JPH0635971B2 - 金属材料の余寿命予測法 - Google Patents

金属材料の余寿命予測法

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JPH0635971B2
JPH0635971B2 JP62258087A JP25808787A JPH0635971B2 JP H0635971 B2 JPH0635971 B2 JP H0635971B2 JP 62258087 A JP62258087 A JP 62258087A JP 25808787 A JP25808787 A JP 25808787A JP H0635971 B2 JPH0635971 B2 JP H0635971B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、金属材料の余寿命の予測に係り、特に、ボイ
ラ等の高温・高圧下で使用され、クリープ損傷を受けた
金属材料の余寿命予測法に関する。
〔従来の技術〕
火力発電プラントや化学プラントなどの高温・高圧下で
長時間使用される機器では、運転中に実機の使用材料が
クリープ損傷を受け、材質が劣化することは良く知られ
ている。このような材質劣化は、メタル温度、作用応力
及び使用時間によって支配されるものであり、火力発電
プラント用ボイラーではこれらの支配因子を考慮し、通
常10万時間(通常運転で約15年)の寿命を持つよう
に使用材料の材質、寸法等を決めている。しかし、この
ようなボイラーにおいて、数万時間で材料が破損する事
故がしばしば発生している。この原因としては燃焼ガス
の偏流などによるメタル温度の予測外の上昇、材料の偏
析などに起因する異常な材質劣化、例えば、シグマ相脆
化などが考えられる。また最近では設計寿命である10
万時間を越えた発電プラントが増加してきており、更に
原子力発電プラントのベースロード運用化に伴い、中間
負荷運用や毎日起動停止など使用条件が苛酷になること
が予測される。このようなことから、材料の余寿命を的
確に予測し、補修、交換時期を提案することによってプ
ラントの寿命を延長することができる技術を開発するこ
とが必要になってきている。
材質劣化を検出する方法は、破壊的手法と非破壊的手法
に大きく分類される。破壊的手法とは実機部材の一部を
採取し、顕微鏡組織観察、引張試験、クリープ試験及び
衝撃試験等を実施し、応力解析と合わせて余寿命を予測
する方法である。この中で材料の金属組織によって判定
する方法としては、実験室的に種々の条件下での標準的
金属組織を作成しておき、(例えば、日本鋼管技術No.
62頁531〜558参照)実機部材から採取したサン
プルの金属組織との比較で寿命を推定する。その場合、
指標となるのは、Cr−Mo鋼ではパーライトの分解、
凝集などであり、ステンレス鋼では粒界、粒内への炭化
物の析出、凝集あるいはシグマ相の析出状態などであ
る。例えば、ステンレス鋼SUS321においてシグマ
相の析出量とクリープ損傷の関係から余寿命を予測する
技術もある(特開昭58−201066号公報、及び火
力原子力発電Vol.33,No.9頁899〜912参
照)。更にクリープによるボイド(空洞)の量によって
余寿命を予測する技術もある。(例えば、材料Vol.2
8,No.308頁372〜378参照)。
シグマ相の定量化による方法は有効であるが、材質がス
テンレス鋼あるいは高Cr鋼に限定され、同じステンレ
ス鋼でも化学成分の微量な差によりシグマ相の析出状態
が異なるという問題点がある。また、クリープキャビテ
ィの定量化による方法も有効であるが、この手法もステ
ンレス鋼や高Cr鋼(例えばHK40)などの粒内延性
の低い材料に限定され、ボイラー用の低合金鋼のように
粒内延性の高い材料はクリープキャビティが生成し難
く、適用は困難である。
非破壊的手法とは、加熱、クリープに起因したパーライ
ト等の分解などの組織変化、及びボイド発生等に伴う物
理的な変化を検出することにより間接的に余寿命を予測
