JPH0637340Y2 - 絶縁抵抗測定器 - Google Patents
絶縁抵抗測定器Info
- Publication number
- JPH0637340Y2 JPH0637340Y2 JP8225488U JP8225488U JPH0637340Y2 JP H0637340 Y2 JPH0637340 Y2 JP H0637340Y2 JP 8225488 U JP8225488 U JP 8225488U JP 8225488 U JP8225488 U JP 8225488U JP H0637340 Y2 JPH0637340 Y2 JP H0637340Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- insulation resistance
- sample
- resistance measuring
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は容量性被測定物を対象とした絶縁抵抗測定器
に関し、特に測定に要する時間を短縮したものである。
に関し、特に測定に要する時間を短縮したものである。
「従来の技術」 従来のこの種の絶縁抵抗測定器は第3図に示すように、
直流電源E(例えば100V)の負極にスイッチSWを介して
電流検出抵抗素子Rs(例えば10kΩで以下抵抗器Rsと言
う)の一端が接続され、抵抗器Rsの他端にケーブルl1を
介して電極G1が接続され、また直流電源Eの正極に容量
性被測定物(以下試料と言う)に流れる電流の最大値を
制限するために必要な電流制限用の抵抗器Rrの一端が接
続され、その他端にはケーブルl2を介して電極G2が接続
される。抵抗器Rsの両端には増幅器A1の入力端子が接続
され、その出力端子に電圧計MVが接続され、また電極
G1,G2が試料Zxの両端に接続される。試料Zxは容量成分
をもつ絶縁抵抗素子或いはリーケージコンダクタンスを
もつコンデンサであって、絶縁抵抗Rxと容量Cxとの並列
回路で近似的に表わされる。
直流電源E(例えば100V)の負極にスイッチSWを介して
電流検出抵抗素子Rs(例えば10kΩで以下抵抗器Rsと言
う)の一端が接続され、抵抗器Rsの他端にケーブルl1を
介して電極G1が接続され、また直流電源Eの正極に容量
性被測定物(以下試料と言う)に流れる電流の最大値を
制限するために必要な電流制限用の抵抗器Rrの一端が接
続され、その他端にはケーブルl2を介して電極G2が接続
される。抵抗器Rsの両端には増幅器A1の入力端子が接続
され、その出力端子に電圧計MVが接続され、また電極
G1,G2が試料Zxの両端に接続される。試料Zxは容量成分
をもつ絶縁抵抗素子或いはリーケージコンダクタンスを
もつコンデンサであって、絶縁抵抗Rxと容量Cxとの並列
回路で近似的に表わされる。
直流電源Eの電圧値を同じ符号Eで表わし、絶縁抵抗素
子Rx、抵抗器Rs、抵抗器Rr、それぞれの抵抗値を便宜上
同じ符号Rx,Rs,Rrで表わすものとすれば、スイッチSWを
時間t=0でオンしたとき、試料Zxに流れる電流iは、
コンデンサCxの初期電荷をゼロとすれば、 で与えられる。ここでτは時定数で と表される。t=0における電流i(0)は(1)式よ
り となる。一般にRx≫Rs+Rrであるので、 τCx(Rs+Rr) (5) t=∞、つまり定常状態における電流i(∞)は(1)
式より となる。
子Rx、抵抗器Rs、抵抗器Rr、それぞれの抵抗値を便宜上
同じ符号Rx,Rs,Rrで表わすものとすれば、スイッチSWを
時間t=0でオンしたとき、試料Zxに流れる電流iは、
コンデンサCxの初期電荷をゼロとすれば、 で与えられる。ここでτは時定数で と表される。t=0における電流i(0)は(1)式よ
り となる。一般にRx≫Rs+Rrであるので、 τCx(Rs+Rr) (5) t=∞、つまり定常状態における電流i(∞)は(1)
式より となる。
定常状態において、抵抗器Rsを流れる電流I、つまりi
(∞)を測定することにより(6)式より絶縁抵抗Rxが
求められる。抵抗器Rsの両端電圧Vを増幅器A1でK1倍に
増幅し、その増幅した電圧K1Vを電圧計MVで測定すれ
ば、電流I=K1V/K1Rsが容易に求められる。
(∞)を測定することにより(6)式より絶縁抵抗Rxが
求められる。抵抗器Rsの両端電圧Vを増幅器A1でK1倍に
増幅し、その増幅した電圧K1Vを電圧計MVで測定すれ
