JPH06350237A - Land shape for solder precoating - Google Patents

Land shape for solder precoating

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Publication number
JPH06350237A
JPH06350237A JP13866093A JP13866093A JPH06350237A JP H06350237 A JPH06350237 A JP H06350237A JP 13866093 A JP13866093 A JP 13866093A JP 13866093 A JP13866093 A JP 13866093A JP H06350237 A JPH06350237 A JP H06350237A
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JP
Japan
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solder
land
shape
row
lead
Prior art date
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Pending
Application number
JP13866093A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuo Hirabayashi
光男 平林
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Publication of JPH06350237A publication Critical patent/JPH06350237A/en
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components
    • HELECTRICITY
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    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof

Landscapes

  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To allow highly accurate positioning by forming a protrusion for a predetermined quantity of solder on a row of lands at at least one end thereof thereby preventing a component from shifting at the time of mounting CONSTITUTION:The land shape 2 for solder precoating is formed over the entire length of the row of lands such that a protrusion 4 is disposed adjacent to the the lead of an electronic component 7, at the tip 1 thereof, mounted on a the surface of a board through a solder while regulating the position of thereof on the plane. The protrusion 4 requires such quantity of solder as having effect on the positional regulation of the tip 1 of lead on the plane. Consequently, the length and width of land are 2.0mm and 0.16mm, respectively, and the width is widened to 0.20mm at at least one end of the row of lands so that a protrusion 4 for holding 30% or more of the total quantity of solder on the row of lands is formed thereat. This shape prevents positional shift of the component at the time of mounting, and allows highly accurate positioning of component using a mounter of conventional accuracy thus realizing high density, high quality mounting with high yield.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ICや抵抗やコネクタ
などの電子部品が半田付けにより表面実装されているプ
リント基板等のランド形状に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a land shape such as a printed circuit board on which electronic parts such as ICs, resistors and connectors are surface-mounted by soldering.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器のダウンサイジング・ポータブ
ル化・高機能化に伴い、それを支える実装技術も年々高
度化・多様化している。つまり現在プリント基板等のラ
ンドに、ICや抵抗やコネクタなどのような電子部品が
半田付けされている。ところが搭載部品が高密度な実装
を要求する0.5mmピッチ以下のQFPや1005チ
ップなどの場合、従来から量産実用化している半田クリ
ームによる一括印刷一括リフロー表面実装方式では安定
量産性を維持することが困難になってきた。そこで微細
実装に対応した代替手法として半田プリコート法が最近
提案されてきた。雑誌電子材料1992.9号の37頁
にノートブック型パソコンにみる実装技術で、古河電工
社製スーパーソルダー法による半田プリコート基板が掲
載されている。図9は、半田プリコート法で製造した配
線基板に対する電子部品(細密QFP)の半田付け方法
を示す平面図で、図10は側面図である。プリント基板
などのような配線基板に盛られた半田ランド5は、配線
パターンにそって形成されている。この配線パターンの
上部に、前記QFPなどのようなフラットパッケージ部
品の端子6がマウンターで搭載される。端子6を半田ラ
ンド5に半田付けするために、半田ランド5には予め形
成されたプリコート半田11が形成されており、このプ
リコート半田11をリフロー炉で加熱して溶かすことに
より半田付けされる。
2. Description of the Related Art As electronic equipment is downsized, made portable, and has higher functionality, the mounting technology that supports it is becoming more sophisticated and diversified year by year. That is, currently, electronic parts such as ICs, resistors and connectors are soldered to lands such as printed circuit boards. However, in the case of QFP or 1005 chips with a pitch of 0.5 mm or less that requires high-density mounting of mounted components, stable mass productivity should be maintained by the batch printing batch reflow surface mounting method using solder cream that has been put into mass production in the past. Has become difficult. Therefore, the solder precoating method has been recently proposed as an alternative method for fine mounting. On page 37 of the magazine Electronic Materials No. 1992.9, a soldering pre-coated substrate manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd. using a super soldering method is described, which is a mounting technique for a notebook computer. FIG. 9 is a plan view showing a method of soldering an electronic component (fine QFP) to a wiring board manufactured by the solder precoat method, and FIG. 10 is a side view. The solder lands 5 formed on a wiring board such as a printed board are formed along the wiring pattern. On the upper part of this wiring pattern, the terminal 6 of the flat package component such as the QFP is mounted by a mounter. In order to solder the terminal 6 to the solder land 5, a pre-coated solder 11 which is formed in advance is formed on the solder land 5, and the pre-coated solder 11 is soldered by heating and melting in a reflow furnace.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで現状の半田プ
リコート法による半田は、図11のように銅ランド3上
に形成した半田の表面が丸みを帯びた形状となる。その
ため、細密部品の端子6を置いて半田付けする際に、半
田ランド5の真上に実装部品端子を正確にかつ安定して
置くことが困難となり、位置ズレを発生する恐れがあ
る。
By the way, in the solder by the current solder precoat method, the surface of the solder formed on the copper land 3 has a rounded shape as shown in FIG. Therefore, when placing and soldering the terminals 6 of the close-packed component, it becomes difficult to place the mounted component terminals accurately and stably directly above the solder lands 5, and there is a risk of misalignment.

【0004】また図10のように半田ランド5上に形成
した半田量がまちまちなため、残量の少ない半田箇所な
どの場合で、搭載時の位置ズレが大きい時などは、リフ
ロー半田付けする際に半田高さが低いために、半田への
熱伝達が悪く、部品の端子6への前記半田吸い上がり出
来ず、半田付け不良となる。そこで図12のようにラン
ド上に形成したプリコート半田13の表面を平坦化し、
かつ総じて同じ半田厚とする事が考えられ提案されてい
る。(特開平4−318995号公報 プリント基板と
その修理方法を参照)前者のように半田を平坦化するに
は通常プレスで加熱して行われるが、例えばプリコート
法による半田を総じて平坦化することを考えた場合は、
30cm四方の基板を全てのランドに渡って数10ミク
ロン以内に平坦化作業をするのは困難であり、またそれ
自体の作業がコストアップ要因で、同一品質に揃えなけ
ればならないため、作業の負担が大きく量産化に向かな
い。
Further, as shown in FIG. 10, the amount of solder formed on the solder lands 5 varies, so when reflow soldering is performed, such as when there is a small amount of solder remaining and when there is a large positional deviation during mounting. Moreover, since the solder height is low, heat transfer to the solder is poor, and the solder cannot be sucked up to the terminal 6 of the component, resulting in poor soldering. Therefore, as shown in FIG. 12, the surface of the precoat solder 13 formed on the land is flattened,
Moreover, it is considered and proposed that the solder thickness is generally the same. (See Japanese Laid-Open Patent Publication No. 4-318995 and a method for repairing the printed circuit board.) To flatten the solder as in the former, heating is usually performed by a press. For example, it is necessary to flatten the solder by a precoat method as a whole. If you think
It is difficult to flatten a 30 cm square substrate within a few tens of microns over all the lands, and the work itself is a cost-increasing factor and must be of the same quality. Is not suitable for mass production.