する方法である。
この場合、物理量として種々のものが考えられるが、既
に実用化あるいは現在研究されているものとしては、例
えば電気抵抗(特開昭58−60248号公報)、超音
波音速(特開昭53−120585号公報)、X線によ
るミリオンエンテーション及び渦電流によるコイルイン
ピーダンス(特開昭53−88781号公報)などがあ
る。
非破壊的手法では、まず第1に金属材料のミクロ的な組
織変化による電気抵抗などの物理量の変化を検出するた
めに、非常に微小な変化を検出する必要があり、高精度
な装置が必要となる。また、ハンドリング、測定環境等
により大きな誤差が出る可能性がある。特にボイラーで
はタービンと異なり、測定環境が悪く、正確な測定は困
難である。更に、タービン材料はCr−Mo−V鋼のよ
うな炭素量の高い材料であるため、電気抵抗などの物理
量の低下が大きいが、ボイラー材料(例えば21/4Cr
−1Mo鋼)では炭素量が低く、物理量の低下が小さく
なり、評価が困難である。第2にこれらの方法では、マ
スターカーブを実験室的に作成しておき、マスターカー
ブと実機測定結果との対比で余寿命を推定する。ところ
で、測定する物理量は材料の微小な変化をとらえるもの
であり、材料の初期状態あるいは単なる加熱条件の変化
に対応してその物理量の絶対値は変化する。このため損
傷量は物理量の絶対値ではなく、損傷前の初期状態ある
いは単純加熱状態との相対量で評価せざるを得ない。従
って実験室的にマスターカーブを作成する場合には、寿
命を測定しようとする実機部材と初期状態が同じもの、
すなわち同一チャージの材料が使用される。ところが、
現在運転中のボイラー、特に10年以上も前に作られた
ボイラーの材料は残っていないのが実情である。しか
も、当時の材料のデータとしては、組織、硬さ、短時間
引張などの簡単なものが残っている可能性があるだけ
で、寿命評価に使用される物理量は皆無に等しい。ま
た、当時の材料の製作方法と現在の製作方法は異なって
おり、当時の材料を再製するのは非常に困難である。な
お、結晶粒度試験方法がJISに規定されているが、こ
れは結晶粒の平均断面積を測定して標準図と比較し粒度
番号を求めるものであって、結晶粒度は鉄鋼材料の製造
時の品質を表わすパラメータの一つであり、製造プロセ
スの影響を受けるため、出荷時に検査を行っているが、
このような結晶粒度試験方法で金属材料の余寿命を予測
することはできない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前記の従来技術では次のような問題点がある。
破壊的手法で実機からサンプルを採取し、クリープ試験
によって余寿命を予測するのは最も確実な方法である
が、多大な費用と時間がかかり、しかも、調査できる範
囲は限られている。また、組織観察による方法では短時
間で評価できるが、標準写真との比較で行うため定量的
評価は困難である。
更に組織変化は主に温度と時間に支配され、応力の効果
は小さい。このため、クリープ損傷と組織変化を直接結
びつけるのは困難である。
非破壊的手法では、使用材料の物理量の微小な変化を測
定するため誤差が出る可能性があり、物理量も環境温度
などで変化するため、実験室的なマスターカーブと厳密
に比較し評価するのが困難である。特に10年前の材料
ではデータが少なく、当時の材料の再製作も困難なため
破壊的、非破壊的手法ともに多くの問題点をかかえてい
る。
本発明の目的は、実機の使用材料を観察することによ
り、直接余寿命を予測する簡便な金属材料の余寿命予測
法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
前記目的を達成するため、本発明は金属材料の結晶粒の
形状を定量測定し、結晶粒の形状変化量により余寿命を
予測するように構成されている。
〔作用〕
本発明によれば、金属材料がクリープ損傷を受けると応
力方向にその結晶粒が伸びて変形するため、結晶粒の形
状変化を経時的に定量的に測定することによってその変
