JPH063336A - Method for detecting separation of wall finish of building - Google Patents

Method for detecting separation of wall finish of building

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JPH063336A
JPH063336A JP4181638A JP18163892A JPH063336A JP H063336 A JPH063336 A JP H063336A JP 4181638 A JP4181638 A JP 4181638A JP 18163892 A JP18163892 A JP 18163892A JP H063336 A JPH063336 A JP H063336A
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reference voltage
detection signal
building
sent
bandpass filter
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Masatake Tokioka
誠剛 時岡
Hiroichi Inagaki
博一 稲垣
Yukio Sakai
幸雄 酒井
Toshio Nonoyama
敏夫 野々山
Shinya Ishigami
信哉 石上
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Kumagai Gumi Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To easily and accurately detect the separation of the wall finish of a building with a simple means. CONSTITUTION:A microphone 3 detects knocking sounds produced when the wall section 1 to be diagnosed of a building is knocked with a knocking device 2 and an amplifier 4 sends the detecting signal of the microphone 3 to a discrimination circuit 6 through a band-pass filter 5 after amplification. A plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected to the circuit 6. In the circuit 6, the detecting signal sent from the band-pass filter 5 is compared with reference voltages sent from the setters 7 and 8.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、建築物におけるタイル
等による壁仕上げ部の剥離を検出する方法に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting peeling of a wall finishing portion due to tiles or the like in a building.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、建築物の外壁タイルの剥離および
剥落現象が問題になっているが、従来、タイルの剥離を
診断する方法として、(1)人手による打音診断、
(2)赤外線を利用する診断、(3)特開昭63−16
8555号公報および特公平3−27067号公報に開
示されている打撃音解析による診断などがある。
2. Description of the Related Art In recent years, the peeling and peeling phenomenon of outer wall tiles of buildings has become a problem. Conventionally, as a method for diagnosing the peeling of tiles, (1) manual hammering sound diagnosis,
(2) Diagnosis using infrared rays, (3) JP-A-63-16
There is a diagnosis by impact sound analysis disclosed in Japanese Patent No. 8555 and Japanese Patent Publication No. 3-27067.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】前記(1)の診断方法
の場合は、測定者の勘や技能により診断結果に差異があ
り、また前記(2)の診断方法の場合は、気象条件や屋
内の冷暖房による影響を受け易いという欠点がある。さ
らにまた、前記(3)の診断方法の場合は、解析に時間
が長くかかり、かつ装置が複雑であると共に取扱性が悪
く、しかも装置のコストが高いという欠点がある。
In the case of the above-mentioned (1) diagnosis method, there is a difference in the diagnosis result depending on the intuition and skill of the measurer, and in the case of the above-mentioned (2) diagnosis method, the weather condition or indoor conditions. There is a drawback that it is easily affected by the heating and cooling of. Furthermore, in the case of the above-mentioned diagnostic method (3), there are drawbacks that analysis takes a long time, the apparatus is complicated and the handling is poor, and the cost of the apparatus is high.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】前述の問題を有利に解決
するために、本発明の建築物壁仕上げ部の剥離検出方法
においては、建築物の診断壁部1を打撃装置2により打
撃した打撃音を、マイクロホン3により検出し、その検
出信号を、増幅器4により増幅したのちバンドパスフィ
ルター5を経て判別回路6に送り、その判別回路6に、
基準電圧の異なる複数の基準電圧設定器7,8を接続
し、前記判別回路6において、バンドパスフィルター5
から送られた検出信号と、各基準電圧設定器7,8から
送られた基準電圧とを比較する。また建築物の診断壁部
1を打撃装置2により打撃した打撃音を、マイクロホン
3により検出し、その検出信号を、増幅器4により増幅
したのち、高い周波数の検出信号を高周波数用バンドパ
スフィルター5Aにより抽出すると共に、低い周波数の
検出信号を低周波数用バンドパスフィルター5Bにより
抽出し、各バンドパスフィルター5A,5Bからの検出
信号を、比較器9を経て判別回路6に送り、その判別回
路6に、基準電圧の異なる複数の基準電圧設定器7,8
を接続し、前記判別回路6において、比較器9から送ら
れた検出信号と、各基準電圧設定器7,8から送られた
電圧信号と比較することによっても、前述の問題を有利
に解決することができる。
In order to advantageously solve the above-mentioned problems, in the method for detecting separation of a building wall finishing portion of the present invention, the striking device 2 strikes the diagnostic wall portion 1 of the building. The sound is detected by the microphone 3, the detected signal is amplified by the amplifier 4, and then sent to the discriminating circuit 6 through the bandpass filter 5, and the discriminating circuit 6
A plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected to each other, and in the discrimination circuit 6, the bandpass filter 5 is connected.
The detection signal sent from the device is compared with the reference voltage sent from each of the reference voltage setting devices 7 and 8. Further, the impact sound of impacting the diagnostic wall portion 1 of the building with the impact device 2 is detected by the microphone 3, the detection signal is amplified by the amplifier 4, and then the high frequency detection signal is applied to the high frequency band pass filter 5A. And the low-frequency detection signal is extracted by the low-frequency band-pass filter 5B, and the detection signals from the band-pass filters 5A and 5B are sent to the discrimination circuit 6 via the comparator 9, and the discrimination circuit 6 A plurality of reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages.
The above-mentioned problem can be advantageously solved by also connecting the above-mentioned, and comparing the detection signal sent from the comparator 9 with the voltage signal sent from each of the reference voltage setters 7 and 8 in the discrimination circuit 6. be able to.

