JPH0633415Y2 - 水質測定装置 - Google Patents

水質測定装置

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JPH0633415Y2
JPH0633415Y2 JP11859087U JP11859087U JPH0633415Y2 JP H0633415 Y2 JPH0633415 Y2 JP H0633415Y2 JP 11859087 U JP11859087 U JP 11859087U JP 11859087 U JP11859087 U JP 11859087U JP H0633415 Y2 JPH0633415 Y2 JP H0633415Y2
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JP
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liquid
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water
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JP11859087U
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文夫 中川
龍秀 筒井
良雄 堀井
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Horiba Ltd
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Horiba Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、水質測定装置、特に、間欠測定方式の水質測
定装置の改良に関する。
〔従来の技術〕
水質測定装置には、例えばpH,溶存酸素量,導電率,濁
度等を測定する水質モニターのように連続測定が可能な
ものと、COD計等のように一回の測定に長時間を要し、
間欠的にしか測定ができないものとがあるが、これらの
水質測定装置はいずれも一日の保守点検時に、試料調整
槽,試料計量器や試料供給ライン等を洗浄したり、試薬
を補充したり、計測器をゼロ校正及びスパン校正する等
して、全ての機器が正常に動作していることを確認し、
その後の測定に備えるようにしている。
ところで、上記連続測定方式の水質測定装置の場合は、
応答が速いため所定の保守点検時間内に上記確認を完了
することができるが、間欠測定方式の水質測定装置にお
いては、一回の測定に長時間を要するため、上記洗浄、
補給等と共に計測器の標準液による測定又は校正まで手
が回らないことがあり、簡易的にゼロ校正やスパン校正
を行うか又は2日間かけて標準液による測定又は校正を
行い、計測器が正常であることを確認していた。
〔考案が解決しようとする問題点〕 しかしながら、従来の校正においては、ゼロ校正に引き
続いてスパン校正を行うようにしており、特に、保守点
検時間の余裕がない間欠測定方式の水質測定装置におい
ては、ゼロ液による測定又は校正を行った直後にスパン
液による測定又は校正を行うため、スパン液による測定
又は校正がゼロ液の影響を受け、スパン液による測定又
は校正に切り替えてから一回目のデータはともすれば信
頼性に欠けるものになり易く、そのため、ゼロ液及びス
パン液による測定又は校正に多くの時間を要していた。
本考案は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、他の標準液等の影響を受けること
なく所定の標準液による測定又は校正を1日の保守点検
時に行うことができ、正確な測定を行うことができる水
質測定装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上述の目的を達成するため、本考案に係る水質測定装置
は、測定槽に対して試料水を供給する試料供給ラインに
設けられた試料計量器よりも上流側の試料供給ラインに
標準液供給ラインを接続し、試料水と標準液を切り換え
るタイマーを設けると共に、前記試料計量器に排水ライ
ンを設けた点に特徴がある。
〔実施例〕
以下、本考案の実施例を、図面に基づいて説明する。
第1図は本考案に係る水質測定装置の一構成例を示し、
同図において、1は試料計量器で、測定装置の測定槽2
に対して試料水Sを供給する試料供給ラインL中に設け
られており、その下方には測定槽2への液供給ライン3
と、排水ライン4とが並設されている。5,6は液送給ラ
イン3,排水ライン4にそれぞれ設けられた電磁弁であ
る。7,8はそれぞれエヤー吸引ポンプ,加圧ポンプで、
それぞれ7,8の一端は三方電磁弁9のポート9b,9cに接続
してある。そして、三方電磁弁9の他のポート9aは配管
10を介して試料計量器1の上部入口に接続してある。
11は試料調整槽としての試料オーバーフロー槽で、試料
供給ラインLの上流側に設けられ、その入口側にはオー
バーフロー部材12が設けてあり、このオーバーフロー部
