JPH063783B2 - フェールセーフ・モノリシック・セラミックコンデンサ - Google Patents

フェールセーフ・モノリシック・セラミックコンデンサ

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JPH063783B2
JPH063783B2 JP62072968A JP7296887A JPH063783B2 JP H063783 B2 JPH063783 B2 JP H063783B2 JP 62072968 A JP62072968 A JP 62072968A JP 7296887 A JP7296887 A JP 7296887A JP H063783 B2 JPH063783 B2 JP H063783B2
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01GCAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
    • H01G2/00Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
    • H01G2/14Protection against electric or thermal overload

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Ceramic Capacitors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はコンデンサ、特にモノリシック多層セラミック
コンデンサ(MLC)に関する。
コンピュータ、テレビ装置、無線送受信装置、マイクロ
チップ制御回路のような電子装置は多数のMLCを用い
ている。MLCはこのような電子装置の動作に関係する
パルスの減衰の手段として集積回路素子に付随する電源
回路にしばしば用いられる。MLCは標準的には電極材
の導電層を挿入した多数の誘電体セラミック材の積重ね
層を含む。
MLCの相隣接する電極材の導電層間の短絡の可能性を
最小にする大量生産技術や製造したMLCの検査技術は
工夫されてきているが、使用中での誤操作や、電子装置
の長期間の使用後の短絡を起すセラミック層の初期弱点
により短絡したMLCを見出すことはまれなことではな
い。コンデンサが短絡すると、その結果の非制御電流が
電子装置中の関連部品に対して損傷を与え、比較的安価
なコンデンサの故障が関連する部品へ重大かつ高価な損
傷を与えることになる。
(従来の技術) セラミックコンデンサの故障から生じる損害を除き又は
最小とするため、各種の装置が提案されている。一例と
して、モノリシック・セラミックコンデンサと組合せた
ヒューズを提供することが提案されている(米国特許第
4107759号及び第4193196号)。各種のコ
ンデンサに実施した又は組合せたヒューズの他の例は以
下の米国特許に見出される。
2216558号 3579062号 2216559号 3638083号 2704341号 4107762号 3236976号 4150419号 3579061号 4442473号 ヒューズ付コンデンサ設計に代る別の方法はコンデンサ
を取付けるプリント回路素子にヒューズ機能を設けるこ
とである。このような方法を採用した従来技術特許の代
表例は、以下の通りである。
3500276号 4172976号 3699395号 4342977号 4042950号 4394639号 以上引用した従来技術特許により表わされるようなヒュ
ーズ機能の設置は故障したコンデンサに関連する機器の
保護には比較的有効であるが、このような故障の診断と
故障したコンデンサとヒューズの交換は電子装置の重大
な使用不能時間を生じ、また修理を行うため技術者には
多くの時間の浪費となる。
(発明が解決すべき課題) 従って本発明の目的はフェールセーフのコンデンサ、即
ち一対の電極材の導電層間の短絡により回路からの層対
の除去を必要とするが、その結果として容量値の部分的
損失を生じるが、コンデンサ自体は受容可能な形態で依
然として機能していることを特徴とするフェールセーフ
・コンデンサを提供することである。本発明のさらに別
な目的は、コンデンサの故障時に全コンデンサの短絡を
生じない内部装置を有するMLCの提供である。
(課題を解決するための手段) 本発明のフェールセーフ・モノリシック・セラミックコ
ンデンサは、誘電体セラミック材の複数の積重ね誘電体
層と、前記複数の誘電体層のそれぞれの間に挿入された
電極材の複数の導電層であって、前記複数の導電層は交
互に前記コンデンサの第1の側面に延びる複数の交互導
電層を含み、前記コンデンサの前記第1の側面上に形成
され前記交互導電層を電気的に接続する第1の端子装置
と、前記複数の導電層は、前記複数の交互導電層のそれ
ぞれの中間にある複数の中間導電層を含み、前記中間導
