なく、エッジの検出も可能となるため、演算処理手段と
して、エッジの明暗パターンを記憶したものと測定パタ
ーンとの相関をとることにより行っても良く、LSI等の
パターンのラインやスペースを測定することもできる。
Further, by increasing the lateral resolution, not only the groove width but also the edge can be detected. Therefore, the calculation processing means is performed by correlating the stored bright and dark pattern of the edge with the measurement pattern. Alternatively, it is possible to measure the line or space of a pattern such as LSI.

第2図は本考案の光学式形状測定装置の第2の実施例を
示す構成図である。なお、第2図において第1図と相違
する点は、ビームスプリッタ17にて分岐された被測定物
15からの一方の反射光が、結像光学系24を通して、アレ
イ素子19に入射させるようにした点であり、第2図にお
いて第1図と同一要素には同一符号を付して重複する説
明は省略する。
FIG. 2 is a block diagram showing a second embodiment of the optical shape measuring apparatus of the present invention. The difference between FIG. 2 and FIG. 1 is that the object to be measured is branched by the beam splitter 17.
One of the reflected lights from 15 is made incident on the array element 19 through the imaging optical system 24. In FIG. 2, the same elements as those in FIG. Is omitted.

ここで、第1図装置においては、光スポット径より小さ
な溝幅パターン等を測定することは可能となるが、被測
定物15の形状の測定を平行光での光強度パターンにて測
定しているため、光路中の光学要素の収差の影響を受け
易く、測定精度を悪化させる原因となり、又、アレイ素
子19上に得られる像がフーリエ変換像であるため、測定
データの処理が複雑であった。
Here, in the apparatus of FIG. 1, it is possible to measure a groove width pattern or the like smaller than the light spot diameter, but the shape of the DUT 15 is measured by a light intensity pattern of parallel light. Therefore, it is easily affected by the aberration of the optical element in the optical path, which causes deterioration of measurement accuracy. Also, since the image obtained on the array element 19 is a Fourier transform image, the processing of the measurement data is complicated. It was

本考案の第2の実施例は、この点を踏まえ、被測定物15
に光を集光し、その反射光を結像光学系24を通して、ア
レイ素子19上に被測定物15上の光スポットの拡大像を結
像させ、その光強度パターンにより被測定物15の形状を
測定している。又、その測定結果により、フォーカスエ
ラー信号の補正を行うようにしている。したがって、光
路上の光学要素の収差の影響を小さくできるため、より
高精度の形状測定が可能となると共に、得られる像がフ
ーリエ変換像でないため、測定データ処理を簡易化でき
る。
In consideration of this point, the second embodiment of the present invention provides a device under test 15
The reflected light is focused onto the array element 19 to form a magnified image of the light spot on the object to be measured 15, and the shape of the object to be measured 15 is determined by the light intensity pattern. Is being measured. Further, the focus error signal is corrected based on the measurement result. Therefore, the influence of the aberration of the optical element on the optical path can be reduced, so that the shape measurement can be performed with higher accuracy, and the obtained image is not the Fourier transform image, so that the measurement data processing can be simplified.

