JPH06338453A - 基板周辺部露光装置 - Google Patents

基板周辺部露光装置

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JPH06338453A
JPH06338453A JP5148586A JP14858693A JPH06338453A JP H06338453 A JPH06338453 A JP H06338453A JP 5148586 A JP5148586 A JP 5148586A JP 14858693 A JP14858693 A JP 14858693A JP H06338453 A JPH06338453 A JP H06338453A
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JP
Japan
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substrate
peripheral portion
exposed
light
light source
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Pending
Application number
JP5148586A
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English (en)
Inventor
Norihiro Sakumichi
典博 作道
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH06338453A publication Critical patent/JPH06338453A/ja
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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 液晶パネル用ガラス基板の周辺部及び側面の
不要のポジ型フォトレジストを完全に露光できるように
して、不要のフォトレジストが基板上に残されることに
よる発塵を防止する。 【構成】 基板中央の回路部分の露光の終了した液晶パ
ネル用ガラス基板4をステージ3上に載置する。ステー
ジ3の両側に配置された固定アーム5に固定された周辺
露光用光源1により紫外線を垂直に放射させる。ステー
ジ3を矢印方向に移動させて、ガラス基板表面周辺部を
光源1の直接光により露光し、ガラス基板側面を反射ミ
ラー2aの反射光により露光する。同様にして、ガラス
基板4の他の側の周辺部も露光してから現像し、露光部
分のフォトレジストを除去する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶パネル用ガラス基
板のような概略四辺形の基板の周辺部から未露光のポジ
型フォトレジストを露光し除去するのに用いられる基板
周辺部露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶パネル用のガラス基板に対しては複
数回のフォトリソグラフィ工程が施される。フォトリソ
グラフィ工程には、スピナによるフォトレジスト塗付工
程、ステップ・アンド・リピート方式等による露光工
程、現像工程等が含まれる。而して、現在の製造プロセ
スにおいてはフォトレジストとしてはポジ型のものが多
用されている。したがって、上記のフォトリソグラフィ
工程を経ただけでは、基板周辺部に未露光のフォトレジ
ストが残り、後に剥離して塵芥となったりあるいは基板
周辺部に未エッチング物が残存したりする不都合がある
ので、正規の露光を行った後に(あるいは行う前に)基
板周辺部露光を別途行って基板周辺部から不要のフォト
レジストを除去する必要がある。
【0003】図6は、この種従来の基板周辺部の露光工
程の状態を示す断面図である。すなわち、従来は、液晶
パネル用ガラス基板5上のフォトレジスト6を、基板周
辺部のみに紫外線UVを照射する周辺露光用光源1にて
露光していた。
【0004】なお、半導体ウェハについての周辺部露光
装置としては、ウェハ裏面からウェハ面より1〜3°
程度傾けて紫外線を照射し、フォトレジスト膜に入射す
る際の屈折を利用して基板の内側に回り込む紫外光によ
りウェハ外周部のフォトレジストを露光するもの(特開
平3−141633号公報)、同一露光装置内に、回
路パターンをウェハ上に投影するための第1の光学系
と、周辺部を露光するための第2の光学系とをもつよう
にしたもの(特開平1−261821号公報、特開平2
−263426号公報)、ウェハの周辺部を、光源か
ら直接、または光ファイバやミラーを用いて光源光をガ
イドして露光するもの(特開平1−270228号公
報)等が公知となっている。また、上記特開平3−14
1633号公報には、スピナによるフォトレジストの塗
付後にウェハ裏面の周辺部にメチル・エチル・ケトンの
ような溶剤を吹き付けてウェハ側面部分のフォトレジス
トを除去することも記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図6に示される従来例
では(ガラス基板に対するものではないが上記、の
従来例についても同様である)、光源より垂直方向の光
のみでガラス基板上のフォトレジストを露光していたた
め、膜厚が厚くなる基板周辺部表面のフォトレジストや
基板端面に形成されたフォトレジストに対しては露光量
が不足することとなり現像工程において完全に除去する
ことができなかった。これは、フォトレジストの膜厚
