JPH06345409A - 水素ガス精製装置 - Google Patents

水素ガス精製装置

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JPH06345409A
JPH06345409A JP5152586A JP15258693A JPH06345409A JP H06345409 A JPH06345409 A JP H06345409A JP 5152586 A JP5152586 A JP 5152586A JP 15258693 A JP15258693 A JP 15258693A JP H06345409 A JPH06345409 A JP H06345409A
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JP
Japan
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hydrogen
film
storage alloy
hydrogen gas
hydrogen storage
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Pending
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JP5152586A
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English (en)
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Koichi Kitahara
宏一 北原
Kenji Otsuka
健二 大塚
Noboru Akita
昇 秋田
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Japan Pionics Ltd
Original Assignee
Japan Pionics Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B3/00Hydrogen; Gaseous mixtures containing hydrogen; Separation of hydrogen from mixtures containing it; Purification of hydrogen
    • C01B3/50Separation of hydrogen or hydrogen containing gases from gaseous mixtures, e.g. purification
    • C01B3/501Separation of hydrogen or hydrogen containing gases from gaseous mixtures, e.g. purification by diffusion
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B3/00Hydrogen; Gaseous mixtures containing hydrogen; Separation of hydrogen from mixtures containing it; Purification of hydrogen
    • C01B3/0005Reversible uptake of hydrogen by an appropriate medium, i.e. based on physical or chemical sorption phenomena or on reversible chemical reactions, e.g. for hydrogen storage purposes ; Reversible gettering of hydrogen; Reversible uptake of hydrogen by electrodes
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    • C01B2203/04Integrated processes for the production of hydrogen or synthesis gas containing a purification step for the hydrogen or the synthesis gas
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体製造工程などで使用される超高純度の