【0005】[0005]

【実施例】図2はタイルを貼付けた建築物の壁仕上げ部
を示すものであって、コンクリート製壁本体10の表面
に下地モルタル層11が塗布され、その下地モルタル層
11の表面に多数のタイル12が接着剤により固着され
ている。また図2において、タイル12と下地モルタル
層11との間に剥離部分13が生じ、下地モルタル層1
1と壁本体10との間に剥離部分14が生じている。
EXAMPLE FIG. 2 shows a wall finishing portion of a building to which tiles are stuck, in which an underlayer mortar layer 11 is applied to the surface of a concrete wall body 10 and a large number of the underlayer mortar layer 11 is coated on the surface. The tile 12 is fixed by an adhesive. Further, in FIG. 2, a peeled portion 13 is generated between the tile 12 and the base mortar layer 11, and the base mortar layer 1
A peeled portion 14 is formed between the wall 1 and the wall body 10.

【0006】図1は請求項1の発明の実施例を示すもの
であって、建築物の診断壁部1を連続的に打撃する機械
的打撃装置2に近接して、その打撃装置2による打撃音
を集音するマイクロホン3が配置され、そのマイクロホ
ン3は増幅器4の入力部に接続され、その増幅器4の出
力部はバンドパスフィルター5の入力部に接続され、そ
のバンドパスフィルター5の出力部と、基準電圧の異な
る複数の基準電圧設定器7,8とは、判別回路6の入力
部に接続され、その判別回路6の出力部には、画面表示
装置15が接続されている。
FIG. 1 shows an embodiment of the invention of claim 1, which is close to a mechanical striking device 2 for continuously striking a diagnostic wall portion 1 of a building, and striking by the striking device 2. A microphone 3 for collecting sound is arranged, the microphone 3 is connected to an input section of an amplifier 4, an output section of the amplifier 4 is connected to an input section of a bandpass filter 5, and an output section of the bandpass filter 5 is arranged. And a plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected to the input section of the discrimination circuit 6, and the screen display device 15 is connected to the output section of the discrimination circuit 6.

【0007】建築物におけるタイル12を貼付けた診断
壁部1は、打撃装置2により打撃され、その打撃音はマ
イクロホン3により受信されて検出され、その検出信号
は、増幅器4により適当な値まで増幅されたのち、バン
ドパスフィルター5に送られ、そのバンドパスフィルタ
ー5により、タイル12が下地モルタル層11から剥離
している場合、または下地モルタル層11が壁本体10
から剥離している場合は、差異の大きな周波数帯の検出
信号が抽出され、その抽出された検出信号は判別回路6
に送られる。
The diagnostic wall 1 to which the tiles 12 are attached in the building is struck by the striking device 2, the sound of the striking is received and detected by the microphone 3, and the detection signal is amplified by the amplifier 4 to an appropriate value. Then, the tile 12 is separated from the base mortar layer 11 by the band pass filter 5, or the base mortar layer 11 causes the wall body 10 to separate.
If it is separated from the detection signal, the detection signal in the frequency band with a large difference is extracted, and the extracted detection signal is the discrimination circuit 6
Sent to.

【0008】判別回路6においては、検出信号の値は、
予め設定された基準値と比較され、診断結果が出力され
る。以上の一部周波数帯のみを抽出した電気信号は、剥
離判別のための基準電圧と電圧レベルが比較され、打撃
装置2による壁面打撃とほぼ同時にかつ連続的に剥離の
判別が行なわれる。また判別回路6に基準電圧の異なる
2つの基準電圧設定器7,8が接続されているので、異
なる深さの剥離位置をも検出することができる。
In the discrimination circuit 6, the value of the detection signal is
It is compared with a preset reference value and the diagnosis result is output. The electric signal obtained by extracting only the above partial frequency band is compared with the reference voltage for discriminating the peeling, and the peeling is discriminated almost simultaneously and continuously with the wall impact by the striking device 2. Further, since two reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages are connected to the discriminating circuit 6, it is possible to detect peeling positions having different depths.

【0009】増幅器4により増幅された出力信号は、バ
ンドパスフィルター5に送られて、検出信号が抽出さ
れ、この抽出された出力信号電圧は、判別回路6におい
て基準電圧設定器7,8により設定された電圧と比較さ
れ、基準電圧設定器7または基準電圧設定器8の設定電
圧より高いバンドパスフィルター5の出力信号が判別回
路6に送られたとき、判別回路6からの判別出力信号
が、オフからオンに切換えられる。前記判別回路6に対
し、異なる基準電圧の基準電圧設定器7,8を接続する
ことにより、剥離部分の深さを判別することができる。
The output signal amplified by the amplifier 4 is sent to the bandpass filter 5 to extract a detection signal, and the extracted output signal voltage is set by the reference voltage setters 7 and 8 in the discrimination circuit 6. When the output signal of the bandpass filter 5 which is compared with the determined voltage and is higher than the set voltage of the reference voltage setter 7 or the reference voltage setter 8 is sent to the discriminating circuit 6, the discriminating output signal from the discriminating circuit 6 is It can be switched from off to on. By connecting the reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages to the determination circuit 6, the depth of the peeled portion can be determined.