が、ガラス基板の中央部を1としたとき、周辺部表面で
約2、端面で500〜1000(垂直に見て)となるか
らである。さらに、従来例では基板裏面に回り込んだフ
ォトレジストには露光がなされなかった。また、上記
の従来例では、基板(ウェハ)の側面の照射光が基板表
面に回り込むことを予定しているが、その量は多くはな
いので大面積のガラス基板を取り扱う場合はやはり露光
量不足が起こる。また、ウェハをスピナに装着した状態
で溶剤を吹き付ける除去方法では、溶剤を噴射した際の
ウェハからの溶剤のはね返りやミストの発生により内部
パターンへ悪影響が及ぼされる可能性が高くさらに表面
外周部のフォトレジストは除去されないという問題点も
あった。したがって、この発明の目的とするところは、
基板側面のフォトレジストを含めて不要のフォトレジス
トを光量の不足を伴わずに露光することのできる露光装
置を提供して、フォトリソグラフィ工程において不要の
フォトレジストを完全に除去できるようにし、もって、
歩留りの向上を図ろうとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明によれば、概略四辺形の基板を保持するステ
ージと、前記基板の周辺部上に位置し該基板の周辺部お
よびその外側を基板面に垂直な光にて照射する光源と、
基板の周辺部に位置し前記光源の光を前記基板の側面に
向けて反射するミラーと、を備える基板周辺部露光装置
が提供される。そして、好ましくは、前記光源および前
記ミラーまたは前記ステージのいずれかが他方に対し前
記基板の露光される側面に平行の方向に移動が可能であ
るようになされる。
【0007】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は、本発明の第1の実施例の全体の構
成を示す斜視図である。同図において、1は、垂直に紫
外線を放射する周辺露光用光源、2aは、周辺露光用光
源の垂直光を反射してガラス基板の側面を照射する反射
ミラー、3は、液晶パネル用ガラス基板4を保持して、
矢印方向に移動が可能でかつ回転が可能なステージ、5
は、周辺露光用光源1および反射ミラー2aを保持し
て、左右に(矢印と直角の方向)移動が可能なアームで
ある。
【0008】図2は、本発明の第1の実施例の要部断面
図であり、図3は、第1の実施例の作動状態を示す平面
図である。図2に示されるように、反射ミラー2aは、
光源1の放出する紫外光UVに対し、θ1 (0<θ1
45°)の角度をなして固定アーム5に装着されてお
り、ガラス基板4の側面を90°−2θ1 の角度で照射
する。
【0009】周辺露光用光源1の特定の点P1 から出る
紫外光はガラス基板4のエッジP2を照射するように設
定されており、そして紫外光UVの照射幅(L1 +L
2 )は、光源のブラインドにより可変になされている。
而して、領域L1 の紫外光がガラス基板4の表面を照射
し、領域L2 の紫外光の一部がガラス基板の側面に照射
される。ここで、領域L2 側のブラインドを調整するこ
とにより、領域L2 の紫外光の一部をガラス基板の表面
に照射することができる。しかし、その場合に、領域L
2 の紫外光による照射領域が、領域L1 の紫外光の照射
領域P23 内に入るように領域L2 を設定して、ガラ
ス基板上の内部回路への光照射を回避することが必要で
ある。
【0010】図3は、第1の実施例の露光途中の状態を
示す平面図であって、予め、基板中央の回路部分の露光
の完了した液晶パネル用ガラス基板4が、図の上方でス
テージ(図示なし)上に装着される。次いで、ステージ
は、図の矢印方向に移動して基板の端部を露光させる。
ガラス基板を破線で示される位置まで搬送した後ステー
ジは90°回転し、同時に左右の固定アーム5、5が基
板の未露光側の幅x1に応じてそれぞれ左、右に移動す
る。次いで、ステージは図の上方に移動して未露光側の
エッジの露光を実施する。四辺の端部に対する露光の終
了したガラス基板については、次いで、現像工程が施さ
れ、露光部分のフォトレジストが除去される。
【0011】図4は、本発明の第2の実施例の構成を示
す要部断面図である。同図において、図2における先の
実施例の部分に相当する部分には同一の参照番号が付さ
れている。本実施例は、第1の実施例に対して反射ミラ
ー2bを追加した構成となっている。反射ミラー2b
は、反射ミラー2aとガラス基板4との間に、周辺露光
用光源1からの照射光の進行方向に対し角度θ2 (45
°<θ2 <90°)で装着されている。先の実施例の場
合と同様に、周辺露光用光源1の領域L1 の紫外光は、
ガラス基板4の表面に照射され、領域L2 の紫外光の一
部は、反射ミラー2aにより反射されてガラス基板4の
側面に角度90°−2θ1 で照射される。また、領域L
2 の紫外光の一部は、反射ミラー2bにより反射されそ
の一部はガラス基板4の裏面に角度180°−2θ2
照射され、反射ミラー2bによる反射光の他の一部は基
板側面に角度2θ2 −90°で照射される。
【0012】図5は、本発明の第3の実施例の要部断面
図である。同図において、図2における第1の実施例の
部分に相当する部分には同一の参照番号が付されてい
る。本実施例では、反射ミラー2cが、周辺露光用光源
1より放出される紫外光の進行方向に対し角度θ3 (4
5°<θ3 <90°)傾けて装着されている。光源1よ
り放出された紫外光の内領域L2 の光は、反射ミラー2
cにより反射され、その一部はガラス基板4の裏面に角
度180°−2θ3 で照射され、他の一部は基板側面に
角度2θ3 −90°で照射される。
【0013】以上好ましい実施例について説明したが、
本願発明はこれら実施例に限定されるものではなく、特
