JPH0637083A - Dryer for semiconductor wafer - Google Patents

Dryer for semiconductor wafer

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Publication number
JPH0637083A
JPH0637083A JP30636392A JP30636392A JPH0637083A JP H0637083 A JPH0637083 A JP H0637083A JP 30636392 A JP30636392 A JP 30636392A JP 30636392 A JP30636392 A JP 30636392A JP H0637083 A JPH0637083 A JP H0637083A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tank
semiconductor wafer
chamber
wafer
drying
Prior art date
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Pending
Application number
JP30636392A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirohiko Sato
裕彦 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP30636392A priority Critical patent/JPH0637083A/en
Publication of JPH0637083A publication Critical patent/JPH0637083A/en
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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PURPOSE:To prevent natural drying of a semiconductor wafer which is finished for cleaning during a period until drying is started. CONSTITUTION:A holder 14 to be rotated through a spindle 16 is provided in a fixed chamber 2, and a tank 20 is so mounted at the holder 14 as to be rotated substantially at 90 degrees within a vertical plane at a rotary shaft 26 as a center. A wafer cassette in which a semiconductor wafer is contained is contained in the tank 20. An injection tube 28 for externally pouring water in the tank 20 is provided in the chamber 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体製造プロセスで用
いられ、洗浄された後の半導体ウエハを乾燥させる乾燥
装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a drying device used in a semiconductor manufacturing process for drying a semiconductor wafer after cleaning.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハの乾燥装置としては、開閉
可能な蓋をもつ固定されたチャンバーと、このチャンバ
ー内で水平面内で回転して半導体ウエハを乾燥させる保
持部とを備え、半導体ウエハをウエハカセットに収納
し、ウエハカセットを保持部に保持してチャンバー内で
回転させることにより乾燥させる回転式乾燥装置が市販
されている。
2. Description of the Related Art A semiconductor wafer drying apparatus is provided with a fixed chamber having an openable / closable lid and a holder for rotating the semiconductor wafer in a horizontal plane to dry the semiconductor wafer. There is a commercially available rotary drying device that stores a wafer cassette in a holding unit and rotates the wafer cassette in a chamber to dry the wafer cassette.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】半導体ウエハは洗浄さ
れた後、直ちに乾燥処理されるわけではなく、ウエハ洗
浄から乾燥までの間に待機時間が存在し、待機中は大気
中に放置される。また回転式乾燥装置では複数個のウエ
ハカセットを保持できるようになっているのが普通であ
るので、複数個のウエハカセットが揃うまではすでに洗
浄を終了したカセットは大気中で待機することになる。
洗浄後のウエハが大気中に放置された場合、洗浄段階で
付着した水滴がウエハ表面で自然乾燥され、乾燥の跡が
しみとして残り、その後に形成される半導体素子の特性
に悪影響を与える。本発明は洗浄を終了した半導体ウエ
ハが、乾燥処理が開始されるまでの間に自然乾燥される
のを防ぐことによって、しみが発生するのを防止した乾
燥装置を提供することを目的とするものである。
A semiconductor wafer is not immediately dried after being cleaned, but a waiting time exists between the cleaning and drying of the wafer, and the semiconductor wafer is left in the atmosphere during standby. Further, since a rotary dryer is usually capable of holding a plurality of wafer cassettes, the cassettes which have been cleaned have to wait in the atmosphere until a plurality of wafer cassettes are prepared. .
When the wafer after cleaning is left in the atmosphere, the water droplets attached during the cleaning step are naturally dried on the surface of the wafer, leaving a trace of drying as a stain, which adversely affects the characteristics of semiconductor elements formed thereafter. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a drying apparatus in which a semiconductor wafer that has been cleaned is prevented from naturally generating stains by preventing it from being naturally dried before the drying process is started. Is.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明の乾燥装置は、開
閉可能な蓋をもつ固定されたチャンバーと、このチャン
バー内で水平面内で回転して半導体ウエハを乾燥させる
保持部と、この保持部に取りつけられ、半導体ウエハを
収納したウエハカセットを収納するとともに、開閉可能
な排水口をもつ槽と、この槽に注水する注水管とを備え
ている。好ましい態様では、上記の槽には超音波振動子
が設けられている。本発明の乾燥装置はまた、上記の槽
に注水する代りに、チャンバー内に蒸気を供給する蒸気
供給機構と、チャンバー内を排気する排気機構とを備え
ている。
A drying apparatus of the present invention comprises a fixed chamber having an openable / closable lid, a holder for rotating a semiconductor wafer in a horizontal plane in the chamber to dry a semiconductor wafer, and the holder. The wafer cassette, which is attached to the semiconductor wafer and stores the semiconductor wafers, is stored, and a tank having a drainage port that can be opened and closed and a water injection pipe for injecting water into the tank are provided. In a preferred aspect, the tank is provided with an ultrasonic transducer. The drying apparatus of the present invention also includes a steam supply mechanism that supplies steam into the chamber instead of pouring water into the tank, and an exhaust mechanism that exhausts the inside of the chamber.