【0005】本発明の技術的課題は、従来の半田プリコ
ート法による半田接合方法におけるこのような課題を解
消し、簡易なランド形状で搭載時の部品ズレを無くし、
高精度な位置決めとなるように高品質高歩留実装を可能
とすることにある。
The technical problem of the present invention is to solve such problems in the conventional solder joining method by the solder precoating method and to eliminate the component deviation at the time of mounting with a simple land shape.
It is to enable high-quality and high-yield mounting so that positioning can be performed with high accuracy.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明の半田プリコート
用ランド形状は、 1.半田付け用のランドに半田を付与し、該半田の上に
部品を搭載後加熱硬化し、プリント基板に部品を表面実
装するランド形状において、ランド列の全長の少なくと
も一端にランド列上の半田量の30%以上が遍在する凸
部が形成されていることを特徴とする。
The shape of the solder precoat land of the present invention is as follows. In a land shape in which solder is applied to a land for soldering, a component is mounted on the solder, then heat-cured, and the component is surface-mounted on a printed circuit board, the amount of solder on the land line is at least at one end of the entire length of the land line. 30% or more of the ridges are ubiquitous.

【0007】2.前記手段1のランド列上に遍在する凸
部が、ランド列の全長の両端に交互に形成されているこ
とを特徴とする。
2. It is characterized in that the convex portions that are ubiquitous on the land row of the means 1 are alternately formed at both ends of the entire length of the land row.

【0008】3.前記手段1のランド列上に遍在する凸
部が、ランド列の全長の少なくとも一端に一つおきに形
成され、かつ遍在する凸部がないランド幅が、一端に一
つおきに形成されていないランド幅より長いことを特徴
とする。
3. The protrusions that are ubiquitous on the land row of the means 1 are formed at every other end at least at one end of the entire length of the land row, and the land width without the ridges is formed at every other end. It is characterized by being longer than the land width.

【0009】[0009]

【作用】半田プリコート用ランド形状であるので、ラン
ド幅が大きい箇所に製造工程上溶融した半田の表面張力
で球面上となり凸部を形成するが、前記凸部が搭載する
QFPの各辺のリード端子と接触して、搭載位置をプリ
ント基板のランド形状で規制するため、QFPの全ての
リードで作る平面はランド位置と等しくなり、部品の端
子列を半田付けする際に、各端子をランドの真上に安定
して精度良く位置合わせできる。
Since the land shape for solder precoating is employed, the surface tension of the molten solder causes a spherical surface to form a convex portion in the place where the land width is large, and the convex portion forms a lead on each side of the QFP to be mounted. Since the mounting position is regulated by the land shape of the printed circuit board in contact with the terminals, the plane formed by all the leads of the QFP is equal to the land position, and when soldering the terminal row of the component, each terminal Stable and accurate positioning can be performed right above.

【0010】[0010]

【実施例】以下、実施例に基づき本発明を詳細に説明す
る。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below based on examples.

【0011】(実施例1)まず、本発明による配線基板
の半田プリコート方法半田付けが実際どのように具体化
されるかを実施例で説明する。
(Embodiment 1) First, an embodiment will be used to explain how the solder precoating method for a wiring board according to the present invention is actually embodied.

【0012】図1から図3は本発明の第1の実施例にお
ける半田形状の図である。
FIGS. 1 to 3 are views of the solder shape in the first embodiment of the present invention.

【0013】本実施例のランドは、ランド列上に遍在す
る凸部4が、前記半田の上に搭載される部品のリード先
端1に隣接し、かつ図4のように前記部品の平面位置を
規制しつつ基板に表面実装するようにランド列の全長の
位置に形成する半田プリコート用ランド形状2である。
そのため、リード先端1の平面位置を規制する効果が有
れば数値にはこだわらないが、少なくとも30%以上の
半田量の凸部4が必要である。
In the land of this embodiment, the convex portions 4 which are ubiquitous on the land row are adjacent to the lead tips 1 of the components mounted on the solder, and the planar position of the components is as shown in FIG. This is the solder precoat land shape 2 formed at the position of the entire length of the land row so as to be surface-mounted on the substrate while controlling the above.
Therefore, if there is an effect of restricting the plane position of the lead tip 1, the number is not limited to a numerical value, but the convex portion 4 having a solder amount of at least 30% or more is required.

【0014】ランド長さを2.0mm、ランド幅を0.
16mm、そしてランド列の全長の少なくとも一端にラ
ンド列上の半田量の30%以上が遍在する凸部を形成す
る様に幅広のランド幅を0.20mmとした。本実施例
の半田プリコート用ランド形状を配置した0.3ミリの
配線が施されたガラスエポキシ回路基板を、はんだ印刷
機(NP−04AN2・日立テクノ製)でパターンが刻
まれたステンシル(プロセスラボミクロン製)を挟みつ
つ共晶ハンダクリーム(MX263−100−FO ニ
ホンハンダ製)を印刷した。
The land length is 2.0 mm and the land width is 0.
The land width is set to 16 mm, and the wide land width is set to 0.20 mm so that at least one end of the entire length of the land row forms a convex portion in which 30% or more of the amount of solder on the land row is ubiquitous. A stencil (process lab) in which a pattern was engraved on a glass epoxy circuit board on which 0.3 mm of wiring in which the land shape for solder precoat of this example was arranged was provided by a solder printer (NP-04AN2, manufactured by Hitachi Techno) A eutectic solder cream (MX263-100-FO manufactured by Nihon Solder) was printed while sandwiching a micron product.