【0010】打撃装置2による打撃音は、壁仕上げ部の
奥部の剥離状態により一部の周波数帯の音圧に差異があ
る。図3にそのスペクトル解析の結果を示す。
The hitting sound by the hitting device 2 has a difference in sound pressure in some frequency bands depending on the peeling state of the inner portion of the wall finishing portion. FIG. 3 shows the result of the spectrum analysis.

【0011】図4は、打撃装置2を使用して、図2に示
すタイル壁面を打撃したときのバンドパスフィルター5
を通過した出力信号の一例を示すもので、Aは剥離して
いない部分の出力信号、Bはタイル12と下地モルタル
層11との間の浅い位置に剥離部分13が生じていると
きのその剥離部分13の出力信号、Cは下地モルタル層
11と壁本体10との間の深い位置に剥離部分14が生
じているときのその剥離部分14の出力信号であり、こ
れらの出力信号をIおよびIIの基準電圧と比較すること
により、浅い剥離部分13および深い剥離部分(タイル
表面からの深さ約30mm)14を判別することができ
る。
FIG. 4 shows a bandpass filter 5 when the striking device 2 is used to strike the tile wall surface shown in FIG.
FIG. 4 shows an example of an output signal that has passed through, where A is an output signal of a non-peeled portion and B is a peeled portion when a peeled portion 13 is formed at a shallow position between the tile 12 and the base mortar layer 11. An output signal C of the portion 13 is an output signal of the peeling portion 14 when the peeling portion 14 is formed at a deep position between the base mortar layer 11 and the wall body 10. These output signals are I and II. The shallow peeling portion 13 and the deep peeling portion (depth of about 30 mm from the tile surface) 14 can be discriminated by comparing with the reference voltage of.

【0012】図5は請求項2の発明の実施例を示すもの
であって、増幅器4の出力部に、高周波数用バンドパス
フィルター5Aおよび低周波数用バンドパスフィルター
5Bの入力部が接続され、各バンドパスフィルター5
A,5Bの出力部は、比較器9を経て判別回路6の入力
部に接続されているが、その他の構成は請求項1の発明
の場合と同様である。
FIG. 5 shows an embodiment of the invention of claim 2, wherein the output part of the amplifier 4 is connected to the input parts of the high frequency band pass filter 5A and the low frequency band pass filter 5B. Each bandpass filter 5
The output sections of A and 5B are connected to the input section of the discrimination circuit 6 via the comparator 9, but the other configurations are the same as in the case of the invention of claim 1.

【0013】請求項2の発明の場合は、高周波数用バン
ドパスフィルター5Aにより周波数の大きい帯域の信号
が抽出され、低周波数用バンドパスフィルター5Bによ
り周波数の小さい帯域の信号が抽出される。
In the case of the second aspect of the invention, the high frequency band pass filter 5A extracts a signal in a high frequency band, and the low frequency band pass filter 5B extracts a signal in a low frequency band.

【0014】比較器9においては、周波数の大きい周波
数帯の出力信号と周波数の小さい出力信号との差、また
は周波数の大きい周波数帯の出力信号を周波数の小さい
周波数帯の出力信号で割算し、比較器9で得られた値
を、判別回路6において基準電圧設定器7,8の基準値
と比較し、その判別回路6から剥離診断結果として出力
する。
In the comparator 9, the difference between the output signal in the high frequency band and the output signal in the low frequency band, or the output signal in the high frequency band is divided by the output signal in the low frequency band, The value obtained by the comparator 9 is compared with the reference values of the reference voltage setters 7 and 8 in the discriminating circuit 6, and the discriminating circuit 6 outputs the result as a peeling diagnosis result.

【0015】請求項2の発明の場合も、検出信号を各バ
ンドパスフィルター5A,5Bに通すことにより、図3
と同様のスペクトル解析結果が得られる。
In the case of the second aspect of the present invention as well, the detection signal is passed through the band pass filters 5A and 5B to obtain the signal shown in FIG.
The spectrum analysis result similar to is obtained.

【0016】前記判別回路6は、各バンドパスフィルタ
ー5A,5Bの基準値を越える検出信号が入力される
と、剥離検出信号を出力する。
The discrimination circuit 6 outputs a peeling detection signal when a detection signal exceeding the reference value of each of the bandpass filters 5A and 5B is input.