【0005】[0005]

【作用】注水できる槽を設けることによって、洗浄終了
後乾燥処理が開始されるまでの待機中は半導体ウエハは
槽の中で水に浸されていることにより自然乾燥が防止さ
れる。その槽に超音波振動子が設けられていると、待機
中の半導体ウエハに超音波を与えることができ、ウエハ
表面にゴミが付着しにくくなる。待機中、半導体ウエハ
を水に浸す代わりに、チャンバー内に有機溶媒の蒸気や
水蒸気を満たすことによっても、待機中にウエハが自然
乾燥しなくなる。
By providing the tank capable of injecting water, the semiconductor wafer is soaked in water in the tank after the cleaning is completed and before the drying process is started, whereby natural drying is prevented. If the tank is provided with an ultrasonic vibrator, ultrasonic waves can be applied to the semiconductor wafer in a standby state, and dust is unlikely to adhere to the wafer surface. By filling the inside of the chamber with water vapor or steam instead of immersing the semiconductor wafer in water during standby, the wafer will not naturally dry during standby.

【0006】[0006]

【実施例】図1は一実施例の要部垂直断面図である。2
は固定されたチャンバーであり、ウエハの出入れの際に
開け、乾燥処理の際に閉じる蓋4が設けられている。蓋
4の中央部には外部から空気を取り入れる際の濾過を行
なうフィルタ(図示略)が設けられている。蓋4には図
には示されていないが、蓋4を開閉させ、蓋4がチャン
バー2を閉じたときにロックするための開閉及びロック
のための機構が設けられている。チャンバー2内には水
平面内で回転して半導体ウエハを乾燥させる保持部14
が設けられており、保持部14を回転させるために、そ
の保持部の底部に固定されたスピンドル16がチャンバ
ー2の底面から下部に突出しており、そのスピンドル1
6を介して保持部14を回転駆動するためにスピンドル
モータ18が設けられている。スピンドルモータ18と
スピンドル16の間にはギヤが噛み合っている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a vertical cross-sectional view of an essential part of one embodiment. Two
Is a fixed chamber, and is provided with a lid 4 which is opened when the wafer is taken in and out and closed when the wafer is dried. A filter (not shown) is provided in the center of the lid 4 for filtering air taken in from the outside. Although not shown in the figure, the lid 4 is provided with a mechanism for opening and closing the lid 4 and for opening and closing and locking the lid 4 when the lid 2 closes the chamber 2. A holding unit 14 that rotates in a horizontal plane to dry the semiconductor wafer in the chamber 2
Is provided and a spindle 16 fixed to the bottom of the holding part 14 projects downward from the bottom surface of the chamber 2 to rotate the holding part 14.
A spindle motor 18 is provided to drive the holder 14 to rotate via the motor 6. A gear meshes between the spindle motor 18 and the spindle 16.

【0007】保持部14には半導体ウエハを収納したウ
エハカセットを収納するとともに、開閉可能な注水口を
もつ槽20が取りつけられている。この槽20にウエハ
カセットを装着したり、取り出したりする際、及びこの
槽20に注水する際に保持部14を位置決めするため
に、チャンバー2の下部には保持部位置決めモータ22
が設けられ、モータ22とスピンドル16はベルトで連
結されている。図には示されていないが、位置決めされ
た保持部14をロックするためのロック機構や、チャン
バー2内にウエハカセットがあることを確認するための
カセット確認用センサも設けられている。
A wafer cassette containing semiconductor wafers is housed in the holding unit 14, and a tank 20 having a water injection port that can be opened and closed is attached. In order to position the holder 14 when mounting or removing the wafer cassette in or from the tank 20 and when pouring water into the tank 20, a holder positioning motor 22 is provided below the chamber 2.
Is provided, and the motor 22 and the spindle 16 are connected by a belt. Although not shown in the figure, a lock mechanism for locking the positioned holding portion 14 and a cassette confirmation sensor for confirming that the wafer cassette is present in the chamber 2 are also provided.

