JPH0635175Y2 - 半導体ｏ▲下２▼センサ - Google Patents
半導体ｏ▲下２▼センサInfo
- Publication number
- JPH0635175Y2 JPH0635175Y2 JP4438088U JP4438088U JPH0635175Y2 JP H0635175 Y2 JPH0635175 Y2 JP H0635175Y2 JP 4438088 U JP4438088 U JP 4438088U JP 4438088 U JP4438088 U JP 4438088U JP H0635175 Y2 JPH0635175 Y2 JP H0635175Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exhaust gas
- cover
- semiconductor
- metal oxide
- tip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Measuring Oxygen Concentration In Cells (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［考案の利用分野］ この考案は金属酸化物半導体の抵抗値の変化を利用した
半導体O2センサの改良に関し、特にその保護カバーの改
良に関する。この考案の半導体O2センサは、自動車エン
ジンの空燃比制御等に用いる。
半導体O2センサの改良に関し、特にその保護カバーの改
良に関する。この考案の半導体O2センサは、自動車エン
ジンの空燃比制御等に用いる。
［従来技術］ 基端部に排ガス導入孔を設けると共に、先端部に排ガス
排出孔を設けた、半導体O2センサのカバーは周知であ
る。このカバーでは、排ガスを基部から導入して先端部
から排出し、金属酸化物半導体の保護を図ると共に、排
ガス中の炭素等のデポジット成分や、リンや硫黄等の除
去を図っている。
排出孔を設けた、半導体O2センサのカバーは周知であ
る。このカバーでは、排ガスを基部から導入して先端部
から排出し、金属酸化物半導体の保護を図ると共に、排
ガス中の炭素等のデポジット成分や、リンや硫黄等の除
去を図っている。
しかしカバーの基端部に排ガス導入孔を設ける作業は複
雑である。カバーは通常、金属の絞り加工等で設けられ
る。そして加工前に排ガス導入孔を設けると、この部分
から亀裂等が生じ易い。また加工後のカバーに導入孔を
設けるには、カバーの側面からドリルやパンチ等で穴を
あけることになる。この作業は複雑で、生産性に乏し
い。
雑である。カバーは通常、金属の絞り加工等で設けられ
る。そして加工前に排ガス導入孔を設けると、この部分
から亀裂等が生じ易い。また加工後のカバーに導入孔を
設けるには、カバーの側面からドリルやパンチ等で穴を
あけることになる。この作業は複雑で、生産性に乏し
い。
［考案の課題］ この考案は、排ガス導入孔口の形成が容易で、かつ排ガ
スからのセンサ本体の保護が充分な、半導体O2センサの
保護カバーを提供することを課題とする。
スからのセンサ本体の保護が充分な、半導体O2センサの
保護カバーを提供することを課題とする。
［考案の構成と作用］ この考案では、保護カバーの基端部付近に排ガス導入孔
を設けると共に、カバーの先端部に排ガス排出孔を設け
る。排ガス導入孔は、センサ本体の金属酸化物半導体よ
りも、カバーの基端部側に設ける。そして排ガス導入孔
の開口面は、カバーの基端部側を向いたものとする。
を設けると共に、カバーの先端部に排ガス排出孔を設け
る。排ガス導入孔は、センサ本体の金属酸化物半導体よ
りも、カバーの基端部側に設ける。そして排ガス導入孔
の開口面は、カバーの基端部側を向いたものとする。
このようにすれば、導入孔から流入した排ガスはカバー
の下部へと流れ、そこで例えば180°方向を変換した
後、金属酸化物半導体へと達する。そして排ガスは、主
として保護カバー先端の排出孔から排出される。このカ
バーでは排ガスは、導入孔の通過時とカバーの下部とで
少なくとも２回の方向変換を行う。そしてこれに伴い、
排ガスとカバーやセンサのハウジング等との接触時間も
長い。このため排ガスは減速され、高速の排ガスとの衝
突による金属酸化物半導体の破壊を防止できる。またカ
バーやハウジング等との接触を介して、排ガス中の炭素
等のデポジット成分やリンや硫黄等の被毒成分を除去で
きる。