化量を統計的に整理することができる。
結晶粒の測定方法としては実機からサンプルを採取する
か、又はレプリカ法により非破壊的に観察し、形状変化
量として例えば結晶粒の最大長径の軸方向と応力方向と
の角度の分布などをもとにその標準偏差を求めれば形状
変化量がとらえられる。
〔実施例〕
本発明の一実施例として代表的なボイラ材料である21/
4Cr−1Mo鋼へ適用した場合の第1a図〜第12図
を参照しながら説明する。
第1a図〜第1d図に示されるように、金属材料の結晶
粒1がクリープ損傷を受けると応力方向に伸びるため、
その形状を定量測定し、結晶粒の形状変化量により材質
劣化を検出して余寿命を予測するように構成されてい
る。
金属材料がクリープ損傷を受けるということは結晶粒が
クリープ変形を伴うということであり、これに着目し、
クリープ変形は結晶粒の個々の変形を積み重ねたものと
してとらえられる。従って結晶粒の変形を経時的に定量
測定することによりクリープ損傷を検出できる。結晶粒
のクリープにより変形は応力方向に徐々に伸びるため、
伸びの程度を示すパラメータで整理することによりクリ
ープ損傷を検出できる。また、製造時には圧延などをし
ていても最終熱処理をしていれば、熱処理条件、化学成
分により結晶粒の大きさが異なるものの形状としてはほ
ぼ正多角形で平衡しており、材質、熱処理条件などの影
響を受けない。すなわち、結晶粒の形状変化はクリープ
損傷と直接に対応しており、初期状態、あるいは単純加
熱状態を考慮する必要はない。
第1a図〜第1d図には21/4Cr−1Mo鋼の金属組
織が示される。第1a図は未使用材、第1b図は単純加
熱材(クリープ損傷率φc=0)、第1c図はクリープ
損傷材(クリープ損傷率φc=0.8)、第1d図はク
リープ損傷材(クリープ損傷率φc=1.0)ミクロの
金属組織である。これらの金属組織から単純加熱材及び
クリープ損傷材ではパーライトがかなり分解している
が、クリープ損傷率φcによる差異は見られない。しか
し、結晶粒の形状はクリープ損傷材の方が応力方向に伸
びて偏平になっている。なお、クリープ損傷率φc=t
/trで表わされ、trはクリープ破断時間、tはクリ
ープ試験経過時間を示し、試験材料及び温度が一定の条
件ではそれら関係は第12図に示される。
この点に着目し、種々の損傷を与えた材料の結晶粒形状
を画像処理装置を用いて検討した。第2図に結晶粒形状
パラメータの測定方法が示されているが、図に示される
ように結晶粒の最大長径の軸方向と応力方向とのなす角
度θmを求める。第3a図及び第3b図は第1b図及び
第1c図に対応するθmの分布を求めたものであるが、
結晶粒の測定個数は100個としている。第3a図に示
されるクリープ損傷率φc=0の場合は、結晶粒が正多
角形に近いためにθmがいずれの角度にもなる可能性が
あり、θmの分布は平坦になっている。これに対し、第
3b図に示されるクリープ損傷率φc=0.8の場合に
は結晶粒が応力方向に伸びているため、応力方向(θm
=0°)にピークがある正規分布になっている。これら
の分布の差異を表すためにθmの分布の標準偏差Smを
計算し、クリープ損傷率φcとの関係を示したのが第4
図である。この図から明らかなように、クリープ損傷率
φcの増加と共にSmの低下が見られる。特にクリープ
損傷率φcが0.5以上ではSmの顕著な低下が見ら
れ、このパラメータによる余寿命予測が容易となる。こ
の図を利用することにより、実機部材のクリープ損傷量
が評価できる。なお、種々の未使用材及び単純加熱材を
用いて、クリープ損傷率φcが0の場合のSmを求めた
が、いずれも50度前後でバラツキも小さく、化学成分
や熱処理の影響は見られなかった。すなわち本手法によ
れば未使用材あるいは単純加熱材のデータは不必要であ
り、クリープ損傷を直接評価できる。
θm測定時に結晶粒の測定個数を100個としたが、時
間と共に結晶粒形状が変ることは概念的に考えられる
が、第1a図及び第1b図でも明らかなように、一個一
個の結晶粒を見ても判然としない。そこで個人差がない