【0015】温度プロファイルを描きながら温度制御可
能なN2リフロー炉(NRS405エイテック製)で硬
化した。初期摂氏155度で最高温度を摂氏235度に
設定し合計145秒間で硬化した。酸素濃度を100P
PMで管理しつつ、半田クリームを溶解し、銅ランドの
上に本実施例の半田を析出させた。
Curing was performed in an N2 reflow furnace (manufactured by NRS405 Eitec) whose temperature was controllable while drawing a temperature profile. The initial temperature of 155 degrees Celsius was set as the maximum temperature of 235 degrees Celsius, and curing was performed for 145 seconds in total. Oxygen concentration is 100P
While managing with PM, the solder cream was melted and the solder of this example was deposited on the copper land.

【0016】冷却後、形成したプリコート半田の上にデ
ィスペンサー(ML505武蔵エンジニァリング製)で
高粘度フラックス(FB212ハリマ化成)を10ミク
ロンから50ミクロンの厚さで、均一に塗布した。さら
に、チップマウンター(CM85C−ME・九州松下
製)で、半導体素子(0.3mmピッチQFP)部品を
搭載した。そしてN2リフロー炉(NRS405エイテ
ック製)で1000PPMの酸素濃度で接合した。
After cooling, a high-viscosity flux (FB212 Harima Kasei) was uniformly applied on the formed pre-coated solder with a dispenser (ML505 made by Musashi Engineering Co., Ltd.) in a thickness of 10 to 50 microns. Furthermore, a chip mounter (CM85C-ME, manufactured by Kyushu Matsushita) was used to mount semiconductor element (0.3 mm pitch QFP) parts. And it joined by the oxygen concentration of 1000PPM with the N2 reflow furnace (made by NRS405 Aitec).

【0017】結果、本実施例のランド形状によるリード
端子1のフィレット形状は、確実に電気的な接合と機械
的強度の実現ができた。従来の印刷法で見られたような
半田クリーム粒子の過剰塗布・熱履歴によるブリッジ不
良の発生は認められなかった。しかも本実施例のプリコ
ート法は、ランド面積に応じた半田クリームの塗布量が
規定されているので、溶融半田が適切に体積的に吸収さ
れ、リード端子の位置精度の保証という本実施例の効果
が現れた。プリコート半田の特徴としてのブリッジ不良
の発生率の減少は現れて、ランド間隔を50ミクロン近
く狭くしても問題がなかった。
As a result, the fillet shape of the lead terminal 1 having the land shape of the present embodiment was able to surely realize electrical connection and mechanical strength. The occurrence of bridging defects due to excessive application of solder cream particles and heat history, as seen in the conventional printing method, was not observed. Moreover, in the pre-coating method of this embodiment, the amount of solder cream applied is defined according to the land area, so that the volume of the melted solder is properly absorbed, and the effect of this embodiment is that the position accuracy of the lead terminals is guaranteed. Appeared. A decrease in the occurrence rate of bridging defects, which is a characteristic of pre-coated solder, appeared, and there was no problem even if the land interval was narrowed by about 50 microns.

【0018】また、本実施例の半田プリコート用ランド
形状2では、リード端子1が確実にランドの上に位置決
めされるので、半田溶融時に半田がフラックス14と共
にリード端子1を引き込むというセルフソルダリング機
能が働いた。今回半導体素子の半田付け状態を検査する
方法として、レーザー光による検出方法と、多色光を照
射しその映像を画像処理し反射光を検出する方法と使わ
れ、共に良好なリード端子のフィレット形状の確実な実
現が確認され、不良に半田付けされた基板箇所は見られ
なかった。
Further, in the solder precoat land shape 2 of this embodiment, since the lead terminal 1 is reliably positioned on the land, the solder pulls the lead terminal 1 together with the flux 14 when the solder melts. Worked. This time, as a method of inspecting the soldering state of the semiconductor element, a method of detecting with laser light and a method of irradiating polychromatic light and processing the image of the image to detect reflected light are both used. The reliable realization was confirmed, and no part of the board was badly soldered.

【0019】加熱方法として、リフロー炉・N2リフロ
ー炉・赤外線炉・熱風循環・レーザー加熱・光ビーム加
熱・加熱ツール・エァヒーター・ホットプレート・気化
潜熱などがある。これらの加熱方法は単独でもよく、か
つ複数の併用や繰り返しでも可能である。使用できる半
田組成には、共晶半田の他に、スズ・ビスマス・鉛やス
ズ・鉛・銀などの低融点半田の特性を加味できる金属成
分を0.1%から50%添加したものも可能である。使
われるフラックス組成に純ロジン(R)・弱活性ロジン
(RMA)・活性ロジン(RA)やフェノール系などの
合成樹脂やフッ素含有の合成活性剤や有機酸・有機塩・
合成樹脂などの低残さ用の特性を加味できる成分を添加
したことや水溶性の無機酸・無機塩・有機酸・塩基・有
機塩・有機ハロゲンを添加したものも使用可能である。
Examples of heating methods include reflow furnace, N2 reflow furnace, infrared furnace, hot air circulation, laser heating, light beam heating, heating tool, air heater, hot plate, and latent heat of vaporization. These heating methods may be used alone, and may be used in combination or repeatedly. In addition to the eutectic solder, the solder composition that can be used includes those containing 0.1% to 50% of metal components such as tin, bismuth, lead, tin, lead, silver, etc., which can take into account the characteristics of low melting point solder. Is. The flux composition used is pure rosin (R), weakly active rosin (RMA), active rosin (RA), phenolic synthetic resin, fluorine-containing synthetic activator, organic acid, organic salt, etc.
It is also possible to add a component such as a synthetic resin capable of taking into account the characteristics for low residue, or to which a water-soluble inorganic acid / inorganic salt / organic acid / base / organic salt / organic halogen is added.

【0020】半田付け特性を評価した。接合強度(g/リート
゛)、フ゛リッシ゛不良発生率(%)、未半田不良率(%)、ズレ不
良率(%)について測定した結果を表1に示す。
The soldering characteristics were evaluated. Table 1 shows the results of measurement of bonding strength (g / lead), bridging defect occurrence rate (%), unsoldered defective rate (%), and misalignment defective rate (%).

【0021】[0021]

【表1】 [Table 1]

【0022】(実施例2)次に図5から図7は本発明の
第2の実施例における半田形状の図である。
(Embodiment 2) Next, FIGS. 5 to 7 are views of a solder shape in a second embodiment of the present invention.