水素ガスを連続的に効率よく、しかも、低コストで大量
に得るための精製装置を製作する。 【構成】 水素吸蔵合金の成型膜の表面に水素の透過性
を有する金属皮膜を形成させて得られた水素透過膜を透
過器内に設置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は水素ガス精製装置に関
し、さらに詳細には改良された水素吸蔵合金製の水素透
過膜を用いた水素ガス精製装置に関する。
【0002】水素ガスは近年目覚ましく発展した半導体
製造工業で、各種工程中の雰囲気ガスとして盛んに用い
られている。そして半導体の集積度の向上とともに水素
ガスの純度向上が強く求められている。このため水素ガ
ス中にppmオーダーで存在する窒素、炭化水素、一酸
化炭素、二酸化炭素、酸素および水蒸気などの不純物を
除去し、不純物レベルがppbオーダーまたはそれ以下
のような高純度に、しかも、低コストで効率よく大量に
精製することが望まれている。
【0003】
【従来の技術】従来より水素ガスの精製方法として、金
属触媒による化学反応と吸着材による物理吸着性とを組
み合わせて常温で精製する常温吸着法、液体窒素を冷熱
源として極低温下に設置した吸着材の物理吸着性を利用
した深冷吸着法、水素吸蔵合金の水素吸収、放出性を利
用した精製方法が知られている。また、高純度水素を得
る方法として、加熱下でのパラジウム合金膜の水素選択
透過性を利用した精製方法がある。さらに、最近、東海
大学、黄教授よりジルコニウム、鉄、マグネシウムから
なる水素吸蔵合金を成型して得た膜が粉化を生ずること
なく、しかも、従来のパラジウム合金膜の600倍と大
きい水素透過能力を有することが発表された(日本工業
新聞1993年2月22日)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、常温吸
着方法はイニシャルコスト、ランニングコストともに安
価という特長があるが、除去できる不純物が限定される
ため、高純度のガスが得られない欠点がある。また、深
冷吸着法は、設備が大がかりとなるばかりでなく、冷熱
源として液体窒素を多量に使用するため、イニシャルコ
スト、ランニングコストともに高価になるという欠点が
ある。さらに、一般的な水素吸蔵合金は水素の吸収、放
出を繰り返すと短期間で粉化し、能力が低下するととも
に精製ガス中に微細化した粉末が混入するという欠点が
ある。一方、加熱下でのパラジウム合金膜の水素選択透
過性を利用した精製方法は、パラジウム合金膜での水素
ガスの選択透過性を利用しているため、超高純度の水素
ガスを得ることができるが、合金膜の単位面積当りの水
素透過量が小さいこと、400℃以上のような高温に加
熱する必要があること、合金膜が高価であるなどの問題
点がある。
【0005】また、前記のジルコニウム、鉄、マグネシ
ウムからなる水素吸蔵合金膜は粉化し易いという水素吸
蔵合金特有の欠点が大巾に改善され、水素透過膜として
の実用化の可能性を示すものである。しかしながら、こ
のような透過膜を用いて追跡試験をおこなった結果で
は、精製開始直後は大きい水素透過能力が得られるが、
精製時間の経過とともに水素の透過能力が低下し、やが
て全く透過しなくなるという問題点のあることが判明し
た。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、水素吸蔵
合金膜を利用した水素ガスの精製について、さらに詳細
に検討を続け、透過膜が粉化することがなく、長時間精
製を続けても水素透過能力を維持しうる手段について鋭
意研究を重ねた結果、水素吸蔵合金膜の表面に水素ガス
の選択透過性を有する金属皮膜を形成させることによっ
て目的を達成しうることを見い出し、本発明を完成し
た。
【0007】すなわち本発明は、内部が水素透過膜によ
って1次側気室および2次側気室に隔離された透過器を
有する水素ガス精製装置において、水素透過膜として、
少なくとも1次側となる表面に水素を選択的に透過する
金属皮膜が形成せしめられた水素吸蔵合金膜を用いたこ
とを特徴とする水素ガス精製装置である。本発明は水素
吸蔵合金膜の表面に水素の選択的透過性を有する金属皮
膜を形成した透過膜を用いたものであり、高純度で、か
つ多量の精製水素ガスを長時間にわたって効率よく得る
ことができる。
【0008】本発明に使用される透過膜用の水素吸蔵合
金としては、水素透過膜として十分な強度を有し、水素
の吸蔵により容易に粉化を生じないものである。一般的
には鉄、ニッケル、ジルコニウム、チタン、マグネシウ
ム、ランタンなどの種々の二元および多元合金から選択
することができ、上記の条件を満たしうる合金であれば
特に制限はないが、例えば、ジルコニウム、鉄、マグネ
シウムからなる合金などが好ましく、その組成として、