の下部へと流れ、そこで例えば180°方向を変換した
後、金属酸化物半導体へと達する。そして排ガスは、主
として保護カバー先端の排出孔から排出される。このカ
バーでは排ガスは、導入孔の通過時とカバーの下部とで
少なくとも２回の方向変換を行う。そしてこれに伴い、
排ガスとカバーやセンサのハウジング等との接触時間も
長い。このため排ガスは減速され、高速の排ガスとの衝
突による金属酸化物半導体の破壊を防止できる。またカ
バーやハウジング等との接触を介して、排ガス中の炭素
等のデポジット成分やリンや硫黄等の被毒成分を除去で
きる。
このカバーの加工には、例えば絞り加工を用いる。そし
て雌型に排ガス導入孔に対応した刃先を設けると、加工
と同時に導入孔を形成することができる。排ガス排出孔
はカバーの加工と同時に設けても良いが、バリ等が生じ
る恐れが有る。そこで好ましくは加工後のカバーに、パ
ンチ等で排出孔を設けるようにする。この作業は、カバ
ー先端の平滑面に対して行うので、単純である。
て雌型に排ガス導入孔に対応した刃先を設けると、加工
と同時に導入孔を形成することができる。排ガス排出孔
はカバーの加工と同時に設けても良いが、バリ等が生じ
る恐れが有る。そこで好ましくは加工後のカバーに、パ
ンチ等で排出孔を設けるようにする。この作業は、カバ
ー先端の平滑面に対して行うので、単純である。
［実施例］ 第１図に、ステンレス等を用いた保護カバー２を示す。
図において、４はカバー２の基端部付近に設けた排ガス
導入孔で、例えば同じ物を４カ所に設ける。そして導入
孔４の開口面は、カバー２の基端部側を向いたものとす
る。６は導入孔４に連結して設けた溝で、その側面はカ
バー２の他の部分と連続してつながり、開口面は前記の
導入孔４のみである。また８はカバー２の先端に設けた
排ガス排出孔で、ここでは単純なバカ穴とした。勿論排
出孔８は他の形状でも良く、例えば開口部を外部へ、あ
るいは内部へ折り曲げたもの等としても良い。
図において、４はカバー２の基端部付近に設けた排ガス
導入孔で、例えば同じ物を４カ所に設ける。そして導入
孔４の開口面は、カバー２の基端部側を向いたものとす
る。６は導入孔４に連結して設けた溝で、その側面はカ
バー２の他の部分と連続してつながり、開口面は前記の
導入孔４のみである。また８はカバー２の先端に設けた
排ガス排出孔で、ここでは単純なバカ穴とした。勿論排
出孔８は他の形状でも良く、例えば開口部を外部へ、あ
るいは内部へ折り曲げたもの等としても良い。
第２図に、半導体O2センサの全体図を示す。図におい
て、10は金属ハウジングで、カバー２を溶接やかしめ止
め等により結合する。12は、ハウジング10に収容したア
ルミナ等の耐熱絶縁性基板である。14はBaSnO3やTiO2等
の金属酸化物半導体の焼結体で、基板12の先端部付近に
設けたくぼみ部に保持してある。金属酸化物半導体14の
保持には、例えばその表面の一部に溶射を施し、溶射膜
でくぼみ部に保持するようにすれば良い。16は基板12に
印刷した一対の膜状電極で、白金等の電極線により金属
酸化物半導体14と接続してある。なお基板12にはこれ以
外に、金属酸化物半導体14を動作温度に加熱するための
ヒータ等を設ける。ここでは基板12として平板状のもの
を示したが、これに限るものではなく、例えば２穴管状
の耐熱絶縁性基体の先端に溝を設けて、金属酸化物半導
体の焼結体を保持させても良い。基板12は、ハウジング
10内に収容した、図示しない他の絶縁性基体に結合し
て、ハウジング10に収容する。18は、ハウジング10から
の外部接続用ケーブルである。なおこの明細書では、ハ
ウジング10の側を基端部側、カバー２の先端部側を先端
部側として説明する。導入孔４は金属酸化物半導体14か
ら見て基端部側に有れば良く、これ以外の点ではその位
置は任意である。
て、10は金属ハウジングで、カバー２を溶接やかしめ止
め等により結合する。12は、ハウジング10に収容したア
ルミナ等の耐熱絶縁性基板である。14はBaSnO3やTiO2等
の金属酸化物半導体の焼結体で、基板12の先端部付近に
設けたくぼみ部に保持してある。金属酸化物半導体14の
保持には、例えばその表面の一部に溶射を施し、溶射膜
でくぼみ部に保持するようにすれば良い。16は基板12に
印刷した一対の膜状電極で、白金等の電極線により金属
酸化物半導体14と接続してある。なお基板12にはこれ以
外に、金属酸化物半導体14を動作温度に加熱するための
ヒータ等を設ける。ここでは基板12として平板状のもの