【0017】図6は高周波数用バンドパスフィルター5
Aおよび低周波数用バンドパスフィルター5Bを通過し
た出力信号およびその比較(割り算)を行なった場合の
一例を示すもので、III は剥離部分が発生していない部
分の出力信号、IVはタイル12と下地モルタル層11と
の間の浅い位置に剥離部分13が生じているときのその
剥離部分13の出力信号、Vは下地モルタル層11と壁
本体10との間の深い位置に剥離部分14が生じている
ときのその剥離部分14の出力信号である。
FIG. 6 shows a bandpass filter 5 for high frequency.
An example of an output signal that has passed through A and the low-frequency bandpass filter 5B and a comparison (division) thereof is shown. III is an output signal of a portion where no peeling portion is generated, and IV is a tile 12 An output signal of the peeling portion 13 when the peeling portion 13 is formed at a shallow position between the base mortar layer 11 and V is a peeling portion 14 at a deep position between the base mortar layer 11 and the wall body 10. This is the output signal of the peeled portion 14 during the operation.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明によれば、建築物の診断壁部1を
打撃装置2により打撃した打撃音を、マイクロホン3に
より検出し、その検出信号を、増幅器4により増幅した
のち、バンドパスフィルター5を経て判別回路6に送
り、その判別回路6に、基準電圧の異なる複数の基準電
圧設定器7,8を接続し、前記判別回路6において、バ
ンドパスフィルター5から送られた検出信号と、各基準
電圧設定器7,8から送られた基準電圧とを比較する
か、または建築物の診断壁部1を打撃装置2により打撃
した打撃音を、マイクロホン3により検出し、その検出
信号を、増幅器4により増幅したのち、高い周波数の検
出信号を高周波数用バンドパスフィルター5Aにより抽
出すると共に、低い周波数の検出信号を低周波数用バン
ドパスフィルター5Bにより抽出し、各バンドパスフィ
ルター5A,5Bからの検出信号を、比較器9を経て判
別回路6に送り、その判別回路6に、基準電圧の異なる
複数の基準電圧設定器7,8を接続し、前記判別回路6
において、比較器9から送られた検出信号と、各基準電
圧設定器7,8から送られた電圧信号と比較するので、
簡単な手段によって容易に建築物の壁仕上げ部の剥離を
正確にかつ迅速に検出することができ、さらに解析によ
る方法に比べて、簡単で安価な装置を使用して剥離を検
出することができ、しかも基準電圧設定器7,8の基準
電圧を変えることにより、任意深さの剥離部分を検出す
ることができる。
According to the present invention, the sound of striking the diagnostic wall portion 1 of the building with the striking device 2 is detected by the microphone 3, and the detected signal is amplified by the amplifier 4 and then the bandpass filter. 5 to the discriminating circuit 6, and a plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected to the discriminating circuit 6, and in the discriminating circuit 6, the detection signal sent from the band pass filter 5 and The microphone 3 detects a striking sound that is compared with the reference voltage sent from each of the reference voltage setters 7 and 8 or that strikes the diagnostic wall portion 1 of the building with the striking device 2, and the detection signal is detected. After being amplified by the amplifier 4, the high frequency detection signal is extracted by the high frequency band pass filter 5A, and the low frequency detection signal is extracted by the low frequency band pass filter 5B. The detection signals from the bandpass filters 5A and 5B are sent to the discrimination circuit 6 via the comparator 9, and the discrimination circuit 6 is connected to a plurality of reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages. , The discrimination circuit 6
In, since the detection signal sent from the comparator 9 is compared with the voltage signal sent from each of the reference voltage setting devices 7 and 8,
Peeling of building wall finishes can be detected accurately and quickly by simple means, and further, peeling can be detected using simpler and cheaper equipment compared to analytical methods. Moreover, by changing the reference voltage of the reference voltage setters 7 and 8, it is possible to detect a peeled portion having an arbitrary depth.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】請求項1の発明の実施例を示す概略説明図であ
る。
FIG. 1 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the invention of claim 1.

【図2】タイルを貼付けた建築物壁仕上げ部を示す縦断
側面図である。
FIG. 2 is a vertical cross-sectional side view showing a building wall finishing portion to which tiles are attached.

【図3】請求項1の発明のスペクトル解析の結果を示す
図である。
FIG. 3 is a diagram showing a result of spectrum analysis according to the first aspect of the invention.

【図4】請求項1の発明におけるバンドパスフィルター
を通過した出力信号を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an output signal that has passed through a bandpass filter according to the invention of claim 1;

【図5】請求項2の発明の実施例を示す概略説明図であ
る。
FIG. 5 is a schematic explanatory view showing an embodiment of the invention of claim 2;

【図6】請求項2の発明におけるバンドパスフィルター
を通過した出力信号を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing an output signal passed through a bandpass filter according to the invention of claim 2;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 診断壁部 2 打撃装置 3 マイクロホン 4 増幅器 5 バンドパスフィルター 5A 高周波数用バンドパスフィルター 5B 低周波数用バンドパスフィルター 6 判別回路 7 基準電圧設定器 8 基準電圧設定器 9 比較器 10 コンクリート製壁本体 11 下地モルタル層 12 タイル 13 剥離部分 14 剥離部分 15 画面表示装置 1 Diagnostic Wall 2 Impact Device 3 Microphone 4 Amplifier 5 Bandpass Filter 5A High Frequency Bandpass Filter 5B Low Frequency Bandpass Filter 6 Discrimination Circuit 7 Reference Voltage Setting Device 8 Reference Voltage Setting Device 9 Comparator 10 Concrete Wall Body 11 Base Mortar Layer 12 Tile 13 Peeling Part 14 Peeling Part 15 Screen Display Device

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年2月22日[Submission date] February 22, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】特許請求の範囲[Name of item to be amended] Claims

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【特許請求の範囲】[Claims]

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】発明の詳細な説明[Name of item to be amended] Detailed explanation of the invention