【0008】図2はチャンバー2内を示す断面図であ
る。固定されたチャンバー2内にはスピンドル16を介
して回転する保持部14が設けられ、保持部14には槽
20が回転軸26を中心として垂直面内で90度回転で
きるように取りつけられている。チャンバー2には外部
から槽20に注水するための注水管28が設けられてい
る。
FIG. 2 is a sectional view showing the inside of the chamber 2. A holding unit 14 that rotates via a spindle 16 is provided in the fixed chamber 2, and a tank 20 is attached to the holding unit 14 so that it can rotate 90 degrees in a vertical plane about a rotation shaft 26. . The chamber 2 is provided with a water injection pipe 28 for injecting water into the tank 20 from the outside.

【0009】図3に示されるように、槽20にはその側
面と底面に開閉可能なシャッタ30が設けられており、
シャッタ30を閉じることにより注水管28から注水さ
れた水を槽20に溜めることができ、乾燥前にはシャッ
タ30を開けることにより槽20内の水を排水する。
As shown in FIG. 3, the tank 20 is provided with shutters 30 that can be opened and closed on its side surface and bottom surface.
The water injected from the water injection pipe 28 can be stored in the tank 20 by closing the shutter 30, and the water in the tank 20 is drained by opening the shutter 30 before drying.

【0010】図4に槽20を垂直面内でほぼ90度回転
させるための機構を示す。槽20は軸26を中心として
保持部14に回転可能に取りつけられている。槽20の
下部にはモータの回転を押し上げ棒34の上下方向の回
転に変換する機構36が設けられており、押し上げ棒3
4を上方向に移動させることにより槽20を開口が上に
なって注水可能な状態に保持し、押し上げ棒34を下方
向に移動させることにより槽20を垂直面内でほぼ90
度回転させて開口を横方向に向け、乾燥処理に移行する
状態にすることができる。ウエハを収納したウエハカセ
ット31(図3)は槽20に収納される。
FIG. 4 shows a mechanism for rotating the tank 20 in the vertical plane by about 90 degrees. The tank 20 is rotatably attached to the holding unit 14 about a shaft 26. A mechanism 36 for converting the rotation of the motor into the vertical rotation of the push-up rod 34 is provided at the bottom of the tank 20.
4 is moved upward to hold the tank 20 in a state where water can be poured with the opening upward, and the push-up bar 34 is moved downward to move the tank 20 to approximately 90 degrees in a vertical plane.
It can be rotated once to orient the opening laterally so that it is ready for the drying process. A wafer cassette 31 (FIG. 3) containing wafers is stored in the tank 20.

【0011】図5は槽20の排水用シャッタ30を示し
たものである。シャッタ30の実線の位置は閉じた状
態、破線の位置は排水のために開いた状態を表わしてい
る。
FIG. 5 shows the drain shutter 30 of the tank 20. The solid line position of the shutter 30 represents a closed state, and the broken line position represents an opened state for drainage.

【0012】次に、図1から図5で示された実施例の動
作を説明する。洗浄処理を終了したウエハを収納してい
るウエハカセット31は、槽20を開口部が上方向を向
く状態にして槽20に収納し、槽20には注水管28か
ら純水を注水し、ウエハを水中に浸して自然乾燥しない
ように保つ。蓋4はウエハカセット31の出し入れの際
に開け、それ以外のときは閉じておく。乾燥処理に移る
ときは、槽20のシャッタ30を開けることにより槽2
0から排水し、その後、押し上げ棒34を下げることに
よって槽20を垂直面内でほぼ90度回転させて槽20
の底面を保持部14に密着した状態とする。その後、ス
ピンモータ18によって保持部14を回転させ、半導体
ウエハを乾燥させる。
Next, the operation of the embodiment shown in FIGS. 1 to 5 will be described. The wafer cassette 31, which stores the wafers that have undergone the cleaning process, is stored in the tank 20 with the opening thereof facing upward, and pure water is poured into the tank 20 from the water injection pipe 28. Soak in water to keep it from drying out. The lid 4 is opened when the wafer cassette 31 is taken in and out, and otherwise closed. When transferring to the drying process, the shutter 30 of the tank 20 is opened to open the tank 2.
0, and then the push-up bar 34 is lowered to rotate the tank 20 in the vertical plane by about 90 degrees, and then the tank 20 is rotated.
The bottom surface of the is adhered to the holding portion 14. Then, the holding unit 14 is rotated by the spin motor 18 to dry the semiconductor wafer.