ジルコニウム40〜80重量部、鉄10〜30重量部、
マグネシウム30〜50重量部の範囲から選ばれる合金
などが好適である。
【0009】これらの水素吸蔵合金は透過速度と強度を
勘案して製膜されるが、膜の厚さは通常は0.1〜5m
m、好ましくは2〜3mm程度とされる。また、膜の形
態は平板状、波板状、パイプ状などいずれでもよいが、
水素吸蔵合金自体の加工性が良くないことなどから通常
は平板状とされる。水素吸蔵合金の製膜方法としては、
アルゴンアーク溶解法などの一般的な溶解法によって合
金化した後、機械加工により成形する方法などが用いら
れる。
【0010】本発明において、水素吸蔵合金膜の表面に
は水素ガスの透過性を有する金属皮膜が形成される。金
属皮膜は少なくとも水素吸蔵合金膜の原料水素ガスと接
触する1次側表面に形成されるが、所望により両面に形
成してもよい。水素ガスの透過性を有する金属皮膜の材
質としては、パラジウム、白金、あるいはパラジウム−
銀よりなる二元合金、パラジウム−銀−金よりなる三元
合金など水素ガスの選択的透過性を有するものである。
皮膜を形成する方法としては、真空蒸着法、CVD法
(化学反応を伴う蒸着)、湿式メッキ法、不活性ガス雰
囲気中での溶融メッキ法など公知の金属薄膜形成技術の
中から適宜選択することができる。水素吸蔵合金膜の表
面に形成される皮膜の厚さは通常は50nm〜10μ
m、好ましくは1〜5μmである。
【0011】このようにして得られた水素透過膜は、透
過器の内壁に溶接あるいはガスケットなどでシール構造
を取る形態で気密に固定され、透過器内は水素透過膜に
よって原料水素が供給される1次側気室と精製水素側の
2次側気室に隔離されることによって水素のみを透過さ
せる機能が与えられる。
【0012】水素ガスの精製は、通常は150℃以上に
加熱しながらおこなわれるが、比較的低温で大きい透過
速度を得るためには200〜350℃程度でおこなうこ
とが好ましい。本発明による水素透過膜を用いた場合、
精製水素ガスの純度は極めて高く、また、長時間の精製
を続けても水素透過膜の粉化や劣化によって流量低下を
生ずることはないが、原料ガス中の不純物濃度が高い場
合などには、これらが濃縮されて水素の透過量が低下し
てくるため、原料水素ガスの一部を連続的に、あるいは
間欠的にパージすることが好ましい。
【0013】次に本発明を図面により例示し、さらに具
体的に説明する。図1は本発明の水素ガス精製装置の断
面図である。図1において、水素吸蔵合金膜1の1次側
表面には水素の選択透過性を有する金属皮膜2が形成さ
れ、1次側気室3と2次側気室4の間はそれぞれガスケ
ット5、5を介して水素透過膜で隔離され、フランジ7
および8をガスケット6を介してボルト9で締めつける
ことにより、外気と遮断されると同時に透過膜部も締め
つけられて固定され、透過器13となっている。1次側
気室3には、原料水素の導入口10と排気口11が設け
られ、2次側気室4には精製水素ガスの取り出し口12
が設けられている。さらに、透過器13の廻りにはヒー
ター14が配設され、取り出し口12には冷却管15が
接続され、水素ガス精製装置とされている。
【0014】水素ガスの精製に際しては、ヒーター14
で透過器13を加熱しながら導入口10より原料水素ガ
スが1次側気室3に供給される。ここで水素ガスのみが
金属皮膜2、水素吸蔵合金膜1を透過して2次側気室4
に至り、精製水素ガスとして取り出し口12より冷却管
15を経て抜き出される。この間1次側器室3には水素
以外のガスが不純物として蓄積してくるため、1次側器
室3内のガスの1部が排気口11から連続的または間欠
的にパージされる。このようにして多量の水素ガスが長
時間にわたって連続的に効率よく精製される。
【0015】
【実施例】
実施例1 図1で示したと同様の構成の水素ガスの精製装置であっ
て、ジルコニウム75重量部、鉄25重量部、マグネシ
ウム40重量部からなる水素吸蔵合金を、直径30mm
厚さ3mmにの膜に成形し、この膜の原料水素ガスと接
する面(1次側)に湿式メッキにより、厚さ3μmのパ
ラジウム皮膜を形成させて水素透過膜とした。この水素
透過膜を外径30mm、内径25mm、厚さ0.5mm
の銀パッキン1枚づつを用い、ステンレス鋼製で円筒状
の透過器本体の内部に取付け、1次側気室と2次側気室
に隔離し、透過器を製作した。
【0016】透過器内を真空とした状態で200℃に加
熱した後、水素ガスの精製をおこなった。不純物として
窒素、酸素、CO、CO2 、メタン、水分を含む原料水
素ガスを2.5kg/cm2 Gで導入し、精製水素ガス
の圧力が大気圧以上になったことを確認した後、原料水
素ガスのパージをおこなわずに精製水素ガスを圧力0.