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、建築物におけるタイル
等による壁仕上げ部の剥離を検出する方法に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting peeling of a wall finishing portion due to tiles or the like in a building.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、建築物の外壁タイルの剥離および
剥落現象が問題になっているが、従来、タイルの剥離を
診断する方法として、(1)人手による打音診断、
(2)赤外線を利用する診断、(3)特開昭63−16
8555号公報および特公平3−27067号公報に開
示されている打撃音解析による診断などがある。
2. Description of the Related Art In recent years, the peeling and peeling phenomenon of outer wall tiles of buildings has become a problem. Conventionally, as a method for diagnosing the peeling of tiles, (1) manual hammering sound diagnosis,
(2) Diagnosis using infrared rays, (3) JP-A-63-16
There is a diagnosis by impact sound analysis disclosed in Japanese Patent No. 8555 and Japanese Patent Publication No. 3-27067.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】前記(1)の診断方法
の場合は、測定者の勘や技能により診断結果に差異があ
り、また前記(2)の診断方法の場合は、気象条件や屋
内の冷暖房による影響を受け易いという欠点がある。さ
らにまた、前記(3)の診断方法の場合は、解析に時間
が長くかかり、かつ装置が複雑であると共に取扱性が悪
く、しかも装置のコストが高いという欠点がある。
In the case of the above-mentioned (1) diagnosis method, there is a difference in the diagnosis result depending on the intuition and skill of the measurer, and in the case of the above-mentioned (2) diagnosis method, the weather condition or indoor conditions. There is a drawback that it is easily affected by the heating and cooling of. Furthermore, in the case of the above-mentioned diagnostic method (3), there are drawbacks that analysis takes a long time, the apparatus is complicated and the handling is poor, and the cost of the apparatus is high.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】前述の問題を有利に解決
するために、本発明の建築物壁仕上げ部の剥離検出方法
においては、建築物の診断壁部1を打撃装置2により打
撃した打撃音を、マイクロホン3により検出し、その検
出信号を、増幅器4により増幅したのちバンドパスフィ
ルター5を経て判別回路6に送り、その判別回路6に、
基準電圧の異なる複数の基準電圧設定器7,8を接続
し、前記判別回路6において、バンドパスフィルター5
から送られた検出信号と、各基準電圧設定器7,8から
送られた基準電圧とを比較する。また建築物の診断壁部
1を打撃装置2により打撃した打撃音を、マイクロホン
3により検出し、その検出信号を、増幅器4により増幅
したのち、高い周波数の検出信号を高周波数用バンドパ
スフィルター5Aにより抽出すると共に、低い周波数の
検出信号を低周波数用バンドパスフィルター5Bにより
抽出し、各バンドパスフィルター5A,5Bからの検出
信号を、比較器9を経て判別回路6に送り、その判別回
路6に、基準電圧の異なる複数の基準電圧設定器7,8
を接続し、前記判別回路6において、比較器9から送ら
れた検出信号と、各基準電圧設定器7,8から送られた
電圧信号と比較することによっても、前述の問題を有利
に解決することができる。
In order to advantageously solve the above-mentioned problems, in the method for detecting separation of a building wall finishing portion of the present invention, the striking device 2 strikes the diagnostic wall portion 1 of the building. The sound is detected by the microphone 3, the detected signal is amplified by the amplifier 4, and then sent to the discriminating circuit 6 through the bandpass filter 5, and the discriminating circuit 6
A plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected to each other, and in the discrimination circuit 6, the bandpass filter 5 is connected.
The detection signal sent from the device is compared with the reference voltage sent from each of the reference voltage setting devices 7 and 8. Further, the impact sound of impacting the diagnostic wall portion 1 of the building with the impact device 2 is detected by the microphone 3, the detection signal is amplified by the amplifier 4, and then the high frequency detection signal is applied to the high frequency band pass filter 5A. And the low-frequency detection signal is extracted by the low-frequency band-pass filter 5B, and the detection signals from the band-pass filters 5A and 5B are sent to the discrimination circuit 6 via the comparator 9, and the discrimination circuit 6 A plurality of reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages.
The above-mentioned problem can be advantageously solved by also connecting the above-mentioned, and comparing the detection signal sent from the comparator 9 with the voltage signal sent from each of the reference voltage setters 7 and 8 in the discrimination circuit 6. be able to.

【0005】[0005]

【実施例】図2はタイルを貼付けた建築物の壁仕上げ部
を示すものであって、コンクリート製壁本体10の表面
に下地モルタル層11が塗布され、その下地モルタル層
11の表面に多数のタイル12が接着剤により固着され
ている。また図2において、タイル12と下地モルタル
層11との間に剥離部分13が生じ、下地モルタル層1
1と壁本体10との間に剥離部分14が生じている。
EXAMPLE FIG. 2 shows a wall finishing portion of a building to which tiles are stuck, in which an underlayer mortar layer 11 is applied to the surface of a concrete wall body 10 and a large number of the underlayer mortar layer 11 is coated on the surface. The tile 12 is fixed by an adhesive. Further, in FIG. 2, a peeled portion 13 is generated between the tile 12 and the base mortar layer 11, and the base mortar layer 1
A peeled portion 14 is formed between the wall 1 and the wall body 10.

【0006】図1は請求項1の発明の実施例を示すもの
であって、建築物の診断壁部1を連続的に打撃する機械
的打撃装置2に近接して、その打撃装置2による打撃音
を集音するマイクロホン3が配置され、そのマイクロホ
ン3は増幅器4の入力部に接続され、その増幅器4の出
力部はバンドパスフィルター5の入力部に接続され、そ
のバンドパスフィルター5の出力部と、基準電圧の異な
る複数の基準電圧設定器7,8とは、判別回路6の入力
部に接続され、その判別回路6の出力部には、画面表示
装置15が接続されている。
FIG. 1 shows an embodiment of the invention of claim 1, which is close to a mechanical striking device 2 for continuously striking a diagnostic wall portion 1 of a building, and striking by the striking device 2. A microphone 3 for collecting sound is arranged, the microphone 3 is connected to an input section of an amplifier 4, an output section of the amplifier 4 is connected to an input section of a bandpass filter 5, and an output section of the bandpass filter 5 is arranged. And a plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected to the input section of the discrimination circuit 6, and the screen display device 15 is connected to the output section of the discrimination circuit 6.