【0013】上記の実施例において、槽20の底面又は
側面に超音波振動子を取りつけることができる。この超
音波振動子は、槽20に収納されて水に浸された待機中
の半導体ウエハに超音波を与えるものであり、それによ
りウエハ表面にゴミが付着するのを防ぐ。
In the above embodiment, the ultrasonic vibrator can be attached to the bottom surface or the side surface of the tank 20. This ultrasonic vibrator applies ultrasonic waves to a semiconductor wafer in a standby state which is housed in the tank 20 and immersed in water, and thereby prevents dust from adhering to the wafer surface.

【0014】図6は他の実施例の主要部を示したもので
ある。チャンバー2内にスピンドル16により回転する
保持部14aが設けられている。保持部14aには半導
体ウエハを収納したウエハカセット31が直接保持され
る。チャンバー2には外部の蒸気発生器40から三方弁
42を介して蒸気管44から蒸気が供給される。また蒸
気管44には三方弁42を介して排気ポンプ46が接続
されている。
FIG. 6 shows the main part of another embodiment. A holding portion 14 a that is rotated by a spindle 16 is provided in the chamber 2. The wafer cassette 31 containing the semiconductor wafer is directly held by the holding portion 14a. Steam is supplied to the chamber 2 from an external steam generator 40 through a three-way valve 42 and a steam pipe 44. An exhaust pump 46 is connected to the steam pipe 44 via a three-way valve 42.

【0015】図6の実施例では、洗浄後の半導体ウエハ
を収納したウエハカセット31は保持部14aに保持さ
れ、蓋4が閉じられた状態で保持される。そしてチャン
バー2には三方弁42が蒸気管44と蒸気発生器40を
接続する方向に切り替えられて蒸気発生器40からチャ
ンバー内にアルコールなどの有機溶剤又は水の蒸気43
が供給され、チャンバー2内が過飽和状態になってウエ
ハの自然乾燥が防止される。チャンバー2内に所定数の
ウエハカセットが保持された後、乾燥処理に移るとき
は、三方弁42が排気管44とポンプ46を接続する方
向に切り替えられ、ポンプ46によりチャンバー2内が
排気された後、スピンドル16を介して保持部14aが
水平面内で回転して乾燥を行なう。本発明は実施例に限
らず、特許請求の範囲から逸脱しない範囲内で種々に変
形することができる。
In the embodiment shown in FIG. 6, the wafer cassette 31 containing the cleaned semiconductor wafer is held by the holding portion 14a, and the lid 4 is held in the closed state. Then, in the chamber 2, the three-way valve 42 is switched to connect the steam pipe 44 and the steam generator 40, and the steam 43 causes an organic solvent such as alcohol or water vapor 43 into the chamber.
Is supplied, the inside of the chamber 2 is oversaturated, and natural drying of the wafer is prevented. When a predetermined number of wafer cassettes are held in the chamber 2 and then the drying process is performed, the three-way valve 42 is switched to connect the exhaust pipe 44 and the pump 46, and the chamber 46 is exhausted by the pump 46. After that, the holding portion 14a rotates in the horizontal plane via the spindle 16 to perform drying. The present invention is not limited to the embodiments and can be variously modified without departing from the scope of the claims.