ば、電流I=K1V/K1Rsが容易に求められる。
試料Zxにはt=0において最大電流が流れるが、その電
流を許容値以下に抑えるように抵抗器Rrの定数が設定さ
れる。
流を許容値以下に抑えるように抵抗器Rrの定数が設定さ
れる。
第4図には抵抗器Rrを変えて、(3)式のt=0におけ
る突入電流i(0)を(a)I0及び(b)I0/2に設定し
た場合の(1)式または(4)式と対応する電流i
(t)の変化特性を示している。(b)の場合のRs+Rr
の値は(a)の場合の2倍になるから、(b)の場合の
時定数τは(5)式より明らかなように、(a)の場合
の2倍となる。それに伴い、ほぼ定常状態に達すまでの
時間はtaよりtb2taと長くなる。
る突入電流i(0)を(a)I0及び(b)I0/2に設定し
た場合の(1)式または(4)式と対応する電流i
(t)の変化特性を示している。(b)の場合のRs+Rr
の値は(a)の場合の2倍になるから、(b)の場合の
時定数τは(5)式より明らかなように、(a)の場合
の2倍となる。それに伴い、ほぼ定常状態に達すまでの
時間はtaよりtb2taと長くなる。
「考案が解決しようとする課題」 容量性被測定物を対象とする絶縁抵抗の測定では、上述
したように、測定に先立ち充電を行い、定常状態に達し
た後測定が行われる。充電する際の初期突入電流のピー
ク値は試料の許容以下に抑えねばならないが、試料によ
っては可成り低く設定しなければならない場合もある。
その場合には電流調整用の抵抗器Rrの抵抗値が大きくな
るため定常状態に達するまでの時間が長くなり、測定器
の測定効率が低下する欠点がある。
したように、測定に先立ち充電を行い、定常状態に達し
た後測定が行われる。充電する際の初期突入電流のピー
ク値は試料の許容以下に抑えねばならないが、試料によ
っては可成り低く設定しなければならない場合もある。
その場合には電流調整用の抵抗器Rrの抵抗値が大きくな
るため定常状態に達するまでの時間が長くなり、測定器
の測定効率が低下する欠点がある。
この考案の目的は、充電電流のピーク値を小さく設定し
た場合の定常状態に達するまでの時間を従来より大幅に
短縮して、測定効率を向上しようとするものである。
た場合の定常状態に達するまでの時間を従来より大幅に
短縮して、測定効率を向上しようとするものである。
「課題を解決するための手段」 上記目的を達成するために、この考案では試料と直列に
FETが接続され、試料の定常電流の検出に先立って、定
電流で試料が充電される。
FETが接続され、試料の定常電流の検出に先立って、定
電流で試料が充電される。
「実施例」 この考案の実施例を第1図に、第3図と対応する部分に
は同じ符号を付して示し、重複説明は省略する。この考
案では従来の電流制限用の抵抗器Rrに代わってFET11が
試料Zxと直列に接続され、そのゲート端子には出力電圧
を可変できる直流電源Egが接続される。
は同じ符号を付して示し、重複説明は省略する。この考
案では従来の電流制限用の抵抗器Rrに代わってFET11が
試料Zxと直列に接続され、そのゲート端子には出力電圧
を可変できる直流電源Egが接続される。
FET11のドレイン電流ID対ドレイン・ソース電圧VDS特性
は第2図に示すように、ゲート・ソース電圧VGSが一定
であれば、トランジスタの飽和領域においては、ゲート
・ソース電圧VGSの大きさに応じて一定のドレイン電流I
Dが流れる。従って、第1図の回路によれば、直流電源E
gの大きさに応じて定電流で試料を充電できる。
は第2図に示すように、ゲート・ソース電圧VGSが一定
であれば、トランジスタの飽和領域においては、ゲート
・ソース電圧VGSの大きさに応じて一定のドレイン電流I
Dが流れる。従って、第1図の回路によれば、直流電源E
gの大きさに応じて定電流で試料を充電できる。
第4図の特性(c)は実施例の充電電流特性の一例を示
したもので、従来例と比較するためにドレイン電流IDの
飽和値をI0/2に設定している。ほぼ定常状態に達するま
での時間tcは従来例におけるta,tbより大幅に短縮され
ていることが分かる。
したもので、従来例と比較するためにドレイン電流IDの
飽和値をI0/2に設定している。ほぼ定常状態に達するま
での時間tcは従来例におけるta,tbより大幅に短縮され
ていることが分かる。
定常状態に達するまでにコンデンサCxに充電される電荷
Qは、 Q=CxE (7) でなければならない。一方、第1図の回路で一定のドレ