【0007】建築物におけるタイル12を貼付けた診断
壁部1は、打撃装置2により打撃され、その打撃音はマ
イクロホン3により受信されて検出され、その検出信号
は、増幅器4により適当な値まで増幅されたのち、バン
ドパスフィルター5に送られ、そのバンドパスフィルタ
ー5により、タイル12が下地モルタル層11から剥離
している場合、または下地モルタル層11が壁本体10
から剥離している場合は、差異の大きな周波数帯の検出
信号が抽出され、その抽出された検出信号は判別回路6
に送られる。
The diagnostic wall 1 to which the tiles 12 are attached in the building is struck by the striking device 2, the sound of the striking is received and detected by the microphone 3, and the detection signal is amplified by the amplifier 4 to an appropriate value. Then, the tile 12 is separated from the base mortar layer 11 by the band pass filter 5, or the base mortar layer 11 causes the wall body 10 to separate.
If it is separated from the detection signal, the detection signal in the frequency band with a large difference is extracted, and the extracted detection signal is the discrimination circuit 6
Sent to.

【0008】判別回路6においては、検出信号の値は、
予め設定された基準値と比較され、診断結果が出力され
る。以上の一部周波数帯のみを抽出した電気信号は、剥
離判別のための基準電圧と電圧レベルが比較され、打撃
装置2による壁面打撃とほぼ同時にかつ連続的に剥離の
判別が行なわれる。また判別回路6に基準電圧の異なる
2つの基準電圧設定器7,8が接続されているので、異
なる深さの剥離位置をも検出することができる。
In the discrimination circuit 6, the value of the detection signal is
It is compared with a preset reference value and the diagnosis result is output. The electric signal obtained by extracting only the above partial frequency band is compared with the reference voltage for discriminating the peeling, and the peeling is discriminated almost simultaneously and continuously with the wall impact by the striking device 2. Further, since two reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages are connected to the discriminating circuit 6, it is possible to detect peeling positions having different depths.

【0009】増幅器4により増幅された出力信号は、バ
ンドパスフィルター5に送られて、検出信号が抽出さ
れ、この抽出された出力信号電圧は、判別回路6におい
て基準電圧設定器7,8により設定された電圧と比較さ
れ、基準電圧設定器7または基準電圧設定器8の設定電
圧より高いバンドパスフィルター5の出力信号が判別回
路6に送られたとき、判別回路6からの判別出力信号
が、オフからオンに切換えられる。前記判別回路6に対
し、異なる基準電圧の基準電圧設定器7,8を接続する
ことにより、剥離部分の深さを判別することができる。
The output signal amplified by the amplifier 4 is sent to the bandpass filter 5 to extract a detection signal, and the extracted output signal voltage is set by the reference voltage setters 7 and 8 in the discrimination circuit 6. When the output signal of the bandpass filter 5 which is compared with the determined voltage and is higher than the set voltage of the reference voltage setter 7 or the reference voltage setter 8 is sent to the discriminating circuit 6, the discriminating output signal from the discriminating circuit 6 is It can be switched from off to on. By connecting the reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages to the determination circuit 6, the depth of the peeled portion can be determined.

【0010】打撃装置2による打撃音は、壁仕上げ部の
奥部の剥離状態により一部の周波数帯の音圧に差異があ
る。図3にそのスペクトル解析の結果を示す。
The hitting sound by the hitting device 2 has a difference in sound pressure in some frequency bands depending on the peeling state of the inner portion of the wall finishing portion. FIG. 3 shows the result of the spectrum analysis.

【0011】図4は、打撃装置2を使用して、図2に示
すタイル壁面を打撃したときのバンドパスフィルター5
を通過した出力信号の一例を示すもので、Aは剥離して
いない部分の出力信号、Bはタイル12と下地モルタル
層11との間の浅い位置に剥離部分13が生じていると
きのその剥離部分13の出力信号、Cは下地モルタル層
11と壁本体10との間の深い位置に剥離部分14が生
じているときのその剥離部分14の出力信号であり、こ
れらの出力信号をIおよびIIの基準電圧と比較するこ
とにより、浅い剥離部分13および深い剥離部分(タイ
ル表面からの深さ約30mm)14を判別することがで
きる。
FIG. 4 shows a bandpass filter 5 when the striking device 2 is used to strike the tile wall surface shown in FIG.
FIG. 4 shows an example of an output signal that has passed through, where A is an output signal of a non-peeled portion and B is a peeled portion when a peeled portion 13 is formed at a shallow position between the tile 12 and the base mortar layer 11. An output signal of the portion 13, C is an output signal of the peeling portion 14 when the peeling portion 14 is formed at a deep position between the base mortar layer 11 and the wall body 10, and these output signals are I and II. The shallow peeled portion 13 and the deep peeled portion (depth about 30 mm from the tile surface) 14 can be discriminated by comparing with the reference voltage of.

【0012】図5は請求項2の発明の実施例を示すもの
であって、増幅器4の出力部に、高周波数用バンドパス
フィルター5Aおよび低周波数用バンドパスフィルター
5Bの入力部が接続され、各バンドパスフィルター5
A,5Bの出力部は、比較器9を経て判別回路6の入力
部に接続されているが、その他の構成は請求項1の発明
の場合と同様である。
FIG. 5 shows an embodiment of the invention of claim 2, wherein the output part of the amplifier 4 is connected to the input parts of the high frequency band pass filter 5A and the low frequency band pass filter 5B. Each bandpass filter 5
The output sections of A and 5B are connected to the input section of the discrimination circuit 6 via the comparator 9, but the other configurations are the same as in the case of the invention of claim 1.