〈考案の効果〉 以上、実施例と共に具体的に説明したように、本考案に
よれば、被測定物からの反射光の光強度パターンをアレ
イ素子上で±1次回折光が微小に変位することを検出し
て、演算処理する構成としている。その結果、光のスポ
ット径以下の溝幅のような特定な形状を1μm以下の横
分解能で測定することができる。又、被測定物の面の傾
きや反射率むら等も検出できるため、これらの測定デー
タを用いて、フォーカスエラー検出光学系から得られる
フォーカスエラー信号を補正する構成とすることによ
り、被測定物の面の傾きや反射率むら等の影響を排除す
ることができ、更に横分解能を向上させることができる
ため、高精度な形状測定が可能になる。又、被測定物の
形状の測定を平行光の状態での光強度パターンを測定す
るのではなく、結像光学系を用い、被測定物上の光スポ
ットの拡大像を結像させ、その光強度パターンから測定
するようにしたことにより、光路上の光学要素の収差の
影響を小さくできるため、より高精度な形状測定を可能
にすると共に、得られる像がフーリエ変換像でないた
め、測定データの処理を簡易化できるなどの効果を有す
る光学式形状測定装置を実現できる。
<Effects of the Invention> As described above in detail with the embodiments, according to the present invention, the light intensity pattern of the reflected light from the object to be measured is slightly displaced by the ± first-order diffracted light on the array element. Is detected and arithmetic processing is performed. As a result, it is possible to measure a specific shape such as a groove width equal to or smaller than the spot diameter of light with a lateral resolution of 1 μm or less. Further, since it is possible to detect the inclination of the surface of the object to be measured, the unevenness of reflectance, and the like, by using the measurement data to correct the focus error signal obtained from the focus error detection optical system, the object to be measured can be Since it is possible to eliminate the effects of the surface inclination and unevenness of reflectance, and further improve the lateral resolution, it is possible to perform highly accurate shape measurement. Further, the shape of the DUT is not measured by measuring the light intensity pattern in the state of parallel light, but an imaging optical system is used to form a magnified image of the light spot on the DUT. By measuring from the intensity pattern, it is possible to reduce the influence of the aberration of the optical element on the optical path, which enables more accurate shape measurement, and the obtained image is not a Fourier transform image. It is possible to realize an optical shape measuring device having effects such as simplification of processing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の光学式形状測定装置の第1の実施例を
示す構成図、第2図は本考案の光学式形状測定装置の第
2の実施例を示す構成図、第3図は従来例を示す構成
図、第4図は溝による光の回折及び2分割フォトダイオ
ード上での回折光の状態を示す図である。 10……レーザダイオード、11……コリメータレンズ、12
……偏光ビームスプリッタ、13……1/4波長板、14……
対物レンズ、15……被測定物、17……ビームスプリッ
タ、19……アレイ素子、21,23……演算処理部、22……
フォーカスエラー検出光学系、24……結像光学系。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of an optical shape measuring device of the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram showing a second embodiment of the optical shape measuring device of the present invention, and FIG. FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional example, and FIG. 4 is a diagram showing a state of diffracted light by a groove and a diffracted light on a two-division photodiode. 10 ... Laser diode, 11 ... Collimator lens, 12
...... Polarizing beam splitter, 13 …… 1/4 wave plate, 14 ……
Objective lens, 15 ... DUT, 17 ... Beam splitter, 19 ... Array element, 21, 23 ... Arithmetic processing unit, 22 ...
Focus error detection optical system, 24 ... Imaging optical system.

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】対物レンズをフォーカス方向に駆動し、被
測定物上に光スポットを集光し、その反射光の光強度パ
ターンを測定して、演算処理することにより、前記被測
定物の形状を測定するようにした光学式形状測定装置に
おいて、 前記被測定物からの反射光の光強度パターンを測定する
ためのアレイ素子と、このアレイ素子の出力信号を加算
処理する演算処理部と、前記被測定物からの反射光より
フォーカスエラー信号を得るためのフォーカスエラー検
出光学系と、このフォーカスエラー検出光学系から得ら
れたフォーカスエラー信号を前記演算処理部からの演算
結果により補正する第2の演算処理部とを設けた構成と
したことを特徴とする光学式形状測定装置。
1. A shape of the object to be measured by driving an objective lens in a focus direction, condensing a light spot on the object to be measured, measuring a light intensity pattern of the reflected light, and performing arithmetic processing. In the optical shape measuring device configured to measure, an array element for measuring the light intensity pattern of the reflected light from the object to be measured, an arithmetic processing unit that performs an addition process on the output signal of the array element, and A focus error detection optical system for obtaining a focus error signal from the reflected light from the object to be measured, and a second focus error signal obtained from the focus error detection optical system is corrected by the calculation result from the calculation processing section. An optical shape measuring device having a configuration including an arithmetic processing unit.
【請求項2】請求項1記載の光学式形状測定装置におい
て、前記被測定物上の光スポットの拡大像を前記アレイ
素子上に結像させるための結像光学系を設けた構成とし
たことを特徴とする光学式形状測定装置。
2. The optical shape measuring apparatus according to claim 1, wherein an image forming optical system for forming an enlarged image of a light spot on the object to be measured is formed on the array element. An optical shape measuring device characterized by.
JP1880989U 1989-02-20 1989-02-20 Optical shape measuring device Expired - Lifetime JPH0642163Y2 (en)

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