許請求の範囲に記載された本願発明の範囲内において各
種の変更が可能である。例えば、実施例では、ガラス基
板の端部の露光を縦方向および横方向について同一の露
光装置により行っていたがこれを別々の露光装置により
行うようにすることができる。また、実施例では、光源
に対してステージが移動するものであったが、これを光
源が基板端部に沿って移動するように変更することがで
きる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の基板周辺
部露光装置は、光源の一部の光を基板表面に照射し、他
の一部を反射ミラーを介して基板側面に照射するもので
あるので、本発明によれば、回路部分を形成するための
露光工程では露光されることがなく、かつ不要な、基板
端部および側面のフォトレジストを十分な光量をもって
露光することができ、現像工程においてこれを完全に除
去することができる。よって、本発明によれば、フォト
レジストの剥がれによる発塵を防止することができ、塵
芥が回路パターン上に付着することによって誘発される
不良を削減することができる。実際、基板側面から剥が
れたフォトレジスト片による不良率が従来は7%であっ
たが、本発明によりこれを1%以下とすることができ
た。
【0015】また、上記の従来技術(特開平3−14
1633号公報)を採用した場合、基板表面周辺部の不
要フォトレジストに対して十分な露光が行われず、後の
エッチング工程において基板周辺部の不要な成膜物を完
全に除去することができないため、基板周辺部に成膜物
が累積して凹凸を激化させたりあるいは不完全に残され
た成膜上に形成された他の成膜物が剥離して、歩留りを
低下させることとなるが、本発明によれば、基板周辺部
の不要な成膜物をその都度除去することができるため、
上記不都合を回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の全体の構成を示す斜視
図。
【図2】本発明の第1の実施例の要部断面図。
【図3】本発明の第1の実施例の露光状態を示す平面
図。
【図4】本発明の第2の実施例の要部断面図。
【図5】本発明の第3の実施例の要部断面図。
【図6】従来例の断面図。
【符号の説明】
1 周辺露光用光源 2a、2b、2c 反射ミラー 3 ステージ 4 液晶パネル用ガラス基板 5 固定アーム 6 フォトレジスト

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 概略四辺形の基板を保持するステージ
    と、前記基板の周辺部上に位置し該基板の周辺部および
    その外側を基板面に垂直な光にて照射する光源と、基板
    の周辺部に位置し前記光源の光を前記基板の側面に向け
    て反射するミラーと、を備える基板周辺部露光装置。
  2. 【請求項2】 前記光源および前記ミラーが前記基板の
    両側に設けられていることを特徴とする請求項1記載の
    基板周辺部露光装置。
  3. 【請求項3】 前記光源および前記ミラーまたは前記ス
    テージのいずれかが他方に対し前記基板の露光される側
    面に平行の方向に移動が可能であることを特徴とする請
    求項1記載の基板周辺部露光装置。
  4. 【請求項4】 前記ステージが回転可能であることを特
    徴とする請求項1記載の基板周辺部露光装置。
  5. 【請求項5】 前記光源および前記ミラーが前記基板の
    露光される側面に垂直な方向に移動が可能であることを
    特徴とする請求項1記載の基板周辺部露光装置。
  6. 【請求項6】 前記光源が、前記基板の露光される側面
    に垂直な方向にその照射光の幅を増減する絞り機能を備
    えていることを特徴とする請求項1記載の基板周辺部露
    光装置。
  7. 【請求項7】 前記ミラーが前記基板の表面周辺部をも
    その反射光で照射することを特徴とする請求項1記載の
    基板周辺部露光装置。
  8. 【請求項8】 前記ミラーが前記基板の裏面周辺部をも
    その反射光で照射することを特徴とする請求項1記載の
    基板周辺部露光装置。
  9. 【請求項9】 前記ミラーと前記基板との間の前記基板
    の下方に第2のミラーが配置され該第2のミラーにより
    前記基板の裏面を照射することを特徴とする請求項1記
    載の基板周辺部露光装置。
JP5148586A 1993-05-27 1993-05-27 基板周辺部露光装置 Pending JPH06338453A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109976102A (zh) * 2017-12-28 2019-07-05 豪雅冠得股份有限公司 光照射装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59138335A (ja) * 1983-01-28 1984-08-08 Toshiba Corp ウエハ端部のレジスト露光装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59138335A (ja) * 1983-01-28 1984-08-08 Toshiba Corp ウエハ端部のレジスト露光装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109976102A (zh) * 2017-12-28 2019-07-05 豪雅冠得股份有限公司 光照射装置

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