【0023】本実施例のランドは、ランド列上に遍在す
る凸部4が、前記半田の上に搭載される部品のリード先
端1に隣接し、かつ前記リード先端1の平面位置を規制
しつつ基板に表面実装するようにランド列の全長の位置
に形成する半田プリコート用ランド形状8である。ラン
ド列上に遍在する凸部4が、ランド列の全長の両端に交
互に形成するように半田プリコート用ランド形状8を設
計した。そのため、リードの平面位置を規制する効果が
有れば数値にはこだわらないが、少なくとも30%以上
の半田量の凸部が必要である。
In the land of the present embodiment, the protrusions 4 which are ubiquitous on the land row are adjacent to the lead tips 1 of the components mounted on the solder, and regulate the planar position of the lead tips 1. Meanwhile, the solder precoat land shape 8 is formed at the position of the entire length of the land row so as to be surface-mounted on the substrate. The solder precoat land shape 8 was designed so that the convex portions 4 that are ubiquitous on the land row are alternately formed at both ends of the entire length of the land row. Therefore, if there is an effect of restricting the planar position of the lead, the number is not limited to a numerical value, but a convex portion having a solder amount of at least 30% or more is required.

【0024】ランド長さを2.2mm、ランド幅を0.
15mm、そしてランド列の全長の少なくとも一端にラ
ンド列上の半田量の30%以上が遍在する凸部を形成す
る様に幅広のランド幅を0.22mmとし交互に形成し
た。本実施例の半田プリコート用ランド形状を配置した
0.3ミリの配線が施されたガラスエポキシ回路基板
を、はんだ印刷機(NP−04AN2・日立テクノ製)
でパターンが刻まれたステンシル(プロセスラボミクロ
ン製)を挟みつつ共晶ハンダクリーム(SN63−AM
Q−NC52日本スペリア製)を印刷した。
The land length is 2.2 mm and the land width is 0.
15 mm, and the wide land width was alternately set to 0.22 mm so as to form a convex portion in which 30% or more of the amount of solder on the land row is ubiquitous at least at one end of the entire length of the land row. A glass epoxy circuit board provided with 0.3 mm of wiring in which the land shape for solder precoating of this embodiment is arranged is a solder printer (NP-04AN2, manufactured by Hitachi Techno).
Eutectic solder cream (SN63-AM) with a stencil (made by Process Lab Micron) engraved with a pattern
Q-NC52 made by Nippon Superior) was printed.

【0025】温度プロファイルを描きながら温度制御可
能なN2リフロー炉(NRS405エイテック製)で硬
化した。初期摂氏160度で最高温度を摂氏235度に
設定し合計150秒間で硬化した。酸素濃度を100P
PMで管理しつつ、半田クリームを溶解し、銅ランドの
上に本実施例の半田を析出させた。
The composition was cured in an N2 reflow furnace (manufactured by NRS405 A-Tech) whose temperature can be controlled while drawing a temperature profile. The initial temperature of 160 degrees Celsius was set as the maximum temperature of 235 degrees Celsius, and curing was performed for a total of 150 seconds. Oxygen concentration is 100P
While managing with PM, the solder cream was melted and the solder of this example was deposited on the copper land.

【0026】冷却後、形成したプリコート半田の上にデ
ィスペンサー(ML505武蔵エンジニァリング製)で
高粘度フラックス(FB258ハリマ化成)を10ミク
ロンから50ミクロンの厚さで、均一に塗布した。さら
に、チップマウンター(CM85C−ME・九州松下
製)で、半導体素子(0.3mmピッチQFP)部品を
搭載した。そしてN2リフロー炉(NRS405エイテ
ック製)で1000PPMの酸素濃度で接合した。
After cooling, a high-viscosity flux (FB258 Harima Kasei Co., Ltd.) was uniformly applied to the formed pre-coated solder with a dispenser (ML505, Musashi Engineering Co., Ltd.) in a thickness of 10 to 50 microns. Furthermore, a chip mounter (CM85C-ME, manufactured by Kyushu Matsushita) was used to mount semiconductor element (0.3 mm pitch QFP) parts. And it joined by the oxygen concentration of 1000PPM with the N2 reflow furnace (made by NRS405 Aitec).

【0027】結果、本実施例のランド形状によるリード
端子のフィレット形状8は、確実に電気的な接合と機械
的強度の実現ができた。従来の印刷法で見られたような
半田クリーム粒子の過剰塗布・熱履歴によるブリッジ不
良の発生は認められなかった。しかも本実施例のプリコ
ート法は、ランド面積に応じた半田クリームの塗布量が
規定されているので、溶融半田が適切に体積的に吸収さ
れ、リード端子の位置精度の保証という本実施例の効果
が現れた。プリコート半田の特徴としてのブリッジ不良
の発生率の減少は現れて、ランド間隔を50ミクロン近
く狭くしても問題がなかった。
As a result, the fillet shape 8 of the lead terminal having the land shape of this embodiment was able to surely realize the electrical connection and the mechanical strength. The occurrence of bridging defects due to excessive application of solder cream particles and heat history, as seen in the conventional printing method, was not observed. Moreover, in the pre-coating method of this embodiment, the amount of solder cream applied is defined according to the land area, so that the volume of the melted solder is properly absorbed, and the effect of this embodiment is that the position accuracy of the lead terminals is guaranteed. Appeared. A decrease in the occurrence rate of bridging defects, which is a characteristic of pre-coated solder, appeared, and there was no problem even if the land interval was narrowed by about 50 microns.

【0028】また、本実施例の半田プリコート用ランド
形状8では、リード端子1が確実にランドの上に位置決
めされるので、半田溶融時に半田がフラックスと共にリ
ード端子1を引き込むというセルフソルダリング機能が
働いた。今回半導体素子の半田付け状態を検査する方法
として、レーザー光による検出方法と、多色光を照射し
その映像を画像処理し反射光を検出する方法と使われ、
共に良好なリード端子のフィレット形状の確実な実現が
確認され、不良に半田付けされた基板箇所は見られなか
った。
Further, in the solder precoat land shape 8 of this embodiment, since the lead terminal 1 is reliably positioned on the land, there is a self-soldering function that the solder pulls the lead terminal 1 together with the flux when the solder is melted. worked. This time, as a method of inspecting the soldering state of the semiconductor element, a method of detecting with laser light and a method of irradiating polychromatic light and processing the image of the image to detect reflected light are used.
In both cases, it was confirmed that a good fillet shape of the lead terminal was surely realized, and no defective soldered substrate part was found.