【0016】[0016]

【発明の効果】本発明の請求項1では洗浄終了後の半導
体ウエハが乾燥処理までの待機中は水に浸っているの
で、自然乾燥が起きず、しみが発生して半導体素子に悪
影響を及ぼすことがなくなる。水に浸された状態で超音
波振動を加えることにより水中のゴミがウエハに付着す
るのも防ぐことができる。本発明の請求項3では洗浄処
理から乾燥処理までの待機中はチャンバー内に蒸気を満
たすことにより半導体ウエハが自然乾燥するのが防止さ
れる。
According to the first aspect of the present invention, since the semiconductor wafer after cleaning is soaked in water while waiting for the drying process, natural drying does not occur and stains are generated to adversely affect the semiconductor element. Will disappear. By applying ultrasonic vibration while being immersed in water, dust in the water can be prevented from adhering to the wafer. According to the third aspect of the present invention, the semiconductor wafer is prevented from naturally drying by filling the chamber with steam during the standby from the cleaning process to the drying process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】一実施例を示す要部垂直断面図である。FIG. 1 is a vertical sectional view of an essential part showing an embodiment.

【図2】同実施例のチャンバー内部を示す垂直断面図で
ある。
FIG. 2 is a vertical cross-sectional view showing the inside of the chamber of the same embodiment.

【図3】同実施例における保持部と槽の部分を示す斜視
図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a holding portion and a tank portion in the embodiment.

【図4】同実施例における槽の回転機構を示す側面図で
ある。
FIG. 4 is a side view showing a rotation mechanism of the tank in the embodiment.

【図5】同実施例における槽のシャッタを示す垂直断面
図である。
FIG. 5 is a vertical sectional view showing the shutter of the tank in the embodiment.

【図6】他の実施例を示す要部垂直断面図である。FIG. 6 is a vertical sectional view of an essential part showing another embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 チャンバー 14,14a 保持部 16 スピンドル 18 スピンドルモータ 20 槽 28 注水管 30 シャッタ 31 ウエハカセット 40 蒸気発生器 46 ポンプ 2 Chambers 14 and 14a Holding part 16 Spindle 18 Spindle motor 20 Tank 28 Water injection pipe 30 Shutter 31 Wafer cassette 40 Steam generator 46 Pump

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 開閉可能な蓋をもつ固定されたチャンバ
ーと、このチャンバー内で水平面内で回転して半導体ウ
エハを乾燥させる保持部と、この保持部に取りつけら
れ、半導体ウエハを収納したウエハカセットを収納する
とともに、開閉可能な排水口をもつ槽と、この槽に注水
する注水管とを備えたことを特徴とする半導体ウエハの
乾燥装置。
1. A fixed chamber having an openable / closable lid, a holder for rotating a semiconductor wafer in a horizontal plane to dry the semiconductor wafer, and a wafer cassette attached to the holder and containing a semiconductor wafer. An apparatus for drying a semiconductor wafer, comprising: a tank having a drainage port that can be opened and closed and a water injection pipe that injects water into the tank.
【請求項2】 前記槽には超音波振動子が設けられてい
る請求項1に記載の半導体ウエハの乾燥装置。
2. The apparatus for drying a semiconductor wafer according to claim 1, wherein the tank is provided with an ultrasonic transducer.
【請求項3】 開閉可能な蓋をもつ固定されたチャンバ
ーと、半導体ウエハを収納したウエハカセットを保持
し、前記チャンバー内で水平面内で回転して半導体ウエ
ハを乾燥させる保持部と、前記チャンバー内に蒸気を供
給する蒸気供給機構と、前記チャンバー内を排気する排
気機構とを備えたことを特徴とする半導体ウエハの乾燥
装置。
3. A fixed chamber having an openable / closable lid, a holding unit for holding a wafer cassette containing a semiconductor wafer and rotating the wafer cassette in a horizontal plane to dry the semiconductor wafer, and inside the chamber. An apparatus for drying a semiconductor wafer, comprising: a vapor supply mechanism for supplying vapor into the chamber; and an exhaust mechanism for exhausting the inside of the chamber.
JP30636392A 1992-05-20 1992-10-19 Dryer for semiconductor wafer Pending JPH0637083A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30636392A JPH0637083A (en) 1992-05-20 1992-10-19 Dryer for semiconductor wafer

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15438292 1992-05-20
JP4-154382 1992-05-20
JP30636392A JPH0637083A (en) 1992-05-20 1992-10-19 Dryer for semiconductor wafer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0637083A true JPH0637083A (en) 1994-02-10

Family

ID=26482684

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30636392A Pending JPH0637083A (en) 1992-05-20 1992-10-19 Dryer for semiconductor wafer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0637083A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003282524A (en) * 2002-03-25 2003-10-03 Dainippon Screen Mfg Co Ltd High-pressure drying device, high-pressure drying method and wafer processor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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