イン電流IDmで充電した場合には Q▲∫tc 0▼IDmdt=IDmtc (8) であるから、従って tcCxE/IDm (9) となる。電荷Qは第4図において、定常状態に達するま
での各特性曲線と電流軸及び時間軸とで囲まれた面積に
等しいから、曲線(c)のように定電流で充電すれば、
従来より短時間で充電できることがよく分かる。
Qは、 Q=CxE (7) でなければならない。一方、第1図の回路で一定のドレ
イン電流IDmで充電した場合には Q▲∫tc 0▼IDmdt=IDmtc (8) であるから、従って tcCxE/IDm (9) となる。電荷Qは第4図において、定常状態に達するま
での各特性曲線と電流軸及び時間軸とで囲まれた面積に
等しいから、曲線(c)のように定電流で充電すれば、
従来より短時間で充電できることがよく分かる。
「考案の効果」 この考案では、試料と直列にFETを接続し、定電流で充
電するようにしたので、定常状態に達するまでの時間を
従来より大幅に短縮でき、測定効率を向上することが可
能である。FETのゲート・ソース電圧VGSを調整すれば、
容易にその定電流値を試料に応じて設定することができ
て、はなはだ便利であり、実用的な効果は頗る大きい。
電するようにしたので、定常状態に達するまでの時間を
従来より大幅に短縮でき、測定効率を向上することが可
能である。FETのゲート・ソース電圧VGSを調整すれば、
容易にその定電流値を試料に応じて設定することができ
て、はなはだ便利であり、実用的な効果は頗る大きい。
第1図はこの考案の実施例を示す回路図、第2図はFET
のドレイン電流ID対ドレイン・ソース電圧VDS特性を示
す図、第3図は従来の絶縁抵抗測定器の回路図、第4図
は第1図及び第3図の回路における充電電流の変化特性
を示す図である。
のドレイン電流ID対ドレイン・ソース電圧VDS特性を示
す図、第3図は従来の絶縁抵抗測定器の回路図、第4図
は第1図及び第3図の回路における充電電流の変化特性
を示す図である。
Claims (1)
- 【請求項1】容量性被測定物に直流電圧を印加し、その
定常電流を電流検出抵抗素子にて検出する絶縁抵抗測定
器において、 上記容量性被測定物と直列にFET(電界効果トランジス
タ)が接続され、 上記定常電流の検出に先立って、定電流で上記容量性被
測定物が充電されることを特徴とする絶縁抵抗測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8225488U JPH0637340Y2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 絶縁抵抗測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8225488U JPH0637340Y2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 絶縁抵抗測定器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH022676U JPH022676U (ja) | 1990-01-09 |
JPH0637340Y2 true JPH0637340Y2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=31307017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8225488U Expired - Lifetime JPH0637340Y2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 絶縁抵抗測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0637340Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-06-20 JP JP8225488U patent/JPH0637340Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH022676U (ja) | 1990-01-09 |
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