【0029】加熱方法として、リフロー炉・N2リフロ
ー炉・赤外線炉・熱風循環・レーザー加熱・光ビーム加
熱・加熱ツール・エァヒーター・ホットプレート・気化
潜熱などがある。これらの加熱方法は単独でもよく、か
つ複数の併用や繰り返しでも可能である。使用できる半
田組成には、共晶半田の他に、スズ・ビスマス・鉛やス
ズ・鉛・銀などの低融点半田の特性を加味できる金属成
分を0.1%から50%添加したものも可能である。使
われるフラックス組成に純ロジン(R)・弱活性ロジン
(RMA)・活性ロジン(RA)やフェノール系などの
合成樹脂やフッ素含有の合成活性剤や有機酸・有機塩・
合成樹脂などの低残さ用の特性を加味できる成分を添加
したことや水溶性の無機酸・無機塩・有機酸・塩基・有
機塩・有機ハロゲンを添加したものも使用可能である。
Examples of heating methods include reflow furnace, N2 reflow furnace, infrared furnace, hot air circulation, laser heating, light beam heating, heating tool, air heater, hot plate, and latent heat of vaporization. These heating methods may be used alone, and may be used in combination or repeatedly. In addition to the eutectic solder, the solder composition that can be used includes those containing 0.1% to 50% of metal components such as tin, bismuth, lead, tin, lead, and silver, which can take into account the characteristics of low melting point solder. Is. The flux composition used is pure rosin (R), weakly active rosin (RMA), active rosin (RA), phenolic synthetic resin, fluorine-containing synthetic activator, organic acid, organic salt, etc.
It is also possible to add a component such as a synthetic resin capable of adding the characteristics for low residue, or a substance to which a water-soluble inorganic acid / inorganic salt / organic acid / base / organic salt / organic halogen is added.

【0030】半田付け特性を評価した。接合強度(g/リート
゛)、フ゛リッシ゛不良発生率(%)、未半田不良率(%)、ズレ不
良率(%)について測定した結果を表2に示す。
The soldering characteristics were evaluated. Table 2 shows the measurement results of the bonding strength (g / lead), the bridging defect occurrence rate (%), the unsoldered defective rate (%), and the misalignment defective rate (%).

【0031】[0031]

【表2】 [Table 2]

【0032】(実施例3)次に図8は本発明の第3の実
施例における半田形状の図である。
(Embodiment 3) Next, FIG. 8 is a diagram of a solder shape in a third embodiment of the present invention.

【0033】本実施例のランドは、ランド列上に遍在す
る凸部が、前記半田の上に搭載される部品のリード先端
1に隣接し、かつ前記部品の平面位置を規制しつつ基板
に表面実装するようにランド列の全長の位置に形成する
半田プリコート用ランド形状である。
In the land of the present embodiment, the convex portions that are ubiquitous on the land row are adjacent to the lead tips 1 of the components mounted on the solder, and the planar position of the components is regulated so that the land is formed on the substrate. It is a solder precoat land shape formed at the position of the entire length of the land row so as to be surface-mounted.

【0034】ランド列上に遍在する凸部ランド9が、ラ
ンド列の全長の少なくとも一端に一つおきに形成し、か
つ遍在する凸部がないランド10は幅長く形成するよう
に半田プリコート用ランド形状を設計した。そのため、
リードの平面位置を規制する効果が有れば数値にはこだ
わらないが、少なくとも30%以上の半田量の凸部が必
要である。
Solder pre-coating is performed so that convex lands 9 that are ubiquitous on the land row are formed at every other end at least at one end of the land row, and lands 10 that have no ubiquitous convex are formed to be long. The land shape for use was designed. for that reason,
Although there is no particular limitation on the numerical value as long as it has the effect of restricting the planar position of the lead, a convex portion having a solder amount of at least 30% or more is required.

【0035】ランド長さを2.2mm、ランド幅を0.
15mm、そしてランド列の全長の少なくとも一端にラ
ンド列上の半田量の30%以上が遍在する凸部を形成す
る様に幅広のランド幅を0.24mmとし一つ置きに形
成した。その間にランド長さを2.2mm、ランド幅を
0.16mmのランド列を形成した。
The land length is 2.2 mm and the land width is 0.
15 mm, and at least one end of the entire length of the land row was formed with a wide land width of 0.24 mm so as to form a convex portion in which 30% or more of the amount of solder on the land row is ubiquitous. In the meantime, a land row having a land length of 2.2 mm and a land width of 0.16 mm was formed.

【0036】本実施例の半田プリコート用ランド形状を
配置した0.3ミリの配線が施されたガラスエポキシ回
路基板を、はんだ印刷機(NP−04AN2・日立テク
ノ製)でパターンが刻まれたステンシル(プロセスラボ
ミクロン製)を挟みつつ共晶ハンダクリーム(SN63
−AMQ−NC52日本スペリア製)を印刷した。
A stencil in which a pattern is engraved on a glass epoxy circuit board provided with 0.3 mm of wiring in which the land shape for solder precoating of this embodiment is provided by a solder printer (NP-04AN2, manufactured by Hitachi Techno) Eutectic solder cream (SN63, sandwiching Process Lab Micron)
-AMQ-NC52 made by Nippon Superior) was printed.

【0037】温度プロファイルを描きながら温度制御可
能なN2リフロー炉(NRS405エイテック製)で硬
化した。初期摂氏160度で最高温度を摂氏230度に
設定し合計160秒間で硬化した。酸素濃度を100P
PMで管理しつつ、半田クリームを溶解し、銅ランドの
上に本実施例の半田を析出させた。
Curing was carried out in an N2 reflow furnace (manufactured by NRS405 Eitec) whose temperature can be controlled while drawing a temperature profile. The initial temperature of 160 degrees Celsius was set as the maximum temperature of 230 degrees Celsius, and curing was performed for a total of 160 seconds. Oxygen concentration is 100P
While managing with PM, the solder cream was melted and the solder of this example was deposited on the copper land.