材12の上流側はストップ弁13を介して図外の試料水源に
接続してあり、下流側は試料供給ラインLに接続してあ
る。14はオーバーフローした試料水Sを前記試料水源に
戻すための配管である。
15は試料供給ラインLに設けられた試料水採取用の電磁
弁で、その下流側の試料供給ラインLには標準液導入用
の電磁弁16を介して標準液供給ライン17が接続してあ
り、この標準液供給ライン17の端部(上流側)にはゼロ
液又はスパン液等を収容した標準液槽18が接続してあ
る。
Cはシーケンサで、上記ポンプ7,8や電磁弁5,6,9,15,16
等の機器に対してプログラムされた指令を与えて、これ
らの機器を動作させたり停止させたりすることができ
る。又、標準液による測定が終われば試料水の測定に切
り換えるタイマー等が内蔵されている。
而して、上記構成の水質測定装置によって水質測定を行
うときは、電磁弁5,6,16を閉にすると共に、電磁弁9,15
及びストップ弁13を開にした状態で、エヤー吸引ポンプ
7を作動させると、試料水Sは試料調整槽11、電磁弁15
を経て試料供給ラインLによって試料計量器1内に導入
される。そして、上記試料水Sの上面が水位bに達する
と、図外の液面計からの検出出力がシーケンサCに入力
され、これによってシーケンサCからエヤー吸引ポンプ
7に停止信号が送られて、試料水Sの試料計量器1への
導入が停止される。そこで、電磁弁6を開くと、試料計
量器1内の試料水Sは排水ライン4を経て排出され、試
料供給ラインL及び試料計量器1内は今回測定しようと
する試料水Sによって共洗いされる。
次に、試料水S(上記共洗いに用いた液体と同じもの)
を試料計量器1内に、前記水位bになるまで導入した
後、電磁弁9をオフにすると共に加圧ポンプ8を動作さ
せると、試料計量器1内の試料水Sは加圧され、液面b
から液面aまでの試料水Sは試料供給ラインL及び電磁
弁15を経てオーバーフロー部材12に送られ、試料計量器
1内に所定の試料水Sが計量される。ここで、電磁弁5
を開くと、この試料水Sは液送給ライン3を介して測定
槽2に送られて所定の測定に供される。
そして、保守点検時において、ゼロ液の測定又は校正及
びスパン液の測定又は校正を行う場合、ゼロ液の測定又
は校正を数回行って異常がないことを確認してからスパ
ン液の測定又は校正を行うが、先ず、ゼロ液の測定又は
校正の手順を説明する。
ゼロ液の測定又は校正を行う場合、標準液供給ライン17
にゼロ液を収容した標準液槽18を接続すると共に、電磁
弁5,6,15を閉じ、電磁弁9,16を開いた状態で、エヤー吸
引ポンプ7を作動させると、標準液槽18内のゼロ液は電
磁弁16を経て試料供給ラインLに導入され、更に、この
試料供給ラインLを経て試料計量器1内に導入される。
そして、上記ゼロ液の上面が水位bになるまでゼロ液を
充たした後、電磁弁6を開くと、ゼロ液は排水ライン4
を介して棄てられる。このとき、試料供給ラインL及び
試料計量器1内はゼロ液で共洗いされる。
次に、電磁弁6を閉じ、ゼロ液を水位bになるまで試料
計量器1内に導入し、更に、液面bから液面aまでのゼ
ロ液を試料供給ラインL及び電磁弁16を介して標準液槽
18内に送ることにより、ゼロ液の計量が行われる。ここ
で、電磁弁5を開くと、試料計量器1内のゼロ液は測定
槽2に送られ、所定のゼロ液の測定又は校正を行うこと
ができる。以下同様にしてゼロ液の測定又は校正を数回
繰り返して行い、異常がなければ次のスパン液の測定又
は校正に移行する。
そして、スパン液の測定又は校正を行う場合には、標準
液供給ライン17にスパン液を収容した標準液槽18を接続
すると共に、電磁弁5,6,15を閉じ、電磁弁9,16を開いた
状態で、エヤー吸引ポンプ7を作動させると、標準液槽
18内のスパン液は電磁弁16を経て試料供給ラインLに導
入され、更に、この試料供給ラインLを経て試料計量器
1内に導入される。そして、上記スパン液の上面が水位
bになるまでスパン液を充たした後、電磁弁6を開く
と、スパン液は排水ライン4を介して棄てられる。この
とき、試料供給ラインL及び試料計量器1内はスパン液
で共洗いされる。
次に、電磁弁6を閉じ、スパン液を水位bになるまで試
料計量器1内に導入し、更に、液面bから液面aまでの
スパン液を試料供給ラインL及び電磁弁16を介して標準
液槽18内に送ることにより、スパン液の計量が行われ
る。ここで、電磁弁5を開くと、試料計量器1内のスパ
ン液は測定槽2に送られ、所定のスパン液の測定又は校
正を行うことができる。以下同様にしてスパンの測定又
は校正を数回繰り返して行い、異常がないか否かを確認
する。
上述の説明から理解されるように、測定時においては、
測定に供される試料水Sで試料計量器1内部を共洗い
し、又、標準液の測定又は校正時においては、ゼロ液又
はスパン液で試料計量器1内を共洗いしているので、直
前に使用された試料水Sや標準液の影響を受けることな
く、正確に測定や校正を行うことができる。
ところで、既に説明したように、一日の保守点検時間内
に、試料調整槽11,試料計量器1,試料供給ラインL等を
洗浄したり、試薬を補充した後、ゼロ液による測定又は