電層の各々は、ヒューズ部を作る縮少断面域をもつと共
に前記第1の側面から離れた前記コンデンサの第3の側
面へ延びる分離した導電性のタブ部とをもち、また、前
記中間導電層の前記タブ部及び前記縮少断面域はそれぞ
れ前記コンデンサの前記第1の側面と第3の側面の両者
に隣接した第2の側面に出る出口部分をもち、これらの
出口部分は接近して離れており、前記中間導電層の前記
タブ部と縮少断面域の各出口部分を電気的に結合する低
融点金属の帯と、前記複数の中間導電層のそれぞれの前
記タブ部を電気的に接続する前記コンデンサの前記第3
の側面上の第2の端子装置と、を含む。
(作用) 本発明のコンデンサでは、相隣接する導電層間の短絡が
単にコンデンサの容量値の微小な変動を生じるが、コン
デンサの取替を必要としないという意味でコンデンサ内
の内部短絡が自己補正的であることを特徴とした新規の
モノリシック・セラミックコンデンサである。さらに、
完全なコンデンサ故障が生じたとしても、コンデンサは
「開放」故障となり、従って過大電流を生じる「短絡」
ではなく関連部品が損傷から保護される点に利点を有す
る。
特に、本発明の1対の隣接する電極材の導電層間の短絡
が全コンデンサを回路から除去することなく回路から1
対の短絡した導電層の除去を生じるMLCの改良に向け
られている。相当な数の導電層の対が故障に関係しない
限り、勿論コンデンサが正確な容量値を保持しなければ
ならない回路の分野でなければ、容量値の損失は装置の
正しい動作には影響しない。
また、間の誘電体の層にピンホールが形成された場合に
生じるような反対極性の一対の電極材の導電層が互いに
短絡した場合、高電流が該当する導電層の縮少断面域、
すなわちヒューズ部を流れ、この電流は縮少断面域の過
熱を生じ、この結果タブ部と縮少断面域の両者の出口部
分を結合する低融点金属の帯の溶融と開放を生じる。こ
のような場合、互いに短絡した導電層の対は回路から除
去され、コンデンサの残りの導電層の対は通常の方法で
機能することが可能となる。前記導電層対の除去の結果
として容量のわずかな減少が生じるが、前記コンデンサ
が通常用いられている回路の許容値は通常回路の連続し
た機能動作を可能とするよう十分大きい。
(実施例) 図面を参照すると、第1の極性の電極材の導電層である
電極14を担持する誘電体セラミック層10の第1の多
数の層と反対極性の電極材の導電層である電極17を担
持する誘電体セラミック層11の第2の多数の層を含む
モノリシック・セラミックコンデンサが第1図及び第2
図に図式的に図示されている。当業者には理解できるよ
うに、誘電体層10の多数の層と誘電体層11の多数の
層は各コンデンサでは交互に配置されている。標準的に
は、誘電体セラミック材の最上及び最下カバー層12,
13はそれぞれ電極を担持した誘電体層10,11の多
数の層のスタックの最上部及び底部に配置されている。
第3b図から最もよく理解できるように、誘電体層10
はその表面の大部分を覆う電極14のパターンがその上
に設けてある。電極14のパターンは、電極14の縁1
6′が露出しているコンデンサの第1の側面A上にある
誘電体層10の縁16を除いて誘電体層10の縁から奥
に入りこんでいる。
誘電体層11は同様にその表面を覆う電極17のパター
ンを含む。誘電体層11上に設けられた電極17は、誘
電体層11に形成して図示してはあるが必ずしもこの必
要はない溝22内でコンデンサの第2の側面Bの方へ出
口部21の位置で出るわずかに拡大した部分20と一体
の縮少断面域19を含む。誘電体層11に設けた電極1
7のパターンは、さらにコンデンサの第3の側面Cに出
る縁24を有する接触用タブ部23を含む。加えて、タ
ブ部23は溝22へ出る露出縁である出口部26を含
む。第3a図からわかるように、拡大部分20の出口部
21はタブ部23の出口部26から離れている。
当業者には認められるように、コンデンサは第1図及び
第2図に図示されているように交互に配置された誘電体
層10,11の多数の積重ね層からなる。これらの層に
は上部及び下部セラミック・カバー層12,13内に囲
まれる。
コンデンサは積重ね層の各々の層の縁16の上部へ従来
の任意の方法で第1の側面A上に導電層を端子装置30
として取付け、これにより端子装置30は誘電体層10
の電極14の各々に対して縁16の総てを電気的に接続
する。
同様に、コンデンサの第3の側面C上の誘電体層11の
出口の縁24は、タブ23の縁24の総てと電気的に接
触している導電層である端子装置31により終端され
る。以上より明らかなように、誘電体層11の電極17
は層11のタブ部23から電気的に絶縁されている(後
述の低融点金属の帯40で接続する迄は)。
この電気的接続は、出口部21,26と接触する低融点
金属の帯40(極薄層又は薄膜)を溝22に取り付ける
ことにより拡大部分20とタブ部23間の溝22で形成
され、望ましい金属材は亜鉛又はアルミニウムを含む。
任意ではあるが、金属は蒸着処理により印加され約0.