【0038】冷却後、形成したプリコート半田の上にデ
ィスペンサー(ML505武蔵エンジニァリング製)で
高粘度フラックス(FB258ハリマ化成)を10ミク
ロンから50ミクロンの厚さで、均一に塗布した。さら
に、チップマウンター(CM85C−ME・九州松下
製)で、半導体素子(0.3mmピッチQFP)部品を
搭載した。そしてN2リフロー炉(NRS405エイテ
ック製)で1000PPMの酸素濃度で接合した。
After cooling, a high-viscosity flux (FB258 Harima Kasei Co., Ltd.) was uniformly applied on the formed pre-coated solder with a dispenser (ML505 made by Musashi Engineering Co., Ltd.) in a thickness of 10 to 50 microns. Furthermore, a chip mounter (CM85C-ME, manufactured by Kyushu Matsushita) was used to mount semiconductor element (0.3 mm pitch QFP) parts. And it joined by the oxygen concentration of 1000PPM with the N2 reflow furnace (made by NRS405 Aitec).

【0039】結果、本実施例のランド形状によるリード
端子のフィレット形状は、確実に電気的な接合と機械的
強度の実現ができた。従来の印刷法で見られたような半
田クリーム粒子の過剰塗布・熱履歴によるブリッジ不良
の発生は認められなかった。しかも本実施例のプリコー
ト法は、ランド面積に応じた半田クリームの塗布量が規
定されているので、溶融半田が適切に体積的に吸収さ
れ、リード端子の位置精度の保証という本実施例の効果
が現れた。プリコート半田の特徴としてのブリッジ不良
の発生率の減少は現れて、ランド間隔を50ミクロン近
く狭くしても問題がなかった。
As a result, the fillet shape of the lead terminal according to the land shape of this embodiment could surely realize the electrical connection and the mechanical strength. The occurrence of bridging defects due to excessive application of solder cream particles and heat history, as seen in the conventional printing method, was not observed. Moreover, in the pre-coating method of this embodiment, the amount of solder cream applied is defined according to the land area, so that the volume of the melted solder is properly absorbed, and the effect of this embodiment is that the position accuracy of the lead terminals is guaranteed. Appeared. A decrease in the occurrence rate of bridging defects, which is a characteristic of pre-coated solder, appeared, and there was no problem even if the land interval was narrowed by about 50 microns.

【0040】また、本実施例の半田プリコート用ランド
形状9では、リード端子1が確実にランドの上に位置決
めされるので、半田溶融時に半田がフラックスと共にリ
ード端子1を引き込むというセルフソルダリング機能が
働いた。今回半導体素子の半田付け状態を検査する方法
として、レーザー光による検出方法と、多色光を照射し
その映像を画像処理し反射光を検出する方法と使われ、
共に良好なリード端子のフィレット形状の確実な実現が
確認され、不良に半田付けされた基板箇所は見られなか
った。
Further, in the solder precoat land shape 9 of this embodiment, since the lead terminal 1 is reliably positioned on the land, there is a self-soldering function that the solder pulls the lead terminal 1 together with the flux when the solder is melted. worked. This time, as a method of inspecting the soldering state of the semiconductor element, a method of detecting with laser light and a method of irradiating polychromatic light and processing the image of the image to detect reflected light are used.
In both cases, it was confirmed that a good fillet shape of the lead terminal was surely realized, and no defective soldered substrate part was found.

【0041】加熱方法として、リフロー炉・N2リフロ
ー炉・赤外線炉・熱風循環・レーザー加熱・光ビーム加
熱・加熱ツール・エァヒーター・ホットプレート・気化
潜熱などがある。これらの加熱方法は単独でもよく、か
つ複数の併用や繰り返しでも可能である。使用できる半
田組成には、共晶半田の他に、スズ・ビスマス・鉛やス
ズ・鉛・銀などの低融点半田の特性を加味できる金属成
分を0.1%から50%添加したものも可能である。使
われるフラックス組成に純ロジン(R)・弱活性ロジン
(RMA)・活性ロジン(RA)やフェノール系などの
合成樹脂やフッ素含有の合成活性剤や有機酸・有機塩・
合成樹脂などの低残さ用の特性を加味できる成分を添加
したことや水溶性の無機酸・無機塩・有機酸・塩基・有
機塩・有機ハロゲンを添加したものも使用可能である。
Examples of heating methods include reflow furnace, N2 reflow furnace, infrared furnace, hot air circulation, laser heating, light beam heating, heating tool, air heater, hot plate, and latent heat of vaporization. These heating methods may be used alone, and may be used in combination or repeatedly. In addition to the eutectic solder, the solder composition that can be used includes those containing 0.1% to 50% of metal components such as tin, bismuth, lead, tin, lead, and silver, which can take into account the characteristics of low melting point solder. Is. The flux composition used is pure rosin (R), weakly active rosin (RMA), active rosin (RA), phenolic synthetic resin, fluorine-containing synthetic activator, organic acid, organic salt, etc.
It is also possible to add a component such as a synthetic resin capable of taking into account the characteristics for low residue, or to which a water-soluble inorganic acid / inorganic salt / organic acid / base / organic salt / organic halogen is added.

【0042】半田付け特性を評価した。接合強度(g/リート
゛)、フ゛リッシ゛不良発生率(%)、未半田不良率(%)、ズレ不
良率(%)について測定した結果を表3に示す。
The soldering characteristics were evaluated. Table 3 shows the measurement results of the bonding strength (g / lead), bridging defect occurrence rate (%), unsoldered defect rate (%), and deviation defect rate (%).

【0043】[0043]

【表3】 [Table 3]

【0044】(比較例)次に、比較例として従来例を図
9から図11を用いて説明する。
Comparative Example Next, a conventional example will be described as a comparative example with reference to FIGS. 9 to 11.

【0045】ランド長さを2.2mm、ランド幅を0.
15mmとして形成するように半田プリコート用ランド
形状を設計した。半田プリコート用ランド形状を配置し
た0.3ミリの配線が施されたガラスエポキシ回路基板
を、はんだ印刷機(NP−04AN2・日立テクノ製)
でパターンが刻まれたステンシル(プロセスラボミクロ
ン製)を挟みつつ共晶ハンダクリーム(SN63−AM
Q−NC52日本スペリア製)を印刷した。
The land length is 2.2 mm and the land width is 0.
The shape of the solder precoat land was designed to be 15 mm. Solder printer (NP-04AN2, made by Hitachi Techno) is equipped with a glass epoxy circuit board with 0.3 mm wiring on which land for solder precoat is arranged.
Eutectic solder cream (SN63-AM) with a stencil (made by Process Lab Micron) engraved with a pattern
Q-NC52 made by Nippon Superior) was printed.