校正及びスパン液による測定又は校正を十分には行うこ
とができないことが多いため、例えばゼロ液の測定又は
校正を上記保守点検時間内に十分に行い、オペレータが
帰宅する際、スパン液を収容した標準液槽18を標準液供
給ライン17に接続し、スパン液の測定時間を設定してお
けば、シーケンサCに内蔵されたプログラムに従ってス
パン液測定又は校正を行い、スパン液の測定又は校正終
了後自動的に試料水Sの測定が行われる。このようにす
れば、一日の保守点検でゼロ液及びスパン液による測定
又は校正が行われ、精度の高い水質測定が可能になる。
そして、上記無人状態におけるスパン校正のデータをテ
レメータ等で中央監視局に送信しておけば、仮に異常が
発生していた場合には、これに基づいて再校正すること
ができる。
尚、上述の実施例では、試料供給ラインLに対して標準
液供給ライン17を一つだけ接続するようにしていたが、
この標準液供給ライン17を例えば2本並列に接続し、そ
れぞれの標準液供給ライン17,17にゼロ液,スパン液を
それぞれ収容した標準液槽18,18を接続したり、或い
は、他の場所で採取した試料水Sを収容した槽を接続
し、校正又は測定の順序をシーケンサCによって定める
ことにより、所定の校正又は測定を行わせるようにして
もよい。このようにした場合、従来一日の保守点検時間
内に行い切れなかったゼロ校正やスパン校正を完全に行
えるといった利点がある。
第2図は試料計量器1に対して試料水S,標準液を加圧圧
送する場合の構成例を示し、同図において、21は液送ポ
ンプ,22は加圧ポンプで、前者21は試料調整槽11と電磁
弁15との間の試料供給ラインLに介装してあり、又、後
者22は標準液槽18に接続された加圧管23に電磁弁24を介
して介装されている。これらの液送ポンプ21、加圧ポン
プ22、電磁弁24はシーケンサCによって制御れるように
してある。又、1a,1bは試料計量器1に設けられたオー
バーフロー口である。このように構成した水質測定装置
においても、上記第1図に示すものと同様の動作を行う
ことは云うまでもない。
〔考案の効果〕
以上説明したように、本考案に係る水質測定装置は、測
定槽に対して試料水を供給する試料供給ラインに設けら
れた試料計量器よりも上流側の試料供給ラインに標準液
供給ラインを接続すると共に、前記試料計量器に排水ラ
インを設け、又、標準液の測定から試料水の測定に切り
換えるタイマーが設けられているので、他の標準液等の
影響を受けることなく、しかも一日の保守点検時間を有
効に活用して所定の測定や校正を行うことができ、特
に、正確に校正を行うことができるので、精度の高い測
定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例に係る水質測定装置の構成
図、第2図は他の実施例に係る水質測定装置の構成図で
ある。 1……試料計量器、2……測定槽、4……排水ライン、
17……標準液供給ライン、L……試料供給ライン、S…
…試料水。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】測定槽に対して試料水を供給する試料供給
    ラインに試料計量器を設けた水質測定装置において、前
    記試料計量器よりも上流側の試料供給ラインに標準液供
    給ラインを接続し、試料水と標準液を切り換えるタイマ
    ーを設けると共に、前記試料計量器に排水ラインを設け
    たことを特徴とする水質測定装置。
JP11859087U 1987-08-01 1987-08-01 水質測定装置 Expired - Lifetime JPH0633415Y2 (ja)

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JP11859087U JPH0633415Y2 (ja) 1987-08-01 1987-08-01 水質測定装置

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JP11859087U JPH0633415Y2 (ja) 1987-08-01 1987-08-01 水質測定装置

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Publication Number Publication Date
JPS6423662U JPS6423662U (ja) 1989-02-08
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0518750U (ja) * 1991-08-23 1993-03-09 新東工業株式会社 鋳造品取り出し装置
JP6874510B2 (ja) * 2017-04-27 2021-05-19 三浦工業株式会社 水質測定装置

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JPS6423662U (ja) 1989-02-08

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