【0013】請求項2の発明の場合は、高周波数用バン
ドパスフィルター5Aにより周波数の大きい帯域の信号
が抽出され、低周波数用バンドパスフィルター5Bによ
り周波数の小さい帯域の信号が抽出される。
In the case of the second aspect of the invention, the high frequency band pass filter 5A extracts a signal in a high frequency band, and the low frequency band pass filter 5B extracts a signal in a low frequency band.

【0014】比較器9においては、周波数の大きい周波
数帯の出力信号と周波数の小さい出力信号との差、また
は周波数の大きい周波数帯の出力信号を周波数の小さい
周波数帯の出力信号で割算し、比較器9で得られた値
を、判別回路6において基準電圧設定器7,8の基準値
と比較し、その判別回路6から剥離診断結果として出力
する。
In the comparator 9, the difference between the output signal in the high frequency band and the output signal in the low frequency band, or the output signal in the high frequency band is divided by the output signal in the low frequency band, The value obtained by the comparator 9 is compared with the reference values of the reference voltage setters 7 and 8 in the discriminating circuit 6, and the discriminating circuit 6 outputs the result as a peeling diagnosis result.

【0015】請求項2の発明の場合も、検出信号を各バ
ンドパスフィルター5A,5Bに通すことにより、図3
と同様のスペクトル解析結果が得られる。
In the case of the second aspect of the present invention as well, the detection signal is passed through the band pass filters 5A and 5B to obtain the signal shown in FIG.
The spectrum analysis result similar to is obtained.

【0016】前記判別回路6は、各バンドパスフィルタ
ー5A,5Bの基準値を越える検出信号が入力される
と、剥離検出信号を出力する。
The discrimination circuit 6 outputs a peeling detection signal when a detection signal exceeding the reference value of each of the bandpass filters 5A and 5B is input.

【0017】図6は高周波数用バンドパスフィルター5
Aおよび低周波数用バンドパスフィルター5Bを通過し
た出力信号およびその比較(割り算)を行なった場合の
一例を示すもので、IIIは剥離部分が発生していない
部分の出力信号、IVはタイル12と下地モルタル層1
1との間の浅い位置に剥離部分13が生じているときの
その剥離部分13の出力信号、Vは下地モルタル層11
と壁本体10との間の深い位置に剥離部分14が生じて
いるときのその剥離部分14の出力信号である。
FIG. 6 shows a bandpass filter 5 for high frequency.
An output signal that has passed through A and the low-frequency bandpass filter 5B and an example of comparison (division) thereof are shown. III is an output signal of a portion where no peeling portion is generated, and IV is a tile 12 Base mortar layer 1
1 is an output signal of the peeled portion 13 when the peeled portion 13 is formed at a shallow position between the first and second portions, V is the base mortar layer 11
It is an output signal of the peeling portion 14 when the peeling portion 14 is formed at a deep position between the wall portion 10 and the wall body 10.

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明によれば、建築物の診断壁部1を
打撃装置2により打撃した打撃音を、マイクロホン3に
より検出し、その検出信号を、増幅器4により増幅した
のち、バンドパスフィルター5を経て判別回路6に送
り、その判別回路6に、基準電圧の異なる複数の基準電
圧設定器7,8を接続し、前記判別回路6において、バ
ンドパスフィルター5から送られた検出信号と、各基準
電圧設定器7,8から送られた基準電圧とを比較する
か、または建築物の診断壁部1を打撃装置2により打撃
した打撃音を、マイクロホン3により検出し、その検出
信号を、増幅器4により増幅したのち、高い周波数の検
出信号を高周波数用バンドパスフィルター5Aにより抽
出すると共に、低い周波数の検出信号を低周波数用バン
ドパスフィルター5Bにより抽出し、各バンドパスフィ
ルター5A,5Bからの検出信号を、比較器9を経て判
別回路6に送り、その判別回路6に、基準電圧の異なる
複数の基準電圧設定器7,8を接続し、前記判別回路6
において、比較器9から送られた検出信号と、各基準電
圧設定器7,8から送られた電圧信号と比較するので、
簡単な手段によって容易に建築物の壁仕上げ部の剥離を
正確にかつ迅速に検出することができ、さらに解析によ
る方法に比べて、簡単で安価な装置を使用して剥離を検
出することができ、しかも基準電圧設定器7,8の基準
電圧を変えることにより、任意深さの剥離部分を検出す
ることができる。
According to the present invention, the sound of striking the diagnostic wall portion 1 of the building with the striking device 2 is detected by the microphone 3, and the detected signal is amplified by the amplifier 4 and then the bandpass filter. 5 to the discriminating circuit 6, and a plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected to the discriminating circuit 6, and in the discriminating circuit 6, the detection signal sent from the band pass filter 5 and The microphone 3 detects a striking sound that is compared with the reference voltage sent from each of the reference voltage setters 7 and 8 or that strikes the diagnostic wall portion 1 of the building with the striking device 2, and the detection signal is detected. After being amplified by the amplifier 4, the high frequency detection signal is extracted by the high frequency band pass filter 5A, and the low frequency detection signal is extracted by the low frequency band pass filter 5B. The detection signals from the bandpass filters 5A and 5B are sent to the discrimination circuit 6 via the comparator 9, and the discrimination circuit 6 is connected to a plurality of reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages. , The discrimination circuit 6
In, since the detection signal sent from the comparator 9 is compared with the voltage signal sent from each of the reference voltage setting devices 7 and 8,
Peeling of building wall finishes can be detected accurately and quickly by simple means, and further, peeling can be detected using simpler and cheaper equipment compared to analytical methods. Moreover, by changing the reference voltage of the reference voltage setters 7 and 8, it is possible to detect a peeled portion having an arbitrary depth.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野々山 敏夫 東京都新宿区津久戸町2番1号 株式会社 熊谷組東京本社内 (72)発明者 石上 信哉 東京都新宿区津久戸町2番1号 株式会社 熊谷組東京本社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Toshio Nonoyama 2-1, Tsukudo-cho, Shinjuku-ku, Tokyo Kumagai Gumi Tokyo Head Office (72) Inventor Shinya Ishigami 2-1-1, Tsukudo-cho, Shinjuku-ku, Tokyo Kumagai Gumi Tokyo Head Office