【0046】温度プロファイルを描きながら温度制御可
能なN2リフロー炉(NRS405エイテック製)で硬
化した。初期摂氏160度で最高温度を摂氏235度に
設定し合計150秒間で硬化した。酸素濃度を100P
PMで管理しつつ、半田クリームを溶解し、銅ランドの
上に本発明の半田を析出させた。
Curing was performed in an N2 reflow furnace (manufactured by NRS405 Eitec) whose temperature was controllable while drawing a temperature profile. The initial temperature of 160 degrees Celsius was set as the maximum temperature of 235 degrees Celsius, and curing was performed for a total of 150 seconds. Oxygen concentration is 100P
While managing with PM, the solder cream was melted and the solder of the present invention was deposited on the copper land.

【0047】すると現状の基板への半田プリコート法に
よる半田は、図10のように銅パターン3上に形成した
半田の表面が丸みを帯びた形状となる。そのため、細密
部品の端子6を置いて半田付けする際に、半田ランド5
の真上に端子を正確にかつ安定して置くことが困難とな
り、図11のように位置ズレを発生した。
Then, the current solder pre-coating method for the substrate has a rounded surface of the solder formed on the copper pattern 3 as shown in FIG. Therefore, when the terminals 6 of the fine parts are placed and soldered, the solder land 5
It was difficult to place the terminal directly and directly on the position, and the positional deviation occurred as shown in FIG.

【0048】さらに、マウンターの稼動時での振動によ
り搭載部品が影響を受けると、図10のように表面が丸
みを帯びた半田形状のため、半田頂点からリード先端6
がズレ落ちてしまうことになる。
Furthermore, when the mounted parts are affected by the vibration during the operation of the mounter, the solder shape has a rounded surface as shown in FIG.
Will be displaced.

【0049】冷却後、形成したプリコート半田の上にデ
ィスペンサー(ML505武蔵エンジニァリング製)で
高粘度フラックス(FB258ハリマ化成)を10ミク
ロンから50ミクロンの厚さで、均一に塗布した。さら
に、チップマウンター(CM85C−ME・九州松下
製)で、半導体素子(0.3mmピッチQFP)部品を
搭載した。そしてN2リフロー炉(NRS405エイテ
ック製)で1000PPMの酸素濃度で接合した。
After cooling, a high-viscosity flux (FB258 Harima Kasei Co., Ltd.) was uniformly applied to the formed pre-coated solder with a dispenser (ML505, Musashi Engineering Co., Ltd.) in a thickness of 10 to 50 microns. Furthermore, a chip mounter (CM85C-ME, manufactured by Kyushu Matsushita) was used to mount semiconductor element (0.3 mm pitch QFP) parts. And it joined by the oxygen concentration of 1000PPM with the N2 reflow furnace (made by NRS405 Aitec).

【0050】結果、作製された半導体素子のリード端子
の半田接合品質は、凸状の半田断面形状により、半導体
素子のリード端子に部品ズレ不良が発生した。そのため
微妙なフラックスの湿度管理、粘度管理、マウンターの
搭載スピード・圧力管理、基板そり補正機構・画像認識
精度向上・アルゴリズム改造等が要求され、かつブリッ
ジ不良・浮き不良などの後修正が必要で、製造歩留りが
悪いと言う欠点があった。また枚数が増えるにつれ、フ
ラックスの物性変性が考えられ、量・粘度・タッキング
性などの部品固定性の大きく影響した。
As a result, with respect to the solder joint quality of the manufactured lead terminals of the semiconductor element, due to the convex solder cross-sectional shape, component misalignment occurred in the lead terminals of the semiconductor element. Therefore, delicate flux humidity control, viscosity control, mounter mounting speed / pressure control, substrate warpage correction mechanism, image recognition accuracy improvement, algorithm modification, etc. are required, and post-correction such as bridge failure / floating failure is required. There was a drawback that the manufacturing yield was poor. In addition, as the number of sheets increased, the physical properties of the flux were considered to have changed, which had a great effect on the part fixability such as quantity, viscosity, and tacking.

【0051】加熱方法として、リフロー炉・N2リフロ
ー炉・赤外線炉・熱風循環・レーザー加熱・光ビーム加
熱・加熱ツール・エァヒーター・ホットプレート・気化
潜熱などがある。これらの加熱方法は単独でもよく、か
つ複数の併用や繰り返しでも可能である。使用できる半
田組成には、共晶半田の他に、スズ・ビスマス・鉛やス
ズ・鉛・銀などの低融点半田の特性を加味できる金属成
分を0.1%から50%添加したものも可能である。使
われるフラックス組成に純ロジン(R)・弱活性ロジン
(RMA)・活性ロジン(RA)やフェノール系などの
合成樹脂やフッ素含有の合成活性剤や有機酸・有機塩・
合成樹脂などの低残さ用の特性を加味できる成分を添加
したことや水溶性の無機酸・無機塩・有機酸・塩基・有
機塩・有機ハロゲンを添加したものも使用可能である。
Examples of heating methods include reflow furnace, N2 reflow furnace, infrared furnace, hot air circulation, laser heating, light beam heating, heating tool, air heater, hot plate, and latent heat of vaporization. These heating methods may be used alone, and may be used in combination or repeatedly. In addition to the eutectic solder, the solder composition that can be used includes those containing 0.1% to 50% of metal components such as tin, bismuth, lead, tin, lead, silver, etc., which can take into account the characteristics of low melting point solder. Is. The flux composition used includes pure rosin (R), weakly active rosin (RMA), active rosin (RA), synthetic resins such as phenolic compounds, fluorine-containing synthetic activators, organic acids, and organic salts.
It is also possible to add a component such as a synthetic resin capable of taking into account the characteristics for low residue, or to which a water-soluble inorganic acid / inorganic salt / organic acid / base / organic salt / organic halogen is added.