2kg/cm2 Gの一定に保ちながら取り出し、大気圧
イオン化質量分析計(日立東京エレクトロニクス(株)
製)を用いて窒素、CO、CO2 、メタン、水分を、ま
た、酸素についてはハーシェ微量酸素分析計(大阪酸素
工業(株)製、MK−3Y型)を用いて純度の測定をお
こなった。また、経過時間毎の流量の測定をおこなっ
た。各不純物の検出限界値は、窒素が0.01ppb、
COが0.03ppb、CO2 が0.01ppb、メタ
ンが0.01ppb、水分が0.01ppb、酸素が2
ppbである。なお、窒素とCOは質量数で区別ができ
ないので該当するピークの全てを窒素、あるいはCOと
考えた場合の数値で示した。また、純度測定と同時に経
過時間毎の流量の測定をおこなった。純度の測定結果を
表1に、経過時間毎の流量の測定結果を表2に示す。
【0017】実施例2 1次側器室内に供給された原料水素ガスの1%をパージ
しながら精製をおこなった他は、実施例1と同様とし
て、純度の測定および経過時間毎の流量の測定をおこな
った。純度の測定結果を表1に、経過時間毎の流量の測
定結果を表2に示す。
【0018】比較例1 パラジウム皮膜を形成しない水素吸蔵合金膜を用いた他
は、実施例2と同様として、純度の測定および経過時間
毎の流量の測定をおこなった。純度の測定結果を表1
に、経過時間毎の流量の測定結果を表2に示す。
【0019】
【表1】 表1 精製ガス中の不純物濃度(ppb) 窒 素 酸 素 CO CO2 メタン 水 分 原料水素 25000 2000 700 3200 900 5000 実施例1 0.5 2以下 0.6 0.1 0.1 3 実施例2 0.3 2以下 0.4 0.1 0.1 2 比較例1 1.9 2以下 2.3 0.2 1.5 4
【0020】
【表2】 表2 各経過時間における水素透過量(Nl/min) 10分 20分 30分 1時間 3時間 5時間 9時間 実施例1 108 105 102 95 91 87 82 実施例2 108 107 108 109 109 107 108 比較例1 113 37 6 0 0 0 0
【0021】
【発明の効果】本発明によって、従来技術で課題となっ
ていた精製中の流量低下、純度低下、透過膜の粉化など
の問題点が解決され、比較的小型の装置によって、大流
量の水素ガスを長時間連続的に精製することができ、低
コストで大量の超高純度精製水素ガスを容易に得ること
が可能となった。
【0022】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における水素ガス精製装置の断面図
【符号の説明】 1 水素吸蔵合金膜 2 金属皮膜 3 1次側気室 4 2次側気室 10 導入口 11 排気口 12 取り出し口 13 透過器 14 ヒーター 15 冷却管

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】内部が水素透過膜によって1次側気室およ
    び2次側気室に隔離された透過器を有する水素ガス精製
    装置において、水素透過膜として、少なくとも1次側と
    なる表面に水素を選択的に透過する金属皮膜が形成せし
    められた水素吸蔵合金膜を用いたことを特徴とする水素
    ガス精製装置。
  2. 【請求項2】金属皮膜がパラジウム、白金またはパラジ
    ウム合金である請求項1に記載の精製装置。
  3. 【請求項3】水素吸蔵合金膜の表面に形成される金属皮
    膜の厚さが50nm〜10μmである請求項1に記載の
    精製装置。
  4. 【請求項4】金属皮膜が真空蒸着法、CVD法、湿式メ
    ッキまたは溶融メッキによって形成せしめられる請求項
    1に記載の精製装置。
  5. 【請求項5】水素吸蔵合金膜がジルコニウム、鉄、マグ
    ネシウム三元合金からなる請求項1に記載の精製装置。
  6. 【請求項6】水素吸蔵合金膜の厚さが0.1〜5.0m
    mである請求項1に記載の精製装置。
  7. 【請求項7】水素透過時の加熱温度が150℃以上であ
    る請求項1に記載の精製装置。
  8. 【請求項8】透過器の1次側気室に原料水素ガスの一部
    をパージするための排気口が設けられた請求項1に記載
    の精製装置。
JP5152586A 1993-06-01 1993-06-01 水素ガス精製装置 Pending JPH06345409A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6179902B1 (en) 1997-01-20 2001-01-30 Ngk Insulators, Ltd. Apparatus for recovering, refining, and storing hydrogen gas
CN104098071A (zh) * 2013-04-09 2014-10-15 中国科学院大连化学物理研究所 一种管式金属膜反应器及应用
CN115108531A (zh) * 2022-07-19 2022-09-27 西安交通大学城市学院 一种掺氢天然气的连续氢纯化系统及其纯化工艺

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6179902B1 (en) 1997-01-20 2001-01-30 Ngk Insulators, Ltd. Apparatus for recovering, refining, and storing hydrogen gas
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