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 建築物の診断壁部1を打撃装置2により
打撃した打撃音を、マイクロホン3により検出し、その
検出信号を、増幅器4により増幅したのちバンドパスフ
ィルター5を経て判別回路6に送り、その判別回路6
に、基準電圧の異なる複数の基準電圧設定器7,8を接
続し、前記判別回路6において、バンドパスフィルター
5から送られた検出信号と、各基準電圧設定器7,8か
ら送られた基準電圧とを比較する建築物壁仕上げ部の剥
離検出方法。
1. A microphone 3 detects a striking sound striking a diagnostic wall portion 1 of a building with a striking device 2, the detection signal is amplified by an amplifier 4, and then passed through a bandpass filter 5 to a discriminating circuit 6. Send, its discrimination circuit 6
, A plurality of reference voltage setters 7 and 8 having different reference voltages are connected, and in the discrimination circuit 6, the detection signal sent from the bandpass filter 5 and the reference sent from each reference voltage setter 7 and 8 are connected. A method for detecting delamination of a building wall finish comparing with voltage.
【請求項2】 建築物の診断壁部1を打撃装置2により
打撃した打撃音を、マイクロホン3により検出し、その
検出信号を、増幅器4により増幅したのち、高い周波数
の検出信号を高周波数用バンドパスフィルター5Aによ
り抽出すると共に、低い周波数の検出信号を低周波数用
バンドパスフィルター5Bにより抽出し、各バンドパス
フィルター5A,5Bからの検出信号を、比較器9を経
て判別回路6に送り、その判別回路6に、基準電圧の異
なる複数の基準電圧設定器7,8を接続し、前記判別回
路6において、比較器9から送られた検出信号と、各基
準電圧設定器7,8から送られた電圧信号と比較する建
築物壁仕上げ部の剥離検出方法。
2. A striking sound striking the diagnostic wall portion 1 of a building with a striking device 2 is detected by a microphone 3, the detection signal is amplified by an amplifier 4, and then a high-frequency detection signal is used for high frequencies. In addition to being extracted by the bandpass filter 5A, low frequency detection signals are extracted by the low frequency bandpass filter 5B, and the detection signals from the respective bandpass filters 5A and 5B are sent to the discrimination circuit 6 via the comparator 9, A plurality of reference voltage setting devices 7 and 8 having different reference voltages are connected to the determining circuit 6, and in the determining circuit 6, the detection signal sent from the comparator 9 and the reference voltage setting devices 7 and 8 are sent. Detection method for building wall finish comparing with the generated voltage signal.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006275742A (en) * 2005-03-29 2006-10-12 Yokohama Rubber Co Ltd:The Nondestructive inspection method for frp structure
JP2008286619A (en) * 2007-05-17 2008-11-27 Tobishima Corp Property evaluation apparatus and method
JP2012168022A (en) * 2011-02-15 2012-09-06 Sato Kogyo Co Ltd Method for diagnosing quality of concrete-based structure
JP2015028467A (en) * 2013-07-04 2015-02-12 清水建設株式会社 Device for diagnosing deterioration of tile, and method for diagnosing deterioration of tile
JP2017058165A (en) * 2015-09-14 2017-03-23 清水建設株式会社 Device and method for diagnosing deterioration of tile
JP2020159756A (en) * 2019-03-25 2020-10-01 株式会社東芝 Inspection device, inspection system, method for inspection, program, and storage medium

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006275742A (en) * 2005-03-29 2006-10-12 Yokohama Rubber Co Ltd:The Nondestructive inspection method for frp structure
JP4736501B2 (en) * 2005-03-29 2011-07-27 横浜ゴム株式会社 Non-destructive inspection method for FRP structures
JP2008286619A (en) * 2007-05-17 2008-11-27 Tobishima Corp Property evaluation apparatus and method
JP2012168022A (en) * 2011-02-15 2012-09-06 Sato Kogyo Co Ltd Method for diagnosing quality of concrete-based structure
JP2015028467A (en) * 2013-07-04 2015-02-12 清水建設株式会社 Device for diagnosing deterioration of tile, and method for diagnosing deterioration of tile
JP2017058165A (en) * 2015-09-14 2017-03-23 清水建設株式会社 Device and method for diagnosing deterioration of tile
JP2020159756A (en) * 2019-03-25 2020-10-01 株式会社東芝 Inspection device, inspection system, method for inspection, program, and storage medium

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