機械による測定の測定個数を多くして統計的手法を用い
ることが必要となる。結晶粒の測定個数について種々検
討の結果、80個以上ではSmのバラツキが小さくな
り、結晶粒の測定個数の影響がなくなることを明らかに
し、余裕を見て100個とした。
実施例に示される材料はクリープ試験により種々の損傷
を与えた材料であるため、応力方向は明確であるが、実
機部材では応力方向が明確でない場合がある。そのた
め、クリープ損傷が大きい場合でも第5a図に示される
ようなθmの分布になることがある。これは任意の角度
を応力方向と仮定するためである。この分布の標準偏差
は非常に大きくなるが、角度の連続性(90°と−90
°とは同一方向)を考慮すると第5a図及び第5b図は
同一分布である。そこで角度を1°ずつ変換していき
(すなわち、第5a図を第5b図に変換していく)、最
小の標準偏差になるθmの分布を求め、その標準偏差を
その材料のSmとした。この手法を用いることにより、
逆に実機部材の最大応力方向が分かるという利点があ
る。また、実施例ではサンプルを直接観察することによ
り結晶粒形状を測定したが、第6図に示されるように実
物の凹凸を薄膜に転写するレプリカ法でも結晶粒が明確
に出ており全く同一の評価ができる。
第7図は本手法を実機部材に適用する場合の手順を示し
ている。実機部材2では非破壊的手法が原則であるた
め、ここではレプリカ法により薄膜を採取しているが、
サンプル採取が可能であれば、サンプルを採取した方が
精度が良くなる。レプリカ法は評価箇所をグラインダー
等で鏡面仕上げして材質にあったエッチング液でエッチ
ングする。この場合、結晶粒を明確にするため、やや長
くエッチングした方が良い。エッチングした箇所に溶剤
で溶かしたレプリカ膜をはりつけ、乾燥後、はがすこと
によって表面組織を転写できる。このレプリカ膜3を顕
微鏡4で観察し、その結晶粒形状を画像処理装置5によ
って測定することによって、損傷パラメータとなる標準
偏差Smを算出する。このSmとあらかじめ作成された
データベース6のSmとクリープ損傷量との関係からパ
ソコン7によって余寿命を演算し評価する。
同じ思想であるが結晶粒の形状変化を定量化するパラメ
ータとして以下に示すものも有効であることを確認し
た。
(a)結晶粒の長径と巾径との関係 第8図に示されるように応力方向の軸へ投影した長径l
xと応力方向と直角な軸へ投影した巾径lyとを測定
し、その比率lx/lyの平均とクリープ損傷率φcの
関係を求めると第9図のように示されプロット点は任意
に抽出した100個の結晶粒の平均値を示している。こ
の図から明らかなように、クリープ損傷率φcが0でl
x/lyが1のときは結晶粒の縦、横の長さが同じであ
り、そして、クリープ損傷率φcが0.5以下ではlx
/lyの平均値はほぼ1であり、クリープ損傷率φcが
0.5以上に大きくなるとlxがlyに比べて大きくな
るため、lx/lyの値が増加してゆく。従って、lx
/lyをパラメータにして余寿命を予測することができ
る。また、第10図に示されるように単に結晶粒の長軸
の最大長径lと直交軸上の最大巾径lとの比率l
/lをパラメータにしても第9図と同様な傾向の図が
得られる。
第9図ではlx/lyの平均値を用いて整理したが、観
察した結晶粒の全体に対するlx/ly<1あるいはl
x/ly>1になる結晶粒の個数の比率、換言すれば、
全結晶粒に対する縦長あるいは横長の結晶粒の個数の比
率によってもクリープ損傷率と良い対応があり、余寿命
予測のパラメータとして利用できる。
第13図はSUS321 HTBについて同様にlx/
lyと損傷率φcとの関係を求めたものである。21/4
Cr−1Mo鋼とはやや曲線が異なるが、やはり損傷率
φcが0.5以上でl/lが徐々に増加しており、
余寿命評価が可能である。
(b)円形度 結晶粒の円形度はクリープ損傷を推定できるパラメータ
である。円形度は種々の方法で示されるが、その一例と
して輪郭比がある。輪郭比は(等価円の周長)/(結晶
粒の周長)で示される。この輪郭比とクリープ損傷率φ