を示したが、これに限るものではなく、例えば２穴管状
の耐熱絶縁性基体の先端に溝を設けて、金属酸化物半導
体の焼結体を保持させても良い。基板12は、ハウジング
10内に収容した、図示しない他の絶縁性基体に結合し
て、ハウジング10に収容する。18は、ハウジング10から
の外部接続用ケーブルである。なおこの明細書では、ハ
ウジング10の側を基端部側、カバー２の先端部側を先端
部側として説明する。導入孔４は金属酸化物半導体14か
ら見て基端部側に有れば良く、これ以外の点ではその位
置は任意である。
カバー２は、例えば次のようにして製造する。ステンレ
ス等の金属の円板を金型を用いて絞り加工し、カバー２
の形状へ加工する。ここで雌型には溝６に対応した突起
を設け、その先端に刃先を設ける。雌型に金属板を絞り
込むと、カバー２の成型と同時に導入孔４を設けること
ができる。先端の排出孔８は、例えば雌型にパンチ用の
突起を設け、加工と同時に形成しても良い。しかし先端
に排出孔８を設けることは容易で、カバー２の成型後に
パンチ等で別に設ければ良い。
ス等の金属の円板を金型を用いて絞り加工し、カバー２
の形状へ加工する。ここで雌型には溝６に対応した突起
を設け、その先端に刃先を設ける。雌型に金属板を絞り
込むと、カバー２の成型と同時に導入孔４を設けること
ができる。先端の排出孔８は、例えば雌型にパンチ用の
突起を設け、加工と同時に形成しても良い。しかし先端
に排出孔８を設けることは容易で、カバー２の成型後に
パンチ等で別に設ければ良い。
実施例の半導体O2センサを、自動車エンジンの排気管等
に装着する。排ガスは、排気管の上流側の導入孔４から
カバー２内に侵入し、導入孔４を通過する際に、基端部
側に方向変換される。次いで排ガスは、ハウジング10の
先端や、ハウジング10に収容した他の絶縁性基体、ある
いは基板12の根元部等に衝突し、再度方向変換して、先
端の排出孔８から排出される。なお一部の排ガスは、排
気管の下流側の導入孔４からも排出される。実施例で
は、排ガスは少なくとも２回の方向変換を行い、カバー
２やハウジング10等との接触時間が長いため、減速は充
分で、炭素やリン硫黄等の除去も充分である。
に装着する。排ガスは、排気管の上流側の導入孔４から
カバー２内に侵入し、導入孔４を通過する際に、基端部
側に方向変換される。次いで排ガスは、ハウジング10の
先端や、ハウジング10に収容した他の絶縁性基体、ある
いは基板12の根元部等に衝突し、再度方向変換して、先
端の排出孔８から排出される。なお一部の排ガスは、排
気管の下流側の導入孔４からも排出される。実施例で
は、排ガスは少なくとも２回の方向変換を行い、カバー
２やハウジング10等との接触時間が長いため、減速は充
分で、炭素やリン硫黄等の除去も充分である。
実施例において重要なことは、排ガスを導入孔４から基
端部側へ流入させること、流入した排ガスを金属酸化物
半導体14の手前でハウジング10等に衝突させることの、
２点である。これらの条件が満たされれば、種々の変形
が可能である。このような例を、第３図に示す。
端部側へ流入させること、流入した排ガスを金属酸化物
半導体14の手前でハウジング10等に衝突させることの、
２点である。これらの条件が満たされれば、種々の変形
が可能である。このような例を、第３図に示す。
第３図の変形例では、ハウジング30の先端に円筒状の突
起32を設け、ここに基板12を収容する。勿論突起は、ハ
ウジング30ではなく、その内部に収容した絶縁性基体に
設けても良い。そして突起32の周囲には、環状の溝34を
設ける。他の点では、第１図、第２図の実施例と同様で
ある。変形例では、導入孔４と溝32の底との間に大きな
空間を設け、この部分で排ガスの減速と、デポジット等
の除去とを行う。そして侵入した排ガスを、この部分で
旋回運動させながら、方向変換させる。このようにすれ
ば、排ガスの方向変換をより滑らかにすると共に、排ガ
スとカバー２やハウジング30との接触時間を延長し、デ
ポジット等の除去をより充分に行うことができる。
起32を設け、ここに基板12を収容する。勿論突起は、ハ
ウジング30ではなく、その内部に収容した絶縁性基体に
設けても良い。そして突起32の周囲には、環状の溝34を
設ける。他の点では、第１図、第２図の実施例と同様で
ある。変形例では、導入孔４と溝32の底との間に大きな
空間を設け、この部分で排ガスの減速と、デポジット等
の除去とを行う。そして侵入した排ガスを、この部分で