4μmの厚であることが望ましい。
図面から明らかなように、誘電体層10は誘電体層11
の溝22と整列した溝22′も有し、層10上に設けた
電極14は引込部32をもちこれにより溝22′から離
れて後退している。
カバー層12,13は又溝22,22′と整列した溝2
2″も有する。これらの整列した溝22,22′,2
2″の総ては帯40として薄膜が塗布される。
電極材の望ましい例はパラジウム基材を含むスクリーン
用インクから形成した材料であり、パラジウムは溶媒と
有機充填材と混合される。適当な電極インクは厚膜電極
ペースト4810Dの商標名とカタログ指定でデュポン
・イー・アイ・ドネマー・アンド・カンパニー社で販売
されている。電極材は塗布後約4μmの厚さになるよう
に各種層上に設けられる。
電極17の縮少断面域19のヒータ及びヒューズとして
機能し、約4ミル幅で20ミル長であることが望まし
く、このような寸法の部品は約1オームの抵抗が与え
る。
コンデンサの動作は以上の説明から容易に理解できる。
コンデンサは端子装置30,31へ接続することにより
電源回路の分流コンデンサとしてしばしば所要回路へ導
入される。端子装置31は、タブ部23から出口部2
6、スパッタ被膜の帯44、そして出口部21から縮少
断面域19へ渡る回路により電極17への電気的接続を
行なう。縮少断面域19は個々にみると相当なオーム抵
抗を与えるが、それぞれの層の抵抗は並列化され、従っ
てその合成抵抗は大したものでないことが理解できる。
1対の隣接層の電極14,17間の短絡時、(このよう
な短絡は多分これら電極を分離する誘電体セラミック材
のピンホールに起因する)には、端子装置30,31間
の回路の電流は、コンデンサを用いている回路構成とパ
ラメータに応じた値まで激しく増大する。増大した電流
は関係する縮少断面域19の迅速な加熱を生じ、この加
熱は溝22に形成した薄い金属被膜の帯40の近接した
隣接の結合部に伝えられる。このようにして発生された
熱は、加熱された縮少断面域19に対応する溝22にあ
る帯40の局所的溶融を生じる。溝22にある帯40の
溶融により帯40は出口部26,21間の区域から表面
張力の影響で収縮し、その間の電流を遮断する。この帯
40の溶融と収縮は短絡した電極14,17の対を電気
回路から除去することになる。従って、短絡の結果とし
て、回路から除去それた電極数に応じた程度でMLCの
容量が減少する。従って、このコンデンサは電源に対し
てわずかに減少した容量値で容量を提供する。この意味
で、標準のモノリシック・セラミックコンデンサは50
以上の電極を含み、従っていくつかの電極を除去しても
コンデンサの容量を実質的には減少しないことを認識す
べきである。
当業者には認められるように、コンデンサを形成する誘
電材は重大な問題ではなく、チタン酸バリウム等のよう
な従来のセラミック複合材を使用できる。同様に、従来
と同じく、リード線を端子装置30,31にハンダ付
し、コンデンサを各種のポリマの保護絶縁被膜で被覆し
てもよい。
当業者には明らかなように、本発明の範囲から逸脱する
ことなく本コンデンサの構成の細部に多数の変更を加え
てもよい。
(発明の効果) 本発明のコンデンサにおいては、相隣接する反対極性の
一対の電極材の導電層間に短絡が生じても、これらの導
電層の一方の電極に設けられた縮少断面域がそこを流れ
る高電流により加熱され、この縮少断面域に隣接した低
融点金属の帯が溶断され端子装置からその電極に流れる
電流を遮断する。従って、この短絡した一対の導電層は
回路から除去それるがコンデンサの残りの導電層の対は
正常に機能することができるのので、コンデンサは容量
のわずかに減少するだけで動作を継続できる。
また、重要なことは、本発明によるコンデンサは直接の
閉回路、すなわち短絡回路を与えるのではなく、単に容
量が減少するか、又は全体的に故障の場合には、「開」
状態で故障し、従ってこれに接続された部品への損傷の