cとの関係を示したのが、第11図である。こり図から
明らかなように輪郭比からもクリープ損傷を予測でき
る。この他に円形度を表すパラメータとして、例えば、
周囲長)/(面積)などがある。このように円形度が
パラメータとなる理由は、損傷が小さい場合には結晶粒
が円に近く、損傷が大きくなるにつれて応力方向に伸び
て円形度が大きくなるからである。
なお、他の実施例に示したパラメータはクリープ損傷率
φcによるパラメータの変化が小さく、精度は低くなる
が、材質が変った場合には有力なパラメータとなる可能
性がある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、金属材料の結晶粒の形状を定量測定し
変化量を比較することにより、その余寿命を簡単にしか
も非破壊的手法で定量的に予測できるため費用と時間が
大幅に軽減され、高精度の装置も不必要で、かつ使用材
料の初期データ及び単純加熱材データも不必要であり、
多くの多結晶体の金属材料に適用できるため工業的利用
価値が大である。
【図面の簡単な説明】
第1a図は21/4Cr−1Mo鋼の未使用材の金属組織
を示す写真、第1b図は単純加熱材(クリープ損傷率φ
c=0)の金属組織を示す写真、第1c図はクリープ損
傷材(クリープ損傷率φc=0.8)の金属組織を示す
写真、第1d図はクリープ損傷材(クリープ損傷率φc
=1.0)の金属組織を示す写真、第2図は本発明の結
晶粒形状変化のパラメータθmの測定方法を説明する
図、第3a図及び第3b図は第1b図及び第1c図に対
応するθmの分布を示すグラフ、第4図はθmの分布の
標準偏差Smとクリープ損傷率との関係を示すグラフ、
第5a図及び第5b図は応力方向が未知の場合と既知の
場合とのθmの分布の一例を示すグラフ、第6図はレプ
リカ法による顕微鏡の金属組織を示す写真、第7図は実
機部材で結晶粒形状により余寿命を予測する手順を示す
回路図、第8図は結晶粒形状変化のパラメータlx、l
yの測定方法を説明する図、第9図はlx/lyとクリ
ープ損傷率との関係を示すグラフ、第10図は結晶粒形
状変化のパラメータl,lの測定方法を説明する
図、第11図は結晶粒状変化のパラメータ輪郭比とクリ
ープ損傷率との関係を示すグラフ、第12図はクリープ
破断及び試験経過時間の関係を示すグラフ、第13図は
SUS321 HTB鋼のlx/lyとクリープ損傷率
との関係を示すグラフである。 1……結晶粒。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】金属材料の結晶粒の形状を定量測定し、該
    結晶粒の形状変化量により余寿命を予測することを特徴
    とする金属材料の余寿命予測法。
  2. 【請求項2】形状変化量が結晶粒の最大長径の長軸方向
    と応力方向とのなす角度の分布に対する標準偏差で表わ
    されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の金
    属材料の余寿命予測法。
  3. 【請求項3】形状変化量が結晶粒の最大長径と、その長
    軸と直交する軸上の最大巾径との比により表わされるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の金属材料の
    余寿命予測法。
  4. 【請求項4】形状変形量が結晶粒の応力方向の長径と、
    その応力方向に直交する方向の巾径により表わされるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の金属材料の
    余寿命予測法。
  5. 【請求項5】形状変化量が結晶粒の円形度により表わさ
    れることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の金属
    材料の余寿命予測法。
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