【0052】半田付け特性を評価した。接合強度(g/リート
゛)、フ゛リッシ゛不良発生率(%)、未半田不良率(%)、ズレ不
良率(%)について測定した結果を表4に示す。
The soldering characteristics were evaluated. Table 4 shows the results of measurement of bonding strength (g / lead), bridging defect occurrence rate (%), unsoldered defect rate (%), and deviation defect rate (%).

【0053】[0053]

【表4】 [Table 4]

【0054】[0054]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、従来の半
田プリコート法による半田接合方法では、製造工程上溶
融した半田の表面張力で球面上となり半田断面が凸部を
形成し、細密部品がズレ落ちるという問題を解消し、簡
易なランド形状の発明で搭載時の部品ずれを無くし、現
状のマウンター精度で高精度な部品位置決め実現となり
高密度で高品質高歩留実装を可能とした。これは高精度
を実装機械に依存するあまり高価な設備と難しい製造環
境実現維持で品質不安定・コスト高になりがちな要因を
排除した工業的に有用な提案である。
As described above, according to the present invention, in the conventional solder joining method by the solder precoating method, the surface tension of the molten solder in the manufacturing process causes the surface of the solder to be spherical so that the solder cross section forms a convex portion, thereby forming a fine component. The problem of slippage is eliminated, and the invention of a simple land shape eliminates component misalignment during mounting, and realizes high-precision component positioning with the current mounter accuracy, enabling high-density, high-quality and high-yield mounting. This is an industrially useful proposal that eliminates the factors that tend to lead to quality instability and high costs due to maintaining a highly expensive equipment that depends on the mounting machine for high accuracy and maintaining a difficult manufacturing environment.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施例1の半田プリコート法による
半田形状を示す断面斜視図。
FIG. 1 is a cross-sectional perspective view showing a solder shape by a solder precoating method according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施例1の半田プリコート法による
半田形状を示す平面図。
FIG. 2 is a plan view showing a solder shape according to a solder precoat method of Example 1 of the present invention.

【図3】 本発明の実施例1の半田プリコート法による
半田形状を示す側面図。
FIG. 3 is a side view showing a solder shape according to a solder precoating method of Embodiment 1 of the present invention.

【図4】 本発明の実施例1の半田プリコート法による
半田形状をQFPに対して相対位置を示す平面図。
FIG. 4 is a plan view showing a relative position of a solder shape by a solder precoating method according to a first embodiment of the present invention with respect to QFP.

【図5】 本発明の実施例2の半田プリコート法による
半田形状を示す平面図。
FIG. 5 is a plan view showing a solder shape by a solder precoating method according to a second embodiment of the present invention.

【図6】 本発明の実施例2の半田プリコート法による
半田形状を示す側面図。
FIG. 6 is a side view showing a solder shape by a solder precoating method according to a second embodiment of the present invention.

【図7】 本発明の実施例2の半田プリコート法による
半田形状を示す側面図。
FIG. 7 is a side view showing a solder shape by a solder precoating method according to a second embodiment of the present invention.

【図8】 本発明の実施例3の半田プリコート法による
半田形状を示す平面図。
FIG. 8 is a plan view showing a solder shape by a solder precoating method according to a third embodiment of the present invention.

【図9】 従来例の半田プリコート法による半田形状を
示す平面図。
FIG. 9 is a plan view showing a solder shape according to a conventional solder precoating method.

【図10】 従来例の半田プリコート法による半田形状
を示す側面図。
FIG. 10 is a side view showing a solder shape according to a conventional solder precoat method.

【図11】 従来例の半田プリコート法による半田形状
を示す側面図。
FIG. 11 is a side view showing a solder shape according to a conventional solder precoat method.

【図12】 従来例の半田プリコート法による平坦化し
た半田形状を示す側面図。
FIG. 12 is a side view showing a flattened solder shape by a solder precoat method of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 細密ピッチQFPのリード先端 2 半田プリコート法による半田形状 3 銅ランド 4 プリコート半田の凸部 5 半田ランド 6 端子 7 細密ピッチQFP 8 プリコートランド 9 ランド 10 ランド 11 プリコート半田 12 細密ピッチQFPのリード先端 13 表面を平坦化したプリコート半田 14 フラックス 1 Lead Tip of Fine Pitch QFP 2 Solder Shape by Solder Precoat Method 3 Copper Land 4 Convex part of Precoat Solder 5 Solder Land 6 Terminal 7 Fine Pitch QFP 8 Precoat Land 9 Land 10 Land 11 Precoat Solder 12 Lead Tip of Fine Pitch 13 Pre-coated solder with a flat surface 14 Flux

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半田付け用のランドに半田を付与し、該
半田の上に部品を搭載後加熱硬化し、プリント基板に部
品を表面実装するランド形状において、 ランド列の全長の少なくとも一端にランド列上の半田量
の30%以上が遍在する凸部が形成されていることを特
徴とする半田プリコート用ランド形状。
1. A land shape in which a solder is applied to a land for soldering, a component is mounted on the solder and then heat-cured, and the component is surface-mounted on a printed circuit board. A solder precoat land shape, characterized in that protrusions are formed in which 30% or more of the amount of solder on a row is ubiquitous.
【請求項2】 前記ランド列上に遍在する凸部が、ラン
ド列の全長の両端に交互に形成されていることを特徴と
する請求項1記載の半田プリコート用ランド形状。
2. The solder precoat land shape according to claim 1, wherein convex portions that are ubiquitous on the land row are alternately formed at both ends of the entire length of the land row.
【請求項3】 前記ランド列上に遍在する凸部が、ラン
ド列の全長の少なくとも一端に一つおきに形成され、か
つ遍在する凸部がないランド幅が、一端に一つおきに形
成されていないランド幅より長いことを特徴とする請求
項1記載の半田プリコート用ランド形状。
3. A land portion is provided with ridges that are ubiquitous on at least one end of the entire length of the land row, and land ridges that are free of ridges are at every other end. The land shape for solder precoat according to claim 1, wherein the land width is longer than the land width not formed.
JP13866093A 1993-06-10 1993-06-10 Land shape for solder precoating Pending JPH06350237A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107309571A (en) * 2017-08-08 2017-11-03 深圳市亿铖达工业有限公司 A kind of preformed soldering

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN107309571A (en) * 2017-08-08 2017-11-03 深圳市亿铖达工业有限公司 A kind of preformed soldering

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