可能性を最小としたことである。
また、コンデンサでは縮少断面域は多数並列接続される
ので回路には実質的な抵抗を与えない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるコンデンサの斜視図、第2図はコ
ンデンサの展開図式斜視図、第3a図及び第3b図は各
々本発明により形成されるコンデンサの別な層の平面図
である。 10,11…誘電体層、14,17…電極材の導電層、
19…縮少断面域、23…タブ部、40…低融点金属の
帯、30,31…端子装置。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】フェールセーフ・モノリシック・セラミッ
    クコンデンサであって、 誘電体セラミック材の複数の積重ね誘電体層と、 前記複数の誘電体層のそれぞれの間に挿入された電極材
    の複数の導電層であって、前記複数の導電層は交互に前
    記コンデンサの第1の側面に延びる複数の交互導電層を
    含み、 前記コンデンサの前記第1の側面上に形成され前記交互
    導電層を電気的に接続する第1の端子装置と、 前記複数の導電層は、前記複数の交互導電層のそれぞれ
    の中間にある複数の中間導電層を含み、前記中間導電層
    の各々は、ヒューズ部を作る縮少断面域をもつと共に前
    記第1の側面から離れた前記コンデンサの第3の側面へ
    延びる分離した導電性のタブ部をもち、また、前記中間
    導電層の前記タブ部及び前記縮少断面域はそれぞれ前記
    コンデンサの前記第1の側面と第3の側面の両者に隣接
    した第2の側面に出る出口部分をもち、これらの出口部
    分は接近して離れており、 前記中間導電層の前記タブ部と縮少断面域の各出口部分
    を電気的に結合する低融点金属の帯と、 前記複数の中間導電層のそれぞれの前記タブ部を電気的
    に接続する前記コンデンサの前記第3の側面上の第2の
    端子装置と、を含むフェールセーフ・モノリシック・セ
    ラミックコンデンサ。
  2. 【請求項2】特許請求の範囲第1項記載のコンデンサに
    おいて、前記コンデンサの前記第2の側面に形成した溝
    を含み、前記タブ部と前記縮少断面域の出口部分は前記
    溝中で露出しており、前記低融点金属の帯は前記溝内に
    配置され、かつ前記両方の出口部分を電気的に接続して
    いるフェールセーフ・モノリシック・セラミックコンデ
    ンサ。
  3. 【請求項3】特許請求の範囲第2項記載のコンデンサに
    おいて、前記低融点金属の帯は約0.1μmから1.0
    μmの範囲の厚さの亜鉛、アルミニウム、アンチモン鉛
    又は任意の低融点合金を含むフェールセーフ・モノリシ
    ック・セラミックコンデンサ。
JP62072968A 1986-09-29 1987-03-26 フェールセーフ・モノリシック・セラミックコンデンサ Expired - Lifetime JPH063783B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US912255 1986-09-29
US06/912,255 US4680670A (en) 1986-09-29 1986-09-29 Fail safe ceramic capacitor

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Publication Number Publication Date
JPS6386411A JPS6386411A (ja) 1988-04-16
JPH063783B2 true JPH063783B2 (ja) 1994-01-12

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