旋回運動させながら、方向変換させる。このようにすれ
ば、排ガスの方向変換をより滑らかにすると共に、排ガ
スとカバー２やハウジング30との接触時間を延長し、デ
ポジット等の除去をより充分に行うことができる。
［考案の効果］ この考案では、カバーの加工と同時に排ガス導入孔を設
けることを可能にし、カバーの成型を容易にする。また
排ガスには導入孔とカバーの内部とで少なくとも２回の
方向変換を行わせ、排ガスを減速すると共に、デポジッ
ト等を除去する。
けることを可能にし、カバーの成型を容易にする。また
排ガスには導入孔とカバーの内部とで少なくとも２回の
方向変換を行わせ、排ガスを減速すると共に、デポジッ
ト等を除去する。
第１図は実施例の半導体O2センサの要部斜視図、第２図
は実施例の一部切り欠き部付き側面図である。第３図は
変形例の要部断面図である。 図において、２……カバー、 ４……排ガス導入孔、６……溝、 ８……排ガス排出孔、10、30……ハウジング、 12……耐熱絶縁性基板、14……金属酸化物半導体。
は実施例の一部切り欠き部付き側面図である。第３図は
変形例の要部断面図である。 図において、２……カバー、 ４……排ガス導入孔、６……溝、 ８……排ガス排出孔、10、30……ハウジング、 12……耐熱絶縁性基板、14……金属酸化物半導体。
Claims (1)
- 【請求項１】酸素分圧により抵抗値が変化する金属酸化
物半導体を、耐熱絶縁性基体の先端部付近に保持し、こ
の基体の周囲に排ガス導入用の保護カバーを設けた半導
体O2センサにおいて、 前記金属酸化物半導体から見た保護カバーの基端部側
に、開口面が基端部側を向いた排ガス導入孔を設けると
共に、保護カバーの先端部には排ガス排出孔を設けたこ
とを特徴とする、半導体O2センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4438088U JPH0635175Y2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 半導体ｏ▲下２▼センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4438088U JPH0635175Y2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 半導体ｏ▲下２▼センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01146155U JPH01146155U (ja) | 1989-10-09 |
| JPH0635175Y2 true JPH0635175Y2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=31270740
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4438088U Expired - Lifetime JPH0635175Y2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 半導体ｏ▲下２▼センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0635175Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5765394B2 (ja) * | 2012-11-20 | 2015-08-19 | 株式会社デンソー | ガスセンサ |
| JP7510847B2 (ja) * | 2020-10-29 | 2024-07-04 | 日本特殊陶業株式会社 | ガスセンサ |
| JP7520693B2 (ja) * | 2020-10-29 | 2024-07-23 | 日本特殊陶業株式会社 | ガスセンサ及びガスセンサ取付構造 |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP4438088U patent/JPH0635175Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01146155U (ja) | 1989-10-09 |
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